JPS58179577A - 溶接部溶け込み深さ検出方法および装置 - Google Patents
溶接部溶け込み深さ検出方法および装置Info
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- JPS58179577A JPS58179577A JP6350282A JP6350282A JPS58179577A JP S58179577 A JPS58179577 A JP S58179577A JP 6350282 A JP6350282 A JP 6350282A JP 6350282 A JP6350282 A JP 6350282A JP S58179577 A JPS58179577 A JP S58179577A
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- JP
- Japan
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- welded
- penetration depth
- penetration
- radiation
- detecting
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
- B23K15/0013—Positioning or observing workpieces, e.g. with respect to the impact; Aligning, aiming or focusing electronbeams
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、溶接部溶は込み深さ検出方法および装置に
関するものであり、もう少し詳しくいうならば、電子ビ
ーム溶接における溶接部の溶は込み深さが所期の値以上
であることを検出する方法およびその装置に関するもの
である。
関するものであり、もう少し詳しくいうならば、電子ビ
ーム溶接における溶接部の溶は込み深さが所期の値以上
であることを検出する方法およびその装置に関するもの
である。
従来、この種の一般的な方法としては、第１図に示すよ
うに、被溶接物／ａ、／ｂの溶接線コに直交する断面３
を形成し、この断面３ＶＣあられれた溶融部Ｖの溶は込
み深さｄを測定するものである。この方法をさらに詳し
く述べると、電子ビーム溶接が終了した被溶接物／を溶
接線−に直交する面で切断して断面３を形成する。つい
で、この断面３を研磨し、溶融部μの金属組織が視認で
きるようにエツチングを行い、溶は込み深さｄを拡大鏡
を用いて測定するのである。しかし、この方法は、被溶
接物の切断、研磨に多大の時間と労力を要し、溶接進行
中に−おいて溶は込み深さを検出することおよび被溶接
物の全数について溶は込み深さを検出することが不可能
である欠点があった。
うに、被溶接物／ａ、／ｂの溶接線コに直交する断面３
を形成し、この断面３ＶＣあられれた溶融部Ｖの溶は込
み深さｄを測定するものである。この方法をさらに詳し
く述べると、電子ビーム溶接が終了した被溶接物／を溶
接線−に直交する面で切断して断面３を形成する。つい
で、この断面３を研磨し、溶融部μの金属組織が視認で
きるようにエツチングを行い、溶は込み深さｄを拡大鏡
を用いて測定するのである。しかし、この方法は、被溶
接物の切断、研磨に多大の時間と労力を要し、溶接進行
中に−おいて溶は込み深さを検出することおよび被溶接
物の全数について溶は込み深さを検出することが不可能
である欠点があった。
また、従来、この種の方法および装置の特殊な例として
第一図に示すものがあった。図において。
第一図に示すものがあった。図において。
電子ビーム乙の照射によって、溶接中に被溶接物／の中
に穴りが生じる。放射性物質等の硬Ｘ線またはγ線を発
する線源ｔの放射窓デから被溶接物ｌに硬Ｘ＃ｉ！また
はγ線（以下照射Ｘ線といつ）／。
に穴りが生じる。放射性物質等の硬Ｘ線またはγ線を発
する線源ｔの放射窓デから被溶接物ｌに硬Ｘ＃ｉ！また
はγ線（以下照射Ｘ線といつ）／。
を入射し、被溶接物ｌを透過した透過Ｘ線ｌ／をＸ＠Ｔ
Ｖカメラｌコで検出する。１３は透過Ｘ線／ｌの強度分
布を表示するＸ線像表示装置、ｌぐはそのＸ線像である
。この方法について説明すると、電子ビーム溶接中圧は
、被溶接物／の電子ビーム６照射部分に溶は込み深さに
対応する穴りが生じる。そこで、線源ｇから照射ｘｌＩ
Ｊｌｏを被溶接物／Ｖｃ照射し、透過ｘ４Ｉｌｌの強度
分布をＸ線ＴＶカメラ１２で測定すれば、Ｘ＠像表示装
置／３に穴７に対応するＸ線像／４’が得られる。した
がって、Ｘ線儂ｌダの高さｄ′によって溶は込み深さｄ
が測定できるのである。しかし、この方法は。
Ｖカメラｌコで検出する。１３は透過Ｘ線／ｌの強度分
布を表示するＸ線像表示装置、ｌぐはそのＸ線像である
。この方法について説明すると、電子ビーム溶接中圧は
、被溶接物／の電子ビーム６照射部分に溶は込み深さに
対応する穴りが生じる。そこで、線源ｇから照射ｘｌＩ
Ｊｌｏを被溶接物／Ｖｃ照射し、透過ｘ４Ｉｌｌの強度
分布をＸ線ＴＶカメラ１２で測定すれば、Ｘ＠像表示装
置／３に穴７に対応するＸ線像／４’が得られる。した
がって、Ｘ線儂ｌダの高さｄ′によって溶は込み深さｄ
が測定できるのである。しかし、この方法は。
装置が大形、かつ、高価になり、透過能力の高い放射線
を用いるため被曝防御手段が複雑になるなどの欠点があ
った。
を用いるため被曝防御手段が複雑になるなどの欠点があ
った。
この発明は１以上のような従来の欠点を解消するために
なされたもので、比較的簡単な装置を用いて、溶接進行
中でも溶は込み深さを検出できる溶接部溶は込み深さ検
出方法および装置を提供することを目的とするものであ
る。
なされたもので、比較的簡単な装置を用いて、溶接進行
中でも溶は込み深さを検出できる溶接部溶は込み深さ検
出方法および装置を提供することを目的とするものであ
る。
かような目的を達成するためのこの発明は、被溶接物に
形成され所定の溶は込み最深部付近を見通せる小穴また
は間隙でなる放射通路から漏洩する光またはＸ線を検出
する点に主な特徴がある。
形成され所定の溶は込み最深部付近を見通せる小穴また
は間隙でなる放射通路から漏洩する光またはＸ線を検出
する点に主な特徴がある。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第３図において、被溶接物ｌの溶は込み最深部の上部近
傍（以下、溶は込み最深部付近／３という）を外部から
見通せる小穴のごとき放射通路／６を被溶接物／に穿設
し、電子ビーム溶接に伴って溶接部から発する光または
Ｘ線の放射通路／Ａから漏洩する放射線１７を検出する
検出子／１を配置する。検出子ｌざからの検出信号１９
は溶は込み深さ検出回路３５（入力される。
傍（以下、溶は込み最深部付近／３という）を外部から
見通せる小穴のごとき放射通路／６を被溶接物／に穿設
し、電子ビーム溶接に伴って溶接部から発する光または
Ｘ線の放射通路／Ａから漏洩する放射線１７を検出する
検出子／１を配置する。検出子ｌざからの検出信号１９
は溶は込み深さ検出回路３５（入力される。
第ｖ図は検出子７ｇの一実施例を示し、ｐ−１−ｎ光ダ
イオードのごとき検出素子２０の前面に、アルミニウム
箔などでなり、Ｘ線を検出する場合の光および電磁波を
遮断するための遮蔽箔２１を設け、これらを鉛、銅また
は鉄製のフード、２コ内に収納する。コ３は検出素子２
ｏから導出された同軸ケーブルである。光を検出する場
合は、遮蔽箔２１は当然、不要である。
イオードのごとき検出素子２０の前面に、アルミニウム
箔などでなり、Ｘ線を検出する場合の光および電磁波を
遮断するための遮蔽箔２１を設け、これらを鉛、銅また
は鉄製のフード、２コ内に収納する。コ３は検出素子２
ｏから導出された同軸ケーブルである。光を検出する場
合は、遮蔽箔２１は当然、不要である。
第５図は溶は込み深さ検出回路の一実施例であり、前記
検出信号／？の増幅器２ダにコンパレータ２！を接続す
る。２６ａ、コロｂはフリップフロップ回路であり、コ
ンパレータＪ、ｔの出力、溶接開始信号コアおよび溶接
終了信号２にが入力する。フリツプフロツプ回路２Ａａ
、ＪＡｂの出力はアンド回路コデａ、２デｂ、出力バ
ッファ回路ＪＯａ 、３０ｂを経て溶は込み深さ確認の
表示灯３／、溶は込み深さ不良の表示灯３コに接続され
ている。これらの表示灯にはそれぞれ溶は込み深さ確認
信号、溶は込み深さ不良信号の出力端子３３．３ｕが並
列に接続されている。
検出信号／？の増幅器２ダにコンパレータ２！を接続す
る。２６ａ、コロｂはフリップフロップ回路であり、コ
ンパレータＪ、ｔの出力、溶接開始信号コアおよび溶接
終了信号２にが入力する。フリツプフロツプ回路２Ａａ
、ＪＡｂの出力はアンド回路コデａ、２デｂ、出力バ
ッファ回路ＪＯａ 、３０ｂを経て溶は込み深さ確認の
表示灯３／、溶は込み深さ不良の表示灯３コに接続され
ている。これらの表示灯にはそれぞれ溶は込み深さ確認
信号、溶は込み深さ不良信号の出力端子３３．３ｕが並
列に接続されている。
つぎに１以上の装置によるこの１発明の方法および装置
の動作について説明する。
の動作について説明する。
電子ビーム６を被溶接物／に照射すると、照射部分から
Ｘ線、または溶融部から光が発出する。
Ｘ線、または溶融部から光が発出する。
したがって、被溶接物／の溶は込み最深部付近ｔＳを外
部から見通せる放射通路１６を、被溶接物／に穿孔して
設けることにより、光またはｘ、ｉ！などの放射線／７
が放射通路／６を経て外部に漏洩する。この放射線１７
を検出子／ｌで検出することにより、溶は込み深さが放
射通路ｌ乙の位置よりも深いことの確認信号／９が得ら
れる。
部から見通せる放射通路１６を、被溶接物／に穿孔して
設けることにより、光またはｘ、ｉ！などの放射線／７
が放射通路／６を経て外部に漏洩する。この放射線１７
を検出子／ｌで検出することにより、溶は込み深さが放
射通路ｌ乙の位置よりも深いことの確認信号／９が得ら
れる。
以上のことから、検出子Ｉｇは小形かつ指向性の鋏いも
のであることが要求され、検出素子−〇としては、小形
のＰ−ｉ−ｎ光ダイオードが適しており、指向性をもた
せるためフード２−を設ける。
のであることが要求され、検出素子−〇としては、小形
のＰ−ｉ−ｎ光ダイオードが適しており、指向性をもた
せるためフード２−を設ける。
このフードココは光を検出する場合に電磁波の遮蔽効果
も有する。２．２ａは入射口である。
も有する。２．２ａは入射口である。
第Ｓ図の溶は込み深さ検出回路３３は、まず。
ソリツブフロップ回路コＡａ、、ＪＡｂは溶接開始信号
２７によりリセットされる。溶は込み深さが適切である
ことが検出子／ｇにより確認、検出されると、その検出
信号／ｑは増幅器コダにより増幅され、コンパレータ、
２ｊが動作してフリップフロップ回路コＡｂがセットさ
れる。ついで、溶接開始信号コｇがフリップフロップ回
路２Ａａをセットすると、アンド回路コブａに出方信号
が生じ。
２７によりリセットされる。溶は込み深さが適切である
ことが検出子／ｇにより確認、検出されると、その検出
信号／ｑは増幅器コダにより増幅され、コンパレータ、
２ｊが動作してフリップフロップ回路コＡｂがセットさ
れる。ついで、溶接開始信号コｇがフリップフロップ回
路２Ａａをセットすると、アンド回路コブａに出方信号
が生じ。
溶は込み確認表示灯３１を点灯させるとともに、溶は込
み確認信号３３を出す。かくして次の溶接サイクルに移
る。
み確認信号３３を出す。かくして次の溶接サイクルに移
る。
他方、溶は込み深さが十分でなく、検出信号／９が得ら
れない場合は、フリップフロップ回路２６ｂはセットさ
れないので溶接終了信号２ｇがフリップフロップ回路２
ａａ＆セツトすると、アンド回路２９ｂが出力信号を出
し、溶は込み不良表示灯３コを点灯させるとともに、溶
は込み不良信号３グを発生する。
れない場合は、フリップフロップ回路２６ｂはセットさ
れないので溶接終了信号２ｇがフリップフロップ回路２
ａａ＆セツトすると、アンド回路２９ｂが出力信号を出
し、溶は込み不良表示灯３コを点灯させるとともに、溶
は込み不良信号３グを発生する。
なお１以上の実施例では被溶接物ｌの所定の位置に小穴
を穿設して放射通路／６を形成した場合を示したが、第
６図忙示すよう圧波溶接物／ａと／ｂとの間に形成され
る間隙／Ａａを放射通路として利用できる場合もある。
を穿設して放射通路／６を形成した場合を示したが、第
６図忙示すよう圧波溶接物／ａと／ｂとの間に形成され
る間隙／Ａａを放射通路として利用できる場合もある。
また、上記実施例では被溶接物／の溶は込み最深部／！
ｔｉｃ向けて１つの放射通路／６に対して単一の検出子
／ｇを配置したものを示したが、第７図に示すように、
上下ＶＣ２つの放射通路／Ａｂ。
ｔｉｃ向けて１つの放射通路／６に対して単一の検出子
／ｇを配置したものを示したが、第７図に示すように、
上下ＶＣ２つの放射通路／Ａｂ。
／ＡＣがあって、これに一つの検出子ｔｔｂ。
ｌざＣをそれぞれ設けることにより、溶は込み深さが一
定範囲内ＶＣあることを検出することができる。この場
合５溶は込み深さ不足、溶は込み深さ適正、溶は込み深
さ過剰の３つを表示する溶は込み深さ範囲検出回路３３
ａが必要であるが、第５図に示した溶は込み深さ検出回
路と類似の回路で容易に構成することができる。
定範囲内ＶＣあることを検出することができる。この場
合５溶は込み深さ不足、溶は込み深さ適正、溶は込み深
さ過剰の３つを表示する溶は込み深さ範囲検出回路３３
ａが必要であるが、第５図に示した溶は込み深さ検出回
路と類似の回路で容易に構成することができる。
上述したように、この発明は、被溶接物（溶は込み最深
部付近を外部から見通せる放射通路を設け、この放射通
路を経て漏洩する光またはＸ線を検出することにより５
溶は込み深、さが一定値以上であることを検出するよう
忙したので、被溶接物全数の溶は込み深さの検出が溶接
中忙可能であり。
部付近を外部から見通せる放射通路を設け、この放射通
路を経て漏洩する光またはＸ線を検出することにより５
溶は込み深、さが一定値以上であることを検出するよう
忙したので、被溶接物全数の溶は込み深さの検出が溶接
中忙可能であり。
そのうえ、装置が安価にできる効、果がある。
第１図、第２図はそれぞれ従来の方法および装置の構、
成因、第３図はこの発明の一実施例の構成図、第ダ図は
同じく検出子の断面図、第Ｓ図は同じく検出回路結線図
、第６図、第７図は同じくそれぞれ他の実施例の構成図
である。 ／・・被溶接物、コ・・溶接線、６・・電子ビーム １
７・・放射線、／’ｔ・・検出子、／９・・検出信号、
２０・・検出素子、コト・遮蔽箔。 ココ・・フード、２６ａ、コロｂ・・フリップフロップ
回路、コア・・溶接開始信号端子、２ｇ・・溶接終了信
号端子、コ９ａ、コＷｂ・・アンド回路 、３０ａ 、
、７（７ｂ・・出力バツ７ア回路。 ３／、３コ・・表示灯、３３．３Ｖ・・出力信号端子、
Ｊｊ・・溶は込み深さ検出回路、３５ａ・・溶は込み深
さ範囲検出回路。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 宅１図 光３図 梵４図 ｐｆ！、５図 ５！６図 ！ 第７図 手続補正書（自発） 特許庁長官殿 １１（件の表示 特願昭 １？−４ＪｊｄＪ号２
、発明の名称 嬉１１１１ｉ１け込み深さ検出
方法および装置３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
名 称（６０１） 三菱電機株式会社代表者片山仁
八部 ４、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
（１１明細書の特許請求の範囲の欄 （２） 明細書の発明の詳細な説明の欄ム 補正の内
容 （１）「特許請求の範囲」を別紙のとおり補正する。 （２） 明細書筒クベージ第コ行の「発出する」を「
発生する」と補正する。 （別 紙） 特許請求の範囲 （１） 電子ビームによる被溶接物の溶融部の最深部付
近からこの被溶接物の外部に通じる放射通路な経て前記
溶融部から光、Ｘ線などの放射線を漏洩させ、この放射
線を検出′する検出子の出方信号により所期の溶は込み
深さが得られたことを確認することを特徴とする溶接部
溶は込み深さ検出方法。 （２） 放射通路が被溶接物が有する小穴である特＃
！ＦｉＩ！求の範囲１４１項記載の溶接部溶は込み深さ
検出方法。 （３） 被溶接物に小穴を穿設して放射通路とした特
許請求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み深さ検出方法
。 （４）ｌ対の被溶接物間に形成される間隙を放射通路と
した特許請求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み課さ検
出方法。 （５）溶は込み深さ方向に上下に位置するｌ対の放射通
路にそれぞれ検出子を配設する特許請求の範囲第１項記
載の溶接部溶は込み深さ検出方法。 （６） 電子ビームによる被溶接物の溶融部から前記
被溶接物外へ漏洩する光またはＸ線を検出する検出子と
、溶接開始信号でリセットされ溶接終了信号でセットさ
れる第１の７リツプフロツグ回路と、溶接開始信号でリ
セットされ前記検出子の出力信号によりコンパレータを
介してセットされる第２の７リツプフロツプ回路と、前
記第１．第一の７リツプ７０ッグ回路の七ツ）ｋ対応し
てそれぞれ信号を出力する第１、第一のアンド回路と、
この第１１第一のアンド回路の出力信号によってそれぞ
れ溶は込み確認、清は込み不良の信号な出力、表示する
手段を備えてなることを特徴とする溶接部溶は込み深さ
検出装置。
成因、第３図はこの発明の一実施例の構成図、第ダ図は
同じく検出子の断面図、第Ｓ図は同じく検出回路結線図
、第６図、第７図は同じくそれぞれ他の実施例の構成図
である。 ／・・被溶接物、コ・・溶接線、６・・電子ビーム １
７・・放射線、／’ｔ・・検出子、／９・・検出信号、
２０・・検出素子、コト・遮蔽箔。 ココ・・フード、２６ａ、コロｂ・・フリップフロップ
回路、コア・・溶接開始信号端子、２ｇ・・溶接終了信
号端子、コ９ａ、コＷｂ・・アンド回路 、３０ａ 、
、７（７ｂ・・出力バツ７ア回路。 ３／、３コ・・表示灯、３３．３Ｖ・・出力信号端子、
Ｊｊ・・溶は込み深さ検出回路、３５ａ・・溶は込み深
さ範囲検出回路。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 宅１図 光３図 梵４図 ｐｆ！、５図 ５！６図 ！ 第７図 手続補正書（自発） 特許庁長官殿 １１（件の表示 特願昭 １？−４ＪｊｄＪ号２
、発明の名称 嬉１１１１ｉ１け込み深さ検出
方法および装置３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
名 称（６０１） 三菱電機株式会社代表者片山仁
八部 ４、代理人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
（１１明細書の特許請求の範囲の欄 （２） 明細書の発明の詳細な説明の欄ム 補正の内
容 （１）「特許請求の範囲」を別紙のとおり補正する。 （２） 明細書筒クベージ第コ行の「発出する」を「
発生する」と補正する。 （別 紙） 特許請求の範囲 （１） 電子ビームによる被溶接物の溶融部の最深部付
近からこの被溶接物の外部に通じる放射通路な経て前記
溶融部から光、Ｘ線などの放射線を漏洩させ、この放射
線を検出′する検出子の出方信号により所期の溶は込み
深さが得られたことを確認することを特徴とする溶接部
溶は込み深さ検出方法。 （２） 放射通路が被溶接物が有する小穴である特＃
！ＦｉＩ！求の範囲１４１項記載の溶接部溶は込み深さ
検出方法。 （３） 被溶接物に小穴を穿設して放射通路とした特
許請求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み深さ検出方法
。 （４）ｌ対の被溶接物間に形成される間隙を放射通路と
した特許請求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み課さ検
出方法。 （５）溶は込み深さ方向に上下に位置するｌ対の放射通
路にそれぞれ検出子を配設する特許請求の範囲第１項記
載の溶接部溶は込み深さ検出方法。 （６） 電子ビームによる被溶接物の溶融部から前記
被溶接物外へ漏洩する光またはＸ線を検出する検出子と
、溶接開始信号でリセットされ溶接終了信号でセットさ
れる第１の７リツプフロツグ回路と、溶接開始信号でリ
セットされ前記検出子の出力信号によりコンパレータを
介してセットされる第２の７リツプフロツプ回路と、前
記第１．第一の７リツプ７０ッグ回路の七ツ）ｋ対応し
てそれぞれ信号を出力する第１、第一のアンド回路と、
この第１１第一のアンド回路の出力信号によってそれぞ
れ溶は込み確認、清は込み不良の信号な出力、表示する
手段を備えてなることを特徴とする溶接部溶は込み深さ
検出装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）電子ビーム（よる被溶接物の溶融部の最深部付近
からこの被溶接物の外部忙通じる放射通路を経て前記溶
融部から光、Ｘ線などの放射線を漏洩させ、この放射線
を検出する検出子の出力信号により所期の溶は込み深さ
が得られたことを確認することを特徴とする溶接部溶は
込み深さ検出方（コ）放射通路が被溶接物が有する小穴
である特許請求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み深さ
検出方法。 （３）被溶接物に小穴を穿設して放射通路とした特許請
求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み深さ検出方法。 （ｙ） ｌ対の被溶接物間に形成される間隙を放射通
路とした特許請求の範囲第１項記載の溶接部溶は込み深
さ検出方法。 （ｊ） 溶は込み深さ方向忙上下に位置する／対の放
射通路にそれぞれ検出子を配設する特許請求の範囲第１
項記載の溶接部溶は込み深さ検出方法。 （６）溶接中に溶は込み深さ検出を行う特許請求の範囲
第１項記載の溶接部溶は込み深さ検出方法。 （７）電子ビームによる筆法接物の溶融部から前記被溶
接物外へ漏洩する光またはＸ線を検出する検出子と、溶
接開始信号でリセットされ溶接終了信号でセットされる
第１のフリップフロップ回路と、溶接開始信号でリセッ
トされ前記検出子の出力信号によりコンパレータを介し
てセットされる第λのフリップフロップ回路と、前記第
１．第コのフリップフロップ回路のセットに対応してそ
れぞれ信号を出力する第１．第コのアンド回路と、この
第１．第コのアンド回路の出力信号によってそれぞれ溶
は込み確認、溶は込み不良の信号を出力１表示する手段
を備えてなることを特徴とする溶接部溶は込み深さ検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6350282A JPS58179577A (ja) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | 溶接部溶け込み深さ検出方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6350282A JPS58179577A (ja) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | 溶接部溶け込み深さ検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58179577A true JPS58179577A (ja) | 1983-10-20 |
| JPH0367793B2 JPH0367793B2 (ja) | 1991-10-24 |
Family
ID=13231066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6350282A Granted JPS58179577A (ja) | 1982-04-14 | 1982-04-14 | 溶接部溶け込み深さ検出方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58179577A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5249727A (en) * | 1992-12-21 | 1993-10-05 | United Technologies Corporation | Weld penetration depth inspection |
-
1982
- 1982-04-14 JP JP6350282A patent/JPS58179577A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5249727A (en) * | 1992-12-21 | 1993-10-05 | United Technologies Corporation | Weld penetration depth inspection |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0367793B2 (ja) | 1991-10-24 |
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