JPS5888640A - 干渉屈折率計 - Google Patents
干渉屈折率計Info
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- JPS5888640A JPS5888640A JP18824781A JP18824781A JPS5888640A JP S5888640 A JPS5888640 A JP S5888640A JP 18824781 A JP18824781 A JP 18824781A JP 18824781 A JP18824781 A JP 18824781A JP S5888640 A JPS5888640 A JP S5888640A
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- interference
- light
- intensity
- sample
- refractive index
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
と参照光強度の比と試相の屈折率との間にある一定の関
係を利用して測定を行なう干#ル(折率計に関する。
係を利用して測定を行なう干#ル(折率計に関する。
従来試料の屈折率管求めるためさまざまな方法が用いら
れており、中でも精密な測定結果を与えるという点で、
干渉屈折率@1がII視されているのは周知である。こ
うした干渉/ill伍率劃゛で側、試料の屈折eに従い
光路長が変化するのにともなって生じる千縞の移動から
その屈折率を求めるため各手段が講じられているが、そ
れぞれ一長一短があり、特に最近昼速クロマトグラフィ
ーの検出器として用いられる場合など、普速で尚精度な
測定が要求されるケースではいずれも充分な機能を果し
えてないのが均状である。
れており、中でも精密な測定結果を与えるという点で、
干渉屈折率@1がII視されているのは周知である。こ
うした干渉/ill伍率劃゛で側、試料の屈折eに従い
光路長が変化するのにともなって生じる千縞の移動から
その屈折率を求めるため各手段が講じられているが、そ
れぞれ一長一短があり、特に最近昼速クロマトグラフィ
ーの検出器として用いられる場合など、普速で尚精度な
測定が要求されるケースではいずれも充分な機能を果し
えてないのが均状である。
そこで、干渉光強度と参照光だけの強度の比と試料の屈
折率との間にあるー・定の関係を利用して測定を行なう
干渉屈折率計を発明し、既に特願昭56−13834号
として出願した。本発明は既に出願したこれらの干渉屈
折率計特願昭56−13834月の発明を更にす(死し
て電気的に処理することにより屈折率を求めることを提
供するものである。
折率との間にあるー・定の関係を利用して測定を行なう
干渉屈折率計を発明し、既に特願昭56−13834号
として出願した。本発明は既に出願したこれらの干渉屈
折率計特願昭56−13834月の発明を更にす(死し
て電気的に処理することにより屈折率を求めることを提
供するものである。
又その干渉屈折率計゛1のダイナミックレンジを拡大し
実際の動作に即した装置を提供するものである。
実際の動作に即した装置を提供するものである。
すなわち、本発明による干渉屈折率計は、干渉光束の一
方にその光束を周期的に断続させ得るチョッパー等の変
調素子を設置し、両干渉光の金側強度(I+)と参照光
だけの強度(Ic)を交互に取り出し、両強度の比(x
i/rc)を求め、該値に対応する角展全算出する一方
、干渉縞の移動数をH1数し、移動方間を識別し、角度
、干渉縞の移動数、移動方向と試料の屈折率との間にあ
る一足の関係より試料のノロ(折率を指ボ記録すること
をl特徴とするものである。
方にその光束を周期的に断続させ得るチョッパー等の変
調素子を設置し、両干渉光の金側強度(I+)と参照光
だけの強度(Ic)を交互に取り出し、両強度の比(x
i/rc)を求め、該値に対応する角展全算出する一方
、干渉縞の移動数をH1数し、移動方間を識別し、角度
、干渉縞の移動数、移動方向と試料の屈折率との間にあ
る一足の関係より試料のノロ(折率を指ボ記録すること
をl特徴とするものである。
又ザンプルの注入時セルの中に気泡が発生したとき、あ
るいはノイズが発生じたとき干渉縞のフリンジがブ国び
、袖償板全1わしてJi+1伯率金求める方法において
は、干渉禍と七−ターの位相がすれ、モーターはバラン
スしなくなる欠点があるか、庫方式はそれらの欠点を克
服した方法全提供するもの°′Cある。以下に本発明側
w)処理を説明する。ずなわち、本発明者は谷光束の強
IWと試料の屈折率との間に成り立つ関係f:柚青々検
討た結果、両干渉元の合ば十強度(r■)と夢照尤だけ
の強度(Ic)の間に次のような関係が凌)ることを見
い出し山;に特願昭56−13834 ′Pjとしで出
願した。
るいはノイズが発生じたとき干渉縞のフリンジがブ国び
、袖償板全1わしてJi+1伯率金求める方法において
は、干渉禍と七−ターの位相がすれ、モーターはバラン
スしなくなる欠点があるか、庫方式はそれらの欠点を克
服した方法全提供するもの°′Cある。以下に本発明側
w)処理を説明する。ずなわち、本発明者は谷光束の強
IWと試料の屈折率との間に成り立つ関係f:柚青々検
討た結果、両干渉元の合ば十強度(r■)と夢照尤だけ
の強度(Ic)の間に次のような関係が凌)ることを見
い出し山;に特願昭56−13834 ′Pjとしで出
願した。
I+/Ic −4部2φ ・・・・・・
・・ (1)但1〜、φ= [cns −nr)do
−Zl da dO+221、 λ = uM 艮
、n8−試料のJ+f(折率、nr−参照試料のMl
Dr 半、da=ミニセルda−佃償似浮、do−補償
板の回転角、zl。
・・ (1)但1〜、φ= [cns −nr)do
−Zl da dO+221、 λ = uM 艮
、n8−試料のJ+f(折率、nr−参照試料のMl
Dr 半、da=ミニセルda−佃償似浮、do−補償
板の回転角、zl。
Z2−5i数である。すなわち、■■とICの比を十爽
出すれば、その中に試料の通り1率(n8)の情報が含
−まねているから、その検出信号ケ通切に処理すること
によす試不斗のJ71(七「率を氷めることができる。
出すれば、その中に試料の通り1率(n8)の情報が含
−まねているから、その検出信号ケ通切に処理すること
によす試不斗のJ71(七「率を氷めることができる。
(1)式において、流入する鍼Hの屈折率nsが変化す
るにつれてII/4ICσ匁、′φの曲勝を描き、その
1直りn8の谷値に光、した値となる。
るにつれてII/4ICσ匁、′φの曲勝を描き、その
1直りn8の谷値に光、した値となる。
今回2φの餉がyの1直となった場合、に2φ−yを満
足する角をαl、α2.α3.・・・α2m、α2m
+1 +・・・とじてボめると α2m ”” Inπ−αl α2m+1 = mπ−α1 が満足する解であることか判る。。
足する角をαl、α2.α3.・・・α2m、α2m
+1 +・・・とじてボめると α2m ”” Inπ−αl α2m+1 = mπ−α1 が満足する解であることか判る。。
今α21nの場合を考えでみる。((X2m+1の場合
は、以下の式でαlk−α1と−きかえればよい、1)
φ−7((n8− nr) ds−Zldado+Z2
) =α2□−mπ−αl
・・・・・(2)1−きかえると (5) (n8− n、)ds=Z1dadθ−Z2+(mπ−
(xl)λ ・・印・(3)ここで (1)試料セルと参照セルとが同じ物′M↓(空気ある
いは同じ電媒)の場合。
は、以下の式でαlk−α1と−きかえればよい、1)
φ−7((n8− nr) ds−Zldado+Z2
) =α2□−mπ−αl
・・・・・(2)1−きかえると (5) (n8− n、)ds=Z1dadθ−Z2+(mπ−
(xl)λ ・・印・(3)ここで (1)試料セルと参照セルとが同じ物′M↓(空気ある
いは同じ電媒)の場合。
nB nr−0+ do−d(’o (袖ffj &
k人′i′1ないなら0)であり、そのときの次数が
mQであるとするとZ2 ”’ Zl dad(1’o
十(moπ−αl)λ ・・印・(4
)(2)試料セルに試料を流した場合。
k人′i′1ないなら0)であり、そのときの次数が
mQであるとするとZ2 ”’ Zl dad(1’o
十(moπ−αl)λ ・・印・(4
)(2)試料セルに試料を流した場合。
試料を流すと、−φの値が変わり、そのときの角度も変
化してα2となるから (ns nr) ds=Z1dadθ−Z2+(n+
π−α2)λ ・山・・ (3)′(4)代金
利用(〜で(3)′式全書きかえると(nB nr)
ds = Zlda(do−dilo)+(m−mo)
πλ−(α2−αl)λ −■=(5)補償イ
νがないならば、d(/−di10=0で(n8− n
r)ds = (m−m(1)πλ−(α2−αl)λ
−・−(61(5)式、あるいは(6)式より、
低利のノ「j(4)「率n9け、参照セルの屈折率nr
が既知の場合(イと気あるいは参照セルの電媒の屈七f
率)、試別全fAf、す前と試料を流してから、あるい
は電媒と電媒に試料が入ってい(6) た場合の、干渉縞の次数の亥゛化(m mO)、及び干
渉光強度対参照光強度比1j/4Icの之化に対応する
位相差(α2−α1)全氷めJ′1.は得ることができ
る。
化してα2となるから (ns nr) ds=Z1dadθ−Z2+(n+
π−α2)λ ・山・・ (3)′(4)代金
利用(〜で(3)′式全書きかえると(nB nr)
ds = Zlda(do−dilo)+(m−mo)
πλ−(α2−αl)λ −■=(5)補償イ
νがないならば、d(/−di10=0で(n8− n
r)ds = (m−m(1)πλ−(α2−αl)λ
−・−(61(5)式、あるいは(6)式より、
低利のノ「j(4)「率n9け、参照セルの屈折率nr
が既知の場合(イと気あるいは参照セルの電媒の屈七f
率)、試別全fAf、す前と試料を流してから、あるい
は電媒と電媒に試料が入ってい(6) た場合の、干渉縞の次数の亥゛化(m mO)、及び干
渉光強度対参照光強度比1j/4Icの之化に対応する
位相差(α2−α1)全氷めJ′1.は得ることができ
る。
このため、IIと■cの比か余弦関数のため、IIどI
Cの比を渦足する角ur、干渉縞(フリンジ)が例卑動
いたか、フリンジの移動力向はどちらかであるかを・測
定し、(6)式」:り屈折率全求める。
Cの比を渦足する角ur、干渉縞(フリンジ)が例卑動
いたか、フリンジの移動力向はどちらかであるかを・測
定し、(6)式」:り屈折率全求める。
これは、次の理由による。部2φの11t1が0あるい
は1となった後の出力は、フリンジのモード数が変わっ
た場合と、同じフリンジのモード数内での出力になった
場合がありそれを判別しなければならない。補償板で追
いかける場合(特願昭56−13834号)は、干渉光
の明”tr % j!lIちフリンジの1つのフリンジ
内の同じ場θ(が常に検出器に入るようにに料の屈折率
の変化Vこともなって、補償板を1わし、その補償板の
動きと屈す「率の比例関稀を利用して屈折率を丞める可
法である。
は1となった後の出力は、フリンジのモード数が変わっ
た場合と、同じフリンジのモード数内での出力になった
場合がありそれを判別しなければならない。補償板で追
いかける場合(特願昭56−13834号)は、干渉光
の明”tr % j!lIちフリンジの1つのフリンジ
内の同じ場θ(が常に検出器に入るようにに料の屈折率
の変化Vこともなって、補償板を1わし、その補償板の
動きと屈す「率の比例関稀を利用して屈折率を丞める可
法である。
咋2φ−0,5&ゴ、その亥(m特性が一番面勝に近い
場所であるだめ、補償板子追従させやすい。
場所であるだめ、補償板子追従させやすい。
一般には、部2φの11+1が別な瞳でも追従できる。
補色板で追いかけ斤い本発明の場合VCは、干渉縞のθ
ξ数の亥化奮釆めるためVCは、干渉縞の明るいところ
、あるい6:昭いとこる(邸2φ−1あるいはOVこ対
比、)の数と、フリンジのモードb″l)−変ったのか
、あるいは同じフリンジ内にもどったのかのフリンジの
移動方向より七−ド(次数)の亥゛化ケ求める必妙があ
る。
ξ数の亥化奮釆めるためVCは、干渉縞の明るいところ
、あるい6:昭いとこる(邸2φ−1あるいはOVこ対
比、)の数と、フリンジのモードb″l)−変ったのか
、あるいは同じフリンジ内にもどったのかのフリンジの
移動方向より七−ド(次数)の亥゛化ケ求める必妙があ
る。
即ち、補償板をイ多動させる方法eよ、補償@を移j&
II]させることにより、II/4ICk >tにし
、ノFl’r DF率の変ずしによる干渉縞の07.4
(」A手分1負1矛求めず、それに比例刃−る補償板の
移動量より屈折率ケ求める方法であり、−力木発明の′
也気的処坤万θくは、直接位相ル、七−ド叡の汲化を検
出して刑セ1率を求める方法である3、Cの方法は、ザ
ンプル注入時セル中に気削か発生し/?二とさ、大きな
ノイズが発生し)Cとき、袖1頁板杉動力θ;−Cは七
−ターか追従出来すバランスに: <−、rシてしなう
か、それが踏決IH米るA・1点もある。
II]させることにより、II/4ICk >tにし
、ノFl’r DF率の変ずしによる干渉縞の07.4
(」A手分1負1矛求めず、それに比例刃−る補償板の
移動量より屈折率ケ求める方法であり、−力木発明の′
也気的処坤万θくは、直接位相ル、七−ド叡の汲化を検
出して刑セ1率を求める方法である3、Cの方法は、ザ
ンプル注入時セル中に気削か発生し/?二とさ、大きな
ノイズが発生し)Cとき、袖1頁板杉動力θ;−Cは七
−ターか追従出来すバランスに: <−、rシてしなう
か、それが踏決IH米るA・1点もある。
以−ト本晃明の実施例[ヶ回向K fl−”r−>て−
さ1に計昶1に説明覆る。
さ1に計昶1に説明覆る。
第1図は本発明による干渉屈折率計の一実施例を示すブ
ロック線図で、単色光源1から出た光は複光束干渉計2
vc入り試料光束3と参照光束4Vこ分れる。り光束
干渉計2は、間隔を隔てて平行に配置された2枚のガラ
ス鏡5,6と両ガラス絣間の各光束中に配置された試別
セルフ、参照セル8から構成されている。複光束干渉¥
+2”を出た元は再び同−光束となり検出器10.10
’へ専かれて電気信号へ変換される。
ロック線図で、単色光源1から出た光は複光束干渉計2
vc入り試料光束3と参照光束4Vこ分れる。り光束
干渉計2は、間隔を隔てて平行に配置された2枚のガラ
ス鏡5,6と両ガラス絣間の各光束中に配置された試別
セルフ、参照セル8から構成されている。複光束干渉¥
+2”を出た元は再び同−光束となり検出器10.10
’へ専かれて電気信号へ変換される。
試料、参照両光束の木1である干渉光強度1.と参照光
だけの強度ICを別々に141/り出すために、俵九束
干渉計2内の試料光束3全周期的に断続させ伶るチョソ
ノ平−,セクター等の亥晶周累子11が自装置されてい
る。こうすれば、試料光束3は一定の周期で断続される
から、検出器10.10’には両光束のオ[」と参照光
束が父互に入射する。促って検知器■0からは、干渉強
i(II)と参照光強度CIC)に比例した電気信号が
得られる。この両信号は、増+i]器12で増巾された
佐、第1同期サンプルホールド回路13で参照光分の4
i号が取り出され、第(9) 2同期ザンブルホールド回M14で干渉光分の信号が取
り出される。
だけの強度ICを別々に141/り出すために、俵九束
干渉計2内の試料光束3全周期的に断続させ伶るチョソ
ノ平−,セクター等の亥晶周累子11が自装置されてい
る。こうすれば、試料光束3は一定の周期で断続される
から、検出器10.10’には両光束のオ[」と参照光
束が父互に入射する。促って検知器■0からは、干渉強
i(II)と参照光強度CIC)に比例した電気信号が
得られる。この両信号は、増+i]器12で増巾された
佐、第1同期サンプルホールド回路13で参照光分の4
i号が取り出され、第(9) 2同期ザンブルホールド回M14で干渉光分の信号が取
り出される。
取り出された2つの信号6、降讐器15に入り、両信号
の比つ丑りII/ICの佃が求められる。干渉の明ll
け暢(フリンジ)の移動力向の検出ヨ一段01、検出器
に干渉縞の最大の明るいところ、賄いところが表われた
イ夛の出力は、フリンジが別のところに移ったか、逆に
同じフリンジ内にもどったのかを判別するものである。
の比つ丑りII/ICの佃が求められる。干渉の明ll
け暢(フリンジ)の移動力向の検出ヨ一段01、検出器
に干渉縞の最大の明るいところ、賄いところが表われた
イ夛の出力は、フリンジが別のところに移ったか、逆に
同じフリンジ内にもどったのかを判別するものである。
実施例では、検出器10゜10′の2本を用いて、その
位相差を利用した方法で判別している 第2図に基4的なm埋金ボすための模式図全示す。2本
の検出器の位置をすらし、同時刻に入る明暗の位相舎す
らしておく(例えは120°異なる。)検出器10.1
0’の出力は、12 (1’異なる場合、干渉縞のf4
動方同によって図2の様になり、検出器1(J、[〕’
の出力andをとり、その」−バ・ラップする部分の大
小により移動方向を判定することが可能である。
位相差を利用した方法で判別している 第2図に基4的なm埋金ボすための模式図全示す。2本
の検出器の位置をすらし、同時刻に入る明暗の位相舎す
らしておく(例えは120°異なる。)検出器10.1
0’の出力は、12 (1’異なる場合、干渉縞のf4
動方同によって図2の様になり、検出器1(J、[〕’
の出力andをとり、その」−バ・ラップする部分の大
小により移動方向を判定することが可能である。
干渉の明暗縞(フリンジ)が例本動いたかを検(10)
出する手段は、検出器の出力の最高出力あるいは最底出
力の回数を計数する周知技術の計数回路を用いた。
力の回数を計数する周知技術の計数回路を用いた。
検出器10.10’の出力は、増[1〕器12.20に
よp増巾されて、フリンジ移動方向判別回路21、に入
力し、移動方向全判別し、ガーター処理回路23へ入力
する。検出器10′の出力は、フリンジ移動回数庁を数
期路22に人力し1、フリンジの移動回数を計数して、
データー処理回路23へ入力する。
よp増巾されて、フリンジ移動方向判別回路21、に入
力し、移動方向全判別し、ガーター処理回路23へ入力
する。検出器10′の出力は、フリンジ移動回数庁を数
期路22に人力し1、フリンジの移動回数を計数して、
データー処理回路23へ入力する。
スリットは2個でも1個でも、2本の検出器に位相差が
与えられ、フリンジの移動方向が判別可能ならよい。フ
リンジ移動方向判別回路21、スリン−)移動回数計数
回路22によって、試料の屈折率n8の変化によって干
渉縞が正確に何本移動したか、即ち干渉縞の次数の変化
(rn −mo)を求めるため、干渉の細太の明るいと
ころが伺回検出され、そのうち何回次数が変らないかを
求めるものである。
与えられ、フリンジの移動方向が判別可能ならよい。フ
リンジ移動方向判別回路21、スリン−)移動回数計数
回路22によって、試料の屈折率n8の変化によって干
渉縞が正確に何本移動したか、即ち干渉縞の次数の変化
(rn −mo)を求めるため、干渉の細太の明るいと
ころが伺回検出され、そのうち何回次数が変らないかを
求めるものである。
図中24はROM等を用いた記憶装置で、ここに谷屈折
率VC応じ予めgt獅された4匁、′φの値が記憶され
ている。屈折率が変化して、■I/Icの値が変わりそ
れに対応する角度が変化した用台、余弦関数全記憶させ
である記憶回路24より、データー処理回路23に的・
み出し、位相角の変化α2−α1を求める。
率VC応じ予めgt獅された4匁、′φの値が記憶され
ている。屈折率が変化して、■I/Icの値が変わりそ
れに対応する角度が変化した用台、余弦関数全記憶させ
である記憶回路24より、データー処理回路23に的・
み出し、位相角の変化α2−α1を求める。
ブ″−ター処理回路23は、cpμ等から成り立ち、位
相角の変化α2−αl以伺VCフスリノのイfl動数m
−rllQをフリンノ移動方向判別回路21.フリンジ
移動回数計数回路22より求め、(6)式の間係より屈
折率n8を算出し、記録側19に記録する。
相角の変化α2−αl以伺VCフスリノのイfl動数m
−rllQをフリンノ移動方向判別回路21.フリンジ
移動回数計数回路22より求め、(6)式の間係より屈
折率n8を算出し、記録側19に記録する。
以上述べたように、不発ゆ」によ71.げ、J+Il折
率の変化が大きい試料でもその飴が精黒−良く旨速で求
められると共に、気泡や雑音があっても′−6に追従で
きるグイナミソクレインノの大きな干渉ノ1)(折率H
十を・イ静ることができる。
率の変化が大きい試料でもその飴が精黒−良く旨速で求
められると共に、気泡や雑音があっても′−6に追従で
きるグイナミソクレインノの大きな干渉ノ1)(折率H
十を・イ静ることができる。
図1は本発明による干渉屈折重重の一実施例を示すブロ
ノク腺図、第2図は干渉縞の移動力向を判別する手段で
ある。 1・・・単色光源、2・・複光束干渉計、3・・・試料
光束、4・・参照光束、5.6・・鋭、7・・・試料セ
ル、8・・・標準セル、9・・・補償板、10.10’
・・・検出器、1l・・・変調素子、l2・・・増中器
、13.14・・・サンプルホールド回路、15・・・
割算回路、19・・・記録計、21・・・フリンジ移動
判別回路、22・・・フリンジ回数割数回路、23・・
・データー処理回別、24・・・記憶回路。 出願人 日本分光工業株式会社 代 理 人 丸 山 幸 雄 (l3)
ノク腺図、第2図は干渉縞の移動力向を判別する手段で
ある。 1・・・単色光源、2・・複光束干渉計、3・・・試料
光束、4・・参照光束、5.6・・鋭、7・・・試料セ
ル、8・・・標準セル、9・・・補償板、10.10’
・・・検出器、1l・・・変調素子、l2・・・増中器
、13.14・・・サンプルホールド回路、15・・・
割算回路、19・・・記録計、21・・・フリンジ移動
判別回路、22・・・フリンジ回数割数回路、23・・
・データー処理回別、24・・・記憶回路。 出願人 日本分光工業株式会社 代 理 人 丸 山 幸 雄 (l3)
Claims (3)
- (1)単色光源、抜光束干渉口1、試料セル、補償セル
、光電変換器、データー処理手段から成る干渉屈折率針
VCおいて、干渉光束の一方にその光束を周期的に断続
させ得るチョッパー等の変調素子を設置し、可干渉光の
合計@度(II)と参照光だけの強度(IC)を交互に
取り出し、両強度の比(Iz/Ic)を求め、類比の値
に対応する位相角を算出する手段、干渉縞(フリンジ)
の明るい場所の最大出力(暗い場所の最小出力)の移動
数をl赦す石手段、移動方向tl−判別する手段、デー
ター処理装置により、試料の屈折率と位相角とフリンジ
の移動数の間にある一定の関係より試料の屈折率を求め
指示記録することを特徴とする干渉屈折率針。 - (2)干渉縞の移動数を計数する手段は、干渉光出力の
最大値あるいは最小値の回数を計数する回数を計数する
回路よりなり、干渉縞の移動方向を判別する手段は、空
間分解能を持つ光電変換器あるいは2個の光電変換器を
用いて、空間的に異なる場所での干渉縞の出力の位相差
を利用して求めることを特徴とする特許趙求範囲第1項
に記載の干渉屈折率計。 - (3)干渉光強度と参照光強度比よりそれに対応する位
相角度を算出する手段は、記憶装置に記憶させてある余
弦関数と両強度の比の値↓り算出する仁とを特徴とする
特酌訂」求範記載1項に記載の干渉屈折率¥1−0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18824781A JPS5888640A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 干渉屈折率計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18824781A JPS5888640A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 干渉屈折率計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5888640A true JPS5888640A (ja) | 1983-05-26 |
Family
ID=16220353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18824781A Pending JPS5888640A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 干渉屈折率計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5888640A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0165816A2 (en) * | 1984-06-20 | 1985-12-27 | Penlon Limited | Gas analysis apparatus and method |
CN102590144A (zh) * | 2012-02-17 | 2012-07-18 | 重庆同博测控仪器有限公司 | 光干涉气体检测装置 |
EP2738543A3 (de) * | 2012-12-03 | 2015-10-07 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Interferometrische Messzelle, Spektrometer und Verfahren zur spektroskopischen Messung |
EP3885742A1 (en) * | 2020-03-23 | 2021-09-29 | Fachhochschule Nordwestschweiz | A single-beam photothermal interferometer for in-situ measurements of light absorbing trace substances |
-
1981
- 1981-11-24 JP JP18824781A patent/JPS5888640A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0165816A2 (en) * | 1984-06-20 | 1985-12-27 | Penlon Limited | Gas analysis apparatus and method |
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EP3885742A1 (en) * | 2020-03-23 | 2021-09-29 | Fachhochschule Nordwestschweiz | A single-beam photothermal interferometer for in-situ measurements of light absorbing trace substances |
WO2021190895A1 (en) * | 2020-03-23 | 2021-09-30 | Fachhochschule Nordwestschweiz | A laser beam photothermal interferometer for in-situ measurements of light absorbing trace substances |
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