JPS58158512A - 被膜厚測定法 - Google Patents

被膜厚測定法

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Publication number
JPS58158512A
JPS58158512A JP4015482A JP4015482A JPS58158512A JP S58158512 A JPS58158512 A JP S58158512A JP 4015482 A JP4015482 A JP 4015482A JP 4015482 A JP4015482 A JP 4015482A JP S58158512 A JPS58158512 A JP S58158512A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thickness
film
sum
coating
reflected wave
Prior art date
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Pending
Application number
JP4015482A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Kuwamoto
桑本　和博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SWCC Corp
Original Assignee
Showa Electric Wire and Cable Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Showa Electric Wire and Cable Co filed Critical Showa Electric Wire and Cable Co
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Publication of JPS58158512A publication Critical patent/JPS58158512A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness
    • G01B17/025—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness for measuring thickness of coating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超ｆ波により被膜厚さを測定する被膜厚測定法
１で係る。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来、被膜厚を測定する手段として、外径まＴこは厚さ
と内存ま’ｙ＝は内厚をノギス等により測定しそＪｌら
の差から被膜厚を求めるものがあるが、この手段によっ
たのでは平均板膜厚を求められるに過ぎない，、：ｐ　
７．：：、この手段によってはオンラインの測定を行う
ことはできない．。
オンラインで被膜厚を測定する手段としては、超音波を
利用するものがあろ１，この手段では、送受波面を被測
定物表面に正対させ定超音波送受汲器から、超音波パル
スを被測定物に投射し、被膜表面におけろ反射波の超音
波送受波ｌｇへの入来時刻と、被膜と母材の界面におけ
る反射波の入来時刻との時間差から被膜厚を求める。こ
の手段によつムニのでは、被膜厚がｋ）る太さより小と
なつ１，二時前記２つの反射波の識別が困難となり、被
膜厚の正確な測定は不可能である。
〔発明の目的〕
本発明は一４二記の事情に基きなされＴこもので、オン
ライン測定が可能な超音波による測定法であって、しか
も膜厚が小さい場合でも膜厚を正確に求め得る被嘆厚泪
ｌ１定法を得ろことを［目的としている。
〔発明の概要〕
本発明においては、被膜表面における反射波の入来時刻
と、母材の前記被膜（ＩＣ．ｉＴ対する反対ｉ１４１１
の界面における反射波の入来時刻との時間差から、母材
直径または厚さと被膜一層の厚さとの和を求め、これか
ら仙の任意周知の手段によシ得ｒ、＝ｆＢ材直径ま１こ
は厚さを差引いて、前記被膜の膜厚を求めるようにして
前記目的を達成している。
〔発明の実施例〕
図において、超音波送受波器１は、その送受波面１ａを
被測定物２の被膜２ａを施されに面と平行にして設置さ
れている。なお、図中、２１）は被測定物の母材を示し
ている。
超音波送受波器１から発射されに超音波パルスは、被膜
２ａ表面におけろ一次反射波、その被膜と母材２１〕と
の界面における二次反射波、反対側の界面における三次
反射波を生じる。それらの超音波送受波器１に対する入
来時刻をｔｌ、　ｔ２．　ｔ３とする。被膜２ａが薄い
場合、前記したように１１、　１２はきわめて接近して
おり、これによったのでは正確な膜厚が得られないこと
は前記しに通りである。
本発明においては、光分な大きさを示す時刻ｔ１とｔ３
との時間差から母材２ｂの寸法Ｕと膜厚を加えた寸法Ｔ
を求めろ。
この値から他の任意周知の手段で求めｒ、＝ｆＢ材寸法
Ｕを差引けば、被膜厚を得ることができろ。
〔発明の効果〕
上記から明らかなように、本発明によれば、膜厚が小さ
い場合であっても、オンラインで被膜厚を正確に測定す
ることができるので、例えばエナメル線製造工程におけ
ろ品質管理等に有効に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明一実施例の模式図である。 ］・・・超音波送受波器、　　２・・・被測定物、２ａ
・・・被膜、　　　　２ｂ・・・母　　材。 出願代理人　弁理士　菊　池　九　部 間　山田明信

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定物に超音波パルスを投射し、被膜表面における反
    射ｔとその反対側１の−ｍ＃界面における反射波との検
    量時間差から、角材寸法と被、眸一層の厚さとの和を求
    め、この和から他の任意周知の手段により得ｆこ角材可
    法を差引いて、Ｈか厚を求めることを特徴とする被膜〃
    測定法。
JP4015482A 1982-03-16 1982-03-16 被膜厚測定法 Pending JPS58158512A (ja)

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