JPS582618B2 - ナトリウムイオン化検出器 - Google Patents
ナトリウムイオン化検出器Info
- Publication number
- JPS582618B2 JPS582618B2 JP53136743A JP13674378A JPS582618B2 JP S582618 B2 JPS582618 B2 JP S582618B2 JP 53136743 A JP53136743 A JP 53136743A JP 13674378 A JP13674378 A JP 13674378A JP S582618 B2 JPS582618 B2 JP S582618B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sodium
- frequency
- sid
- output
- average frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高速増殖炉のナトリウム配管および機器からの
ナトリウム微少漏洩検出に用いられるナトリウムイオン
化検出器(Sodium Ionization De
tector−以下SIDと略す)に関する。
ナトリウム微少漏洩検出に用いられるナトリウムイオン
化検出器(Sodium Ionization De
tector−以下SIDと略す)に関する。
SIDは、第1図に示すごとく、フィラメント1、イオ
ンコレクタ2、高圧電源3および電流計4とから基本回
路が構成される。
ンコレクタ2、高圧電源3および電流計4とから基本回
路が構成される。
ガス中のナトリウムはフィラメント表面で表面電離と呼
ばれる物理過程によってイオン化され、フィラメント1
−コレクタ2間を流れるイオン電流として検出される。
ばれる物理過程によってイオン化され、フィラメント1
−コレクタ2間を流れるイオン電流として検出される。
この時のイオン電流の大きさIp(A)は次式で表わさ
れる。
れる。
ここで、e;素電荷(クーロン)
1;ナトリウムのイオン化エネルギ
(eV)
ψ;フィラメント金属の仕事関数
(eV)
k;ボルツマン常数
T;フィラメント温度(Ok)
n;フィラメント単位面積に単位時間
当たり衝突してくるナトリウム原
子個数(個・cm−2・S−1)
S;フィラメント表面積(cm2)
以上説明した従来のSIDは、高感度、速応答のナトリ
ウム微少漏洩検出器として国内外で開発がすすめられて
おり、その有用性も確認されつつあるが、同時に、その
検出下限が以下に述べるような様々な要因の影響を受け
て安定に保てないという欠点をもっていることも明らか
になりつつある。
ウム微少漏洩検出器として国内外で開発がすすめられて
おり、その有用性も確認されつつあるが、同時に、その
検出下限が以下に述べるような様々な要因の影響を受け
て安定に保てないという欠点をもっていることも明らか
になりつつある。
SIDの検出下限に影響を与える主な要因を下記に挙げ
る。
る。
(1)電極間の漏洩電流。
これは絶縁材の種類、ガスの温度、湿度により変動する
。
。
(2)フィラメント中に含まれる異種物質による暗電流
。
。
これを小さく抑えるためにはあらかじめフィラメントの
フラッシュ(高温焼出し)等の前処理が必要であるが、
処理工程上生じるフィラメントの個体差はほとんど避け
られない。
フラッシュ(高温焼出し)等の前処理が必要であるが、
処理工程上生じるフィラメントの個体差はほとんど避け
られない。
(3)使用中、ガス中の異種物質のフィラメントへの吸
着、吸収による暗電流の増加。
着、吸収による暗電流の増加。
特に一度、ナトリウムを含んだガス中にフィラメントを
置くと、暗電流は数倍から数十倍に増加する。
置くと、暗電流は数倍から数十倍に増加する。
(4)プラント内のγ線等放射線による暗電流。
これはプラント内のSIDの設置位置、原子炉出力等に
よって検出下限が変動することを意味している。
よって検出下限が変動することを意味している。
以上述べた従来のSIDの欠点は、従来のSIDの検出
下限の経時的な劣化、設置位置による相違、個体差等の
問題と言い換えることができる。
下限の経時的な劣化、設置位置による相違、個体差等の
問題と言い換えることができる。
こうした従来のSIDの欠点を克服するため、第2図に
示すような回路構成による信号処理方式を既に特許出願
した。
示すような回路構成による信号処理方式を既に特許出願
した。
前記(1)〜(4)に示したSIDの漏洩電流あるいは
暗電流はすべて直流成分であるがガス中にナトリウムエ
アロゾルが含まれている場合には、第3図に示すように
、SIDの出力は、定の直流成分に2Hz程度以下の比
較的犬きな振幅のゆらぎ成分が載るようになる。
暗電流はすべて直流成分であるがガス中にナトリウムエ
アロゾルが含まれている場合には、第3図に示すように
、SIDの出力は、定の直流成分に2Hz程度以下の比
較的犬きな振幅のゆらぎ成分が載るようになる。
第2図に示した信号処理は、このことに着目し、SID
のゆらぎ成分のみを抽出するようにしたものである。
のゆらぎ成分のみを抽出するようにしたものである。
第2図において、SIDの電流信号は抵抗5を介して電
圧信号に変換され、カットオフ周波数0.2Hz程度の
ハイパスフィルタ6により直流成分が除去される。
圧信号に変換され、カットオフ周波数0.2Hz程度の
ハイパスフィルタ6により直流成分が除去される。
ローパスフィルタ7は電磁的ノイズ成分を除去するため
に設けられたものである。
に設けられたものである。
このようにして得られたSIDのゆらぎ成分は実効値演
算回路(RMS演算器)8によって、ゆらぎの振幅の時
間的平均値が直流出力として得られる。
算回路(RMS演算器)8によって、ゆらぎの振幅の時
間的平均値が直流出力として得られる。
この振幅値は、ガス中のナトリウム濃度と極めて対応性
が良いことが確認されている。
が良いことが確認されている。
以上のような信号処理方式の場合、検出下限は回路上の
オフセット電圧をどれだけ小さくするかによって定まり
、前記の(1)〜(4)のような要因の影響をうけず、
従来のSIDの欠点は大幅に改善される。
オフセット電圧をどれだけ小さくするかによって定まり
、前記の(1)〜(4)のような要因の影響をうけず、
従来のSIDの欠点は大幅に改善される。
しかしながら、本方法にはゆらぎの周波数が小さく、実
効値演算回路8の積分時定数を大きくする必要があるた
め応答が遅くなるという問題もある。
効値演算回路8の積分時定数を大きくする必要があるた
め応答が遅くなるという問題もある。
本発明の目的は、以上述べたような改良型を含めた従来
のSIDの欠点を解消してなるナトリウムイオン化検出
器を提供することにある。
のSIDの欠点を解消してなるナトリウムイオン化検出
器を提供することにある。
本発明は、SIDのゆらぎを含んだ信号と、SIDの信
号の周波数帯域と重ならない高周波数の参照波を重ね合
わせた上で、この信号の平均周波数を演算し、SIDの
ゆらぎの平均振幅値を平均周波数に置きかえるものであ
る。
号の周波数帯域と重ならない高周波数の参照波を重ね合
わせた上で、この信号の平均周波数を演算し、SIDの
ゆらぎの平均振幅値を平均周波数に置きかえるものであ
る。
以下、本発明を実施例によって説明する。
第4図は、本発明の一実施例を示したものである。
SIDの信号は第2図に示した例のようにフィルタ6,
7を介さずに、正弦波発生回路9よりの比較的高い周波
数の正弦波(参照波)と重ね合わされ、平均周波数演算
回路10によって平均周波数に相当する直流出力を得る
ようにしたものである。
7を介さずに、正弦波発生回路9よりの比較的高い周波
数の正弦波(参照波)と重ね合わされ、平均周波数演算
回路10によって平均周波数に相当する直流出力を得る
ようにしたものである。
平均周波数演算回路10は、実効値演算回路80,81
、微分器11、割算器12より成る。
、微分器11、割算器12より成る。
先ず、一般的な事例で説明する。
平均周波数演算回路10への入力信号V(t)が下記の
ようなフーリ工成分に分解されるものとする。
ようなフーリ工成分に分解されるものとする。
■(t)=ΣASin2πfjt ・・・・・・・・・
{2)この時の平均周波数演算回路10では以下のよう
な演算処理を行うことになる。
{2)この時の平均周波数演算回路10では以下のよう
な演算処理を行うことになる。
ここで、fj;第J成分の周波数
Aj;周波数fj成分の振幅
f;平均周波数
(3)式に於いて、分子系は実効値演算回路80によっ
て得られる値、分母系は微分器11、実効値演算回路8
1によって得られる値である。
て得られる値、分母系は微分器11、実効値演算回路8
1によって得られる値である。
そして、これらの2つの値から割算器12に入力するこ
とによって(3)式の演算を実行することになる。
とによって(3)式の演算を実行することになる。
(3)式によれば記号RMSを付したものは時間平均を
意味し、実効値演算回路80.81の積分時定数から決
まるものであるが、平均周波数演算回路10の入力は高
周波成分が含まれているため、第2図に示した例のよう
に積分時定数を大きくとる必要がなく、応答の速さは失
なわれない。
意味し、実効値演算回路80.81の積分時定数から決
まるものであるが、平均周波数演算回路10の入力は高
周波成分が含まれているため、第2図に示した例のよう
に積分時定数を大きくとる必要がなく、応答の速さは失
なわれない。
ここで、第3図の構成に即した実際の動作を説明しよう
。
。
入力V(t)はSID出力と正弦波発生回路9の出力と
の重ね合わせたものとなる。
の重ね合わせたものとなる。
SIDの出力のゆらぎの平均周波数をf1、ゆらぎの振
幅を■1とすれば、ガス中のナトリウム濃度CNaに対
し、■1は概略以下のように表わされる。
幅を■1とすれば、ガス中のナトリウム濃度CNaに対
し、■1は概略以下のように表わされる。
V,≒αCHa ・・・・・・・・・
(4)αは定数である。
(4)αは定数である。
また、正弦波発生回路9の周波数をf2、振幅をV2と
すれば、重ね合わされた信号の平均周波数f。
すれば、重ね合わされた信号の平均周波数f。
は、(3)式に代入することによって次式のように表わ
される。
される。
この時の各部波形の一例を第5図に示す。
イ図はSID出力、口図は参照波、ハ図は重ね合わせた
結果を示す。
結果を示す。
(5)式によれば、ガス中ナトリウム濃度CNaが高い
場合には、foは、f1に近くなりガス中のナトリウム
濃度が小さい場合にはf。
場合には、foは、f1に近くなりガス中のナトリウム
濃度が小さい場合にはf。
はf2に近くなる。
参照波をSIDの信号に重ねることは、既に述べたよう
に検出器の応答の速さを確保するとともに、参照波を入
れない場合には確保できない検出器出力とナトリウム濃
度との対応性を保持する意味がある。
に検出器の応答の速さを確保するとともに、参照波を入
れない場合には確保できない検出器出力とナトリウム濃
度との対応性を保持する意味がある。
また、本実施例の信号処理では、第2図に示したフィル
タ6,7が不要であるため、出力のオフセットもより小
さくすることができ、検出能力が向トする。
タ6,7が不要であるため、出力のオフセットもより小
さくすることができ、検出能力が向トする。
次に、正弦波である参照波の性格、特にその振幅V2、
周波数f2と検出精度との関係を述べよう。
周波数f2と検出精度との関係を述べよう。
(5)式を次のように変形する。
ここでkは、ナトリウムエアロゾルによる信号電圧■1
と、参照波の信号電圧■2との比を表わす。
と、参照波の信号電圧■2との比を表わす。
■1≒αCN21であるから、kはナトリウム濃度が高
いほど、あるいは、参照波の振幅v2が小であるほど、
犬となる。
いほど、あるいは、参照波の振幅v2が小であるほど、
犬となる。
ナトリウムエアロゾルによる信号の周波数範囲は、0〜
2Hzであるが、仮りに、f1を0.5Hzで代表させ
、f2の様々な値に対して、kをパラメータとしてf。
2Hzであるが、仮りに、f1を0.5Hzで代表させ
、f2の様々な値に対して、kをパラメータとしてf。
を計算すると、第6図の様になる。
例えば、参照波の周波数f2がIHzの場合には、kの
変化に対するf。
変化に対するf。
の変化は小さく、ナトリウム濃度との対応が余りよくな
いことを示している。
いことを示している。
一方、10Hz以上では、kが1〜10の範囲で、fo
の傾きはほとんど等しくナトリウム濃度との対応は大差
ないことがわかる。
の傾きはほとんど等しくナトリウム濃度との対応は大差
ないことがわかる。
また、f2=1Hz以上では、kが0.3程度以下では
、foにほとんと変化なく、kは少くとも0.3以上す
なわち、参照波の振幅■2は、ナトリウムエアロゾルに
よる振幅の少くとも1/3程度以上ないと、foに変化
が現イつれないことを意味している。
、foにほとんと変化なく、kは少くとも0.3以上す
なわち、参照波の振幅■2は、ナトリウムエアロゾルに
よる振幅の少くとも1/3程度以上ないと、foに変化
が現イつれないことを意味している。
■1は、増巾器を用いて適当に変えられるため、V2と
して特定の値を指定することは意味がない。
して特定の値を指定することは意味がない。
周波数範囲は10Hz程度以上で可である。
第7図は本発明の変形例を示したもので、第4図におけ
る平均周波数演算回路10として、f−■変換器13を
用いるものである。
る平均周波数演算回路10として、f−■変換器13を
用いるものである。
この場合の出力は厳密な意味での平均周波数ではないが
、ガス中のナトリウムの多少に応じて参照波の周波数に
応じた出力電圧からのずれが生じるため、第4図の実施
例と同様の効果が期待できる。
、ガス中のナトリウムの多少に応じて参照波の周波数に
応じた出力電圧からのずれが生じるため、第4図の実施
例と同様の効果が期待できる。
以上説明したごとき、本発明によれは、SIDの検出下
限の経時的、設置立置による変動、個体差等がなく、か
つ速応答のナトリウムイオン化検出器が得られる。
限の経時的、設置立置による変動、個体差等がなく、か
つ速応答のナトリウムイオン化検出器が得られる。
第1図、第2図は従来例図、第3図はその説明図、第4
図は本発明の実施例図、第5図は各部波形図、第6図は
その説明図、第7図は本発明の他の実施例図である。 9・・・・・正弦波発生回路、10・・・・・・平均周
波数演算回路、11・・・・・・微分器、12・・・・
・・割算器、80,81・・・・・・実効値演算回路。
図は本発明の実施例図、第5図は各部波形図、第6図は
その説明図、第7図は本発明の他の実施例図である。 9・・・・・正弦波発生回路、10・・・・・・平均周
波数演算回路、11・・・・・・微分器、12・・・・
・・割算器、80,81・・・・・・実効値演算回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ナトリウムを表面電離にてイオン化するナトリウム
イオン化用電極と、前記ナトリウムイオン化用電極に対
向して配置されてナトリウムイオンを捕集するコレクタ
と、前記コレクタに捕集されたナトリウムイオンの電流
に含まれるゆらぎ成分の周波数帯域よりも高い周波数の
参照波と前記電流とを重ね合せる手段と、前記重ね合せ
手段の出力信号を入力して前記ゆらぎ成分の平均周波数
を抽出する手段とからなるナトリウムイオン化検出器。 2 前記平均周波数抽出手段は、実効値演算回路よりな
る第1系統と、微分器と実効値演算回路との直列回路よ
りなる第2系統と、前記第1および第2系統の一方の出
力を他方の出力にて割算する割算器とからなる特許請求
の範囲第1項記載のナトリウムイオン化検出器。 3 前記平均周波数抽出手段は、周波数−電圧変換器で
ある特許請求の範囲第1項記載のナトリウムイオン化検
出器。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53136743A JPS582618B2 (ja) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | ナトリウムイオン化検出器 |
FR7925238A FR2438840A1 (fr) | 1978-10-11 | 1979-10-10 | Detecteur d'ionisation du sodium |
DE19792941142 DE2941142A1 (de) | 1978-10-11 | 1979-10-10 | Natrium-ionisationsdetektor |
US06/083,658 US4366438A (en) | 1978-10-11 | 1979-10-11 | Sodium ionization detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53136743A JPS582618B2 (ja) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | ナトリウムイオン化検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5563754A JPS5563754A (en) | 1980-05-14 |
JPS582618B2 true JPS582618B2 (ja) | 1983-01-18 |
Family
ID=15182458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53136743A Expired JPS582618B2 (ja) | 1978-10-11 | 1978-11-08 | ナトリウムイオン化検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS582618B2 (ja) |
-
1978
- 1978-11-08 JP JP53136743A patent/JPS582618B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5563754A (en) | 1980-05-14 |
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