JPS5812035A - Detection circuit for clock signal malfunction - Google Patents

Detection circuit for clock signal malfunction

Info

Publication number
JPS5812035A
JPS5812035A JP56110089A JP11008981A JPS5812035A JP S5812035 A JPS5812035 A JP S5812035A JP 56110089 A JP56110089 A JP 56110089A JP 11008981 A JP11008981 A JP 11008981A JP S5812035 A JPS5812035 A JP S5812035A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
clock signal
output
time
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56110089A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masao Hosoda
細田 雅男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP56110089A priority Critical patent/JPS5812035A/en
Publication of JPS5812035A publication Critical patent/JPS5812035A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0751Error or fault detection not based on redundancy
    • G06F11/0754Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits
    • G06F11/0757Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits by exceeding a time limit, i.e. time-out, e.g. watchdogs

Abstract

PURPOSE:To detect malfunction of clocks with a comparatively simple circuit, by making error detection when a point of time of clock signal counted for a prescribed number has come out of a scheduled period. CONSTITUTION:The 2nd counter 2 counting with another test clock signal CP2 independently from a clock signal CP1 is provided, and when the clock signal CP1 is counted for a prescribed number within a scheduled period determined with the 2nd counter 2, it is regarded as normal, and if a point of time counted for the clock signal CP1 for a prescribed number has come out of a scheduled period, error detection is made. Thus, with the test clock signal CP2, a failure in the clock signal CP1 can be detected with a simple logical circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、データ処理装置内またはデータ処理!1It
flflK>けるクロック信号の誤動作を検出するクー
ツク信号誤動作検出回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention is applicable to data processing within a data processing device or to data processing! 1It
The present invention relates to a clock signal malfunction detection circuit for detecting a malfunction of a clock signal in which a clock signal is detected.

データ処理装置内の各部は、クロック信号によって動作
している丸め、クロック信号に欠落があう九〉、又は雑
音等による余分なりロック信号が拠大した〕すると各部
の動作が誤シデータ処理結果が誤る。1だしいときはシ
ステムダウン等を生じるおそれがある。しかし、クロッ
ク信号の誤動作を検出することは比較的困難で、アドレ
スバス。
Each part in the data processing device is operated by a clock signal, and if there is a drop in the clock signal, or if the lock signal is excessive due to noise etc., the operation of each part will be incorrect, and the data processing result will be incorrect. . If the number is 1, there is a risk that the system will go down. However, it is relatively difficult to detect malfunctions in the clock signal and address bus.

データバス等の誤動作機出のように簡単ではない丸め、
一般にはクロック信号の誤動作を検出する簡略は使用さ
れて%/%fk−0q#に必要な場合には、クロック系
回路を2重化して、それぞれの出力を常に比較すること
によって誤動作検出を行なって−る。しかし、この場合
でもクーツクソースは同一である九め入力クロック自体
が誤った場合には効果がなかつ九・2つのクーツクソー
スを用いること嬬、いかに精密なタロツタを用いても差
が生じゐから、夕■ツクソーメはどうしても1つに限ら
れるからである。壇た、単安室マルチバイブレータを使
用して、−宏時間以上タロックがないととKよってクロ
ックつ欠落を検出する方法も知られているが、この場合
は、単安定マルチバイブレータの精度上の問題があシ、
まえ、雑音等によりクロックが増加し九場合の検出がで
きな−という欠点がある。
Rounding is not easy, such as when a malfunction occurs in a data bus, etc.
Generally, a simple method for detecting malfunctions of clock signals is used.If necessary for %/%fk-0q#, malfunction detection is performed by duplicating the clock system circuits and constantly comparing their outputs. Teru. However, even in this case, the Kutsuk source is the same.If the 9th input clock itself is incorrect, it will not be effective, and the use of 9.2 Kutsuk sources will cause a difference no matter how precise the tarotsuta is used. This is because Tsukusome is limited to one. Another known method is to use a monostable multivibrator to detect if there is no clock for more than -Hiroshi time, but in this case, there are problems with the accuracy of the monostable multivibrator. Ashi,
On the other hand, there is a drawback that the number of clocks increases due to noise, etc., making it impossible to detect 9 cases.

本発明O目的は、比較的簡単1kWi路でクロックの誤
動作を検出することが可能がクロック信号誤動作検出回
路を提供することKある。
An object of the present invention is to provide a clock signal malfunction detection circuit capable of detecting clock malfunction with a relatively simple 1 kWi circuit.

本発明の検出回路は、一定数のクロック信号によ抄出力
するカウンタまたはレジスタ等で構成される第1時間計
測回路と、前記クロック信号とけ独立の試験り四ツク信
号を発生する試験クロック発生回路と、該試験タロツク
信号によって動作し予定時間の縮径で2種類の!ンプリ
ング信号を出力する第2時間針側回路と、該第2時間計
測回路の動作開始に同期して前記第1時間計測回路をリ
セットさせる同期回路とを備え、正常な前記クロック信
号による前記第1時間計測−路の出力時間0前後に前記
館g時間針I1wA路から2種類のサンツψyダ信号を
出力するように膜室し、前記!1時間計−回路O出力信
号が前記予定時間外に出力され九ときエラー信号を出力
することを特徴とする。
The detection circuit of the present invention includes a first time measuring circuit comprising a counter or register, etc., which outputs a clock signal according to a certain number of clock signals, and a test clock generating circuit, which generates a test signal independent of the clock signal. And, it operates according to the test tarok signal, and there are two types of diameter reduction at the scheduled time! a second time hand side circuit that outputs a sampling signal; and a synchronization circuit that resets the first time measurement circuit in synchronization with the start of operation of the second time measurement circuit, Output of time measurement - The membrane chamber is configured to output two types of signals from the hour hand I1wA before and after time 0, and the above! It is characterized in that the one-hour meter-circuit O output signal is output outside the scheduled time and an error signal is output at nine o'clock.

次に、本発明について・、図面を参照して詳細に説明す
る。
Next, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

館1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。Figure 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

すなわち、本実施例ではカウンタlが第1時間針III
Il路であり、カウンタ2がll12時間針IIIIl
路である。カウンタlll1、クーツク信号cp嘗、を
カウント計、カウンタ2は試験クロック信号CP、をカ
クンシする。試験クロツタ信号CP*tjxll示され
一&−試験クロック信号発生回路により、クロック信号
CP、とは独立に発生する任意−期の試験クロック信号
である。そして、カウンタ1tlj、−電Oカウッド値
Vで出力信号11を出し、カラyり3社一定のカウント
値NおよびN−αでそれヤれ出力信号22および23を
出す、カウンタ2O第1ステージ1号=1は一期回路専
のD端子に入力させ、そのCP端子に入力したタロツク
信号CP、によってQ端子に出力される。同期回路3の
q出力311によってカウンタ1をリセットし、カウン
タ1はり■ツク信号’c P、 0計数を開始しMカウ
ントで出力信号110論珊を@1mにする。
That is, in this embodiment, the counter l is the first hour hand III.
Il path, counter 2 is ll12 hour hand IIIl
It is a road. The counter 111 counts the clock signal CP, and the counter 2 counts the test clock signal CP. The test clock signal CP*tjxll is an arbitrary period test clock signal generated by the test clock signal generation circuit independently of the clock signal CP. Then, the counter 1tlj outputs an output signal 11 at the negative value V, and outputs the output signals 22 and 23 at the constant count values N and N-α of the three colors, and the counter 2O first stage 1. The signal = 1 is input to the D terminal exclusively for the first stage circuit, and is output to the Q terminal by the tarok signal CP input to the CP terminal. The counter 1 is reset by the q output 311 of the synchronization circuit 3, and the counter 1 starts counting with the clock signal 'cP, 0, and when the count reaches M, the output signal 110 becomes @1m.

カウンタ2は、試験り四ツタ信号CP鵞をカウントして
カウント値N−αで出力信号22の論理を@11にし、
カウント値Nで出力信号23e論理を11′″にし、そ
のam’s動作を行なう、カクン/1の出力信号11と
カウンタ’5oIS力信号22とをアンド回路5を介し
てエラー峻出図路4に入力させんまえ、カウンタ1の出
力信号11を否定し良信号とカウンタ2の出力信号23
とをアンド回路6を介して前記エラー機出目賂4の同一
人力に接続する。エラー検出回路4ti、上記アンド回
路5またFi−の出力論理が11#のと自試験クロック
信号CP、によってエラー信号41を出力する。上述の
カウンタ1は、クリア開俵タロツク信号CP、の周期ミ
ーのV倍で出力し、カウンタ念は試験タロツク信号CP
、の周期丁、のN−4倍およびN倍の時間で出力する。
The counter 2 counts the test signal CP and sets the logic of the output signal 22 to @11 with the count value N-α.
The output signal 23e logic is set to 11''' at the count value N, and the am's operation is performed. Before inputting the output signal 11 of counter 1 to the good signal and the output signal 23 of counter 2,
and are connected to the same power of the error machine output 4 through an AND circuit 6. An error signal 41 is output by the error detection circuit 4ti, the AND circuit 5 or Fi- whose output logic is 11#, and the self-test clock signal CP. The above-mentioned counter 1 outputs the clear open bale tally signal CP at a frequency V times the period me, and the counter 1 outputs the period me of the clear open bale tally signal CP.
The period of , is output in N-4 times and N times as long as the period of , .

そして、 (N  el ) tg < 11  +M Tl <
N rgとなるようKM、N、N−αが設定されている
。す々わち出力信号22および23Fi予定時間の前後
に出される2種111O?ンプリンタ信号である。なお
、上式を満足する確固で輩、N郷は小さいswA動作検
出精度が良い。
And (N el ) tg < 11 + M Tl <
KM, N, and N-α are set so that N rg. Two kinds of output signals 111O are output before and after the scheduled time of output signals 22 and 23Fi? This is a printer signal. It should be noted that the small swA motion detection accuracy of the solid sensor that satisfies the above equation is good.

次に、本実施例の動作について第1図および第意図を参
照しながら説明する。第2図は、第1図の主要各部の論
理状態を示すタイムチャートである。カウンタ1には、
第2図(、)に示すよう貴周期ちのクーツク信号CP、
が入力し、カウンタ2には同図(41)に示すような周
期τ!の試験クロック信号CP、が入力している。カウ
ンタ2は、試験クロック信号CP、の第1クロック期間
中第1ステージ信号21の論理を@1”にする(第2図
(・)参照)。
Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to FIG. 1 and the first intention. FIG. 2 is a time chart showing the logical states of the main parts in FIG. Counter 1 has
As shown in FIG.
is input, and the period τ! as shown in (41) in the same figure is input to the counter 2. A test clock signal CP is input. The counter 2 sets the logic of the first stage signal 21 to @1'' during the first clock period of the test clock signal CP (see FIG. 2 ()).

上記第1ステージ信号21を同期回路3のD端子に入力
1せ、同期回路3FiCP端子に入力したり■ツタ信号
cp―の立上シ時点で出力信号31の論mを@l#にす
る(第2図伽)参照)、同期回路3Fi、例えばDIl
フリップ7■ツブによって構成することができる。同期
回路3の出力信号31によにカウンタ1をリセットさせ
、カウンタIFiその後のクロック信号CP、をカウン
トシ、カウント値がMK*ると出力信号11を出す、す
表わち、第2図(@)に示すように、出力信号11tj
、リセット後経過時間y 丁、で論理@11となる。一
方、カウンタ鵞は、試験クロック信号CP雪のカウント
値がN−αに&ると、出力信号22を(1タイムクロツ
タ期間)出力し、カウント値Nで出力信号23を(1タ
イムクロック期間)出力する。すなわち、試験クロック
信号CP鵞の第1パルス立上抄時点から時間(N−α)
τ雪で信号!2を、時間N y、で信号23を出力する
(第2図(f)および−)参照)、(N−α)τ、、N
r、およびMy。
The first stage signal 21 is inputted to the D terminal of the synchronous circuit 3, and inputted to the FiCP terminal of the synchronous circuit 3, or the logic m of the output signal 31 is set to @l# at the time of rising of the ivy signal cp-. (See Figure 2), synchronous circuit 3Fi, for example DIl
Flip 7■ Can be configured by tabs. The counter 1 is reset by the output signal 31 of the synchronous circuit 3, the counter IFi counts the subsequent clock signal CP, and when the count value is MK*, the output signal 11 is output. ), the output signal 11tj
, the elapsed time after reset is y, and the logic becomes @11. On the other hand, when the count value of the test clock signal CP snow reaches N-α, the counter outputs the output signal 22 (for one time clock period), and at the count value N, outputs the output signal 23 (for one time clock period). do. That is, the time (N-α) from the first pulse rising point of the test clock signal CP
τSignal with snow! 2, the signal 23 is output at time N y (see Figure 2 (f) and -), (N - α) τ, , N
r, and My.

の関係は、前述の弐によって与えられているから、カウ
ンタ1の出力信号11の立上に時点は、カウンタ2の出
力信号22と230中間に位置する筈である。従って、
アンド回路5および6の出力はいずれも@O”でありエ
ラー検出回路4tjエラー儒4!41を出力しな埴、し
かし、伺等かの理由によ勤クロック信号CP、が異常増
加した場合は、カウンタ1の出力信号11の立上シ時点
が早まることKより、カウンタ2の出力信号22の論理
111の期間と重なってアンド回路5の出力を生じ、エ
ラー検出回路4F1エラー信号41を出す(第2図(転
)参照)st*クロック信号CP、  が伺岬かの理由
で欠落すると、カウンタ1の出力信号110立上り時点
が運くなるから、アンド回路6の出力信号が@1#とな
ってエラー検出される(第2図N)参照)、換言すれば
、カウンタ1をりセットし先後正常なりロック信号のM
番目の立上如時点の前後にカウンタ2から出力信号22
および23を出すようKしておいて、カウンタ1の出力
信号1!の立上に時点が、上記両信号の中間時点であれ
ば正常とし、上記両信号のいずれかの出力期間中に信号
11が立上った場合はエラー信号を出すことになる。タ
ロツク信号CP1と試験クーツク信号CP、とは相互に
独立であるから、力會yり1とカウンタ20カウント開
始の時点は、試験り菅ツタ信号CP、の1週期−の範囲
内でずれているが正常なりロック信号によるカウンタ1
の出力信号11の立上り時点け、前記信号22と230
中間に位置するように、M、N−α、NO数値を設定し
ておけばよ−、見方を費えれば、試験クロック信号CP
、によって設定された一定期間中に発生するクロック信
号CP、のパルス数が予定数(M)でない場合にエラー
信号を出力すると考えることもできる。
Since the relationship is given by the above-mentioned 2, the time point at which the output signal 11 of the counter 1 rises should be located between the output signals 22 and 230 of the counter 2. Therefore,
The outputs of the AND circuits 5 and 6 are both @O'', and the error detection circuit 4tj does not output the error 4!41. However, if the clock signal CP increases abnormally due to some reason, , because the rise time of the output signal 11 of the counter 1 is earlier than K, the output of the AND circuit 5 overlaps with the period of the logic 111 of the output signal 22 of the counter 2, and the error detection circuit 4F1 outputs the error signal 41 ( If the st* clock signal CP is missing for some reason, the rising point of the output signal 110 of the counter 1 will be delayed, so the output signal of the AND circuit 6 will become @1#. In other words, if counter 1 is reset and the lock signal is normal, the M of the lock signal is detected.
Output signal 22 from counter 2 before and after the second rising time
and 23, and the output signal of counter 1 is 1! If the time point at which the signal 11 rises is an intermediate point in time between the above two signals, it is considered normal, and if the signal 11 rises during the output period of either of the above two signals, an error signal is output. Since the tarot signal CP1 and the test clock signal CP are mutually independent, the time points at which the power meeting 1 and the counter 20 start counting are shifted within the range of 1 week period of the test test signal CP. is normal, counter 1 by lock signal
The rising edge of the output signal 11 of , the signals 22 and 230
If you look at it, the test clock signal CP should be set so that it is located in the middle.
It can also be considered that an error signal is output when the number of pulses of the clock signal CP, which occurs during a certain period set by , is not the expected number (M).

第3図は、本発明の他の実施例を示す、この場合は、シ
フトレジスタ7とシフトレジスタ8を使用して第1およ
び第2時間計測回路を構成していル、ソシて、シフトレ
ジスタ80第1ステージの出力21′をシフトレジスタ
7に入力させ、シフトレジスタ7は、クロック信号CP
、によって順次シフト動作する。シフトレジスタフの初
段(φG)は前記出力21′が入力するとり四ツク信号
CP、の立上ル時点に出力31′ を出すから、シフト
レジスタ7の初段(◆0)によって同期回路を構成して
いる。上記出力31′によって7vツツツ嘗ツブ9をセ
ットすると同時に、以稜のクローク信号によって順次シ
フトされる。そして、シフトレジスタTのφ菫ステージ
の出力によって前記アリップア冒ツブ9をリセットさす
る。ツリップア■ツブ110Q端子の出力信号11′は
、リセット時点で論11”l”と表す、そのとき、Q端
子の出力信号は瞼ist@o”となる、従ってアンド回
路!I 、6o入力信号は、第1図に示し九場合と同様
KM番台のクーツク信号CPlの立上勤時点でそれぞれ
11”シよび”O= K&る。一方、シフトレジスタ8
は、試験クロツタ信号CP會によってシフト動作し、第
(N−α)番目の出力22′および第N#rF4の出力
23′をそれぞれ前記アンド−路s:sPよび6のもう
一方の入力に接続する。従って、アンド回路ls、・の
いずれか一方の出力は前述の第1図01!論例の場合と
同様に、り日ツク儒勺cp、o第蓋番目の立上シ時点が
予定範囲をはずれた場合に論jl”1”と表りエラー検
出回路4によってエラー検出される。
FIG. 3 shows another embodiment of the present invention. In this case, a shift register 7 and a shift register 8 are used to configure the first and second time measurement circuits. The output 21' of the first stage is input to the shift register 7, and the shift register 7 receives the clock signal CP.
, performs a sequential shift operation. Since the first stage (φG) of the shift register 7 receives the output 21' and outputs the output 31' at the rising edge of the four-way signal CP, the first stage (◆0) of the shift register 7 constitutes a synchronous circuit. There is. The output 31' sets the 7V output 9, and at the same time, it is sequentially shifted by the subsequent clock signal. Then, the output from the φ violet stage of the shift register T resets the aperture block 9. The output signal 11' of the tripper knob 110Q terminal is expressed as ``l'' at the time of reset. At that time, the output signal of the Q terminal becomes ``ist@o'', so the AND circuit !I, 6o input signal is , as in the case of 9 shown in FIG.
is shifted by the test clock signal CP, and connects the (N-α)th output 22' and the N#rF4 output 23' to the other input of the AND path s:sP and 6, respectively. do. Therefore, the output of one of the AND circuits ls, . . . As in the case of the example, if the o-th start-up time of the o-th cover falls outside the scheduled range, the error will be displayed as "1" and an error will be detected by the error detection circuit 4.

以上φように、本発明においては、り四ツク1号とは独
立し友別の試験りIツタ信号によって時間計測するil
l!時間計測回路を備えて、該第2時間針m回路で定め
た予室期間内に前記クロック信号が一定数をカウントさ
れたとき社正常とし、クロック信号が一定数カウントさ
れ走時々が上記予定期間を外れた場合にエラー検出する
ように構成されているから、クロツタ信号とは独立した
試験クロックによって簡単な論理回路でクロック信号の
異常増加および欠落を検出することが可能である。
As described above, in the present invention, the time is measured using the test signal I, which is independent of the four-way test No. 1.
l! A time measuring circuit is provided, and when the clock signal is counted a certain number of times within the preliminary period determined by the second hour hand m circuit, the clock signal is determined to be normal, and when the clock signal is counted a certain number of times and the clock signal runs during the above scheduled period. Since the circuit is configured to detect an error when the clock signal deviates from the clock signal, it is possible to detect an abnormal increase or omission of the clock signal with a simple logic circuit using a test clock independent of the clock signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す一@#理回路を含むブ
ロック図、第2図は上記実施例の各部の信号を示すタイ
ムチャート、第3図は本発明の他の実施例を示すブロッ
ク図である。 図において、1.2−オクン戸、3−同期回路、4−エ
ラー検出回路、5.6−アンド回路、7゜8・・・シフ
トレジスタ、9−フ啼ツブフロップ。 第3図
FIG. 1 is a block diagram including a logic circuit showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a time chart showing signals of each part of the above embodiment, and FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. FIG. In the figure, 1.2-open door, 3-synchronous circuit, 4-error detection circuit, 5.6-AND circuit, 7°8...shift register, 9-flip flop. Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 一定数のクロック信号によシ出力するカウンタを九はレ
ジスタ等で構成される纂1時間計測回路と、前記り論ツ
ク信号とは独立の試験クロック信号を発生する試験クロ
ック発生回路と、諌試験クロック信号によって動作し予
定時間の′前後で2s類のサンプリンダ信号を出力する
第2時間計測回路と、該第1時間計測回路の動作開始に
同期して前記第1時間針#41il路をリセットさせる
同期回路とを備え、正常衾前記りロック信勺による前記
第1時間計測回路の出力時間の前11K前記第2時間計
測回路から211類のサンプ9yダ儒号を出力するよう
に設定し、曽記第1時間針濶回路の出力信号が前記予定
時間外に出力されたと自エラー信号を出力することを特
徴とするクロック信号誤動作検出回路。
A time measurement circuit consisting of a counter that outputs a constant number of clock signals, a test clock generation circuit that generates a test clock signal independent of the above-mentioned logic signal, and a test clock. a second time measuring circuit that operates according to a clock signal and outputs a sampler signal of 2 seconds before and after the scheduled time; and resetting the first hour hand #41il path in synchronization with the start of operation of the first time measuring circuit. and a synchronization circuit, and is set to output a sump 9y da code of class 211 from the second time measuring circuit 11K before the output time of the first time measuring circuit due to the normal clock signal. A clock signal malfunction detection circuit, characterized in that it outputs an error signal when the output signal of the first time hand control circuit is output outside the scheduled time.
JP56110089A 1981-07-16 1981-07-16 Detection circuit for clock signal malfunction Pending JPS5812035A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56110089A JPS5812035A (en) 1981-07-16 1981-07-16 Detection circuit for clock signal malfunction

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56110089A JPS5812035A (en) 1981-07-16 1981-07-16 Detection circuit for clock signal malfunction

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5812035A true JPS5812035A (en) 1983-01-24

Family

ID=14526739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56110089A Pending JPS5812035A (en) 1981-07-16 1981-07-16 Detection circuit for clock signal malfunction

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5812035A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009285133A (en) * 2008-05-29 2009-12-10 Daito Giken:Kk Game machine
JP2013081809A (en) * 2013-01-11 2013-05-09 Daito Giken:Kk Game machine

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009285133A (en) * 2008-05-29 2009-12-10 Daito Giken:Kk Game machine
JP2013081809A (en) * 2013-01-11 2013-05-09 Daito Giken:Kk Game machine

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5157699A (en) Watchdog timer employing plural counters and discriminator for determining normal operating frequency range of input
US3936745A (en) Method of measuring the duration of a discontinuous signal
JPS5812035A (en) Detection circuit for clock signal malfunction
US4248316A (en) Error detecting apparatus for a scale having a digital display
US3613014A (en) Check circuit for ring counter
JPS5831525B2 (en) A-D
JPS6213697B2 (en)
JPS6237354B2 (en)
SU1280634A1 (en) Multichannel signature analyzer
SU737899A1 (en) Device for automatic measuring of statistical characteristics of digital instrument random errors
SU723578A1 (en) Logic unit monitoring device
JP2643119B2 (en) Flow measurement device
SU591865A2 (en) Apparatus for tolerance checking and classification
SU1045229A1 (en) Device for diagnosing faults of digital system with synchronizing
SU807303A1 (en) Device for testing digital units
JPS57199057A (en) Error detecting device
SU548862A1 (en) Device for diagnosing faults in logic circuits
JPS585026A (en) Semiconductor integrated circuit
SU1193679A1 (en) Device for checking logic units
SU995739A1 (en) Podograph
JPH0862336A (en) Radiation measuring device with abnormality diagnostic function
SU696463A1 (en) Device for automatic monitoring and detecting faults
SU1365087A2 (en) Device for checking logic circuits
SU1446629A1 (en) Device for modelling engineering systems
JPS6317018Y2 (en)