JPS501790A - - Google Patents
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- Publication number
- JPS501790A JPS501790A JP4845673A JP4845673A JPS501790A JP S501790 A JPS501790 A JP S501790A JP 4845673 A JP4845673 A JP 4845673A JP 4845673 A JP4845673 A JP 4845673A JP S501790 A JPS501790 A JP S501790A
- Authority
- JP
- Japan
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- Pending
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4845673A JPS501790A (ja) | 1973-05-02 | 1973-05-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4845673A JPS501790A (ja) | 1973-05-02 | 1973-05-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS501790A true JPS501790A (ja) | 1975-01-09 |
Family
ID=12803844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4845673A Pending JPS501790A (ja) | 1973-05-02 | 1973-05-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS501790A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5624505A (en) * | 1979-08-08 | 1981-03-09 | Fujitsu Ltd | Sensitivity calibration method for light detector |
| JPH0280942A (ja) * | 1988-09-17 | 1990-03-22 | Topcon Corp | 表面検査用装置 |
| JP2012173045A (ja) * | 2011-02-18 | 2012-09-10 | Jfe Steel Corp | 表面検査装置の評価装置及び表面検査装置の評価方法 |
| JP2013205378A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Nisshin Steel Co Ltd | オフライン調整装置 |
| JP2015537219A (ja) * | 2012-11-26 | 2015-12-24 | フリト−レイ ノース アメリカ インコーポレイテッドＦｒｉｔｏ−Ｌａｙ Ｎｏｒｔｈ Ａｍｅｒｉｃａ，Ｉｎｃ． | 生産の流れにおいて欠陥を検出するための動的なデジタルイメージングシステムの校正 |
-
1973
- 1973-05-02 JP JP4845673A patent/JPS501790A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5624505A (en) * | 1979-08-08 | 1981-03-09 | Fujitsu Ltd | Sensitivity calibration method for light detector |
| JPS6013442B2 (ja) * | 1979-08-08 | 1985-04-08 | 富士通株式会社 | 光検知器の感度校正方法 |
| JPH0280942A (ja) * | 1988-09-17 | 1990-03-22 | Topcon Corp | 表面検査用装置 |
| JP2012173045A (ja) * | 2011-02-18 | 2012-09-10 | Jfe Steel Corp | 表面検査装置の評価装置及び表面検査装置の評価方法 |
| JP2013205378A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Nisshin Steel Co Ltd | オフライン調整装置 |
| JP2015537219A (ja) * | 2012-11-26 | 2015-12-24 | フリト−レイ ノース アメリカ インコーポレイテッドＦｒｉｔｏ−Ｌａｙ Ｎｏｒｔｈ Ａｍｅｒｉｃａ，Ｉｎｃ． | 生産の流れにおいて欠陥を検出するための動的なデジタルイメージングシステムの校正 |