JPS58106731A - Method of producing fuse - Google Patents

Method of producing fuse

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JPS58106731A
JPS58106731A JP20496381A JP20496381A JPS58106731A JP S58106731 A JPS58106731 A JP S58106731A JP 20496381 A JP20496381 A JP 20496381A JP 20496381 A JP20496381 A JP 20496381A JP S58106731 A JPS58106731 A JP S58106731A
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JP
Japan
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fuse
insulating
notch
substrate
conductive material
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隆 小林
鹿間 隆
山本 朝之
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、ヒユーズの製造方法、特に絶縁性基板を支
持体とし、その側面にヒユーズ部が形成された形式のヒ
ユーズの製造方法の改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for manufacturing a fuse, and particularly to an improvement in a method for manufacturing a fuse of a type in which an insulating substrate is used as a support and a fuse portion is formed on the side surface of the support.

たとえばセラミツ、りなどよりなる絶縁性基板を支持体
とし、その側面にヒユーズ部が形成された形式のヒユー
ズが従来より用いられている。第1図は、このような形
式のヒユーズの一例を示す斜mgmである。第111を
参照して、ヒユーズ1は絶縁性基板としてのセラミック
基板2を支持体とする。セラミック基板2の一1i3の
一部には切欠きが形成されており、この切欠きにヒユー
ズ部4が形成されている。嘘だ、セラミック基板2の両
面、すなわち上面および下面には、電極5.6が形成さ
れている。電極5.6&tヒユーズaI$4により短絡
されている。ヒユーズlE4および電極5.6は、のち
はど説明されるように、同一の導電性材料で形成されて
いる。第1図に示されたヒユーズ1は、セラミック基板
2を支持体とし、その側i13にヒユーズ部4が設けら
れているため、電子機器臀に実装する際に外力が加えら
れても、変形・破壊されることがほとんどなく取り扱い
害賜で、かつ比較的小形であるため無駄な取付スペース
を必要としないなどの利点を有する。しかしながら、ヒ
ユーズ1の製造方法においては、以下に詳細に説明され
るように、様々な同■点が存在する。
For example, fuses have conventionally been used in which an insulating substrate made of ceramic, phosphor, or the like is used as a support, and a fuse portion is formed on the side surface of the support. FIG. 1 is a diagonal mgm diagram showing an example of this type of fuse. Referring to No. 111, the fuse 1 uses a ceramic substrate 2 as an insulating substrate as a support. A notch is formed in a part of 1i3 of the ceramic substrate 2, and a fuse portion 4 is formed in this notch. No, electrodes 5.6 are formed on both sides of the ceramic substrate 2, that is, on the top and bottom surfaces. Electrode 5.6&t is shorted by fuse aI$4. Fuse IE4 and electrode 5.6 are made of the same electrically conductive material, as will be explained later. The fuse 1 shown in FIG. 1 uses a ceramic substrate 2 as a support and the fuse part 4 is provided on the side i13 of the ceramic substrate 2. Therefore, even if an external force is applied when mounting the electronic device on the buttock, it will not deform or deform. It has the advantage that it is almost never destroyed, causing no damage to handling, and is relatively small, so it does not require wasted installation space. However, in the method for manufacturing the fuse 1, there are various similar points, as will be explained in detail below.

ヒユーズ1は、切欠きが形成されたセラミック基板2に
、たとえば銅、ニッケル、鉛、亜鉛等の導電性材料を無
電解メッキし、次に側面を研磨することにより製造され
る。この側面の研磨により、セラミック基板2の両面に
電極5.6が形成されると同時に、切欠きに残された導
電性材料によりヒユーズ部4が形成される。ところで、
ヒユーズ1を、他の電子部品等と同様に、プリント基板
に実装する際には、ヒユーズ1に予めリード線などの端
子が接続されていることが望ましい。なぜならば、ヒユ
ーズ1を保持する部品を予めプリント基板に設けておく
作業を解消することができ、かつ他の電子部品と同時に
自動的にプリント基板に験看し得るからである。そこで
、第1図に示されたヒユーズ1の電極5.6にたとえば
リード線等の端子を予め接続しておくことが、要請され
る。ところで、一般に電子部品においては、リード線等
11 の端子の接続は、高能率で行なうためにはんだ浸漬によ
り行なわれている。しかしながら、第1図に示されたヒ
ユーズ1の電極5.6に、リード線等の端子をはんだ浸
漬により接続することはできない、なぜならば、ヒユー
ズ部4もまた、導電性材料で形成されているため、はん
だ浸漬の際にヒユーズ部4にもはんだが付着することと
なるからである。ヒユーズ部4に、はんだが付着すると
、ヒユーズ部4の特性が変化することになり、均一な溶
断特性を有するヒユーズ1を得ることは不可能である。
The fuse 1 is manufactured by electrolessly plating a conductive material such as copper, nickel, lead, or zinc onto a ceramic substrate 2 in which a notch is formed, and then polishing the side surface. By polishing the side surfaces, electrodes 5.6 are formed on both sides of the ceramic substrate 2, and at the same time, the fuse portion 4 is formed from the conductive material left in the notch. by the way,
When the fuse 1 is mounted on a printed circuit board like other electronic components, etc., it is desirable that a terminal such as a lead wire be connected to the fuse 1 in advance. This is because it is possible to eliminate the work of installing the component that holds the fuse 1 on the printed circuit board in advance, and it is possible to automatically test the printed circuit board at the same time as other electronic components. Therefore, it is required to connect a terminal such as a lead wire in advance to the electrode 5.6 of the fuse 1 shown in FIG. By the way, in general, in electronic components, terminals such as lead wires 11 are connected by solder dipping in order to achieve high efficiency. However, it is not possible to connect terminals such as lead wires to the electrodes 5.6 of the fuse 1 shown in FIG. This is because the solder will also adhere to the fuse portion 4 during solder immersion. If solder adheres to the fuse portion 4, the characteristics of the fuse portion 4 will change, making it impossible to obtain a fuse 1 having uniform fusing characteristics.

したがって、第1図に示されたヒユーズ1は、上述され
たような種々の利点を有するが、リード線替の端子を接
続するには、1W毎にコテなどで個々に接続する他なく
、極めて作業性が悪いものであった。
Therefore, although the fuse 1 shown in FIG. 1 has various advantages as mentioned above, the only way to connect the terminals for replacing the lead wires is to connect them individually with a trowel or the like every 1 W, which is extremely difficult. Workability was poor.

また、第1図に示されたヒユーズ1では、ヒユーズ部4
が露出しているため、溶断した際にヒユーズ部4を構成
する導電性材料等が飛散し、周囲の電子部品等に散乱し
、電子機器の特性の劣化ひいては故障等を、もたらすと
いう欠点も存在した。
Furthermore, in the fuse 1 shown in FIG.
Because the fuse is exposed, there is also the disadvantage that when it blows, the conductive material that makes up the fuse section 4 will scatter and be scattered around the surrounding electronic components, leading to deterioration of the characteristics of the electronic device and even malfunction. did.

それゆえに、この発明の主たる目的は、wIlli時に
ヒユーズを構成する材料が外部へ飛散することなく、か
つ高能率でプリント基板などに実装し得るヒユーズを製
造する方法を提供することである。
Therefore, the main object of the present invention is to provide a method for manufacturing a fuse that can be mounted on a printed circuit board or the like with high efficiency, without causing the material constituting the fuse to scatter to the outside during willi.

この発明は、要約すれば、絶縁性基板の側面の切欠きに
形成されたヒユーズ部を覆うように絶縁被膜を形成し、
次いで、絶縁性基板の両面に形成された1対の電極に端
子をはんだ浸漬により接続する工程を含む、ヒユーズの
製造方法である。
In summary, this invention forms an insulating coating so as to cover a fuse portion formed in a notch on the side surface of an insulating substrate,
Next, the method for manufacturing a fuse includes the step of connecting terminals to a pair of electrodes formed on both sides of an insulating substrate by solder dipping.

この発明の上述の目的およびその他の目的と特徴は、図
面を参照して行なわれる以下の詳細な説明から一層明ら
かとなろう。
The above objects and other objects and features of the invention will become more apparent from the following detailed description with reference to the drawings.

第2図ないし第7図は、この発明の一実施例を工程順に
説明するための各図である。
FIGS. 2 to 7 are diagrams for explaining one embodiment of the present invention in the order of steps.

第2図は、この発明の一実施例に用いられる絶縁性基板
としてのセラミック基板を示す斜視図である。まず、側
面13に切欠き14aが形成された絶縁性基板としての
セラミック基板12が準備される。前記切欠き14aは
2個以上設けられてもよい。次に、セラミツク基板12
全体に、たとえば無電解メッキにより、たとえばニッケ
ル、鉛、亜鉛等の溶断特性に優れた導電性材料が付着さ
れる。このような導電性材料で全体が覆われた絶縁 5
− 性基板12は、次に、その側面13が、たとえばセンタ
レス研磨またはサンドブラスト法等により研磨される。
FIG. 2 is a perspective view showing a ceramic substrate as an insulating substrate used in an embodiment of the present invention. First, a ceramic substrate 12 as an insulating substrate having a notch 14a formed in the side surface 13 is prepared. Two or more cutouts 14a may be provided. Next, the ceramic substrate 12
A conductive material with excellent fusing properties, such as nickel, lead, zinc, etc., is deposited over the entire body, for example, by electroless plating. Insulation entirely covered with such a conductive material 5
- The side surface 13 of the magnetic substrate 12 is then polished by, for example, centerless polishing or sandblasting.

これにより、−面13に付着された導電性材料が除去さ
れる。研磨は、切欠き14aに、導電性材料を残すよう
に行なわれる。1ノたがって、絶縁性基板12の上面お
よび下面と、切欠き14aに導電性材料が残存すること
となる。このようにして、143図に斜視図で示される
ようなヒユーズ索子11が準−される。ヒユーズ索子1
1は、側1Ii13に切欠きが形成された絶縁性基板1
2と、基板の両面に形成された1対の電1i15゜16
と、切欠きに形成されたヒユーズ部14とを備える。ヒ
ユーズ部14は、第2図において切欠き14aとして示
された部分に、導電性材料が付着して構成されている。
As a result, the conductive material attached to the negative surface 13 is removed. Polishing is performed to leave the conductive material in the notch 14a. Therefore, the conductive material remains on the upper and lower surfaces of the insulating substrate 12 and the notch 14a. In this way, the fuse strand 11 as shown in perspective view in FIG. 143 is assembled. Fuse cord 1
1 is an insulating substrate 1 in which a notch is formed on the side 1Ii13.
2, and a pair of electrodes 1i15°16 formed on both sides of the substrate.
and a fuse portion 14 formed in the notch. The fuse portion 14 is constructed by adhering a conductive material to a portion shown as a notch 14a in FIG.

また、電極15と′R−16とは、ヒユーズ部14によ
り短絡されている。
Further, the electrode 15 and 'R-16 are short-circuited by the fuse part 14.

ここまでは、第1図を参照して説明された従来のヒユー
ズ1の製造方法と同様である。
The process up to this point is the same as the conventional method for manufacturing the fuse 1 described with reference to FIG.

次に、少なくともヒユーズ部14に、たとえばパラフィ
ン系の含浸剤が塗布される。第4図は、6− ヒユーズ部14に含浸剤が塗布されたヒユーズ素子11
の第3図の纏IV−IVに沿う断面図に相当する図であ
る。第4図を参照して、ヒユーズ素子11のヒユーズ部
14には、含浸剤1118が形成される。′ 次に、ヒユーズ素子11の少なくともヒユーズ部14を
覆うように、絶縁被膜が形成される。第5図は、絶縁被
膜が形成されたヒユーズ素子11を示す斜視図である。
Next, at least the fuse portion 14 is coated with, for example, a paraffin-based impregnating agent. FIG. 4 shows 6- a fuse element 11 whose fuse portion 14 is coated with an impregnating agent;
FIG. 3 is a diagram corresponding to a cross-sectional view taken along line IV-IV in FIG. 3. Referring to FIG. 4, an impregnating agent 1118 is formed in the fuse portion 14 of the fuse element 11. As shown in FIG. ' Next, an insulating film is formed to cover at least the fuse portion 14 of the fuse element 11. FIG. 5 is a perspective view showing the fuse element 11 on which an insulating coating is formed.

第5図を参照して、ヒユーズ素子11の、ヒユーズ部1
4およびその近傍にわたり、たとえば絶縁塗料の塗布・
焼き付けにより、絶縁被膜19が形成されている。第6
図は、絶縁被膜19の形成されたヒユーズ素子11の構
造を示す断面図であり、第5図の糠Vl−VIに沿う断
面図である。第6図は、ヒユーズ素子11の構造の理解
を容墨とするために、第5図とは興なる縮尺で、かつ略
図的に示されている。第6図から明らかなように、絶縁
被膜19がヒユーズ部14近傍を覆って形成されている
が゛、第4図で示された含浸層が消失きれている。すな
わち、ヒユーズ部14を構成する導電性材料と、絶縁液
1119との間には、含浸剤層18が消失して空1I2
0が形成されている。空隙20は、絶縁被膜19の形成
すなわち絶縁塗料の塗布・焼付の際に、たとえばパラフ
ィン系の含浸剤が絶縁塗料中に溶融吸収されて、発生さ
れるものであり、ここでは前記含浸剤は突膝形成剤とし
て機能される。空1120は、ヒユーズ部14の溶断特
性を安定化させるために形成されている。ヒユーズ部1
4の表面に絶縁被膜19が形成されると、絶縁被膜19
の厚みにより、ヒユーズ部14の溶断特性が変、化する
ことが題意されるため、絶縁液1119とヒユーズ11
14との間に空隙20を設けることにより、ヒユーズ部
14の溶断特性をより一定にすることが可能である。
Referring to FIG. 5, fuse part 1 of fuse element 11
4 and its vicinity, for example, applying insulating paint or
An insulating film 19 is formed by baking. 6th
The figure is a sectional view showing the structure of the fuse element 11 on which the insulating film 19 is formed, and is a sectional view taken along the line Vl-VI in FIG. FIG. 6 is shown schematically and on a different scale from FIG. 5 in order to facilitate understanding of the structure of the fuse element 11. As is clear from FIG. 6, the insulating coating 19 is formed to cover the vicinity of the fuse portion 14, but the impregnated layer shown in FIG. 4 has completely disappeared. That is, the impregnating agent layer 18 disappears between the conductive material constituting the fuse portion 14 and the insulating liquid 1119, leaving an empty space 1I2.
0 is formed. The voids 20 are generated when, for example, a paraffin-based impregnating agent is melted and absorbed into the insulating paint during the formation of the insulating coating 19, that is, when the insulating paint is applied and baked. Functions as a knee plasty agent. The void 1120 is formed to stabilize the fusing characteristics of the fuse portion 14. Fuse part 1
When the insulation coating 19 is formed on the surface of 4, the insulation coating 19
The fusing characteristics of the fuse part 14 change depending on the thickness of the insulating liquid 1119 and the fuse 11.
By providing the gap 20 between the fuse part 14 and the fuse part 14, it is possible to make the fusing characteristics of the fuse part 14 more constant.

次に、絶縁液1119が覆われていない部分の電極15
.16に、それぞれ、端子としてのり一ド糠21.22
が接続される。第7図は、リード線21.22が接続さ
れたヒユーズ素子11すなわちこの実施例により得られ
るヒユーズ31を示す斜l!図である。リード線21.
22の接続は、電子部品素子に対するリード線の接続に
おいて一般的に用いられている、はんだ浸漬により行な
われる。はんだ浸漬によりリード線21.22の接続の
際には、第6図および第7図から明らかなように、ヒユ
ーズ部14は絶縁被膜19で覆われているのでヒユーズ
部14にはんだが付着する恐れはもはやなく、このため
高能率にリード線21.22の接続を行なうことが可能
である。
Next, the portion of the electrode 15 that is not covered with the insulating liquid 1119 is
.. 16, glue and bran as terminals 21.22 respectively
is connected. FIG. 7 shows the fuse element 11 to which the leads 21, 22 are connected, ie the fuse 31 obtained according to this embodiment. It is a diagram. Lead wire 21.
The connections 22 are made by solder dipping, which is commonly used for connecting lead wires to electronic component elements. When connecting the lead wires 21 and 22 by dipping in solder, as is clear from FIGS. 6 and 7, since the fuse portion 14 is covered with an insulating film 19, there is a risk that solder may adhere to the fuse portion 14. Therefore, it is possible to connect the lead wires 21 and 22 with high efficiency.

以上のように、第2図ないし第7図を参照して説明され
たこの実施例では、ヒユーズ部14が絶縁被膜19で響
われているため、端子としてのリード線21,22を、
従来は不可能であったはんだ浸漬により容易に接続する
ことが可能となる。
As described above, in this embodiment described with reference to FIGS. 2 to 7, since the fuse portion 14 is covered with the insulating coating 19, the lead wires 21 and 22 as terminals are
It becomes possible to easily connect by solder dipping, which was previously impossible.

したがって、他の電子部品と同様に、かつ同時に、プリ
ント基板へ自動装着することが可能となる。
Therefore, it is possible to automatically mount the electronic component onto the printed circuit board in the same way and at the same time as other electronic components.

また、ヒユーズ部14は、絶縁被膜19で覆われている
ため、ヒユーズ部14が使用の際に溶断したとしても、
ヒユーズ部14を構成する導電性材料が飛散することは
効果的に解消される。さらに、=9− ヒユーズ部14と絶縁被膜19との間には空1120が
形成されているため、ヒユーズ部14の溶断特性は常に
均一に保たれ得る。
Further, since the fuse part 14 is covered with an insulating coating 19, even if the fuse part 14 blows during use,
Splashing of the conductive material constituting the fuse portion 14 is effectively eliminated. Further, since the void 1120 is formed between the =9- fuse portion 14 and the insulating coating 19, the fusing characteristics of the fuse portion 14 can always be kept uniform.

#I8wIおよび19図は、この実施例により得られた
ヒユーズ31が、実際に使用される例を説明するための
部分断面図である。第8図から明らかなように、ヒユー
ズ31は、既にリード線21゜22が接続されているた
め、プリント基板32に、直接挿゛入することができる
。プリント基板32に挿入されたリード線21.22は
、プリント基板32の下面においてはんだ付けにより形
成されたはんだ1133.34により固定されている。
#I8wI and FIG. 19 are partial sectional views for explaining examples in which the fuse 31 obtained in this embodiment is actually used. As is clear from FIG. 8, the fuse 31 can be directly inserted into the printed circuit board 32 since the lead wires 21 and 22 have already been connected. The lead wires 21.22 inserted into the printed circuit board 32 are fixed by solder 1133.34 formed on the lower surface of the printed circuit board 32 by soldering.

また、第9FMから明らかなように、ビン端子35.3
6が埋設された基板37に対しても、リード線21゜2
2を直接挿入することにより、ワンタッチでヒユーズ3
1の脱着を行なうことが可能となる。したがって、この
実施例のヒユーズ31は、他の一般のリード線が接続さ
れた電子部品と同様に、楡めて効串よく基板に寅鶴ある
いは脱着することが可能となる。
Also, as is clear from the 9th FM, the bin terminal 35.3
6 is buried, the lead wire 21°2
By directly inserting fuse 3, you can connect fuse 3 with one touch.
1 can be attached and detached. Therefore, the fuse 31 of this embodiment, like other general electronic components connected to lead wires, can be easily and effectively attached to or detached from the board.

10− なお、上述の実施例では、絶縁性基板として、セラミッ
ク基板12が用いられたが、セラミック以外の絶縁性材
料を用いて絶縁性基板を形成してもよく、しかも、それ
らの廃物利用も可能である。
10- Note that in the above embodiment, the ceramic substrate 12 was used as the insulating substrate, but the insulating substrate may be formed using an insulating material other than ceramics, and the waste material can also be used. It is possible.

また、ヒユーズ素子11に接続された端子として、リー
ド纏21.22が示されたが、リード纏に限らず、様々
な形状の端子であってもよい。さらに、絶縁性被膜19
は、絶縁性塗料により形成されたが、その他の絶縁性樹
脂またはガラスなどの様々な絶縁性材料により形成され
てもよい。また絶縁液1119の厚みについても、ヒユ
ーズ部14の形状に沿う程度の厚みでなくともよく、種
々の厚みに形成され得る。
Furthermore, although the lead strings 21 and 22 are shown as the terminals connected to the fuse element 11, the terminals are not limited to the lead strings and may have various shapes. Furthermore, the insulating coating 19
is formed of an insulating paint, but may be formed of various insulating materials such as other insulating resins or glass. Further, the thickness of the insulating liquid 1119 does not have to be so thick as to follow the shape of the fuse portion 14, and can be formed to have various thicknesses.

以上のように、この発明によれば、ヒユーズ素子の少な
くともヒユーズ部を種う絶縁被膜がヒユーズ素子に形成
されるため、たとえばリード糠などの端子を従来不可能
で−ったはんだ浸漬により接続することが可能となる。
As described above, according to the present invention, since the insulating coating that covers at least the fuse portion of the fuse element is formed on the fuse element, terminals such as lead bran can be connected by solder dipping, which was previously impossible. becomes possible.

したがって、たとえばリード輪などを安価にかつ容易に
接続することができ、その結果、一般のリード纏が接続
されている電子部品と同様にかつ同時に、プリント基板
などに容易にヒユーズを自動装着することが可能となる
。蒙た、ヒユーズ部は、絶縁被膜により覆われているた
め、ヒユーズ部が溶断した際には、ヒユーズ部を構成す
る導電性材料が外部に飛II!することを効果的に解消
することが可能となる。
Therefore, for example, a lead ring can be connected easily and inexpensively, and as a result, a fuse can be easily and automatically attached to a printed circuit board, etc., in the same way and at the same time as an electronic component to which a general lead ring is connected. becomes possible. Since the fuse part is covered with an insulating coating, when the fuse part melts, the conductive material that makes up the fuse part will fly outside! This makes it possible to effectively solve the problem.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明が利用され得る形式のヒユーズの一
例を示す斜視図である。第2a1は、この発明の一実施
例に用いられる絶縁性基板としてのセラミック基板を示
す斜視図である。第3図は、この発明の一*wAglに
用いられるヒユーズ素子を示す斜視図である。第4図は
、ヒユーズ部に含浸剤が塗布されたヒユーズ素子のIi
園図であり、第3図の纏IV−IVに沿う断面に相当す
る図である。 第5図は、絶縁被膜が形成されたヒユーズ素子を示す斜
視図で、町る。第6図は、絶縁被膜が形成されたヒユー
ズ素子の断面図であり、第5図の纏■−■に沿う断(1
図に相当する図である。第7図は、この発明の一実施例
により得られるヒユーズを示す斜視図である。18図お
よび第9図は、この発明の一実施例により得られるヒユ
ーズの使用の例を示す部分断面図である。 図において、11はヒユーズ素子、12は絶縁基板とし
てのセラミック基板、13は一面、14aは切欠き、1
4はヒユーズ部、15.16は電極、19は絶縁被膜、
31はヒユーズを示す。 特許出願人 株式会社村田製作所  13− 第1図         第2図 第3図         第4図 第7図 第8図        第91:Qj 131
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a type of fuse to which the present invention can be utilized. 2a1 is a perspective view showing a ceramic substrate as an insulating substrate used in one embodiment of the present invention. FIG. 3 is a perspective view showing a fuse element used in 1*wAgl of the present invention. Figure 4 shows the fuse element Ii with the fuse part coated with an impregnating agent.
It is a garden map, and is a view corresponding to a cross section taken along line IV-IV in FIG. 3. FIG. 5 is a perspective view showing a fuse element on which an insulating film is formed. FIG. 6 is a cross-sectional view of a fuse element on which an insulating film is formed.
FIG. FIG. 7 is a perspective view showing a fuse obtained according to an embodiment of the present invention. FIG. 18 and FIG. 9 are partial cross-sectional views showing an example of the use of a fuse obtained according to an embodiment of the present invention. In the figure, 11 is a fuse element, 12 is a ceramic substrate as an insulating substrate, 13 is one side, 14a is a notch, 1
4 is a fuse part, 15.16 is an electrode, 19 is an insulating coating,
31 indicates a fuse. Patent applicant Murata Manufacturing Co., Ltd. 13- Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 7 Figure 8 Figure 91: Qj 131

Claims (1)

【特許請求の範囲】 側面に少なくとも1個の切欠きが形成された絶縁性基板
と、前記基板の両面に形成された1対の電極と、前記切
欠きに形成されかつ前記1対の電極を短絡するヒユーズ
部とを備える、ヒユーズ素子を準−し、 前記ヒユーズ素子の少なくとも前記ヒユーズ部を覆うa
m被膜をヒユーズ素子に″・形成し、次もXで、前記ヒ
ユーズ素子の1対の電極に端子をはんだ浸漬により接続
する、各工程を含む、ヒユーズの製造方法。
[Scope of Claims] An insulating substrate having at least one notch formed on a side surface, a pair of electrodes formed on both sides of the substrate, and a pair of electrodes formed in the notch and connecting the pair of electrodes. a that covers at least the fuse part of the fuse element;
A method for manufacturing a fuse, comprising the steps of: forming a coating on a fuse element, and then connecting a terminal to a pair of electrodes of the fuse element by solder dipping.
JP20496381A 1981-12-17 1981-12-17 Method of producing fuse Granted JPS58106731A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61178625A (en) * 1985-02-04 1986-08-11 Jeol Ltd Focus matching adjustment for stress imaging system

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