JPS58139042A - 真空度測定装置 - Google Patents
真空度測定装置Info
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- JPS58139042A JPS58139042A JP2106682A JP2106682A JPS58139042A JP S58139042 A JPS58139042 A JP S58139042A JP 2106682 A JP2106682 A JP 2106682A JP 2106682 A JP2106682 A JP 2106682A JP S58139042 A JPS58139042 A JP S58139042A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L21/00—Vacuum gauges
- G01L21/30—Vacuum gauges by making use of ionisation effects
- G01L21/34—Vacuum gauges by making use of ionisation effects using electric discharge tubes with cold cathodes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の属する技術分野]
本発明は真空度測定装置、就中冷鳴極クロストフィール
ドパルス放電を行う真空度測定t7&置に関する。
ドパルス放電を行う真空度測定t7&置に関する。
[従来技術及び其の問題点・要求]
高真空及び超嶌真空領域の真空度を容易に測定し得るも
のとして熱嘆礪電−真空針がある。この真空針は被測定
空間の気体分子が高温の1極表面で化学変化を起こすこ
とが多く正確な真空度測定が1−であっ九。またits
極の熱が他の鑞価や真空鐘をも加熱するので、大気によ
る自然空冷の伏線変化と相俟って1度分布も時間的に大
きく変化することがあり、固体壁に吸着される分子の量
が変化する九め被測定空間の真空度を正確に測定し峻か
っ友。さらにまた誤操作等によって被測定空間に大気が
流入すると端極が焼失するという欠点もあった〇 これに対して、熱#kItIiを持たない冷陰極クロス
トフィールド放電を生起させて真空度を測定するものと
してPIG真空針、マグネトロン真空針及び逆マグネト
ロン真空針等がある。従来広く用いられている冷一種放
電形真空針は直流放電を利用し九ものであるが、放電に
よるガス放出作用及び排気作用が激しいので取扱いに熟
練を1し、実用面ではほとんどの場合、真空度の概略の
値を知るための本なる指示針器として利用され、正確な
真空度の埴すなわち圧力を#j定マきる針欄器としては
利用されることがまれであった0熱鳴極鑞−真空針及び
直流放電を利用した冷陰極真空針のト述の間igaは、
圧力を測定される真空容器が封じ切られ九−のである場
合は更に重大化する。すなわち圧力を測定される真空容
器がそれを排気するポンプに接続されていなくて、定常
的な気体供給源ももたない場合、圧力測定に伴う圧力変
化が著しいので、熱鵬極鴫雌真空針及び直流放電を利用
した冷陰極真空針のいずれでも、封じ切られた真空容器
の正確な圧力測定は実際1不OT 能であった。
のとして熱嘆礪電−真空針がある。この真空針は被測定
空間の気体分子が高温の1極表面で化学変化を起こすこ
とが多く正確な真空度測定が1−であっ九。またits
極の熱が他の鑞価や真空鐘をも加熱するので、大気によ
る自然空冷の伏線変化と相俟って1度分布も時間的に大
きく変化することがあり、固体壁に吸着される分子の量
が変化する九め被測定空間の真空度を正確に測定し峻か
っ友。さらにまた誤操作等によって被測定空間に大気が
流入すると端極が焼失するという欠点もあった〇 これに対して、熱#kItIiを持たない冷陰極クロス
トフィールド放電を生起させて真空度を測定するものと
してPIG真空針、マグネトロン真空針及び逆マグネト
ロン真空針等がある。従来広く用いられている冷一種放
電形真空針は直流放電を利用し九ものであるが、放電に
よるガス放出作用及び排気作用が激しいので取扱いに熟
練を1し、実用面ではほとんどの場合、真空度の概略の
値を知るための本なる指示針器として利用され、正確な
真空度の埴すなわち圧力を#j定マきる針欄器としては
利用されることがまれであった0熱鳴極鑞−真空針及び
直流放電を利用した冷陰極真空針のト述の間igaは、
圧力を測定される真空容器が封じ切られ九−のである場
合は更に重大化する。すなわち圧力を測定される真空容
器がそれを排気するポンプに接続されていなくて、定常
的な気体供給源ももたない場合、圧力測定に伴う圧力変
化が著しいので、熱鵬極鴫雌真空針及び直流放電を利用
した冷陰極真空針のいずれでも、封じ切られた真空容器
の正確な圧力測定は実際1不OT 能であった。
封じ切られた真空容器の圧力を正確に測定するものとし
て、冷一種放電を短時間に限定して行わせ、短時間に流
れる放電電流により圧力を測定する装置は本発明の出謔
人により出−して特許された特許$ 7794384+
及び特許$ 803202号がある。コれらは放電の時
間を短くし九結果放電による圧力変化を事実上無視で自
るtのと為し、熟練を費しない封じ切り真空容器の圧カ
ーj定かり能としたものである。この封じ切り真空容器
に対する圧力測定の技術は真空ポンプ等を有する一般的
な真空容器の圧力測定にも適用できる如く改良され、パ
ルス放電を利用した一般用途の真空度測定lII&−が
実現している。例えば実用新案登録$ 1115373
号に記載のような技術がある。この発明等により、真空
度一定によって真空度が変化し、変化した真空度を#j
定する結果測定が不正確になるという従来技術の問題点
は解決され、真空度測定によって真空度が実−と変化せ
ず正確な真空度測定かで−るものが実用化され丸。ここ
で、冷嬉極パルス放電を利用した上述の新規な真空度測
定装置はパルス放電真空針と呼ぶことくする。
て、冷一種放電を短時間に限定して行わせ、短時間に流
れる放電電流により圧力を測定する装置は本発明の出謔
人により出−して特許された特許$ 7794384+
及び特許$ 803202号がある。コれらは放電の時
間を短くし九結果放電による圧力変化を事実上無視で自
るtのと為し、熟練を費しない封じ切り真空容器の圧カ
ーj定かり能としたものである。この封じ切り真空容器
に対する圧力測定の技術は真空ポンプ等を有する一般的
な真空容器の圧力測定にも適用できる如く改良され、パ
ルス放電を利用した一般用途の真空度測定lII&−が
実現している。例えば実用新案登録$ 1115373
号に記載のような技術がある。この発明等により、真空
度一定によって真空度が変化し、変化した真空度を#j
定する結果測定が不正確になるという従来技術の問題点
は解決され、真空度測定によって真空度が実−と変化せ
ず正確な真空度測定かで−るものが実用化され丸。ここ
で、冷嬉極パルス放電を利用した上述の新規な真空度測
定装置はパルス放電真空針と呼ぶことくする。
このパルス放電真空針は高真空領域(1「〜1O−Pa
)の大部分で正確な圧力測定を行うが、超^真空領域(
lOPs+以下の圧力)で正確さに問題が生じる。これ
を冷ms放電で圧力Pを測定するためKlする時間の実
際的な値τを実績で求めた結果を示す線図であるfi1
図により説明する。高真空及び超鳥真空領域の境界のP
二1XIOPaに於て、Pを測定するに曹する時間τは
τミAm@Cミリ秒)である。上記の如く放電には排気
またはガス放出作用が伴うので、放電の時間はできるだ
け短い方が好ましく、放電の時間が長くなると測定の正
確さは従来の直流放電真空針の持つ正確さと同程度にな
ってしまう。放電の成極構造及び材料とそれを収容する
容器の大きさ、放電電圧、磁場等により正確な圧力測定
に許容される放電の時間が定まり、−概には首えないが
、 lQms−5Qms以丁で概ねパルス放電の特徴を
生かした正確な圧力測定ができる。縞1図に示す例では
放°鑞の電極の材料及びそれを収容する容器の大きさに
特に注意が払われていて、iooms根度の放電時間で
も正確な圧力測定が可能であるが、この場合でも3Xl
θ−’Paが正確な圧力測定ので自る限界となる。
)の大部分で正確な圧力測定を行うが、超^真空領域(
lOPs+以下の圧力)で正確さに問題が生じる。これ
を冷ms放電で圧力Pを測定するためKlする時間の実
際的な値τを実績で求めた結果を示す線図であるfi1
図により説明する。高真空及び超鳥真空領域の境界のP
二1XIOPaに於て、Pを測定するに曹する時間τは
τミAm@Cミリ秒)である。上記の如く放電には排気
またはガス放出作用が伴うので、放電の時間はできるだ
け短い方が好ましく、放電の時間が長くなると測定の正
確さは従来の直流放電真空針の持つ正確さと同程度にな
ってしまう。放電の成極構造及び材料とそれを収容する
容器の大きさ、放電電圧、磁場等により正確な圧力測定
に許容される放電の時間が定まり、−概には首えないが
、 lQms−5Qms以丁で概ねパルス放電の特徴を
生かした正確な圧力測定ができる。縞1図に示す例では
放°鑞の電極の材料及びそれを収容する容器の大きさに
特に注意が払われていて、iooms根度の放電時間で
も正確な圧力測定が可能であるが、この場合でも3Xl
θ−’Paが正確な圧力測定ので自る限界となる。
パルス放電真空針は、その信111度の高いこと。
及び測定による圧力変化が極めて小さいことを生かして
、対し切りの真空容器の圧力測定に利用されていること
は上述の通りであるが、測定されるものは、例えば電力
の送配電系統のスイッチング素子である真空バルブの如
く、本来真空針感圧部として設計され丸ものではないの
で、正確な圧力測定のできる圧力範囲は上述のガより挾
〈な9゜通常1〜5 X 10 ’Pa 11度がその
下限である〇一方製造技術の進歩により、真空パルプ等
の圧力は大部分が#1定可能な範−を超える超高真空領
域にある。従ってこれまでのパルス放電真空針で真空バ
ルブ等の圧力を測定するとき、測定可能な範囲にある^
い圧力のものは高倍#li度で全数測定できるが、その
範囲を超える超高真空領域の圧力のものは、趨^真4!
憤域の圧力であることがわかるだけで圧力の値は不明で
ある、という問題があつ九)[発明の目的] 本発明はかかる事情に鑑みて為されたもので、その目的
は超高真空領域の圧力測定をも可能とするパルス放電を
利用した真空度測定装置を提供するKある。
、対し切りの真空容器の圧力測定に利用されていること
は上述の通りであるが、測定されるものは、例えば電力
の送配電系統のスイッチング素子である真空バルブの如
く、本来真空針感圧部として設計され丸ものではないの
で、正確な圧力測定のできる圧力範囲は上述のガより挾
〈な9゜通常1〜5 X 10 ’Pa 11度がその
下限である〇一方製造技術の進歩により、真空パルプ等
の圧力は大部分が#1定可能な範−を超える超高真空領
域にある。従ってこれまでのパルス放電真空針で真空バ
ルブ等の圧力を測定するとき、測定可能な範囲にある^
い圧力のものは高倍#li度で全数測定できるが、その
範囲を超える超高真空領域の圧力のものは、趨^真4!
憤域の圧力であることがわかるだけで圧力の値は不明で
ある、という問題があつ九)[発明の目的] 本発明はかかる事情に鑑みて為されたもので、その目的
は超高真空領域の圧力測定をも可能とするパルス放電を
利用した真空度測定装置を提供するKある。
[発明のIII!]
パルス放電を行わせる直前に交流磁場により導体に一導
電流を流して7Ia熱し、その表面に吸着されている分
子の一部を空間に放出して圧力を増加させ、増加した圧
力をパルス放−区により#j定し、圧力の増加分と増加
する前の圧力が一定の関係にあることを利用して、超高
真空領域の圧力測定を4 Ill能とした) [発明の実m例] 42図は本発明の一実施例を示す真空度測定装置のブロ
ック図で、要部は断面で示しであるoIs3図は第2図
に示す真空度測定!!置のタイ1フフ図で横軸【は時間
を示す。
電流を流して7Ia熱し、その表面に吸着されている分
子の一部を空間に放出して圧力を増加させ、増加した圧
力をパルス放−区により#j定し、圧力の増加分と増加
する前の圧力が一定の関係にあることを利用して、超高
真空領域の圧力測定を4 Ill能とした) [発明の実m例] 42図は本発明の一実施例を示す真空度測定装置のブロ
ック図で、要部は断面で示しであるoIs3図は第2図
に示す真空度測定!!置のタイ1フフ図で横軸【は時間
を示す。
(1)は鉄心、(2)は捲線、(3m)は励磁鴫源で、
第3図に示す如く該捲線(2)には蝋初の一定時間t1
〜t2の関小振幅の交流であり、咳一定時間経過後の時
刻t2に鍍小振幅の交流は停止し、大振幅の所定の一方
向に流れる電流Imが通電される。該鉄心(1)、該捲
線(2)、皺励磁電源(3m)は電流Imで励磁される
磁場発生装置(ロ)を構成する。(5b)は高電圧直流
1源でその出力の一端は支柱を兼ねる導線(6)を僅て
陽極(7)に印加され、咳aII111E圧直fi11
cIll[(5b)ノ出力の他端は接地される。支柱を
兼ねる導−(8)はtS礁(9)に接続される。#陽極
(7)及び鍍暎礪(9)は−組の鑞極四を構成し、咳−
組の電*a3は咳磁場発生装置(4りの発生する磁場中
に配設され、真空度を欄 定される図示されない真
空装置と連通ずる真空容器ttuに収容される。u4は
電流測定装置で人力の一端は該導m +8) K J1
続され、入力の他端は接地される0鋏4流−1定装置I
の両入力端の間の電位差は夷−1零となされるので、#
陰極(9)は接地4位に保九れ、鍍高′鑞圧直fi4d
l(5b)の出力域圧は一組の電極四に印卯される。か
くして構成された本発明の実施例の真空度#j定装置の
動作をl1g3図を用いて説明すると、励m罐流1mは
時刻12から一方向の大振−の−流に向って変化し、時
[1,に所定の電流値に達し、時刻t4までその電流値
が保たれ。
第3図に示す如く該捲線(2)には蝋初の一定時間t1
〜t2の関小振幅の交流であり、咳一定時間経過後の時
刻t2に鍍小振幅の交流は停止し、大振幅の所定の一方
向に流れる電流Imが通電される。該鉄心(1)、該捲
線(2)、皺励磁電源(3m)は電流Imで励磁される
磁場発生装置(ロ)を構成する。(5b)は高電圧直流
1源でその出力の一端は支柱を兼ねる導線(6)を僅て
陽極(7)に印加され、咳aII111E圧直fi11
cIll[(5b)ノ出力の他端は接地される。支柱を
兼ねる導−(8)はtS礁(9)に接続される。#陽極
(7)及び鍍暎礪(9)は−組の鑞極四を構成し、咳−
組の電*a3は咳磁場発生装置(4りの発生する磁場中
に配設され、真空度を欄 定される図示されない真
空装置と連通ずる真空容器ttuに収容される。u4は
電流測定装置で人力の一端は該導m +8) K J1
続され、入力の他端は接地される0鋏4流−1定装置I
の両入力端の間の電位差は夷−1零となされるので、#
陰極(9)は接地4位に保九れ、鍍高′鑞圧直fi4d
l(5b)の出力域圧は一組の電極四に印卯される。か
くして構成された本発明の実施例の真空度#j定装置の
動作をl1g3図を用いて説明すると、励m罐流1mは
時刻12から一方向の大振−の−流に向って変化し、時
[1,に所定の電流値に達し、時刻t4までその電流値
が保たれ。
時刻t4以後は零に向って急減し、短時間で該励磁電流
1mは零となって、大振幅の所定の一方向の励磁電流で
励磁される磁場はパルス磁場となるO該電流#1定績置
αコ及び該励磁電流(3a)は制御装置α漕に制御され
る。
1mは零となって、大振幅の所定の一方向の励磁電流で
励磁される磁場はパルス磁場となるO該電流#1定績置
αコ及び該励磁電流(3a)は制御装置α漕に制御され
る。
磁場発生撫ml (4a)の発生する交流磁場により一
組の電極りを構成する陽極(7)及びtS極(9)には
表皮電流が眞扛、咳表皮鴫流により該陽極(7)及び鍍
−極(9)の表向a度は図示された代表的な温度Tの様
に変化する。超高真空状−に於て4d(lIfi17)
及び骸−極(9)の表面には、蘂1式で定まる吸着分子
数表面密度σの分子が吸着している。
組の電極りを構成する陽極(7)及びtS極(9)には
表皮電流が眞扛、咳表皮鴫流により該陽極(7)及び鍍
−極(9)の表向a度は図示された代表的な温度Tの様
に変化する。超高真空状−に於て4d(lIfi17)
及び骸−極(9)の表面には、蘂1式で定まる吸着分子
数表面密度σの分子が吸着している。
a=’cnir。−eXp(tJ/RT )
・11)ここでnは吸着層を有する固体表面と平衡した
気体の分子数密度、iは分子の41Jする速さの平均、
τ0は時間のディメンジーンを持つ定数で、気体分子が
固体表面でただちに反射されたときのsIw時間に対応
する量であり、Uは固体表面に吸着され九分子の活性化
エネルギー、Rri気体定数、Tは温度、Cは無次元の
量で固体S面に入射した分子の付着確率と固体表面の粗
さ係数の積である。
・11)ここでnは吸着層を有する固体表面と平衡した
気体の分子数密度、iは分子の41Jする速さの平均、
τ0は時間のディメンジーンを持つ定数で、気体分子が
固体表面でただちに反射されたときのsIw時間に対応
する量であり、Uは固体表面に吸着され九分子の活性化
エネルギー、Rri気体定数、Tは温度、Cは無次元の
量で固体S面に入射した分子の付着確率と固体表面の粗
さ係数の積である。
咳陽極(7)及び# 14fi、 +9)の表面湿度が
上昇するとその上昇した温度に於ける新たな平衡に向っ
て執う 着され九分尽の一部は脱離してCは減少しnは増加する
・真g!、lI器u■は絶縁物製であるから交流磁場に
よる表皮電流は流れず1度は実質的に変化しないので、
咳陽極(力及び咳鎮極(9)の表面から説−した分子の
一部は真空装sunの内面に吸着され、また表面から脱
離し九分子の他の一部は該真空装sunに連通する図示
されない真空容器へ流出するので、鍍陽4it力及び該
ws#Aに包囲される空間の慮温換算圧力Pgは43図
に示される如く変化する。
上昇するとその上昇した温度に於ける新たな平衡に向っ
て執う 着され九分尽の一部は脱離してCは減少しnは増加する
・真g!、lI器u■は絶縁物製であるから交流磁場に
よる表皮電流は流れず1度は実質的に変化しないので、
咳陽極(力及び咳鎮極(9)の表面から説−した分子の
一部は真空装sunの内面に吸着され、また表面から脱
離し九分子の他の一部は該真空装sunに連通する図示
されない真空容器へ流出するので、鍍陽4it力及び該
ws#Aに包囲される空間の慮温換算圧力Pgは43図
に示される如く変化する。
ここでPgは% Pg=nkT 、 kはポルツマン定
数、に於てT4C室温を代入して得られる値である。時
刻11以藺には圧力Pgは圧力を測定される図示されな
い真空装置の圧力Pと等しく 、Pv′P=1である。
数、に於てT4C室温を代入して得られる値である。時
刻11以藺には圧力Pgは圧力を測定される図示されな
い真空装置の圧力Pと等しく 、Pv′P=1である。
時刻t1以後t4までは温度Tの変化に伴い圧力Pgが
変化し、PK/P>1となる。該−組の鴫4tllの材
料は定まっているので、定まった櫨−〇気体、例えば水
素に対し嬉(1)式のc、v、τo、Uが定まり、電f
iImを適切に制御することにより各時刻に於ける温度
Tを制御することができるので、σの変化の量が定まり
、各時刻に於けるPg/Pの値も定まる。
変化し、PK/P>1となる。該−組の鴫4tllの材
料は定まっているので、定まった櫨−〇気体、例えば水
素に対し嬉(1)式のc、v、τo、Uが定まり、電f
iImを適切に制御することにより各時刻に於ける温度
Tを制御することができるので、σの変化の量が定まり
、各時刻に於けるPg/Pの値も定まる。
時刻12までは磁場の値が小さく放電は発生せず放電電
流Idは、Id=Qである。磁場が所定の強い磁場とな
される時間t、〜t、に放電が発生する。時間13〜t
4で放電電流Idは圧力Pgで定まる値をとる。
流Idは、Id=Qである。磁場が所定の強い磁場とな
される時間t、〜t、に放電が発生する。時間13〜t
4で放電電流Idは圧力Pgで定まる値をとる。
この時間13〜t4の間に放゛44流Idt−#J定す
ることにより圧力pgが求まり、既に定まったに’g/
Pの値から、圧力Pが求まる。第3図に示す如く時間t
3〜14でPglp>>1であるから、11ilIい圧
力Pgを、パルス放電により測定して、低い圧力Pが求
まる。これが本発明の効果で、超尚真空領域の圧力測定
をも可能とするパルス放電を利用した真空度−j足装置
が実現する。
ることにより圧力pgが求まり、既に定まったに’g/
Pの値から、圧力Pが求まる。第3図に示す如く時間t
3〜14でPglp>>1であるから、11ilIい圧
力Pgを、パルス放電により測定して、低い圧力Pが求
まる。これが本発明の効果で、超尚真空領域の圧力測定
をも可能とするパルス放電を利用した真空度−j足装置
が実現する。
[発明の他の実施例]
#I4図は本発明の他の一実施ガを示す真空度測定装置
のブロック図で、*Sは断面で示しである0嬉5図は第
4図に示す真空度#ilj定装置のタイ2ング図で、横
軸tは時間を示す0捲繍(2)及び励磁域@ (3b)
は電流Imで励磁される磁場発生装置(4b)を構成す
る。(51)は高電圧パルス11源で電fill定装置
uaと共に制御装置#lO謙に制−される。Iは真空バ
ルブで、その固定電極059に固着された接触子lie
及び可動を極顛に固着された接触子u1は真空11υに
収容され、咳真空容器αυは所定の排気工種の戚終戚階
で封じ切られる。該真空11υの内部は咳真空パルプI
が鴫力系統のスイッチング素子として正常に機能するた
めに、常に高度な高真空ある 1いは超嶌真空に保たれ
ていなければならない。真空バルブIの真空容器αυ内
の圧力Pgは、例えば特許嬶77’j438号及び特許
4803202に係る公報に示されるような真空度測定
装置により測定され、真空度に関する品質管理の信頼度
は非常に高度なものとなっているが、測定できる圧力の
下限が高真空領域に制限されることは上述の通りである
。
のブロック図で、*Sは断面で示しである0嬉5図は第
4図に示す真空度#ilj定装置のタイ2ング図で、横
軸tは時間を示す0捲繍(2)及び励磁域@ (3b)
は電流Imで励磁される磁場発生装置(4b)を構成す
る。(51)は高電圧パルス11源で電fill定装置
uaと共に制御装置#lO謙に制−される。Iは真空バ
ルブで、その固定電極059に固着された接触子lie
及び可動を極顛に固着された接触子u1は真空11υに
収容され、咳真空容器αυは所定の排気工種の戚終戚階
で封じ切られる。該真空11υの内部は咳真空パルプI
が鴫力系統のスイッチング素子として正常に機能するた
めに、常に高度な高真空ある 1いは超嶌真空に保たれ
ていなければならない。真空バルブIの真空容器αυ内
の圧力Pgは、例えば特許嬶77’j438号及び特許
4803202に係る公報に示されるような真空度測定
装置により測定され、真空度に関する品質管理の信頼度
は非常に高度なものとなっているが、測定できる圧力の
下限が高真空領域に制限されることは上述の通りである
。
以下Is4及び45図を用いて本実施例の動作を説明す
る。^゛鴫電圧ルス鴫源(5a)の出力の一端は固定罐
極(Isに接続され、出力の他端は接地される。
る。^゛鴫電圧ルス鴫源(5a)の出力の一端は固定罐
極(Isに接続され、出力の他端は接地される。
可動型4aηは′縮流測定装置03を介して接地される
。
。
鍍固定IUILaS、鍍可#IJ鴫極αη、該接触子1
11α碍及びシールド(l場は、−組の峨jrM■を構
成し、該高1圧パルス電源(5m)から正の高電圧Va
を印加される鋏固定鴫礪−及び接触子tteを陽極とし
、鍍シールド−をtstiとする逆マグネトロン放゛鴫
と、該シールドIN−を#IIfiとし接地された績町
―電極Uη及び接触子U婦を喝礪とするマグネトロン放
−との直列放電が行われて放m電流1.tが流れ、封じ
切られた真空seaυの内部の圧力Pg Dl #j定
される。時間t1〜t2の間励磁電流Imは小振幅の交
流で、咳真空バルブIの導鴫部に表皮電流が流れ、加熱
された導1ts表面の温ILTは上昇し、時刻tl以前
にPgoであった圧力Pgは増加してPglとなる。時
刻12に小振幅の交流による励磁は停止し、一方向の大
電流に向って変化し、時刻t3以前に所定の電流値に達
し、以後この直流電流が維持される。時刻t2から所定
の遅れ時間が経過した時刻t3からt4まで該高電圧パ
ルスIIc源(5a)の出力電圧は■1となり、放電が
発生して放電電流Idが流れる。Idにより圧力Pgs
が求まり、PglはPgoと一定の関係を有するのでP
g。
11α碍及びシールド(l場は、−組の峨jrM■を構
成し、該高1圧パルス電源(5m)から正の高電圧Va
を印加される鋏固定鴫礪−及び接触子tteを陽極とし
、鍍シールド−をtstiとする逆マグネトロン放゛鴫
と、該シールドIN−を#IIfiとし接地された績町
―電極Uη及び接触子U婦を喝礪とするマグネトロン放
−との直列放電が行われて放m電流1.tが流れ、封じ
切られた真空seaυの内部の圧力Pg Dl #j定
される。時間t1〜t2の間励磁電流Imは小振幅の交
流で、咳真空バルブIの導鴫部に表皮電流が流れ、加熱
された導1ts表面の温ILTは上昇し、時刻tl以前
にPgoであった圧力Pgは増加してPglとなる。時
刻12に小振幅の交流による励磁は停止し、一方向の大
電流に向って変化し、時刻t3以前に所定の電流値に達
し、以後この直流電流が維持される。時刻t2から所定
の遅れ時間が経過した時刻t3からt4まで該高電圧パ
ルスIIc源(5a)の出力電圧は■1となり、放電が
発生して放電電流Idが流れる。Idにより圧力Pgs
が求まり、PglはPgoと一定の関係を有するのでP
g。
が求まる。
第5図に示すごと< Pgl > PgOであるから、
^い圧力Pglをパルス放電により測定して、低い圧力
Pgoが来談る。この効果で、超^真空領域の圧力測定
をも可能とするパルス放11tを利用した封じ切り真空
容器内の真空度測定にも好適な真空度測定装置が実現す
る。
^い圧力Pglをパルス放電により測定して、低い圧力
Pgoが来談る。この効果で、超^真空領域の圧力測定
をも可能とするパルス放11tを利用した封じ切り真空
容器内の真空度測定にも好適な真空度測定装置が実現す
る。
[発明の効果]
以上要するに本発明によれば、一定すべき真空容器内の
気体の圧力を所定時間のみ^めたときの真空度を一定し
て実際の真空度を換算するので、容易かつ簡単な装置で
、超鳥真空領域まで正確に固定できる。
気体の圧力を所定時間のみ^めたときの真空度を一定し
て実際の真空度を換算するので、容易かつ簡単な装置で
、超鳥真空領域まで正確に固定できる。
第1図は冷陰極放・域で圧力Pを測定するために要する
時間の実録的な値τを実験で求めた結果を示す−1、第
2図は本発明の一実施例を示す真空rIL闘定懺置装置
ロ、り図、第3図は第2図に示す真空![固定装置のタ
イミング図、第4図は本発明の他の一実施例を示す真空
度測定装置のプロ°ツク図、第5図はjIJ図に示す真
空11r、l!1113定装置のタイミング図である。 (1)・・・鉄心、 (2)・・・捲騙、 (38X3
1))・・・励磁電源、(4JIX4b)・・・磁場発
生装置、(5a)・・・高電圧パルス電源、(5b)・
・・高電圧直流電源、 (6) (8)・・・導線、(
刀・・・sli、 (9)・・・tlj![j、
顛(7)・・・−組の電極、ae・・・真9.容量、
α邊・・・電流測定装置、n’−・真空バルブ、6!9
・・・固定電極、ae・・・可動電極、ae−・・・接
触子、 (II・・・シールド。 代理人弁理士則近憲佑 (ほか1名) 第 l 図 P(PA) 第2図 /3 第3図
時間の実録的な値τを実験で求めた結果を示す−1、第
2図は本発明の一実施例を示す真空rIL闘定懺置装置
ロ、り図、第3図は第2図に示す真空![固定装置のタ
イミング図、第4図は本発明の他の一実施例を示す真空
度測定装置のプロ°ツク図、第5図はjIJ図に示す真
空11r、l!1113定装置のタイミング図である。 (1)・・・鉄心、 (2)・・・捲騙、 (38X3
1))・・・励磁電源、(4JIX4b)・・・磁場発
生装置、(5a)・・・高電圧パルス電源、(5b)・
・・高電圧直流電源、 (6) (8)・・・導線、(
刀・・・sli、 (9)・・・tlj![j、
顛(7)・・・−組の電極、ae・・・真9.容量、
α邊・・・電流測定装置、n’−・真空バルブ、6!9
・・・固定電極、ae・・・可動電極、ae−・・・接
触子、 (II・・・シールド。 代理人弁理士則近憲佑 (ほか1名) 第 l 図 P(PA) 第2図 /3 第3図
Claims (6)
- (1)@鳩発生#r&−と、この磁場発生装置の発生す
る磁場中に配置した真空容器内に収容してなる一対の電
極と、この電極に電圧を印加してこの真空容器内の真空
度に応じて流れる放電電流を測定すゐよう構成した4流
測定装置とを具備し、#起磁場尭生装置で発生する磁場
の強さを最゛初の一定時間は交番励磁を行ない、一定時
間経過後は前記交番励磁し九最大磁場より大きな振幅の
直流磁場を#aL、この直流磁場が励磁されている時に
前記電流測定装置で前記真空容器内の真空度を測定する
よう構成し九ことを特徴とする真空度測定装置。 - (2)電極に印加する電圧をパルス状としたことを特徴
とする特許請求の範8嬉1項記載の真空度−j定装置。 - (3)パルス状の電圧を、磁場発生装置で直流磁場を励
磁した後所定時間遅れて電極に印加するより構成したこ
とを特徴とする特許請求の範−嬉2項記載の真空度測定
装置〇 - (4)電極に印加する電圧を直流としたことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の真空度測定装置。 - (5)直流磁場をパルス状としたことを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の真空度測定装置。 - (6)真空度容器を封じ切って構成したことを特徴とす
る特許請求の範囲[1項記載の真空度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2106682A JPS58139042A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 真空度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2106682A JPS58139042A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 真空度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58139042A true JPS58139042A (ja) | 1983-08-18 |
JPH0138257B2 JPH0138257B2 (ja) | 1989-08-11 |
Family
ID=12044507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2106682A Granted JPS58139042A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 真空度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58139042A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103474288A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-12-25 | 国家电网公司 | 一种真空断路器的灭弧室内真空度的检测方法 |
CN114424039A (zh) * | 2019-09-20 | 2022-04-29 | 英福康有限公司 | 确定压力的方法和压力传感器 |
-
1982
- 1982-02-15 JP JP2106682A patent/JPS58139042A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103474288A (zh) * | 2013-06-20 | 2013-12-25 | 国家电网公司 | 一种真空断路器的灭弧室内真空度的检测方法 |
CN114424039A (zh) * | 2019-09-20 | 2022-04-29 | 英福康有限公司 | 确定压力的方法和压力传感器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0138257B2 (ja) | 1989-08-11 |
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