JPS58170555U - 質量分析計 - Google Patents

質量分析計

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JPS58170555U
JPS58170555U JP6809282U JP6809282U JPS58170555U JP S58170555 U JPS58170555 U JP S58170555U JP 6809282 U JP6809282 U JP 6809282U JP 6809282 U JP6809282 U JP 6809282U JP S58170555 U JPS58170555 U JP S58170555U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass spectrometer
secondary electron
electron multiplier
multiplier tube
mass
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Pending
Application number
JP6809282U
Other languages
English (en)
Inventor
高橋　貞夫
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Publication date
Application filed by 株式会社日立製作所 filed Critical 株式会社日立製作所
Priority to JP6809282U priority Critical patent/JPS58170555U/ja
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  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の実施例説明図、第２図は本考案による
データの変化図をを示す。 ８・・・信号制御装置、９・・・２次電子増倍管制御装
・置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 二次電子増倍管及びそれに供給する電圧を制御する二次
    電子増倍管制御装置を備えた質量分析計において、該二
    次電子増倍管の印加電圧を、目的質量範囲と他の質量範
    囲の間で切換変化する手段を設けた事を特徴とする質量
    分析計。
JP6809282U 1982-05-12 1982-05-12 質量分析計 Pending JPS58170555U (ja)

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JP6809282U JPS58170555U (ja) 1982-05-12 1982-05-12 質量分析計

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6809282U JPS58170555U (ja) 1982-05-12 1982-05-12 質量分析計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58170555U true JPS58170555U (ja) 1983-11-14

Family

ID=30077888

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6809282U Pending JPS58170555U (ja) 1982-05-12 1982-05-12 質量分析計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58170555U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61170652A (ja) * 1985-01-25 1986-08-01 Hitachi Ltd 質量分析法
JP2020092005A (ja) * 2018-12-05 2020-06-11 株式会社島津製作所 イオントラップ質量分析装置およびイオントラップ質量分析方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61170652A (ja) * 1985-01-25 1986-08-01 Hitachi Ltd 質量分析法
JP2020092005A (ja) * 2018-12-05 2020-06-11 株式会社島津製作所 イオントラップ質量分析装置およびイオントラップ質量分析方法

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