JPS59101097A - Bit error processing method of storage device - Google Patents
Bit error processing method of storage deviceInfo
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- JPS59101097A JPS59101097A JP57209555A JP20955582A JPS59101097A JP S59101097 A JPS59101097 A JP S59101097A JP 57209555 A JP57209555 A JP 57209555A JP 20955582 A JP20955582 A JP 20955582A JP S59101097 A JPS59101097 A JP S59101097A
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- JP
- Japan
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- error
- bit
- address
- bit error
- storage device
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、記憶装置のビットエラーを検出し、そのエラ
ー内容に基づいて処理をおこなう記憶装置のビットエラ
ー処理方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a bit error processing method for a storage device, which detects a bit error in a storage device and performs processing based on the content of the error.
従来、記憶装置のビットエラーに対する処理方法として
次のような方法がある。あるアドレスのもうひとつのビ
ットについてのビットエラーカ検出された場合には、パ
リティビットを利用する等して自己訂正全おこない処理
し、ふたつ以上のビットについてビットエラーが検出さ
れた場合には、自己訂正は不可能であり、記憶装置全体
の故障につながる可能性があるため警報信号を発生し、
オペレータに知らせていた。一方、記憶itは一般に第
1図〈こ示す構成をしており、各メモリチップM、、t
vtt、・・・、 Mnは全てのアドレス−こおける各
ビットに対応して構成されている。このためおるメモリ
チップが故障していると、各アドレスの特定のビットば
かりがビットエラーするという特徴がある。Conventionally, there are the following methods for handling bit errors in storage devices. If a bit error is detected in another bit of a certain address, self-correction is performed using parity bits, etc., and if a bit error is detected in two or more bits, self-correction is performed. It is impossible to correct and generates an alarm signal as it may lead to the failure of the entire storage device,
The operator was informed. On the other hand, the memory IT generally has the configuration shown in FIG.
vtt, . . . , Mn are configured corresponding to each bit in all addresses. For this reason, if a memory chip is out of order, a bit error will occur in only a specific bit of each address.
しかしながら従来の方法においては、ビットエラーが発
生したアドレスのみに着目して検査しているため、たと
えおるメモリチップが故障していてもそのことを検出で
きず、記憶装置全体の故障につながるおそれのある初期
故障を発見することができなかった。However, in conventional methods, inspection focuses only on the address where a bit error has occurred, so even if a memory chip is malfunctioning, it cannot be detected, which may lead to a malfunction of the entire storage device. A certain initial failure could not be discovered.
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、記憶装
置のビットエラーが重大な故障につながるものであるか
を適切ζこ判断できる記憶装置のビットエラー処理方法
を提供することを目的とする。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a storage device bit error handling method that can appropriately determine whether a bit error in a storage device will lead to a serious failure. do.
この目的を達成するためすこ、本発明による記憶装置の
ビットエラー処理方法は、記憶装置のあるアドレスにつ
いてビットエラーを検査した場合に、前記アドレス以外
のあらかじめ定められたアドレスについて前記ビットエ
ラーを生じたビットと同一ビットにビットエラーが生じ
ているか否か検査し、同一ビットにビットエラーが生じ
ている場合に訃報信号を発生することを特徴とする。In order to achieve this object, the bit error processing method for a storage device according to the present invention is such that when a certain address in a storage device is checked for a bit error, the bit error occurs in a predetermined address other than the above address. It is characterized by checking whether a bit error has occurred in the same bit as the bit, and generating an obituary signal if a bit error has occurred in the same bit.
本発明を適用する記憶装置は第2図に示すように各種デ
ータを記憶するメモリ1とエラーチェックをおこなうエ
ラーチェックコントローラ2とで構成されている。メモ
リ1とエラーチェックコントローラ2との間には、ライ
トデータバス4、リードデータバス5、チェックビット
バス6が接続されており、エラーチェックコントローラ
2にはコレクションデータバス7、コントロールライン
8、リード/ライトモードコントロールライン9が接続
されている。なお、メモリ1と他の装置(図示せず)と
のデータ授受はメモリデータバス3を介しておこなわれ
る。As shown in FIG. 2, the storage device to which the present invention is applied is comprised of a memory 1 for storing various data and an error check controller 2 for performing error checking. A write data bus 4, a read data bus 5, and a check bit bus 6 are connected between the memory 1 and the error check controller 2. A light mode control line 9 is connected. Note that data is exchanged between the memory 1 and other devices (not shown) via a memory data bus 3.
本発明の一実施例によるビットエラー処理方法について
第3図を用いて説明する。エラーチェックコントローラ
2によりメモリ1のアドレスN1についてビットエラー
が検出されると(ブロック101)、そのビットエラー
のビット数について検査しくブロック102)、2ビッ
ト以上の場合は自己訂正は困難であるのでブロック10
6へ移り警報信号を発生してビットエラー処理を終了す
る。ビットエラーのビット数が1である場合は、ビット
エラーが検出されたアドレスN1以外のアドレスについ
てビットエラーが生じているか否か検査する(ブロック
103)。ビットエラーが検出されない場合は、ブロッ
ク107でアドレスN。A bit error processing method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. When the error check controller 2 detects a bit error in address N1 of memory 1 (block 101), it checks the number of bits of the bit error (block 102). If it is 2 or more bits, self-correction is difficult, so the block 10
Step 6 then generates an alarm signal and ends the bit error processing. If the number of bits in the bit error is 1, it is checked whether a bit error has occurred in an address other than the address N1 where the bit error was detected (block 103). If no bit error is detected, address N is detected in block 107.
のエラービットを自己訂正する。ビットエラーが検出さ
れた場合は、そのエラ十ビットがアドレスN、と同一か
否か判断する(ブロック105)。self-corrects error bits. If a bit error is detected, it is determined whether the ten error bits are the same as address N (block 105).
同一の場合はそのビットに関するメモリチップの故障か
、データバス線の故障など重大な故障である可能性が高
いので警報信号を発生しくブロック106)、オペレー
タに知らせる。同一でない場合は、上記のような重大な
故障ではない止考えられるので自己訂正して(ブロック
107)エラー処理を終了する。If they are the same, there is a high possibility that there is a failure in the memory chip associated with that bit or a serious failure such as a failure in the data bus line, so an alarm signal is generated (block 106) to notify the operator. If they are not the same, it is likely that the failure is not serious as described above, and the error processing is then self-corrected (block 107).
ブロック103において検査するアドレスは、アドレス
N1以外のすべてであることが望ましいが、所定のアド
レス毎に選択して検査してもよく、この場合は検査時間
が短縮される。またメモリ1が大容量の場合は、第4図
に示すように拡張して構成され、各ビットが複数のメモ
リチップで構成されている。例えばピッ)0はメモリチ
ップM11゜M!1.・・・e Mmlのmヶのメモリ
チップにより構成される。したがってブロック103に
おいて検査するアドレスは、ビットエラーが検査された
ア・ドレスN、を含むメモリチップだけにしてもよい。It is desirable that all addresses other than the address N1 be tested in block 103, but each predetermined address may be selected and tested, and in this case, the testing time is shortened. When the memory 1 has a large capacity, it is expanded as shown in FIG. 4, and each bit is composed of a plurality of memory chips. For example, beep) 0 is a memory chip M11゜M! 1. . . . Consists of m memory chips of e Mml. Therefore, the addresses to be checked in block 103 may be only those memory chips that include address N, which has been checked for bit errors.
例えばN≦N、52N−1の場合は、アドレスNからア
ドレス2N−1の範囲だけについて検査すればよい。For example, in the case of N≦N, 52N-1, it is sufficient to check only the range from address N to address 2N-1.
なお、ビットエラーに対する具体的処理としては、自己
訂正または警報信号発生の処理のみに限らず他の公知の
処理によってもよい。例えば、余分なダミーメモリチッ
プを予め用意しておき、メモリチップの故障があるとこ
のダミーメモリチップを自動的に故障したメモリチップ
と交換するようにしてもよい。Note that the specific processing for bit errors is not limited to self-correction or alarm signal generation processing, but may be other known processing. For example, an extra dummy memory chip may be prepared in advance, and when a memory chip fails, this dummy memory chip may be automatically replaced with the failed memory chip.
以上の通シ、本発明によれば記憶装置のビットエラーが
重大な故障につながるものでちるかを適切に判断し処理
することができる。In summary, according to the present invention, it is possible to appropriately determine whether a bit error in a storage device is likely to lead to a serious failure, and to process the error.
第1図、第4図はそれぞれ本発明が適用される記憶装置
のメモリチップの構成の具体例を示す平面図、第2図は
同装置のブロック図、第3図は本発明の一実施例による
ビットエラー処理方法のフローチャートである。
l・・・メモリ、2・・・エラーチェックコントローラ
、3・・・パスライン、M、、M、、−、Mn 、M、
、、Ml、。
・・・、 Mrnn・・・メモリチップ。
出願人代理人 猪 股 清
第H図
第2図
第3図
U/
へ■
第4図
ト ト
ト01−−−−−−’−−−π−11 and 4 are plan views showing specific examples of the structure of a memory chip of a storage device to which the present invention is applied, FIG. 2 is a block diagram of the same device, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. 2 is a flowchart of a bit error processing method according to the present invention. l...Memory, 2...Error check controller, 3...Pass line, M,, M,, -, Mn, M,
,,Ml,. ..., Mrnn...Memory chip. Applicant's agent Kiyoshi Inomata Figure H Figure 2 Figure 3 U/ Go to Figure 4 To
01-------'---π-1
Claims (1)
こなう記憶装置のビットエラー処理方法において、 記憶装置のあるアドレスについてビットエラーを検出し
た場合に、前記アドレス以外の予め定められたアドレス
について前記ビットエラーを生じたビットと同一ビット
にビットエラーが生じているか否か検食し、同一ビット
にビットエラーが生じている場合に警報信号を発生する
ことを特徴とする記憶装置のビットエラー処理方法。[Claims] In a bit error processing method for a storage device that detects a bit error in the storage device and performs correction processing, when a bit error is detected at a certain address in the storage device, a predetermined error at a predetermined address other than the above address is detected. The storage device is characterized in that the storage device detects whether or not a bit error has occurred in the same bit as the bit in which the bit error has occurred in the address that has been received, and generates an alarm signal when a bit error has occurred in the same bit. Bit error handling method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57209555A JPS59101097A (en) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | Bit error processing method of storage device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57209555A JPS59101097A (en) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | Bit error processing method of storage device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59101097A true JPS59101097A (en) | 1984-06-11 |
Family
ID=16574755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57209555A Pending JPS59101097A (en) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | Bit error processing method of storage device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59101097A (en) |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP57209555A patent/JPS59101097A/en active Pending
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