JPS5828360Y2 - IC clip - Google Patents

IC clip

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Publication number
JPS5828360Y2
JPS5828360Y2 JP5204878U JP5204878U JPS5828360Y2 JP S5828360 Y2 JPS5828360 Y2 JP S5828360Y2 JP 5204878 U JP5204878 U JP 5204878U JP 5204878 U JP5204878 U JP 5204878U JP S5828360 Y2 JPS5828360 Y2 JP S5828360Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
clip
grounding
contact
pin
Prior art date
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Expired
Application number
JP5204878U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS54155470U (en
Inventor
秀蔵 浅野
充 野沢
Original Assignee
日立電子株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 日立電子株式会社 filed Critical 日立電子株式会社
Priority to JP5204878U priority Critical patent/JPS5828360Y2/en
Publication of JPS54155470U publication Critical patent/JPS54155470U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS5828360Y2 publication Critical patent/JPS5828360Y2/en
Expired legal-status Critical Current

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Description

【考案の詳細な説明】 本考案はプリント基板に実装されたIC(集積回路)の
電圧測定、主として高周波信号の測定に使用するICク
リップの改良に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an improvement of an IC clip used for measuring voltage of an IC (integrated circuit) mounted on a printed circuit board, mainly for measuring high frequency signals.

従来プリント基板に実装されているICのピンに、測定
器、特にオシロスコープ等のプローブの探針を押し付け
て発生している信号電圧を測定する場合、ICのピン間
隔が一般には2.54mmピッチと狭く、プローブの探
針を目的とするICのピンに接触させることが極めて困
難なためICクリップを介して測定している。
Conventionally, when measuring the signal voltage generated by pressing the tip of a measuring instrument, especially a probe such as an oscilloscope, onto the pins of an IC mounted on a printed circuit board, the pitch between the IC pins is generally 2.54 mm. It is very narrow and it is extremely difficult to bring the tip of the probe into contact with the pins of the target IC, so measurements are taken using an IC clip.

第1図は従来例によるICクリップの断面図であって、
1はIC12はICのピン、3はICクリップの探針、
4は絶縁体、5はリード線である。
FIG. 1 is a sectional view of a conventional IC clip,
1 is IC12 is the IC pin, 3 is the probe of the IC clip,
4 is an insulator, and 5 is a lead wire.

使用に際しては図に示すごとく、ICのピン2をICク
リップの探針3で挾み付け、リード線5の先端にプロー
ブを接続して電圧測定を行なっている。
In use, as shown in the figure, the pin 2 of the IC is held between the probe 3 of the IC clip, and the probe is connected to the tip of the lead wire 5 to measure voltage.

しかしながら上記構造□はリード線が比較的長いため、
このリード長及びプローブのアースリード長のインダク
タンスと、プローブの入力容量の共振によって高周波電
圧は波形歪を生じ、正確な測定ができないという欠点を
有している。
However, the structure □ above has relatively long lead wires, so
The inductance of this lead length, the probe's earth lead length, and the resonance of the input capacitance of the probe cause waveform distortion of the high-frequency voltage, which has the disadvantage that accurate measurements cannot be made.

本考案の目的はこれらの欠点を除去するため、できるだ
けICピンの近くでプローブを接続できて、リード長及
びアースリード長によるインダクタンスの影響を低減で
きるICクリップを提供するにある。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to eliminate these drawbacks, it is an object of the present invention to provide an IC clip that allows a probe to be connected as close to an IC pin as possible and reduces the effects of inductance due to lead length and ground lead length.

第2図は本考案の実施例によるICクリップであってイ
は平面図、口は正面図、ハは側面図である。
FIG. 2 shows an IC clip according to an embodiment of the present invention, in which A is a plan view, the opening is a front view, and C is a side view.

第3図は本考案によるICクリップによってICを挟持
し、プローブを挿入した状態を示すA−A断面図である
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA, showing a state in which an IC is held by the IC clip according to the present invention and a probe is inserted.

1はIC12はICのピン、6はプローブの探針、7は
ICクリップの接触子、8はプローブのアース部、9は
アース用バネ、10は接触子7とアース用バネ9を固定
した挟持体、11は接触端、12はコンデンサ、13は
プローブの挿入孔、14はアース用接触子である。
1 is the pin of the IC 12, 6 is the tip of the probe, 7 is the contact of the IC clip, 8 is the grounding part of the probe, 9 is the spring for grounding, 10 is the clamp that fixes the contact 7 and the spring 9 for grounding. 11 is a contact end, 12 is a capacitor, 13 is a probe insertion hole, and 14 is a ground contact.

この機能は図に示すごとく接触子7とアース用バネ9を
固定した絶縁物よりなるH字形の挟持体10の先端にI
Cのピン配列に対応した間隔で、バネの力によってIC
のピン2を挾み付ける構造とした複数の接触子7を設け
、また前記挟持体10の後端側に前記接触子7と等しい
配列で複数のアース用バネ9とプローブの挿入孔13を
設け、該挿入孔13は探針6の外周に絶縁されたアース
部8を有するプローブを挿入して、該探針6に接する信
号用接続端11を設け、かつ前記アース用バネ9のバネ
の力によってアース部8が押え付けられるようにしてい
る。
As shown in the figure, this function is achieved by attaching an I
The IC is connected by the force of the spring at intervals corresponding to the pin arrangement of C.
A plurality of contacts 7 are provided with a structure to clamp the pins 2, and a plurality of grounding springs 9 and a probe insertion hole 13 are provided on the rear end side of the holding body 10 in the same arrangement as the contacts 7. , the insertion hole 13 is used to insert a probe having an insulated ground portion 8 on the outer periphery of the probe 6, and is provided with a signal connection end 11 in contact with the probe 6, and the spring force of the ground spring 9 is The ground portion 8 is pressed down by the ground portion 8.

さらに前記アース用バネ9はすべてICのアースピンに
対応した接触子14(仮定)と電気的に接続し、また前
記出力端11はそれぞれICの信号ピンに対応した接触
子と電気的に接続されている。
Further, all of the grounding springs 9 are electrically connected to contacts 14 (assumed) corresponding to the ground pins of the IC, and the output ends 11 are electrically connected to contacts corresponding to the signal pins of the IC. There is.

なおこれらの電気的接続法は導線を用いて接続しても、
或いはプローブの入力容量の共振による波形歪を低減す
るため、アース回路と信号回路の何れか又は双方にコン
デンサ12を用いて接続してもよい。
Note that even if these electrical connection methods are made using conductor wires,
Alternatively, in order to reduce waveform distortion due to resonance of the input capacitance of the probe, a capacitor 12 may be used to connect either or both of the ground circuit and the signal circuit.

以上説明したごとく本考案のICクリップはICを確実
に挟持することができ、かつプローブは挿入孔により隣
接するICピンに接触することなく、目的とする信号ピ
ンとアースピンに最短距離で同時に接続保持できる。
As explained above, the IC clip of the present invention can securely hold an IC, and the probe can be connected and held simultaneously to the target signal pin and ground pin at the shortest distance without contacting adjacent IC pins due to the insertion hole. .

したがってリード長によるインダクタンスの影響による
波形歪を低減できて、高周波信号も正確に測定すること
ができる。
Therefore, waveform distortion due to the influence of inductance due to lead length can be reduced, and high frequency signals can also be accurately measured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来例によるICクリップの断面図、第2図は
本考案の実施例によるICクリップであってイは平面図
、口は正面図、ハは側面図、第3図は本考案によるIC
を挟持し、プローブを挿入した状態を示すA−A断面図
である。 1 : IC12: ICのピン、3:ICクリップの
探針、6:プローブの探針、7 : ICクリップの接
触子、8ニブローブのアース部、9:アース用バネ、1
0:挾持体、12:コンデンサ、13:挿入孔。
Fig. 1 is a cross-sectional view of an IC clip according to a conventional example, Fig. 2 is an IC clip according to an embodiment of the present invention, where A is a plan view, the opening is a front view, C is a side view, and Fig. 3 is according to the present invention. IC
FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line A-A showing a state in which the probe is inserted between the two. 1: IC12: IC pin, 3: IC clip probe, 6: Probe probe, 7: IC clip contact, 8 Niprobe grounding part, 9: Grounding spring, 1
0: Clamping body, 12: Capacitor, 13: Insertion hole.

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] (1)被測定IC(集積回路)とオシロスコープ等の測
定器のプローブと嵌合するICクリップにおいて、該I
Cクリップは絶縁物よりなるH字形の挾持体を成形し、
該挾持体の先端には前記ICのピン配列に対応した間隔
で、バネ性によってICのピンを挾み付ける構造とした
複数の接触子を設け、前記挟持体の後端側には前記接触
子と等しい配列で、バネの力によって前記プローブのア
ース部を押え付ける構造とした複数のアース用バネと、
前記プローブを挿入する複数の挿入孔を設け、該挿入孔
には前記プローブの探針に接する接触端と前記アース用
のバネの押え付は部を設け、さらに前記アース用バネは
ICのアースピンに対応した接触子と、また前記接触端
はICの信号ピンに対応した接触子とに、それぞれ電気
的に接続したことを特徴とするICクリップ。
(1) In an IC clip that fits the IC (integrated circuit) under test and the probe of a measuring instrument such as an oscilloscope, the I
The C-clip is made of an H-shaped holding body made of insulating material.
A plurality of contacts are provided at the tip of the clamping body at intervals corresponding to the pin arrangement of the IC and have a structure that clamps the pins of the IC using spring properties, and the contactors are provided at the rear end of the clamping body. a plurality of grounding springs configured to press down the grounding portion of the probe by spring force in an arrangement equal to the above;
A plurality of insertion holes are provided into which the probes are inserted, and the insertion holes are provided with a contact end that contacts the probe of the probe and a holding portion for the grounding spring, and the grounding spring is connected to the grounding pin of the IC. An IC clip characterized in that the contact end is electrically connected to a corresponding contactor, and the contact end is electrically connected to a contactor corresponding to a signal pin of an IC.
(2)前記アース用バネはICのアースピンに対応した
接触子と、また前記接触端はICの信号ピンに対応した
接触子とに、それぞれ導線を用いて接続したことを特徴
とする実用新案登録請求の範囲第1項記載のICクリッ
プ。
(2) Registration of a utility model characterized in that the grounding spring is connected to a contact corresponding to a ground pin of an IC, and the contact end is connected to a contact corresponding to a signal pin of an IC using conductive wires. The IC clip according to claim 1.
(3)前記アース用バネはICアースピンに対応した接
触子と、また前記接触端はICの信号ピンに対応した接
触子とに、その何れか又は双方をコンデンサを用いて接
続したことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項
記載のICクリップ。
(3) The grounding spring is connected to a contact corresponding to an IC ground pin, and the contact end is connected to a contact corresponding to an IC signal pin, either or both of them using a capacitor. An IC clip according to claim 1 of the utility model registration claim.
JP5204878U 1978-04-21 1978-04-21 IC clip Expired JPS5828360Y2 (en)

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JP5204878U JPS5828360Y2 (en) 1978-04-21 1978-04-21 IC clip

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Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54155470U JPS54155470U (en) 1979-10-29
JPS5828360Y2 true JPS5828360Y2 (en) 1983-06-21

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