JPS5814062A - Pulse height analyser - Google Patents

Pulse height analyser

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JPS5814062A
JPS5814062A JP11084981A JP11084981A JPS5814062A JP S5814062 A JPS5814062 A JP S5814062A JP 11084981 A JP11084981 A JP 11084981A JP 11084981 A JP11084981 A JP 11084981A JP S5814062 A JPS5814062 A JP S5814062A
Authority
JP
Japan
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value
address
memory
output
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP11084981A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Miyakai Kumamoto
熊本 三矢戒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
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Publication of JPS5814062A publication Critical patent/JPS5814062A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
    • G01R29/027Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a high-precision pulse height analysis by storing the output of a radiation ray detector in a memory, giving an address of a predetermined width to the upper and lower ones across the address of the maximum data in the memory taken as a standard, thereby enabling correct setting of a window width. CONSTITUTION:Detecting at 2 radiation ray from a radiation soruce only the detected value larger than a predetermined value 14 is passed through 13 to eliminate noise and is fed to the sample hold circuit 15 and the control circuit 15. The circuit 16 detects a peak value of input pulse which is fed to the circuit 15 as a sample hold signal to pick up sample of the input pulses. The hold value at circuit 15 is written into a memory 18 after A/D conversion at 17. The lower bit of address at the memory 18 corresponds to the energy level L and the upper bit to the energy level U. The number of detected-value occurrences is then sequentially stored in the address region of the window width which is determined by each address corresponding to the level L and U, providing data distribution of the window width. The data is memory 18 are used for pulse height analysis.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は波高分析装置に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a pulse height analyzer.

放射線計測では、検出エネルギにウィンドを設 ′けて
おき、このウィンド内のエネルギの検出回数の分布(一
般には計数値と呼んでいる)をとり、波高分析用のデー
タを得ている。ウィンドの設定は、検出回数のピーク値
の前後に設定されている。
In radiation measurement, a window is set for the detected energy, and the distribution of the number of energy detections within this window (generally called the count value) is taken to obtain data for wave height analysis. The window settings are set around the peak value of the number of detections.

この計数値と検出エネルギー及びウィンドとの関係を第
1図に示す。図は横軸にエネルギ(KeV )、縦軸に
計数値(計測時間帯での検出回数)を示している。特性
Cは、エネルギの各レベル毎の検出回数を示している。
The relationship between this count value, detected energy, and window is shown in FIG. In the figure, the horizontal axis shows energy (KeV), and the vertical axis shows the count value (the number of detections in the measurement time period). Characteristic C indicates the number of detections for each level of energy.

斜線で示した部分がウィンドを示しぞおり、Lが下方の
一ネーギ値、Uが上方のエネルギ値であり、このUとL
との間のエネルギレベルとその各レベルでの計数値(検
出回数)とが波高分析対象のデータとなる。例えば、図
では、エネルギレベルEでは計測時間帯でP回の検出が
得られたことを示す。このP回の検出値、即ち計数値が
ピーク値となる。
The shaded area indicates the window, L is the lower one energy value, and U is the upper energy value.
The energy level between and the count value (number of detections) at each level are the data to be analyzed for wave height. For example, the figure shows that at energy level E, P detections were obtained in the measurement time period. The detected value of these P times, that is, the counted value becomes the peak value.

かかる笛1図の如き特性を得るための従来回路をg2図
に示す。放射線源1からの放射ll1lは、検出器2に
よって検出される。検出器2の検出値紘、プリアンプ3
に取込談れ追歯に増巾され、上限値比較器4、下限値比
較器5に導かれる。上限値比較器4は第1図の上限値U
との大小関係を比較し、下限値比較器5L第1図の下限
値りとの大小関係を比較する。プリアンプ3の出力であ
る検出値対応値が、UとLとの間に入っていれば、アン
ドゲート6が開き、設定ウィンド中UとLとで挾才れる
範囲のエネルギレベルである旨の出力を発生する。この
出力はカウンタ7(こ取込まれ、計数に供される。
A conventional circuit for obtaining the characteristics of such a whistle as shown in Fig. 1 is shown in Fig. g2. Radiation ll1l from the radiation source 1 is detected by the detector 2. Detection value of detector 2, preamplifier 3
The signal is taken in, amplified by additional teeth, and guided to an upper limit value comparator 4 and a lower limit value comparator 5. The upper limit comparator 4 selects the upper limit value U shown in FIG.
The magnitude relationship is compared with the lower limit value of the lower limit value comparator 5L in FIG. If the detected value corresponding value, which is the output of the preamplifier 3, is between U and L, the AND gate 6 opens and outputs an output indicating that the energy level is within the range that can be selected between U and L within the setting window. occurs. This output is taken in by the counter 7 and used for counting.

この従来例によれば第1図の如きデータを形成できるも
のの1つの大きな欠点を持つ。ピーク値Pが左右にばら
つく点である。ウィンド中をそのばらつきに応じて可変
にできればよいが、ばらつきの原因がドリフト等による
ものであるためウィンド中の対応した変更は困難であっ
た。ドリフトの原因には、第1に、検出器2を構成する
光電子増倍管に印加される高電圧の変動によるもの、第
2に、プリアンプ3のドリフト等がある。この結果、高
精度のピーク計数計測ができなかった。更には高精度な
波高分析を不可能にしていた。
Although this conventional example can generate data as shown in FIG. 1, it has one major drawback. This is the point where the peak value P varies left and right. It would be good if the inside of the window could be changed according to the variation, but since the cause of the fluctuation is due to drift etc., it has been difficult to make a corresponding change in the inside of the window. The causes of the drift include, firstly, fluctuations in the high voltage applied to the photomultiplier tube constituting the detector 2, and secondly, the drift of the preamplifier 3. As a result, highly accurate peak counting measurement was not possible. Furthermore, it made highly accurate wave height analysis impossible.

本発明の目的は、高精度な波高分析を可能にしてなる波
高分析装置を提供すゐものである。
An object of the present invention is to provide a pulse height analyzer that enables highly accurate pulse height analysis.

本発明の要旨は、事前にウィンド中を設定することを止
め、先ず検出器の出力は雑音レベルを除いてすべてディ
ジタル的にメモリ内にデータとして格納させておき、該
格納後メモリをサーチすることによって最大データとな
るアドレスを判別し、該判別したアドレスを基準アドレ
スとしてその前後所定巾のアドレスを与えることによっ
て、ウィンド中の正しい設定を可能にしている点にある
The gist of the present invention is to stop setting the window in advance, and first store all the outputs of the detector except for the noise level digitally in the memory as data, and then search the memory after storing. By determining the address that has the largest amount of data, and using the determined address as a reference address, giving addresses of a predetermined width before and after it, it is possible to make correct settings during the window.

以下、詳述する。The details will be explained below.

第3図は本発明の実施例図、第4図はタイムチャートで
ある。検出器2は放射線源1からの放射線11を検出す
る。第4図では、人、B、C’、D。
FIG. 3 is an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a time chart. Detector 2 detects radiation 11 from radiation source 1 . In Figure 4, people B, C', and D.

E、Fなるパルスが相当(−でいる。雑音除去回路12
は、事前に設定された設定値vthを持つ設定器14と
、この設定器14の設定値Vtbと検出器2の検出値2
aとを比較し、設定値vthよりも大きい検出値のみを
出力する比較器16とより成る。第4図ではパルスCは
雑音として除去され、且つA、B。
The pulses E and F are equivalent (-). Noise removal circuit 12
is a setting device 14 having a preset setting value vth, a setting value Vtb of this setting device 14, and a detected value 2 of the detector 2.
a, and outputs only the detected value larger than the set value vth. In FIG. 4, pulse C is removed as noise, and pulses A and B are removed.

D、 Fl、 Fの低レベルが除去されている。勿論、
第2図と同様にプリアンプ3を検出器2の出力側に挿入
させてもよい。比較器15の出力は、設定値よりも小さ
いレベルの振幅の信号は除去された信号となる。
The low levels of D, Fl, and F have been removed. Of course,
Similarly to FIG. 2, the preamplifier 3 may be inserted on the output side of the detector 2. The output of the comparator 15 is a signal from which signals with amplitudes smaller than the set value are removed.

比較器15の出力13鳳は、サンプルホールド回路15
及び制御回路16に入力する。制御回路16は、比較器
15の出力1311を受けてその立上りに同期した始点
を持ち且つ一定時間中T、を持つ時間帯(第4図のMで
表示)で、上記比較器13の出力のピーク検出を行う。
The output 13 of the comparator 15 is the sample hold circuit 15.
and input to the control circuit 16. The control circuit 16 receives the output 1311 of the comparator 15, has a starting point synchronized with the rising edge of the output 1311, and controls the output of the comparator 13 in a time period T (indicated by M in FIG. 4) during a certain period of time. Perform peak detection.

出力13mからのピーク検出は、各波形によって、検出
するまでの時間が異なる。第4図ではΔt1.Δt7.
Δtsr*・・でこの時間を示している。ピーク検出結
果はサンプルホールド回路15にサンプルホールド信号
16aとして送られ、その時点での比較器出力をピーク
としてサンプルし、以後、一定時間中T0の終了するま
でそのピークをホールドする。こ、の結果は第4図の信
号15mで示される。fIiJ、ピーク検出は制御回路
16内で行う、以外に、サンプルホールド回路15内に
その機能を持たせてもよい。いずれにしろ、ピーク検出
には一定の検出のための処理時間が必要であり、従って
、比較器16の出力のピーク検出のためlこは、そのサ
ンプルホールド対象となる出力自体にその処理時間分だ
けの遅延が必要となる。同、ピーク検出以外に、積分し
平均値を求め咳平均値をピークの代りに出力させてもよ
い。
The time required to detect the peak from the output 13m differs depending on each waveform. In FIG. 4, Δt1. Δt7.
This time is indicated by Δtsr*. The peak detection result is sent to the sample-and-hold circuit 15 as a sample-and-hold signal 16a, which samples the comparator output at that point as a peak, and thereafter holds that peak for a certain period of time until the end of T0. This result is shown by signal 15m in FIG. In addition to performing fIiJ and peak detection within the control circuit 16, the sample and hold circuit 15 may also have this function. In any case, peak detection requires a certain amount of processing time, and therefore, in order to detect the peak of the output of the comparator 16, the output itself to be sampled and held must be processed for the processing time. delay is required. Similarly, in addition to peak detection, it is also possible to integrate and obtain an average value and output the cough average value instead of the peak.

サンプルホールド回路15の出力15mは、人り変換器
17に送られる。AD変換器17けサンプルホールド回
路15のホールド出力を取込みAD変換する。
The output 15m of the sample and hold circuit 15 is sent to the human converter 17. 17 AD converters The hold output of the sample hold circuit 15 is taken in and AD converted.

このAD変換の開始時点は、制御回路16のAD変換開
始指令信号16bによる。AD変換器17けこの指令信
号16bによって変換を開始し、AD変換終了に伴って
AD変換終了信号17mを発生する。一方、制御回路1
6はAD変換器17のこのAD変換終了信号17mを受
信すると直ちにメモリ18へ書込み 1指令信号16c
を発生する。これによってメモリ18はデータを書込む
。!s4図では信号16bは信号15aに対してΔを遅
れ、17aは16bに対してΔτ1,16cは17aに
対してΔrJ遅れて発生する。いずれもハードウェア上
の遅れによる。
The start point of this AD conversion is determined by the AD conversion start command signal 16b of the control circuit 16. Conversion is started by the command signal 16b of the AD converter 17, and an AD conversion end signal 17m is generated upon completion of the AD conversion. On the other hand, control circuit 1
When 6 receives this AD conversion end signal 17m from the AD converter 17, it immediately writes it into the memory 18. 1 Command signal 16c
occurs. This causes the memory 18 to write data. ! In the diagram s4, the signal 16b is generated with a delay of Δ with respect to the signal 15a, the signal 17a is generated with a delay of Δτ1 with respect to 16b, and the signal 16c is generated with a delay of ΔrJ with respect to 17a. Both are due to hardware delays.

メモリ1Bでのデータ書込み動作を述べる。メモリ18
は、AD変換器17のディジタル化されたデータである
検出値によってアドレッシングされている。メモリ18
のアドレス中、下位(スタート)アドレスはエネルギレ
ベルLに対応し、上位(最終)アドレスはエネルギレベ
ルUに対応する。従って検出値に対応してメそす18の
アドレスがアクセスされる。一方、書込むべきデータは
1回の検出値(雑音を除去した後の検出値である)に対
して“1”とする。同一検出値に対しては、順次″″1
”がその検出回数だけ加算され、該加算値がデータとじ
て記憶される。従って、エネルギレベルLに対応するア
ドレスとエネルギレベルUに対応するアドレスとで定す
るウィンド巾のアドレス領域中に、各エネルギレベル毎
の検出値生起回数が順次格納され、第1図のUとLとで
定まるウィンド巾のデータ分布が得られることになる。
The data write operation in memory 1B will be described. memory 18
is addressed by a detection value which is digitized data of the AD converter 17. memory 18
Among the addresses, the lower (start) address corresponds to energy level L, and the upper (final) address corresponds to energy level U. Therefore, 18 addresses are accessed in accordance with the detected value. On the other hand, the data to be written is "1" for one detected value (the detected value after removing noise). For the same detection value, sequentially ``''1
" is added by the number of times of detection, and the added value is stored as data. Therefore, in the address area of the window width defined by the address corresponding to energy level L and the address corresponding to energy level U, each The number of occurrences of detected values for each energy level is stored sequentially, and a data distribution with a window width determined by U and L in FIG. 1 is obtained.

同、メモリは、カクンタ形成により形成した場合には、
データは、読出すことなく、そのまま計数記憶される。
Similarly, when the memory is formed by kakunta formation,
The data is simply counted and stored without being read out.

レジスタ形式の場合には、読出して”1”加算を行い、
再び書込むという動作が必要となる。メモリ構成を磁気
的なものであるか、回路的なものであるかは任意である
In the case of register format, read and add "1",
The operation of writing again is required. It is arbitrary whether the memory configuration is magnetic or circuit-based.

メモリ18内に格納されたデータは波高分析に利用され
る。この波高分析の際、本実施例によるデ、−夕格納形
式によれば、どのエネルギレベルがピークを示すかの判
別、即ち分布上のピーク値Pの判別Lメモリ18内のデ
ータをサーチすることによって容易に可能である。この
ピーク値を示すアドレス(番地)を中心に、プラス方向
とマイナス方向の所定巾のアドレスを指定することによ
ってビ一り値に応じたウィンド指定を行うことができる
The data stored in memory 18 is used for wave height analysis. At the time of this wave height analysis, according to the digital storage format of this embodiment, it is necessary to determine which energy level indicates a peak, that is, to determine the peak value P on the distribution by searching the data in the L memory 18. This is easily possible. By specifying a predetermined range of addresses in the plus and minus directions around the address (address) indicating this peak value, it is possible to specify a window according to the peak value.

これによって、ピーク値を重心とする波高分析データを
容易に得ることができる。実際の波高分析には計算機を
利用して行う。図で、20が計算機であシ、計X根20
はメモリ18のデータを読取シ波高分析処理を行う。同
、メモリ18の容量は1サイクルでの波高分析用データ
を格納できる容量であっても、多サイクルでの波高分析
用データを格納できる程の容量を長っていてもよい。
Thereby, wave height analysis data with the peak value as the center of gravity can be easily obtained. A computer is used for actual wave height analysis. In the figure, 20 is calculated by computer, total x root 20
reads the data in the memory 18 and performs wave height analysis processing. Similarly, the capacity of the memory 18 may be large enough to store data for wave height analysis in one cycle, or may be large enough to store data for wave height analysis in multiple cycles.

以上の本発明によれば、ある期間計測したエネルギに対
する計測値の2次元分布がメモリに記憶できるようにな
ったため、精度の高い波高分析装置を提供できた。
According to the present invention described above, a two-dimensional distribution of measured values for energy measured over a certain period can be stored in the memory, and therefore a highly accurate pulse height analyzer can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は波高分析の説明図、第2図は従来例図、第3図
は本発明の実施例図、第4図はタイムチャートである。 1・・・放射線源、2・・・検出器、12・・・雑音除
去回路、15・・・サンプルホールド回路、16・・・
制御回路、17・・・AD変換器、18・・・メモリ。 第1図 第2図
FIG. 1 is an explanatory diagram of wave height analysis, FIG. 2 is a diagram of a conventional example, FIG. 3 is a diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a time chart. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Radiation source, 2... Detector, 12... Noise removal circuit, 15... Sample hold circuit, 16...
Control circuit, 17... AD converter, 18... Memory. Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、 放射線源からの時系列的に生起する放射線を検出
する検出器と、該生起し検出された検出値が事前に設定
された雑音除去用の設定値よりも大きい時のみ上記大き
いレベルの検出値を出力する比較手段と、該比較手段出
力を取込み各生起毎の出力対応値を検出しホールドする
ホールド手段と、蚊ホールド値を取込みAD変換するA
D変換器と、該人り変換器の出力の振幅レベルに対応し
てアドレッシングされてなるメモリを該AD変換器の出
力に対応したアドレスによってアクセスし、1回の出力
生起毎に峡当アドレス内のデータに1′を積算させて格
納してなるメモリ手段と、該メモリ手段内に格納された
AD変換器出力対応のアドレス内のデータの中で最大値
となるデータを判別し、該最大となるデータのアドレス
を基準アドレスとして該アドレスの前後所定中のアドレ
スをウィンド巾として設定し、該ウィンド中肉ノアドレ
ス対応のデータを読出し波高分析に供せしめる手段と、
より成る波高分析装置。 2 上記出力対応値は各生起出力毎のピーク値としてな
る特許請求の範囲第1項記載の波高分析装置。
[Claims] 1. A detector that detects radiation that occurs in time series from a radiation source, and when the detected value of the generated radiation is larger than a preset value for noise removal. A comparison means for outputting the detection value of the large level, a holding means for taking in the output of the comparison means, detecting and holding an output corresponding value for each occurrence, and A for taking in the mosquito hold value and converting it into AD.
A D converter and a memory that is addressed in accordance with the amplitude level of the output of the human converter are accessed by an address corresponding to the output of the AD converter, and each time an output occurs, a memory within the appropriate address is accessed. A memory means is formed by multiplying the data by 1' and storing the data, and the data having the maximum value among the data in the address corresponding to the output of the AD converter stored in the memory means is determined, and the data having the maximum value is determined. means for setting a predetermined address before and after the address as a reference address as a reference address, and reading data corresponding to the middle address of the window for wave height analysis;
A wave height analyzer consisting of: 2. The wave height analyzer according to claim 1, wherein the output corresponding value is a peak value for each generated output.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60140805A (en) * 1983-12-28 1985-07-25 Aichi Electric Mfg Co Ltd Method and apparatus for laminating core for transformer
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