JPS5820914Y2 - gauge stamp - Google Patents

gauge stamp

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Publication number
JPS5820914Y2
JPS5820914Y2 JP1473079U JP1473079U JPS5820914Y2 JP S5820914 Y2 JPS5820914 Y2 JP S5820914Y2 JP 1473079 U JP1473079 U JP 1473079U JP 1473079 U JP1473079 U JP 1473079U JP S5820914 Y2 JPS5820914 Y2 JP S5820914Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test piece
lid
block
gauge
stand
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1473079U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS55116253U (en
Inventor
佳次 浜野
孝博 服部
Original Assignee
三菱重工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 三菱重工業株式会社 filed Critical 三菱重工業株式会社
Priority to JP1473079U priority Critical patent/JPS5820914Y2/en
Publication of JPS55116253U publication Critical patent/JPS55116253U/ja
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は引張り試験片等の標点打刻器に係る。[Detailed explanation of the idea] The present invention relates to a gauge marking device for tensile test pieces, etc.

金属材料の引張り試験などに用いられる試験片には、伸
び測定の基準となる標点が設けられる。
Test pieces used for tensile tests of metal materials are provided with gauge points that serve as standards for measuring elongation.

試験片平行部内の標点打刻は従来標点をマーキングし、
同マーキングに従ってポンチにより打刻痕をつけていた
The gauge marks in the parallel part of the specimen are marked using conventional gauge marks.
In accordance with the same markings, marks were made with a punch.

その場合、ポンチを手で支えて1点1点ハンマーで打撃
するため、標点間長さの出来上り精度が不良で試験片円
周方向のズレも生じ、又ポンチがすべり易いので試験片
に不用な傷が生じ、高価な試験片を廃却していた。
In this case, since the punch is supported by hand and each point is struck with a hammer, the accuracy of the length between the gauges is poor and deviations in the circumferential direction of the test piece occur, and the punch easily slips, so it is not used for the test piece. This resulted in expensive test pieces being discarded.

本考案は標点打刻において標点間長さの精度向上と試験
片円周方向のズレを無くシ、作業性の向上を図ることを
目的とし、 (ア)標点位置となる個所に対応して標点打刻用ポンチ
を取付けることにより、従来のごとく標点用マーキング
の必要を無くする、 (イ)従来も■ブロックを使用して試験片を固定してい
たが、本考案においては■ブロックを2個使用して試験
片を上下から挾んで挟持し、試験片円周方向のズレを無
くするようにしたもので゛、引張り試験片に限らずクリ
ープ試験片、疲労試験片など試験片平行部の断面が円形
、円筒状(パイプ状)であれば適用可能である。
The purpose of this invention is to improve the accuracy of the length between gauges and eliminate deviations in the circumferential direction of the specimen in gauge stamping, and to improve workability. By attaching a punch for marking the gauge points, the need for marking the gauge points as in the past is eliminated. ■Two blocks are used to sandwich the test piece from above and below to eliminate circumferential deviation of the test piece.It is used for testing not only tensile test pieces but also creep test pieces and fatigue test pieces. It is applicable if the parallel section has a circular or cylindrical shape (pipe shape).

以下、本考案を第1図、第2図に示された実施例に基い
て説明する。
The present invention will be explained below based on the embodiments shown in FIGS. 1 and 2.

第1図は本考案による標点打刻器の1例を示す1部縦縦
断面図、第2図はその1部縦断側面図で、1は台、2は
問合1の中央部分に収納されたマグネット、10はその
操作用ハンドルであり、3は下側Vブロックで台1上の
1側(右側)に固設されている。
Fig. 1 is a partial vertical cross-sectional view showing an example of the gage stamping device according to the present invention, and Fig. 2 is a partial vertical cross-sectional view of the same, where 1 is a stand and 2 is stored in the center of the case 1. 10 is a handle for operating the magnet, and 3 is a lower V block which is fixed on the 1 side (right side) of the table 1.

4は蓋で、ピン5を支点として台1の他側(左側)に回
転自在に枢着結合されている。
Reference numeral 4 denotes a lid, which is rotatably coupled to the other side (left side) of the table 1 using a pin 5 as a fulcrum.

6は蓋4側に固設された上側■ブロックで、蓋4が閉じ
られたとき前記下側■ブロック3に対向するような位置
に設けられる。
Reference numeral 6 denotes an upper block (1) fixedly attached to the lid 4 side, and is provided at a position opposite to the lower block (3) when the lid 4 is closed.

7は試験片で、同試験片7はその平行部分が上記両■ブ
ロック3,6間で挟持されるようになっている。
Reference numeral 7 denotes a test piece, and the parallel portion of the test piece 7 is held between the two blocks 3 and 6 described above.

8a、8bは夫々試験片7に標点を打刻するためのポン
チで、これら一対のポンチ8 a 、8 bは夫々蓋4
に配設された上記■ブロック6の側部において所定間隔
を存して設けられる蓋側の貫通孔aに、標点間隔dを隔
てて上下動可能に嵌入されており、バネ9により通常時
(打刻しない時)上方に保持され、両ポンチ8 a 、
8 bの先端部分は蓋4内に収納されて、試験片7装着
時に同試験片7の表面に有害な傷をつける恐れがないよ
うになっている。
8a and 8b are punches for stamping gauge marks on the test piece 7, and these pair of punches 8a and 8b are used to stamp marks on the lid 4, respectively.
It is fitted into the through-hole a on the lid side provided at a predetermined interval in the side of the above-mentioned block 6 disposed in the block 6 so as to be vertically movable with a gage interval d, and is supported by a spring 9 during normal operation. (When not stamping) Both punches 8a are held upward,
The tip of the test piece 8b is housed in the lid 4 to prevent any harmful damage to the surface of the test piece 7 when the test piece 7 is attached.

また台1に設置された上記マグネット2は蓋4を吸着す
ることによって上下両Vブロック3,6間に挟持した試
験片7を確実に固定し、ハンドル10により吸着(オン
)と、開放(オフ)の操作を行なうものである。
In addition, the magnet 2 installed on the stand 1 securely fixes the test piece 7 sandwiched between the upper and lower V blocks 3 and 6 by attracting the lid 4, and the handle 10 can be used to attract (on) or open (off) the test piece 7. ).

作用を説明すると、マグネット2のハンドル10を操作
して同マグネット2を開放状態とし、蓋4を矢印A方向
に開き下側■ブロック3上に試1験片7を置き、蓋4を
閉じて上下両■ブロック3,6間に試験片7の平行部分
を挾持する。
To explain the operation, operate the handle 10 of the magnet 2 to open the magnet 2, open the lid 4 in the direction of arrow A, place the test piece 7 on the lower block 3, and close the lid 4. The parallel part of the test piece 7 is held between the upper and lower blocks 3 and 6.

そして、試験片7を正しい位置に設置した後、マグネッ
ト2のハンドル10を操作して同マグネット2を吸着状
態とし、台1と蓋4を磁力で吸着固定することにより、
試験片7を上下両■ブロック3,6間に確実に固定する
After setting the test piece 7 in the correct position, operate the handle 10 of the magnet 2 to bring the magnet 2 into an adsorbed state, and fix the stand 1 and lid 4 by magnetic force.
Securely fix the test piece 7 between the upper and lower blocks 3 and 6.

次に、ポンチ8aの頭部を矢印B方向に打撃することに
よって試験片7に標点を打刻する。
Next, a gauge mark is stamped on the test piece 7 by hitting the head of the punch 8a in the direction of arrow B.

同様に他方のポンチ8bの頭部を打撃し、前記ポンプ8
aによる打刻標点と間隔dを隔てて2個所に標点を打刻
した後、ハンドル10を操作してマグネット2が開放状
態とし、蓋4を開いて試験片7を取出す。
Similarly, the head of the other punch 8b is struck, and the pump 8
After stamping marks at two locations separated by a distance d from the marking mark a, the handle 10 is operated to open the magnet 2, the lid 4 is opened, and the test piece 7 is taken out.

要するに、本考案は試験片7を載置するVブロック3を
有する台1と、間合1とヒンジ5により結合され閉じた
時に上記Vブロック3と対向して上記試験片7を押さえ
る■ブロック6を有する蓋4と、同着4に配設された前
記■ブロック6の側方において所定間隔dを存して蓋4
に設けられる貫通孔aに摺動可能に取り付けられた一対
のポンチ8a、8bとからなることを特徴とする標点打
刻器である。
In short, the present invention consists of a stand 1 having a V-block 3 on which a test piece 7 is placed, and a block 6 that is connected by a gap 1 and a hinge 5 and that faces the V-block 3 and presses the test piece 7 when closed. and a lid 4 with a predetermined interval d on the side of the block 6 disposed on the same piece 4.
This is a gauge point stamping device characterized by comprising a pair of punches 8a and 8b slidably attached to a through hole a provided in the gauge.

本考案によれば、(i)蓋は台に枢着され回転自在であ
るため、試験片装着が容易である。
According to the present invention, (i) the lid is pivotally attached to the stand and is rotatable, making it easy to attach the test piece.

又蓋側の■ブロックと右側の■ブロックで試験片を挾持
するので、試験片の設置を安定化し作業性を向上する。
Also, since the test piece is held between the ■ block on the lid side and the ■ block on the right side, the installation of the test piece is stabilized and workability is improved.

必要あれば実施例のようにマグネットの使用により台と
蓋を磁力で吸着固定するようにすれば、■ブロックによ
る挟持力を容易に増大できる。
If necessary, the clamping force of the block can be easily increased by using a magnet to attract and fix the stand and the lid with magnetic force as in the embodiment.

(ii)又本考案にあっては一対のポンチは標点間長さ
の間隔で蓋に装着されているので、標点位置、間隔が確
実に決まる。
(ii) Also, in the present invention, since the pair of punches are attached to the lid at intervals equal to the length between the gauge marks, the positions and intervals of the gauge marks are reliably determined.

従って標点をマーキングする作業が不要となる。Therefore, the work of marking gauge points becomes unnecessary.

(iii)又試験片は両Vブロックによって固定される
ため、従来のごとく試験片円周方向のズレがなく、従っ
て打刻ミスによる試験片の不良が発生しない。
(iii) Furthermore, since the test piece is fixed by both V-blocks, there is no displacement in the circumferential direction of the test piece as in the conventional case, and therefore, there is no occurrence of test piece defects due to stamping errors.

(iv)又本考案においては実施例のように一対のポン
チに夫々バネを装入することにより、通常時ポンチは蓋
内に収納されるので、試験片表面に有害な傷がつかない
(iv) In addition, in the present invention, by inserting a spring into each of the pair of punches as in the embodiment, the punches are normally stored in the lid, so that harmful scratches are not caused on the surface of the test piece.

(v)又蓋と台とは接続しており、ポンチは蓋に装着さ
れているので、従来のようにポンチ等が見当らず探すの
に時間がかかる等の不具合がなくなる。
(v) Furthermore, since the lid and the base are connected and the punch is attached to the lid, problems such as the conventional problem of missing the punch and taking time to search for it are eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図、第2図は本考案のl実施例を示し、第1図は1
部縦縦断面図、第2図は1部縦断側面図である。 1・・・・・・台、4・・・・・・蓋、a・・・・・・
貫通孔、3,6・・・・・・Vブロック、5・・・・・
・ヒンジピン、8 a 、8 b・・・・・・ポンチ、
10・・・・・・マグネット2の操作用ハンドル、9・
・・・・・バネ。
1 and 2 show an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a partial longitudinal cross-sectional view, and FIG. 2 is a partial longitudinal cross-sectional side view. 1... stand, 4... lid, a...
Through hole, 3, 6... V block, 5...
・Hinge pin, 8a, 8b...punch,
10... Handle for operating magnet 2, 9.
·····Spring.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 試験片を載置するVブロックを有する台と、問合とヒン
ジにより結合され閉じた時に上記Vブロックと対向して
上記試験片を押さえる■ブロックを有する蓋と、同着に
配設された前記■ブロックの側方において所定間隔を存
して蓋に設けられる貫通孔に摺動可能に取り付けられた
一対のポンチとからなることを特徴とする標点打刻器。
A stand having a V-block on which a test piece is placed, a lid having a block connected by a hinge and facing the V-block and holding the test piece when closed, and a lid disposed on the same side. (2) A gauge marking device comprising a pair of punches slidably attached to through-holes provided in the cover at a predetermined interval on the sides of the block.
JP1473079U 1979-02-07 1979-02-07 gauge stamp Expired JPS5820914Y2 (en)

Priority Applications (1)

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JP1473079U JPS5820914Y2 (en) 1979-02-07 1979-02-07 gauge stamp

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JP1473079U JPS5820914Y2 (en) 1979-02-07 1979-02-07 gauge stamp

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55116253U JPS55116253U (en) 1980-08-16
JPS5820914Y2 true JPS5820914Y2 (en) 1983-05-02

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ID=28835169

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JP1473079U Expired JPS5820914Y2 (en) 1979-02-07 1979-02-07 gauge stamp

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2533026Y2 (en) * 1989-11-30 1997-04-16 株式会社島津製作所 Automatic gauge stamping device

Also Published As

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JPS55116253U (en) 1980-08-16

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