JPS58146807A - 平面度測定装置 - Google Patents

平面度測定装置

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JPS58146807A
JPS58146807A JP2962282A JP2962282A JPS58146807A JP S58146807 A JPS58146807 A JP S58146807A JP 2962282 A JP2962282 A JP 2962282A JP 2962282 A JP2962282 A JP 2962282A JP S58146807 A JPS58146807 A JP S58146807A
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Toshiaki Wada
和田 俊朗
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は物体平面の平面直を雇槽書に、しかも自−的に
一定することを回軸とする平面直醐定装置をII&案す
るもので6ゐ。
鐵気紀llI装置の磁気ヘッドOスライダー画にはO,
OSμ鳳以下という極めて精密な平面度が要求される趨
勢にめる。半画to非−触#1w1方法としては光O干
渉を判明し先方法が種々裏布すhtoの、上述O如龜精
疲での測定を容易且つ安定に行わせる上で、機構部品の
精度、極微調整、測定精度の保守等の点での問題が多く
、II用化堪れている例は皆無である□ 本発明は斯かゐ事情に鑑牟てなされた4(De塾って、
0.01μ−のN駅でO平面度調定を1動的に行える装
置の提供を目的とする。
まず本fa@の画定装置による平li[一定の置場につ
11説明するが、この置場自体は、本発明看Q[111
ル%lI@6B−11174号(4111111864
−169168号会報)の「千i1i直一定方法」の媚
定原環と同一でToゐ。即ち例えばフィゾー光学干渉系
によりて、l1IIl■に示すように被検平■とオプチ
カル7ツツト110参履平曙と0干−縞1を得る。この
干渉縞!のパターンを七〇長?’jl向を干渉縞の縞一
方向に筆舎畜せえ1次元Oイメージ七ンti14によっ
て、縞方肉に相異る@00位置JL、b、cにて億見、
所定O@縞(又は暗部)の位置a、b、o夫々に訃は為
縞幅方向位置Pa。
Pb、Pa 及び縞ピッチrをイメージセンナ出力から
検知し、平#装置!を Δr !−1了に]「      −・(1)偉し、λ:干#
光s#R長 n:干渉次数(僅しこζではn−1) Pa−)t。
Δr−バーー丁−・・・(至) として算出するものでるる。
而して上記1次元イメージセンナとして光電賓WI&素
子を多数並設してなる91アI゛イオードアレイ等を用
い石場命にかいで線素子個々0@憔0バラツキ(一般に
はl・〜16%**> 0丸めに闘定#差が増し、超槽
書闘電が不qmycなるととがめる。本発明は漸かる■
禽を排除して、使用イメージセンナに拘らず所most
でO調定を可−とし丸干ll1fR關定装置を提供する
ことを目的とすゐ。
以下本発明装置をその夷糟例を七〇1mmに基いて具体
的に!!明する。
第2図は本発明装置の外観図、第3図はその光学系のレ
イアウト図でToゐ。この光学系は被検物1Gをその測
定対亀千*teaを上に向けて載置すべき、上下動回目
のサンプルステージ1Kを除いて内部を1光したケース
l!内に納められている。干渉光源となる■・−N・レ
ーザ(波長0.1111!8411)21はナンプhx
テージ11の後側に設は九ケース110m状I$11&
内に出力側を上方にして鍮直に職付けてToa、レーず
ビームは光量調整用に設は九NDフィルタ!8.ビーム
拡散レンズ鵞l、直11!05m0ピンホール!!4を
縫て上方に設は九食反射鏡s6に飼るようにしである。
全反射a、XSは水平態、鉛直面OIX方に対して48
°煩斜させてピンホール冨4を出え#I41Kレーザビ
ームをケース1m40m方へ水平に反射すべく配してあ
り、この反射レーザビームの光路に2けるサンプルステ
ージ11の上方には食反射總26が水平開5Ill&直
tio双方に対して4i 傾斜させて、テンプルステー
ジIIK向けて鋤直にレーザビームを投じるように配し
て魯−1このレーザビームはいずれ4愈反射−16とサ
ンプルステージ11との関に配し九対物レンズとしてO
アタロマート!7、ハーフ建う88′&びオプチカルフ
ラット29を経てサンプルステージIIK向かうように
しである。ハーフ電ツ!S杜水平画、鉛直函の双方に対
して46 傾@させて、オプチカルフラット2998か
らの光、つまりすブチカルフラット29の参雇平#jN
lと被検千gioaとによる干渉縞パターンをケース1
!O左方へ水平に反射すべく配してToゐ。
ハーフミラ!8から反射され層光ビームはケース1zの
左右方向及び鎗後方角O双方に対して46 傾斜させて
あるハーフ(う31を道通して、鉛直軸回りに水平−転
可簡に取付は九全反射−$8に到り、1九ハーフ(ツ1
1に反射されてケースl!の正11に設けえビyトフー
ドIIIに剰るようになっている。ピ/トフードl魯は
干渉縞の@視観察展び与真嫌影の丸めのものでめる。素
灰ll1a82の鉛直軸の後方には1次元のイメージ七
ンす34がその長手方向を鉛直方角にして立設されてν
す、全反射wtszをケース111の左右方向反び前後
方向の双方に対して46’傾斜する回動位置になった場
合に、イメージ七/す14の視野位置が第1図に示すO
位置、りま抄これらの光学系によって得られる干渉縞の
略中央位置に在り、素灰Jtta8gが平面視で時針方
向(又は反時針方向)へ回動すると、イメージセンナs
4の視野位置はC位置方向(父は1位置方向)へ1位す
ることになる。
全反射源82は適宜の枠体1mlに壜付けられてs’ 
b 、その下暢甲央から下方へ延出させた丸軸を回転軸
81bとし、この回転軸11bにはギヤ1120が嵌着
されて2す、下端には図示しない架台に支持された回転
エンコーダ41が連線されている。回転エンコーダ41
0側方には出力軸を鉛直にし九パルスモータ48が架台
KIIIL付けられて2抄、その出力軸に嵌着したギヤ
しIと前記ギヤ32Cとの間にはコグドベル)18が揚
けilされて2抄、パルスモータ42の暴IIによって
全反射482を水平回転させるようにして珈る。全反射
鏡82又はその棒体82龜の回―域にはこO回―減成を
規定するりずットスイッチ41.44が設けられて2抄
、この回動減成は前述のようにイメージセフ91!14
の視野位置がb位置にある状態から反時針方向及び時計
方向へ略々等角度(1・0以下)回動した位置に定めて
るる。
以上の構成から11堺堪れるように干渉光路部、より膵
しくは光束重合せ光学系の横出側の光を回転gT総な全
反射鏡88(プリズムでもよい)にてイメージセンナ8
4へ肉かわイる構成としてstp、全反射*SZの回転
によ詐縞をlIMRるべき位置を変更するようにしてい
るのでめる。なか上述の構成はフィゾー干渉光学系を用
いたが、マイケルソン干渉光学系等、他の干渉縞を得る
丸めの光学系−同一に使用で倉る・その他14.14は
オプチカルフラット!−の負勢調整用O事ジ、8はケー
ス12外に設は九V−ザ用電源で6ろ0ケース12及び
その内部の光学系よりなる測定装置本停意は振動による
測定誤差を排除する丸めに各Sを可及的に堅固に構成し
てToす、また底面には防振ゴム脚16を取付ける等の
配慮をしてるる。更に光学系の取付位置の精度、或は口
fIIIJt4の工作精度等は104mオーダとする。
更にtた、ハーフミラ!8.81及びオプチカルフラッ
ト!9は裏面千季を回避するために&面に数置のテーパ
を付したものを用いる。
第4図は本発明装置の電子回路のll!部を略示するブ
ロック図である。この電子回Macら前述のイメージセ
ンナ841回転エンコーダ41.パルスモータ411.
その駆動回路68.  リミットスイッチ411t  
44Jiびにイメージセンナ8,4用の駆−回路46及
びヘッドアンプ46、その他着干の操作部材、パイロツ
ドラ/プO外はll1m114としてそのケース47の
内外に取付けられている。
48は本発明装置の制御・演算の中枢となるマイクロコ
ンピュータであってOPU (中央処場績l1l)、R
OM (IE出し専用メ毫9)、凰ムM(ツンダムアク
セスメ49)、入出力インターフェース、クロックパル
ス脅振回路等を備えている。
制御部4の正面に臨資ぜ九スタートスイッチ4S及びス
トップスイッチ6・はマイタロコンビエータ(以下マイ
コンという)48に対して關定0IIl始及び停止又は
中断を夫々指令する押ゼタン式の照光スイッチでTo抄
、押込操作によって上記指令をマイコン48に与えると
共に、マイコ/48側からの信号にて点灯する。同じく
制御l14の正画に臨まぜたディジタルスイッチ61は
すムホイルスイッチ!桁分からを炒、そのf敏内容を被
検物1Gの平面度演算対象とするイメージセンす出力を
得べIIII野を指定する丸めOデータ、換言すれば位
置a、Ct視舒とすると1iの食!L射鏡葛冨の回転角
度位置tni示するためOデータとしてマイコン48に
与えるものである。#11a11転エンコーダ41は全
反射msmoto−転に”:)@ l @Jiのパルス
を出力するように構成してTo知、その出力ハエンコー
ダインーーフェースI鴬を倉してマイコン48へ読込ま
れる。反時針方向へ0回−減酸を規定するりζシトスイ
ッチ4s及び時針方向への回―域隈を規定するリミット
スイッチ44O作−状虐はいずれもマイコン48へ銃込
まれる。
リミットスイッチ48.44の作動状悪はマイコz4j
1によるパルスモータ410発停制御情報となる。即ち
イニシャル状態では全反射鏡8雪はすiットスイッチ4
sを作−せしめていゐ状態にめり、この状態でスタート
スイッチ49を押込操作するとマイコン48は篭−タ駆
動回路5Iへパルスモータ411を正転させて全反射@
82を時針方向へ回動さぜるべき信号を発し、これによ
る回動が行われて全反射a811かりミツトスイッチ4
4を作動せしめた抄、或はストップスイッチ6Gが押込
操作された場合は上述の正転Oための信号を斬う、モー
タ駆動回路61へパルス令−一4!を逆転させて、全反
射鏡88を反時針方向へ回―さぜるべき信号を発し、こ
れによる回転が行われてり(ットスイッチ4sが作−す
るとモータ駆動回WaSへOS号が斬たれる。
マイコン48にはイメージ七/す840視舒位置又は全
反射源の一一位置譬ii!0九めOカウンタ内容えてJ
Pヤ、このカクンタ性−転エノコー〆41が発する原点
パルスにてタリャ畜れるようにしである。この原点パル
スは全反射−3冨が9fノットイッチ48作−位置から
少し時針方肉KFjA動した位置にて得られるようK1
1転輪S雪すと一転工ンコーダ4″lとを連績してるる
。そしてマイコン48は上記カラ/りの針数値が9・に
なる全反射48gの@!ll11位置農を、そのと自O
イメージセンナ出力を平l1ill!演算に用いるべ龜
視舒位置すとし、ディジタルスイッチ61による置数を
Xとすると、カウンタ針数値が96−xt  *0+x
となる2つの回−位置ム、Cを、そOと1のイメージ七
ンを出力を平IIWl演算Kj’tlいるべ1視IF位
置a、  cとする。僅しXは1〜C閣号機を一単位で
表わす数値として置数畜れ、ま九−転エンーコーダパル
厚が視舒中のO9冨■にi4轟するように光学系を構成
しているのでX■(X/1)十叡3として算出される。
上記★クンIの内1Fが−・+XKなつた場合にはり(
ブトスイッチ44O作−を待つ壕でもなくパルスモー−
41を逆転するように制御が行われる。
スイッチ49,600側方に配された押ボタン式のスイ
ッチ68は補正モードを指示する丸めに設けられて参り
、その押込操作により、マイコン48紘後述する補正モ
ード動作を行う。
イメージセンナ84はこれによって捉える干渉縞の本a
6たりlOOビット@度のものが望ましい。けたし相隣
明線(又は暗部)間寸法ム/2を1/10Gの精度で測
定するのであるから、この場合の精度は環鍮的に (λ/jE)X (1/10G)+(LOOIpmにす
ることができ、実用上でO叡01μ−の種度を菩轟に実
現できるからである。従って実施例では10本の干渉縞
を握九る光学系O構成に対して10g4ビツトのMO8
センナを用い丸。な2フオトダイオードピツチはgos
膳である。
さてマイコン48はデータ読込の処理に入ると駆動回路
46に対してスーートパルス及びクロックパルスを発す
る。駆動1略4墨はこれをWtll!レベルにしてイメ
ージセンナ84に与える。そうするとイメージ七yす龜
4はls1ビットから第1034ビツトまで一次走査さ
れて、その受光量に応じ九ノベルのビデオ出力を発し、
とのビデす出力はヘッドアンプ46にて増幅されて制御
II4側のピークホールド増41111I&及びナンプ
ルホールド増−器67、更にはム/Dコンバータ6畠を
介してマイコン48に取込まれる。ナノプルホールドI
IJIm及びム/D変換局期は駆−a路4iへ与えるタ
ロツクパルスMIJ$8と整合させて6る◎このように
して取込まれ九データに1龜、(0式に依る平面度!の
演算が行われ、その縮果が制御部4の正面に設けた4桁
の表示装置60にμ臘単位で小紋以下8桁まで表示され
るようにしである。
第5図は補正篭−ドで動作してい為場合のマイコン48
の制御内容を示すフローチャートである。
この補正モードでの動作は必要に応じて随時性われ、そ
の場合は被検物10をセットし1に%A状■でスイッチ
6sIが押込操作される。
マイコン48はスイッチ6冨の操作を検知するとイメー
ジセンナ84の全充電変換素子、即ち第1ビツト(カウ
ンタ内容1−1)〜第1024ビット(カウンタ内容1
.1014)の出力OP1を読込み、これを凰ムMQ%
定エリアに格納する。
なりこの場合には後述する平面度夷llの場合と異な口
、イメージ七ノー?$4には全充電変換素子に均等な、
参照平11i 19&から0反射光が受光量れている。
次いで全充電変換素子出力の平均値Orをθ?1(1=
1〜11!4)を凰ムMから算出して(TP = ;l
; ort/xog4−rs)として算出する。
そして各充電変換素子の出力OPlにつき平均値Orか
らのfiOPlを (3Pi−OF + OPi      、−(4)と
して演算し、これを各光電変換素子の光(変換特性の差
又はバラツキを補償するデータとして素子を特定する清
111と共に凡ムMfC格納し、一連の補正モード動作
を終了する。
次に平11Kを実−にll定する場合の動作、制御につ
き説明する。第6図はマイコン480制御内容を示す主
要プログツムOフローチャートである。
スタートスイッチ4−が操作され為とパルス令−一41
を正回転させる。
そしてディジIルスイッテ61o置歇内容Xを読込み、
?!=9・−x、  78m 111 + Xt算1t
St 4゜これらI’、、Fs及び1fiL置を風足す
るPg =@ Qを所定レジスタに格納する。パルスモ
ータ4雪が回転を開始すると少し遷れて1転工ンコーメ
41かも原点パルスが人力堪れゐ。この原点パルス人力
によりイメージ七/すs4の視舒位置を特定するために
回転エンコーダ410出力パルスを計数するカフ/りを
リセットする。そしてイメージセンナs4からのデーー
ー込(後述)を行い、aI@エンコーダ41からのパル
スが人力逼れると再びイメージセンナ84からのデータ
読込食性−1次いでカウンタをインタリメントする。こ
れをカラ/りの計数内存がレジスタのrlfC−歓する
まで反復し、’IになったとIIKピークアドレスの計
算(後述)を行う。ピークアドレスとは―縞tm見てい
るイメージ七ノ?114のビットのアドレス1〜tog
4であり、前述のP、APの算出に用いる情報である。
そして算出し九ピータアドレス(明縞の数だけ4116
 ) Pls * Pg雪・・・R1= t lA&[
K II納する0この場合には別の2つの領域に格納さ
れ、一方ハP、  APの演算に、他方は次のピークア
ドレスとの対応の丸めに用いられる。そして回転エンコ
ーダからのパルスが入力される都度イメージセンサ84
からのデータ読込、カウンタのインクリメントを行う。
そしてイメージセンナから読込んだデータによりピーク
アドレスを計算し、これを1つ前のピークアドレス針S
にて得たピークアドレス、最初は’its Pll・・
・Pll・・・と比較し、f#嵐に塊れ九明部、消滅し
九明部等に対応するピークアドレスに対する履−を凰ム
Mにアドレスと共に格納する。セしてビータ・アドレス
を11Mに格納し、次に算出されたピークアドレスとの
比較データとして用いる。斯かろ処理をカウンタ内容が
鳥になる迄m続する。上述の如暑ビークアドレスの順次
比較によ炒、明部01iIj定が行われる1111乗、
干渉縞バター7が複雑であって4m/1液長分相異する
相′a明部を誤g温岡す為ことはをい・而してカウンタ
内容が1′1になると%F10場合同様にピークアドレ
ス’11 * Pg−・・Pd 、、・を算出しこれを
凡人kl(c格納する。以下カウンタ内容が九になる迄
21〜28間と岡waom珊を行い、PsKなると、同
僚にピークアドレス711 # i’ms ”” Fa
i=を算出してこれを凰ムkに格納する。そしてパルス
場−夕41をりζシトスイッチ4mが作−す4重で逆転
iiぜる。この間P1 + Pm s PIでのビータ
アドレスのうち共通する明縞に#4j1するものにり會
平ago演算を行いこれを真水装置60に真示させる。
次にイメージセンナからのデータ鏡込処pKついて第7
図のフローチャートに1自説明する。−転エンコーダ4
1パルスが入力堪れる等、データ読込開始の所定の条件
が整うと駆−回路46にスタートパルスt−4見るべく
IIIIシてめゐ出力ボートをハイレベルにし、所定の
カランIKBをセットし、次いでクロックパルスを駆動
−路46へ発する。このクロックパルスにて上記カウン
タをデクリメントし、カウンタ内容がOになつ九6と上
記出力ボートをローレベルにする。即ちスタートパルス
を立下らせる。ζζまでの処理は使用イメージ七/す1
4がスタートパルスを受けてから最初のビットの出力を
発する迄の時間遍れ(クロックパルス8発分)を補償す
る丸めのものであり、先に説明し九補正毫−ドO1lも
、詳述して−ないが、同轍の処理が行われている。
次にそのデータ読込の場合に用意され九1ムM内エリア
の先1番地Kをアドレスカラ/−にセットシ、またカウ
ンタにはイメージセンナ84のビット数l@雪4t−セ
ットする。そしてクロックパルスに同期してイメージ七
ンナ畠4の出力をVD変換し、変換データをに置端に格
納し、アドレスカウンタをインクリメント、上記カウン
タをデクリメントする。このようなII&垣をカフ/り
がOKなるまで継続し、凰ムMoK、に+IO!婁番地
にデータを格納する。
次いで息ムMOに〜に+l・!sI地のデータをCPU
内の所定レジスタKll[次続出し、塘え各データに対
立する補償デーJOFiをOPU の所定レジスタへ鏡
出し、各データにOFiを加算〔注=(4)式に見られ
るように光電変換素子出方が平均値OFよ細小さい場合
KOFiが正Klkる〕し、この和を′rcOデータに
替えて1ム麗のに〜tit・重重番地へ格納する。斯か
る処理によってイメージセンナ140各光電変換嵩子の
変換41性0バラツキが補償され九ことになる・ 第8図はビータアドレスの計算の丸めの処理内容を示す
フローチャートである。まず第10アドレスカ9ンタK
N (処理対象とする1estoデータを格納したロ1
工9ア0先−脅地)十60をセットし、別のカラ/Iに
は嘗0・をセットする。
これは1024のデータのうち上端のh1ビット、下端
の1g4ビツトをデータ処理対象から外す丸めの処置で
ある。次いで針□尊しえビータアドレスを格納するため
の口1エリアの先wests重のアドレスカラ/−にi
としてセットす為。更に算出ピーク歇を針数する丸めの
ピーフカクンpKOをセットする。
次に第1のアドレスカフ/りの番地(最初はに+60番
地)の、前述の如くしてOFlを加算して補正し友デー
タDATム・及びその次の番地(最初はに+61番地)
のデータDATA 1をWR4出し、両者を比較する。
両者が等しい場合(両ビットの受光レベルが等しい場合
を意味する)は第1のアドレスカラ/りO内容を+1し
、またカウンタは−1する。そして次の番地について岡
憬の処理を実行する。
これに対してDATA Q)DATA  Iである場合
(に+60番目のビットよりに+6111@のビットの
方が暗いことを意味する)は第1のアドレスカウンタの
番地を+1し、ま九カウンタは−1する。そしてこの状
麿でDATA 1 (に+5!41地のデータ)及びL
)ATムO1+511nkのデータ)を続出じて両者を
比做しDATA 1〉DATA0でない場合は番地が大
となるに伴い暗くなる傾向を示していることになるので
同様の処理を反復する。この過橿に6って1)A’rA
 O<DATA 1となう九場合は次K11llするピ
ーク特定のステップにλゐ。
即S)第1のアドレスカウンタかに+I・O場合或は次
々とインクリメント堪れていつ九遍1に訃いて、DA’
l”A @(DATA !となりえ場合は番地を大とし
てデータ処lKを進めてい<VC*い明るくなる傾向K
Toゐことになる。この場合も第10アドレスカクノタ
を+1し、カラyりを−1する処理をDATA(1>D
ATA 1とをる宜で(つまり最も明るいビットの番地
が第10アドレスカウ/りの内容になる盲で)反復し、
そのステップでのatのアドレスカウンタの内容をビー
タアドレスとして、第3のアドレスカウンタにて指示堪
れる凰ムMのアドレス(最初はに′番地)へ格納する。
そしてこの嬉鵞のアトレース書つンタO内番を+1し、
ピークカウンタを+1する。そしてDATA0゜DAT
A 1の大小比吠を反復していく。以上の処理をカウン
タの内容が・になるまで実行する。
以上のようにして求め九ピータアドレスは、イメージセ
ンナ14に捉見られえ干渉縞O明部の中心位置をイメー
ジ七ンta4〇一端を基準とする位置情報となっている
而して本発1**置では前述のピークアドレスPSI 
e pHs 1’xL°°・、Pfl * Fll *
 FILo” % ’l 1 + PM 1 ””li
・・・を平11i&算出のためのデータとするが、Pl
−90−X〜Ps=IO+Xの間に2いて中途で現れ又
は消滅した明部(例えば第1aiiO最下0実纏で#I
Iされる明部)は処理対象から外される。これは前述の
ようにピークアドレス算出後に、回転エンコーダの出力
パルス1つ分−に算出したピークアドレスとの比較によ
抄識別され、凰ムMにその曖1114411が付される
即ち、最新のビータアドレスをPJ、、、 Pj、、・
・・Pj、鳳 (鳳はピークカウンタの計数値)とし、
回k エフ コーグの出力1つ分前のピークアドレスを
PJ−1−+ ’j−ttm−hth。”t−して1l
E9aiK示すようKn f (Pjll−P4.) 
/4 =F@  トシテllkピッチPの±1/4t−
算出し、これ以下であることを縞同足の条件とする。
そしてP、l、1とFj−s、t e  Fj−+、s
 夫々との差Δ’ly  APzを算出し、Poよ参小
さい履会せ0縞を同一のものとして同定すゐ。’Jst
と’3−tymが同定され友場合は’j−s*1が消滅
し丸も0として記憶され、又は平一度演算に必要なしと
して放置される。以下k(−1,11−・・鳳)置部の
ビー!’Lmにツti Fj−1+ k−1,Fj−1
+ h、 ’J−)ts kllk ト0差 ΔPk、
・ ΔPk、  ΔFk+tを求め、辷れがr・以下と
なる組合せの縞を岡−の−〇七して同定する。
面L テに’  l 7 )’ V J 711 t 
Pl−Psi =、r!1#Pxs ’・’ Pm1=
及びFsl* Pst−Psi=05 ’bs 中mf
O発生、消滅に係る履鷹を有するものを除外すると、そ
の大小111に組合せ九8つ1組の数値が同一〇明縞に
係るビータアドレスとして岡i!1れる。従って8つl
idのデータにょ伽(1)武K11lりて下記0ように
算出する。
′+7 K F = (F、+F2+・=+Fm−5)
/(m−1ン但し、mは視野位1ila、b、cに共通
する輪の数この平面度Fは前述のように表示装置60に
表示される。なおmの数が2以下又#−t16以上の場
合はエラー表示を行わせる。また上述の説明は側輪につ
いて行ったが暗部についても同様に実施できることは言
うまでもない。
以上のように本発明に係る平面度創建装置は干渉縞を生
成させるべき光学系と、 多数の光11変換素子を並設してなり、干渉縞を捉える
べく配した1次元のイメージセンサと、 イメージセンサ出力に基き平1i[を演算するデータ処
理部とを備え、。
該データ処理部は、前記イメージセンサの各九蒐f換素
子が実質的に均等な受光状態にある場合における各光電
変!!1ILX子出方に基き、各光電変換素子のf換特
性の差を補償するデータを演算、dピ憶する砿關と、 平面度演算に−して―起データに1龜イメージセンナ出
力を補正する機能とを備えていることを特徴とするもの
でめるのでイメージセンナの各党−習換嵩子の変換特性
にバック中が専在する場合に4h随時これを補正して、
常に0.01μm01111変での槽密平函度關定が実
現できる。
しかもこの測定は被検愉16をサンプルステージ11に
載置し、所lNOスイッチ機作を行うにけで自動的に行
われる。
更に上述の如き積l!を得る丸めoses品或は組付け
の種度は10s璃オーダで足り、値肩時の極微−贅1面
倒な保守等は全く不要で魯る。更に上紀夷#II両では
干渉縞パターン鏡取の丸め01次元イメージセンナO視
舒走査はこれを光路中間に介在させた光学手段(実施例
では素灰#纏)の−転によって行う構造としているので
イメージセンVを堅固に固定し得、擺−1その他による
ノイズ、従って誤差要因が排除できる。また上記光学手
段についても視野走査を1転111Ilにて行わせるの
で七の町一部を喜墨に高精度で員作し得、且つその一転
1−も安定的に行われ、糟!!I欄定に有効でiるO 以上詳述し丸ように本m+は固定槽ば、使用の便宜性及
び−造の面でm期的な平rIji変測定装置を提供する
ことを9岨とし、本ia@が超精密平面度測定技術に寄
与する処は多大である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示すものでるって、第1図は測
定原理の説明図、第2図は本発明装置の外観図、第3図
は光学系のレイアウト図、144図は電子回路のブロッ
ク図、第6図乃fi第9図はマイコンによる貞鼻、制御
のフローチャートである。 31・ tie−Neレーザ 111 + II l”
・バー y (ツ !9・・・オプチカルフラット S
t・・・素灰射魂34・・・イメージセンナ 41・・
・一転エンコーダ42・・・パルスモータ 4 g−・
・マイコン 61・・・テイジタルスイッチ 5611
151Sbj 5IC・・・ローパスフィルタ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被検平面と、参照平面とに関連する干渉縞を得、該
    干渉縞に基いて被検平面の平面度を測足する装置におい
    て、 干渉縞を生成させるべき光学系と、 多数の光電変換素子を並設してなり、干渉縞を捉えるべ
    く配した1次元のイメージセンサと、 イメージセンナ出力に基き平#JfIを演算するデータ
    処理部とを儂え、 該データ処理部は、前記イメージセ/すの各光電変換素
    子が冥質的に均等な受光状態にある場合における各光1
    1L変換素子出力に基き、各党tf換素子のf換特性の
    差を補償するデータを演算、記憶丁ゐ機能と、 平面度演算に際して前記データに基きイメージセンサ出
    力を補正する機能とを備えていることを%徴とする平I
    f1度測定装置。
JP2962282A 1981-12-25 1982-02-24 平面度測定装置 Granted JPS58146807A (ja)

Priority Applications (3)

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JP2962282A JPS58146807A (ja) 1982-02-24 1982-02-24 平面度測定装置
US06/449,733 US4627733A (en) 1981-12-25 1982-12-14 Flatness measuring apparatus
DE19823247238 DE3247238A1 (de) 1981-12-25 1982-12-21 Ebenheitsmessgeraet

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JP2962282A JPS58146807A (ja) 1982-02-24 1982-02-24 平面度測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60193852A (ja) * 1984-03-09 1985-10-02 三笠産業株式会社 容器又は瓶の注出口とその製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50126132A (ja) * 1974-03-23 1975-10-03
JPS632446A (ja) * 1986-06-20 1988-01-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd Dpsk変調デ−タの復調回路

Patent Citations (2)

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JPS6364722B2 (ja) 1988-12-13

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