JPS58101731A - 粒状物質を脱ガスするための真空室組立体 - Google Patents

粒状物質を脱ガスするための真空室組立体

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JPS58101731A
JPS58101731A JP57201015A JP20101582A JPS58101731A JP S58101731 A JPS58101731 A JP S58101731A JP 57201015 A JP57201015 A JP 57201015A JP 20101582 A JP20101582 A JP 20101582A JP S58101731 A JPS58101731 A JP S58101731A
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B03SEPARATION OF SOLID MATERIALS USING LIQUIDS OR USING PNEUMATIC TABLES OR JIGS; MAGNETIC OR ELECTROSTATIC SEPARATION OF SOLID MATERIALS FROM SOLID MATERIALS OR FLUIDS; SEPARATION BY HIGH-VOLTAGE ELECTRIC FIELDS
    • B03CMAGNETIC OR ELECTROSTATIC SEPARATION OF SOLID MATERIALS FROM SOLID MATERIALS OR FLUIDS; SEPARATION BY HIGH-VOLTAGE ELECTRIC FIELDS
    • B03C9/00Electrostatic separation not provided for in any single one of the other main groups of this subclass
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22FWORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F1/00Metallic powder; Treatment of metallic powder, e.g. to facilitate working or to improve properties
    • B22F1/14Treatment of metallic powder

Landscapes

  • Devices And Processes Conducted In The Presence Of Fluids And Solid Particles (AREA)
  • Electrostatic Separation (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、少なくとも一部分がガスで汚染された粒状物
質を説カス、即ち浄化するための組立体に関する。
本発BAは特に粉末冶金の分野において有用であり、特
に、固める、即ち、加熱及び圧力の下で峡縮させるため
VC1超台金型式の金属粉末を準備するのyc有用であ
る。粉末の可成9の部分は不活性雰囲気、例えば、アル
コ゛ンの中で作られる。しかしながら1粉末t−同め、
或は17に縮させる前に粉末から不活性カスを取9m<
必要がある。
本発明の発明者の一人であるWALTERJ。
ROZMUS Kよって粉末金属の脱ガスの着しい進歩
がなされ友。彼の発明祉/9り7年l1月/日に付与さ
れた米国特許第ダ、 0!;l、、 341号に述べら
れ、特許請求の範囲に記載されている。その発明によれ
ば、^空ボングに連結されている真空室へガスで汚染さ
れた粒状物質を導入することによって脱ガスが達成され
る。lっ又はそれ以上の電界が、−組、又はでれ以上の
組の電極に電位を与えることによって、真空室内に作ら
れる。電界はガス汚染物質を荷電して、これを励起する
から、ガス汚染物質は粒状物質から分離され、かくして
、真空室から容易に取り除かれる。これはガスで汚染さ
れ九粒状物質で満たされ九容器tX?!mlの上に置き
、容III會真空富に連結することによって達成される
。即ち、粒状物質は重力で真空室を下方に流れて受は入
れ容器に入9、鋏受は入れ容s線、更に#&通するため
に容器内の脱ガスされた粉末が真空下にあるように開封
され、そして装置から堆り外される。ガスで汚染された
粒状の粉末金j1t−真空層に一回通すだけでFi役車
金属のjlガスが十分でないことが釧請にある。仁のよ
うな場合に、容aを真空室の底部から堆9外して、真空
室の上に再度位置決めし、組立体全体t−順序立てて、
新たな操作を開始しなけれにならない。
この間at解決する良めに、発明者の一人であ4WAL
TERJ、 ROZMLjS  は真空室の各jIIl
iIにある容器の間の真空室に物質を数回通すことによ
って、粒状物質を脱ガスする尭@會した。即ち、この発
明においては、粒状物質が希望の脱ガス水準に遭するま
で、ガスで汚染された粒状物質を真空室に**に連続的
に通すために、真空室と容Stigo″の円弧で交互に
反転させる。この発明はWALTERJ、 ROZMU
S  (D名で1911年3323日に重職され、本発
明の譲渡人に譲渡された米−特許出願第267、729
号に述べられ、かつ特許請求の範囲に記載されている。
反対に回転させる真空i1を利用する、反転式脱ガス装
置の概念の改良の一部として、粒状物質を真空層組立体
に複aa過すことで、粒状物質からガスを最も有効に除
去するような、真空層組立体に関する要請が高まった、
本発明は粒状物質からガスを有効に除去するためま、反
対に交互に反転させるような真空−組立体を提供する。
本発明は第7、及び第2の1lIIiI11を有する真
空室と、各端部に粒状物質の流れを真空室に出入9させ
るぺ〈差し向けるための流れ通路と、真空室の両端部の
′中間にガス状汚染物質を除去するための真空出口とを
有する、ガスで汚染された粒状物5Mヲ脱ガスするため
の組立体に関する。本発明の特徴によれば、流れ制御装
置が真空室内に配置されかつ対称な11!11部を有し
“てお9、流れ制御装置は流れ通路のいずれかから粒状
物質を受は入れ、粒状物質の流れを反対側の一部に差し
向け、真空出口に隣接する真空室の中央部分を介して、
取り囲んでいる真空室から粒状物質の流れを隔絶し、流
れ制御装置は粒状物質を分散させ、粒状物質が隣接する
流れ通路から流出する前に、反動偶の・即ち出口端部に
隣接する真空室にさらされ、これによって、多量の粒状
物質が第1の一部から第一の端部まで、真空11を通し
て重力で流れ、その後、真空mFi逆に回転されて、多
量の粒状物質が纂コの端部から第1の一部まで真空室を
通して、重力で逆流する、ことを特徴とする。
本発明の他の利点は、添付図面について考慮し、以下の
詳細な説明を参照することによって、容重に理解されよ
う。
第1図は、/?g/年S月2を日に出願された一F述の
特許出願第24.7.729号に特に述べられ、かつ請
求された温式の組立体を示す。
概略的に首えば、第1図に示す組立体は、本発明によっ
て組立てられた全体を番号1−で示す真空室組立体を有
する。組立体10は、夫々のIII&部が容器14に連
結されている流れ通路12を有する。容器14ti同一
であり、組立体16によって、全体を番号18によって
示す骨組に連結され、骨組は、モータ22によって電動
される軸20に工って1100前後に交互に反転されそ
れらの全ては、全体を番号24で示す構造体によって支
持されている。真空室組立体10は水平方向の真空出口
26t−有する。
本発明を、第2図及び第3−の実緬勤様、第S図の夷m
態様の二つの実施態様で例示する。2つの実線態様は同
時に説明され、同じ構成lI素は−じ参照番号を有し 
第S図の実施態様では同じ構成要素はダッシュを除いて
は同じ番号によって示されている。
本発明によって作られた、ガスで汚染された粒状物質管
脱ガスするための組立体は、全体を番号10.10’で
示す真空11t−有する。真空室組立体は、金属亀キャ
ツf28.28’によって構成される第7と第一の!l
1mを有する。趨キャツfH5^空1110.10’に
粒状物質の流れを出入りさせるために矢印30によって
示される流れ通路を有する。真空室の各々は、真空室の
内部からガス状汚染物質を除去するために一部又は端キ
ャップ28.28′の間の中間に真空出口211有する
真9.富組立体10.10’は、全体を番号32.32
′で夫々示す流れ制御装置によって特徴付けられ、流れ
制御装置の各々は、一方の一部の流れ通路30の一方か
ら、粒状物質を受け、粒状物質の流れを反対側の一部へ
差し^け、粒状物質の流れ【真空出口2@にllm5−
する真空室の中央部分を介して、JikIItio臭空
意から隔絶し、粒状物質を分散させる丸めに、粒状物質
が、隣接する流れ通路30から流出する前に粒状物質が
反対側のmsに隣接して真空室の作用を受ける。この方
法で、多量の粒状物質が、真空mを通して重力の作用で
、M/即ち頂きの一部から、第一の即ち底側のl111
iliIsへ流れ、その後、真空室は亀から端へ回転し
、粒状物質は今や頂きにある第一の一部から今や底側に
ある第7の端部へ真空室を通して重力で逆方向に流れる
。すなわち、粒状物質は第1図に示す容器140間で前
後に流れ、頂きの容器14から底側の容器14へ流れ、
その後底側のいっばいになった容器14が頂き位置へ移
動して下方容614へ流れ込む。
特に、流れ制御lll直置2.32′は、真空室の各一
部の流れ通路30の各々にII接して配置8れている漏
斗形部材34.34′を有する。漏斗形部材34.34
′の各々は膨曲が隣接する流れ通路30に面した大きな
入口開口部36と、反対−の即ち他の漏斗形部材の小さ
な出口開口I!38から間隔をへだてかつそれに面して
いる小さな出口開口部3・とを有する。各漏斗形部材の
入ローロ部の周囲の少なくとも−・部分は、粒状物質が
各−耳形部材の外側に分散される粒状物質をIli級す
る流れ通路30から流出させる九めに、IIl接する流
れ通路30から間隔をへだてている。
管状部材40 40’を含む流れ制御数[32,32′
は、gH状物質の流れ【真空筒の中央部分から隔絶させ
るために、端部を小さな出口開口部3$と間隔のへたた
った関係に配置して、真空筒組立体10.10’の中に
懸架されている。管状部材40.40’の両瑠は大きな
入口開口部36から画直方向に間隔tへたてていて、漏
斗形部材34.34′の外方広が9s分を真空筒内に開
放露出させでいる。
又、上方の小さい出口開口部s8から出る粒状−質を反
対偶すなわち底側の小さい出口開口部3・の外部へ、そ
して反対貴の漏斗形部材s4.34′に分散させるため
に全体を番号42で示す分散部材からなる分散amを含
み、粒状物質は、底側の漏斗形部材の大きな入口開口部
36の鯛囲上t−流れ、iI艦する流れ通路30から流
出する。分散部材42の各々は、一方即ち上方の小さい
出口開口s38からの粒状物質の流れに係合してこれを
反対肯の、即ち、下方の小さな出口開口部38を塩9囲
こむカーテンに分割するための、下方かつ外側に傾斜す
る面によって取り囲こまれている高い点を有する。特に
、分散部材42は、各々の小さな出口開口s38と関連
し、各分散部材42は円形の小さな出口開口部38より
大きい円形外周部44を有(7、円錐面46がその外属
部44から反対方向にある頂点48へ蝙ひている、。
又、分散装fjtは、第3図の底に示すように、各分散
直置42t−1小さい出口開口部38t−閉鎖している
閉鎖位置と、第3図の頂部に又#IS図、及び第6図に
示す関連した小さい出口開口部311から間隔管へたて
た開放位置との間で、移動きせるための、ステム50.
50′及び腕52.52′によって構成される保持執置
を含む。第二図及び第3図の夾糺塾様においては、ステ
ム50は、各々の分散部材42の一つの頂点から、関連
するl」・さな出口開口s38内に入って、半径方向に
蝙ひている腕52まで延びている。腕52はr!A逐す
る漏斗形部材の内面に係合して、上方の分散部材42會
開放位置に位置決めする。換言すれば、腕52は半径方
向に砥ひ(好ましくは数か3つで720゜間隔をへたて
る。)、そして重力の作用で、第3図の頂部と底部に各
々示されている開放位置と閉鎖位置の間を移動する。第
!f因の実施態様においては、腕52′ (好ましくは
、数がaつ)は漏斗形部材34′の細長い穴、即ち開口
部54を通して延び、これによって、−直方向の移動が
案内させる。
真空筒内に管状部材を懸架するために、コイルバネ56
.56′が夫々、管状部材40,40’の熾に配置され
ている。第2図及び第3vA+2)実施態様においては
、コイルバネs6は、隣接する、即ち関連する漏斗形部
材34の外方広が9部分に係合する一方の亀と、アダプ
タ5Ilを介して管状部材40の隣接するmに係合する
他方の趨とを有する。管状部材40Fi、管状部材40
(2)Iilllを構成するアダプタ58と同じように
、円形であって、アダゲタ58の内部は隣接する漏斗形
部材34の外部の小さな部分と半径方向に間隔管へだて
た関係をなし、漏斗形部材の外部のまわシの粒状物質の
流れを漏斗形部材の底部の外方広が9部分に、及び、周
囲部36に分散させて、底部の流れ通路30から流出さ
せるようにする。各々の漏斗形部材34はその大きな入
口開口s36の周囲から外方かつ上方に延びている複数
の腕10を有しており、腕は漏斗形部材34t−位置決
めする丸めに、隣接する流れ通路内に支持されている。
特に、腕60の上jfi部は第ダ図に番号61で示すよ
うに、曲げられて、キャップ部材2−の凹部@2にスナ
ップ嵌めされている。第S図の実Jl11様においては
、フィルバネ56′は夫々、隣接する漏斗形部材34′
の外方広がり部分の内部に係合する一端、及び、端キャ
ップ28′で構成されるような真空筒の隣接する端に係
合する他熾とを有する。第S図の実施態様はまた管状部
材40’の夫々の端と、隣接する漏斗形部材34′の外
部とを相互に連結する位置決め部材@3t−有する。特
に、夫々の漏斗形部材34は、内部の肩と外部の肩を構
成している半径方向に延び九7ランジ64を有する。コ
イルバネ56′の端は7ランノ64で構成される内部の
肩に係会し、一方、コイルバネ56′の反対lIO趨は
趨キャップ部材28′の環状凹部65の内部に配置され
ている。一つの位置決め部材63は管状部材40’の各
港に配置されかつ半径方向に嬌ひる開口ms@を有し、
これらの−口部により、粒状物質t−漏斗形部材34′
の外部の周りに流し、管状部材の庵から出て隣接する漏
斗形部材34′の外部の外方広が9s分の上に流す。
又、夫々の流れ通路30内には弁部材68で構成されて
いる弁装置が包含されていて、真空層への物質の流量を
所定の入口流量に制限し、真空層の底部で真空層から流
出する粒状物質の出口流量會所定の入口流量より大きく
する。特に、各流れ通路ao#i、真空層への粒状物質
の流れ方向に断面積が減少する入口部分10を有する。
即ち、各人口部分10は直径が真空層への方向に減少す
る円錐形である。入口部分70はキャップ部材2−12
11’ののど部で終わっていて、キャップ部材の流れ通
路30の残)部分は真空層から流れ出る方向に断面−1
即ち、直径が減少している円錐形の出口部分子2によっ
て構成されている。さらに、漏斗形部材の大きな開口部
360局Nは、出口部分12から間隔をへだてている。
入口部分10の各々には溝が配置されていて、スナップ
リンダ14で構成されている停止部材がその中に配置さ
れている。入口部分子Oは円錐形であるので、各弁部材
6・の外部ヰ関連した入口部分子Oと同じ円錐形の傾斜
を有する。このように、各弁部材@8は入口流の中で、
関連し六停止部材T4から下流に配置され、M3図の頂
部、及び第S図に示す閉鎖位置にあるとき入口部分子O
と密封係合するための外面を有する。各弁部材68は円
筒形の出口部で嬌びている円錐形の、即ち内方にチー・
臂−シた入口t%つ中央入口を有し、この円筒形の出口
は上部の弁部材68が流れ通路300Å口部分70と密
封係合しているとき、所定の入ロ流tt−立する。弁部
材6sが底部にあるとき、5f1部材6魯は重力で、入
口部分10との係合を解いて、隣接する停止部材74に
幽る位置へ移動して、5P部相の中央入口を通ると同様
に、ff部材・8の外向の囲9に出口流量を形成する。
その位tは、111i3図の底部に示されている。換言
すれば、弁部材が底部で嬉3−の底部に示す位置にある
ときには、弁部材が組立体の頂部に位置決めされるとき
よシも、粒状物質が真空層から流出する通路面積は大き
い。
真空1i!#′i非導電性の管T6の両端と密封係合し
ている金属端キャップ28.28′により構成されてい
る。好ましくは、管76IIiガラスで作られ、真空出
口26と一体であり、端キャラf2@、2m’は導電性
上布し、書封体T8會介して管T6と密封係合している
。管T6の両−でキャップを相互に連結する連結棒T@
によや、為キャップ2@、28′は管T6の9!!部と
密封係合状態に保持される。―井形部材34.34′、
及びバネ56.56′並ひに分散部材42は好ましく0
金属で作られるが管状す材40,40’は好ましくは、
ガラスのような非導電性物質で作られる。組立体扛又、
真空出口26内に配taれてい、る電極80を包含する
電界発生装置を有し、電界発生装置は電界を発生し、ガ
スで汚染された粒状物質がこのtFILf:受りて、ガ
ス状汚染物質【電気的に荷電させ、ガス状汚染物質を粒
状物質から分離源せて、^空塞から真空出口26t−通
し°【ガス状汚染物質の除去を容易にする。電界発生f
lti11はガスを正か負に衝電させ或はイオン化して
、粒状物質からの分離を容易(/CL、真空の刀で真空
出口26から移動さゼる。
出口26内に利用される形式の電界発失鋏*は、Wal
ter J、Rozmusの名前で出願され、本発明の
1受入に譲渡されて、ここにその開示が組込まれた、特
許P−3ダ7に特に述べられ、かつ、特許請求の範囲に
記載されている。
第S図の実親一様にだけ示されているが、両案11jA
lli4IIは管状部材40,40’の周9にその*m
に隣接して配置された導電性の金属スクリーン−2を包
含していて、管状部材40,40’の織部から真空出口
26に向かつて流れ出る粒状物質の移動tlllJ@す
る。スクリーン82扛、管状部材の外部に摩擦係合して
いるバネ状コイルI4で、所定の位置に保り嘔れている
。スクリーン82の円形の外周はtT6の内−かられず
かに間隔1−=たてている。
又、第、2図に最も良く示姑れているように、端上−ヤ
ツブ2B  28’の電荷を交互にψ性にするl(めの
中性用仮置がわる。特に、中性用数置は真空室から粒状
物質を流出させる底部の一キャップt−接地する。中す
用装置は、重力で作動する接触腕B6にjp例示されて
おり、腕は骨組18に番号$8で回動自在に連結されて
いる。連結棒Tllは非導′lIL性の物質で作られ、
或は、端キャップ28.2B’と電気的に隔絶されてい
る。さらに、−ギャツf2B、28′と夫々の容器14
との間の連結部は少なくとも一部がプラスチック管のよ
i)な非導電性の導管含分している。組立体10.10
′は非専−性物質からなる軛90會介して、を組18に
より支持され−(、いる。このように、第2図に示すよ
うに、重力の作用で、最上部の部材86は最上部の塩キ
ャンプ28、或扛2B’と接触L tいないのに対して
、底部の部材86は底部の嶋ヤツブ都相2B、或は28
′と接触している。
前述したように、容器14を、組立体16によりて回転
する骨組18に取付け、^空塞組立体10或は10’の
両端部に適轟な管を介して連結する。
最初に、いっばいの容1!)14’tJ[illに、空
の容器14t−頂illに配置する。これは粗く、脱ガ
スする丸めでTo9、いっばいの容器が底部に位置決め
されている間にいっばいの容Sは真空源から真空出口2
6を介して、ゆっくりと真空を受けて、容器から容易に
引かれるガスを一部する。最下部の弁部材68はより大
きな開放位置にTo)、而して、開口部をより大きくす
ることによってこの粗い脱ガスを容易にする。下方位置
において開口部をより大きくすることによって、弁部材
68はまた、底部出口流れ通路30のテーノ母−シた出
口部分12内での粉末の堆積を防止する。
粗い脱ガスの後、骨j11111t/10” 回転させ
ていっばいの容器14を頂部の位置へ移動させる。
その結果、粒状物質の流れは、容器から頂部の一キャッ
プ部材216の入口部分に入って、粒状物質の流量を制
御する弁部材@8を介して、真空室内に流れる。′上方
の位置における弁部材68の中央開口部は最上方の漏斗
形部材34.34′の中央部分の真上に、位置決めされ
ている。落下する粒状物質は腕s2.52′の周りに落
下して、漏斗形部材34.34′の狭い、或は制限され
た部分へ流入しその小さな出口開口部38から出る。落
下する粒状物質は次に、隣接する分散部材42の上方円
錦面4@に係合して、外方に流れ下方の漏斗形部材34
、或F134’の出ローロ@aSの直径より大きな直径
を有する褒状のカーテンを形成する。落下中、粒状物質
を管状部材40によって周囲の真空室から隔絶し、かく
して、落下する粒状物質が真空出口26の中へ移動する
のを防止する。落下する粒状−質の成るものは、下方に
配置されている分11に部材42の最上方の円錐面46
に係合して、下方に流れ、下方に配置された漏斗形部材
34或は34′の下方の、或扛小さなl11111sの
外部のまわりに環状カーテンを作る。粒状物質は管状部
材4@、40’の下−から流出して、底部の漏斗形部材
34.34′の外部の外方広がり部分に係合する。この
点で、amに配置されている漏斗形部材の外方広がり外
1iiK LD、粉末を分散−に さゼ、領域のより広い進路へ移動させて、真空室にさら
す、電極、即ち電界発生装置8oは電極口Oと真空室の
底端部の間に正か負の電荷、即ち電位を生じさせる。電
極口Oと真空室の上方部分との間の電位よりも、電極と
粒状物質を分散させている真空室の底部との間の電位の
方が大きい。従って、接地は正か負の電荷に関して中性
であるから、最下方の導電趨キャツf21.或は2・′
を最下方の部材・6で接地して、電極sOと最上方の趨
キャツf2B或は28′との間の電位より大きな電位を
、電極80と最下方の端キャップ20との間に確立する
。電極80と、真空室の下方南部での聯末金属の分散と
部分の間の距離によつ工、真空出口26への粉末金属の
吸引を最小にする。さらに、真空出口2@のすぐ下、及
びすぐ上に配置されるスクリーン@2Fi電極$Oの嬌
長部になり、スクリーンは電極iIOの電荷と同じ電荷
、即ち、電極$Oの電荷に依存して正か負の電荷で荷電
され、而して、スクリーンはイオン化したガス粒子を介
して荷電されることになる。スクリーン82は真空型の
底部から真空出口26への粒状物質の小さな粒子の移動
を阻止し、或は、極小にする。
上方の容器14が空になった後、装置を作動して、粉末
でいっばいの下方容器14を頂部位置へ移動させ、粒状
物質上次の下方の空の容器へ移して空にし、粒状物質の
脱ガス會更に行なう。所要の脱ガス度が連成されるまで
、愉質會臭空富に、lfa後に通す。所要の脱ガス度が
達成されたら、更に処塩會行うために、容器内に真空を
維持しながら、脱ガスされ九粉末會収容している容器1
畠置から取り外す。
本発明を例示の方法で説明した。使用している技術用語
は限定ではなく説明のためのものであることt通解すべ
きである。
本発明の多くの変形および変更が上記の教示に照して可
能である。従って特許請求の範囲内で、本発明會本文に
記載した以外の方法で夾總することができることを理解
すべきである。
【図面の簡単な説明】
嬉/Lllは本発明を利用する組立体の側面図で6る。 第一図は本発明の第1の実施態様の一部切欠断面斜視図
である。 嬉3図は第一図の実#IIm様の1直断面図てわる。 第を図は第3図の実施態様における一つの部材の間の連
結部を示す拡大断片図である。 第3図は本発明の第2の実m態様の上半分の断片垂直断
面図である。 第6図は第S図の実施態様の組立体の一部分の断片斜視
図である。 21.21’・・・第一、及び籐二の一部、又はキャラ
1部材 1G、1G’・・・真空型 sO・・・流れ通路 2@・・・真空出口 32.32′・・・流れ制御装置 34.34′・・・漏斗形部材 3−・・・大きな入口開口部 8$・・・小さな入口開口部 40.40’・・・管状部材 42・・・分散装置 411・・・墨点、又は頂点 44・・・外周部 46・・・円錐面 50、so’  ・保持装置又はステム52.52′・
・・保持装置、又は腕 S@(5@’)・・・バネ 60・・・腕 61・・・腕60の上端部 62・・・キャッグ部材28の凹部 s4・・7ランノ 65・・・真空型のSS @3・・・位置決め部材 ・6・・・放射状の開口部 6畠・・・ffa置 TO・・・入口部分 14・・・停止部材 1@・・・非導電性管 80・・・電界発生装置 82・・・導電性スクリーン  86・・・中性用・鋏

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 /)第ハ及び第一の端m5(21%1魯′)を有する真
    空1!(10,10’ )會備え、各港II(21゜2
    $′)に、粒状物質の流れを#記真空電に出入させる九
    めの流れ通路($6)を設け、前記真空l[は前記第ハ
    及び第一の端部(20、ス・′)の中間に前記真空室か
    らガス状汚染物質を除去するための真空出口(宜・)を
    有する、ガスで汚染された粒状物質を脱ガスするための
    組立体において、 流れ制御装置(32,32′)は前記真空筒(10,1
    0’ )内に配置され、かつ対称な端部上布し、流れ制
    御装置($132’ )は前記流れ通路(30)のいず
    れかから粒状物質を受は入れ、粒状物質の流れを反対側
    の111IISK差し向け、前記真空出口(21KII
    接する真空庫の中央部分を介して、周囲の真空室から粒
    状物質の流れt隔絶し、 流れ制御装置($2.32’ )a粒状物質を分散させ
    、粒状物質が隣接する流れ通路から流出する前に前記反
    対側の1111wAに隣接する真空筒にさらし、多量の
    粒状物質が第7の端部から第一の端部まで前記真空室を
    通して、重力で流れ、その後多量の粒状物質が前記第一
    の端部から前記第1の端Stで前記真空IMを通して重
    力で逆流するように、前記真空■を反対に回転させるこ
    と1特徴とする、ガス汚染され九粒状物質を脱ガスする
    九めの組立体。 コ)前記流れ制御装置($2.12’ )は夫々、前記
    第1、及び第一の端部(2−128′)の前記流れ通路
    (30)の各々KIIIして配置されている漏斗i#部
    材(3m、34′)を有し、各々の前記漏斗形部材(3
    4,84’ )は、周囲が隣接する流れ通路(So)K
    肉いている大きなムロ−ロ部(36)と、小さな出口開
    口部(8m)とを有し、小さな出口開口部は傭の漏斗形
    部材の小さな出口開口11(1口)から間隔をへだてて
    いてかつ、それに面しており、 各々の前記漏斗形部材の前記入口開口部(36)の前記
    周囲の少なくとも一部分は、各々の漏斗形部材(34,
    34’  )の外部の上に分散させ九粒状物質を隣接す
    る流れ通路(30)から流出させるために、前記IIB
    接する流れ通路($0)から間隔をへ友てでおり、 前記流れ制御装置(32,32′)は、msを前記小さ
    な出口開口部(3$)から間隔上へだてた関係に配置し
    て前記真空型内に懸lli&され、粒状物質の流れを前
    記真空型の中央部分から隔絶するための管状部材(40
    ,40′)を備え、前記管状部材の前記端部は、各々の
    漏斗形部材の一部分t−前記真空−富に露出させるため
    前記漏斗形部材の前記大きな開口部から間隔をへだてら
    れ、前記流れ制御装置(32,82’ )は、一つの小
    さな出口開口部(30)から出る粒状物質を反対側の小
    さな出口開口1$($1へそして反対側の漏斗形部材(
    34,34’ )の露出した部分の外部の上に分散させ
    る友めの分散装置(42)を有し、粒状物質が前記大き
    な入口開口II(31の前記周囲に流れ、隣接する流れ
    通路(30)から流出することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載の組立体。 3)前記分散装置(42)は少くとも1つの分散部材を
    包含し、咳分散部材は、小さな出口開口部(3S)から
    の粒状物質の流れに係合してこれを反対側の小さな出口
    開口部(3$)を囲むカーテンに分割するための外方か
    つ内方に傾斜した面で囲まれた高い点(48)をもって
    いることt−特徴とする特許請求の範囲第コ項に記載の
    組立体。 lI)前記分散装置(42)は、前記小さな出口開口部
    (3I)の各々と関連した分散部材を有し、前記分散部
    材の各々Fi舶紀小さな出口開口部(38ンより大きな
    円形の外周部(44)を有し、円錐面(46)は前記外
    周部から反対側の頂点(4@)まで反対方向に延びてお
    り、 前記分散部材(42)は、各分散部材を関連した小さな
    出口開口部(38)を閉鎖する閉鎖位置と、関連し九小
    さな出口開口部(all)から間隔を・\たてた開放位
    置との間で移動させるための保持鉄* < S 055
    2、SG’、52’ )を有することλ特徴とする特許
    請求の範囲第2項に記載の組立体。 jJ  Mu記保持鰺ばは、各分散部材の頂点から関連
    1友小さな出口開口部(38)を貫通して 半径力1−
    シ(蝙ひた腕(52,52′ )まで延びているスブJ
    、 t S 0150′ )を有し、腕+52.52’
      )は^U配開放位置に分散部材を位に次ゆするため
    に関連し7Icn4斗形部材(34,34′ )に係合
    Jるようになっていることを%像とする特許請求の範囲
    第を項に記載の組立体。 と) パイ(51i、56′ )が、前記真空型内に前
    配管状部材(4G、40’  )を懸架するために、−
    〇配管状部材(40,40′ )の各端に配置され−(
    ”いることを特徴とする特許請求の範囲gコ項に記載の
    組立体。 7)各バネ(S61&よ、一端がM接する漏斗形部伺(
    34)の外部に係合し、他端が前記管状部材(40Jの
    隣接する端に係合し、ているコイルバネからなり、 前記−井形扉材(34)の着々μ80記人口開11部(
    31i)(−罰配一周囲部から蝙ひている腕(601を
    有し、 腕(60)は、内d記−斗形部材(341を位置決めす
    るfcめに^1■配@恢する派れ通路(7401Vjに
    支持(61,62)されていることt−%倣とJ゛る特
    許請求の範囲第6狽に1躯の組立体、。 g)各バネ(56’  lは一層が一層する漏斗形部材
    (34’  )の内部(64)&こ係会し、他端か−U
    記真空室の隣接する電電(8S ) ItC係合し−C
    (・′・るコイルバネからなり、 位置決め扉材(63)はHu紀管状部材(40’)の各
    端、及び、r!に接する漏斗形部材(34’  )v−
    ;外部(641t−相互V′c連結していることを特徴
    とする特許請求の範囲第6項に1載の組立体。 9)各漏斗形部口(34’  )は内部の屑と外6tの
    肩を構成している生徒方向に延びた7ランノ(b4)を
    有し、前記バa−(5&’)は前記内部の胸((、泳合
    し、前記位置決め部材(63)は前記外酩θlNに保合
    し、前記位置決め部材(I3)は粒状物質を前配管状部
    材(4G’ )から@接する漏斗形部材(34’)の外
    部に流出させる半径方向の開口部(6@ )k−有する
    ことt%黴とする特許請求の範囲第3項に記載の組立体
    。 10)前記真空窩内・′・の粒状物質の流量を所定の入
    4」流量に制限し、前記真空冨からの粒状物質の出1」
    流m f:st+記所定の入口流量より大きくさせるた
    めの弁装置(61)t−紬記流れ通路(30)の各々に
    設けたことt%黴とする軸1fti111J求の範囲第
    2項に1賊の組立体。 //) aJ記流れ通路(30)の各々は粒状物質が前
    記−、空室へ流れる方向に’lit 1ili槍の減少
    する入口部分(70)と、1u配人口柚分(10)の谷
    々に配置された停止部材(14)と′を鳴し、m配弁装
    置の各々は+IJ紀停止部材から入口流れの下流に配置
    され°Cいる弁部材(68)を有し、fF部@は、前記
    入口部分(10)と密封係合する九めの外面と、Pil
    l記所定の入口R墓を確立するための中央入口とを南し
    、かつ1記入口部分との保合から離れて前記隣接する停
    止部材(14)に−って移動し外面の周りと、前記中央
    入口を介して、前記出口流蓋を確立することを特徴とす
    る特許請求の範囲第70項に記載の組立体。 lコ)前記入口部分(To)各々は円錐形であり、各弁
    部材の外部は前記入口部分と同じ円錐形であり、各弁部
    材の前記中央入口開口部は円筒形の出口まで延びている
    円錐形入口を有し、前記停止部材(T4)は1記入口部
    分の凹部に配置されているリングからなることt特徴と
    する特許請求の範囲第1/項に記載の組立体。 /3)前記真空1iiti非導電性管(16)と、前記
    管(T6)の各端と密封係合している導電性端キャップ
    (2−128′)−七を有し、前記キャップ(28,2
    8’  )は前記流れ通路(30)を構成し、前記管状
    部材(4G、40′)は非導電性物質からな夛、前記真
    空mは電界発生装置(110)を有し、電界発生装置(
    80)は電界を発生させて、ガスで汚染された粒状物質
    が電界を受けて、ガス状汚染物質を電気的に荷電させ、
    ガス状汚染物質會粒状物質から分離させ、前記真空富か
    ら前記真空出口を通してガス状汚染物質の除去を容易に
    し、前記真空富は前記端キャップの電荷を交互に中性に
    する九めの中性用装置(S6)を有することt%黴とす
    る特許請求の範囲第一項に記載の組立体、・ /+) 1ltl記電界発生懺置(・O)は前記真空出
    口(2@)内に位置決めされ、前記中性用装置(−6)
    は前記真空富から粒状物質の流出する端キャップを接地
    することを特徴とする特許請求の範囲第73項に記載の
    組立体。 /S)導電性スクリーン(−2)が、前記管状部材(4
    0,40′ )から出て前記真空出口(2@)に向う粒
    状物質の移動を制@するため、前記管状部材(40,4
    0′)の周9にその各港に隣接して配置されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第14!項に記載の組立体
    。 /6) 前記分散装置は少くとも1つの分散部材(4り
    を有しζ腋分散部材は、一つの小さな出口開口部(3@
    )からの粒状物質の流れに係合してこれを反対側の小さ
    な出口開口部(3・)を取り囲んでいるカーテンに分割
    するための外方かつ内方に傾斜した面(4@)で取l■
    れている高い点(40)を有し、前記分散装置は、前記
    真空窩内に前配管状部材(40,40′ )に懸架する
    ために前記管状部材(4040’ )の各1111K配
    置されたバネ(!!II、 56’ )と、前記真空窩
    内への粒状物質の流量を所定の入口流量に制限し、前記
    真空富からの粒状物質の出口流量を前記所定の入口流量
    19大きくさせるための、前記流れ通路($0)の各々
    に設けられ九弁部材(@口)とを有し、前記真空11は
    非導電性管(T6)と、前記管(71)の各端と密封係
    合している導電性端キャップ(2−1211’  )と
    を有し、前記キャラ7’(28,2・′)は前記流れ通
    路を構成しておシ、前記管状部材(40,40’  )
    は非導電性物質からなプ、前記真空富は電界発生装置(
    80)を有し、電界発生装置(80)は電界を発生させ
    て、ガスで汚染された粒状物質が電界を受けて、ガス状
    汚染物質を電気的に荷電させ、ガス状汚染物質を粒状1
    質から分離させ、前記真空室から前記真空出口(2@)
    t−通して、ガス状汚染物質の除去を容易にし、 前記真空i1は前記趨キャップの電荷を交互に中性にさ
    せる中性用装置(8@)を有していることに%黴とする
    特許請求の範囲第21AK記載の組立体。
JP57201015A 1981-11-16 1982-11-16 粒状物質を脱ガスするための真空室組立体 Granted JPS58101731A (ja)

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US322022 1981-11-16
US06/322,022 US4388088A (en) 1981-11-16 1981-11-16 Vacuum chamber assembly for degassing particulate material

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JPS6315009B2 JPS6315009B2 (ja) 1988-04-02

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EP0079783A2 (en) 1983-05-25
CA1181352A (en) 1985-01-22
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