JPS58166447A - 擬似乱数発生方法 - Google Patents

擬似乱数発生方法

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Publication number
JPS58166447A
JPS58166447A JP57048682A JP4868282A JPS58166447A JP S58166447 A JPS58166447 A JP S58166447A JP 57048682 A JP57048682 A JP 57048682A JP 4868282 A JP4868282 A JP 4868282A JP S58166447 A JPS58166447 A JP S58166447A
Authority
JP
Japan
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bits
pseudo
bit
millisecond
addresses
Prior art date
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Pending
Application number
JP57048682A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinya Hasegawa
晋也 長谷川
Katsumi Mori
克巳 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS58166447A publication Critical patent/JPS58166447A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F7/00Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
    • G06F7/58Random or pseudo-random number generators
    • G06F7/588Random number generators, i.e. based on natural stochastic processes

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  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、放射線を検出することにより擬似乱数を発生
させる方法に関するものである。
一般に、擬似乱数を発生させるには、合同法などにより
、計算機を用い、演算を行なって擬似乱数を発生させて
いる。
このように計算機を用いた演算による場合は、演算に用
いる初期値、係数の値によって、周期性、偏りなどの点
で十分な乱数が得られなくなるという問題がある。
本発明は前記間園点を購消するもので、P#Aw4の長
い、偏りの小さい擬似乱数を発生させる方法を提供する
ものであり、放射性物質から出る放射線を半導体素子集
積デ〉くイスにより検出し、一定時間内に放射線により
変化を生じた素子の位置を検知することにより、擬似乱
数を゛発−生ずるようにしたことを特徴とするものであ
る。
以下、本発明の実施例を図面によって詳細に説明する。
図は、本発明の一実施例を示す構成図である。
すなわち、1ミリキユーりの放射性元素ウラン1から放
射されたアルファ1iI2を、放射性元素ウラン1から
10−離れ面積を30■宜とした64000ビツトのR
AM3の1ビツト中に進入させる。最初、全てのRAM
 5のビットを“Cに設定しておくと、アルファ線2の
進入したビットのみが“1“の状態になる。1tり秒の
間におよそ9ビツトが“1″の状態になる。アルファ@
2は等方的に放射されるため“1“になったビットの間
および“1“とな ったビットと“0“のままのビット
との間に関係がなく、どのビットが“1“又は“0“の
状態になるかは全くランダムである。1ミリ秒ごとにデ
コーダ4によす、RAM5の“イ′になったビットのア
ドレス及び、//、f/のままのビットのアドレスを検
知する。デコーダ4の出力に基いて論理回路5により、
64000桁の2進数のコ′1“になったビットのアド
レスに対応する桁位置を71“としご/d/のままのビ
ットのアドレスに対応する桁位置を0“とする。次にR
AM5σJ全ビア)を再び 0 に設定して上記の動作
をくりかえすことにより、1ミリ秒ごとに64000桁
の2進数の擬似乱数列6を発生する。
以上の説明において、説明を具体化するたyrに、放射
性物質、放射線検出デバイス及び検知時間間隔を特定し
たが、本発明はこれらのものに限定されるものではない
。放射性物質としては他に、例えばトリウム、ラジウム
、ラドン、アクチニウム、ネプツニウムなども使用でき
、放射線検出デバイスとしては他に、例えばC’CDな
ども使用できる。
以上のように、本発明は放射性物質から出る放Mqhに
より変化を生じた素子の位置、特に一定時間内に生ずる
素子の位置を検知して擬似M、数を発生するようにした
ので、ランダム性がより高まり、実警的に周期性、偏り
のない擬似乱数を発生させることかできる効果を有する
ものである。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の一実施例を示す構成図である。 図におい又、 1・・°放射性ル素ウラン 2・・・アルファ線3・・
64000ビツトのRAM  4・・・デコーダ5・・
・−理回路 6・・・麺似乱数列特許出1人   H本
電気株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放射性物質から出る放射線を半導体素子集積デバ
    イスにより検出し、一定時間内に放射線により変化を生
    じた素子の位置を検知することにより擬似乱数を発生さ
    せることを特徴とする麺似′liJ数発生方法。
JP57048682A 1982-03-26 1982-03-26 擬似乱数発生方法 Pending JPS58166447A (ja)

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JPS58166447A true JPS58166447A (ja) 1983-10-01

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