JPS58153179A - 比抵抗測定法 - Google Patents
比抵抗測定法Info
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- JPS58153179A JPS58153179A JP3521882A JP3521882A JPS58153179A JP S58153179 A JPS58153179 A JP S58153179A JP 3521882 A JP3521882 A JP 3521882A JP 3521882 A JP3521882 A JP 3521882A JP S58153179 A JPS58153179 A JP S58153179A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、金属等の比抵抗を測定する方法に関するもの
である。
である。
従来、金縛等の比抵抗を測定するには、ｊｌｉ１図に示
すような４１１ｉｌｉ！子法が採られてきた。即ち、１
度と磁界とを一定にできるような雰囲気ｌ中に、金属等
の試料２倉入れ、これ（電流リード３１゜３１を接続し
て外部から試料２中に電流ｔ−訛丁。
すような４１１ｉｌｉ！子法が採られてきた。即ち、１
度と磁界とを一定にできるような雰囲気ｌ中に、金属等
の試料２倉入れ、これ（電流リード３１゜３１を接続し
て外部から試料２中に電流ｔ−訛丁。
前記電流リード３１．３−の間にある試料２に電圧端子
４．．４−を接続し、この電圧端子４．。
４．．４−を接続し、この電圧端子４．。
４ｋにかかる電圧を測定することから、比抵抗を計算し
てい友。
てい友。
しかし、上記の４４子法では、少なくとも電圧端子４−
．４ｂ間の距離を正確にｌる必費があり、測定種度の点
で電点があシ、また、試料２と蝦訛り一ド接続部の発熱
による試料温度が上昇して、特に温度によって抵抗の変
化が着しい試料においては測定種度を感化させる欠点が
めった。爽に、試料２の材料によっては、電流リード３
−．３ｂと電圧端子４．．４ｂＯ１ｉ１絖が回部で−ｊ
建ができない場合も６つ九。
．４ｂ間の距離を正確にｌる必費があり、測定種度の点
で電点があシ、また、試料２と蝦訛り一ド接続部の発熱
による試料温度が上昇して、特に温度によって抵抗の変
化が着しい試料においては測定種度を感化させる欠点が
めった。爽に、試料２の材料によっては、電流リード３
−．３ｂと電圧端子４．．４ｂＯ１ｉ１絖が回部で−ｊ
建ができない場合も６つ九。
実験準備上にも従来の４端子法にはいろいろと問題が６
９、例えば、試料２の成形は電源の電流容量、測定器感
度及び試料の抵抗値を４纏して行なわなければならず、
また、試料組立には半田付は等０＠一作東を必要とする
等の手間がかかる欠点が６つ九。
９、例えば、試料２の成形は電源の電流容量、測定器感
度及び試料の抵抗値を４纏して行なわなければならず、
また、試料組立には半田付は等０＠一作東を必要とする
等の手間がかかる欠点が６つ九。
その上、試料２が１４檀智質からできた１Ｎ合体で、臀
にＩＩＩＩＫＪＩＩ成され友複合体の場合は、有効な比
抵抗を計ることが前記４端子法ではほとんど不可能で６
つ九０例えば、１ｓ２図に示す如く、縞ｌの物’［２Ａ
中に粒状の１８２の物質２Ｂが散在して試料２を構成す
る場合とか、第３図に示す如く、第１ＯＱＩＩ質２人中
に繊纏状）第２０１１１１質２ｔｌ散在する場合等が等
げられる。籍に、＃Ｉ２図の場合、ＩＩＩＩｌｏ吻質２
ＡＯ地質２ＡＯ比抵抗には、この第１の物質２Ａのみの
比抵抗しか従来の４僧点法では一定で礁ないことになる
欠点が６つえ。
にＩＩＩＩＫＪＩＩ成され友複合体の場合は、有効な比
抵抗を計ることが前記４端子法ではほとんど不可能で６
つ九０例えば、１ｓ２図に示す如く、縞ｌの物’［２Ａ
中に粒状の１８２の物質２Ｂが散在して試料２を構成す
る場合とか、第３図に示す如く、第１ＯＱＩＩ質２人中
に繊纏状）第２０１１１１質２ｔｌ散在する場合等が等
げられる。籍に、＃Ｉ２図の場合、ＩＩＩＩｌｏ吻質２
ＡＯ地質２ＡＯ比抵抗には、この第１の物質２Ａのみの
比抵抗しか従来の４僧点法では一定で礁ないことになる
欠点が６つえ。
本発明の目的は、上記の欠点を１＃消し、測定時間を短
−し、一定ＩＷＩＩＩＬに優れ且つ値測定材料の棟餉を
広けた比抵抗一定法を提供することにある。
−し、一定ＩＷＩＩＩＬに優れ且つ値測定材料の棟餉を
広けた比抵抗一定法を提供することにある。
本発明は、外部磁界印加用ＩＥ磁石中に、２個のコイル
を配設し、これらのコイルと外部抵抗とで、ブリッジ−
路に組み、この内の一方のコイル内に比抵抗測定試料を
挿入し、外部磁界を急変させることによって試料内にｉ
ｌｌ起される渦電流の諷其時定数を一定し、この減誠時
建数から被１１１ｊ定試料の比抵抗を求めることにより
、上記目的に４成する。
を配設し、これらのコイルと外部抵抗とで、ブリッジ−
路に組み、この内の一方のコイル内に比抵抗測定試料を
挿入し、外部磁界を急変させることによって試料内にｉ
ｌｌ起される渦電流の諷其時定数を一定し、この減誠時
建数から被１１１ｊ定試料の比抵抗を求めることにより
、上記目的に４成する。
次に本発明の原塩を実施例に入る前に１１！明する。
比抵抗と渦電流の減員時定数との関係は、拡散刀根式を
解くことによって導出することができる。
解くことによって導出することができる。
ここではその概略を説明し結論のみを述べることに止め
る。
る。
境界条件初期条件として、試料は牛礁几の円筒（長さは
無限長）上で、この軸方向に平行に直流磁界Ｂ、ｔ−印
加し、試料中に磁界が良く侵透するように時間をかけた
後、外部磁界発生コイルの許す範囲でこの磁界を遮断し
零とする。なお、この遮断時間の長さの影響については
実施例のところで恢述する。この時点から試料内に渦電
流が４起され、試料中の磁束を逃がさない方向に―亀ｔ
ＩＬは流れ続けようとする。しかし、試料の抵抗のため
渦電流は徐々に滅貢しぐ磁束は試料中ｆ：拡畝し外部空
間に逃け、磁界に苓に近づく。仏敏刀根式は時開Ｉｔ、
弧ＩＩＩｋ係数をＤ−７１／μ、（ρは試料の比抵抗、
μ・はに科の透磁率を七ｎぞれ示す少とすれば、 Ｂ −−ＤＶ” Ｂ ・、、 （１）
ｄｔ と衆わ丁ことがで龜る。これを円ｍ扇儂糸（ｒ。
無限長）上で、この軸方向に平行に直流磁界Ｂ、ｔ−印
加し、試料中に磁界が良く侵透するように時間をかけた
後、外部磁界発生コイルの許す範囲でこの磁界を遮断し
零とする。なお、この遮断時間の長さの影響については
実施例のところで恢述する。この時点から試料内に渦電
流が４起され、試料中の磁束を逃がさない方向に―亀ｔ
ＩＬは流れ続けようとする。しかし、試料の抵抗のため
渦電流は徐々に滅貢しぐ磁束は試料中ｆ：拡畝し外部空
間に逃け、磁界に苓に近づく。仏敏刀根式は時開Ｉｔ、
弧ＩＩＩｋ係数をＤ−７１／μ、（ρは試料の比抵抗、
μ・はに科の透磁率を七ｎぞれ示す少とすれば、 Ｂ −−ＤＶ” Ｂ ・、、 （１）
ｄｔ と衆わ丁ことがで龜る。これを円ｍ扇儂糸（ｒ。
＃、Ｚ；Ｂ＃−Ｂ、−０．Ｂ、ＮＬで示−に？ｆｆ、ｄ
Ｂ藝 ｌ ｄ１３． ｄ暑
Ｂ。
Ｂ藝 ｌ ｄ１３． ｄ暑
Ｂ。
ｄｔ ””ｒ ｄｒ ” ａｒ” ’・・・（２）
となる、このｍをＢ、（ｒ、リ−ｆ（ｒ）、ｅｘｐ（−
Ａｔ）とおけば、９開成分に関し で表わされるベッセルの値分方機武ｔ１１１Ｉす。従っ
て、１１Ｊ４Ｏ檎昇及び初期条件を調すように（３）式
をＳけば、欺縛的に一紋解は ル＠数で、畠、は０久ペンセ″ルー数の根である。
となる、このｍをＢ、（ｒ、リ−ｆ（ｒ）、ｅｘｐ（−
Ａｔ）とおけば、９開成分に関し で表わされるベッセルの値分方機武ｔ１１１Ｉす。従っ
て、１１Ｊ４Ｏ檎昇及び初期条件を調すように（３）式
をＳけば、欺縛的に一紋解は ル＠数で、畠、は０久ペンセ″ルー数の根である。
我々のほしい減衰時足数は積分機にはほとんど無関係で
積分以外の積で表わされる。即ち、ｂｍの時間変化は無
数のモードのムね曾わせて表わされる。ａ、はｎが大き
くなる樵大きくなり、拡畝の初期はその重ね奮わせの効
果が見られるが、十分時間が一過するとａｍによっての
み機わされるｊｌｌ数関畝に漸近する解で表わすことが
できる。ｊ４Ｉ’ｂ、外部磁界のＪｌｌｉ畿、十分時間
が経通してからＢ。
積分以外の積で表わされる。即ち、ｂｍの時間変化は無
数のモードのムね曾わせて表わされる。ａ、はｎが大き
くなる樵大きくなり、拡畝の初期はその重ね奮わせの効
果が見られるが、十分時間が一過するとａｍによっての
み機わされるｊｌｌ数関畝に漸近する解で表わすことが
できる。ｊ４Ｉ’ｂ、外部磁界のＪｌｌｉ畿、十分時間
が経通してからＢ。
を蛾側すればその変化は、
ａ。
Ｂ＝（Ｂｍ） ｅｘｐ（−Ｄ（−）”ｔ） ・・
・（５）ｎ″４ Ｂ で近似される。しかも、この時間帝の減１１時定畝ｌ′
は、 と表わすことができ、即ち、目的の関係式を得る。
・（５）ｎ″４ Ｂ で近似される。しかも、この時間帝の減１１時定畝ｌ′
は、 と表わすことができ、即ち、目的の関係式を得る。
上記１１に実験的に測定するには、試料にビックアンプ
コイルを巻付けておくだけで十分である。
コイルを巻付けておくだけで十分である。
試料から逃げ出す磁束がこのピンクアップコイルを横切
る時に、この両噛子に電圧を酵起するので、この電圧の
時間変化を綱渕すればその変化ρ為ら時定数を累めるこ
とがで寝る。ピンクアンプコイルの巷ＩＩｘを士分大書
くしておけは、かなシ小さな試料片でも、増幅器なしで
このＴを求めることができる。
る時に、この両噛子に電圧を酵起するので、この電圧の
時間変化を綱渕すればその変化ρ為ら時定数を累めるこ
とがで寝る。ピンクアンプコイルの巷ＩＩｘを士分大書
くしておけは、かなシ小さな試料片でも、増幅器なしで
このＴを求めることができる。
即ち、本発明では、試料の外部から直接電流を印加しな
くても＃４１１ＩＥ訛の形で電流を４起させ、まえ、Ｋ
科に緩続し九端子電圧を針る代わシに４起され九−電流
のｇｍ時定ａｌ’を針ることによって、その比抵抗７１
ｋ（６）式に従ってｎＩ置良く求めることがで龜る。こ
の丸め、試料に対し＃ｌ接触魚媛続でその比抵抗を計る
ことができるので、試料の成形。
くても＃４１１ＩＥ訛の形で電流を４起させ、まえ、Ｋ
科に緩続し九端子電圧を針る代わシに４起され九−電流
のｇｍ時定ａｌ’を針ることによって、その比抵抗７１
ｋ（６）式に従ってｎＩ置良く求めることがで龜る。こ
の丸め、試料に対し＃ｌ接触魚媛続でその比抵抗を計る
ことができるので、試料の成形。
試料の取付け、試料の峨誉及び試料の材質等に煩わされ
ることがなく、＊ｍｘ材料の種類を広げ、且つ固定時間
を短−することができる。
ることがなく、＊ｍｘ材料の種類を広げ、且つ固定時間
を短−することができる。
以下本発明の４夷Ｊ１１１ｉＩｉを従来例と同部品は同
符号を用いて一面に従って説明する。
符号を用いて一面に従って説明する。
ＪｉｌＩｓＩｌｉＯは本発明の比抵抗ｌ１ｌＩＪ足法の
一実施例を説明する図でめる。磁界又は亀匿、もしくは
その両省ｔｆＲえられるような蓼囲気ｌ中に、円筒状の
叢勅ａ昇印加用コイル５が配置されている。この変５ｉ
ｔｓ界印加用コイル５内ｓＫは、ピンクアップコイル６
．７が配置され、ピンクアップコイル６内には区Ｊｐ＃
２が挿入されている。なお、叢励蝿岸印加用コイル５に
はコイルの口出し＠５−、５ｂが引出され、同様にビッ
クアンプコイル６及び７にも、それぞれコイルの口出し
巌６−．６ｂ及び１−．７ｈが引出されている。
一実施例を説明する図でめる。磁界又は亀匿、もしくは
その両省ｔｆＲえられるような蓼囲気ｌ中に、円筒状の
叢勅ａ昇印加用コイル５が配置されている。この変５ｉ
ｔｓ界印加用コイル５内ｓＫは、ピンクアップコイル６
．７が配置され、ピンクアップコイル６内には区Ｊｐ＃
２が挿入されている。なお、叢励蝿岸印加用コイル５に
はコイルの口出し＠５−、５ｂが引出され、同様にビッ
クアンプコイル６及び７にも、それぞれコイルの口出し
巌６−．６ｂ及び１−．７ｈが引出されている。
上記変動磁界印加用コイル５は、発生する磁界の大きさ
は小さくても良いが、ピックアップコイル６．７が置か
れる空間においては、比叡的す−な磁界を発生させられ
ることが望ましい。史に、変１ｌＩｌ＋磁界のピーク値
が０．１秒から０．５秒機展で、且つ、遮断時間が短い
ことが、この纏１１ｒ＃間は通常０．５〜１秒程でめれ
ば十分でるる。また、前記の磁界のＪｉｊ−［はピンク
アップコイルの示める髪関でｌＸｌ０−”１１１ｍであ
れば良い。通常、ピックアップコイル６．７はφ５０μ
ｍのエナメルＡｌｌ！ｌ縁＃１線を直径５ＸＩ Ｑｍｍ
、長さｌＯ〜１５ｔｎｍの絶縁物製ボビンに５０００〜
１００００タ一／楊畳いて作っておけば、かなシ小さな
１ｇ１ｃ科に対しても特別な増幅器を必要とすることが
ない測定ＩｔＡＭｔｔ−庸する。なお、ピンクアンプコ
イルを２儂用意した理由は、＊４Ｌ九変ｉ＋ｕｉ界印加
用コイル５の遮断時間の影響を打ち消す丸めでめる。こ
の理由を第９５−に健って説明する。
は小さくても良いが、ピックアップコイル６．７が置か
れる空間においては、比叡的す−な磁界を発生させられ
ることが望ましい。史に、変１ｌＩｌ＋磁界のピーク値
が０．１秒から０．５秒機展で、且つ、遮断時間が短い
ことが、この纏１１ｒ＃間は通常０．５〜１秒程でめれ
ば十分でるる。また、前記の磁界のＪｉｊ−［はピンク
アップコイルの示める髪関でｌＸｌ０−”１１１ｍであ
れば良い。通常、ピックアップコイル６．７はφ５０μ
ｍのエナメルＡｌｌ！ｌ縁＃１線を直径５ＸＩ Ｑｍｍ
、長さｌＯ〜１５ｔｎｍの絶縁物製ボビンに５０００〜
１００００タ一／楊畳いて作っておけば、かなシ小さな
１ｇ１ｃ科に対しても特別な増幅器を必要とすることが
ない測定ＩｔＡＭｔｔ−庸する。なお、ピンクアンプコ
イルを２儂用意した理由は、＊４Ｌ九変ｉ＋ｕｉ界印加
用コイル５の遮断時間の影響を打ち消す丸めでめる。こ
の理由を第９５−に健って説明する。
ピンクアンプコイル６と７は直列に振続され、同−畳方
向に口出し縁６．が可変抵抗体８を介して口出し＊ ７
ｂとが優絖さｎ１筐九、口出し線７、と口出し−６１
とが直ａｌｌ！続されている。可変抵抗体８の中点と、
前記口出し＠ ７ 、、と６−との！ＩｋＩＩＲ点には
端子９．，９ｂが形岑壜れ、この端子から出力をとれる
ようなブリッジ回路が形成されている。
向に口出し縁６．が可変抵抗体８を介して口出し＊ ７
ｂとが優絖さｎ１筐九、口出し線７、と口出し−６１
とが直ａｌｌ！続されている。可変抵抗体８の中点と、
前記口出し＠ ７ 、、と６−との！ＩｋＩＩＲ点には
端子９．，９ｂが形岑壜れ、この端子から出力をとれる
ようなブリッジ回路が形成されている。
予め、試料２１ピツクアンプコイル６内に挿入しない状
−で、変ｌｌｌ１磁界印加用コイル５の励磁と４新を繰
返し、前記出力端子９−．９ｂに電圧が発生しないよう
に可変抵抗体８ｆ：１ｌＩｌ！Ｉシておく。
−で、変ｌｌｌ１磁界印加用コイル５の励磁と４新を繰
返し、前記出力端子９−．９ｂに電圧が発生しないよう
に可変抵抗体８ｆ：１ｌＩｌ！Ｉシておく。
このようなバランスのとれた状悪では、外部磁界がどん
なパターンで変化しようとも端子９．。
なパターンで変化しようとも端子９．。
９ｂには出力が出ないことになり、変動４ａ界印加用コ
イル５の１新時間の大きさによる影響は完全に打ち消さ
れることになる。このｇ＊が完了した彼、ピックアップ
コイル６に試料２を挿入し、変動磁界印加用コイル５を
励磁しｉｉｌ断すれば、試料２に発生する目的の一電流
の＠良のみによる電比信号を端子９．．９−から取出す
ことがで自る。
イル５の１新時間の大きさによる影響は完全に打ち消さ
れることになる。このｇ＊が完了した彼、ピックアップ
コイル６に試料２を挿入し、変動磁界印加用コイル５を
励磁しｉｉｌ断すれば、試料２に発生する目的の一電流
の＠良のみによる電比信号を端子９．．９−から取出す
ことがで自る。
変動磁界印加用コイル５によ＃）発生δせる外部印加磁
界を急速ＫＪｌ断することにより、試料２に４起される
一電滝は確かに物質内に遍在するか、この渦１Ｌ滝の減
滅の時定数を観−ｊしている眠りにおいて、＾ＳＳ低抵
抗測定していることにはならず、あくまで試料２を形成
している物質にＡｌ舊な比抵抗が測定されることになる
。このようなＸ［において、第２図で示し九ような複罐
なＡｌ成をした試料でも、個々の物質の比抵抗や、その
曾成された平均的（有効〕な比抵抗を測定することがで
きる。
界を急速ＫＪｌ断することにより、試料２に４起される
一電滝は確かに物質内に遍在するか、この渦１Ｌ滝の減
滅の時定数を観−ｊしている眠りにおいて、＾ＳＳ低抵
抗測定していることにはならず、あくまで試料２を形成
している物質にＡｌ舊な比抵抗が測定されることになる
。このようなＸ［において、第２図で示し九ような複罐
なＡｌ成をした試料でも、個々の物質の比抵抗や、その
曾成された平均的（有効〕な比抵抗を測定することがで
きる。
第６図は上記実施例で説明した比抵抗−ｊ建法を用いて
鋼の比抵抗を６１Ｊ定した結果を示したものである。鋼
材は直径５ ｍ ｍ 、比抵抗比ルＲ）Ｌ−１ｔ）０゜
３００”Ｋで比抵抗１．５８Ｘ１０−’４７ｃｍの４の
を用い、ピンクアップコイル６．７としては、内儀１１
ｍｍ、−ｊ（さ４０ｍｍ、＠ｐ１００００ターン、磁界
のピーク１１１０．１秒、試料諷Ｉｆ ４．２°にの条
件で一定した。図は、上記条件の下における出力端子ｌ
Ｏからの出力電圧の時間変化を示したものでるる。時間
が０〜３０ｍ８の範囲では指ａ法則からずれ九特性とな
っているが、それ以後は指数法則に従って減衰する。指
数法則に従って減衰する閾での時定数を求めると、ｙ’
−ａｔｓｍｓが得られる。従って、４．２・にでのこの
試料の比抵抗は（６）式よｐｐ−１，５７Ｘ１Ｇ−・Ｍ
ｃｍとなり、比抵抗比ＲＲＲ−１００に考慮すると、本
実施例の比抵抗一定法により適切な比抵抗測定か行なわ
れていることが分る。
鋼の比抵抗を６１Ｊ定した結果を示したものである。鋼
材は直径５ ｍ ｍ 、比抵抗比ルＲ）Ｌ−１ｔ）０゜
３００”Ｋで比抵抗１．５８Ｘ１０−’４７ｃｍの４の
を用い、ピンクアップコイル６．７としては、内儀１１
ｍｍ、−ｊ（さ４０ｍｍ、＠ｐ１００００ターン、磁界
のピーク１１１０．１秒、試料諷Ｉｆ ４．２°にの条
件で一定した。図は、上記条件の下における出力端子ｌ
Ｏからの出力電圧の時間変化を示したものでるる。時間
が０〜３０ｍ８の範囲では指ａ法則からずれ九特性とな
っているが、それ以後は指数法則に従って減衰する。指
数法則に従って減衰する閾での時定数を求めると、ｙ’
−ａｔｓｍｓが得られる。従って、４．２・にでのこの
試料の比抵抗は（６）式よｐｐ−１，５７Ｘ１Ｇ−・Ｍ
ｃｍとなり、比抵抗比ＲＲＲ−１００に考慮すると、本
実施例の比抵抗一定法により適切な比抵抗測定か行なわ
れていることが分る。
本実施例によれば、ｚｉｍａ界印加用コイル５内にピン
クアンプコイル６．７を挿入し、爽に、ピンクアンプコ
イル６内に試料２を挿入し、前記変動ａ昇印加用コイル
５を励磁し通断した際に、端子９−．９ｂから得られる
電圧信号を測定し、この電圧信号から時定数ｒを累め、
（６）式によって試料２の比抵抗を測定するので、試料
２に無嵌触無艦続で比抵抗を直接測定することができる
ため、測定積度を向上させることができると共に、煩雑
な準備や操作がないため測定時間を短時間とする効果が
ある。また、変ｌｌ１ｌｆｌ＆界印加用コイル５によっ
て発生される変ＷＩＪｆｆｌ界によって、試料２に酵起
される１１４１１Ｉｃ流の滅涙から比抵抗を一定するた
め、試料２が複雑な構成を有する儂合体であっても、有
効な比抵抗を欄建し得る効果がある。
クアンプコイル６．７を挿入し、爽に、ピンクアンプコ
イル６内に試料２を挿入し、前記変動ａ昇印加用コイル
５を励磁し通断した際に、端子９−．９ｂから得られる
電圧信号を測定し、この電圧信号から時定数ｒを累め、
（６）式によって試料２の比抵抗を測定するので、試料
２に無嵌触無艦続で比抵抗を直接測定することができる
ため、測定積度を向上させることができると共に、煩雑
な準備や操作がないため測定時間を短時間とする効果が
ある。また、変ｌｌ１ｌｆｌ＆界印加用コイル５によっ
て発生される変ＷＩＪｆｆｌ界によって、試料２に酵起
される１１４１１Ｉｃ流の滅涙から比抵抗を一定するた
め、試料２が複雑な構成を有する儂合体であっても、有
効な比抵抗を欄建し得る効果がある。
以上記述した如く本発明の比抵抗測建法によれば、測定
時間を短−し、測定積度に優れ且つ仮測定材料の種類を
広げることができる。
時間を短−し、測定積度に優れ且つ仮測定材料の種類を
広げることができる。
Ｉ＠１図は従来の４趨子法による比抵抗創建方法を示す
説明図、第２−及び第３図は榎酋体の構成例を示す斜視
図、１８４図は本発明の比抵抗（１４１ｊｋ法の一実施
例を示す説明図、第５図は論４図に示したピンクアンプ
コイルの＃味例を示した概ＲＩ回路図、第６図は本実施
例を鋼に対して実施した場合に得られる渦電流の滅置曲
Ｉｌｌ＃Ｉｔ示しｆＣ＃！図でめる。 ２・・・試料、５・・・変Ｉｌｂ磁界叩加用コイル、６
，７・・・ヒツクアソプコイル、８・・・可′Ｒ抵抗体
。 代壇人 弁理士 高橋明木、。 し１１１１，１ （６ヲメ＋ｊ− 瑯 １ 図 第 ６ 図 日１ｎＨん （７Ｆ＆５ｃｃ）
説明図、第２−及び第３図は榎酋体の構成例を示す斜視
図、１８４図は本発明の比抵抗（１４１ｊｋ法の一実施
例を示す説明図、第５図は論４図に示したピンクアンプ
コイルの＃味例を示した概ＲＩ回路図、第６図は本実施
例を鋼に対して実施した場合に得られる渦電流の滅置曲
Ｉｌｌ＃Ｉｔ示しｆＣ＃！図でめる。 ２・・・試料、５・・・変Ｉｌｂ磁界叩加用コイル、６
，７・・・ヒツクアソプコイル、８・・・可′Ｒ抵抗体
。 代壇人 弁理士 高橋明木、。 し１１１１，１ （６ヲメ＋ｊ− 瑯 １ 図 第 ６ 図 日１ｎＨん （７Ｆ＆５ｃｃ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｌｉｔ細定試料に急変する外Ｓａ界を印加して、鍍試料
中に渦電流を発生せしめ、該渦電流の減誂時定数を測定
することを特徴とする比抵抗測定法。 ２ 外ｇａ界印加用のコイルの中に、２個のビックアン
プコイルを配置し、これらビックアンプコイルと抵抗器
とによって各アームが構成されるブリッジ回路を形成し
、前記一方のピンクアップコイル内に被測定試料を挿入
し、外部磁界を急変させ走時に生じる前記ブリッジ回路
のアーム接続点に発生する電圧を一定することによシ、
試料中に鋳起される渦電流の滅ＩＲ時定数ｔ−測定する
ことを％−とする骨杆−求の範囲第１項記載の比抵抗測
定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3521882A JPS58153179A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 比抵抗測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3521882A JPS58153179A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 比抵抗測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58153179A true JPS58153179A (ja) | 1983-09-12 |
Family
ID=12435703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3521882A Pending JPS58153179A (ja) | 1982-03-08 | 1982-03-08 | 比抵抗測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58153179A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62108148A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Shigeru Kitagawa | 金属の材質検知方法及びその装置 |
| JPH0778489B2 (ja) * | 1986-10-10 | 1995-08-23 | リンデル、ステン | 導電材料に関するパラメーターの大きさを無接触で測定する方法と測定装置 |
| JP2007139498A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | General Environmental Technos Co Ltd | 比抵抗測定装置 |
-
1982
- 1982-03-08 JP JP3521882A patent/JPS58153179A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62108148A (ja) * | 1985-11-06 | 1987-05-19 | Shigeru Kitagawa | 金属の材質検知方法及びその装置 |
| JPH0778489B2 (ja) * | 1986-10-10 | 1995-08-23 | リンデル、ステン | 導電材料に関するパラメーターの大きさを無接触で測定する方法と測定装置 |
| JP2007139498A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | General Environmental Technos Co Ltd | 比抵抗測定装置 |
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