JPS58198825A - カラ−ブラウン管 - Google Patents
カラ−ブラウン管Info
- Publication number
- JPS58198825A JPS58198825A JP7999682A JP7999682A JPS58198825A JP S58198825 A JPS58198825 A JP S58198825A JP 7999682 A JP7999682 A JP 7999682A JP 7999682 A JP7999682 A JP 7999682A JP S58198825 A JPS58198825 A JP S58198825A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron
- shield
- slump
- electron shield
- ray tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/06—Screens for shielding; Masks interposed in the electron stream
Landscapes
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はエレクトロンシールドを有するカラーブラウン
管に係り、特に、実装ランニング中のエミッションスラ
ンプを防止出来るエレクトロンシールドに関するもので
ある。
管に係り、特に、実装ランニング中のエミッションスラ
ンプを防止出来るエレクトロンシールドに関するもので
ある。
従来のエレクトロンシールドは第１図に示すように、カ
ラーブラウン管内部に装着されているもので一般的な形
状としては第２図に示すようなものである。
ラーブラウン管内部に装着されているもので一般的な形
状としては第２図に示すようなものである。
図において、１はシャドウマスク、２はパネル、３はエ
レクトロンシールド、４はファンネル、５は内装黒鉛、
６は偏向ヨーク、７は電子銃、８は電子ビームである。
レクトロンシールド、４はファンネル、５は内装黒鉛、
６は偏向ヨーク、７は電子銃、８は電子ビームである。
このようなエレクトロンシールド３は、通常材質として
は加工性及びコストの点からアルミニウム（０，２〜０
．０８ ｍｔ ）を使用している。そしてこのエレクト
ロンシールド３０表面は平坦である。
は加工性及びコストの点からアルミニウム（０，２〜０
．０８ ｍｔ ）を使用している。そしてこのエレクト
ロンシールド３０表面は平坦である。
この状態で強制ラスター大試験と呼んでいる実装ランニ
ング試験を行うと、エレクトロンシールドが一因で時間
経過とともにエミツショ／スレ／プするものが高率で発
生する。
ング試験を行うと、エレクトロンシールドが一因で時間
経過とともにエミツショ／スレ／プするものが高率で発
生する。
特に、カソード温度が低下するとその影響が更に大きく
なることがわかった。
なることがわかった。
したがって、本発明の目的は、エレクトロンシールド／
ドが起因する実装ランニング中のエミッションスランプ
を防止できるようなカラー７′２つ／管を提供するもの
である。
ドが起因する実装ランニング中のエミッションスランプ
を防止できるようなカラー７′２つ／管を提供するもの
である。
強制ラスター大試験のエミッションスランプの原因は要
因分離実験の結果、バルブサイズ、［子銃からのガス放
出、試験条件（ヒータ電圧、測定時間等）、エレクトロ
ンシールドがその大きな要因であることがわかつ九。
因分離実験の結果、バルブサイズ、［子銃からのガス放
出、試験条件（ヒータ電圧、測定時間等）、エレクトロ
ンシールドがその大きな要因であることがわかつ九。
本発明は特に影響の大きいエレクトロンシールドにつき
改良を目的としたものである。
改良を目的としたものである。
エレクトロンシールドについては、エレクトロンシール
ドを装着したものとしないもので前記の強制ラスター大
試験を行うと、エレクトロンシールドを有したものは高
率でエミッションスランプを発生したが、エレクトロン
シールドを装着しなかつ九ものは常にスランプ現象は発
生しなかった。
ドを装着したものとしないもので前記の強制ラスター大
試験を行うと、エレクトロンシールドを有したものは高
率でエミッションスランプを発生したが、エレクトロン
シールドを装着しなかつ九ものは常にスランプ現象は発
生しなかった。
ａ常、実装ランニング中のエミッションスランプの原因
は、管内のガス（管内の真空度がもともと悪い場合と電
子ビームが照射された時発生するものと２種類がある）
によりエミッション源である遊離バリウム（Ｂａ）が損
失するためである。
は、管内のガス（管内の真空度がもともと悪い場合と電
子ビームが照射された時発生するものと２種類がある）
によりエミッション源である遊離バリウム（Ｂａ）が損
失するためである。
エレクトロンシールドのガス放出源がどこにあるか調査
したところ、一つの要因として、エレクトロンシールド
材自身が電子ビームを照射された時それ自体からガス放
出するものと考え、エレクトロンシールドをノリレプに
装着する前に、４００℃ＸｌＳ分の水素処理を行ったが
、エミッションスランプを防止出来なかった。
したところ、一つの要因として、エレクトロンシールド
材自身が電子ビームを照射された時それ自体からガス放
出するものと考え、エレクトロンシールドをノリレプに
装着する前に、４００℃ＸｌＳ分の水素処理を行ったが
、エミッションスランプを防止出来なかった。
一方、エレクトロンシールドを装着した中でもスランプ
しないものがおるので、スランプしたエレクトロンシー
ルドとスランプしなかったエレクトロンシールドの表面
を走査型電子顕微鏡で比較したところ、スランプを生じ
なかったエレクトロンシールドの表面が粗れている（凹
凸がある）ことがわかった。
しないものがおるので、スランプしたエレクトロンシー
ルドとスランプしなかったエレクトロンシールドの表面
を走査型電子顕微鏡で比較したところ、スランプを生じ
なかったエレクトロンシールドの表面が粗れている（凹
凸がある）ことがわかった。
この結果から、エミッションスランプの原因は、電子銃
から放出された電子ビームがエレクトロンシールドに照
射され、その電子が反射してファンネルコーン部の内装
黒鉛に照射されることによυ内装黒鉛からのガス放出に
よるものと考えられる。
から放出された電子ビームがエレクトロンシールドに照
射され、その電子が反射してファンネルコーン部の内装
黒鉛に照射されることによυ内装黒鉛からのガス放出に
よるものと考えられる。
第１図に示したように、電子銃７より放出された電子ビ
ーム８はシャドウマスク１及びけい光体以外にエレクト
ロンシールド３に照射される。
ーム８はシャドウマスク１及びけい光体以外にエレクト
ロンシールド３に照射される。
そのエレクトロンシールド３に照射された電子ビームは
反射してファンネルコーン部に塗布されている内装黒鉛
５に照射され、この内装黒鉛５から水（ＨｌＯ）が放出
されて、そのガスによりエミッションスランプするもの
である。
反射してファンネルコーン部に塗布されている内装黒鉛
５に照射され、この内装黒鉛５から水（ＨｌＯ）が放出
されて、そのガスによりエミッションスランプするもの
である。
３−
第３図に工２ツションスランプを起した場合（イ）と、
起さない場合（ロ）のカソード電流経時変化を示す。エ
ミッションスランプしない場合はカソード電流は時間経
過しても一定の直を保っているが、エミッションスラン
プしたものはカソード電流が時間経過と共に減少して来
る。
起さない場合（ロ）のカソード電流経時変化を示す。エ
ミッションスランプしない場合はカソード電流は時間経
過しても一定の直を保っているが、エミッションスラン
プしたものはカソード電流が時間経過と共に減少して来
る。
従来のエレクトロンシールドの表面は鏡面状態を呈して
おり顕微鏡で拡大してもほとんど凹凸が見られない。
おり顕微鏡で拡大してもほとんど凹凸が見られない。
このためエレクトロンシールドに照射された電子は非常
に反射しやすく、それだけ内装黒鉛からのガス放出が多
くな）エミッションスランプが発生しやすくなる。
に反射しやすく、それだけ内装黒鉛からのガス放出が多
くな）エミッションスランプが発生しやすくなる。
この理由から、エレクトロンシールド３に照射された電
子の反射量をできる限り少なくするため、本発明では第
４図に示す如く、エレクトロンシールド３の表面をサン
ドペーパーで磨き、表直に多食の凹凸を形成する。なお
、このような凹凸はエレクトロンシールド３の電子銃に
向う面に形成すると、とになる。
子の反射量をできる限り少なくするため、本発明では第
４図に示す如く、エレクトロンシールド３の表面をサン
ドペーパーで磨き、表直に多食の凹凸を形成する。なお
、このような凹凸はエレクトロンシールド３の電子銃に
向う面に形成すると、とになる。
４−
このことによ多、カソード電流は第３図の（ロ）に示す
ようになり、はとんどエミッションスランプが発生しな
くなることがわかった。
ようになり、はとんどエミッションスランプが発生しな
くなることがわかった。
エレクトロンシールドに照射された電子を反射しにくく
する方法としては、前記の如く表面に機械的に傷を付け
て凹凸を付ける方法（更にサンドブラストする方法も同
様である１）のほかに、化学処理または酸化をして表面
に酸化アルミニウム（Ａｌ＊ｏ、）膜を作る方法が考え
られる。
する方法としては、前記の如く表面に機械的に傷を付け
て凹凸を付ける方法（更にサンドブラストする方法も同
様である１）のほかに、化学処理または酸化をして表面
に酸化アルミニウム（Ａｌ＊ｏ、）膜を作る方法が考え
られる。
更に、アルミニウムの圧延ローラに凹凸を付けて圧延が
完了した時に自動的に凹凸を付けることも考えられる。
完了した時に自動的に凹凸を付けることも考えられる。
このように、本発明は、エレクトロンシールドの表面を
粗面処理して、照射された電子ビームがより反射しに＜
＜シたことでおる〇 本発明によれば、エレクトロンシールドからの反射電子
を減少させることが出来るため、強制ラスクー大試験不
良を従来の数１０％からほとんどゼロにすることが出来
るだけでなく、顧客でのエミッションスランプを無ぐす
ることが出来るので、より安定した特性が得られ、信頼
性が向上する効果がある。
粗面処理して、照射された電子ビームがより反射しに＜
＜シたことでおる〇 本発明によれば、エレクトロンシールドからの反射電子
を減少させることが出来るため、強制ラスクー大試験不
良を従来の数１０％からほとんどゼロにすることが出来
るだけでなく、顧客でのエミッションスランプを無ぐす
ることが出来るので、より安定した特性が得られ、信頼
性が向上する効果がある。
第１図は通常のカラーブラウン管の構造図、第２図はエ
レクトロンシールドの斜視図、第３図はカソード電流の
時間変化特性図、第４図（ａ）は本発明によるエレクト
ロンシールドの部分拡大平面図、第４図（ｂ）はその断
面図である。 １・・・・シャドウマスク、２・・・・パネル、３・・
・・エレクトロンシール）”、４−・−・ファンネル、
５・・・・内装黒鉛、６・・・・偏向ヨーク、７・・・
・電子銃、８・・・・電子ビーム〇 ７− 区 。 （Ｎ 派 ・・−゛響＠天 、 ↓
レクトロンシールドの斜視図、第３図はカソード電流の
時間変化特性図、第４図（ａ）は本発明によるエレクト
ロンシールドの部分拡大平面図、第４図（ｂ）はその断
面図である。 １・・・・シャドウマスク、２・・・・パネル、３・・
・・エレクトロンシール）”、４−・−・ファンネル、
５・・・・内装黒鉛、６・・・・偏向ヨーク、７・・・
・電子銃、８・・・・電子ビーム〇 ７− 区 。 （Ｎ 派 ・・−゛響＠天 、 ↓
Claims (1)
- パネル、ファンネルから成るバルブの内部にシャドウマ
スク、インナーシールド、エレクトロンシールドを装着
したカラーブラウン管において、エレクトロンシールド
の表面に凹凸を形成したことを特徴とするカラーブラウ
ン管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7999682A JPS58198825A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | カラ−ブラウン管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7999682A JPS58198825A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | カラ−ブラウン管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58198825A true JPS58198825A (ja) | 1983-11-18 |
Family
ID=13705907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7999682A Pending JPS58198825A (ja) | 1982-05-14 | 1982-05-14 | カラ−ブラウン管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58198825A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4931690A (en) * | 1987-03-20 | 1990-06-05 | Hitachi, Ltd. | Color picture tube with an electron shield |
| EP1150325A1 (en) * | 2000-04-25 | 2001-10-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Color cathode ray tube |
-
1982
- 1982-05-14 JP JP7999682A patent/JPS58198825A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4931690A (en) * | 1987-03-20 | 1990-06-05 | Hitachi, Ltd. | Color picture tube with an electron shield |
| EP1150325A1 (en) * | 2000-04-25 | 2001-10-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Color cathode ray tube |
| US6784607B2 (en) | 2000-04-25 | 2004-08-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Color cathode ray tube |
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