JPS58206138A - Simulation device for logic circuit - Google Patents

Simulation device for logic circuit

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JPS58206138A
JPS58206138A JP57088100A JP8810082A JPS58206138A JP S58206138 A JPS58206138 A JP S58206138A JP 57088100 A JP57088100 A JP 57088100A JP 8810082 A JP8810082 A JP 8810082A JP S58206138 A JPS58206138 A JP S58206138A
Authority
JP
Japan
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circuit
section
simulation
logic circuit
logic
Prior art date
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Pending
Application number
JP57088100A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
「よし」田 憲司
Kenji Yoshida
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS58206138A publication Critical patent/JPS58206138A/en
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components

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Abstract

PURPOSE:To enable simulation at velocity approximately close to the actual operation of the circuit by constituting a circuit equivalent to the circuit to be simulated in a hardware manner. CONSTITUTION:A logic-circuit array 1 is constituted by a plurality of fundamental circuit element arrays 4 and a wiring matrix 5 consisting of a conductor piece and switches. The states of each switch of the wiring matrix 5 are set by a circuit constituting section 2, and the logic-circuit array 1 is made equivalently equal to the circuit to be simulated. An input test system is applied to the logic- circuit array 1 by a simulation execution section 3 and the circuit is operated, and the simulation is performed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は論理回路の動作をシミエレートするtめの装
置に関し、特にディジタルシステムや集積回路の論理回
路設計に?いて、その回路の動作を検証するために使用
されるものである。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a device for simulating the operation of a logic circuit, particularly for logic circuit design of digital systems and integrated circuits. It is used to verify the operation of the circuit.

〔発明の背景技術〕[Background technology of the invention]

従来、大規模集積回路(以降LSIと記す)など・8・
道理回路設計において、その回路の動作を検証する手段
としては主に次の2方法が用いられている− その1方法は、既存の集積回路(以下IC)を用いてプ
リント基板上に実際に回路を構成し、これを動作させる
ことによって設計が正しいかどうかを検証する方法で、
一般にブレッド・ボードと呼ばれている。
Traditionally, large-scale integrated circuits (hereinafter referred to as LSI), etc.・8・
In rational circuit design, the following two methods are mainly used to verify the operation of the circuit. One method is to actually create a circuit on a printed circuit board using an existing integrated circuit (IC). How to configure and verify whether the design is correct by making it work,
Generally called a breadboard.

他の方法は、コンピュータのプログラムによるシミュレ
ーションである。一般にロジックシミュレーション・プ
ログラムと称されるプログラムが用いられる(例えば、
樹下: [論理装置のCAD J、情報処理学会(19
81)ふ 〔背景技術の問題点〕 前項に記載の背景技術には次にあげる問題がある。
Another method is computer program simulation. Generally, a program called a logic simulation program is used (for example,
Junshita: [Logic device CAD J, Information Processing Society of Japan (19
81) F [Problems with the background technology] The background technology described in the previous section has the following problems.

ブレッドボードの場合は、(I)ブレッドボード作成に
時間と費用がかかる。(ロ)た更が容易でない。(…)
手作業であり自動設計システムと連結便用が困難である
。(iv)LSI用設計の場合、ブレッドボードと実際
のLSIの回路とでは回路の遅れなどの点で条件が異な
るため、正確な動作シミュレーションが困難な場合がち
る。
In the case of a breadboard, (I) it takes time and money to create a breadboard; (b) It is not easy to repair. (…)
Since it is a manual process, it is difficult to connect it with an automatic design system. (iv) In the case of LSI design, accurate operation simulation is often difficult because the breadboard and actual LSI circuits have different conditions in terms of circuit delays and the like.

一方、ソフトウェアシミュレーションの場合は、(v)
コンビエータで回路谷部の動作を順次シミュレートする
ため所要時間が長く、従って、回路の全動作を完全に確
認することが実用上不可能な場合が多い。
On the other hand, in the case of software simulation, (v)
It takes a long time to sequentially simulate the operation of the circuit valleys using the combinator, and therefore, it is often practically impossible to completely confirm all the operations of the circuit.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は安上の問題点に鑑み、改良された論理回路シ
ミュレー7ヨ/装置を提供するものである0 〔発明の概要」 この発明は論理回路のシミュレーションを行なうための
装置で、基本回路素手、任意の相互配線を実現するため
の配線マトリクス、シミュレートすべき回路の接1読情
報を入力する手段、前記回路の接続清報から等価的回路
を実現でるために配線マトリクス内の各スイッチの開閉
を最適て決定する手段、さらに−7ミユンートすべき回
路の入力テスト系列を人力する手段、入力テスト系列を
印カロすることにより論理回路の動作をシミュレートす
る手段、およびシミュレート中の回路の任意部分の状態
を出力する手段より構成されている。そして、この装置
は基本的にハードウェアによるシミュレートであるため
、ブレッドボードと同等の速度を有し、また、回路接続
を自由に変えうる点でソフトウェア・シミュレーション
と同等の利点を有して分り、従って従来技術の間噴点を
解決するものである。
This invention provides an improved logic circuit simulation device in view of safety issues. , a wiring matrix for realizing arbitrary mutual wiring, a means for inputting connection information of the circuit to be simulated, and a means for inputting connection information of each switch in the wiring matrix in order to realize an equivalent circuit from the connection information of the circuit. A means for optimally determining opening and closing, a means for manually inputting an input test sequence for a circuit to be run, a means for simulating the operation of a logic circuit by printing an input test sequence, and a means for simulating the operation of a logic circuit by inputting an input test sequence, and a means for simulating the operation of a logic circuit by inputting an input test sequence. It consists of means for outputting the state of an arbitrary part. Since this device is basically a hardware simulation, it has the same speed as a breadboard and has the same advantages as software simulation in that circuit connections can be changed freely. , thus solving the problem of injection points in the prior art.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

次にこの発明を1実施例につき図面を参照して詳細に説
明する。1実施例を示す第1図には装置構成を示し、大
きく分けて、任意の回路接続を実現するだめの汎用の「
−論理回路アレイ部J tl) 、回路接続情報(4)
を入力し上記論理回路アレイ邪に配線接続を実施するこ
とパ(よりシミュレートすべき回路を等制約に実現する
機能を有する[回路構成部J (2) 、さらに、構成
さfした回路てテストパターン金印加してシミニレ−ジ
ョンを実行する「/ミエレーション実行部」(3)の3
部によって構成さnている。゛以下に上記各部につきさ
らに詳述する。
Next, one embodiment of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings. Figure 1, which shows one embodiment, shows the device configuration, which can be roughly divided into general-purpose "
-Logic circuit array section J tl), circuit connection information (4)
Input the circuit configuration section J (2), which has the function of realizing the circuit to be simulated with equal constraints, and then perform a test using the configured circuit. 3 of "/Mielation Execution Unit" (3) which applies pattern gold and executes staining
It is made up of several departments. Each of the above parts will be explained in more detail below.

論理回路アレイ部t1)をLSIで実現した場合の1例
を第2図に示す。上記アレイ邪の主要部は1−基本回路
素子アレi’ J f41”’、および「配線マトリク
ス」(5)よりなる。そして、基本回路素子アレイ(4
)は2人力N A N Dゲートヲ含む1種類のセルを
規則正しく配列することてより構成される。任意の論理
機能は2人力NANDゲートを組み合わせること釦よっ
て実現でさることは知られているが、これから一般の論
理回路で用いられる論理素子、あるいは機能ブロックは
すべて上記セルを組合わせ相互接続すること(でよって
実現できる。例えば2人力ORは第3図に示すように、
入力(5)、(B)に対しORの出力(qを得ている。
FIG. 2 shows an example in which the logic circuit array section t1) is implemented using an LSI. The main part of the above-mentioned array consists of 1-basic circuit element array i' J f41''' and "wiring matrix" (5). Then, the basic circuit element array (4
) is constructed by regularly arranging one type of cell including two NAND gates. It is known that arbitrary logic functions can be realized by combining two NAND gates, but from now on, all logic elements or functional blocks used in general logic circuits will be realized by combining and interconnecting the above cells. (This can be realized as follows. For example, two-person OR is as shown in Figure 3.
The OR output (q) is obtained for the inputs (5) and (B).

基本回路素子アレイのセルとしては、例えば3人力NO
Rのような他の基本論理デートを用いてもよく、また、
より基本的なトランジスタの組合わくを用いてもよい。
For example, as a cell of a basic circuit element array, 3-man power NO.
Other basic logical dates such as R may also be used, and
More basic transistor combination frames may also be used.

さらに、1撞類のでルに限定ぜず、2棟類以上のセルを
配列してもよい、 次の配線マド・1クス′/′i基不回路素子アレイの各
セル間の任意の相互接続を実現するための%v)5、そ
の実現例は、例えば第4図に示すような複数の導体片と
その間を接I?cまたd解放するためのスイッチを規則
的に配列したものである。なお、第4図において実線表
示した(7a)は第1層導体、(7b)は第2層厚体、
(8)は各導体間を接続するスイッチを大々示す。そし
て、各スイッチの開閉により任意の相互配線を実現する
ことができる。導体片およびスイッチのレイアウトの方
法としては第4図に限られるものではなく、他の方法で
もよい。配線マl−IJクス1!cL8Iで実現する方
法の例としては、導体片を拡散層、多結晶シリコン層、
またはアルミニウム層などで作成し、スイッチをMOS
トランジスタ、浮遊ゲート型MOSトランジスタなどで
構成することができる。これらのトランジスタ金スイッ
チとして用いる場合は、トランジスタのゲートに電荷を
蓄えることによってスイッチを導通させ、また放電させ
ることによ抄切断することかでさるのけ公知である。特
定のゲートに電荷全充電させる(では、別の配線層を経
て電位を加えるか、ぁるいば電子ビーム、レーザビーム
などを用いることにより実現できる。スイッチの他の実
現法としては、配線の一部(ヒユーズ)を溶解させる方
法によってもよい。
Furthermore, it is not limited to one type of wiring, and two or more types of cells may be arranged. %v)5, an example of its realization is, for example, by connecting a plurality of conductor pieces and connecting them as shown in FIG. This is a regularly arranged array of switches for releasing c and d. In addition, (7a) indicated by a solid line in FIG. 4 is the first layer conductor, (7b) is the second layer thick body,
(8) shows a switch that connects each conductor. By opening and closing each switch, arbitrary mutual wiring can be realized. The method of laying out the conductor pieces and switches is not limited to that shown in FIG. 4, and other methods may be used. Wiring mark IJ box 1! As an example of how to realize this with cL8I, a conductor piece can be formed into a diffusion layer, a polycrystalline silicon layer,
Or make it with an aluminum layer etc. and make the switch MOS.
It can be configured with a transistor, a floating gate type MOS transistor, or the like. When these transistors are used as gold switches, it is well known that the switch is made conductive by storing charge in the gate of the transistor, and the switch is disconnected by discharging it. A specific gate can be fully charged (this can be achieved by applying a potential through another wiring layer, or by using an electron beam, laser beam, etc.). A method of melting the fuse may also be used.

回路構成部の構成の例は第1図に示す如く、シミュレー
トすべき倫理回路の接続情報を入力する接続情報入力部
(9)、入力された情報をもとに論理回路アレイで回路
を実現するため回路素子のセルへの割りつけ、および配
線マトリクスの各スイッチの開閉を決定するための配線
パターン決定部tio)。
An example of the configuration of the circuit configuration section is shown in Figure 1, which includes a connection information input section (9) for inputting connection information of the ethical circuit to be simulated, and a logic circuit array realizing the circuit based on the input information. (tio) for determining the allocation of circuit elements to cells and the opening/closing of each switch in the wiring matrix.

上記決定さf″したスイッチの電気、電子的または光学
的手段で実現するための配線実施部Iの3部でなってい
る。上記接続情報−の入力方汝としては、磁気テープ、
キーボードなどを用いることができる。回路素子のセル
割りつけおよびスイッチの開閉決定の′ための配線パタ
ーン決定部u1は、マイクロコンピュータまたは、他の
コンビ千−夕を内蔵し、最適レイアウトを決定するため
のプログラムを内部している。また、スイッチの開閉全
実現する配線実施部Uυは配線マトリクスの構造によっ
て七の原理が異なるのは当然である。
It consists of three parts: wiring implementation part I for realizing the above-determined switch by electrical, electronic or optical means.
A keyboard or the like can be used. The wiring pattern determination unit u1 for determining the cell allocation of circuit elements and the opening/closing determination of switches incorporates a microcomputer or other combination device, and contains therein a program for determining the optimum layout. Furthermore, it goes without saying that the wiring implementation unit Uυ that fully realizes the opening and closing of the switch has different principles depending on the structure of the wiring matrix.

シミュレーション部の構成は第1図に示す如く、論理回
路を励起すべき入力テスト系列および回路の出力期待値
の情報■を人力するテスト系列人力部αカ、テスト入力
を論理回路レイアウト部で実現された回路に印加し模擬
的て回路を動作させるためのシミュレーション制御部t
131.動作中の回路の任意の部分の状態を出力する内
部状態読取部d41゜さらに期待値と比較してシミュレ
ー7ヨ/結果t40を出力するシミュレーション結果出
力部115+とからなる。この他にテスト系列や出力期
待値あるいは実際の出力値を記憶するため7〕紀瀘装虚
が設けられている。
As shown in Fig. 1, the configuration of the simulation section is as follows: a test series human section that manually generates information on the input test series that should excite the logic circuit and the expected output value of the circuit, and a logic circuit layout section that inputs the test inputs. a simulation control unit for applying a simulated voltage to the circuit and operating the circuit in a simulated manner;
131. It consists of an internal state reading section d41 which outputs the state of any part of the circuit in operation, and a simulation result output section 115+ which compares it with an expected value and outputs a simulation result t40. In addition, 7) memory storage is provided to store test series, expected output values, or actual output values.

上記実施例は論理回路アレイ部をLSIで実現する場合
の例であるが、大規模な回路をシミュレートするために
複数のLSIチップ、またはLSIウェハを連結使用す
ることが可能である。
Although the above embodiment is an example in which the logic circuit array section is implemented using LSI, it is possible to use a plurality of LSI chips or LSI wafers in conjunction to simulate a large-scale circuit.

他の実施例としては、例えばンミュレー7ヨノ部の一部
を論理回路アレイ部と同一のLSIに組み込むこともで
きる。
As another embodiment, for example, a part of the module 7 side part can be incorporated into the same LSI as the logic circuit array part.

さらに池の実施例として、論理回路アレイ部をLSI以
外の例えばハイブリッドICまたはプリント板等を用い
て実現することができる。
Furthermore, as another embodiment, the logic circuit array section can be realized using a hybrid IC, a printed board, or the like other than an LSI.

さらに他の実施例として、シミュレートすべき回路の一
部、例えばメモリ部は論理回路アレイ部の甲では実現せ
ず、他に用意さ几た記憶装置によって等測的な模擬を行
なうこともできる。
As yet another embodiment, a part of the circuit to be simulated, for example, the memory part, is not realized in the first part of the logic circuit array part, but isometrically simulated by a storage device prepared elsewhere. .

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明には次にあげる効果がある。 This invention has the following effects.

まず、シミュレートすべき回路と等価な回路をハードフ
ェア的に構成しているため、実際の回路の動作にかなり
近い(1桁以内)速度でシミュレートできる、このため
、従来のン7トウエアシミエレー/ゴ/に比べ飛躍的(
2桁以上)に短時間で7ミエレートでさ、従って実用的
時間内にほぼ完全に動作模擬を達成できる。
First, since a circuit equivalent to the circuit to be simulated is configured in hardware, it is possible to simulate the operation of the actual circuit at a speed that is quite close (within one order of magnitude). Dramatically compared to Elle/Go/
(more than 2 orders of magnitude) in a short time, so it is possible to achieve almost complete motion simulation within a practical amount of time.

さらに、ノフトウエハ/ミュレー7ヨンニ用いる大型計
算機に比べ、専用化したハードウェアであるため規漠(
は小さく、従って低帥格で実現可能である。さらに高速
でシミュレートすることが可能であることからシミュレ
ーンヨンの1[IIi% 、/ 性能費はさらに安くな
ることが期待できる。
Furthermore, compared to large-scale computers that use Noft Wafer/Murray 7 Yonni, it is a specialized hardware, so it is less
is small and therefore can be realized with low complexity. Since it is possible to simulate at even higher speeds, it is expected that the performance cost of simulation will become even lower.

また、従来のブレッドボードと比較した場合、この装置
・j佳汎用で燥返し便用できるので費用は兼くてすむ利
点がある。
In addition, when compared with conventional breadboards, this device has the advantage of being versatile and can be used for drying and drying, which saves money.

さらに、ブレッドボード作成には時間がかかるのに比べ
、この発明によれば回路接”続情報を入力するだけでよ
いので、短い期関知僕蒙にとりかかることができ、また
回路設計変更に対する修正は極めて容易であるなどの利
点がある。
Furthermore, compared to the time it takes to create a breadboard, this invention only requires the input of circuit connection information, which means that you can start working on your knowledge in a short period of time, and that you can make corrections to your circuit design. It has advantages such as being extremely easy.

この装置をLSIなどの設計に用いる場合、回路接続情
報やテスト系列は、LSI設計システムのデータと共通
に用いることができるためLSI設計工程全体の期間短
縮に顕著な効果がある。
When this device is used to design an LSI or the like, the circuit connection information and test series can be used in common with the data of the LSI design system, which has a remarkable effect on shortening the overall period of the LSI design process.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面は本発明の1実施例にかがり、第1図は論理回路シ
ミュレーション装置の構成を示すブロック図、第2図は
論理回路アレイ部の一部を示す正面図、第3図(a) 
、 (1))はいずれも論理素子または機距ブロックの
構成を示す回路図、第4図(a)は配線マトリクスの構
造を示す正面図で、同図(b)は図(a)と等価の回路
図である。 l     論理回路アレイ部 2     回路構成部 3     シミュレーション実行部 4     論理回路アレイ部の基本回路素子アレイ 5     論理回路アレイ部の配線マトリクス 6     人出力パッドおよびバッファ7a    
  第1層厚体 7b      第2層厚体 8     スイッチ(導体間接続) 9     回路構成部の接続情報入力部10    
  回路構成部の配線パターン決定部 ′11      回路構成部の配線実施部12   
   シミュレーション実行部のテスト系列人力部 13      シミュレーション実行部のシミュレー
ション制一部 14      シミュレーション実行部の内部状態読
取部 15      シミュレーション実行部のシミュレー
ション結果出力部 20      回路接続情報 30      テスト系列情報 40      シミュレーション結果代理人 弁理士
  井 上 −男 第  1  凶 第  2  図 第3図 (α)         tb> 第  4  図
The drawings depict one embodiment of the present invention; FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a logic circuit simulation device, FIG. 2 is a front view showing a part of the logic circuit array section, and FIG. 3(a)
, (1)) are all circuit diagrams showing the configuration of logic elements or distance blocks, Figure 4 (a) is a front view showing the structure of the wiring matrix, and Figure 4 (b) is equivalent to Figure (a). FIG. l Logic circuit array section 2 Circuit configuration section 3 Simulation execution section 4 Basic circuit element array 5 of the logic circuit array section Wiring matrix 6 of the logic circuit array section Human output pad and buffer 7a
First layer thick body 7b Second layer thick body 8 Switch (interconductor connection) 9 Connection information input section 10 of circuit configuration section
Wiring pattern determination section 11 of the circuit configuration section Wiring execution section 12 of the circuit configuration section
Test series human power section 13 of simulation execution section Simulation control section 14 of simulation execution section Internal state reading section 15 of simulation execution section Simulation result output section 20 of simulation execution section Circuit connection information 30 Test series information 40 Simulation result agent Patent attorney Inoue - Male No. 1 No. 2 Figure 3 (α) tb> Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 複数の基本回路素子、導体片、およびスイッチを規則的
に配列した論理回路アレイと、前記論理回路アレイをシ
ュミレート予定の論理回路と等測的に等しくするために
各スイッチの状態を設定する手段と、前記等価論理回路
に入力テスト系列を印加することにより回路を動作させ
る手段とから構成される論理回路シミュレーション装置
A logic circuit array having a plurality of basic circuit elements, conductor pieces, and switches regularly arranged; and means for setting the state of each switch to make the logic circuit array isometrically equal to a logic circuit to be simulated. , means for operating the circuit by applying an input test sequence to the equivalent logic circuit.
JP57088100A 1982-05-26 1982-05-26 Simulation device for logic circuit Pending JPS58206138A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6128163A (en) * 1984-07-18 1986-02-07 Nec Corp Line connection collating system
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