JPH118538A - Repeat signal stop detection circuit - Google Patents

Repeat signal stop detection circuit

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Publication number
JPH118538A
JPH118538A JP16025397A JP16025397A JPH118538A JP H118538 A JPH118538 A JP H118538A JP 16025397 A JP16025397 A JP 16025397A JP 16025397 A JP16025397 A JP 16025397A JP H118538 A JPH118538 A JP H118538A
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JP
Japan
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signal
circuit
output
capacitor
stop
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JP16025397A
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Japanese (ja)
Inventor
Takatoshi Nagata
隆俊 永田
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect the generation/stop of signals, which are generated repeatedly in a prescribed seriod, in a simple configuration. SOLUTION: The waveform of a signal generated from an oscillation circuit 31 is shaped into rectangular wave by a buffer 32. The output from the buffer 32 is divided into two, and one output is delayed by a delay circuit 33. An exclusive OR gate 34 operates the exclusive OR of output signal from the buffer 32 and signal delayed by the delay circuit 33. When the output of the exclusive OR gate 34 is at a low level, an N-channel MOS field effect (NchMOS) transistor 35 is turned off, and a capacitor 36 is charged. When that output is at a high level, the NchMOS transistor 35 is turned on, and the capacitor 36 is discharged. A comparator circuit 38 compares the charging voltage of the capacitor 36 with a reference voltage, and when the charging voltage exceeds the reference voltage, the generation/stop signal of the repeat signal is derived.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、所定の周期にて繰
返し発生される信号の発生が停止したことを検出する繰
返し信号停止検出回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a repetitive signal stop detection circuit for detecting that the generation of a signal repeatedly generated at a predetermined cycle has stopped.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、時計、カメラ、パーソナルコ
ンピュータ、PDA機器などの装置においては、ウォッ
チドッグタイマなどのように、各種回路の動作状態に対
応して周期的に発生される繰返し信号の停止を検出し、
停止検出時に所定の動作を行う回路が一般に用いられ
る。繰返し信号のうち、クロック信号は装置の動作の時
間的な基準となり、装置の精度に重要な影響を及す。繰
返し信号の発生停止を検出する従来技術として、特にク
ロック信号の発振停止検出に関しては、たとえば、特開
平5−122032や特開平2−220513に開示さ
れる発振停止検出回路を用いる方法が知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a device such as a clock, a camera, a personal computer, or a PDA device, a repetitive signal, such as a watchdog timer, which is periodically generated in response to the operation state of various circuits is stopped. To detect
A circuit that performs a predetermined operation when a stop is detected is generally used. Of the repetitive signals, the clock signal is a time reference for the operation of the device and has a significant effect on the accuracy of the device. As a conventional technique for detecting the occurrence stop of the repetitive signal, particularly regarding the detection of the stop of the oscillation of the clock signal, for example, a method using an oscillation stop detection circuit disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 5-120232 and 2-2205513 is known. I have.

【0003】図9は、特開平5−122032公開公報
から図1を引用して示す。この先行技術による発振停止
検出装置では、6段のDフリップフロップ回路1〜6を
有する。前段のフリップフロップ回路1〜5の出力Q
は、後段のフリップフロップ回路2〜6の入力Dに順次
的に入力される。1段目のフリップフロップ回路1の入
力Dには、発振停止の検出対象となるクロック信号CL
K1が入力される。各フリップフロップ回路1〜6のク
ロック入力CLOCKには、検出対象外のクロック信号
CLK2が共通に入力される。各フリップフロップ回路
1〜6の出力Qは、論理積を演算する6入力AND回路
7と、否定論理和を演算する6入力NOR回路8とに入
力され、それぞれの出力は論理和を計算する2入力OR
回路9に入力される。
FIG. 9 is a drawing of FIG. 1 from Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 5-122032. This oscillation stop detection device according to the prior art has six stages of D flip-flop circuits 1 to 6. Output Q of the preceding flip-flop circuits 1 to 5
Are sequentially input to the inputs D of the flip-flop circuits 2 to 6 at the subsequent stage. The input D of the first-stage flip-flop circuit 1 includes a clock signal CL which is a detection target of oscillation stop.
K1 is input. A clock signal CLK2 not to be detected is commonly input to a clock input CLOCK of each of the flip-flop circuits 1 to 6. An output Q of each of the flip-flop circuits 1 to 6 is input to a 6-input AND circuit 7 for calculating a logical product and a 6-input NOR circuit 8 for calculating a logical negation. Input OR
Input to the circuit 9.

【0004】クロック信号CLK1の発振が停止した場
合、クロック信号CLK2の6回目の立上がりでフリッ
プフロップ回路1〜6のすべての出力レベルが高レベル
または低レベルの一方で同一になる。このため、AND
回路7またはNOR回路8のいずれか一方が高レベルを
出力し、OR回路9が高レベルを出力する。OR回路9
の高レベル出力によってクロック信号CLK1の発振停
止が検出される。
When the oscillation of the clock signal CLK1 is stopped, all the output levels of the flip-flop circuits 1 to 6 become equal to one of the high level and the low level at the sixth rising of the clock signal CLK2. For this reason, AND
Either the circuit 7 or the NOR circuit 8 outputs a high level, and the OR circuit 9 outputs a high level. OR circuit 9
, The oscillation stop of the clock signal CLK1 is detected.

【0005】図10は、特開平2−220513に掲載
される図1を簡略化して示す。この先行技術による発振
停止検出回路では、発振器11から発生するクロック信
号がバッファ12とインバータ13とに与えられる。そ
れぞれの出力は、1/2に分周するカウンタ14、15
および遅延回路16,17を介して4つのパルス検出回
路20に入力される。パルス検出回路20は、2周期分
のクロック信号の立上がりまたは立ち下がりのパルスエ
ッジをそれぞれ検出する。パルス検出回路20の出力
は、4つの積分比較回路21にそれぞれ入力される。発
振器11の発振が停止すると、いずれか1つの積分比較
回路21が高レベルを出力する。各積分比較回路21の
出力は、4入力OR回路22に入力されており、OR回
路22が高レベルを出力することによって発振停止が検
出される。
FIG. 10 shows a simplified version of FIG. 1 described in Japanese Patent Application Laid-Open No. H2-220513. In this oscillation stop detection circuit according to the prior art, a clock signal generated from an oscillator 11 is supplied to a buffer 12 and an inverter 13. Each output is divided by one of the counters 14 and 15
The signals are input to four pulse detection circuits 20 via delay circuits 16 and 17. The pulse detection circuit 20 detects a rising or falling pulse edge of the clock signal for two cycles. The output of the pulse detection circuit 20 is input to each of the four integration comparison circuits 21. When the oscillation of the oscillator 11 stops, any one of the integration and comparison circuits 21 outputs a high level. The output of each integration / comparison circuit 21 is input to a four-input OR circuit 22. When the OR circuit 22 outputs a high level, oscillation stop is detected.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】図9に示す発振停止検
出装置では、発振停止の検出対象外の独立したクロック
信号CLK2が発振停止する場合が考慮されていない。
クロック信号CLK2が発振停止する場合には、検出対
象のクロック信号CLK1の発振停止を検出することが
できなくなる。このような検出対象のクロック信号と無
関係のクロック信号を利用する先行技術の構成では、ク
ロック信号が複数種類必要となり、システムのコスト高
になる。加えて、発振停止の検出対象外の独立したクロ
ック信号を利用することのできない装置も多く存在す
る。
The oscillation stop detecting device shown in FIG. 9 does not consider a case where the oscillation of the independent clock signal CLK2 which is not a detection target of the oscillation stop is stopped.
When the clock signal CLK2 stops oscillating, it becomes impossible to detect the oscillation stop of the clock signal CLK1 to be detected. In the configuration of the related art using a clock signal irrelevant to the clock signal to be detected, a plurality of types of clock signals are required, which increases the cost of the system. In addition, there are many devices that cannot use an independent clock signal that is not a detection target of oscillation stop.

【0007】図10に示す発振停止検出回路では、独立
したクロック信号は不要となるので、前述の問題は解決
される。しかしながら回路構成上では、4つの積分比較
回路と2つのディレイ回路とを必要とするため、回路規
模が大きくなってしまう。回路規模が大きくなると、発
振停止検出回路を小型化することが困難となり、製造コ
ストも上昇する。
In the oscillation stop detecting circuit shown in FIG. 10, an independent clock signal is not required, so that the above-mentioned problem is solved. However, since the circuit configuration requires four integration / comparison circuits and two delay circuits, the circuit scale becomes large. As the circuit scale increases, it becomes difficult to reduce the size of the oscillation stop detection circuit, and the manufacturing cost also increases.

【0008】本発明の目的は、所定の周期で繰返し発生
される信号の発生停止を、簡単な構成で検出することが
できる繰返し信号停止検出回路を提供することである。
An object of the present invention is to provide a repetitive signal stop detection circuit capable of detecting, with a simple configuration, the stop of generation of a signal that is repeatedly generated at a predetermined cycle.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、所定周期で繰
返し発生される信号の発生停止を検出する回路であっ
て、信号の発生に伴うレベル変化を検出する変化検出回
路と、変化検出回路が検出する信号のレベル変化に応答
して、信号レベルが変化する期間は導通状態となり、信
号レベルが変化しない期間は遮断状態となるスイッチン
グ素子と、スイッチング素子の出力側に並列に接続され
るコンデンサと、コンデンサを充電するために、直流電
源とコンデンサの一端との間に接続される抵抗と、コン
デンサの充電電圧を予め設定される基準電圧を越えると
き、繰返し信号の発生停止を表す信号を導出する比較回
路とを含むことを特徴とする繰返し信号停止検出回路で
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a circuit for detecting a stop of generation of a signal that is repeatedly generated at a predetermined cycle, and a change detection circuit for detecting a level change accompanying the generation of the signal, and a change detection circuit. In response to a change in the level of the signal detected by the switching element, the switching element is in a conductive state during a period in which the signal level changes, and is in a blocking state during a period in which the signal level does not change, and a capacitor connected in parallel to the output side of the switching element And a resistor connected between the DC power supply and one end of the capacitor to charge the capacitor, and a signal representing stop of generation of a repetitive signal when the charging voltage of the capacitor exceeds a preset reference voltage. And a comparing circuit for detecting a repetitive signal stop.

【0010】本発明に従えば、変化検出回路は、繰返し
信号の発生に伴うレベル変化を検出する。スイッチング
素子は、変化検出回路が検出する信号のレベル変化に応
答して、信号レベルが変化する期間は導通状態となり、
信号レベルが変化しない期間は遮断状態となる。スイッ
チング素子の出力側には、コンデンサが並列に接続され
る。コンデンサを充電するために、直流電源とコンデン
サの一端との間には、抵抗が接続される。比較回路は、
コンデンサの充電電圧を予め設定される基準電圧と比較
する。繰返し信号が停止して、信号レベルが変化しなく
なると、スイッチング素子が遮断状態となるので、コン
デンサの充電電圧は上昇する。充電電圧が基準電圧をを
越えるとき、比較回路によって検出され、比較回路は繰
返し信号の発生停止を表す信号を導出する。したがっ
て、簡単な構成でも繰返し信号の発生停止を検出するこ
とができる。発生停止の検出対象の繰返し信号を入力す
れば、検出対象外の繰返し信号を必要としないので、検
出対象外の繰返し信号を発生させる回路を設ける必要が
なく、コストを大幅に削減することができる。また検出
対象外の繰返し信号自体が停止することによる検出不能
という事態を避けることができるので、信頼性を向上さ
せることができる。
According to the present invention, the change detection circuit detects a level change accompanying the generation of a repetitive signal. The switching element becomes conductive during a period in which the signal level changes in response to a level change of the signal detected by the change detection circuit,
During a period in which the signal level does not change, it is in a cutoff state. A capacitor is connected in parallel to the output side of the switching element. A resistor is connected between the DC power supply and one end of the capacitor to charge the capacitor. The comparison circuit is
The charging voltage of the capacitor is compared with a preset reference voltage. When the repetitive signal stops and the signal level stops changing, the switching element is turned off, and the charging voltage of the capacitor increases. When the charging voltage exceeds the reference voltage, it is detected by a comparator circuit, which derives a signal indicating that the repetitive signal has stopped generating. Therefore, it is possible to detect the stop of the generation of the repetitive signal even with a simple configuration. If a repetition signal to be detected to stop occurrence is input, a repetition signal not to be detected is not required, so that there is no need to provide a circuit for generating a non-detection repetition signal, and the cost can be greatly reduced. . Further, it is possible to avoid a situation in which detection is not possible due to the stop of the repetitive signal itself that is not a detection target, so that reliability can be improved.

【0011】また本発明で、前記繰返し信号は、発振回
路の出力信号であることを特徴とする。
In the present invention, the repetition signal is an output signal of an oscillation circuit.

【0012】本発明に従えば、繰返し信号は、発振回路
の出力信号であるので、クロック信号など、装置の動作
の時間的基準となるような信号の発生停止を検出するこ
とができる。
According to the present invention, since the repetitive signal is the output signal of the oscillation circuit, it is possible to detect the stop of the generation of a signal such as a clock signal which serves as a time reference for the operation of the device.

【0013】また本発明で、前記変化検出回路は、繰返
し信号を波形整形して矩形波に変換するバッファと、バ
ッファの出力を遅延させるディレイ回路と、ディレイ回
路の出力およびバッファの出力の排他的論理和を演算す
る排他的論理和ゲートとを含み、前記スイッチング素子
は、MOSトランジスタであることを特徴とする。
[0013] In the present invention, the change detection circuit may include a buffer for shaping the waveform of the repetitive signal to convert it into a rectangular wave, a delay circuit for delaying the output of the buffer, and an exclusive control of the output of the delay circuit and the output of the buffer. An exclusive-OR gate for calculating a logical sum, wherein the switching element is a MOS transistor.

【0014】本発明に従えば、変化検出回路は、繰返し
信号を波形整形して矩形波に変換するバッファと、バッ
ファの出力を遅延させるディレイ回路と、ディレイ回路
の出力およびバッファの出力の排他的論理和を演算する
排他的論理和ゲートとを含む。スイッチング素子はMO
Sトランジスタであるので、導通時と遮断時との抵抗値
の変化を大きくとることができる。繰返し信号の発生の
周期にばらつきがあっても、ある程度のばらつきの範囲
内であれば、繰返し信号の発生停止を検出することがで
きる。
According to the present invention, the change detection circuit includes a buffer for shaping the waveform of the repetitive signal to convert it into a rectangular wave, a delay circuit for delaying the output of the buffer, and an exclusive control of the output of the delay circuit and the output of the buffer. An exclusive-OR gate for calculating a logical sum. The switching element is MO
Since the transistor is an S transistor, a change in resistance value between when the transistor is on and when the transistor is off can be made large. Even if there is a variation in the cycle of the generation of the repetitive signal, the stop of the generation of the repetitive signal can be detected within a certain range of the variation.

【0015】また本発明で、前記変化検出回路、前記ス
イッチング素子、および前記比較回路は、半導体集積回
路チップ内に形成され、前記コンデンサおよび抵抗は、
半導体集積回路チップ外に積分回路として形成されるこ
とを特徴とする。
In the present invention, the change detection circuit, the switching element, and the comparison circuit are formed in a semiconductor integrated circuit chip, and the capacitor and the resistor
It is characterized in that it is formed as an integrating circuit outside the semiconductor integrated circuit chip.

【0016】本発明に従えば、変化検出回路とスイッチ
ング素子、および比較回路は、半導体集積回路チップ内
に形成される。これに対して、コンデンサおよび抵抗
は、半導体集積回路チップ外に積分回路として形成され
る。したがって、抵抗の抵抗値を大きくし、コンデンサ
の容量値も大きくすれば、積分回路の時定数を大きく設
定することも容易になる。時定数を大きくして、信号の
発生停止検出に至る時間を長くすることによって、大き
な周期の繰返し信号であっても、発生周期とは無関係
に、信号の発生停止を検出することができる。
According to the present invention, the change detection circuit, the switching element, and the comparison circuit are formed in a semiconductor integrated circuit chip. On the other hand, the capacitor and the resistor are formed as an integrating circuit outside the semiconductor integrated circuit chip. Therefore, if the resistance value of the resistor is increased and the capacitance value of the capacitor is also increased, it is easy to set a large time constant of the integration circuit. By increasing the time constant and lengthening the time required to detect the stop of the signal generation, it is possible to detect the stop of the signal generation irrespective of the generation cycle even for a repetitive signal having a large cycle.

【0017】また本発明で、前記繰返し信号は、時計と
しての動作の基準となるクロック信号であることを特徴
とする。
Further, in the present invention, the repetition signal is a clock signal serving as a reference for operation as a clock.

【0018】本発明に従えば、繰返し信号は、時計とし
ての動作の基準となるクロック信号であるので、たとえ
ば、クロック信号が発生停止して、その後再び信号が発
生するような場合、見かけ上は時計の動作に以上が生じ
ない。比較回路の導出する繰返し信号の発生停止を表す
信号は、少なくとも一時的に時計が止まっていることを
示すフラグなどとして利用することができる。
According to the present invention, the repetition signal is a clock signal which is a reference for the operation as a clock. For example, when the generation of the clock signal is stopped and the signal is generated again thereafter, the repetition signal appears to be apparent. Nothing happens to the operation of the watch. The signal indicating the stop of generation of the repetition signal derived by the comparison circuit can be used as a flag indicating that the clock is stopped at least temporarily.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の一形態で
ある繰返し信号停止検出回路の基本的な構成を示す。発
振回路31から発生する信号は、バッファ32によって
矩形波に波形整形される。論理回路としてのバッファ3
2は、出力が飽和するまで入力信号の増幅を行うので、
振幅が小さな入力信号でも、増幅して、矩形波に変換す
ることができる。バッファ32から出力される矩形波は
2つに分岐され、そのうちの一方がディレイ回路33で
遅延を受ける。2入力の排他的論理和ゲート34には、
バッファ32からの出力信号と、ディレイ回路33で遅
延される信号とが入力される。排他的論理和ゲート34
からの出力の論理値としてのレベルは、2つの入力信号
のレベルが異なる期間で高レベルになり、レベルが同じ
期間で低レベルになる。
FIG. 1 shows a basic configuration of a repetitive signal stop detection circuit according to an embodiment of the present invention. The signal generated from the oscillation circuit 31 is shaped into a rectangular wave by the buffer 32. Buffer 3 as a logic circuit
2 amplifies the input signal until the output is saturated,
Even an input signal having a small amplitude can be amplified and converted into a rectangular wave. The rectangular wave output from the buffer 32 is branched into two, one of which is delayed by the delay circuit 33. The two-input exclusive OR gate 34 includes:
An output signal from the buffer 32 and a signal delayed by the delay circuit 33 are input. Exclusive OR gate 34
Are high levels during the period when the levels of the two input signals are different, and are low levels during the same period.

【0020】NチャネルMOS電界効果トランジスタ
(以下、「NchMOSトランジスタ」と略称する)3
5のゲートには、排他的論理和ゲート34の出力信号が
入力される。NchMOSトランジスタ35のソースは
接地される。たとえば0.1μFなどの容量値Cをとる
コンデンサ36は、NchMOSトランジスタ35のソ
ース・ドレイン間に並列接続される。抵抗値Rの抵抗3
7は、電圧Vccの正の直流電源と、NchMOSトラ
ンジスタ35のドレインおよびコンデンサ36の接続点
との間に接続される。比較回路38は、コンデンサ36
の充電電圧を予め設定される基準電圧と比較する。コン
デンサ36の充電電圧が基準電圧を越えるとき、比較回
路38は繰返し信号の発生が停止したことを表す信号を
導出する。
N-channel MOS field effect transistor (hereinafter abbreviated as “NchMOS transistor”) 3
The output signal of the exclusive OR gate 34 is input to the fifth gate. The source of the NchMOS transistor 35 is grounded. For example, a capacitor 36 having a capacitance value C such as 0.1 μF is connected in parallel between the source and the drain of the NchMOS transistor 35. Resistance 3 with resistance R
7 is connected between a positive DC power supply of the voltage Vcc and a connection point between the drain of the NchMOS transistor 35 and the capacitor 36. The comparison circuit 38 includes a capacitor 36
Is compared with a preset reference voltage. When the charging voltage of the capacitor 36 exceeds the reference voltage, the comparing circuit 38 derives a signal indicating that the generation of the repetitive signal has stopped.

【0021】図2は、図1の実施形態のNchMOSト
ランジスタ35が遮断されているオフの状態のときの等
価回路を示す。排他的論理和ゲート34が低レベルを出
力するとき、NchMOSトランジスタ35はオフの状
態となる。この状態において、NchMOSトランジス
タ35のソース・ドレイン間の抵抗は充分に大きくな
り、たとえば数100MΩとなって、開放状態と等価で
あるとみなすことができる。このとき、コンデンサ36
は直流電源の電圧Vccによって、抵抗37を介して充
電される。
FIG. 2 shows an equivalent circuit when the NchMOS transistor 35 of the embodiment shown in FIG. When the exclusive OR gate 34 outputs a low level, the NchMOS transistor 35 is turned off. In this state, the resistance between the source and the drain of the NchMOS transistor 35 becomes sufficiently large, for example, several hundred MΩ, which can be regarded as equivalent to the open state. At this time, the capacitor 36
Is charged via the resistor 37 by the voltage Vcc of the DC power supply.

【0022】図3は、図1の実施形態のNchMOSト
ランジスタ35がオンの状態のときの等価回路を示す。
排他的論理和ゲート34が高レベルを出力するとき、N
chMOSトランジスタ35はオンの状態となる。この
状態において、NchMOSトランジスタ35のソース
・ドレイン間の抵抗値rは、たとえば数10Ω〜数10
0Ωとなって、抵抗37の抵抗値Rを数MΩ〜数10M
Ωとすれば、抵抗値Rと比較して充分に小さくなる。こ
のとき、コンデンサ36はNchMOSトランジスタ3
5のソース・ドレイン間を通じて放電される。
FIG. 3 shows an equivalent circuit when the NchMOS transistor 35 of the embodiment of FIG. 1 is turned on.
When the exclusive OR gate 34 outputs a high level, N
The chMOS transistor 35 is turned on. In this state, the resistance value r between the source and the drain of NchMOS transistor 35 is, for example, several tens Ω to several tens
0Ω, and the resistance value R of the resistor 37 is changed from several MΩ to several tens M
If it is Ω, it is sufficiently smaller than the resistance value R. At this time, the capacitor 36 is connected to the NchMOS transistor 3
5 is discharged through the source / drain.

【0023】図4は、繰返し信号が正常に発生するとき
の、図1〜3中のa点、b点、c点、およびd点と、比
較回路38の出力OUTとについてのタイミングチャー
トを示す。発振回路31から発生する信号は、バッファ
32において波形整形されて、a点のタイミングチャー
トに示すような矩形波となる。バッファ32からの出力
は2つに分岐され、そのうちの一方はディレイ回路33
で遅延されて、b点のタイミングチャートに示すような
波形となる。遅延の程度は、信号の繰返し周期に比較し
て小さくするすることができる。排他的論理和ゲート3
4には、a点のタイミングチャートに示すような信号
と、b点のタイミングチャートに示すような信号が入力
される。排他的論理和ゲート34では、2つの入力信号
のレベルが異なる期間で高レベルを出力し、レベルが同
じ期間で低レベルを出力する。レベルが同じ期間は、元
のa点の波形の立上がりおよび立ち下がりのエッジの時
点に対応する。その結果、排他的論理和ゲート34の出
力は、c点のタイミングチャートに示すようなスパイク
波形となり、元の信号の論理レベルが変化するエッジを
検出することになる。
FIG. 4 is a timing chart for points a, b, c, and d in FIGS. 1 to 3 and the output OUT of the comparison circuit 38 when a repetitive signal is normally generated. . The signal generated from the oscillation circuit 31 is shaped in the buffer 32 into a rectangular wave as shown in the timing chart at the point a. The output from the buffer 32 is branched into two, one of which is a delay circuit 33.
And the waveform becomes as shown in the timing chart at the point b. The degree of delay can be reduced compared to the signal repetition period. Exclusive OR gate 3
4, a signal as shown in the timing chart at point a and a signal as shown in the timing chart at point b are input. The exclusive OR gate 34 outputs a high level during the period when the levels of the two input signals are different, and outputs a low level during the period when the levels are the same. The period in which the levels are the same corresponds to the rising and falling edges of the original waveform at point a. As a result, the output of the exclusive OR gate 34 has a spike waveform as shown in the timing chart at the point c, and an edge at which the logic level of the original signal changes is detected.

【0024】NchMOSトランジスタ35は、c点の
タイミングチャートに示すようなスパイク波形の信号を
ゲート電圧として利用する。ゲート電圧が低レベルであ
るとき、NchMOSトランジスタ35はオフの状態と
なり、その遮断状態の抵抗値は抵抗値Rよりもかなり大
きい。したがって、図4において、コンデンサ36の充
電電圧を表すd点のタイミングチャートの期間T1に示
されるように、コンデンサ36は時定数CRで充電され
るとみなせる。ゲート電圧が高レベルであるとき、Nc
hMOSトランジスタ35はオンの状態となり、導通状
態の抵抗値rはr<<Rである。したがって、d点のタ
イミングチャートの期間T2に示されるように、コンデ
ンサ36は時定数Crで放電される。ここで、期間T1
に関連する時定数CRは、期間T2に関連する時定数C
rに比較して充分に大きくなっている。コンデンサ36
に期間T1で充電された電荷を、期間T2で充分に放電
することができるように、回路定数やディレイ回路33
の遅延時間などを設定しておく。
The NchMOS transistor 35 uses a spike waveform signal as shown in the timing chart at the point c as a gate voltage. When the gate voltage is at a low level, the NchMOS transistor 35 is turned off, and the resistance value in the cutoff state is much larger than the resistance value R. Therefore, in FIG. 4, the capacitor 36 can be considered to be charged with the time constant CR as shown in the period T1 of the timing chart at the point d representing the charging voltage of the capacitor 36. When the gate voltage is at a high level, Nc
The hMOS transistor 35 is turned on, and the resistance value r in the conductive state is r << R. Accordingly, as shown in the period T2 of the timing chart at the point d, the capacitor 36 is discharged with the time constant Cr. Here, the period T1
Is a time constant C related to the period T2.
r is sufficiently larger than r. Capacitor 36
The circuit constant and the delay circuit 33 are set so that the electric charge charged in the period T1 can be sufficiently discharged in the period T2.
The delay time etc. is set.

【0025】コンデンサ36が最大限に充電されるとき
のd点の電圧をVFとし、発振回路31が正常に信号を
発生するときのコンデンサ36の最大電荷量に基づくd
点の最大電圧をV0とすると、正常発生時にd点の電圧
Vの範囲は、0<V<V0<VFである。比較回路38
の基準電圧VRは、0<V0<VR<VFを満たすよう
に設定される。比較回路38は、比較対象電圧が基準電
圧VRより小さい値であれば低レベルの信号を出力し、
比較対象電圧が基準電圧VR以上の場合には高レベルの
信号を出力する。信号が発振回路31から正常に発生す
る場合には、常に0<V0<VR<VFが成立するの
で、比較回路38は、図4の出力OUTのタイミングチ
ャートに示すように、低レベルLowの信号を出力す
る。発振回路31からの信号の発生が停止すると、図1
のa点は、バッファ32を介しているために高レベルま
たは低レベルのいずれかのレベルで固定される。
The voltage at point d when the capacitor 36 is charged to the maximum is VF, and d based on the maximum charge amount of the capacitor 36 when the oscillation circuit 31 normally generates a signal.
Assuming that the maximum voltage at the point is V0, the range of the voltage V at the point d at the time of normal occurrence is 0 <V <V0 <VF. Comparison circuit 38
Are set so as to satisfy 0 <V0 <VR <VF. The comparison circuit 38 outputs a low-level signal if the comparison target voltage is smaller than the reference voltage VR,
When the comparison target voltage is equal to or higher than the reference voltage VR, a high-level signal is output. When the signal is normally generated from the oscillation circuit 31, 0 <V0 <VR <VF is always satisfied. Therefore, as shown in the timing chart of the output OUT in FIG. Is output. When the generation of the signal from the oscillation circuit 31 stops, FIG.
Is fixed at either the high level or the low level because of passing through the buffer 32.

【0026】図5は、バッファ32の出力が高レベルで
固定される場合に、図1中のa点、b点、c点、および
d点と、比較回路38の出力OUTとについてのタイミ
ングチャートを示す。a点が高レベルで固定されると、
T2時間遅れてb点も高レベルで固定される。その結
果、排他的論理和ゲート34には2つの高レベルの信号
が入力され、c点のタイミングチャートに示すように、
排他的論理和ゲート34は常に低レベルを出力する。N
chMOSトランジスタ35は常にオフの状態となり、
d点のタイミングチャートに示されるように、バッファ
32の最後の出力レベル変化からディレイ回路33の遅
延時間T2だけ遅れて、コンデンサ36の連続的な充電
が開始される。充電開始から、d点の電圧Vが比較回路
38の基準電圧VR以上となる時間(以降、「停止検出
時間」と称する)tを経過すると、比較回路38は高レ
ベルの信号OUTを出力する。
FIG. 5 is a timing chart for points a, b, c, and d in FIG. 1 and the output OUT of the comparison circuit 38 when the output of the buffer 32 is fixed at a high level. Is shown. When point a is fixed at a high level,
The point b is also fixed at a high level with a delay of T2 time. As a result, two high-level signals are input to the exclusive OR gate 34, and as shown in the timing chart at the point c,
The exclusive OR gate 34 always outputs a low level. N
The chMOS transistor 35 is always off,
As shown in the timing chart at point d, continuous charging of the capacitor 36 is started with a delay of the delay time T2 of the delay circuit 33 from the last output level change of the buffer 32. When the time t when the voltage V at the point d becomes equal to or higher than the reference voltage VR of the comparison circuit 38 (hereinafter referred to as “stop detection time”) t from the start of charging, the comparison circuit 38 outputs a high-level signal OUT.

【0027】図6は、バッファ32の出力が低レベルで
固定される場合に、図1中のa点、b点、c点、および
d点と、比較回路38の出力OUTとについてのタイミ
ングチャートを示す。a点が低レベルで固定されると、
b点もT2時間遅れて低レベルで固定される。その結
果、排他的論理和ゲート34には2つの低レベルの信号
が入力され、c点のタイミングチャートに示すように、
排他的論理和ゲート34は常に低レベルを出力する。N
chMOSトランジスタ35は常にオフの状態となり、
コンデンサ36の連続的な充電が開始される。充電開始
から停止検出時間tを経過すると、d点の電圧Vが比較
回路38の基準電圧VR以上となり、比較回路38は高
レベルの信号を出力する。
FIG. 6 is a timing chart for points a, b, c, and d in FIG. 1 and the output OUT of the comparison circuit 38 when the output of the buffer 32 is fixed at a low level. Is shown. When point a is fixed at a low level,
Point b is also fixed at a low level with a delay of T2 time. As a result, two low-level signals are input to the exclusive OR gate 34, and as shown in the timing chart at the point c,
The exclusive OR gate 34 always outputs a low level. N
The chMOS transistor 35 is always off,
Continuous charging of the capacitor 36 is started. When the stop detection time t has elapsed from the start of charging, the voltage V at the point d becomes equal to or higher than the reference voltage VR of the comparison circuit 38, and the comparison circuit 38 outputs a high-level signal.

【0028】図1の実施形態において、先行する信号の
発生から、図5および図6に示される停止検出時間tよ
り短い期間内に後続の信号が発生する場合には、コンデ
ンサ36の充電電圧は比較回路38の基準電圧VRを越
えることがない。このため図1の実施形態では、積分回
路信号の停止検出時間tを適切に設定することによっ
て、発生の時間間隔が一定でない繰返し信号においても
発生停止検出を行うことができる。
In the embodiment shown in FIG. 1, when the subsequent signal is generated within a period shorter than the stop detection time t shown in FIGS. 5 and 6 from the generation of the preceding signal, the charging voltage of the capacitor 36 becomes It does not exceed the reference voltage VR of the comparison circuit 38. For this reason, in the embodiment of FIG. 1, by appropriately setting the stop detection time t of the integration circuit signal, the occurrence stop can be detected even in a repetitive signal in which the time interval of occurrence is not constant.

【0029】図7は、図1の実施形態をMOS−LSI
によって実現する場合の回路例を示す。発振回路31
は、LSI41に外付けされる帰還抵抗42と、コンデ
ンサ43と、水晶振動子などの振動子44と、LSI4
1内部のインバータによって構成される反転増幅器45
とで構成される。このような発振回路は、一般的に知ら
れている構成である。発振回路31は、時計用のクロッ
ク信号を発生すると想定する。振動子44の共振周波数
は、たとえば32kHz程度となる。
FIG. 7 shows a MOS-LSI according to the embodiment of FIG.
An example of a circuit in the case of realizing this is shown below. Oscillation circuit 31
Is a feedback resistor 42 externally connected to the LSI 41, a capacitor 43, a vibrator 44 such as a crystal vibrator,
1 Inverting amplifier 45 constituted by an internal inverter
It is composed of Such an oscillation circuit has a generally known configuration. It is assumed that the oscillation circuit 31 generates a clock signal for a clock. The resonance frequency of the vibrator 44 is, for example, about 32 kHz.

【0030】LSI41内部にディレイ回路33を構成
する方法としては、本実施形態における遅延時間は数n
〜数10n(ナノ)秒でよいので、インバータの入出力
間の遅延を利用して、インバータを偶数段直列に接続す
る方法を用いる。この方法は最も簡単で、回路規模を小
さくすることができる。このディレイ回路33はインバ
ータ46とインバータ47とで構成されている。
As a method of forming the delay circuit 33 inside the LSI 41, the delay time in this embodiment is several n.
Since it may be in the order of tens of nanoseconds, a method is used in which the inverters are connected in series in even-number stages using the delay between the input and output of the inverter. This method is the simplest and can reduce the circuit scale. The delay circuit 33 includes an inverter 46 and an inverter 47.

【0031】LSI41内部において比較回路38を簡
単に構成する方法としては、図8に示すような入出力特
性を有するインバータを前段とし、位相合わせ用の奇数
段のインバータ群を後段として、偶数段のインバータ群
によって実現する方法を用いる。比較回路38は、図8
に示ような入出力特性を有するインバータ48と位相合
わせ用のインバータ49とによって構成し、閾値VRを
基準電圧とする。
As a simple method of configuring the comparison circuit 38 inside the LSI 41, an inverter having input / output characteristics as shown in FIG. A method realized by an inverter group is used. The comparison circuit 38 shown in FIG.
And an inverter 49 for phase matching, and the threshold value VR is used as a reference voltage.

【0032】コンデンサ36と抵抗37とによって形成
される積分回路は、LSI41に外付けされており、L
SI41内部に実現する場合に比べて、時定数を大きく
することができる。たとえば、時計などの機能では一般
に約31μsの発振周期であるので、積分回路の時定数
は比較的大きくなる。図9に示す先行技術では、大きな
時定数の積分比較回路21を4つ用いる必要があるの
で、回路が大型化し、製造コストも上昇してしまう。本
実施形態では、積分回路が1つでよいので、回路の小型
化や低コスト化を図ることができる。積分回路の時定数
を、クロック信号の周期に合わせて設定し、1回でも発
振停止があれば検出し、たとえばLSI41の内部のメ
モリやレジスタなどにフラグとして記憶しておけば、発
振回路31の異常を容易に確認することができる。一旦
発振停止を検出しても、発振が再開されればコンデンサ
36は放電され、停止検出機能も再開することができ
る。
The integration circuit formed by the capacitor 36 and the resistor 37 is externally connected to the LSI 41,
The time constant can be increased as compared with the case where it is realized inside the SI 41. For example, the function of a clock or the like generally has an oscillation cycle of about 31 μs, so that the time constant of the integrating circuit is relatively large. In the prior art shown in FIG. 9, since it is necessary to use four integration / comparing circuits 21 having a large time constant, the circuit becomes large and the manufacturing cost increases. In the present embodiment, since only one integrating circuit is required, the size and cost of the circuit can be reduced. The time constant of the integrating circuit is set in accordance with the cycle of the clock signal, and if there is even one stop of oscillation, it is detected. Abnormalities can be easily confirmed. Even if the oscillation stop is detected once, if the oscillation is restarted, the capacitor 36 is discharged, and the stop detection function can be restarted.

【0033】なお、時計の用途で、数回の発振停止があ
っても、再び正常に発振すれば、この発振停止は機能上
問題とならない場合もある。このような場合、図7に示
すような構成の繰返し信号停止検出回路は、時定数を大
きく設定し、図5および図6に示される繰返し信号の発
生の停止検出時間tを長くすることによって、短い期間
の信号の発生停止では停止を検出しないようにすること
もできる。すなわち、時定数を大きく選ぶようにすれ
ば、広い範囲の繰返し信号の発生周期に対して、信号の
発生停止を検出することができる。
In the case of a timepiece, even if the oscillation is stopped several times, the oscillation may not cause a functional problem if the oscillation is normally performed again. In such a case, the repetitive signal stop detection circuit having the configuration as shown in FIG. 7 sets the time constant to be large and increases the stop detection time t of the generation of the repetitive signal shown in FIGS. It is also possible not to detect the stop when the signal stops for a short period of time. That is, if the time constant is selected to be large, it is possible to detect the stop of the signal generation in a wide range of the repetition signal generation cycle.

【0034】時計などの動作の基準であるクロック信号
は、たとえば分単位以上の長い信号発生停止の後、再び
正常に信号が発生する場合でも、動作からは時計が止ま
っていたかどうかが判別できない。このような場合にお
いて、比較回路38の出力信号は、過去に時計が止まっ
ている可能性のあることを示すフラグに用いることがで
きる。
The clock signal, which is a reference for the operation of a clock or the like, cannot determine whether or not the clock has stopped even if the signal is generated again normally after the generation of a signal longer than a minute is stopped. In such a case, the output signal of the comparison circuit 38 can be used as a flag indicating that the clock may have stopped in the past.

【0035】以上の説明で繰返し信号は発振回路から発
生されているけれども、コンピュータのプログラムに従
う一連の動作から所定の周期にて発生される信号などで
あっても同様に停止を検出することができる。したがっ
て、本発明を、ウォッチドッグタイマなどにも適用する
ことができる。
In the above description, although the repetitive signal is generated from the oscillation circuit, the stop can be similarly detected even if the signal is generated at a predetermined cycle from a series of operations according to a computer program. . Therefore, the present invention can be applied to a watchdog timer or the like.

【0036】また以上の説明でスイッチング素子のMO
SトランジスタはNチャネルであるけれども、回路構成
を変更してPチャネルでも実現することができる。ま
た、MOSトランジスタばかりではなく、バイポーラト
ランジスタや、サイリスタなど、他のスイッチング素子
でも同様に使用することができる。
In the above description, the MO of the switching element is
Although the S-transistor is an N-channel, it can also be realized with a P-channel by changing the circuit configuration. Further, not only MOS transistors but also other switching elements such as bipolar transistors and thyristors can be used similarly.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、スイッチ
ング素子は、変化検出回路が検出する繰返し信号の発生
に伴うレベル変化に応答して、レベルが変化する期間は
導通状態となり、レベルが変化しない期間は遮断状態と
なる。スイッチング素子の出力側には、並列に接続され
るコンデンサと、コンデンサを充電する抵抗とが設けら
れる。比較回路は、コンデンサの充電電圧が予め設定さ
れる基準電圧を越えるとき、繰返し信号の発生停止を表
す信号を導出するので、簡単な構成で繰返し信号を検出
することができる。繰返し信号として、発生停止の検出
対象の信号のみを入力すればよく、検出対象外の繰返し
信号を必要としないため、コストを大幅に削減すること
ができる。検出対象外の繰返し信号を用いると、その信
号自体が停止する恐れがあるけれども、そのような信号
を用いる必要はないので検出の信頼性を向上させること
ができる。
As described above, according to the present invention, the switching element is turned on in response to the level change accompanying the generation of the repetitive signal detected by the change detection circuit, while the level changes, and the switching element is turned on. During a period in which no change is made, the state is a cutoff state. On the output side of the switching element, a capacitor connected in parallel and a resistor for charging the capacitor are provided. When the charging voltage of the capacitor exceeds a preset reference voltage, the comparison circuit derives a signal indicating stoppage of generation of the repetitive signal, so that the repetitive signal can be detected with a simple configuration. As the repetitive signal, only the signal of the detection target of the occurrence stop need be input, and the repetition signal other than the detection target is not required, so that the cost can be significantly reduced. If a repetitive signal not to be detected is used, the signal itself may be stopped. However, since such a signal need not be used, the reliability of detection can be improved.

【0038】また本発明によれば、繰返し信号は、発振
回路の出力信号であるので、一定周期で発生されるクロ
ック信号などの発生停止を、確実に検出することができ
る。
Further, according to the present invention, since the repetitive signal is an output signal of the oscillation circuit, it is possible to reliably detect the stop of the generation of the clock signal or the like generated at a constant cycle.

【0039】また本発明によれば、変化検出回路は、繰
返し信号を矩形波に変換するバッファと、バッファの出
力を遅延させるディレイ回路と、ディレイ回路の出力お
よびバッファの出力の排他的論理和を演算する排他的論
理和ゲートとを含み、簡単に構成することができるむ。
スイッチング素子はMOSトランジスタであるので、導
通状態と遮断状態とで大きな抵抗値の変化を生じさせる
ことができ、検出回路からの論理的出力で容易に駆動す
ることができる。
According to the present invention, the change detecting circuit includes a buffer for converting the repetitive signal into a rectangular wave, a delay circuit for delaying the output of the buffer, and an exclusive OR of the output of the delay circuit and the output of the buffer. An exclusive OR gate for performing an operation is included, and the configuration can be simplified.
Since the switching element is a MOS transistor, a large change in resistance value can be caused between the conducting state and the blocking state, and the switching element can be easily driven by a logical output from the detection circuit.

【0040】また本発明によれば、変化検出回路とスイ
ッチング素子、および比較回路は、半導体集積回路チッ
プ内に形成されるので、小型に実装することができる。
コンデンサおよび抵抗から構成される積分回路は、半導
体集積回路チップ外に接続されるので、容易に時定数を
大きくすることができる。また時定数を調整して、信号
の発生停止検出時間の調整も容易に行うことができる。
According to the present invention, since the change detection circuit, the switching element, and the comparison circuit are formed in the semiconductor integrated circuit chip, they can be mounted in a small size.
Since the integration circuit including the capacitor and the resistor is connected outside the semiconductor integrated circuit chip, the time constant can be easily increased. Further, by adjusting the time constant, it is possible to easily adjust the signal generation stop detection time.

【0041】また本発明によれば、繰返し信号は、時計
としての動作の基準となるクロック信号であるので、た
とえば、クロック信号が発生停止して、その後再び信号
が発生するような場合に、比較回路の導出する信号を、
過去に時計が止まっている可能性のあることを示すフラ
グとして利用することができる。
Further, according to the present invention, the repetition signal is a clock signal which is a reference for the operation as a clock. For example, when the generation of the clock signal is stopped and then the signal is generated again, the comparison signal is output. The signal derived by the circuit is
It can be used as a flag indicating that the clock may have stopped in the past.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態である繰返し信号停止検
出回路の基本的な構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a basic configuration of a repetitive signal stop detection circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施形態のNchMOSトランジスタ3
5がオフの状態のときの等価回路を示すブロック図であ
る。
2 is an NchMOS transistor 3 according to the embodiment shown in FIG.
It is a block diagram which shows the equivalent circuit when 5 is in an OFF state.

【図3】図1の実施形態のNchMOSトランジスタ3
5がオンの状態のときの等価回路を示すブロック図であ
る。
FIG. 3 is an NchMOS transistor 3 according to the embodiment of FIG. 1;
It is a block diagram which shows the equivalent circuit when 5 is in an ON state.

【図4】図1の実施形態において、繰返し信号が正常に
発生しているときのタイミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart when a repetitive signal is normally generated in the embodiment of FIG. 1;

【図5】図1の実施形態において、バッファ32の出力
が高レベルで固定される場合のタイミングチャートであ
る。
FIG. 5 is a timing chart when the output of a buffer 32 is fixed at a high level in the embodiment of FIG. 1;

【図6】図1の実施形態において、バッファ32の出力
が低レベルで固定される場合のタイミングチャートであ
る。
FIG. 6 is a timing chart when the output of a buffer 32 is fixed at a low level in the embodiment of FIG. 1;

【図7】図1の実施形態をMOS−LSIで実現する場
合の回路構成を示す等価的な電気回路図である。
FIG. 7 is an equivalent electric circuit diagram showing a circuit configuration when the embodiment of FIG. 1 is realized by a MOS-LSI.

【図8】図7のインバータ48の入出力特性を示すグラ
フである。
8 is a graph showing input / output characteristics of the inverter 48 of FIG.

【図9】ある先行技術の論理的構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 9 is a block diagram showing a logical configuration of a related art.

【図10】他の先行技術の論理的構成を示すブロック図
である。
FIG. 10 is a block diagram showing a logical configuration of another prior art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

31 発振回路 32 バッファ 33 ディレイ回路 34 排他的論理和ゲート 35 NchMOSトランジスタ 36 コンデンサ 37 抵抗 38 比較回路 41 LSI 31 Oscillation Circuit 32 Buffer 33 Delay Circuit 34 Exclusive OR Gate 35 NchMOS Transistor 36 Capacitor 37 Resistance 38 Comparison Circuit 41 LSI

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定周期で繰返し発生される信号の発生
停止を検出する回路であって、 信号の発生に伴うレベル変化を検出する変化検出回路
と、 変化検出回路が検出する信号のレベル変化に応答して、
信号レベルが変化する期間は導通状態となり、信号レベ
ルが変化しない期間は遮断状態となるスイッチング素子
と、 スイッチング素子の出力側に並列に接続されるコンデン
サと、 コンデンサを充電するために、直流電源とコンデンサの
一端との間に接続される抵抗と、 コンデンサの充電電圧を予め設定される基準電圧を越え
るとき、繰返し信号の発生停止を表す信号を導出する比
較回路とを含むことを特徴とする繰返し信号停止検出回
路。
1. A circuit for detecting a stop of generation of a signal that is repeatedly generated at a predetermined cycle, comprising: a change detection circuit for detecting a level change accompanying the generation of a signal; and a circuit for detecting a level change of a signal detected by the change detection circuit. pls respond,
A switching element that is in a conductive state during a period in which the signal level changes, and is in a non-conductive state during a period in which the signal level does not change, a capacitor connected in parallel to the output side of the switching element, and a DC power supply to charge the capacitor. A resistor connected between one end of the capacitor and a comparison circuit for deriving a signal indicating stop of generation of the repetitive signal when the charged voltage of the capacitor exceeds a preset reference voltage. Signal stop detection circuit.
【請求項2】 前記繰返し信号は、発振回路の出力信号
であることを特徴とする請求項1記載の繰返し信号停止
検出回路。
2. The circuit according to claim 1, wherein the repetition signal is an output signal of an oscillation circuit.
【請求項3】 前記変化検出回路は、 繰返し信号を波形整形して矩形波に変換するバッファ
と、 バッファの出力を遅延させるディレイ回路と、 ディレイ回路の出力およびバッファの出力の排他的論理
和を演算する排他的論理和ゲートとを含み、 前記スイッチング素子は、MOSトランジスタであるこ
とを特徴とする請求項1または2記載の繰返し信号停止
検出回路。
3. A change detection circuit, comprising: a buffer for shaping a repetitive signal into a waveform by converting the waveform to a rectangular wave; a delay circuit for delaying an output of the buffer; and an exclusive OR of an output of the delay circuit and an output of the buffer. The repetitive signal stop detection circuit according to claim 1 or 2, further comprising an exclusive OR gate for performing an operation, wherein the switching element is a MOS transistor.
【請求項4】 前記変化検出回路、前記スイッチング素
子、および前記比較回路は、半導体集積回路チップ内に
形成され、 前記コンデンサおよび抵抗は、半導体集積回路チップ外
に積分回路として形成されることを特徴とする請求項1
〜3のいずれかに記載の繰返し信号停止検出回路。
4. The semiconductor device according to claim 1, wherein the change detection circuit, the switching element, and the comparison circuit are formed in a semiconductor integrated circuit chip, and the capacitor and the resistor are formed as an integration circuit outside the semiconductor integrated circuit chip. Claim 1
4. The repetitive signal stop detection circuit according to any one of claims 1 to 3.
【請求項5】 前記繰返し信号は、時計としての動作の
基準となるクロック信号であることを特徴とする請求項
1〜4のいずれかに記載の繰返し信号停止検出回路。
5. The repetitive signal stop detection circuit according to claim 1, wherein the repetitive signal is a clock signal serving as a reference for operation as a clock.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007207229A (en) * 2006-02-01 2007-08-16 Samsung Electronics Co Ltd Memory card, data driving method of memory card, and memory card system
JP2008153718A (en) * 2006-12-14 2008-07-03 Meidensha Corp Clock signal stop decision circuit
JP2008252261A (en) * 2007-03-29 2008-10-16 Seiko Epson Corp Malfunction detection circuit

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