JPS5812367Y2 - 質量分析装置用イオン源 - Google Patents
質量分析装置用イオン源Info
- Publication number
- JPS5812367Y2 JPS5812367Y2 JP14820579U JP14820579U JPS5812367Y2 JP S5812367 Y2 JPS5812367 Y2 JP S5812367Y2 JP 14820579 U JP14820579 U JP 14820579U JP 14820579 U JP14820579 U JP 14820579U JP S5812367 Y2 JPS5812367 Y2 JP S5812367Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- box
- ion source
- mass spectrometer
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は質量分析装置用イオン源に関し、特にガス衝突
室をイオン出射端に設けたイオン源に関する。
室をイオン出射端に設けたイオン源に関する。
メタステーブルイオン及び衝突活性化イオンスペクトル
は有機化合物の構造解析やイオンの生成開裂機構の解明
に極めて有効である。
は有機化合物の構造解析やイオンの生成開裂機構の解明
に極めて有効である。
この様なメタステーブルイオン及び衝突活性化イオンス
ペクトルを測定するためにイオン源から分析場１でのイ
オン通路上にイオン入射口とイオン出射口を有し内部に
ヘリウム等のガスを満たした箱体を配置し、該箱体内部
でイオンをガスに衝突させて破壊し、それによって得ら
れた各種イオンを分析場へ導くことが行われるが、箱体
な新たに分析場の前方に設けるため装置が大型化し、例
えば既存の質量分析装置に取付けることは困難であった
。
ペクトルを測定するためにイオン源から分析場１でのイ
オン通路上にイオン入射口とイオン出射口を有し内部に
ヘリウム等のガスを満たした箱体を配置し、該箱体内部
でイオンをガスに衝突させて破壊し、それによって得ら
れた各種イオンを分析場へ導くことが行われるが、箱体
な新たに分析場の前方に設けるため装置が大型化し、例
えば既存の質量分析装置に取付けることは困難であった
。
本考案は上述した点に鑑みてなされたものであり、イオ
ン源の・イオン出射端に衝突室を取付けることにより装
置を極めて小型にすることのできるイオン源を提供する
ことを目的とするものである。
ン源の・イオン出射端に衝突室を取付けることにより装
置を極めて小型にすることのできるイオン源を提供する
ことを目的とするものである。
以下図面を用いて本考案を詳説する。
図面は本考案の一実施例を示す断面図であり、同図にお
いて１はイオン化箱である。
いて１はイオン化箱である。
該イオン化箱内のイオン化室２にはフィラメント３から
発生した電子が適宜な電圧で加速されて導入され、紙面
に直交する方面からイオン化室内に同じく導入された試
料分子は上記電子との衝突によりイオン化される。
発生した電子が適宜な電圧で加速されて導入され、紙面
に直交する方面からイオン化室内に同じく導入された試
料分子は上記電子との衝突によりイオン化される。
４はイオン化室を通過した電子を捕集するトラップ電極
である。
である。
イオン化室内で発生したイオンはリベラー電極５により
イオン化室外に押出され、第１、第２スリツト（フォー
カススリット）６，７により適宜集束されると共に第３
スリツト（アーススリット）８により加速される。
イオン化室外に押出され、第１、第２スリツト（フォー
カススリット）６，７により適宜集束されると共に第３
スリツト（アーススリット）８により加速される。
そして更に第４スリツト９を通過したイオンは該第４ス
リツト９と該スリット９に取付けられた箱体１０とで囲
ｌれたガス衝突室１１に入射する。
リツト９と該スリット９に取付けられた箱体１０とで囲
ｌれたガス衝突室１１に入射する。
該ガス衝突室１１には導管１２を介してヘリウムガス等
の衝突ガスが導入されており、イオンは該ガスに衝突し
て種々のイオンに破壊分解される。
の衝突ガスが導入されており、イオンは該ガスに衝突し
て種々のイオンに破壊分解される。
得られた種々のイオンは箱体１０に設げられた出射口１
３を介してイオン源外部へ取出され、分析磁場１４によ
り質量−電荷比に応じて分離された後イオンコレクタ１
５によって検出される。
３を介してイオン源外部へ取出され、分析磁場１４によ
り質量−電荷比に応じて分離された後イオンコレクタ１
５によって検出される。
この時第４スリツト９とそれに取付けられた箱体１０は
絶縁体１６によって他の部分と絶縁されており、該箱体
１０に流入するイオン電流を測定することによりトータ
ルイオン量をモニターすることができる。
絶縁体１６によって他の部分と絶縁されており、該箱体
１０に流入するイオン電流を測定することによりトータ
ルイオン量をモニターすることができる。
以上述べた様に本考案によれば、イオン源出射端部にガ
ス衝突室を取付け、且つ該ガス衝突室を構成する箱体を
トータルイオンのモニター電極として用いるため、構成
が極めて簡単となり小型化が可能となる。
ス衝突室を取付け、且つ該ガス衝突室を構成する箱体を
トータルイオンのモニター電極として用いるため、構成
が極めて簡単となり小型化が可能となる。
図面は本考案の一実施例を示す断面図である。
２：イオン化室、６，７，８，９ニスリツト、１０：箱
体、１１：ガス衝突室、１２：導管、１３：出射口、１
６：絶縁体。
体、１１：ガス衝突室、１２：導管、１３：出射口、１
６：絶縁体。
Claims (1)
- イオン出射端部に箱体を絶縁的に取付け、該箱体内に所
定のガスを導入するための導管を設け、且つ前記箱体な
トータルイオンのモニタ４極として用いたことを特徴と
する質量分析装置用イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14820579U JPS5812367Y2 (ja) | 1979-10-25 | 1979-10-25 | 質量分析装置用イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14820579U JPS5812367Y2 (ja) | 1979-10-25 | 1979-10-25 | 質量分析装置用イオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5665560U JPS5665560U (ja) | 1981-06-01 |
| JPS5812367Y2 true JPS5812367Y2 (ja) | 1983-03-09 |
Family
ID=29379342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14820579U Expired JPS5812367Y2 (ja) | 1979-10-25 | 1979-10-25 | 質量分析装置用イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5812367Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-10-25 JP JP14820579U patent/JPS5812367Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5665560U (ja) | 1981-06-01 |
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