JPS58145549U - プラズマ発光分析用ト−チ - Google Patents
プラズマ発光分析用ト−チInfo
- Publication number
- JPS58145549U JPS58145549U JP4347182U JP4347182U JPS58145549U JP S58145549 U JPS58145549 U JP S58145549U JP 4347182 U JP4347182 U JP 4347182U JP 4347182 U JP4347182 U JP 4347182U JP S58145549 U JPS58145549 U JP S58145549U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- torch
- diameter portion
- tip
- plasma emission
- reduced
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は従来型トーチの要部断面図、第2図は本考案の
トーチの要部断面図、第3図は実験に用いた本考案のト
ーチの先端部を示す部分断面図、第4図は先端縮径部分
の長さと応答性との関係を示すグラフ、第5図は先端縮
径部分の内径と応答性との関係を示すグラフ、第6図は
肉厚と応答性との関係を示すグラフ、第7図は元素のイ
オン化電位と本考案のトーチの応答性との関係を示すグ
ラス、第8図は従来型トーチと本考案のトーチにおける
プラズマ炎中の励起位置及び応答性の関係を示すグラフ
である。 1・・・外管、2・・・内管、4・・・試料導入管、4
a・・・先端(絞り部)、4b・・・先端(縮径部)、
7・・・冷却ガス入口、8・・・プラズマガス入口、9
・・・試料供給口。
トーチの要部断面図、第3図は実験に用いた本考案のト
ーチの先端部を示す部分断面図、第4図は先端縮径部分
の長さと応答性との関係を示すグラフ、第5図は先端縮
径部分の内径と応答性との関係を示すグラフ、第6図は
肉厚と応答性との関係を示すグラフ、第7図は元素のイ
オン化電位と本考案のトーチの応答性との関係を示すグ
ラス、第8図は従来型トーチと本考案のトーチにおける
プラズマ炎中の励起位置及び応答性の関係を示すグラフ
である。 1・・・外管、2・・・内管、4・・・試料導入管、4
a・・・先端(絞り部)、4b・・・先端(縮径部)、
7・・・冷却ガス入口、8・・・プラズマガス入口、9
・・・試料供給口。
Claims (4)
- (1)外管と、内管及び内管中を通る試料導入管からな
り、内管の先端から出たアルゴンを高周波電磁誘導によ
りプラズマ化し、この中に試料導入管の先端から出た霧
化試料を送入して励起するようにしたプラズマ発光分析
用トーチにおいて、 前記試料導入管の先端から中間に向かって所定長さだけ
内径を縮小すると共に、この縮径部分の肉厚をその他の
部分より厚くしたことを特徴とするプラズマ発光分析用
トーチ。 - (2)前記縮径部分の内径が約1.4〜2.2rtan
、好ましくは約1.5〜2朋であることを特徴とする実
用新案登録請求の範囲第(1)項記載のトーチ。 - (3)前記縮径部分の肉厚が約1,1〜1.8朋、好ま
しく約1.2〜L7mrnであることを特徴とする実用
新案登録請求の範囲第(2)項記載のトーチ。 - (4)前記縮径部分の軸方向の長さが約27〜45M。 好ましくは約30〜40冨であることを特徴とする実用
新案登録請求の範囲第(2)項又は第(3)項記載のト
ーチ。・
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4347182U JPS58145549U (ja) | 1982-03-25 | 1982-03-25 | プラズマ発光分析用ト−チ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4347182U JPS58145549U (ja) | 1982-03-25 | 1982-03-25 | プラズマ発光分析用ト−チ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58145549U true JPS58145549U (ja) | 1983-09-30 |
JPS635002Y2 JPS635002Y2 (ja) | 1988-02-10 |
Family
ID=30054558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4347182U Granted JPS58145549U (ja) | 1982-03-25 | 1982-03-25 | プラズマ発光分析用ト−チ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58145549U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04328450A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-17 | Yokogawa Electric Corp | プラズマ発生装置 |
JP2014186026A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-10-02 | Ube Ind Ltd | 微量不純物を分析する方法、及び当該分析に用いるプラズマトーチ |
-
1982
- 1982-03-25 JP JP4347182U patent/JPS58145549U/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04328450A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-17 | Yokogawa Electric Corp | プラズマ発生装置 |
JP2014186026A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-10-02 | Ube Ind Ltd | 微量不純物を分析する方法、及び当該分析に用いるプラズマトーチ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS635002Y2 (ja) | 1988-02-10 |
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