JPH1189241A - Inverter equipment - Google Patents

Inverter equipment

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JPH1189241A
JPH1189241A JP9241429A JP24142997A JPH1189241A JP H1189241 A JPH1189241 A JP H1189241A JP 9241429 A JP9241429 A JP 9241429A JP 24142997 A JP24142997 A JP 24142997A JP H1189241 A JPH1189241 A JP H1189241A
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JP
Japan
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circuit
failure
inverter
latch
main board
Prior art date
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Application number
JP9241429A
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Japanese (ja)
Inventor
Machiko Kami
麻智子 上
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the number of types of components and the number of components and thereby simplify an assembling procedure by using the same main substrate having a circuit for controlling an inverter circuit and the one for detecting defects in the inverter circuit and the same sub-substrate having a defect detecting circuit for the inverter circuit connected to the main substrate by a connector, regardless of the circuit types of the inverter. SOLUTION: A three-phase AC inverter 1 is composed of a three-level GTO inverter 1 which have serially connected GTOs, four for each phase, and outputs three levels of voltages. A main substrate 2 is provided with a defect detecting circuit 21, a defect latch circuit 22, an OR circuit 23, a stop circuit 24, and a CPU 25. On the other hand, a sub-substrate 3 is provided with a defect detecting circuit 31, a defect latch circuit 32, an OR circuit 33, and a three-level GTO PWM circuit 34 and is connected to the main substrate 2 by a connector and is also connected to the inverter circuit. Even if other type of inverter circuit 1 is used, the same circuits are mounted on the main substrate 2 and the structure of only the sub-substrate 3 is changed. By this method, the same main substrate can be used regardless of the types of the inverter circuit and a mass production can be realized easily.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はインバータ回路及び
その制御、並びに故障検出を行うためのメイン基板及び
サブ基板を備えたインバータ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inverter circuit and its control, and to an inverter device having a main board and a sub-board for detecting a failure.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は従来における2レベルIGBT(I
nsulated Gate Bipolar mode Trnsistor) 多重インバー
タ装置の構成を示すブロック図であり、図中1は2レベ
ルIGBT多重インバータ回路、2は2レベルIGBT
多重インバータ回路1に対する制御及び故障検出のため
のメイン基板、3は同じくサブ基板である。2レベルI
GBT多重インバータ回路1は直流を3相交流に変換す
る変換器たる3相ブリッジIGBTインバータ回路1
1,12の2台をバランスリアクトル13により接続し
て構成されている。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a conventional two-level IGBT (I
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a multiplexed inverter device, wherein 1 is a two-level IGBT multiplexed inverter circuit, and 2 is a two-level IGBT.
A main board 3 for controlling the multiple inverter circuit 1 and detecting a failure is also a sub-board. 2 level I
The GBT multiplex inverter circuit 1 is a three-phase bridge IGBT inverter circuit 1 which is a converter for converting DC into three-phase AC.
The two reactors 1 and 12 are connected by a balance reactor 13.

【0003】メイン基板2は複数の故障検出回路21、
複数の故障ラッチ回路22、OR回路23、故障発生時
にインバータの動作を停止させる停止回路24及びCP
U25を備え、またサブ基板3は複数の故障検出回路3
1及び2レベルIGBT多重PWM回路(以下単にPW
M(パルス幅変調)回路という)34を備えている。メ
イン基板2及びサブ基板3は夫々2レベルIGBT多重
インバータ回路1と接続されると共に、コネクタ4を介
して相互に連結されている。コネクタ4はサブ基板3の
故障検出回路31とメイン基板2の故障ラッチ回路22
との間、並びにサブ基板3のPWM回路34とメイン基
板2のCPU25との間を夫々接続している。
The main board 2 has a plurality of failure detection circuits 21,
A plurality of failure latch circuits 22, an OR circuit 23, a stop circuit 24 for stopping the operation of the inverter when a failure occurs, and a CP
U25, and the sub-board 3 includes a plurality of failure detection circuits 3
1 and 2 level IGBT multiplexed PWM circuit (hereinafter simply referred to as PWM
An M (pulse width modulation) circuit 34 is provided. The main board 2 and the sub-board 3 are connected to the two-level IGBT multiplex inverter circuit 1 and are connected to each other via the connector 4. The connector 4 includes a failure detection circuit 31 of the sub board 3 and a failure latch circuit 22 of the main board 2.
And between the PWM circuit 34 of the sub-board 3 and the CPU 25 of the main board 2.

【0004】メイン基板2における各故障検出回路21
は夫々対応する故障ラッチ回路22と接続され、また各
故障ラッチ回路22はサブ基板3の故障検出回路31と
夫々接続されている故障ラッチ回路22を含めて夫々O
R回路23の入力端に接続されると共に、バス5を介し
てCPU25に接続されている。OR回路23の出力は
2レベルIGBT多重インバータ回路1の動作を停止さ
せるための停止回路24へ与えられ、また停止回路24
の出力はCPU25へ与えられる。
Each failure detection circuit 21 in the main board 2
Are respectively connected to the corresponding fault latch circuits 22. Each fault latch circuit 22 includes a fault latch circuit 22 connected to the fault detection circuit 31 of the sub-substrate 3 and is connected to each other.
The input terminal of the R circuit 23 is connected to the CPU 25 via the bus 5. The output of the OR circuit 23 is applied to a stop circuit 24 for stopping the operation of the two-level IGBT multiplex inverter circuit 1, and the stop circuit 24
Is supplied to the CPU 25.

【0005】一方サブ基板3における各故障検出回路3
1はコネクタ4を介してメイン基板2における夫々対応
する故障ラッチ回路22に接続され、またPWM回路3
4は同じくコネクタ4及びバス5を介してCPU25に
接続されている。
On the other hand, each failure detection circuit 3 on the sub-board 3
Numerals 1 are connected to the corresponding failure latch circuits 22 on the main board 2 via the connector 4, respectively.
4 is also connected to the CPU 25 via the connector 4 and the bus 5.

【0006】次にこれらの動作を説明する。メイン基板
2のCPU25にてPWM回路34からの信号に従い2
レベルIGBT多重インバータ回路1が所定の変換動作
を行うべく制御されるが、この2レベルIGBT多重イ
ンバータ回路1に故障が発生すると、故障発生部分を担
当するメイン基板2のいずれかの故障検出回路21、又
はサブ基板3のいずれかの故障検出回路31によって故
障が検出される。メイン基板2の故障検出回路21が故
障を検出するとその検出信号は夫々対応する故障ラッチ
回路22にラッチされ、またサブ基板3の故障検出回路
31が故障を検出するとその検出信号はコネクタ4を経
てメイン基板2における夫々対応する故障ラッチ回路2
2にラッチされる。各故障ラッチ回路22にラッチされ
た信号はバス5を介して直接CPU25へ入力される
他、OR回路23へ入力される。OR回路23は故障ラ
ッチ回路22からのラッチ信号の論理和を求めて所定の
信号を停止回路24へ出力する。停止回路24はOR回
路23からの信号に基づきインバータの動作を停止させ
るための信号、又は他の信号をCPU25へ出力する。
CPU25は停止回路24からの信号及び各故障ラッチ
回路22からのラッチ信号に基づきソフトウェアにより
どのような内容の故障が発生したか故障内容を決定し、
発生した故障の内容に応じた必要な制御を行う。
Next, these operations will be described. In accordance with the signal from the PWM circuit 34, the CPU 25 of the main board 2
The level IGBT multiplex inverter circuit 1 is controlled so as to perform a predetermined conversion operation. If a fault occurs in the two-level IGBT multiplex inverter circuit 1, any one of the fault detection circuits 21 of the main board 2 responsible for the fault occurrence portion Or a failure is detected by one of the failure detection circuits 31 of the sub-board 3. When the failure detection circuit 21 of the main board 2 detects a failure, the detection signal is latched by the corresponding failure latch circuit 22, and when the failure detection circuit 31 of the sub-board 3 detects the failure, the detection signal is passed through the connector 4. Fault latch circuit 2 corresponding to each in main board 2
2 latched. The signal latched by each failure latch circuit 22 is directly input to the CPU 25 via the bus 5 and is also input to the OR circuit 23. The OR circuit 23 calculates the logical sum of the latch signals from the faulty latch circuit 22 and outputs a predetermined signal to the stop circuit 24. The stop circuit 24 outputs a signal for stopping the operation of the inverter or another signal to the CPU 25 based on a signal from the OR circuit 23.
The CPU 25 determines what kind of failure has occurred by software based on the signal from the stop circuit 24 and the latch signal from each failure latch circuit 22, and determines the failure content.
Necessary control is performed according to the type of failure that has occurred.

【0007】図5は従来における3レベルIGBTイン
バータ装置の構成を示すブロック図であり、図中1は3
レベルIGBTインバータ回路、2はメイン基板、3は
サブ基板である。相互の接続構造は図4に示した2レベ
ルIGBT多重インバータ装置のそれと同じである。
FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of a conventional three-level IGBT inverter device. In FIG.
The level IGBT inverter circuit, 2 is a main board, and 3 is a sub board. The interconnection structure is the same as that of the two-level IGBT multiplex inverter shown in FIG.

【0008】即ち、メイン基板2は複数の故障検出回路
21、複数の故障ラッチ回路22、OR回路23、停止
回路24及びCPU25を備え、またサブ基板3は複数
の故障検出回路31及び3レベルIGBTPWM回路
(以下単にPWM回路という)34を備えており、メイ
ン基板2及びサブ基板3は夫々3レベルIGBTインバ
ータ回路1と接続され、またコネクタ4を介して相互に
連結されると共に、サブ基板3の故障検出回路31とメ
イン基板2の故障ラッチ回路22との間は前記コネクタ
4によって、またサブ基板3のPWM回路34とメイン
基板2のCPU25との間はバス5を介して接続されて
いる。
That is, the main board 2 includes a plurality of failure detection circuits 21, a plurality of failure latch circuits 22, an OR circuit 23, a stop circuit 24, and a CPU 25. The sub-board 3 includes a plurality of failure detection circuits 31 and a three-level IGBTPWM. The main board 2 and the sub-board 3 are connected to the three-level IGBT inverter circuit 1, respectively, are connected to each other via the connector 4, and are connected to the sub-board 3. The connector 4 connects the failure detection circuit 31 to the failure latch circuit 22 of the main board 2, and the bus 5 connects the PWM circuit 34 of the sub board 3 to the CPU 25 of the main board 2.

【0009】3レベルIGBTインバータ回路1は、直
流を3相交流に変換する変換器たる3相ブリッジIGB
Tインバータ回路11,12の2台を並列に接続して構
成されている。メイン基板2における各故障検出回路2
1は夫々対応する故障ラッチ回路22と接続され、また
各故障ラッチ回路22は、サブ基板3の故障検出回路3
1と夫々接続される故障ラッチ回路22を含めて夫々O
R回路23の入力端に接続されると共に、バス5を介し
てCPU25に接続されている。OR回路23の出力端
は停止回路24の入力端に接続され、また停止回路24
の出力端はCPU25に接続されている。
A three-level IGBT inverter circuit 1 is a three-phase bridge IGB which is a converter for converting DC to three-phase AC.
It is configured by connecting two T inverter circuits 11 and 12 in parallel. Each failure detection circuit 2 in the main board 2
1 are respectively connected to the corresponding failure latch circuits 22, and each failure latch circuit 22 is connected to the failure detection circuit 3 of the sub-board 3.
1 including the fault latch circuit 22 connected to
The input terminal of the R circuit 23 is connected to the CPU 25 via the bus 5. The output terminal of the OR circuit 23 is connected to the input terminal of the stop circuit 24,
Are connected to the CPU 25.

【0010】一方サブ基板3における各故障検出回路3
1はコネクタ4を介してメイン基板2における夫々対応
する故障ラッチ回路22に接続され、またPWM回路3
4は同じくコネクタ4を介してバス5によりCPU25
に接続されている。
On the other hand, each failure detection circuit 3 on the sub-board 3
Numerals 1 are connected to the corresponding failure latch circuits 22 on the main board 2 via the connector 4, respectively.
Reference numeral 4 also denotes a CPU 25 via a bus 5 via a connector 4.
It is connected to the.

【0011】次にこれらの動作を説明する。メイン基板
2のCPU25にてPWM回路34からの信号に従い3
レベルIGBTインバータ回路1が所定の変換動作を行
うべく制御されるが、この3レベルIGBTインバータ
回路1に故障が発生すると、故障発生部分を担当するメ
イン基板2のいずれかの故障検出回路21、又はサブ基
板3のいずれかの故障検出回路31によって故障が検出
される。メイン基板2の故障検出回路21が故障を検出
するとその検出信号は夫々対応する故障ラッチ回路22
にラッチされ、またサブ基板3の故障検出回路31が故
障を検出するとその検出信号はコネクタ4を経てメイン
基板2における夫々対応する故障ラッチ回路22にラッ
チされる。各故障ラッチ回路22にラッチされた信号は
バス5を介して直接CPU25へ入力される他、OR回
路23へ入力される。OR回路23は故障ラッチ回路2
2からのラッチ信号の論理和を求めて所定の信号を停止
回路24へ出力する。停止回路24はOR回路23から
の信号に基づきインバータの動作を停止させるための信
号、又は他の信号をCPU25へ出力する。CPU25
は停止回路24からの信号及び各故障ラッチ回路22か
らのラッチ信号に基づいてソフトウェアによりどのよう
な内容の故障が発生したか故障内容を決定し、発生した
故障の内容に応じた必要な制御を行う。
Next, these operations will be described. In accordance with the signal from the PWM circuit 34 in the CPU 25 of the main board 2,
The level IGBT inverter circuit 1 is controlled to perform a predetermined conversion operation. If a failure occurs in the three-level IGBT inverter circuit 1, any one of the failure detection circuits 21 on the main board 2 responsible for the failure occurrence part, or A failure is detected by one of the failure detection circuits 31 of the sub-board 3. When the failure detection circuit 21 of the main board 2 detects a failure, the detection signal is sent to the corresponding failure latch circuit 22
When the failure detection circuit 31 of the sub board 3 detects a failure, the detection signal is latched by the corresponding failure latch circuit 22 on the main board 2 via the connector 4. The signal latched by each failure latch circuit 22 is directly input to the CPU 25 via the bus 5 and is also input to the OR circuit 23. The OR circuit 23 is the fault latch circuit 2
And outputs a predetermined signal to the stop circuit 24. The stop circuit 24 outputs a signal for stopping the operation of the inverter or another signal to the CPU 25 based on a signal from the OR circuit 23. CPU25
Determines the content of the fault by software based on the signal from the stop circuit 24 and the latch signal from each fault latch circuit 22, and performs necessary control according to the content of the generated fault. Do.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】ところで図4又は図5
に示す従来のインバータ装置にあってはインバータ回路
である2レベルIGBT多重インバータ回路1、又は3
レベルIGBTインバータ回路1の構造、型式が異なる
場合には夫々に応じたメイン基板2及びサブ基板3を用
意する必要があり、部品が多種にわたり、製造コストの
上昇が避けられないという問題があった。
FIG. 4 or FIG.
In the conventional inverter device shown in FIG. 1, a two-level IGBT multiplex inverter circuit 1 or 3 which is an inverter circuit
When the structure and the type of the level IGBT inverter circuit 1 are different, it is necessary to prepare the main board 2 and the sub-board 3 corresponding to each, and there is a problem that a variety of parts are required and an increase in manufacturing cost is unavoidable. .

【0013】本発明はかかる事情に鑑みなされたもので
あって、その目的とするところはインバータ装置におけ
るインバータ回路の構造、型式が異なる場合にも同一の
メイン基板を適用可能とすることで構成の簡略化、量産
によるコストの低減を図ったインバータ装置を提供する
にある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to make it possible to apply the same main board even when the structure and type of an inverter circuit in an inverter device are different. An object of the present invention is to provide an inverter device which is simplified and whose cost is reduced by mass production.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】第1の発明に係るインバ
ータ装置は、インバータ回路と、該インバータ回路の制
御及び故障検出を行う回路を備えたメイン基板と、該メ
イン基板とコネクタにて接続され、前記インバータ回路
の故障検出を行う回路を備え、前記メイン基板はインバ
ータ回路の型式の構造如何を問わずに共通化したことを
特徴とする。第1の発明にあってはこれによってメイン
基板の共通化で部品の種類、部品点数が低減され、組立
手順も簡略化される。
An inverter device according to a first aspect of the present invention includes an inverter circuit, a main board including a circuit for controlling the inverter circuit and detecting a failure, and is connected to the main board by a connector. And a circuit for detecting a failure of the inverter circuit, wherein the main board is shared irrespective of the type and structure of the inverter circuit. According to the first aspect of the present invention, the type and the number of parts are reduced by the common use of the main board, and the assembly procedure is simplified.

【0015】第2の発明に係るインバータ装置は、メイ
ン基板には、複数の故障検出回路と、該故障検出回路の
数よりも少なくとも1個多く設けられ、各故障検出回路
の検出信号をラッチする故障ラッチ回路と、該各故障ラ
ッチ回路の出力が入力されるOR回路と、該OR回路の
出力に基づいて前記インバータ回路の動作を停止させる
停止回路と、該停止回路の出力及び前記各故障ラッチ回
路の出力に基づいて故障内容を判断する判断手段とを備
えることを特徴とする。第2の発明にあってはメイン基
板に故障検出回路、故障ラッチ回路、OR回路、停止回
路及びCPUを備えることで、故障検出に必要な必要最
小限の機能を備えたメイン基板が得られ、共通化が容易
となり、無駄な回路の存在を低減し得る。
In the inverter device according to a second aspect of the present invention, a plurality of failure detection circuits and at least one more failure detection circuit are provided on the main board, and the detection signals of the respective failure detection circuits are latched. A fault latch circuit, an OR circuit to which an output of each fault latch circuit is input, a stop circuit for stopping the operation of the inverter circuit based on an output of the OR circuit, an output of the stop circuit, and each fault latch Determining means for determining the failure content based on the output of the circuit. In the second invention, by providing the main board with the failure detection circuit, the failure latch circuit, the OR circuit, the stop circuit, and the CPU, the main board having the minimum necessary functions required for failure detection can be obtained. Common use becomes easy, and the presence of useless circuits can be reduced.

【0016】第3の発明に係るインバータ装置は、サブ
基板は複数の故障検出回路と、該各故障検出回路夫々に
対応して設けられ、各故障検出回路夫々の検出信号をラ
ッチし、その出力をメイン基板の判断手段へ与える故障
ラッチ回路と、該故障ラッチ回路夫々の出力を入力と
し、その出力をメイン基板の故障ラッチ回路へ与えるO
R回路とを備えることを特徴とする。第3の発明にあっ
てはサブ基板に故障検出回路、故障ラッチ回路及びOR
回路を設けたから、サブ基板上におけるレイアウトの統
一化が容易となり、メイン基板の共通化に寄与し得る。
In the inverter device according to a third aspect of the present invention, the sub-board is provided for each of the plurality of failure detection circuits and each of the failure detection circuits, latches the detection signal of each of the failure detection circuits, and outputs the latched signal. Latch circuit that supplies the output to the determination means of the main board, and O which receives the output of each of the failure latch circuits as inputs and provides the output to the failure latch circuit of the main board.
And an R circuit. In the third invention, a failure detection circuit, a failure latch circuit, and an OR
Since the circuit is provided, the layout on the sub-board can be easily unified, which can contribute to the common use of the main board.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下本発明をその実施の形態を示
す図面に基づき具体的に説明する。図1は図4に示す従
来の2レベルIGBT多重インバータ装置に本発明を適
用した構成を示すブロック図であり、図中1は2レベル
IGBT多重インバータ回路、2は2レベルIGBT多
重インバータ回路1に対する制御のためのメイン基板、
3は同じくサブ基板である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings showing the embodiments. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration in which the present invention is applied to the conventional two-level IGBT multiplex inverter device shown in FIG. 4, wherein 1 is a two-level IGBT multiplex inverter circuit, and 2 is a two-level IGBT multiplex inverter circuit 1. Main board for control,
3 is a sub-substrate.

【0018】2レベルIGBT多重インバータ回路1は
直流を3相交流に変換する変換器たる3相ブリッジIG
BTインバータ回路11,12の2台をバランスリアク
トル13により多重接続して構成されている。
A two-level IGBT multiplex inverter circuit 1 is a three-phase bridge IG which is a converter for converting DC to three-phase AC.
Two BT inverter circuits 11 and 12 are multiplex-connected by a balance reactor 13.

【0019】メイン基板2は複数(図面では3個)の故
障検出回路21、故障検出回路21の個数よりも1個多
い複数(図面では4個)の故障ラッチ回路22、1又は
複数のOR回路23、故障発生時にインバータの動作を
停止させる停止回路24及び1又は複数のCPU25を
備える。またサブ基板3は複数(図面では2個)の故障
検出回路31、故障検出回路31の個数と同じ複数(図
面では2個)の故障ラッチ回路32、1又は複数のOR
回路33及び2レベルIGBT多重PWM回路(以下単
にPWM回路という)34を備えている。メイン基板2
及びサブ基板3は夫々2レベルIGBT多重インバータ
回路1と接続され、またコネクタ4を介して相互に連結
されると共に、サブ基板3のOR回路33とメイン基板
2の故障ラッチ回路22との間が接続され、またサブ基
板3の故障ラッチ回路32及びPWM回路34とメイン
基板2のCPU25との間はコネクタ4を介してバス5
により接続されている。
The main board 2 includes a plurality of (three in the drawing) failure detection circuits 21, a plurality of (four in the drawing) failure latch circuits 22, one or more OR circuits more than the number of the failure detection circuits 21 23, a stop circuit 24 for stopping the operation of the inverter when a failure occurs, and one or more CPUs 25. The sub-board 3 includes a plurality of (two in the drawing) failure detection circuits 31, a plurality of (two in the drawing) failure latch circuits 32 equal to the number of the failure detection circuits 31, and one or more ORs.
A circuit 33 and a two-level IGBT multiplexed PWM circuit (hereinafter simply referred to as a PWM circuit) 34 are provided. Main board 2
And the sub-board 3 are connected to the two-level IGBT multiplex inverter circuit 1 and are connected to each other via the connector 4, and the OR circuit 33 of the sub-board 3 and the failure latch circuit 22 of the main board 2 are connected. A bus 5 is connected between the failure latch circuit 32 and the PWM circuit 34 of the sub board 3 and the CPU 25 of the main board 2 via the connector 4.
Connected by

【0020】メイン基板2における各故障検出回路21
は夫々対応する故障ラッチ回路22と接続され、また各
故障ラッチ回路22の出力端はOR回路23の入力端に
接続されると共に、サブ基板3の故障ラッチ回路32と
共にバス5を介してCPU25に接続されている。OR
回路23の出力端は停止回路24の入力端に接続され、
停止回路24の出力端はCPU25に接続されている。
Each failure detection circuit 21 in the main board 2
Are connected to the corresponding failure latch circuits 22, respectively. The output terminal of each failure latch circuit 22 is connected to the input terminal of the OR circuit 23, and is connected to the CPU 25 via the bus 5 together with the failure latch circuit 32 of the sub-board 3. It is connected. OR
An output terminal of the circuit 23 is connected to an input terminal of the stop circuit 24,
The output terminal of the stop circuit 24 is connected to the CPU 25.

【0021】一方サブ基板3における各故障検出回路3
1は同じサブ基板3における夫々対応する故障ラッチ回
路32に接続され、また各故障ラッチ回路32は同じサ
ブ基板3のOR回路33に接続され、更にPWM回路3
4と共にコネクタ4を介してバス5によりCPU25に
接続されている。前記OR回路33の出力端はコネクタ
4を介してメイン基板2における故障ラッチ回路22に
接続されている。
On the other hand, each failure detection circuit 3 on the sub-board 3
1 are connected to the corresponding failure latch circuits 32 on the same sub-substrate 3, each failure latch circuit 32 is connected to the OR circuit 33 on the same sub-substrate 3, and furthermore, the PWM circuit 3
4 is connected to the CPU 25 by the bus 5 via the connector 4. The output terminal of the OR circuit 33 is connected to the failure latch circuit 22 on the main board 2 via the connector 4.

【0022】次にこれらの動作を説明する。メイン基板
2のCPU25にてPWM回路34からの信号に従い2
レベルIGBT多重インバータ回路1が所定の変換動作
を行うべく制御されるが、この2レベルIGBT多重イ
ンバータ回路1に故障が発生すると、故障発生部分を担
当するメイン基板2のいずれかの故障検出回路21、又
はサブ基板3のいずれかの故障検出回路31によって故
障が検出される。メイン基板2の故障検出回路21が故
障を検出するとその検出信号は夫々対応する故障ラッチ
回路22にラッチされ、またサブ基板3の故障検出回路
31が故障を検出するとその検出信号は夫々対応する故
障ラッチ回路32にラッチされる。メイン基板2の各故
障ラッチ回路22にラッチされた信号はバス5を介して
直接CPU25へ入力される他、OR回路23へ入力さ
れる。
Next, these operations will be described. In accordance with the signal from the PWM circuit 34, the CPU 25 of the main board 2
The level IGBT multiplex inverter circuit 1 is controlled so as to perform a predetermined conversion operation. If a fault occurs in the two-level IGBT multiplex inverter circuit 1, any one of the fault detection circuits 21 of the main board 2 responsible for the fault occurrence portion Or a failure is detected by one of the failure detection circuits 31 of the sub-board 3. When the failure detection circuit 21 of the main board 2 detects a failure, the detection signal is latched by a corresponding failure latch circuit 22, and when the failure detection circuit 31 of the sub-board 3 detects a failure, the detection signal is converted to the corresponding failure. The data is latched by the latch circuit 32. The signal latched by each failure latch circuit 22 of the main board 2 is directly input to the CPU 25 via the bus 5 and also input to the OR circuit 23.

【0023】またサブ基板3の各故障ラッチ回路32に
ラッチされた信号はコネクタ4を介してバス5により前
記CPU25に入力される他、OR回路33へ入力され
る。OR回路33の出力はコネクタ4を介してメイン基
板2の故障ラッチ回路22へ入力される。OR回路23
は各故障ラッチ回路22からのラッチ信号の論理和を求
めて所定の信号を停止回路24へ出力する。停止回路2
4はOR回路23からの信号に基づきインバータの動作
を停止させるための信号、又は他の信号をCPU25へ
出力する。CPU25は停止回路24からの信号及び各
故障ラッチ回路22、32からのラッチ信号に基づいて
ソフトウェアによりどのような内容の故障が発生したか
を決定し、発生した故障の内容に応じた必要な制御を行
う。
The signal latched by each failure latch circuit 32 of the sub-board 3 is input to the CPU 25 via the bus 5 via the connector 4 and also to the OR circuit 33. The output of the OR circuit 33 is input to the failure latch circuit 22 of the main board 2 via the connector 4. OR circuit 23
Calculates the logical sum of the latch signals from the faulty latch circuits 22 and outputs a predetermined signal to the stop circuit 24. Stop circuit 2
4 outputs a signal for stopping the operation of the inverter or another signal to the CPU 25 based on a signal from the OR circuit 23. The CPU 25 determines what kind of failure has occurred by software based on the signal from the stop circuit 24 and the latch signal from each of the failure latch circuits 22 and 32, and performs necessary control according to the content of the failure that has occurred. I do.

【0024】図2は図5に示す従来の3レベルIGBT
インバータ装置に本発明を適用した場合の構成を示すブ
ロック図であり、図中1は3レベルIGBTインバータ
回路、2は3レベルIGBTインバータ回路1に対する
制御及び故障検出のためのメイン基板、3は同じくサブ
基板である。3レベルIGBTインバータ回路1の構造
は図5に示すそれと同じであり、またメイン基板2の構
造は図1に示すそれと同じにしてある。この結果、他の
故障検出回路及び故障ラッチ回路はサブ基板3上に移設
してある。接続構造は図1に示した2レベルIGBT多
重インバータ装置のそれと同じである。
FIG. 2 shows the conventional three-level IGBT shown in FIG.
1 is a block diagram showing a configuration in a case where the present invention is applied to an inverter device. In the figure, reference numeral 1 denotes a three-level IGBT inverter circuit, 2 denotes a main board for controlling and detecting a failure of the three-level IGBT inverter circuit 1, and 3 denotes the same. Sub substrate. The structure of three-level IGBT inverter circuit 1 is the same as that shown in FIG. 5, and the structure of main substrate 2 is the same as that shown in FIG. As a result, the other fault detection circuits and fault latch circuits have been moved to the sub-board 3. The connection structure is the same as that of the two-level IGBT multiplex inverter device shown in FIG.

【0025】即ち、3レベルIGBTインバータ回路1
は3相交流に変換する変換器で、各相4個のIGBTが
直列に接続されており、3つの電圧レベルを出しうるも
のである。メイン基板2は複数(図面では3個)の故障
検出回路21、該故障検出回路21の個数よりも1個多
い複数の故障ラッチ回路22、1又は複数のOR回路2
3、停止回路24及び1又は複数のCPU25を備えて
いる。またサブ基板3は複数の故障検出回路31、これ
と同数の故障ラッチ回路32、1又は複数のOR回路3
3及び3レベルIGBTPWM回路(以下単にPWM回
路という)34を備えている。メイン基板2及びサブ基
板3は夫々3レベルIGBTインバータ回路1と接続さ
れ、またコネクタ4を介して相互に連結されると共に、
サブ基板3のOR回路33とメイン基板2の故障ラッチ
回路22との間、並びにサブ基板3の故障ラッチ回路3
2及びPWM回路34とメイン基板2のCPU25との
間を夫々接続している。
That is, the three-level IGBT inverter circuit 1
Is a converter for converting into three-phase alternating current, in which four IGBTs of each phase are connected in series and can output three voltage levels. The main board 2 includes a plurality of (three in the drawing) failure detection circuits 21, a plurality of failure latch circuits 22, one or more OR circuits 2 one more than the number of the failure detection circuits 21
3, a stop circuit 24 and one or more CPUs 25 are provided. The sub-board 3 includes a plurality of failure detection circuits 31, the same number of failure latch circuits 32, one or a plurality of OR circuits 3
A three- and three-level IGBTP PWM circuit (hereinafter simply referred to as a PWM circuit) 34 is provided. The main board 2 and the sub-board 3 are respectively connected to the three-level IGBT inverter circuit 1 and are mutually connected via the connector 4.
Between the OR circuit 33 of the sub-board 3 and the failure latch circuit 22 of the main board 2 and the failure latch circuit 3 of the sub-board 3
2 and the PWM circuit 34 and the CPU 25 of the main board 2 are connected to each other.

【0026】メイン基板2における各故障検出回路21
は夫々対応する故障ラッチ回路22と接続され、また各
故障ラッチ回路22はサブ基板3の故障ラッチ回路32
と共にバス5を介してCPU25に接続されている。メ
イン基板2の各故障ラッチ回路22は夫々OR回路23
の入力端に接続されている。メイン基板2のOR回路2
3の出力端は停止回路24の入力端に接続され、また停
止回路24の出力端はCPU25に接続されている。
Each failure detection circuit 21 in the main board 2
Are respectively connected to the corresponding fault latch circuits 22, and each fault latch circuit 22 is connected to the fault latch circuit 32 of the sub-substrate 3.
Also, it is connected to the CPU 25 via the bus 5. Each failure latch circuit 22 of the main board 2 is provided with an OR circuit 23
Is connected to the input terminal of OR circuit 2 of main board 2
The output terminal 3 is connected to the input terminal of the stop circuit 24, and the output terminal of the stop circuit 24 is connected to the CPU 25.

【0027】一方サブ基板3における各故障検出回路3
1は夫々対応する故障ラッチ回路32に接続され、また
各故障ラッチ回路32はPWM回路34と共にコネクタ
4を介してバス5によりCPU25に接続されている。
またサブ基板3の各故障ラッチ回路32はOR回路33
に接続され、OR回路33の出力端はコネクタ4を介し
てメイン基板2の故障ラッチ回路22に接続されてい
る。
On the other hand, each failure detection circuit 3 on the sub-board 3
1 is connected to the corresponding failure latch circuit 32, and each failure latch circuit 32 is connected to the CPU 25 by the bus 5 via the connector 4 together with the PWM circuit 34.
Each of the failure latch circuits 32 on the sub-board 3 is an OR circuit 33.
, And the output terminal of the OR circuit 33 is connected to the failure latch circuit 22 of the main board 2 via the connector 4.

【0028】次にこれらの動作を説明する。メイン基板
2のCPU25にてPWM回路34からの信号に従い3
レベルIGBTインバータ回路1が所定の変換動作を行
うべく制御されるが、この3レベルIGBTインバータ
回路1に故障が発生すると、故障発生部分を担当するメ
イン基板2のいずれかの故障検出回路21、又はサブ基
板3のいずれかの故障検出回路31によって故障が検出
される。メイン基板2の故障検出回路21が故障を検出
するとその検出信号は夫々対応する故障ラッチ回路22
にラッチされ、またサブ基板3の故障検出回路31が故
障を検出するとその検出信号は夫々対応する故障ラッチ
回路32にラッチされる。
Next, these operations will be described. In accordance with the signal from the PWM circuit 34 in the CPU 25 of the main board 2,
The level IGBT inverter circuit 1 is controlled to perform a predetermined conversion operation. If a failure occurs in the three-level IGBT inverter circuit 1, any one of the failure detection circuits 21 on the main board 2 responsible for the failure occurrence part, or A failure is detected by one of the failure detection circuits 31 of the sub-board 3. When the failure detection circuit 21 of the main board 2 detects a failure, the detection signal is sent to the corresponding failure latch circuit 22
When the failure detection circuit 31 of the sub-board 3 detects a failure, the detection signal is latched by the corresponding failure latch circuit 32.

【0029】各故障ラッチ回路22及び32にラッチさ
れた信号はコネクタ4を介してバス5により直接CPU
25へ入力されると共に、メイン基板2の各故障ラッチ
回路22のラッチ信号はOR回路23へ入力され、また
サブ基板3の各故障ラッチ回路32のラッチ信号はOR
回路33へ入力され、このOR回路33の出力はコネク
タ4を介してメイン基板2の故障ラッチ回路22へ入力
される。メイン基板2のOR回路23は各故障ラッチ回
路22からのラッチ信号の論理和を求めて所定の信号を
停止回路24へ出力する。停止回路24はOR回路23
からの信号に基づきインバータの動作を停止させるため
の信号、又は他の信号をCPU25へ出力する。CPU
25は停止回路24からの信号及び各故障ラッチ回路2
2及び32からのラッチ信号に基づいてソフトウェアに
よりどのような内容の故障が発生したかを決定し、発生
した故障の内容に応じた必要な制御を行う。
The signal latched by each of the failure latch circuits 22 and 32 is sent directly to the CPU 5 by the bus 5 through the connector 4.
25, the latch signal of each fault latch circuit 22 of the main board 2 is input to the OR circuit 23, and the latch signal of each fault latch circuit 32 of the sub board 3 is ORed.
The output of the OR circuit 33 is input to the failure latch circuit 22 of the main board 2 via the connector 4. The OR circuit 23 of the main board 2 obtains the logical sum of the latch signals from the respective failure latch circuits 22 and outputs a predetermined signal to the stop circuit 24. The stop circuit 24 is an OR circuit 23
A signal for stopping the operation of the inverter or another signal is output to the CPU 25 based on the signal from the CPU 25. CPU
25 is a signal from the stop circuit 24 and each fault latch circuit 2
Based on the latch signals from 2 and 32, software determines what kind of failure has occurred and performs necessary control according to the details of the failure that has occurred.

【0030】図3は本発明を適用した3レベルGTOイ
ンバータ装置の構成を示すブロック図であり、図中1は
3レベルGTOインバータ回路、2は3レベルGTOイ
ンバータ回路1を制御し、また故障を検出するためのメ
イン基板、3は同じくサブ基板である。3レベルGTO
インバータ回路1を除けばメイン基板2、サブ基板3に
おける他の構造及び相互の接続構造は図1に示した2レ
ベルIGBT多重インバータ装置のそれと同じである。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a three-level GTO inverter device to which the present invention is applied. In FIG. 3, reference numeral 1 denotes a three-level GTO inverter circuit, 2 denotes a three-level GTO inverter circuit, A main board 3 for detection is also a sub-board. 3 level GTO
Except for the inverter circuit 1, the other structures on the main substrate 2 and the sub substrate 3 and the interconnection structure are the same as those of the two-level IGBT multiplex inverter device shown in FIG.

【0031】即ち、3レベルGTOインバータ回路1は
3相交流に変換する変換器で、各相4個のGTOが直列
に接続されており、3つの電圧レベルを出しうるもので
ある。メイン基板2は複数の故障検出回路21、該故障
検出回路21の個数よりも1個多い複数の故障ラッチ回
路22、1又は複数のOR回路23、停止回路24及び
1又は複数のCPU25を備えている。またサブ基板3
は複数の故障検出回路31、これと同数の故障ラッチ回
路32、1又は複数のOR回路33及び3レベルGTO
PWM回路(以下単にPWM回路という)34を備えて
いる。メイン基板2及びサブ基板3は夫々3レベルGT
Oインバータ回路1と接続され、またコネクタ4を介し
て相互に連結されると共に、サブ基板3のOR回路33
とメイン基板2の故障ラッチ回路22との間、並びにサ
ブ基板3の各故障ラッチ回路32及びPWM回路34と
メイン基板2のCPU25との間を夫々接続している。
That is, the three-level GTO inverter circuit 1 is a converter for converting into three-phase alternating current, in which four GTOs of each phase are connected in series, and can output three voltage levels. The main board 2 includes a plurality of failure detection circuits 21, a plurality of failure latch circuits 22, one or more OR circuits 23, one or more OR circuits 23, a stop circuit 24, and one or more CPUs 25 than the number of the failure detection circuits 21. I have. Sub-substrate 3
Are a plurality of failure detection circuits 31, the same number of failure latch circuits 32, one or a plurality of OR circuits 33, and a three-level GTO
A PWM circuit (hereinafter simply referred to as a PWM circuit) 34 is provided. The main board 2 and the sub board 3 each have a three-level GT
O circuit 33 is connected to the O inverter circuit 1 and is connected to each other via the connector 4.
And the fault latch circuit 22 of the main board 2, and between the fault latch circuits 32 and the PWM circuit 34 of the sub board 3 and the CPU 25 of the main board 2, respectively.

【0032】メイン基板2における各故障検出回路21
は夫々対応する故障ラッチ回路22と接続され、また各
故障ラッチ回路22はサブ基板3の故障ラッチ回路32
と共にバス5を介してCPU25に接続されている。O
R回路23の出力端は停止回路24の入力端に接続さ
れ、また停止回路24の出力端はCPU25に接続され
ている。
Each failure detection circuit 21 in the main board 2
Are respectively connected to the corresponding fault latch circuits 22, and each fault latch circuit 22 is connected to the fault latch circuit 32 of the sub-substrate 3.
Also, it is connected to the CPU 25 via the bus 5. O
The output terminal of the R circuit 23 is connected to the input terminal of the stop circuit 24, and the output terminal of the stop circuit 24 is connected to the CPU 25.

【0033】一方サブ基板3における各故障検出回路3
1は夫々対応する故障ラッチ回路32に接続され、また
各故障ラッチ回路32はOR回路33に接続されると共
に、PWM回路34と共にバス5を介してCPU25に
接続されている。OR回路33の出力端はコネクタ4を
介してメイン基板2の故障ラッチ回路22に接続されて
いる。
On the other hand, each fault detection circuit 3 on the sub-board 3
1 are connected to the corresponding failure latch circuits 32, respectively. Each failure latch circuit 32 is connected to the OR circuit 33, and is also connected to the CPU 25 via the bus 5 together with the PWM circuit 34. The output terminal of the OR circuit 33 is connected to the failure latch circuit 22 of the main board 2 via the connector 4.

【0034】次にこれらの動作を説明する。メイン基板
2のCPU25にてPWM回路34からの信号に従い3
レベルGTOインバータ回路1が所定の変換動作を行う
べく制御されるが、この3レベルGTOインバータ回路
1に故障が発生すると、故障発生部分を担当するメイン
基板2のいずれかの故障検出回路21又はサブ基板3の
いずれかの故障検出回路31によって故障が検出され
る。メイン基板2の故障検出回路21が故障を検出する
とその検出信号は夫々対応する故障ラッチ回路22にラ
ッチされ、またサブ基板3の故障検出回路31が故障を
検出するとその検出信号は夫々対応する故障ラッチ回路
32にラッチされる。各故障ラッチ回路22及び32に
ラッチされた信号はバス5を介して直接CPU25へ入
力される他、メイン基板2の各故障ラッチ回路22のラ
ッチ信号はOR回路23へ入力され、またサブ基板3の
各故障ラッチ回路32のラッチ信号はOR回路33へ入
力される。OR回路33は入力されたラッチ信号の論理
和をとり、これをコネクタ4を介してメイン基板2の故
障ラッチ回路22へ与えてここにラッチする。OR回路
23は各故障ラッチ回路22からのラッチ信号の論理和
を求めて所定の信号を停止回路24へ出力する。停止回
路24はOR回路23からの信号に基づきインバータの
動作を停止させるための信号、又は他の信号をCPU2
5へ出力する。CPU25は停止回路24からの信号及
び各故障ラッチ回路22及び32からのラッチ信号に基
づいてソフトウェアによりどのような内容の故障が発生
したかを決定し、発生した故障の内容に応じた必要な制
御を行う。
Next, these operations will be described. In accordance with the signal from the PWM circuit 34 in the CPU 25 of the main board 2,
The level GTO inverter circuit 1 is controlled to perform a predetermined conversion operation. When a failure occurs in the three-level GTO inverter circuit 1, any one of the failure detection circuits 21 or A failure is detected by one of the failure detection circuits 31 of the board 3. When the failure detection circuit 21 of the main board 2 detects a failure, the detection signal is latched by a corresponding failure latch circuit 22, and when the failure detection circuit 31 of the sub-board 3 detects a failure, the detection signal is converted to the corresponding failure. The data is latched by the latch circuit 32. The signals latched by the failure latch circuits 22 and 32 are directly input to the CPU 25 via the bus 5, and the latch signal of each failure latch circuit 22 of the main board 2 is input to the OR circuit 23 and the sub-board 3 Are input to the OR circuit 33. The OR circuit 33 takes the logical sum of the input latch signals, supplies the logical sum to the failure latch circuit 22 of the main board 2 via the connector 4 and latches the result. The OR circuit 23 obtains the logical sum of the latch signals from each of the faulty latch circuits 22 and outputs a predetermined signal to the stop circuit 24. The stop circuit 24 outputs a signal for stopping the operation of the inverter based on a signal from the OR circuit 23 or another signal to the CPU 2.
Output to 5 The CPU 25 determines what kind of failure has occurred by software based on the signal from the stop circuit 24 and the latch signal from each of the failure latch circuits 22 and 32, and performs necessary control according to the content of the failure that has occurred. I do.

【0035】図1〜図3に示す如く、インバータ回路の
構造、型式は異なってもメイン基板2はいずれもその搭
載回路が全く同じに構成されており、サブ基板3の構造
のみが異なった構成としてある。このような構成にする
ことで異なる構造のIGBT多重インバータ回路、IG
BTインバータ回路、GTOインバータ回路であって
も、必要な構成はメイン基板2に残し、他の構造上必要
となる構成はサブ基板3上に配置することでメイン基板
2は各種のメインインバータ回路に適用可能となり、メ
ンテナンス性が良く、装置を安価に構成することが出来
る。
As shown in FIGS. 1 to 3, even though the structure and the type of the inverter circuit are different, the main board 2 has exactly the same mounting circuit and the sub circuit board 3 only has a different structure. There is. With such a configuration, an IGBT multiplex inverter circuit having a different structure, an IG
Even if it is a BT inverter circuit or a GTO inverter circuit, the necessary components are left on the main substrate 2 and other components required for the structure are arranged on the sub substrate 3 so that the main substrate 2 can be used for various main inverter circuits. The present invention can be applied, the maintenance is good, and the apparatus can be configured at low cost.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上の如き第1の発明にあってはインバ
ータ回路の構造、型式が異なる場合においても制御系の
メイン基板を共通化することで量産効果が得られ、コス
トの低減を図れる。 第2の発明にあっては故障検出回
路、故障ラッチ回路、OR回路、停止回路及びCPUを
メイン基板に備えることでサブ基板搭載の回路とのバラ
ンスが良く共通化が一層容易となる。第3の発明にあっ
てはサブ基板に故障検出回路、故障ラッチ回路及びOR
回路を設けることで基板上におけるレイアウトの統一化
が容易となり、メイン基板の共通化が容易となる。
According to the first aspect of the present invention, even when the structure and the type of the inverter circuit are different, the mass production effect can be obtained by sharing the main board of the control system, and the cost can be reduced. According to the second aspect of the invention, by providing the main board with the fault detection circuit, the fault latch circuit, the OR circuit, the stop circuit, and the CPU, the balance with the circuit mounted on the sub-board is good, and the common use is further facilitated. In the third invention, a failure detection circuit, a failure latch circuit, and an OR
The provision of the circuit facilitates unification of the layout on the substrate and facilitates the common use of the main substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 図4に示す従来の2レベルIGBT多重イン
バータ装置に本発明を適用した構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration in which the present invention is applied to the conventional two-level IGBT multiplex inverter shown in FIG.

【図2】 図5に示す従来の3レベルIGBTインバー
タ装置に本発明を適用した構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration in which the present invention is applied to the conventional three-level IGBT inverter device shown in FIG.

【図3】 本発明を適用した3レベルGTOインバータ
装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a three-level GTO inverter device to which the present invention is applied.

【図4】 従来の2レベルIGBT多重インバータ装置
の構成を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional two-level IGBT multiplex inverter device.

【図5】 従来の3レベルIGBTインバータ装置の構
成を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a conventional three-level IGBT inverter device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 インバータ回路、2 メイン基板、3 サブ基板、
4 コネクタ、5 バス、21 故障検出回路、22
故障ラッチ回路。
1 Inverter circuit, 2 main board, 3 sub board,
4 connector, 5 bus, 21 failure detection circuit, 22
Fault latch circuit.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 インバータ回路と、該インバータ回路の
制御及び故障検出を行う回路を備えたメイン基板と、該
メイン基板とコネクタにて接続され、前記インバータ回
路の故障検出を行う回路を備えたサブ基板とを備え、前
記メイン基板はインバータ回路の型式の構造如何を問わ
ずに共通化したことを特徴とするインバータ装置。
An inverter circuit, a main board including a circuit for controlling the inverter circuit and detecting a failure, and a sub-circuit connected to the main board by a connector and including a circuit for detecting a failure of the inverter circuit. An inverter device, comprising: a substrate, wherein the main substrate is shared irrespective of the type of inverter circuit structure.
【請求項2】 メイン基板には、複数の故障検出回路
と、該故障検出回路の数よりも少なくとも1個多く設け
られ、各故障検出回路の検出信号をラッチする故障ラッ
チ回路と、該各故障ラッチ回路の出力が入力されるOR
回路と、該OR回路の出力に基づいて前記インバータ回
路の動作を停止させる停止回路と、該停止回路の出力及
び前記各故障ラッチ回路の出力に基づいて故障内容を判
断する判断手段とを備えることを特徴とする請求項1記
載のインバータ装置。
2. A main board, comprising: a plurality of failure detection circuits; at least one more failure detection circuit than the number of the failure detection circuits; a failure latch circuit for latching a detection signal of each failure detection circuit; OR to which the output of the latch circuit is input
A stop circuit for stopping the operation of the inverter circuit based on an output of the OR circuit; and a judging means for judging a failure content based on an output of the stop circuit and an output of each of the fault latch circuits. The inverter device according to claim 1, wherein:
【請求項3】 サブ基板は複数の故障検出回路と、該各
故障検出回路夫々に対応して設けられ、各故障検出回路
夫々の検出信号をラッチし、その出力をメイン基板の判
断手段へ与える故障ラッチ回路と、該故障ラッチ回路夫
々の出力を入力とし、その出力をメイン基板の故障ラッ
チ回路へ与えるOR回路とを備えることを特徴とする請
求項1記載のインバータ装置。
3. A sub-board is provided corresponding to each of the plurality of fault detection circuits and each of the fault detection circuits. The sub-board latches a detection signal of each of the fault detection circuits and provides an output to a determination means of the main board. 2. The inverter device according to claim 1, further comprising: a fault latch circuit; and an OR circuit which receives an output of each of the fault latch circuits and supplies the output to the fault latch circuit on the main board.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP2017200292A (en) * 2016-04-26 2017-11-02 株式会社デンソー Signal transmission circuit
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