JPS5870107A - 立体形状の光学的測定法 - Google Patents

立体形状の光学的測定法

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JPS5870107A
JPS5870107A JP16837881A JP16837881A JPS5870107A JP S5870107 A JPS5870107 A JP S5870107A JP 16837881 A JP16837881 A JP 16837881A JP 16837881 A JP16837881 A JP 16837881A JP S5870107 A JPS5870107 A JP S5870107A
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JP
Japan
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grating
measured
image
axis
incident
Prior art date
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Pending
Application number
JP16837881A
Other languages
English (en)
Inventor
Hayao Akaha
赤羽 速雄
Tsuneo Nakamura
中村 常郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Hoya Lens Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Hoya Lens Corp
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Publication date
Application filed by Hoya Corp, Hoya Lens Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP16837881A priority Critical patent/JPS5870107A/ja
Publication of JPS5870107A publication Critical patent/JPS5870107A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/254Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発Ij1h、立体形状の新規な光学的測定法に関し、
轡に実際の立体形状のその理想形状からの偏倚を光学的
K11j定する簡単かつ精度の良い方法に関する。
立体形状を光学的に測定する方法祉いくつかあるが、こ
れまで簡便で爽い方法は開発されていな−。
本発引ム被一定立体形状物の必要とする断面形状に直角
な方向を含むX軸と直交するY軸を入射光軸とする入射
光学系と該xy面内にあって鋏入射光軸とある角度(2
0以下)をなす受光光軸を有する受光光学系とからなり
、該入射光学系ttx軸及びY軸に直交する2軸と平行
な直線状縞からなる入射格子とこの入射格子を被測定立
体形状物0表面に結像する為の手段を有し)皺受光光学
系は被測定立体形状物表面像の結像手段と皺結會面ec
tかれる受光格子を有し、かつ、該入射格子は、被測定
立体形状物がその理想形状である場合に、被測定立体形
状物表面に等間隔切断線を結像せしめるように選ばれた
間隔を有する平行線群からなり、該受光格子は被測定立
体形状物表面の該等間隔切断層の像とモアレ縞を形成す
る等間隔平行縞からなることを特徴とする立体形状の光
学的11定法に関するものである。
以下に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
ls1図は本発明の立体形状の測定系の/例倉示す図で
ある。この場合被測定立体形状物lは球となっている。
球の場合特別な軸はなく、球心0が軸心となっている。
必蒙とする方向KOX軸を選定し、OXK対して直角坐
at−形成するOY繍を入射光軸とし、仁の光軸OYに
直、@oyが垂−となる平面上に描かれる入射格子λと
入射格子−に対する入射光源3と被測定立体形状物10
fi面に格子儂を結像せしめる為の入射レンズ≠で入射
光学系が形成されている。xoy平面上にOYC対し角
度#をなす。 aiiIt受元軸とする受元元字系を設
け、軸OR上に、受光レンズj1受光格子7を設ける。
なお図においてtは受光像を示すが、受光像#i砿捌定
球体の表面に結愉した入射格子コOat更にレンズ!に
よって受光格子70表に結像したものであり、tと7に
よってモレア縞を形成することができる。入射格子2に
は、被測定立体形状物lが理想形状である場合に、被測
定理想形状物体lの表面に結像されろ入射格子λによる
光切断−線が受光像を上(等間隔aをなして結像される
ように、入射格子コの格子縞を設定する。
通常こO格子縞は、等しいか又は異なった間隔を有する
X軸及びY軸と直交する2軸(直!10Z)和平性な直
線状透明・不透明の縞からなっている。
上述のようk、被測定理想形状物体/の表面の切断格子
線の受光像が等間隔aをなすように入射格子を設定する
点に、本発明の特徴がある。
又、本発明の測定系においては、上記等間隔aと社異な
る間隔すを等間隔とする直線状部からなる受光格子全受
光偉6にかさねモアレ縞を形成せしめる。
このように、モアレ縞の形成によって、微測定立体形状
物の立体形状を測定すること、より正確には被測定物の
理想形状物との形状の偏倚を測定する点に本発明の特徴
があり、その際前述のとおシ、被測定理想形状物体lの
表面の切断格子線の受光像が等間隔1t−なすように入
射格子を設定する点に本発明の特徴がある。
次に、被測定立体形状すとして檀々の立体形状物を例に
とり、本発明の光学的測定系の作用について説明する。
まず、被測定立体形状物を円柱(又は円筒)とした場合
について述べる。円柱の中心軸をOX軸と一致させて置
き、第1図に示すような光学的測定系を作る。この場合
OX軸方向における一1iI測定立体形状物の表面の変
移は、理想的円柱において社、ゼ田であるから、入射格
子の格子縞祉等間隔平行−でよい、その間隔ILとする
と、受ft1lAkは、a=L@・1#の長さの間隔a
からなる半円光切断曲線群が結像する。なお説明の便宜
上、レンズ弘、jは共に等信書(X/)を作る位置に置
くと仮定する。
第2図IA)、1BI4c#i、0=60とし、入射格
子をL = a/。as # =j / @@@ # 
=j・me@#(■)の長さを等間隔とする平行直線群
(OZK対し平行)とし、受光格子を間隔b=4 (■
)の平行直線群とした場合の、直径30■φ(4)、直
径コt■φ(IIO立体形状物によって現われるモアレ
縞を示した。
嬉2図lA11Blの条件を轟めて示す。
+A)          IB) a=/゛         θ=t。
Lw=10 (m)         L=10(w)
a =j (sm)         a =1 (■
)bヨ4(■)       b=4<■)直径30−
φ        直径26■φh;B■×山tゐり、
〃(■)h=/j■X由6ゐ/15 (■)イ=η・斧
(■)     に=67A (■)格子線数=6  
      格子線数=6但し、hは半円光切断曲線の
受光像の高さを表わし、11/は格子線数(切断線数)
をhに乗じた値を表わす。
第コII(Q社第2図(〜(頂で現われるモアレ縞を−
緒に示したものである。
例えば実際の円柱が直径30閤とコロ■の間に入ってい
れば合格であるとすれば、第2図の曲f1イ1、(ロ)
の間にモアレ縞が入っていれば合格となる。円柱の表面
に凹凸がある場合はモアレ縞曲線は、スムースな曲線と
ならず凹凸のある自重となる。第2図1OKおける距離
・は距離・よシ数倍に引き延ばされているから、立体形
状の偏倚が拡大されて現われ、従って偏倚を精度よく検
出することが可能となる。
次に被測定立体形状物が球体である場合について述べる
。この場合は、第3図r見れば分るように1球体の切断
格子縞を受光軸OR方向から見て等間隔にするには、入
射格子縞は等間隔であってはならず、球心から(+り方
向に離れるに従って間隔が小さくなる格子線群となる。
第3図において社、OX軸上の間隔がOQ 、QtQt
 、(bQs−QIQ41Q4Ql−Q@Q・等の平行
直線群(O2軸と平行)となる。第3図の右側の曲線群
社、切断格子−の受光像を示す0例えば球の直径fjO
■φとし、受光倫O切断格子の間隔(ml t j w
m X sin e (#=+/ ) =u、4A7−
となるようにした場合のものを示す。この場合、受光格
子に間隔b=3(■)の平行直線群を用いれば、直径j
O−一の球のモアレ縞は、第参図の実線のようkなり、
直径参よ鴫−の球のモアレ縞は点纏のようになる。この
場合モアレ縞による形状の検出精度は円柱形の場合19
は多少低くなるように思われる。
円柱の場合も球の場合も、一度に全表面t−欄調定る仁
と社できないが、軸線又社軸心のまわりに回転して静止
して測定を繰返えすことによって全表面の測定を行うこ
とができる。
その他、楕円回転体、卵形体等任意の形状について、受
光像の切断格子線が等間隔になるように入射格子縞を設
定し、適尚な等間隔の受光格子と受光像とkより生ずる
モアレ縞ケ観察し、実物立体形状物と理想立体形状物と
のモアレ縞の比較によって、実物立体形状物の形状の偏
倚状態を知ることができる。
尚入射格子*1−各種の理想立体形状物について求める
には、理想形状物を作成して、実測により求めることも
できるし、立体形状が数式で与え得るような場合は単な
る計算や作図によって求めることが出来る。
本発明の方法によれば、入射格子線と受光格子liIを
適当に設定して、切断格子線の受光像と受光格子線とで
形成されるモアレ縞をlll4w!することにより1実
書の被測定立体形状のその理想的形状からの偏11’l
E−精度よく簡単VC検出できるので・その利用価値は
大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の立体形状の光学測定系の1例管示す
為の図である。 第一図(AI、(均は、被測定立体形状物が円柱の場合
の受光像と受光格子によるモアレ縞の例を示す図であり
、(qは国、(均のモアレ縞を一緒に示した図である。 第3図は、被測定立体形状物が半球の場合の受光像の例
を示す図である。 第参図は、第3図の受光像と受光格子により形成される
モアレ縞の例を示す。 l・−半球       コ・・・入射格子3・−入射
光源     参・・・入射レンズ!・・・受光レンズ
    t・・・受光像7・・・受光格子 Ox−・立体形状測定方向軸 oy・・・入射光軸0ル
ー・受光軸       02・・・ox、oyの両方
と直角な軸−・・・入射光軸OYと受光軸ORとのなす
角度特許出願人  株式会社保谷レンズ 代珈人弁理士   J!   費     透才10 Y (A)   才2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  被測定立体形状物の必要とする断面形状に直
    角な方向を含むX軸と直交するY軸を入射光軸とする入
    射光学系と該XY面内にあって鋏入射光軸とある角度(
    20以下)t−なす受光光軸を有する受光光学系とから
    なり、該入射光学系はX軸及びY軸に直交するz軸と平
    行な直線状縞からなる入射格子とこの入射格子を被測定
    立体形状物の表面に結像する為の手段を有し、該受光光
    学系は被測定立体形状物表面像の結像手段と該結像面に
    置かれる受光格子を有し、かつ、該入射格子社、被測定
    立体形状物がその理想形状である場合に、被−1定立体
    形状物表面に等間隔切断!1を結像せしめるように選ば
    れた間隔を有する平行1群からなり、該受光格子は普棚
    定立体形状物表面の鋏等間隔切断線の像とモアレ縞を形
    成する等開隔平行縞からなることを特徴とする立体形状
    の光学的測定法。
JP16837881A 1981-10-21 1981-10-21 立体形状の光学的測定法 Pending JPS5870107A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100495900B1 (ko) * 2002-05-22 2005-06-16 (주)트릭센 전자부품 및 솔더 도포 검사장치
CN112595261A (zh) * 2020-12-01 2021-04-02 哈尔滨石油学院 一种基于结构光的锈斑检测系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5242755A (en) * 1975-10-01 1977-04-02 Hitachi Ltd Process for measuring displacements on the overall peripheral surface of a cylindrical object by means of moire fringe
JPS5589705A (en) * 1978-12-28 1980-07-07 Nippon Sheet Glass Co Ltd Distortion inspection method for three dimension curved glass

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5242755A (en) * 1975-10-01 1977-04-02 Hitachi Ltd Process for measuring displacements on the overall peripheral surface of a cylindrical object by means of moire fringe
JPS5589705A (en) * 1978-12-28 1980-07-07 Nippon Sheet Glass Co Ltd Distortion inspection method for three dimension curved glass

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100495900B1 (ko) * 2002-05-22 2005-06-16 (주)트릭센 전자부품 및 솔더 도포 검사장치
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