JPS58131646A - 単管カラ−撮像管 - Google Patents

単管カラ−撮像管

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JPS58131646A
JPS58131646A JP58007218A JP721883A JPS58131646A JP S58131646 A JPS58131646 A JP S58131646A JP 58007218 A JP58007218 A JP 58007218A JP 721883 A JP721883 A JP 721883A JP S58131646 A JPS58131646 A JP S58131646A
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JP
Japan
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electron
amorphous silicon
light
electron impact
target
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JP58007218A
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JPS6341183B2 (ja
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Saburo Adaka
阿高 三郎
Eiichi Maruyama
瑛一 丸山
Yoshinori Imamura
今村 慶憲
Kiyohisa Inao
稲尾 清久
Toshihisa Tsukada
俊久 塚田
Yukio Takasaki
高崎 幸男
Tadaaki Hirai
忠明 平井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/26Image pick-up tubes having an input of visible light and electric output
    • H01J31/46Tubes in which electrical output represents both intensity and colour of image

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は単管カラー撮儂管に関する0シリコン基板上に
作成した非晶質シリコン膜を有する電子衝撃ターゲット
と、ストライプ色フィルタおよびイメージイ票テンシフ
ァイアとから構成される。
本撮像管は低プルーミングで高感度を実現出来る。
従来カラー用撮儂のためには多数の撮儂管を用いた撮儂
方式、周波数分離方式、位相分離方式、Blue光)で
の感度が低い。また周波数分離、位相分離、3電極方式
などはフィルタおよび電極なとえば家庭内の照明で用い
ても照度不足のため色再現が難しくなっている。このこ
とに関しては現状の撮儂管では感度が不足していること
が主要な要因であるとの一致した見方となっている。現
在の感度の10倍くらいあれば、すなわち面照度11u
x (らいで色再現のよい画儂が得られるような撮偉管
まで感度を引き上げる必要がある。
本発明の目的は上記の最大欠点である感度の向上を実現
する高感度単管カラー撮偉管を提供するにある。
第1図に本発明による高感度単管カラー撮偉管の説明図
を示す。1は集束電極、2は非晶質シリコン膜を用いた
電子衝撃ターゲット、3は電子銃、4は陽極、5はスト
ライプフィルター、6は光電面、7は外容器である。外
容器内は勿論真空に保たれている。光電面は一般に知ら
れたもので良い。
たとえば、Cs−8b蒸着膜、Cs−に−8b蒸着膜、
Cs−Na−に−sb蒸着膜等があり、目的に応じて選
択すれば良い。
第2図にストライプフィルターの構成例を示す。
21は黄色(Y−BAG)、22は緑色(G)、23は
白色(W)、24はシアy(C−BAG)で格子状に配
列されている。各々電気信号としてはB (Blue 
)信号、G (green )信号、W(white 
)信号、R(Red )信号に対応する。
なお、25は電子ビームの走査を示す点線である。
次に本発明の1景な構成要素である非晶質シリコンを用
いた電子衝撃ターゲットについて説明する。
第3図に電子衝撃ターゲットの断面図を示す。
シリコン単結晶基板または多結晶基板11の一部にオー
ミック電極16を設ける。本明細書では両基板を含めて
単にシリコン結晶基板と称する。この電極は必要に応じ
てシリコン結晶板の入射側全面に設けてもよいが、光や
電子線などの放射線がこの電極層によって吸収されるの
を避けるため、シリコン結晶基板の周囲にリング状に設
けることが望ましい。シリコン結晶基板11の入射面の
裏側には1水素を含有する非晶質シリコン層12が形成
される。水素を含有する非晶質シリコン層は、通常シリ
コン結晶基板よりも電気抵抗が高く、蓄積モードの受光
素子の電荷蓄積層として適している。本電子衝撃ターゲ
、トにおいては、電子のエネルギーがシリコン結晶基板
11に吸収されて導電性キャリアを発生し、このキャリ
アが非晶質シリコン暦12に注入されてその表面に蓄積
され、電荷パターンとなる。この電荷パターンは、たと
えば撮偉管の如く電子ビームの走査の様な電荷読み出し
手段によって電気信号としてとシ出すことが出来る。
シリコン結晶板の受光部厚さは多ぐの場合5〜200μ
mを用いる。入射が光の場合、シリコン結晶基板を透光
性支持板上に形成することが可能であるが、入射放射線
が電子線の場合には、支持板による透過率の減少を避け
るために、シリコン結晶基板はセルフサポート型でなく
てはならず、第3図のようにリング状・の肉厚部を設け
て基板の機械的強度を増すことが必要である。一般にこ
の肉厚部の厚みは200〜300μmが適当である。
水素を含有する非晶質シリコン層12の膜厚は、1〜1
0μmに設定するのが好ましい。容量性残漬を低減する
ためにはこの層は厚いことが望ましいが、厚すぎると注
入キャリアの走行が困難になり、必要な電界が高くなっ
て使用上の困難が増大する。
更に、非晶質シリコン膜の膜厚は1〜3μmの範囲がこ
とに適当で、これよシ簿いところでは暗電流が大きくな
りS/Nが低下する。厚いところでは電流利得が著しく
低下する。又比抵抗では1010〜109cmが適当で
、 この範囲より低い比抵抗においては十分な解像度が
出ないし、高い比抵抗においては電流利得が著しく低下
する。
非晶質シリコン中の水素含有量は5〜40at%が好ま
しい。
本発明者らによれば、シリコンと水素とを同時に含有す
る非晶質材料は水素の含有量の制御によって容易に10
 ” R、(m以上の高い比抵抗にすることができ、し
かも光キャリアの走行をさまたげるトラ、プが少ないた
め、焼付き現象が少なく、残漬特性が良゛好であシ、撮
儂用光導電面に用いるには極めて好ましい亀のであるこ
とが見出された。
(なお、10”#−am程度の比抵抗が実際上の上限で
あろう。)このような性質はシリコ/と水素とを同時に
含有する非晶質材料に若干の不純物、九とえば次素、ゲ
ルマニウム、ホウ素、リンなどが含有された場合にも見
出すことが可能である。
炭素を含有する場合には非晶質材料の比抵抗が高くなり
、ゲルマニウムを含有する場合には比抵抗が低下する。
また。ホウ素、リンなどは不純物として、非晶質材料の
導電性をそれぞれp型またはn型置シにするのに有効で
ある。
本構造の受光面の電子ビーム走査側の表面は走査電子ビ
ームの衝撃にょシニ次電子が発生したり、とが望ましい
。このような材料として、 sb、s、。
Ce O2,As z Se sなどが適しており、特
にsb、s。
のポーラス膜を約100 nmの厚みに蒸着した薄膜が
良好な特性を示す。
この非晶質シリコン層12はグロー放電によるシランの
分解、水素を含む雰囲気でのシリコンのスパッタリング
、あるいは電子ビーム蒸着法等によって形成することが
出来る。
最も代表的なスパッター法について先ず説明する。
装置そのものは一般的なスパッタリング装置で良い。
スパッタ用のターゲットは溶融シリコンを切シ出したも
のを用いれば良い。またシリコンとゲルマニウムやカー
ボンを含有する非晶質材料の場合はこれら3種の■族元
素を組み合せたターゲットを用いる。この場合、たとえ
ば、シリコンの基板上にグラファイトやゲルマニウム等
の薄片をとう載しターゲットとするのが好都合である。
シリコンとゲルマニウムや炭素の面積受を適当に選ぶこ
とによって非晶質材料の組成を制御することが出来る。
勿論、逆にたとえば炭素基板上にシリコン薄片を設けて
も良い。更に両材料を並置してターゲットを構成しても
良いし、或いは組成の溶融物を用いても良い。
又、スバ、り用のターゲットとして、たとえば予め、リ
ン(P)、ヒ素(As)、はう素(B)等を含んだSi
を用いることによシ、これらの元素を不純物元素として
導入することが可能である。
この方法によってn型、p型等任意の伝導型の非晶質材
料を得ることができる。また、この様な不純物のドーピ
ングによって、材料の抵抗値を変化させることが出来る
。〜10 ρ・cm程度の高抵抗も実現出来る。なお、
この様な不純物のドーピングは、希ガス中にジボランや
ホスフィンを混合する方法も取り得る。
上述の如きターゲットを用いて、水素(H2)を種々の
混合比で含むAr雰囲気中で、高周波放電を発生せしめ
Si及びグラファイトをスパッター法、これを基板上に
堆積させることにより薄層を得ることができる。この場
合水素を含むAr雰囲気の圧力は、グロー放電が維持で
きる範囲であればいずれでもよく、一般に10−3〜I
Torr程度を用いる。水素の圧力は10−4〜10−
1Torrの範囲で、水素分圧2〜50%となすのが好
例である。試料基板の温度は室温よυ300℃の間で選
択するのが良い。150〜250℃が最も実用的である
。余り低温では好都合に水素を非晶質材料中に導入する
ことが困難であり、又余り高温でも水素は逆に非晶質材
料よシ放出される傾向を持つからである。Ar雰囲気中
の水素分圧を制御することによって、含有水素意を制御
する。
なお、雰囲気のArはKr等他の希ガスにおき替えるこ
とができる。
また、高抵抗の膜を得るに、マグネトロン型の低温高速
ヌパッタ装置が好ましい。
次に、本発明の単管カラー撮像管の動作を第1図に従っ
て説明する。
外部よりの光8はストライプフィルター5を通過し%R
% B%W信号に対応する光に分解される。
この分解された光がフィルター上に密接して設けた光電
面6に照射されると光電面上に各色に対応した光電子が
発生する。光電子は光電面6と陽極4とに印加された加
速電圧により加速される。基本的なこの間の構成はイメ
ージインテンシファイア−と同様である。加速電子を集
束電極lで集束し、非晶質シリコンを用いた電子衝撃タ
ーゲット2に衝突させる。衝突電子によって発生した正
孔を非晶質シリコン膜に注入させることにより、この膜
上に電荷分布を形成する。通常の蓄積モードで使用され
る光導電型撮像管と同じ様に、この電荷分布を低速の電
子ビームで読み取ることで、テレビ信号に変換出来る。
この場合ストライプフィルターのピッチの適正化を行な
うと、R,B1W光の信号が電子ビームの走査によりあ
る一定の周波数において得られる。たとえばR色成分の
搬送波周波数は3.5MHz%B色成分は5MHzにな
るようにストライプフィルタのピッチが選ばれている。
このように周波数で分離されたR%B%W光の信号を再
加算してカラー化が実現される。
また電子衝撃ターゲットにおける電子の増倍率は加速電
圧により異なるが、当然ながら、加速電圧の増加に伴な
い、増加率は増加する。たとえば加速電圧が10kVで
増加″Il(電流利得)は1600.6kVで500く
らいである。
この様に電子衝撃ターゲットとストライプフィルターを
有するイメージインテンシファイアとの結合により、高
感度化が実現できる。更に電子衝撃で発生した正孔が高
抵抗な非晶質シリコン膜内で横流れを起こすことがない
ので高解儂度が期待できる。また従来の電子衝撃ターゲ
ットのように9% n型のモザイクパターンを作成する
必要がない。従って、プルーミングがなく、シかもプロ
セスが簡単になるため低コスト化が可能である。
なお本発明は位相分離方式にも適用可能である。
実施例 20mm−10,2mmtのシリコン基板(n量比抵抗
〜100Ω・cm)をまず第3図の11に示すように受
光部を工、チングして薄膜化する。エツチング液はHF
:HNO,: CH,C00H−l:4:2である。薄
膜化したシリコンの上にスパッタ蒸着(たとえ°ば蒸着
条件放電圧力P A r + P H25X:lO−”
Torr、PH,lXl0−”Torr、周波数13.
56M)Ig、放電電力300W)で水素を含有する非
晶質シリコン膜を2μm析出させる。析出後電子ビーム
のランディング特性を向上させるため、上記非晶質シリ
コン膜上にArガス3〜6×10−” Torrでsb
、 s3を蒸着させる。この様にして製作した電子衝撃
ターゲットを電子銃に取り付ける。これに第2図に示す
ようなストライプフィルターを有するイメージインテン
シフアイアを結合させることにより高感度単管カラー撮
像管が製作される。
このようにして製作した高感度単管カラー撮像管の電流
利得とカソードの加速電圧との関係を第4図に示す。こ
れから従来の単管カラー撮像管に比べて容易に感度が出
せることがわかる。次表に本発明による高感度単管カラ
ー撮像管の性能を示す。解像匿とプルーミングの性能に
特に優れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の単管カラー撮像管を示す断面図、第2
図はストライプフィルターの配列の例を示す説明図、第
3図は本発明に用いる電子衝撃ターゲットを示す断面図
、第4図は電流利得とカソードの回連電圧との関係を示
す図である。 1・・集束電極、2・・・非晶質シリコン膜を用いた電
子衝撃ターゲット、3・・・電子銃、4・・・陽極、5
・・・ストライプ・フィルター% 6・・・光電面、7
・・・外容器、11・・・シリコン基板% 12・・・
非晶質シリコン膜。 第1図 vJ z  因 第1頁の続き 0発 明 者 塚田俊久 国分寺市東恋ケ窪1丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 高崎幸男 国分寺市東恋ケ窪1丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 平井忠明 国分寺市東恋ケ窪1丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光入射側に少なくとも色分解用フィルターとこれに対応
    し九光電面を有し、この光電面に対向して電子衝撃ター
    ゲットと、これら光電面と電子衝撃ターゲット間に電子
    集束電極、および陽極が外容器中に配設され、前記電子
    衝撃ターゲットは少なくともシリコン基板上に含水素非
    晶質シリコン膜が設けられて構成され、前記電子衝撃タ
    ーゲットに対向して前記非晶質シリコン膜に蓄積された
    電荷パターンを電荷読み出しする手段を有して成る単管
    カラー撮儂管。
JP58007218A 1983-01-21 1983-01-21 単管カラ−撮像管 Granted JPS58131646A (ja)

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JPS6341183B2 JPS6341183B2 (ja) 1988-08-16

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