JPS5811565B2 - 光ファイバ装置 - Google Patents
光ファイバ装置Info
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- JPS5811565B2 JPS5811565B2 JP51048075A JP4807576A JPS5811565B2 JP S5811565 B2 JPS5811565 B2 JP S5811565B2 JP 51048075 A JP51048075 A JP 51048075A JP 4807576 A JP4807576 A JP 4807576A JP S5811565 B2 JPS5811565 B2 JP S5811565B2
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- frequency
- circuit
- broken part
- signal
- Prior art date
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、光ファイバの折損位置を、光ファイバの入
射端から切損部までの距離を測定することによって求め
るための装置に関するものであり、特に、連続変調光を
用いる方式による折損部検知装置の自動距離測定回路装
置に係わる。
射端から切損部までの距離を測定することによって求め
るための装置に関するものであり、特に、連続変調光を
用いる方式による折損部検知装置の自動距離測定回路装
置に係わる。
光ファイバにおける切損部の反射を利用し、正弦波等を
用いて光ファイバに入射する光強度を連続変調すること
によって、反射光信号から、光フアイバ切損部の位置を
求める装置は、従来、変調周波数を変えて受信信号レベ
ルの変化を求める原理を使う場合においても、距離を直
読することができなかった。
用いて光ファイバに入射する光強度を連続変調すること
によって、反射光信号から、光フアイバ切損部の位置を
求める装置は、従来、変調周波数を変えて受信信号レベ
ルの変化を求める原理を使う場合においても、距離を直
読することができなかった。
すなわち、第１図に従来装置の構成ブロック図を示すよ
うに、光フアイバ１０入射端２には、ビームスプリッタ
３を介して、光源４からの変調光５が入射し、この変調
光は破断点切損部６で一部反射され、入射端２．ビーム
スプリンタ３を経て受光器７で受信され、変換された電
気信号は増幅器８で増幅され、検波回路９の出力がレベ
ルメータ１０で表示される。
うに、光フアイバ１０入射端２には、ビームスプリッタ
３を介して、光源４からの変調光５が入射し、この変調
光は破断点切損部６で一部反射され、入射端２．ビーム
スプリンタ３を経て受光器７で受信され、変換された電
気信号は増幅器８で増幅され、検波回路９の出力がレベ
ルメータ１０で表示される。
光源４には、変調信号発生器１１からの正弦波信号が変
調駆動回路１２を経て供給される。
調駆動回路１２を経て供給される。
このような構成にし、変調周波数を変えてゆくと受信レ
ベルが周波数に応じて変化する。
ベルが周波数に応じて変化する。
これは、回路の周波数特性が完全に平坦な場合の、この
測定方式の原理であって、受信レベルが最大値になる変
調周波数ｆと受信レベルが最小値になる変調周波数ｆと
の周波数差の最小値△ｆは、入射端から切損部までの光
ファイバ長をり、光速をＣ９光ファイバの屈折率をｎと
すると第（１）式で与えられる。
測定方式の原理であって、受信レベルが最大値になる変
調周波数ｆと受信レベルが最小値になる変調周波数ｆと
の周波数差の最小値△ｆは、入射端から切損部までの光
ファイバ長をり、光速をＣ９光ファイバの屈折率をｎと
すると第（１）式で与えられる。
従来装置においては、レベルメータ１０で最大最小を確
認し、そのときの周波数ｆ、ｆ′を周波数測定器１３で
求め、別途演算によって△ｆあるいはＬを算出しなけれ
ばならず、必ずしも簡便ではなかった。
認し、そのときの周波数ｆ、ｆ′を周波数測定器１３で
求め、別途演算によって△ｆあるいはＬを算出しなけれ
ばならず、必ずしも簡便ではなかった。
この発明は、位相検波回路、電圧制御発振器を用い、さ
らに、周波数演算部を備えることにより、距離の直読を
可能にするとともに、受信の高感度化をはかったもので
ある。
らに、周波数演算部を備えることにより、距離の直読を
可能にするとともに、受信の高感度化をはかったもので
ある。
第２図はこの発明による実施例の構成をブロック図で示
したものである。
したものである。
第２図において１〜７および１２は第１図と同じであり
、変調駆動回路１２には、周波数変換回路１４から周波
数ｆの変制止弦波信号が供給される。
、変調駆動回路１２には、周波数変換回路１４から周波
数ｆの変制止弦波信号が供給される。
局部発振器１５からは一定周波数ｆ０の信号が、電圧制
御発振器１６からは制御電圧発生回路１７からの電圧に
対応した周波数ｆ′が１／ｎ分周回路１８を経てｆ／ｎ
の周波数が、それぞれ上記周波数変換回路１４に供給さ
れる。
御発振器１６からは制御電圧発生回路１７からの電圧に
対応した周波数ｆ′が１／ｎ分周回路１８を経てｆ／ｎ
の周波数が、それぞれ上記周波数変換回路１４に供給さ
れる。
一方、光検出器７からの周波数ｆの信号は周波数変換増
幅器１９に供給され、周波数ｆ０に変換された後位相同
期検波回路２０に入力される。
幅器１９に供給され、周波数ｆ０に変換された後位相同
期検波回路２０に入力される。
上記同期検波回路では、局部発振器１５からの周波数ｆ
０に同期した成分の検波が行われ、その出力信号電圧Ｖ
ｓがレベル検出回路２１に入力される。
０に同期した成分の検波が行われ、その出力信号電圧Ｖ
ｓがレベル検出回路２１に入力される。
いま、上記制御電圧発生回路１７からの電圧Ｖが変ると
第３図に示すようにＶｓが周期的に変る。
第３図に示すようにＶｓが周期的に変る。
レベル検出回路２１ＵＶｓが最大値、最小値になるＶの
値を検知するので、Ｖｓが最大値、最小値になったとき
周波数計測演算回路２２を動作させる信号を発生する。
値を検知するので、Ｖｓが最大値、最小値になったとき
周波数計測演算回路２２を動作させる信号を発生する。
このときの周波数が、例えば、第３図に示すように、順
次ｆ１、ｆ２、ｆ３、ｆ４と得られたとすると、△ｆが
演算結果として求められ、前記第（１）式に基いてＬが
表示装置２３で表示される。
次ｆ１、ｆ２、ｆ３、ｆ４と得られたとすると、△ｆが
演算結果として求められ、前記第（１）式に基いてＬが
表示装置２３で表示される。
このような構成にすると、測定用変調周波数に関係なく
位相同期検波回路の動作周波数は常に一定であり、本来
の性能が発揮しやすく安定な動作が得られる。
位相同期検波回路の動作周波数は常に一定であり、本来
の性能が発揮しやすく安定な動作が得られる。
もともと位相同期検波回路を用いることにより、等価受
信帯域幅は充分狭くなり信号雑音比が高くなり、従つて
、距離りが大きくなって切損部からの反射信号が小さく
なっても所定の精度を得やすい。
信帯域幅は充分狭くなり信号雑音比が高くなり、従つて
、距離りが大きくなって切損部からの反射信号が小さく
なっても所定の精度を得やすい。
また、制御電圧Ｖを適当な速さで自動掃引すれば距離演
算も容易になる。
算も容易になる。
なお、距離の演算については、第３図の場合１回の掃引
で△ｆが３回求められるが、２△ｆ、３△ｆも演算論理
を適当に組めば容易に求まるのはもち論であり、それら
相互の関係を利用して、例えば、平均化手法によって△
ｆの測定精度を高めることができる。
で△ｆが３回求められるが、２△ｆ、３△ｆも演算論理
を適当に組めば容易に求まるのはもち論であり、それら
相互の関係を利用して、例えば、平均化手法によって△
ｆの測定精度を高めることができる。
以上のように、この発明によれば、電圧可変周波数発生
器などを用いて、変調周波数を変えるとともに、位相同
期検波を行うことによって高感度受信をし、受信レベル
の最大、最小を与える変調周波数を求めるとともに差周
波数から距離を演算で求めることが容易にできるため、
切損部までの距離が長い場合でも光ファイバの切損部位
置を精度よく自動的に表示させ、直読できるのできわめ
て高性能な光ファイバ切損部検知装置を提供しうる。
器などを用いて、変調周波数を変えるとともに、位相同
期検波を行うことによって高感度受信をし、受信レベル
の最大、最小を与える変調周波数を求めるとともに差周
波数から距離を演算で求めることが容易にできるため、
切損部までの距離が長い場合でも光ファイバの切損部位
置を精度よく自動的に表示させ、直読できるのできわめ
て高性能な光ファイバ切損部検知装置を提供しうる。
第１図は、従来の変調周波数可変法による光フアイバ切
損検知装置の構成を示すブロック図、第２図はこの発明
による一実施例を説明するための、装置構成を示すブロ
ック図、第３図は、この発明による装置の動作を説明す
るための入出力関係を示すグラフである。 図中、１は光ファイバ、２に光ファイバの入射端、３は
ビームスプリッタ、４は光源装置、５は光ファイバへ入
射する変調光、６は光ファイバの切損部、７は光検出器
、８は増幅器、９は検波回路、１０はレベルメータ、１
１は変調信号発生器、１２は光源駆動回路、１３は周波
数測定器、１４は周波数変換増幅器、１５は局部発生器
、１６は電圧制御発振器、１７は制御電圧発生器、１８
に１／ｎ分周回路、１９は周波数変換増幅器、２０は位
相同期検波回路、２１はレベル検出器、２２は周波数計
測・演算回路、２３は表示装置である。 なお、図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。
損検知装置の構成を示すブロック図、第２図はこの発明
による一実施例を説明するための、装置構成を示すブロ
ック図、第３図は、この発明による装置の動作を説明す
るための入出力関係を示すグラフである。 図中、１は光ファイバ、２に光ファイバの入射端、３は
ビームスプリッタ、４は光源装置、５は光ファイバへ入
射する変調光、６は光ファイバの切損部、７は光検出器
、８は増幅器、９は検波回路、１０はレベルメータ、１
１は変調信号発生器、１２は光源駆動回路、１３は周波
数測定器、１４は周波数変換増幅器、１５は局部発生器
、１６は電圧制御発振器、１７は制御電圧発生器、１８
に１／ｎ分周回路、１９は周波数変換増幅器、２０は位
相同期検波回路、２１はレベル検出器、２２は周波数計
測・演算回路、２３は表示装置である。 なお、図中、同一あるいは相当部分には同一符号を付し
て示しである。
Claims (1)
- １ 連続変調光を用いて光ファイバの折損部を検知する
光フアイバ装置において、周波数可変発振器と、局部発
振器と、周波数変換器と、変調周波数を変えたときの受
信信号のレベルの変化を求める位相同期検波器と、レベ
ル変化測定回路とを備え、上記検波器からの出力の変化
に対応する周波数を計数することによって光ファイバの
折損部を検知するようにしたことを特徴とする光フアイ
バ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51048075A JPS5811565B2 (ja) | 1976-04-27 | 1976-04-27 | 光ファイバ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51048075A JPS5811565B2 (ja) | 1976-04-27 | 1976-04-27 | 光ファイバ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52130651A JPS52130651A (en) | 1977-11-02 |
| JPS5811565B2 true JPS5811565B2 (ja) | 1983-03-03 |
Family
ID=12793218
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51048075A Expired JPS5811565B2 (ja) | 1976-04-27 | 1976-04-27 | 光ファイバ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5811565B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6219366U (ja) * | 1985-07-18 | 1987-02-05 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS557622A (en) * | 1978-07-03 | 1980-01-19 | Automob Antipollut & Saf Res Center | Diagnosis unit for wiring failure |
| FR2505045A1 (fr) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Lignes Telegraph Telephon | Dispositif de localisation d'une cassure d'une fibre optique transmettant deux signaux lumineux de longueurs d'onde differentes |
-
1976
- 1976-04-27 JP JP51048075A patent/JPS5811565B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6219366U (ja) * | 1985-07-18 | 1987-02-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52130651A (en) | 1977-11-02 |
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