JPS5856143B2 - Terminal device test program startup method - Google Patents

Terminal device test program startup method

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JPS5856143B2
JPS5856143B2 JP53050559A JP5055978A JPS5856143B2 JP S5856143 B2 JPS5856143 B2 JP S5856143B2 JP 53050559 A JP53050559 A JP 53050559A JP 5055978 A JP5055978 A JP 5055978A JP S5856143 B2 JPS5856143 B2 JP S5856143B2
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JP
Japan
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terminal device
test
program
test program
mode
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隆次 斉藤
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、端末装置のテストプログラム起動方式、特に
ストアト・プログラム処理装置を内蔵した端末装置にお
いて、予め定められたファンクション・キーを操作しつ
つ電源が投入されることを条件に上記ストアト・プログ
ラム処理装置がテスト・モードに入り、当該端末装置の
機能テストを行なうようにされてなり、オペレータによ
る非所望なキー操作によって上記テスト・モードに入る
ことを防止するようにした端末装置のテスト・プログラ
ム起動方式に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a method for starting a test program for a terminal device, particularly for a terminal device having a built-in stored program processing device, in which power is turned on while operating a predetermined function key. The condition is such that the stored program processing device enters a test mode to perform a functional test of the terminal device, and is prevented from entering the test mode due to an undesired key operation by an operator. This relates to a method for starting a test program for a terminal device.

最近いわゆるマイクロプロセッサが各種制御装置に組込
まれることになり、例えばPOSターミナルなどの端末
装置にも組込まれるようになってきた。
Recently, so-called microprocessors have been incorporated into various control devices, and have also come to be incorporated into terminal devices such as POS terminals.

このような端末装置においては、障害発生時における障
害原因追跡などのためあるいはデバッグ用としてテスト
・プログラムが内蔵される場合が多い。
Such terminal devices often have a built-in test program for tracing the cause of a failure when a failure occurs or for debugging purposes.

本発明はテストプログラムを内蔵する場合のみに限られ
ることなく、例えばテスト・プログラムをローディング
した上でテストを行なう場合を含むものであるが、上記
の如きテスト・プログラムによるテストを行なうに当っ
て、通常の処理モードのもとでは使用しないテスト・プ
ログラム起動用に特別のキーを用いることは、例えばク
レジット・オーソライゼーション・ターミナル(CAT
)の如く比較的小型の端末装置の場合には好ましくない
The present invention is not limited to the case where a test program is built-in, but includes the case where a test is performed after loading a test program. The use of special keys for launching test programs that are not used under processing mode is useful, for example, in the Credit Authorization Terminal (CAT).
) is not preferable in the case of a relatively small terminal device.

このために通常の処理モードのもとでオペレータが操作
するキーを用いて上記テスト・モードに入るようにされ
るが、通常の処理モードを実行する際に非所望にテスト
・モードに入ることを極力さける必要がある。
For this purpose, the above-mentioned test mode is entered using keys operated by the operator under the normal processing mode, but it is possible to enter the test mode undesirably when executing the normal processing mode. You need to avoid it as much as possible.

また上記テスト・モードに入る条件設定は、一般にプロ
グラムによって行なわれるが、該条件設定のために特殊
なプロゲラ、ムを用意することは好ましくない。
Further, although the conditions for entering the test mode are generally set by a program, it is not preferable to prepare a special program for setting the conditions.

しかも上記条件設定が特殊な種類の端末装置にのみ適用
できるものであることは、出来れはさけることが望まし
い。
Moreover, it is desirable to avoid setting the conditions described above so that they can only be applied to a special type of terminal device.

本発明は、上記前提のもとに、通常の処理モードを実行
しようとして非所望にテスト・モードに入ることがない
ように配慮しつつ、しかも条件設定のためのプログラム
が簡単で汎用性があるようにした端末装置のテスト・プ
ログラム起動方式を提供することを目的としている。
Based on the above-mentioned premise, the present invention provides a simple and versatile program for setting conditions, while taking care not to enter the test mode undesirably when attempting to execute the normal processing mode. The purpose of this invention is to provide a method for starting a test program for a terminal device.

そしてそのため、本発明の端末装置のテスト・プログラ
ム起動方式は通常の処理モードのもとでオペレータが操
作する少なくともテン・キーと複数種類のファンクショ
ン・キーとをそなえると共にストアト・プログラム処理
装置をそなえ、電源オン時に上記キー操作によって入力
された入力データに対応して処理を実行する端末装置に
おいて、上記ストアト・プログラム処理装置に当該端末
装置内の機能をテストするテスト・プログラムを実行せ
しめるよう構成すると共に、当該端末装置に対して電源
が投入された後の予め定められた時間以内の時点におい
て上記ファンクション・キーのうちの予め定められた少
なくとも1つが操作されていることを条件に上記ストア
ト・プログラム処理装置が上記テスト・プログラムを実
行するテスト・モードに入るようにしたことを特徴とし
ている。
Therefore, the test program starting method of the terminal device of the present invention includes at least a numeric keypad and a plurality of types of function keys that are operated by an operator in a normal processing mode, and also includes a stored program processing device. In a terminal device that executes processing in response to input data input by the key operation when the power is turned on, the stored program processing device is configured to execute a test program for testing functions within the terminal device; , the above-mentioned stored program processing on the condition that at least one predetermined of the above-mentioned function keys is operated within a predetermined time after the terminal device is powered on. The present invention is characterized in that the device enters a test mode in which the test program is executed.

以下図面を参照しつつ説明する。This will be explained below with reference to the drawings.

図は本発明の端末装置の一実施例構成を示し、図中の符
号1は制御部であってストアト・プログラム処理装置を
内蔵するもの、2はリード・オンリ・メモリ(以下RO
Mという)、3はリード・ライト・メモリ(以下RAM
という)、4はマイクロプロセッサ、5はキー・ボード
、6はテン・キー、CLはクリヤ・キー、*はモード切
換キー(なお該キーは本発明にいうテスト・モード設定
とは関連をもたない)、Pは紙送りキー、SDは送信キ
ーであって通常の処理モードのもとでは例えばテン・キ
ーによって入力したデータを外部装置に送信するもの、
スラッシュ「/」はプリント起動用キーであって通常の
処理モードのもとでは例えばテン・キーによって入力し
たデータや処理された結果のデータをプリンタに打出す
ことを指示するものを表わしている。
The figure shows the configuration of an embodiment of a terminal device according to the present invention, in which reference numeral 1 is a control unit that includes a stored program processing device, and 2 is a read-only memory (hereinafter referred to as RO).
3 is read/write memory (hereinafter referred to as RAM).
), 4 is a microprocessor, 5 is a keyboard, 6 is a numeric keypad, CL is a clear key, * is a mode switching key (note that this key is not related to the test mode setting referred to in the present invention). ), P is a paper feed key, and SD is a send key, which in normal processing mode sends data entered using the numeric keys, for example, to an external device.
The slash "/" is a print starting key, which instructs the printer to output data inputted using the numeric keypad or data resulting from processing in the normal processing mode.

また、6は表示部、1は磁気カード・リーダ、8は4線
式モデムであって図示しない外部装置との間でデータを
送受するもの、10は電源を表わしている。
Further, 6 is a display section, 1 is a magnetic card reader, 8 is a four-wire modem for transmitting and receiving data with an external device (not shown), and 10 is a power source.

通常の処理モードのもとにおいては、−フィクロプロセ
ッサ4は、電源オン状態のもとで、ROM2上のユーザ
ース・プログラムU−Pをアクセスしつつ処理を実行し
、必要に応じてRAM3からデータをリードしあるいは
RAM3にデータをライトする。
Under the normal processing mode, the fibroprocessor 4 executes processing while accessing the user program U-P on the ROM 2 while the power is on, and stores data from the RAM 3 as necessary. Read data or write data to RAM3.

そして、キー・ボード5によってデータが入力され、表
示部6によってデータが表示され、磁気カード・リーダ
7によって顧客が提示した磁気カードを読取り、モデム
8によって外部装置(図示せず)との間でデータの送受
を行ない、プリンタ9によって必要なデータを打出すよ
うにされる。
Then, data is inputted using the keyboard 5, displayed on the display section 6, read the magnetic card presented by the customer using the magnetic card reader 7, and exchanged with an external device (not shown) using the modem 8. Data is sent and received, and the necessary data is printed out by the printer 9.

上述の如き端末装置において、障害追跡やデバッグのた
めに例えはテスト・プログラムT−PがROM2上に用
意される。
In the terminal device as described above, a test program TP, for example, is prepared on the ROM 2 for troubleshooting and debugging.

そして障害発生時などにおいて、テスト・モードに切換
えられて、マイクロプロセッサ4はテスト・プログラム
T−Pをアクセスしつつ機能テストを行なうようにされ
る。
When a failure occurs, the microprocessor 4 is switched to the test mode and performs a functional test while accessing the test program TP.

このようなテスト・モードを設定するために本発明にお
いては電源投入時に例えば送信キーSDを押下しつつ電
源を投入することによってテスト・モードに入るように
される。
In order to set such a test mode, in the present invention, the test mode is entered by, for example, pressing down the transmission key SD while turning on the power.

テスト・モードを設定する条件は、ROM2上に用意さ
れている電源処理プログラム起動方式に含ませることが
でき、実施例の場合図示フローチャートの如く次の条件
のもとてテスト・モードに入るようにされている。
The conditions for setting the test mode can be included in the power processing program startup method prepared on the ROM2, and in the embodiment, the test mode is entered under the following conditions as shown in the flowchart shown. has been done.

即ち、(1)電源投入直後から例えば500m5以内の
時点において送信キーSDが操作されていること。
That is, (1) the transmission key SD is operated within, for example, 500 m5 immediately after the power is turned on.

換言すると送信キーSDを押下しつつ電源投入が行なわ
れたときにのみテスト・モードに入る条件の1つが満足
され、電源投入を行なってから送信キーSDを押下した
場合には上記条件が満足されないようにされる。
In other words, one of the conditions for entering the test mode is satisfied only when the power is turned on while pressing the transmission key SD, and the above condition is not satisfied when the transmission key SD is pressed after the power is turned on. It will be done like this.

(2)上記(1)の処理が満足されたとき、端末装置は
所定時間アラームを発して、オペレータに注意を与える
こと。
(2) When the process in (1) above is satisfied, the terminal device issues an alarm for a predetermined period of time to alert the operator.

換言するとオペレータは上記アラームによってテスト・
モードに入ることを再確認させられる。
In other words, the operator can test and
You will be asked to reconfirm that you want to enter the mode.

(3)上記アラームに対応して、オペレータがクリヤ・
キーCを操作しないこと。
(3) In response to the above alarm, the operator clears the
Do not operate key C.

換言するとテスト・モードに入ることを必要としない場
合には、上記アラームに対処してクリヤ・キーCを操作
するか、あるいは電源を一時オフにするかが指示されて
いる。
In other words, if it is not necessary to enter the test mode, an instruction is given to either operate the clear key C in response to the alarm or temporarily turn off the power.

該指示に拘らずクリヤ・キーCを操作しないことによっ
て、オペレータに確認を求めている。
By not operating the clear key C despite the instruction, confirmation is requested from the operator.

(4)上記アラームに対応して、オペレータが電源オフ
を行なわないこと。
(4) The operator should not turn off the power in response to the above alarm.

(5)更に必要に応じて、例えばスラッシュ・キー「/
」を操作することを条件とすることができる。
(5) If necessary, for example, press the slash key “/
” can be made conditional on the operation.

換言すると、オペレータが意識的にテスト・モードに入
る意思を与えるようにされる。
In other words, the operator is made to consciously give the intention to enter the test mode.

なお、当該タイミングの下で上記スラッシュ・キー「/
」を押下することは、テスト・モードに入るに当って、
当該時点においてRAMB上に格納されている非所望な
データをクリヤし、更にテスト・モードに必要なポーリ
ング番号やデバイス番号をRAMB上にセットすること
を意味している。
In addition, at this timing, press the above slash key "/
” to enter test mode.
This means clearing the undesired data stored in the RAMB at that point, and further setting the polling number and device number necessary for the test mode in the RAMB.

しかし、該スラッシュ・キー「/」の押下を上述の如く
テスト・モードに入る意思表示を与えるものとして、条
件の1つに加えてもよい。
However, pressing the slash key "/" may be added as one of the conditions as an indication of the intention to enter the test mode as described above.

上記(1)ないしく5)の各条件が満足されたとき、図
示フローチャートの如く、マイクロプロセッサ4はテス
ト・モードに入り、以後ROM2上のテスト・プログラ
ムT−Pをアクセスしつつ機能テストを行なうようにさ
れる。
When each of the above conditions (1) to 5) is satisfied, the microprocessor 4 enters the test mode as shown in the illustrated flowchart, and thereafter performs a functional test while accessing the test program T-P on the ROM 2. It will be done like this.

なお、該テスト・モードを解除するに当っては、電源を
一旦オフにした上で再びオンすれば足りる。
Note that to cancel the test mode, it is sufficient to turn off the power once and then turn it on again.

以上説明した如く、本発明によれば、少なくとも例えば
送信キーSDの如きファンクション・キーを押下しつつ
電源を投入することを条件として、テスト・モードに入
るようにされる。
As described above, according to the present invention, the test mode is entered on the condition that the power is turned on while pressing at least a function key such as the send key SD.

このために、テスト・プログラムを利田してテスト・モ
ードを実行せしめる権限のないオペレータによって、非
所望にテスト・モードに入ってしまうおそれが殆んどな
くなる。
Therefore, there is almost no possibility that the test mode will be entered undesirably by an operator who is not authorized to run the test program and execute the test mode.

また電源投入時点のキー操作にもとずいて、テスト・モ
ードに入ることから、テスト・モードに入る条件は端末
装置の種類の相違に拘らず高い汎剛性をもっている。
Furthermore, since the test mode is entered based on the key operation at the time of power-on, the conditions for entering the test mode have high general rigidity regardless of the type of terminal device.

更に上記条件は電源処理プログラム中に組入れればよく
、特殊なプログラムを必要としない。
Furthermore, the above conditions can be incorporated into the power supply processing program, and no special program is required.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は本発明の一実施例構成を示す。 図中1は制御部、2はリード・オンリ・メモリ、3はリ
ード・ライト・メモリ、4はマイクロプロセッサ、5は
キーボード、6はテン・キー、CL。 *、P、SD、r/Jなどはファンクション・キーを表
わす。
The figure shows the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, 1 is a control unit, 2 is a read-only memory, 3 is a read-write memory, 4 is a microprocessor, 5 is a keyboard, and 6 is a numeric keypad, CL. *, P, SD, r/J, etc. represent function keys.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 通常の処理モードのもとてオペレータが操作する少
なくともテン・キーと複数種類のファンクション・キー
とをそなえると共にストアト・プログラム処理装置をそ
なえ、電源オン時に上記キー操作によって入力された入
力データに対応して処理を実行する端末装置において、
上記ストアト・プログラム処理装置に当該端末装置内の
機能をテストするテスト・プログラムを実行せしめるよ
う構成すると共に、当該端末装置に対して電源が投入さ
れた後の予め定められた時間以内の時点において上記フ
ァンクション・キーのうちの予め定められた少なくとも
1つが操作されていることを条件に上記ストアト・プロ
グラム処理装置が上記テスト・プログラムを実行するテ
スト・モードに入るようにしたことを特徴とする端末装
置のテスト・プログラム起動方式。 2 上記予め定められた時間は、電源投入動作の後に上
記少なくとも1つのファンクション・キーが操作される
状態のもとでは当該ファンクション・キーの操作検出ま
での時間が上記予め定められた時間を超えるような値に
選ばれていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の端末装置のテスト・プログラム起動方式。 3 上記少なくとも1つのファンクション・キーは、上
記通常の処理モードのもとでは電源投入の直後に操作さ
れることのないファンクション・キーであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項または第2項記載の端末装
置のテスト・プログラム起動方式。 4 上記テスト・モードに入る条件が満足されたとき、
アラームを発するよう構成されることを特徴とする特許
請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか記載の端末装
置のテスト・プログラム起動方式。 5 上記テスト・モードに入る条件は、当該条件が満足
されたとき、上記ファンクション・キーのうちの予め定
められたキーの操作によって解消され、端末装置は通常
の処理モードに入ることを特徴とする特許請求の範囲第
1項ないし第4項のいずれか記載の端末装置のテスト・
プログラム起動方式。
[Scope of Claims] 1. Provided with at least a numeric keypad and a plurality of types of function keys operated by an operator in a normal processing mode, and also provided with a stored program processing device, and inputted by the above-mentioned key operations when the power is turned on. In a terminal device that executes processing in response to input data,
The stored program processing device is configured to execute a test program for testing the functions within the terminal device, and the stored program processing device is configured to execute the test program for testing the functions within the terminal device, and the stored program processing device executes the test program for testing the functions within the terminal device, and the stored program processing device executes the test program for testing the functions within the terminal device, and A terminal device characterized in that the stored program processing device enters a test mode in which the test program is executed on the condition that at least one predetermined function key is operated. test program startup method. 2. The above predetermined time is such that when the at least one function key is operated after the power is turned on, the time until the operation of the function key is detected exceeds the above predetermined time. 2. A method for starting a test program for a terminal device according to claim 1, wherein the value is selected to be a certain value. 3. The at least one function key is a function key that is not operated immediately after power is turned on under the normal processing mode. Terminal device test program startup method described in section. 4 When the above conditions for entering test mode are satisfied,
A test program starting method for a terminal device according to any one of claims 1 to 3, characterized in that the method is configured to issue an alarm. 5. The condition for entering the test mode is canceled by operating a predetermined key among the function keys when the condition is satisfied, and the terminal device enters the normal processing mode. Testing and testing of the terminal device according to any one of claims 1 to 4
Program startup method.
JP53050559A 1978-04-27 1978-04-27 Terminal device test program startup method Expired JPS5856143B2 (en)

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JPS54142037A JPS54142037A (en) 1979-11-05
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