JPS58158372U - 半導体装置の測定治具 - Google Patents

半導体装置の測定治具

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Publication number
JPS58158372U
JPS58158372U JP5662382U JP5662382U JPS58158372U JP S58158372 U JPS58158372 U JP S58158372U JP 5662382 U JP5662382 U JP 5662382U JP 5662382 U JP5662382 U JP 5662382U JP S58158372 U JPS58158372 U JP S58158372U
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JP
Japan
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semiconductor device
measurement jig
device measurement
jig
measuring
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Pending
Application number
JP5662382U
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English (en)
Inventor
高明 阿部
順一 鈴木
Original Assignee
日本電気株式会社
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Publication date
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来の測定治具を示す断面図、第2図は本考案
の実施例を示す測定治具の断面図、第3図は本考案の測
定治具の全体図である。 1・・・ブロック、2′・・・板、3・・・接触子(差
込部)。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体装置を差込んで電気的特性を測定する測定治具に
    おいて、ブ爾ツクに基数の半導体装置用差込部を設け、
    各差込部に熱伝導が良くかつバネ゛ 性を有する板を取
    付けたことを特徴とする半導体装置の測定治具。
JP5662382U 1982-04-19 1982-04-19 半導体装置の測定治具 Pending JPS58158372U (ja)

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JP5662382U JPS58158372U (ja) 1982-04-19 1982-04-19 半導体装置の測定治具

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JP5662382U JPS58158372U (ja) 1982-04-19 1982-04-19 半導体装置の測定治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58158372U true JPS58158372U (ja) 1983-10-22

Family

ID=30067139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5662382U Pending JPS58158372U (ja) 1982-04-19 1982-04-19 半導体装置の測定治具

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JP (1) JPS58158372U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01124580U (ja) * 1988-02-17 1989-08-24

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