JPS5833148A - Sampling device for high-temperature fluid - Google Patents

Sampling device for high-temperature fluid

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JPS5833148A
JPS5833148A JP56131480A JP13148081A JPS5833148A JP S5833148 A JPS5833148 A JP S5833148A JP 56131480 A JP56131480 A JP 56131480A JP 13148081 A JP13148081 A JP 13148081A JP S5833148 A JPS5833148 A JP S5833148A
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sampling device
temperature
sampling
economizer
cooler
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峯 雅夫
Tatsuo Amada
天田 達雄
Hitoshi Takahashi
等 高橋
Noboru Nakao
昇 中尾
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Hitachi Ltd
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/10Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N2033/0093Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00 radioactive materials

Abstract

PURPOSE:To provide a high-temperature fluid sampling device which is protected from thermal shock, by a method wherein a cooler and an economizer are mounted to an inlet side to cool a liquid metal. CONSTITUTION:An economizer 32 is installed between an inlet 10 of an input piping 12 of a sampling device 20 and a normally-driven electromagnetic pump 14, and a cooler 34 whereto a blower 36, driven at a sampling time is connected, is mounted to the outlet side of the pump 14. If the temperature of high-temperature fluid, such as metalic sodium, flowing through the piping 12 reaches in the proximity of the preheating temperature of the sampling device 20, valves 22 and 24 are opened without the occurrence of thermal shock, and a sampling of high- temperature fluid takes place.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、高温液体金属の試料採取に好適な高温流体サ
ンプリング装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a hot fluid sampling device suitable for sampling hot liquid metals.

現在、U235  又はp utRQ を燃料としテt
J 23 Bをpu239  に増殖する高速増殖実験
炉など一部の原子炉には液体金属を冷却材として使用し
ている。
Currently, Tet uses U235 or putRQ as fuel.
Some nuclear reactors, such as the experimental fast breeder reactor that breeds J23B to pu239, use liquid metal as a coolant.

しかし、原子炉の点検時などに液体金属中に空気中の酸
素や水素等の不純物が混入することがあり、これら不純
物濃度が大きくなると、冷却管などに使用している不銹
鋼が不純物と化学的に反応して腐食することになる。そ
のため、液体金属を冷却材としている原子炉は、液体金
属サンプリング装置(以下サンプリング装置と称す)を
設け、必要に応じて系統内の液体金属を採取し、不純物
を分析して不純物濃度の管理を行っている。そのサン響 プリング装置の系統図を第1図に示す。
However, impurities such as oxygen and hydrogen from the air may mix into the liquid metal during inspections of nuclear reactors, and when the concentration of these impurities increases, the non-rusting steel used for cooling pipes etc. may become chemically contaminated with the impurities. It will react and corrode. Therefore, nuclear reactors that use liquid metal as a coolant are equipped with a liquid metal sampling device (hereinafter referred to as a sampling device) to collect liquid metal from the system as necessary, analyze it for impurities, and manage the impurity concentration. Is going. A system diagram of the Sankyo pulling device is shown in Figure 1.

第1図において図示しない原子炉の冷却系に通じる入口
10に接続された入口配管12には、電磁ポンプ14が
設けられている。そして、入口配管12の下流側は、サ
ンプリング配管16とバイパス配管18とに分岐してい
る。このサンプリング配管16には、サンプリング装置
本体20が設けられていると共に、サンプリング装置本
体の入口側と出口側には、それぞれ弁22.24が取付
けられ、また、バイパス配管18には弁26がヅ付けら
れている。さらに、サンプリング配管16とバイパス配
管18とは、弁24と弁26との出側において接続され
、出口配管28となって図示しない原子炉の冷却系への
出口30に接続されている。
An electromagnetic pump 14 is provided in an inlet pipe 12 connected to an inlet 10 communicating with a cooling system of a nuclear reactor (not shown in FIG. 1). The downstream side of the inlet pipe 12 is branched into a sampling pipe 16 and a bypass pipe 18. This sampling pipe 16 is provided with a sampling device main body 20, and valves 22 and 24 are installed on the inlet and outlet sides of the sampling device main body, respectively, and a valve 26 is installed in the bypass pipe 18. It is attached. Further, the sampling pipe 16 and the bypass pipe 18 are connected on the outlet side of the valves 24 and 26, and are connected to an outlet 30 to a cooling system of the nuclear reactor (not shown) as an outlet pipe 28.

前記のサンプリング装置においては、通常は電磁ポンプ
を駆動させず、弁24,26.28が閉じていて、原子
炉の冷却系からサンプリング装置内に液体金属が流入し
ない。そして、液体金属をサンプリングするときには、
サンプリング装置本体20と各配管とを通常200C程
度に予熱し、弁22,24.26を開けて電磁ポンプ1
4を駆動させる。そのため、液体金属は、入口10から
入口配管12内に導かれ、サンプリング配管16及びバ
イパス配管18を経て出口配管28を通って出口30か
ら再び図示しない冷却系に戻される。
In the sampling device described above, the electromagnetic pump is normally not driven and the valves 24, 26, 28 are closed, so that no liquid metal flows into the sampling device from the reactor cooling system. And when sampling liquid metal,
Preheat the sampling device main body 20 and each pipe to about 200C, open the valves 22, 24, and 26, and turn on the electromagnetic pump 1.
Drive 4. Therefore, the liquid metal is guided into the inlet pipe 12 from the inlet 10, passes through the sampling pipe 16 and the bypass pipe 18, passes through the outlet pipe 28, and is returned to the cooling system (not shown) from the outlet 30.

サンプリング配管16を経る液体金属は、サンプリング
装置本体20内を通るので、弁22.24を閉じ液体金
属をサンプリング装置本体20内の図示しない採取器で
あるいわゆるコイルに封入し、このコイルを冷却して液
体金属を固化した後、サンプリング装置本体20外に取
り出す。
Since the liquid metal passing through the sampling pipe 16 passes through the sampling device main body 20, the valves 22 and 24 are closed, and the liquid metal is sealed in a so-called coil, which is a collector (not shown) in the sampling device main body 20, and this coil is cooled. After solidifying the liquid metal, it is taken out of the sampling device main body 20.

しかし、高速増殖炉の場合、サンプリングする冷却材で
ある液体金属(ナトリウム)の温度は、約150Cから
550Cにわたり、サンプリング装置の予熱温度とかけ
はなれた高温の液体金属をサンプリングするときは、大
きな温度差に伴う過大な熱衝撃が入口配管12、サンプ
リング配管16、バイパス配管18、出口配管28及び
サンプリング装置本体20に加わり、サンプリング装置
の構造の健全性に対し重大な悪影響を及ぼす欠点があっ
た。即ち、第2図に示すようにサンプリング装置の配管
温度(サンプリング装置の予熱温度)と液体金属との温
度差が大きいときには、す/プリノブ装置への液体金属
の注入開始とともにサンプリング装置の配管温度の急激
な上昇、それに伴う熱歪みの局部的な発生等、サンプリ
ング装置への影響が大きい。この欠点を除去するために
、サンプリング装置全体の予熱温度をサンプリングする
液体金属の温度に合わせる方法も考えられる。
However, in the case of a fast breeder reactor, the temperature of the liquid metal (sodium) used as the coolant to be sampled ranges from approximately 150C to 550C. An excessive thermal shock due to the difference is applied to the inlet piping 12, the sampling piping 16, the bypass piping 18, the outlet piping 28, and the sampling device main body 20, which has a drawback that it has a serious adverse effect on the structural integrity of the sampling device. In other words, as shown in Figure 2, when the temperature difference between the sampling device piping temperature (sampling device preheating temperature) and the liquid metal is large, the sampling device piping temperature will increase as soon as the injection of liquid metal into the Su/Prinobu device starts. The rapid rise in temperature and the resulting localized thermal distortion have a significant impact on the sampling equipment. In order to eliminate this drawback, it is also possible to consider a method in which the preheating temperature of the entire sampling device is adjusted to the temperature of the liquid metal to be sampled.

しかし、サンプリング装置全体を500C付近捷で昇温
しで均一に予熱することが困難で温度分布(温度むら)
が著しくなり、また、予熱設備費が大幅に増大する欠点
がある。
However, it is difficult to preheat the entire sampling device uniformly by raising the temperature around 500C, resulting in temperature distribution (temperature unevenness).
There is also a disadvantage that the preheating equipment cost increases significantly.

本発明は、前晶己従来技術の欠点を解消するためになさ
れたもので、サンプリング装置に液体金属を冷却する冷
却器とエコノマイザとが設けられた熱衝撃のない高温流
体サンプリング装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made to overcome the drawbacks of the prior art, and aims to provide a high temperature fluid sampling device without thermal shock, in which the sampling device is provided with a cooler and an economizer for cooling the liquid metal. purpose.

本発明は、高温流体を流通させる管路と、この・a路に
設けられた採取器とから成る高温流体サンプリング装置
において、前記管路の入口側に冷却器とエコノマイザと
を設け、高温流体を冷却器とエコノマイザとでサンプリ
ング装置の予熱温度1で冷却し、サンプリング装置に熱
衝撃を生じないように構成したものである。
The present invention provides a high-temperature fluid sampling device consisting of a pipe line through which high-temperature fluid flows and a sampling device provided on the pipe a, in which a cooler and an economizer are provided on the inlet side of the pipe line, and a high-temperature fluid is collected. A cooler and an economizer cool the sampling device to a preheating temperature of 1, so that no thermal shock is caused to the sampling device.

本発明のに係る高温流体サンプリング装置の好ましい実
施例を添付図面に従って詳説する。なお、前記従来のサ
ンプリング装置と対応する部分については同一の番号を
付し、その説明を省略する。
A preferred embodiment of the high temperature fluid sampling device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the same numbers are given to parts corresponding to those of the conventional sampling device, and the explanation thereof will be omitted.

第3図は、本発明に係る鍋温流体サンプリング装置の実
施例の系統図である。第3図において一般的なエコノマ
イザ32が、入口配管12の入口10と電磁ポンプ14
との中間に取付けられ、また、電磁ポンプ14の出口側
の入口配管12には、冷却器34が設けられている。こ
の冷却器34は、冷却媒体である空気を送風機36によ
って冷却器34内に送り、冷却後の空気、即ち、暖めら
れた空気をダクト38から冷却器34の外部に放出する
。さらに、出口目己管28は、エコノマイザ32に屡続
された後、出口30に接続されている。
FIG. 3 is a system diagram of an embodiment of the pan hot fluid sampling device according to the present invention. In FIG. 3, a general economizer 32 is connected to an inlet 10 of an inlet pipe 12 and an electromagnetic pump 14.
A cooler 34 is installed in the inlet pipe 12 on the outlet side of the electromagnetic pump 14. This cooler 34 sends air, which is a cooling medium, into the cooler 34 using a blower 36, and discharges the cooled air, that is, warmed air, to the outside of the cooler 34 through a duct 38. Further, the outlet pipe 28 is connected to the economizer 32 and then to the outlet 30.

上記の如く構成された実施例による液体金属のサンプリ
ングは、次のようにして行う。なお、サンプリングは、
高温(500C前後)の液体金属(す) IJウム)の
場合についてだけ説明すると共に、この場合のナトリウ
ムとサンプリング装置との温度変化の概略を第4図に示
す。
Sampling of liquid metal according to the embodiment configured as described above is carried out as follows. In addition, the sampling is
Only the case of liquid metal (IJum) at high temperature (about 500 C) will be explained, and FIG. 4 shows an outline of the temperature change between the sodium and the sampling device in this case.

本実施例の場合においては、電磁ポンプ14が常時駆動
されていて、サンプリングをしないときには弁22.2
4が閉じられており、弁26が開られている。従って、
サンプリングをしないときには、ナ) IJウムは、原
子炉の図示しない冷却系から入口10を経て入口配管1
2内に導かれ、エコノマイザ32、冷却器34を通って
バイパス配管18に送られ、さらに出口配管28を経て
再びエコノマイザ32を通って出口30から原子炉の冷
却系に戻される。ただし、この場合には、エコノマイザ
32、冷却器34は運転されていないためナトリウムの
温度は、上記経路を流れる間はぼ一様で、入口10から
導かれるす) IJウムの温度にほぼ等しい。サンプリ
ングをするときは、まず前記した状態の捷まサンプリン
グ配管16及びサンプリング装置本体20を200u程
度に予熱すると共に、エコノマイザ32と冷却器34と
を運転する。このようにしてエコノマイザ32と冷却器
34とによるナトリウムの冷却が開始されると、人口1
0から導かれたナトリウムは、エコノマイザ32によっ
て予冷された後冷却器34によって冷却され、第4図に
示すようにしだいにサンプリング装置本体20の予熱温
度まで温度が下げられる。そして、ナトリウムの温度が
サップリング装置本体20の予熱温度に等しく制御され
た時点で弁22.24を開け、サンプリング装置本体2
0にナトリウムが流れるようにし、第4図に示すように
冷却器34及びエコノマイザ32の冷却能力を弱めてサ
ンプリング配管16、バイパス配管18、サンプリング
装置本体20等に熱衝撃が生しないようにナトリウムを
徐々に昇温する。次に、第4図に示すようにサンプリン
グ装置本体20を流れるす) リウムの温度が、入口1
0におけるナトリウムの温度とほぼ等しくなった時点で
、サンプリング装置本体20を隔離する役目を有する弁
22.24を閉じ、サンプリング装置本体20内の図示
しない採取器であるコ・イルを冷却する。このとき弁2
6は開かれているので高温のす) IJウムは、入口1
0からエコノマイザ32、冷却器34、バイパス配管1
8、出口配管28、エコノマイザ32そして出口30の
経路を流れる。そして、前記コイルが十分冷却されて液
体状のす) IJウムが固化されたときにコイルをサン
プリング装置本体20の外部に取り出し、サンプリング
が行なわれる。なお、前記したナトリウムをサンプリン
グ装置本体20の予熱温度まで冷却したときに、出口配
管28からエコノマイザ32に通されたすトリウムは、
エコノマイザ32によりやや温度を高めら扛て出口30
に送られる。
In the case of this embodiment, the electromagnetic pump 14 is always driven, and when sampling is not performed, the valve 22.2
4 is closed and valve 26 is open. Therefore,
When not sampling, (na) IJum is connected to the inlet piping 1 from the cooling system (not shown) of the reactor through the inlet 10.
2, passed through the economizer 32 and the cooler 34, and sent to the bypass piping 18, further passed through the outlet piping 28, passed through the economizer 32 again, and was returned to the cooling system of the reactor from the outlet 30. However, in this case, since the economizer 32 and the cooler 34 are not operated, the temperature of the sodium is approximately uniform while flowing through the above-mentioned path, and is approximately equal to the temperature of the sodium introduced from the inlet 10. When sampling, first, the twisted sampling pipe 16 and the sampling device main body 20 in the above-mentioned state are preheated to about 200 u, and the economizer 32 and cooler 34 are operated. When cooling of sodium by the economizer 32 and the cooler 34 is started in this way, the population of 1
The sodium derived from 0 is precooled by the economizer 32 and then cooled by the cooler 34, and the temperature is gradually lowered to the preheating temperature of the sampling device main body 20, as shown in FIG. Then, when the temperature of the sodium is controlled to be equal to the preheating temperature of the sampling device main body 20, the valves 22 and 24 are opened, and the sampling device main body 20 is opened.
As shown in FIG. 4, the cooling capacity of the cooler 34 and economizer 32 is weakened to prevent sodium from causing thermal shock to the sampling pipe 16, bypass pipe 18, sampling device main body 20, etc. Raise the temperature gradually. Next, as shown in FIG.
When the temperature becomes approximately equal to the temperature of sodium at 0, the valves 22 and 24, which serve to isolate the sampling device main body 20, are closed, and the coil coil, which is a collector (not shown), in the sampling device main body 20 is cooled. At this time valve 2
6 is open, so the temperature is high) IJum is entrance 1
From 0 to economizer 32, cooler 34, bypass piping 1
8, the outlet pipe 28, the economizer 32, and the outlet 30. Then, when the coil is sufficiently cooled and the liquid IJum is solidified, the coil is taken out of the sampling device main body 20 and sampling is performed. In addition, when the above-mentioned sodium is cooled to the preheating temperature of the sampling device main body 20, the thorium passed from the outlet pipe 28 to the economizer 32 is as follows.
The temperature is slightly raised by the economizer 32 and then the outlet 30
sent to.

上記のようにして高温のナトリウムのサップリングが行
なわハるときは、第4図に示すようにサップリング装置
本体20等の温度変化がゆるやかであるため、サンプリ
ング装置に過度の熱衝撃を与えることがない。また、サ
ップリングされるナトリウムは、入口10におけるナト
リウムの温度と同一の温度においてサンプリング装置本
体20に封入されるので、原子炉の冷却系を流れるナト
リウムと同一の組成を維持でき、より正確な不純物の分
析を行うことができる。さらに、本実施例においては、
特別な装置を設ける必要がなく、サンプリング装置の運
転方法もあまり複雑となるととがないので、簡便で信頼
性の高いサンプリング装置を提供することができる。
When high-temperature sodium is sampled as described above, as shown in Figure 4, the temperature of the sampler main body 20, etc. changes slowly, so excessive thermal shock may not be applied to the sampling device. There is no. In addition, since the sodium to be supped is sealed in the sampling device main body 20 at the same temperature as the sodium at the inlet 10, it is possible to maintain the same composition as the sodium flowing through the reactor cooling system, and more accurately identify impurities. can be analyzed. Furthermore, in this example,
Since there is no need to provide a special device and the operating method of the sampling device does not have to become too complicated, it is possible to provide a simple and highly reliable sampling device.

前記実姉例においては、従来のサンプリング装置にエコ
ノマイザ32と冷却器34とを設けた場合について説明
したが、第5図に示すように7リギング計と組合せても
よい。プラギング計は、原子炉の冷却材である液体金属
(ナトIJウム)の純度を管理するために液体金属中の
不純物が析出する温度を測定する装置であって、プラギ
ング計本体40、流量計42、電磁ボ/ゾ14、エコノ
マイザ32、冷却器34等から成っている。本実施例は
、第3図に示した前記実施例とほぼ同様の構JJ地をな
すが、冷却器の出口側に流量計42が接続さfR(・i
L量計42の出口側の配管がサンプリング装置の入口配
管12とプラギング配管44に接続され、プラギング配
管44にはプラギング計本体40と弁46とが設けられ
ていて、弁46の出側にサンプリング装置の出口配管2
8が接続されると共に、エコノマイザ32に接続されて
いる。本実施例によって液体金属をサンプリングすると
き4寸、プラギング計のエコノマイザ32と冷却器34
により液体金属をサンプリング装置の予熱温度に冷却し
、弁22,24.26を開けると共に弁46を閉じて液
体金属がサンプリング装置内を流れるようにする。以下
の操作は前記したとほぼ同様である。本実施例によると
きは、電磁ポンプ14、エコノマイザ32、冷却器34
及び図示しない液体金属の温度制御系をサンプリング装
置とプラギング計とで共用化することができ、設備の簡
素化、設備費の低減を図ることができる。
In the above example, a conventional sampling device is provided with an economizer 32 and a cooler 34, but it may also be combined with a 7-rigging meter as shown in FIG. The plugging meter is a device that measures the temperature at which impurities in the liquid metal precipitate in order to manage the purity of the liquid metal (natium), which is the coolant of the nuclear reactor. , an electromagnetic cylinder 14, an economizer 32, a cooler 34, etc. This embodiment has almost the same structure as the embodiment shown in FIG. 3, but a flow meter 42 is connected to the outlet side of the cooler.
The piping on the outlet side of the L quantity meter 42 is connected to the inlet piping 12 of the sampling device and the plugging piping 44, and the plugging piping 44 is provided with a plugging meter body 40 and a valve 46, and the sampling device is connected to the outlet side of the valve 46. Equipment outlet piping 2
8 is connected to the economizer 32. When sampling liquid metal according to this embodiment, the economizer 32 and cooler 34 of the plugging meter are
The liquid metal is cooled to the preheat temperature of the sampling device by opening valves 22, 24, 26 and closing valve 46 to allow liquid metal to flow through the sampling device. The following operations are almost the same as those described above. According to this embodiment, the electromagnetic pump 14, economizer 32, cooler 34
In addition, a liquid metal temperature control system (not shown) can be shared between the sampling device and the plugging meter, thereby simplifying the equipment and reducing equipment costs.

なお、@記実施例ではエコノマイザ32を電磁ポンプ1
4の入口側に設けた場合について説明したが、エコノマ
イザ32は電磁ポンプ14の出口側に設けてもよい。ま
た、前記実施例においては原子炉の冷却材である液体金
属のす/プリノブについて説明したが、原子炉以外の装
置にも適用することができ、液体金属以外の高温流体に
も適用することができる。
In addition, in the example described in @, the economizer 32 is replaced by the electromagnetic pump 1.
Although the case where the economizer 32 is provided on the inlet side of the electromagnetic pump 14 has been described, the economizer 32 may be provided on the outlet side of the electromagnetic pump 14. Furthermore, in the above embodiments, the liquid metal suction/pre-knob, which is the coolant of a nuclear reactor, was explained, but it can also be applied to devices other than nuclear reactors, and can also be applied to high-temperature fluids other than liquid metal. can.

以上説明したように本発明によれば、サンプリング装置
の入口配管にエコノマイザと冷却器とを設け、高温の液
体金属を冷却できるようにしたことにより、サンプリン
グ装置の熱衝撃をなくすことができる。
As explained above, according to the present invention, an economizer and a cooler are provided in the inlet pipe of the sampling device to cool the high-temperature liquid metal, thereby making it possible to eliminate thermal shock in the sampling device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の高温流体サンプリング装置の系統図、第
2図は従来の高温流体サンプリング装置のサンプリング
時における温度変化を示す図、第3図は本発明に降る高
温流体す/ブリング装置の一実施例の系統図、第4図は
第3図の実施例のサンプリング装置のサンプリング時に
おける温度変化を示す図、第5図は本発明に係る高温流
体サンプリング装置の他の実施例の系統図である。 12・・・入口配管、16・・・す/プリフグ配管、1
8・・・バイパス配管、20・・・す/プリフグ装置本
体、28・・・出口配管、32・・・エコノマイザ、3
4・・冷0 第212Il 第4図 X 5 。 n 34     /4    32
Fig. 1 is a system diagram of a conventional high-temperature fluid sampling device, Fig. 2 is a diagram showing temperature changes during sampling in a conventional high-temperature fluid sampling device, and Fig. 3 is a diagram of a high-temperature fluid bath/bringing device according to the present invention. FIG. 4 is a diagram showing the temperature change during sampling of the sampling device according to the embodiment of FIG. 3, and FIG. 5 is a diagram of another embodiment of the high-temperature fluid sampling device according to the present invention. be. 12...Inlet piping, 16...S/purifugu piping, 1
8... Bypass piping, 20... Su/prifugation device main body, 28... Outlet piping, 32... Economizer, 3
4...Cold 0 No. 212 Il Fig. 4 X 5. n 34 /4 32

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、高温流体を流通させる管路と、この管路に設けられ
た採取器とから成る高温流体サンプリング装置において
、前記管路の入口側に冷却器とエコノマイザとを設けた
ことを特徴とする高温流体サンプリング装置。
1. A high-temperature fluid sampling device comprising a pipe through which high-temperature fluid flows and a sampling device installed in the pipe, characterized in that a cooler and an economizer are provided on the inlet side of the pipe. Fluid sampling device.
JP56131480A 1981-08-24 1981-08-24 Sampling device for high-temperature fluid Granted JPS5833148A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56131480A JPS5833148A (en) 1981-08-24 1981-08-24 Sampling device for high-temperature fluid

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56131480A JPS5833148A (en) 1981-08-24 1981-08-24 Sampling device for high-temperature fluid

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5833148A true JPS5833148A (en) 1983-02-26
JPS6260019B2 JPS6260019B2 (en) 1987-12-14

Family

ID=15058954

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JP56131480A Granted JPS5833148A (en) 1981-08-24 1981-08-24 Sampling device for high-temperature fluid

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US5518297A (en) * 1992-12-15 1996-05-21 Aprica Kassai Kabushikikaisha Seat-type bed for nursing instrument

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