JPS58137282A - Manufacture of laser diode - Google Patents

Manufacture of laser diode

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JPS58137282A
JPS58137282A JP57018854A JP1885482A JPS58137282A JP S58137282 A JPS58137282 A JP S58137282A JP 57018854 A JP57018854 A JP 57018854A JP 1885482 A JP1885482 A JP 1885482A JP S58137282 A JPS58137282 A JP S58137282A
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JP
Japan
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layer
layers
substrate
electrode
laser diode
Prior art date
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Application number
JP57018854A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuzo Uenishi
上西 勝三
Seiji Nishi
清次 西
Akihiro Matoba
的場 昭大
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/0201Separation of the wafer into individual elements, e.g. by dicing, cleaving, etching or directly during growth
    • H01S5/0202Cleaving
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/0234Up-side down mountings, e.g. Flip-chip, epi-side down mountings or junction down mountings

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To improve the efficiency of assembly work by forming an electrode onto a grown layer in shape that is thick and is extended on both sides while dividing a chip through mesa etching and cleavage. CONSTITUTION:The grown layer 22, a diffusion preventive insulating film 23 and stripes 24 are formed onto a GaAs substrate 21. A Cr evaporated layer 25 and an Au evaporated layer 26 are formed onto the surface. The layer 26 is patterned in the direction that crosses at right angles with the stripes 24. A layer 27 is plated thickly with Au. An electrode metallic layer 29 is formed onto the back of the substrate 21, and beltlike metallic layers 30 are shaped through patterning. The substrate 21 and the layer 22 are mesa-etched while using the layers 30 as masks. Layers 25, 27, 28 are cut, and the rectangular laser diodes are formed. The layers 30, beltlike semiconductor layers 31 and the layer 25 are cloven between the layers 27, 28.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明に、レーザダイオードの製造方法に関するもの
でるる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for manufacturing a laser diode.

llB151Jは従来のレーザダイオードを示し、(a
)は平面−1a3)は正−m−である。このレーザダイ
オードに次のようにして製造されている。
llB151J indicates a conventional laser diode, (a
) is the plane -1a3) is positive -m-. This laser diode is manufactured as follows.

まず* GaAa基板l基板面agでに下となる)に液
相a良法などの結晶成長法によシn −GaAtAaり
2ラド層2 t−1’ 〜2 fiIl、 n−GaA
s活性4310.5〜lμwr 、 p−GaムtA易
クりッド階4kl〜2μ鴎。
First, two layers of n-GaAtAa (2 t-1' to 2 fiIl, n-GaA
s activity 4310.5~lμwr, p-GamutA easy-to-understand level 4kl~2μwr.

n−GaAs 11i15 k 1〜211m成長させ
る。次に、n−caAs層5の表面に拡散防止絶縁膜6
を形成した上で、 Znなどのp温不純物を拡散するこ
とによII 、P III 7 t n−GaAmM 
5およびp−GaAjAaり2ツド@4にストライプ状
に形成する。しかる後、GaAa基板l基板面にn側電
[i8を形成する一方、拡散防止絶ml!6面に、前記
p汲層7に接続してpl電極9を形成する。以上で、ま
ず、ウェーハノロセスが終了する。
Grow n-GaAs 11i15 k 1 to 211 m. Next, a diffusion prevention insulating film 6 is formed on the surface of the n-caAs layer 5.
II, PIII7tn-GaAmM by forming and then diffusing p-temperature impurities such as Zn.
5 and p-GaAjAa are formed in a stripe shape in 2 dots@4. After that, an n-side electrode [i8] is formed on the surface of the GaAA substrate, while diffusion is prevented completely! A pl electrode 9 is formed on the 6th surface connected to the p layer 7. With the above steps, wafer processing is first completed.

次に、電極形成の終ったウェーハ會労開により矩形状の
テップに分割する。これにより、第1aflのレーザダ
イオードが得られる。
Next, the wafer after electrode formation is opened and divided into rectangular steps. As a result, a first afl laser diode is obtained.

このようにして製造されたレーザダイオードにおいては
、使用時の発熱が、9w層7の真下にある活性層3に集
中する。そこで、この部分の熱を放熱板またはパッケー
ジに良好に逃がす九めに。
In the laser diode manufactured in this way, heat generated during use is concentrated in the active layer 3 located directly below the 9W layer 7. Therefore, it is important to dissipate the heat from this area to a heat sink or package.

11!1図に示すように基板lの裏向を上、p証層7匈
を下にして、すなわちupsside down方式で
チップ(レーザダイオード)を放熱板またにパッケージ
に半田付は固定する方法がとられている。
As shown in Figure 11!1, there is a method of soldering and fixing the chip (laser diode) to the heat sink or package using the upside down method, with the back side of the board facing up and the P proof layer 7 facing down. It is taken.

しかるに、上記従来のレーザダイオード(チツf)は0
.25〜0.5箇角と小さく、シたがって。
However, the conventional laser diode (chitsuf) described above has 0
.. It's small, about 25 to 0.5 bullet points, and it's small.

上記組立て作業時、チツf’(ビンセットなどでハンド
リングによル取扱うが、その作業・がしずら〈組立て作
業が能率的に行えない。また、牛導体そのものtピンセ
ットなどでハンドリングするととになシ、さらにはPN
電極9が一般に漣〈、シかも活性Nll3がP l1l
k& 9に近接しであるため、半田付は時に活性層3に
歪が加わることがるり、よって組立て時の不良率が高か
った。
During the above assembly work, the conductor itself is handled by handling with a bottle set, etc., but the assembly work cannot be performed efficiently. Shi, and even PN
The electrode 9 is generally ren〈, and the active Nll3 is Pl1l
Since the active layer 3 is located close to K&9, soldering sometimes puts strain on the active layer 3, resulting in a high failure rate during assembly.

また、従来のレーザダイオードは、すべてに臂開會用い
たチップ分割により製造されているため。
In addition, all conventional laser diodes are manufactured by chip division using arm opening.

製造に手間がかかり、生産性が悪かった。Manufacturing was time-consuming and productivity was poor.

この発明は上記の点に鑑みなされたもので、組立て作業
が能率的に行え、かつ組立て時の不良率を下けることが
できるレーザダイオードt−i造でき、しかもそのレー
ザダイオードの生誕性ケ上げることができるレーザダイ
オードの製造方法を提供することt目的とする。
This invention was made in view of the above points, and it is possible to manufacture a laser diode that can be assembled efficiently and to reduce the defective rate during assembly, and also increases the productivity of the laser diode. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a laser diode that can be manufactured using the following methods.

以下この発明の詳細な説明するが、その@1■に。This invention will be explained in detail below, but please refer to @1■.

この発明の実施例によシ製造されたレーザダイオードを
第2図に示す。第2囚(&)は平面図、第2図(b)拡
止面図である。
A laser diode manufactured according to an embodiment of the invention is shown in FIG. The second column (&) is a plan view, and FIG. 2(b) is an enlarged plan view.

11 第2図において、11はGaAs基板であシ・その上(
囮では下とな2ている)にはn−GaAtAsクラッド
層12 、 n−GaAs5活性層13.p−GaAt
Asり2ツド−14* n−GaAs # 15が液相
成長法などの結晶成長法によp形成される。n−GaA
s層150表向には拡散防止絶縁膜16が形成される。
11 In Fig. 2, 11 is a GaAs substrate.
On the bottom (2) of the decoy are an n-GaAtAs cladding layer 12, an n-GaAs5 active layer 13. p-GaAt
As-2-14* n-GaAs #15 is formed by a crystal growth method such as a liquid phase growth method. n-GaA
A diffusion prevention insulating film 16 is formed on the surface of the s-layer 150.

そして、この拡5散防止絶縁III・6t−マスクとし
てZnなどのPrMl不純物會迦択的に拡散することに
より、pa1層17(以下ストライプという)がn−G
aAs層15およびp −GaAtA1クラッド114
にストライプ状に形成されている。
Then, by selectively diffusing PrMl impurities such as Zn as this diffusion prevention insulation III/6T-mask, the PA1 layer 17 (hereinafter referred to as a stripe) becomes an n-G
aAs layer 15 and p-GaAtA1 cladding 114
It is formed into stripes.

n −caAs 基板11の裏面(図では上面となって
いる)にはn@電&18が形成される。一方、拡散防止
絶縁I116を含む成長層(層12〜15よりなる)の
表面にはp11電極19が形成される。
On the back surface (the top surface in the figure) of the n-caAs substrate 11, an n@electrode &18 is formed. On the other hand, a p11 electrode 19 is formed on the surface of the growth layer (consisting of layers 12 to 15) including the anti-diffusion insulation I116.

この揚台、pIlil電極19は帯状に形成され、その
両端lIIに上記ストライプ17と直交する方向におい
て成長層の外負に延出している。11p@亀@19H厚
く形成されている。なおs GaAa基板11および成
長17mは地形に形成されるが、そのA面つまりスト2
1グ17両端のスト−)フイf17と直交する由は労−
によシ形成される。一方%B[iつま9ストライf17
と平行する端面はメサエッチングで形成されている。
This platform, the pIlil electrode 19, is formed in a strip shape, and extends outward from the growth layer at both ends lII in a direction orthogonal to the stripe 17. 11p @ turtle @ 19H is formed thickly. Note that the GaAa substrate 11 and the growth layer 17m are formed on topography, but the A side, that is, the growth layer 2
The reason why it is perpendicular to f17 is because of the force
It is formed by On the other hand, %B [i to 9 strike f17
The end face parallel to is formed by mesa etching.

第3図ないし第11図り、この工うなレーザダイオード
を製造するこの発明の実施例を示す図でるる。この図上
参照してこの発明の実施例′に以下説明する。
Figures 3 to 11 are diagrams showing embodiments of the present invention for manufacturing laser diodes using this method. An embodiment of the invention will be described below with reference to this figure.

W2B囚((a)は正面図、(b)は平向−)において
W2B prisoner ((a) is a front view, (b) is a horizontal view).

21はGaAs基板でめり、まず、この基板21上に成
長−(@2−〇層12〜15よりなる)22を液相成長
法などの結晶取決により形成し、その表面には拡散防止
絶縁$23i形成する。ヤして。
21 is a GaAs substrate, and first, a grown layer 22 (consisting of @2-〇 layers 12 to 15) is formed on this substrate 21 by a crystal arrangement such as a liquid phase growth method, and a diffusion prevention insulating layer is formed on its surface. Form $23i. Do it.

その拡散防止絶縁膜23t−マスクとしてp抛不純物を
拡散することによシ、成長11122に被数本平行にス
ト2イア’24t−形成する。
By diffusing p-type impurities as a mask for the diffusion prevention insulating film 23t, several strands of holes 24t are formed parallel to the growth 11122.

次に、拡散防止絶縁膜23t−言む成長層22の表向に
Cr−Aut−薄く蒸着する。この蒸着層の状態が@4
図に示されておシ%図中25に下地金属としてのCr蒸
着場、26はAu蒸着−である。
Next, a thin layer of Cr--Out is vapor-deposited on the surface of the growth layer 22, called the diffusion-preventing insulating film 23t. The state of this vapor deposited layer is @4
In the figure, 25 indicates a Cr vapor deposition site as a base metal, and 26 indicates an Au vapor deposition site.

次に、Au蒸着層26t、上記ストライプ24と直交す
る方向の複数の帯状に・母ターニングする。
Next, the Au vapor deposited layer 26t is turned into a plurality of strips in a direction perpendicular to the stripes 24.

ど□のノリーユング後の状態が#!5図(蓮)は平面図
Do□'s condition after Nolly Jung is #! Figure 5 (lotus) is a plan view.

Φ)は@自回)に示されてお11図中27は谷帯状Au
 &着RMt示す。この帯状AuA着層27の閲Mはl
O〜50μmml!直と可能な談り小さくする。
Φ) is shown at
& Indicates arrival RMt. The diameter of this band-shaped AuA deposited layer 27 is l
O~50μmml! Keep conversations as small as possible.

次に、電解金メッキにより、各帯状Au蒸着層27のみ
にAu tML< (30〜100 am 、1m)メ
ッキする。この場合、帯状Au蒸着127のすべてがC
r蒸着層25によシミ気市に接続されているので、帯状
Au蒸着層27全体の一部にメッキ用亀at接続するだ
けで、すべての帯状Au蒸着階27に全厚メッキが形成
される。この厚メツキ後の状態が第6鮪((1)は平面
図、伽)は餉面−)に示されており、図中28は帯状の
各厚メッキ層を示す。
Next, by electrolytic gold plating, only each band-shaped Au vapor deposition layer 27 is plated with Au tML<(30 to 100 am, 1 m). In this case, all of the band-shaped Au vapor deposition 127 is C
Since it is connected to the stain by the r vapor deposition layer 25, full-thickness plating is formed on all the strip-shaped Au vapor deposition layers 27 by simply connecting a part of the entire band-shaped Au vapor deposition layer 27 to the plating turtle. . The state after this thick plating is shown in No. 6 ((1) is a plan view, and (2) is a plated surface), and in the figure, 28 indicates each of the belt-shaped thick plating layers.

次に、1i71Nに示すように、基板21の裏面−〇、
5〜l/jsa8に、電極金属層(Au−Goからなる
)29【形成する。そして、前記ストライf24の各一
本か中央に位置し、かつ相互間が所定−にわ友って−れ
るような複数の帯状に上配電極金属珈29fj譬ターニ
ングする。このノ母ターニング後の軟線が@8図((a
)拡止1L伽)に下向−)に示されておシ、図中30は
各帯状1IIL極金−Ff11を示す。
Next, as shown in 1i71N, the back side of the substrate 21 - ○,
An electrode metal layer (made of Au--Go) 29 is formed at 5 to l/jsa8. Then, the upper electrode metal part 29fj is turned into a plurality of strips such that each of the stripes f24 is located in the center and the stripes are spaced from each other at a predetermined distance. The soft line after this mother turning is shown in Figure @8 ((a
30 in the figure indicates each strip 1IIL electrode metal Ff11.

次に、各帯状電極金属−30t−マスクとして、対応す
る複数Ω帯状体状に基板21および成長層22(拡散防
止絶縁膜23も宮む)tメサエッチングによりノ9ター
ニングする。このパターニング後の状態が第9図(葎)
は正1lt1図、(b)は下向1)に示されており%図
中31は、基板21および成長層22からなる各帯状体
状半導体層である。
Next, as each band-shaped electrode metal 30t mask, the substrate 21 and the growth layer 22 (also including the diffusion prevention insulating film 23) are turned into a corresponding multi-ohm band shape by t mesa etching. The state after this patterning is shown in Figure 9 (hull).
is shown in the positive 1lt1 diagram, and (b) is shown in the downward direction 1), and 31 in the % diagram is each band-shaped semiconductor layer consisting of the substrate 21 and the growth layer 22.

次に、この帯状体状半導体層31の各中間にシいて、C
r蒸着層25.帯状Au蒸着層27および犀メッキ11
28t−,カッターナイフやカミソリで切断する。この
切断により蝮冊状のレーザダイオードができ上り、その
一つt−@xOaiJ((a)t!正111i−1伽)
は下面崗)に示す。
Next, in the middle of each band-shaped semiconductor layer 31, C.
r vapor deposition layer 25. Band-shaped Au vapor deposition layer 27 and rhino plating 11
28t-, cut with a utility knife or razor. By this cutting, a laser diode with a circular shape is created, one of which is t-@xOaiJ ((a) t! Positive 111i-1 伽)
is shown below.

しかる後、帯状Au蒸着層27および厚メッキ層28の
相互間で、帯状電極金Is層30.帯状体状牛導体層3
1およびCr 11着鳩25Ytg#翔する。
Thereafter, a strip-shaped electrode gold Is layer 30 . Band-shaped cow conductor layer 3
1 and Cr 11 pigeons 25Ytg #flying.

これにより、畠11図((a)は正IL伽)は下向図)
に示すように、lI2wJのレーザダイオード(チッf
)が完成する。
As a result, Figure 11 of Hatake ((a) is a downward view)
As shown in the figure, the laser diode (chip f
) is completed.

このような製造方法によれば、PN電極¥rsCr蒸着
論およびAu瀬着層ならびに厚メッキ層によp厚<、シ
かも半導体層の両−に延出して形成している。したがっ
て1組立て時、牛導体部分にふれることなく p 11
1m4kにより素子tノ1ンドリンクできるだけでなく
、放熱体やパッケージへの半田付けも、P l1lt&
の延出部分を押えることによシ。
According to this manufacturing method, the PN electrode is formed by rsCr vapor deposition, the Au deposition layer, and the thick plating layer so that the electrode has a p thickness and extends to both sides of the semiconductor layer. Therefore, when assembling, do not touch the conductor part p 11
Not only can you link the elements with 1m4k, but you can also solder them to the heat sink and package.
By pressing down on the extending part.

半導体にふれることなく可能となり、活性層へは歪が加
わらなくなるので、組立て時の故障率が減少する。また
、放熱体やパッケージの熱膨張係数の差が半導体層に加
わる前に犀いpal電極で吸収されるようになるので、
素子の信頼性が向上する。
This is possible without touching the semiconductor, and no strain is applied to the active layer, reducing the failure rate during assembly. In addition, the difference in thermal expansion coefficients of the heat sink and package is absorbed by the thin PAL electrode before being applied to the semiconductor layer.
The reliability of the element is improved.

さらに、前記ハンドリングも容易とな91組立て作業の
能率が向上する。
Furthermore, the handling is easy and the efficiency of the 91 assembly work is improved.

また、上記製造方法でに、共振器端面と直交する端面つ
まり第2図OB面tメサエッチングにより形成している
。したがって、全面を押開で形成する方法に比較して製
造が容易となり、生産性が向上する。しかし、共振器端
面つま982図のA曲は押開により形成している。した
がって、尭振のしきい値亀流【増加させることなくレー
ザダイオードを動作させることができるものである。
Further, in the above manufacturing method, the end face perpendicular to the resonator end face, that is, the OB face in FIG. 2 is formed by mesa etching. Therefore, compared to a method in which the entire surface is formed by pressing and opening, manufacturing is easier and productivity is improved. However, the curve A in the resonator end face 982 is formed by pressing and opening. Therefore, the laser diode can be operated without increasing the threshold current of the oscillation.

なお、上記実施例で扛GaAa〆プルへテロストライプ
構造のレーザダイオ−Pc)@遣方法について説明した
が、その他の材料・構造のストライプ扱レーザダイオー
ドにこの*明を応用できる。
In the above embodiments, the method of using a laser diode with a GaAa-pulled heterostripe structure was explained, but this method can be applied to a laser diode with a stripe structure made of other materials and structures.

まえ、上記実施例においてス軒2イノ24(pllll
)は、ストライプ状の導波路を形成するために拡散形成
したものでるる。したがって、成長層にストライプ24
(pg層)を形成する点は、成amに導波路をストライ
プ状に形成するということができる。
First, in the above embodiment, the
) is formed by diffusion to form a striped waveguide. Therefore, the growth layer has 24 stripes.
The point of forming the (pg layer) can be said to be that the waveguide is formed in a stripe shape.

以上詳述したように、この発明のレーザダイオードの製
造方法によれは、成長層上に厚く、しかも両匈に延出し
て電極上形成するとともに、メサエッチングとgI開に
よ〕チップ分割を行うようにし九ので、組立て作業の能
率の向上、組立て時の不良率の低下さらには信頼性の向
上1図ることができるレーザダイオードta造できる上
に、そのレーザダイオードの生産性を上けることができ
る。
As described in detail above, according to the method of manufacturing a laser diode of the present invention, the crack is formed thickly on the growth layer and extends in both directions on the electrode, and the chip is divided by mesa etching and gI opening. As a result, it is possible to improve the efficiency of assembly work, reduce the defective rate during assembly, and improve reliability.In addition to being able to manufacture laser diodes, it is also possible to increase the productivity of the laser diode. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1−は従来のレーザダイオードを示す図、第2−はこ
の発明の実施例により製造されるレーザダイオードを示
す図、第3図表いし第11図はこの発明のレーザダイオ
ードの製造方法の実施例管示す図である。 11 ・n −GaAs基板、12 ・−n−GaAj
Asり2ラド層s l 3 ・n−GaAg活性層、1
4− p −GaAjAgクラッドNts  l 5 
・n−Gaps @s  l 6・・・拡散防止絶に膜
、17・・・p製編(ストライプ)、18 ・n @電
極、l 9−・−p 1ll−極、 21 ・GaAs
基板、22・・・成長層、23・・・拡散防止絶縁膜、
24・・・ストライf、25・・・Cr蒸着層、26・
・・Au蒸着論、27・・・帯状Au蒸着層、28・・
・厚メッキ層。 29・・・電極金ll4Nk、30・・・帯状電極金属
層、31・・・帯状体状半導体層。 特許出顯人 沖電気工業株式会社 t1図 才2図 J4−6図 7閏      、4
1- is a diagram showing a conventional laser diode, 2- is a diagram showing a laser diode manufactured according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 3-11 are embodiments of the method for manufacturing a laser diode of this invention FIG. 11 ・n-GaAs substrate, 12 ・-n-GaAj
As 2 Rad layer s l 3 ・n-GaAg active layer, 1
4- p -GaAjAg clad Nts l 5
・n-Gaps @s l 6...Diffusion prevention film, 17...p knitting (stripe), 18 ・n@electrode, l 9-・-p 1ll-pole, 21 ・GaAs
Substrate, 22...Growth layer, 23...Diffusion prevention insulating film,
24...strike f, 25...Cr vapor deposition layer, 26.
... Au vapor deposition theory, 27... Band-shaped Au vapor deposition layer, 28...
・Thick plating layer. 29... Electrode gold ll4Nk, 30... Band-shaped electrode metal layer, 31... Band-shaped semiconductor layer. Patent issuer: Oki Electric Industry Co., Ltd. t1 Figure 2 Figure J4-6 Figure 7 Leap, 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 基板上に結晶成長を行い、その成長層に導波路を複数本
のストライプ状に形成する工程と、前記成長層表面に下
地金属およびAuをapt t、、  ムUori、、
着層を、前記ストライブと直交する方向の複数の帯状に
/母ターニングする工程と、とのノ臂ター二ンダされた
Au蒸着層に厚(Auメッキを施す工程と、前記基板裏
面に電極金属層を形成する工程と、前記導波路の各一体
が中央に位置し、かつ相互間が所定幅にわたって離れる
ような複数の帯状に前記電極金属層Yr/リーニングす
る工程と。 前記基板および成長層からなる半導体層t、前記)臂タ
ーニングされた電極金II&FIIItマスクとして。 対応する複数の帯状体状にメサエッチングにより/譬タ
ーニングする工程と、これによる帯状体状半導体層の各
中間におiて前配下地金属−Au蒸着層およびムUの厚
メッキ層t@断する工程と、前記帯状Au蒸着−および
厚メッキ層の相互間においてwL極金為層および帝状体
状半導体場ならびに下地金IIA階vi−労關する工程
とt具備してなるレーずダイオードの製造方法。
[Claims] A step of growing a crystal on a substrate and forming a plurality of waveguides in the form of stripes on the grown layer, and depositing a base metal and Au on the surface of the grown layer.
A step of turning the deposited layer into a plurality of strips in a direction perpendicular to the stripes, a step of applying thick (Au plating) to the turned Au vapor deposited layer, and a step of applying an electrode to the back surface of the substrate. a step of forming a metal layer; and a step of forming the electrode metal layer Yr/leaning into a plurality of strips such that each piece of the waveguide is located at the center and separated from each other by a predetermined width.The substrate and the growth layer. Semiconductor layer t, consisting of the above) turned electrodes Gold II & FIIIt as a mask. A process of mesa etching/turning into a plurality of corresponding strip-shaped semiconductor layers, and a thick plating layer t@cutting of the previous underlying metal-Au vapor deposited layer and mu U at the middle of each of the strip-shaped semiconductor layers. A laser diode comprising a step of interfacing a wL metal layer and an iron-like semiconductor field and a base metal IIA layer between the band-shaped Au evaporation and thick plating layers. Production method.
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