JPS5815164A - 誘導性負荷回路の内部変数測定方法 - Google Patents

誘導性負荷回路の内部変数測定方法

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JPS5815164A
JPS5815164A JP11381881A JP11381881A JPS5815164A JP S5815164 A JPS5815164 A JP S5815164A JP 11381881 A JP11381881 A JP 11381881A JP 11381881 A JP11381881 A JP 11381881A JP S5815164 A JPS5815164 A JP S5815164A
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JP
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Kenji Inoue
井上 堅治
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Shinko Electric Co Ltd
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Shinko Electric Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は例えば直流電動機等のような誘導性負荷の内部
変数(抵抗、インダクタンス及び逆起電力等のような電
圧源電圧)を運転中、測定する測定方法の提供を目的と
する。第1図は、誘導性負荷の運転中の等価回路図であ
る。図中、lは駆動電源・、esは駆動電圧源電圧rs
は電源内部抵抗、Is  は電源内部イン身°クタンス
、2は例えば直流電動機のような負荷、rlは負荷内部
抵抗、Lは負荷内部インダクタンス、eLは直流電動機
の逆起電力のような負荷電圧源電圧、VR8は電源内部
抵抗量電圧(内部抵抗による電圧降下)、vr、sは電
源内部インダクタンス間電圧、vRは負荷抵抗間電圧、
VL  は負荷インダクタンス間電圧、■は電源1から
負荷2への入力電圧、1は同じく六方電流である。この
等価回路にキルヒホッフの電圧則を適用すると、 V−V B +V L 十e L・・・・・・・・曲・
曲−曲西・曲・・・・(1)両辺を時刻t。−t□間に
ついて積分すると時間t。−tよで割ると、 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(2)(2)式右辺第1項にオームの法則VR”l
’L  iを代入τ」匂ft;νRdt = %ζf’
、、’ i dt ・==−−−−・・・・・・(3)
(2)式右辺第2項にファラデーの法則vL−I!Ld
、を代入、Jゝ”−”(tl)−1(t。))・・・・
・−・・・・・・・・・・−・・(4ンt□−t。
(2)式右辺第3項については、サンプリング期間t。
−t工に比し、内部電圧源九 の変化が十分にゆっくり
している場合や、はとんど変化しない場合はeL一定と
考えてさしつがえなきため、 (3) (4) (5)式をQ)式に代入・・・・・−
・・・・・・−・・・(6)となる。こ\で、 一!−f ’ v dtは、Vの平均値であるため−V
(tユよ)1、−1゜  t。
・・・・・−・・・・・・・・・・・・・・(7)  
 − 脣セ(i(t、) −i (t’、’))は1の平均変
化率であるため−Ai(tl、to)・・・・・・・・
(9)と書き替えて(6)式に代入すると、 ’;1−(t、、to)=’7L・Ai(t、、t(1
) +rL−1(t□、t o ) 十eL−・−・−
0のとなる。こ−でv (t工、 1o)は時刻t。及
びt、における電圧Vを、Ai(’J、to)及び1(
tl、1.)は、同じく時刻t。及びtよにおける電流
1をサンプリングして、それぞれ、(6) (7) (
8)式で演算すれば求まり、これを(lO)式に代入す
ると、(10)式は!1、ro、eLの3元1次方程式
となる。したがって、同様なサンプリングを6回行えば
3つの3元1次方程式が得られる。この3つの3元1次
方程式を連立させて解くと、内部変1k QIfirL
、 6Bが求まることとなる。
第2図は、時刻tn−1〜tn、tn−揃十2、tn+
x〜tn+gでサンプリングする例を示したものである
このサンプリングにより、  (10)式より第3図は
、本発明の測定方法を行うための装置例て′ を示す構成図tある。本図中、A%Bは積分器でそれぞ
れ電流し、電圧■を入力し、積分して出力するもので、
ディジタル演算部りより出力される信号Rによって、必
要なタイミングでリセットされ峰積分値零となる。Cは
入力信号変換部で、入力アナログ信号を信号Rのタイミ
ングでサンプルし、ディジタル信号に変換してディジタ
ル演算部りへ出力するもの。
Dはディジタル演算部で、入力データより電圧Vと、電
流1の平均値、電流1の平均変化率を求め、これらのデ
ータを過去3回分記憶し、このデータを使って(12)
式に基づいてs Ah−”x=、eL ヲif IX 
L、出力装置Eへ出力するもので、計算機又は、マイク
ココンピュータを使用する。Eは出力装置でディジタル
演算部りの演算結果を入力し、一時記憶して、必要なタ
イミングで出力するものである。
第4図はディジタル演算部りの機能説明図である。
図中、まずKより一定値のデータ・サンプリング周期信
号Tを出力し、それに基づいて、Jよりサンプリング信
号Rを発生するOFは入力信号S1とサンプリング周期
データTをサンプリングパルス信号Rのタイミングで入
力信号変換部Cより人力し、(9)式により電流平均変
化率乙1 を求め、記憶する。このデータは過去3回ま
で記憶しておき、信号Rのタイミングで信号Xとしてエ
ヘ出力する。
Gは入力信号82とTを信号Rのタイミングで入力し、
(8)式に基づいて電流の平均値丁を求め、記憶する。
このデータは過去3回まで記憶しておき、信号Rのタイ
ミングで信号Yとしてエヘ出力する。
Hは入力信号8.とTを信号Rのタイミングで入力し、
(7)式に基づいて、電圧■の平均値■を求め。
記憶する。このデータは過去3回まで記憶しておき、信
号Rのタイミングで信号Yとして工へ出力する。工は信
号x1y、zを入力し、これにより(12)式に基づい
てs f!IA rc eLを計算し、その結畢を信号
S4.85.86  そしてメモリLに一時記憶し、必
要により出力するものである。本実施例では積分器A、
Bをハード的に示したが、当然、これを計算器り内で演
算させてもよい。又、サンプリングも第2図示のように
連続的にサンプリングしなくとも、第5図示のように不
連続的にサンプリングしてもよい。ざらに又、以上の説
明では、内部変数VR,vL% eL  が全て未知の
場合について説明したが、例えばeL  が既知の場合
については、勿論VR1VLの2元連立方程式として、
2つの式で求めればよい。
以上説明したように本発明により誘導性負荷回路の内部
変数が運転中でも容易に測定できるという優れた効果が
もたらされる。
【図面の簡単な説明】
第1図は誘導性負荷の運転中の等価回路図、第2図は連
続的なサンプリングを示した図、第3図は、本発明を実
施するための装置構成例図、第4図は第3図中のディジ
タル演算部りの機能説明図、第5図は不連続的なサンプ
リングを示した図である。 出願人 神鋼電機株式会社 代理人 弁理士斎藤春弥

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、等測的に抵抗(VR)、インダクタンス(vL)、
    電圧源(eL)の直列回路で構成声れる負荷回路(2)
    を電源(りで駆動し、次の手順によって、負荷の内部変
    数(vR% vLs e L )を測定する方法0(1
    )ある時間間隔(to−tl)における負荷回路(2)
    への入力電IK(幻の増加分並びに、積分値、及び入力
    電圧(V)の積分値を求める。 (2)上記(りの入力電流の増加分と時間間隔(to〜
    t工)から、その期間の入力電流平均変化率を求める。 (°)上記(”)0人力〒流積分値2時間間隔(゛・〜
    ゛・)”ら・その期間7入力端子平均値を求める・(4
    )上記(りの入力電圧積分値と時間間隔(t o−t 
    l )から、その期間9入力電圧平均値を求める。 (5)上記(2)の入力電流平均変化率と内部インダク
    タンx CIL)との積(VL)、上記(6)の入力電
    流平均値と内部抵抗(?L)との積(vm)1及び負荷
    回路のの内部電源電圧(eL)の和が上記(4)の入力
    電圧平均値に等しいというn元1次方程式(但し、J2
    (4s rL%e1.が0でないときn=3、いずれか
    が0のときn=2を導く。 (6)上記(1)〜(5)の手順をn回繰り返して得ら
    れるn個のn元1次方程式を連立方程式として解き負荷
    の内部変数(vR% ”Ls:eL)を求める。
JP11381881A 1981-07-20 1981-07-20 誘導性負荷回路の内部変数測定方法 Granted JPS5815164A (ja)

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JPS5815164A true JPS5815164A (ja) 1983-01-28
JPH0145588B2 JPH0145588B2 (ja) 1989-10-04

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002536669A (ja) * 1999-02-08 2002-10-29 アイ.イー.イー.インターナショナル エレクトロニクス アンド エンジニアリング エス.エイ アール.エル. 容量測定システムのための測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002536669A (ja) * 1999-02-08 2002-10-29 アイ.イー.イー.インターナショナル エレクトロニクス アンド エンジニアリング エス.エイ アール.エル. 容量測定システムのための測定方法

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