JPS58223145A - Ｘ線診断装置用カセツテ - Google Patents
Ｘ線診断装置用カセツテInfo
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- JPS58223145A JPS58223145A JP57106193A JP10619382A JPS58223145A JP S58223145 A JPS58223145 A JP S58223145A JP 57106193 A JP57106193 A JP 57106193A JP 10619382 A JP10619382 A JP 10619382A JP S58223145 A JPS58223145 A JP S58223145A
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 16
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 11
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- 239000004918 carbon fiber reinforced polymer Substances 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- -1 800μ71mm Chemical compound 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
- G03B42/04—Holders for X-ray films
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、Ｘｌ１ｌｊ！診断装置に使用されるカセツ
テに関するものである。
テに関するものである。
従来、被検体を透過したｘｆｉｌをフィルムに投影させ
るＸ線診断装置罠は、必要とするＸ線量を自動的に制御
する露出制御装置が設けられている。
るＸ線診断装置罠は、必要とするＸ線量を自動的に制御
する露出制御装置が設けられている。
このＸ線自動露出制御装置は、通常、被検体とフィルム
との間に設置されたＸ線検用手段により被検体を透過し
たＸ線を検出してＸＭ発生装置を制御し、フィルム上に
最適な像を得ようとするものである。この場合、Ｘ線の
検出にはフォトマルチプライヤ（光電子増倍管）あるい
は１１１Ｍ箱が用いられる。
との間に設置されたＸ線検用手段により被検体を透過し
たＸ線を検出してＸＭ発生装置を制御し、フィルム上に
最適な像を得ようとするものである。この場合、Ｘ線の
検出にはフォトマルチプライヤ（光電子増倍管）あるい
は１１１Ｍ箱が用いられる。
しかしながら、被検体とフィルムとの間にＸＮ検出手段
を配置すると、被検体フィルムとの距離が長くなること
により、Ｘａ拡大率が大きくなって鮮鋭度の高いＸ線写
真を得ることができない。
を配置すると、被検体フィルムとの距離が長くなること
により、Ｘａ拡大率が大きくなって鮮鋭度の高いＸ線写
真を得ることができない。
また５Ｘｆｉ！検出手段たとえばフォトマルチプライヤ
を、被検体に対するフィルムの後方に配置するｘＩｍ自
動露出制御装置もあり、この場合は、被検体とフィルム
との距離をかなりの程度にまで小さくすることができる
が、７オトマルチプライヤは複数の採光視野を有してい
す、マルチ採光型のＸ線検出をすることができない。
を、被検体に対するフィルムの後方に配置するｘＩｍ自
動露出制御装置もあり、この場合は、被検体とフィルム
との距離をかなりの程度にまで小さくすることができる
が、７オトマルチプライヤは複数の採光視野を有してい
す、マルチ採光型のＸ線検出をすることができない。
一方ｓＸｍ診断装置は、フィルムを収納したカセツテを
装着している。そのカセツテは、種々のＸｉ装置に互換
性をもって装着可能となるように、ｔ、−とえばＪＩＳ
−Ｚ４９０５（１９７６）Ｋより規格化されている。す
なわち、被検体とフィルムとの距離に関係あるカセット
の寸法として、カセットの厚みは１５ｍ＜制限されてい
る。しかも、カセツテ内では、２枚のＸ線増感紙の間に
フィルムを挾み、これらの密着性を高め鮮鋭なＸｇ像を
得るためにクッション材が充填されている。、したがっ
て、カセツテ内には、もはや、フィルム以外のＸ線検出
手段を介在させる余地がない。その結果、フィルムを収
納したカセツテを使用する限り、被検体とカセツテとの
距離を小さくしてＸ線拡大率を小さくすると同時にマル
チ採光型のＸＩＮ検出をすることができなかった。
装着している。そのカセツテは、種々のＸｉ装置に互換
性をもって装着可能となるように、ｔ、−とえばＪＩＳ
−Ｚ４９０５（１９７６）Ｋより規格化されている。す
なわち、被検体とフィルムとの距離に関係あるカセット
の寸法として、カセットの厚みは１５ｍ＜制限されてい
る。しかも、カセツテ内では、２枚のＸ線増感紙の間に
フィルムを挾み、これらの密着性を高め鮮鋭なＸｇ像を
得るためにクッション材が充填されている。、したがっ
て、カセツテ内には、もはや、フィルム以外のＸ線検出
手段を介在させる余地がない。その結果、フィルムを収
納したカセツテを使用する限り、被検体とカセツテとの
距離を小さくしてＸ線拡大率を小さくすると同時にマル
チ採光型のＸＩＮ検出をすることができなかった。
この発明は前記事情に鑑みてなされたものであり、Ｘ線
拡大率を低減することができると共にマルチ採光型のＸ
線検出をすることができる、Ｘ線自動露出制御型のＸ線
診断装置用のカセツテを提供することを目的とするもの
である。
拡大率を低減することができると共にマルチ採光型のＸ
線検出をすることができる、Ｘ線自動露出制御型のＸ線
診断装置用のカセツテを提供することを目的とするもの
である。
前記目的を達成するためのこの発明の概要は、被検体に
曝射したＸ線の線量を検出することにより、必要なＸＭ
ｔを自動的に制御するＸＭ自自動出出制御装置有するＸ
線診断装置に装着されるＸ線診断装置用カセツテにおい
【、被検体１１１ＫＸ＃の線量を検出する半導体検出器
を、半導体検出器の下方に被検体のｘＨ像を蓄積するイ
メージングプレートを、それぞれカセツテ筺体内に配置
したことを特徴とするものである。
曝射したＸ線の線量を検出することにより、必要なＸＭ
ｔを自動的に制御するＸＭ自自動出出制御装置有するＸ
線診断装置に装着されるＸ線診断装置用カセツテにおい
【、被検体１１１ＫＸ＃の線量を検出する半導体検出器
を、半導体検出器の下方に被検体のｘＨ像を蓄積するイ
メージングプレートを、それぞれカセツテ筺体内に配置
したことを特徴とするものである。
この発明の一実施例について図面を参照しながら説明を
する。
する。
第１図および第２図に示すように、この発明の一実施例
であるＸ線診断装置用カセツテは、カセツテ筺体４内に
、Ｘ線の進行方向（矢印Ｘで示す方向）４Ｃａって、被
検体に近いはうから半導体Ｘ線検出器４０とイメージン
グプレート３６とクッション材１１とをこの順に重ねて
収納すると共に、半導体Ｘ＃検出器４０よりの出力を増
幅する増幅器５０と増幅器５０で増幅された検出信号を
カセツテ筐体４の外部にある自動露出制御装置に出力す
るためのコネクタ５２とを具備して構成されている。
であるＸ線診断装置用カセツテは、カセツテ筺体４内に
、Ｘ線の進行方向（矢印Ｘで示す方向）４Ｃａって、被
検体に近いはうから半導体Ｘ線検出器４０とイメージン
グプレート３６とクッション材１１とをこの順に重ねて
収納すると共に、半導体Ｘ＃検出器４０よりの出力を増
幅する増幅器５０と増幅器５０で増幅された検出信号を
カセツテ筐体４の外部にある自動露出制御装置に出力す
るためのコネクタ５２とを具備して構成されている。
カセツテ献体４は、被検体側に位置するたとえば１〜１
．２−厚の前面板５たとえばＡ！板、ＣＦＲｐ板と、前
面板５とほぼ同等の厚みを有する裏板７とを有し、 Ｊ
ＩＳ−Ｚ４９０５の規格に従って全体の厚みが１５Ｍと
なるように形成された箱状体であり、その内部には、表
板７上に５．６〜６１厚程度のクッション材１１が配置
されている。
．２−厚の前面板５たとえばＡ！板、ＣＦＲｐ板と、前
面板５とほぼ同等の厚みを有する裏板７とを有し、 Ｊ
ＩＳ−Ｚ４９０５の規格に従って全体の厚みが１５Ｍと
なるように形成された箱状体であり、その内部には、表
板７上に５．６〜６１厚程度のクッション材１１が配置
されている。
カセツテ筺体４内のクッション材１１上に配置されるイ
メージングプレート６６は、Ｘ線の線量に応じた電荷量
をその表面に蓄積し、電荷量を蓄積したその表面に熱あ
るいは元エネルギによる輝尽用の読み出し照射を行なう
と電荷量に応じた電気信号を出力することのできる厚さ
約１ｍｌの蓄積性蛍光体であり、たとえば、この出願人
による特許出願昭和５７年第６４６８５号の明細書に記
載されているように、バイアス電源で逆バイアスされた
基板たとえばステンレス基板上に、Ｘ＃！照射量に比例
した電荷量で電子を禁制帯中のエネルギ局在準位にトラ
ップする二次元物質層たとえばアモルファスシリコン層
と前記二次元物質層内にトンツブされた電荷の分布に対
応する電気信号を取り出すためのたとえばＩｎｚＯＢ
Ｓｎ ０２等の透明導電物質層とをこの順序に積層し
てなる積層板を好適に使用することができる。ただしこ
の場合、基板と積層板との間に絶縁をしておくことはい
うまでもない、また、イメージングプレート３６として
、特開昭５６−１１３４６号、特開昭５６−１２５９９
号、特開昭５５−１５０２５号等の公開公報に記載され
た蓄積性蛍光体も使用す−ることかできる。
メージングプレート６６は、Ｘ線の線量に応じた電荷量
をその表面に蓄積し、電荷量を蓄積したその表面に熱あ
るいは元エネルギによる輝尽用の読み出し照射を行なう
と電荷量に応じた電気信号を出力することのできる厚さ
約１ｍｌの蓄積性蛍光体であり、たとえば、この出願人
による特許出願昭和５７年第６４６８５号の明細書に記
載されているように、バイアス電源で逆バイアスされた
基板たとえばステンレス基板上に、Ｘ＃！照射量に比例
した電荷量で電子を禁制帯中のエネルギ局在準位にトラ
ップする二次元物質層たとえばアモルファスシリコン層
と前記二次元物質層内にトンツブされた電荷の分布に対
応する電気信号を取り出すためのたとえばＩｎｚＯＢ
Ｓｎ ０２等の透明導電物質層とをこの順序に積層し
てなる積層板を好適に使用することができる。ただしこ
の場合、基板と積層板との間に絶縁をしておくことはい
うまでもない、また、イメージングプレート３６として
、特開昭５６−１１３４６号、特開昭５６−１２５９９
号、特開昭５５−１５０２５号等の公開公報に記載され
た蓄積性蛍光体も使用す−ることかできる。
半導体検出器４０は、カセツテ筐体４内でイメージング
プレート３６上に配置され、曝射されたＸｉの線量を検
出するものであり、たとえば、次のように構成されてい
る。すなわち、半導体検出素子２４は略リング状をなす
マウント台３２にマウントされ、その後表面・裏面に電
極（図示せず）が被着されている。こうしてマウント台
６２に一体的にマウントされたＸ、ｌｉｌ検出素子２４
を固定板２２に設けた穴に嵌合して固定し、電極引出し
線２３−１．２３−２を配設している。ここで、マウン
ト台３２および固定板２２には例えばアクリル樹脂など
Ｘ線減弱の小さい材料を用いる。また、ＸＩＲ検出素子
２４はその厚みを、Ｘ線減弱に関するアルミニウム換算
（すなわちＸ１１！ｉ！アルミニウム当量）で１００〜
８００μ７１菰とし、電極引出しｌ／Ｍ２３−１．２３
−２は厚さ８０μｍ以下のアルミニウム膜で形成する。
プレート３６上に配置され、曝射されたＸｉの線量を検
出するものであり、たとえば、次のように構成されてい
る。すなわち、半導体検出素子２４は略リング状をなす
マウント台３２にマウントされ、その後表面・裏面に電
極（図示せず）が被着されている。こうしてマウント台
６２に一体的にマウントされたＸ、ｌｉｌ検出素子２４
を固定板２２に設けた穴に嵌合して固定し、電極引出し
線２３−１．２３−２を配設している。ここで、マウン
ト台３２および固定板２２には例えばアクリル樹脂など
Ｘ線減弱の小さい材料を用いる。また、ＸＩＲ検出素子
２４はその厚みを、Ｘ線減弱に関するアルミニウム換算
（すなわちＸ１１！ｉ！アルミニウム当量）で１００〜
８００μ７１菰とし、電極引出しｌ／Ｍ２３−１．２３
−２は厚さ８０μｍ以下のアルミニウム膜で形成する。
そして、これらの両面はそれぞれ絶縁用の薄膜６１を介
して電磁シールド用のアルミ箔６０で覆われている。以
上構成の半導体検出器４０は、５ｍ厚程度に形成するこ
とができる。
して電磁シールド用のアルミ箔６０で覆われている。以
上構成の半導体検出器４０は、５ｍ厚程度に形成するこ
とができる。
増幅器５０は、第２図に示すように、カセツテ筐体４内
の適宜の位置たとえばカセツテ筺体４内の辺部に配置さ
れており、電極引き出し線２６−１゜２６−２を介して
半導体検出器４０より出力されるＸ線検出信号を入力し
てこれを増幅する。
の適宜の位置たとえばカセツテ筺体４内の辺部に配置さ
れており、電極引き出し線２６−１゜２６−２を介して
半導体検出器４０より出力されるＸ線検出信号を入力し
てこれを増幅する。
雌型コネクタ５２は、増幅器５０よりの出力信号なカセ
ツテ筺体４外の自動露出制御装置に出力するものであり
、カセツテ筐体の側板６の適宜位置に配置されている。
ツテ筺体４外の自動露出制御装置に出力するものであり
、カセツテ筐体の側板６の適宜位置に配置されている。
なお、雌型コネクタ５２と、雄型コネクタ５６とを結合
することにより、褐６図に示すように、半導体検出器４
０よりの検出信号が自動露出制御装置に出力され、Ｘ線
の線量が制御される。すなわち、増幅器５０および雌型
、雄型の両コネクタ５２．５６を介して半導体検出器４
０よりの検出信号は制御信号発生装置２６へ入力される
。この制御信号発生装置２６は、被検体２のＸ線像が最
適の露出状態になった時点を入力信号から判断し、Ｘ線
制御器２７へＸ線しゃ断信号を送る。Ｘ線制御器２７は
この信号によって高電圧発生装置２８を制御してＸ線管
装置２０によるＸ線の曝射を停止させる。
することにより、褐６図に示すように、半導体検出器４
０よりの検出信号が自動露出制御装置に出力され、Ｘ線
の線量が制御される。すなわち、増幅器５０および雌型
、雄型の両コネクタ５２．５６を介して半導体検出器４
０よりの検出信号は制御信号発生装置２６へ入力される
。この制御信号発生装置２６は、被検体２のＸ線像が最
適の露出状態になった時点を入力信号から判断し、Ｘ線
制御器２７へＸ線しゃ断信号を送る。Ｘ線制御器２７は
この信号によって高電圧発生装置２８を制御してＸ線管
装置２０によるＸ線の曝射を停止させる。
以上のように構成したＸ線診断装置カセツテにおいては
、カセツテ筺体４の前面板５および裏板７それぞれに１
−厚のＣＦＲＰを用いると、２闘厚のＣＦＲＰは、約０
．２ ｍｌ ’ＡＩ当量であり、半導体検出器４０は０
．５ ａｍ Ａｌ当量以下であるから、全体として合計
Ｑ、 ７１ｍ Ａｌ当量以下となり、ＪＩＳ規格に適合
するＡ！当量である。
、カセツテ筺体４の前面板５および裏板７それぞれに１
−厚のＣＦＲＰを用いると、２闘厚のＣＦＲＰは、約０
．２ ｍｌ ’ＡＩ当量であり、半導体検出器４０は０
．５ ａｍ Ａｌ当量以下であるから、全体として合計
Ｑ、 ７１ｍ Ａｌ当量以下となり、ＪＩＳ規格に適合
するＡ！当量である。
また、半導体検出器部分（検出素子２４．固定板２２．
引出し線２５−１．２３−２ 、マウント台６２）につ
いて注目するとＸＩＩＪ減弱量は極めて微少なものであ
る。更に、マウント台６２の外周部子なわち固定板２２
との嵌合部および内周部には第１図から明らかなように
テーパーをつけている。このようにすることにより、マ
ウント台６２と固定板２２およびマウント台３２と検出
素子２４の各境界部分でのＸ線賦弱量の急激な変化が抑
えられる。
引出し線２５−１．２３−２ 、マウント台６２）につ
いて注目するとＸＩＩＪ減弱量は極めて微少なものであ
る。更に、マウント台６２の外周部子なわち固定板２２
との嵌合部および内周部には第１図から明らかなように
テーパーをつけている。このようにすることにより、マ
ウント台６２と固定板２２およびマウント台３２と検出
素子２４の各境界部分でのＸ線賦弱量の急激な変化が抑
えられる。
以上のように構造的な配慮を払った半導体Ｘ＃ｉ！検出
器４０を用いているので、イメージンググレート６６に
はこの検出器４０の隘影は生じない。
器４０を用いているので、イメージンググレート６６に
はこの検出器４０の隘影は生じない。
さらに、カセツテ筺体４内に半導体検出器４０を組み込
んでいるので、被検体とＸ＠診断装置用カセツテとの間
の距離を著しく小さくすることができ、したがって、Ｘ
１ｌａ拡大率の低減を図ることができる。
んでいるので、被検体とＸ＠診断装置用カセツテとの間
の距離を著しく小さくすることができ、したがって、Ｘ
１ｌａ拡大率の低減を図ることができる。
その他、半導体検出部分をマウント台６２に複数個配置
した場合、マルチ採光型のＸ１ｌｊｌ量検出器を構成す
ることができる。
した場合、マルチ採光型のＸ１ｌｊｌ量検出器を構成す
ることができる。
さらに、イメージンググレート６６はカセツテ筐体４と
の密着性がさはと厳密に袂求されていないので、クッシ
ョン材１１を薄くすることもできる。
の密着性がさはと厳密に袂求されていないので、クッシ
ョン材１１を薄くすることもできる。
以上構成のＸＩｖｉ！診断装置用カセツテは、たとえば
第４図に示すようなチェストスタンド５５に装備し【使
用することができ、また、患者のペットサイドでＸ線撮
影をするための回診型のＸ線診断装置、通常はＩ−１透
視が主で最後にカセツテ撮影をする外科用Ｃアーム装置
等のＸ線診断装置、手術室に固定されたＸ線診断装置等
の、自動露出制御装置を備えた各種Ｘ線診断装置に使用
することができる。なお、第４図において、矢印Ａはカ
セツテの挿入方向を示し、また、矢印ＸはＸ線曝射方向
を示す。
第４図に示すようなチェストスタンド５５に装備し【使
用することができ、また、患者のペットサイドでＸ線撮
影をするための回診型のＸ線診断装置、通常はＩ−１透
視が主で最後にカセツテ撮影をする外科用Ｃアーム装置
等のＸ線診断装置、手術室に固定されたＸ線診断装置等
の、自動露出制御装置を備えた各種Ｘ線診断装置に使用
することができる。なお、第４図において、矢印Ａはカ
セツテの挿入方向を示し、また、矢印ＸはＸ線曝射方向
を示す。
以上、この発明の一実施例について詳述したが、この発
明は前記実施例に限定されるものではなく、この発明の
要旨の範囲内で適宜に変形して実施することができる。
明は前記実施例に限定されるものではなく、この発明の
要旨の範囲内で適宜に変形して実施することができる。
たとえば、半導体検出器４０を補強するために、半導体
検出器４０とイメージングプレート３３との間に１闘厚
以内のＣＦＲＰ板を介装してもよい。
検出器４０とイメージングプレート３３との間に１闘厚
以内のＣＦＲＰ板を介装してもよい。
また、この発明に係るＸ線診断装置用カセツテにおいて
は、クッション材１１はさほど重要ではないので、クッ
ション材１１の厚みを小さくすることにより、第５図に
示すように、カセツテ筺体５の前面板５と半導体検出器
４０との間に、中間物質としてたとえば木材を用いた１
、５〜２６５Ｍ厚程度のＸ線用グリッド６０を介装して
もよい。Ｘ線診断装置用カセツテ内にＸ線用グリッド６
０を内蔵すると、さらにＸ＠拡大率の低減を図ることが
できる。
は、クッション材１１はさほど重要ではないので、クッ
ション材１１の厚みを小さくすることにより、第５図に
示すように、カセツテ筺体５の前面板５と半導体検出器
４０との間に、中間物質としてたとえば木材を用いた１
、５〜２６５Ｍ厚程度のＸ線用グリッド６０を介装して
もよい。Ｘ線診断装置用カセツテ内にＸ線用グリッド６
０を内蔵すると、さらにＸ＠拡大率の低減を図ることが
できる。
この発明によると、カセツテ筺体全体の厚みが１５關以
下とい５ ＪＩＳ規格に従いながら、Ｘ線検出手段であ
る半導体検出器を内蔵しているので、被検体とカセツテ
との距離を小さくすることができ、Ｘ線拡大率の低減を
図ることができ、したがって鮮鋭度の高いＸ線像を得る
ことができる。また、半導体検出器は不要の陰影を生じ
させることがないので、イメージングプレートに鮮明な
Ｘｇ像を撮像することができる。さらに１半導体検出器
をイメージングプレート上の適宜箇所に複数個配置する
とマルチ採光型のＸ＃検出をすることもできる。
下とい５ ＪＩＳ規格に従いながら、Ｘ線検出手段であ
る半導体検出器を内蔵しているので、被検体とカセツテ
との距離を小さくすることができ、Ｘ線拡大率の低減を
図ることができ、したがって鮮鋭度の高いＸ線像を得る
ことができる。また、半導体検出器は不要の陰影を生じ
させることがないので、イメージングプレートに鮮明な
Ｘｇ像を撮像することができる。さらに１半導体検出器
をイメージングプレート上の適宜箇所に複数個配置する
とマルチ採光型のＸ＃検出をすることもできる。
この発明によると、イメージングプレート用として好適
なカセツテを提供することができる。
なカセツテを提供することができる。
第１図および第２図はこの発明の一実施例を示す一部断
面図、第６図はＸ線の自動露出制御システムを示すブロ
ック図、比４図はこの発明の一実施例であるＸｆｉ！診
断装置用カセツテを装填するチェストスタンドを示す斜
視図、並びに、第５図はこの発明の他の実施例を示す一
部断面図である。 ２・・・被検体、 ４・・・カセツテ筐体、 ２２・・
・固定板、 ２６品電極引出し線、 ２４・・・検出素
子。 ６２・・・マウント台、 ３６・・・イメージンググ
レート、 ４０・・・半導体検出器。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか１名）３３
面図、第６図はＸ線の自動露出制御システムを示すブロ
ック図、比４図はこの発明の一実施例であるＸｆｉ！診
断装置用カセツテを装填するチェストスタンドを示す斜
視図、並びに、第５図はこの発明の他の実施例を示す一
部断面図である。 ２・・・被検体、 ４・・・カセツテ筐体、 ２２・・
・固定板、 ２６品電極引出し線、 ２４・・・検出素
子。 ６２・・・マウント台、 ３６・・・イメージンググ
レート、 ４０・・・半導体検出器。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか１名）３３
Claims (2)
- （１） 被検体に曝射したＸ線の線量な検出すること
により、必要なｘｉｉｉを自動的に制御するＸｌ１Ｉ自
動露出制御叶装置を有するＸｆｉ！診断装置に装着され
るＸ線診断装置用カセツテにおいて、被検体側にＸ線の
線量な検出する半導体検出器を、半導体検出器の下方に
被検体のＸｐ像を蓄積するイメージングプレートを、そ
れぞれカセツテ筺体内に配置したことを特徴とするＸ線
診断装置用カセツテ。 - （２）前記半導体Ｘｌｊ検出器が、Ｘ線減弱量に関する
アルミニウム換算で８００μｍ以下の厚みを有する半導
体Ｘ、ｌｉｌ検出素子を、外周および内周ｍＫテーパを
つけたマウント台に一体的にマウントして固定板に設け
られた孔に嵌合固定し、前記検出素子から厚さ８０μｍ
以下のアルミニウム膜よりなる電極引き出し線を配設し
て構成される、ことを特徴とする特許請求の範囲第１項
に記載のＸ線診断装置用カセツテ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57106193A JPS58223145A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | Ｘ線診断装置用カセツテ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57106193A JPS58223145A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | Ｘ線診断装置用カセツテ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58223145A true JPS58223145A (ja) | 1983-12-24 |
Family
ID=14427343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57106193A Pending JPS58223145A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | Ｘ線診断装置用カセツテ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58223145A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63106638A (ja) * | 1986-10-23 | 1988-05-11 | Konica Corp | フイルムのデ−タ焼込装置 |
| EP1525846A1 (en) * | 2003-10-24 | 2005-04-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | X-ray imaging device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5256782U (ja) * | 1975-10-21 | 1977-04-23 | ||
| JPS534776U (ja) * | 1976-06-30 | 1978-01-17 |
-
1982
- 1982-06-22 JP JP57106193A patent/JPS58223145A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5256782U (ja) * | 1975-10-21 | 1977-04-23 | ||
| JPS534776U (ja) * | 1976-06-30 | 1978-01-17 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63106638A (ja) * | 1986-10-23 | 1988-05-11 | Konica Corp | フイルムのデ−タ焼込装置 |
| EP1525846A1 (en) * | 2003-10-24 | 2005-04-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | X-ray imaging device |
| US7254214B2 (en) | 2003-10-24 | 2007-08-07 | Fujifilm Corporation | X-ray imaging device |
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