JPH1179884A - Liquid phase epitaxial growth apparatus and growing method - Google Patents
Liquid phase epitaxial growth apparatus and growing methodInfo
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- JPH1179884A JPH1179884A JP23362397A JP23362397A JPH1179884A JP H1179884 A JPH1179884 A JP H1179884A JP 23362397 A JP23362397 A JP 23362397A JP 23362397 A JP23362397 A JP 23362397A JP H1179884 A JPH1179884 A JP H1179884A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体溶液中で半導
体基板上に半導体結晶を成長させる液相エピタキシャル
成長装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid phase epitaxial growth apparatus for growing a semiconductor crystal on a semiconductor substrate in a semiconductor solution.
【0002】[0002]
【従来の技術】図4は従来例の液相エピタキシャル成長
装置および成長工程をを示す図である。図4(a)に示
されるように、筐体51はその中央部に仕切板52を有
しており、成長漕53と、溶液漕54に分けられてい
る。溶液漕54には筐体51の外部から溶液を押すため
のピストン55が取付けられている。この液相エピタキ
シャル成長装置50は、一般に高純度処理をされたグラ
ファイトによって形成されている。2. Description of the Related Art FIG. 4 is a view showing a conventional liquid phase epitaxial growth apparatus and a growth process. As shown in FIG. 4A, the housing 51 has a partition plate 52 at the center thereof, and is divided into a growth tank 53 and a solution tank 54. A piston 55 for pushing the solution from outside the housing 51 is attached to the solution tank 54. The liquid phase epitaxial growth apparatus 50 is generally formed of graphite that has been subjected to high purity processing.
【0003】成長漕53にはグラファイトの基板フォル
ダー56に支持された半導体基板57が入れられてい
る。一方、溶液漕54にはエピタキシャル成長層の材料
となる材料58’が入れられている。半導体基板57と
して例えば、GaAs基板が使用され、また、材料5
8’としてはGa、GaAs多結晶およびドーパント等
が使用される。A growth tank 53 contains a semiconductor substrate 57 supported by a graphite substrate folder 56. On the other hand, the solution tank 54 contains a material 58 'to be a material of the epitaxial growth layer. As the semiconductor substrate 57, for example, a GaAs substrate is used.
As 8 ', Ga, GaAs polycrystal, dopant and the like are used.
【0004】この状態で、液相エピタキシャル成長装置
50を水素ガス雰囲気中の成長炉に入れ、800〜10
00℃程度まで昇温する。すると溶液漕の物質が溶解し
て、図4(b)に示すように溶液58になる。この状態
で、温度をしばらく一定に保ち液相エピタキシャル成長
装置50の温度を安定させる。In this state, the liquid-phase epitaxial growth apparatus 50 is put into a growth furnace in a hydrogen gas atmosphere, and
The temperature is raised to about 00 ° C. Then, the substance in the solution tank is dissolved to form a solution 58 as shown in FIG. In this state, the temperature is kept constant for a while, and the temperature of the liquid phase epitaxial growth apparatus 50 is stabilized.
【0005】次に、ピストン55を仕切板52の方向に
移動させる。すると図4(c)に示されるように溶液5
8は仕切板52を乗り越えて、成長漕53の方へ移動す
る。基板ホルダー56および、それに縦置された半導体
基板57が溶液58に浸される。この状態で徐々に冷却
し、半導体基板57上に溶液58の成分をエピタキシャ
ル成長させる。[0005] Next, the piston 55 is moved in the direction of the partition plate 52. Then, as shown in FIG.
8 moves over the partition plate 52 toward the growth tank 53. The substrate holder 56 and the semiconductor substrate 57 placed vertically on the substrate holder 56 are immersed in the solution 58. In this state, the component is gradually cooled, and the components of the solution 58 are epitaxially grown on the semiconductor substrate 57.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】液相エピタキシャル成
長法では、成長の過程として、成長界面まで成長物質が
運ばれていく過程と、運ばれた物質が結晶となって析出
する過程の2つの過程があるが、前者の成長過程に影響
するものの1つとして、溶液を降温させたときの放熱の
状態があり、その放熱の状態は、成長漕の形状及び素材
とその中にある溶液との温度特性の差が影響している。In the liquid phase epitaxial growth method, two processes of growth are carried out: a process of transporting a grown material to a growth interface and a process of depositing the transported material as crystals. However, one of the factors that influence the former growth process is the state of heat radiation when the temperature of the solution is lowered. The heat radiation state depends on the shape of the growth tank and the temperature characteristics of the material and the solution in it. The difference is affecting.
【0007】すなわち、溶液の溶媒であるGaはグラフ
ァイトの液相エピタキシャル成長装置に比べ熱伝導率が
小さいので、冷却過程において成長漕の内壁付近と成長
漕の中心付近では温度差が生じる。つまり、成長漕の内
壁付近では冷却操作に対する反応が早く成長しやすい半
面、成長漕の中心付近では、冷却操作に対する反応が遅
く成長しにくい。That is, since Ga, which is the solvent of the solution, has a lower thermal conductivity than the liquid phase epitaxial growth apparatus for graphite, a temperature difference occurs near the inner wall of the growth tank and near the center of the growth tank during the cooling process. That is, the reaction to the cooling operation tends to grow quickly near the inner wall of the growth tank, but the reaction to the cooling operation is slow and hard to grow near the center of the growth tank.
【0008】さらに、図4の従来例に示すような半導体
基板を縦置きに並べた構造である場合、一度にできるだ
け多くの半導体基板の処理を行うためには基板と基板と
の間隔をできるだけ狭くする必要があり、基板中央部で
は溶質の供給がされ難い状態となり成長速度が遅くな
る。一方、基板の周辺部は基板の外周方向からも溶液が
周囲を取り囲むので溶質の供給源となっており、成長速
度が大きくなる。Further, in the case of a structure in which semiconductor substrates are arranged vertically as shown in the conventional example of FIG. 4, in order to process as many semiconductor substrates as possible at once, the distance between the substrates is made as small as possible. In the central part of the substrate, it is difficult to supply the solute, and the growth rate is reduced. On the other hand, the periphery of the substrate is also a solute supply source since the solution also surrounds the periphery from the outer peripheral direction of the substrate, and the growth rate increases.
【0009】上述のように、従来例の液相エピタキシャ
ル成長装置では半導体基板中央部に比べ周辺部が厚くな
りエピタキシャル成長膜厚が不均一になっていた。As described above, in the conventional liquid phase epitaxial growth apparatus, the peripheral portion is thicker than the central portion of the semiconductor substrate, and the epitaxial growth film thickness is not uniform.
【0010】本発明は上述の問題点を鑑みてなされたも
のであり、半導体基板に均一なエピタキシャル成長層が
形成できる液相エピタキシャル成長装置を提供すること
を目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a liquid phase epitaxial growth apparatus capable of forming a uniform epitaxial growth layer on a semiconductor substrate.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
液相エピタキシャル成長装置は半導体材料を溶融した溶
液中で半導体基板上に結晶を成長させる液相エピタキシ
ャル成長装置において、半導体基板近傍の溶液を周りの
溶液から隔離するための遮蔽部材を有することを特徴と
するものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a liquid phase epitaxial growth apparatus for growing a crystal on a semiconductor substrate in a solution in which a semiconductor material is melted. It has a shielding member for isolating it from the surrounding solution.
【0012】また、本発明の請求項2記載の液相エピタ
キシャル成長装置は、エピタキシャル成長するときには
前記遮蔽部材の外側が溶液に接していることを特徴とす
るものである。In the liquid phase epitaxial growth apparatus according to a second aspect of the present invention, the outside of the shielding member is in contact with the solution during epitaxial growth.
【0013】また、本発明の請求項3記載の液相エピタ
キシャル成長方法は半導体材料を溶融した溶液中で半導
体基板上に結晶を成長させる液相エピタキシャル成長方
法であって、溶液中に半導体基板を浸した後、半導体基
板近傍の溶液を半導体基板とともに隔離するとともに、
その他の溶液を遮蔽部材の周りに配置して冷却を行い、
前記半導体基板上に結晶を成長させることを特徴とする
ものである。A liquid phase epitaxial growth method according to a third aspect of the present invention is a liquid phase epitaxial growth method for growing a crystal on a semiconductor substrate in a solution in which a semiconductor material is melted, wherein the semiconductor substrate is immersed in the solution. Later, while isolating the solution near the semiconductor substrate together with the semiconductor substrate,
Other solutions are placed around the shielding member and cooled,
A crystal is grown on the semiconductor substrate.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施の形態であ
る液相エピタキシャル成長装置を示す略断面図である。
図1において筐体11は仕切板12で2つの部分に分け
られており、一方はシャッター19を格納するための格
納室13であり、もう一方は溶液漕14である。仕切板
12には遮蔽部材であるシャッター19が移動するため
の開口部12aが設けられており、シャッター19は連
接棒20を操作することによって、格納室13と溶液漕
14との間を移動させることができる。シャッター19
は開口部12aと嵌め合わされており、シャッター19
と開口部12aの隙間から溶液が漏れることはない。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a liquid phase epitaxial growth apparatus according to an embodiment of the present invention.
In FIG. 1, the casing 11 is divided into two parts by a partition plate 12, one of which is a storage chamber 13 for storing a shutter 19, and the other is a solution tank 14. The partition plate 12 is provided with an opening 12a through which a shutter 19 as a shielding member is moved. The shutter 19 is moved between the storage chamber 13 and the solution tank 14 by operating the connecting rod 20. be able to. Shutter 19
Is fitted with the opening 12a, and the shutter 19
The solution does not leak from the gap between the opening 12a.
【0015】シャッター19と対向する位置に基板を保
持するための基板ホルダー16が設けられ、その中に半
導体基板を所定の間隔をもって縦置できる。基板ホルダ
ー16は連接棒15の先に取付けられており、連接棒1
5を操作することにより、基板ホルダー16は開口部1
2aを介して、格納室13と溶液漕14との間を移動さ
せることができる。また、基板ホルダー16は壁部16
a及び壁部16bを有しており、壁部16aは基板ホル
ダーが16が格納室13に移動したとき、開口部12a
を塞ぐ機能があり、また、壁部16bは基板ホルダーが
溶液漕14に移動したとき、格納室13にあるシャッタ
ー19内の空間に溶液が侵入しないようにする働きがあ
る。A substrate holder 16 for holding the substrate is provided at a position facing the shutter 19, and the semiconductor substrates can be vertically arranged at a predetermined interval in the substrate holder. The substrate holder 16 is attached to the end of the connecting rod 15,
5, the substrate holder 16 moves the opening 1
It is possible to move between the storage chamber 13 and the solution tank 14 via 2a. Further, the substrate holder 16 is attached to the wall 16.
a and a wall portion 16b, and the wall portion 16a has an opening 12a when the substrate holder 16 moves to the storage room 13.
The wall 16b has a function of preventing the solution from entering the space inside the shutter 19 in the storage chamber 13 when the substrate holder moves to the solution tank 14.
【0016】上述の液相エピタキシャル成長装置10
は、高純度処理されたグラファイトより形成されてい
る。半導体基板17は基板ホルダー16内に所定の間隔
をおいて縦置されている。The above-described liquid phase epitaxial growth apparatus 10
Is formed from graphite that has been subjected to high purity processing. The semiconductor substrates 17 are vertically arranged at predetermined intervals in the substrate holder 16.
【0017】図2は液相エピタキシャル成長装置よるエ
ピタキシャル成長の工程図であり、また、図3はその工
程の温度制御を示すグラフである。FIG. 2 is a process chart of the epitaxial growth using the liquid phase epitaxial growth apparatus, and FIG. 3 is a graph showing the temperature control in the process.
【0018】図2(a)において、シャッター19は格
納室13にあり、シャッター19内には基板ホルダー1
6が挿入されている。基板ホルダー16には例えばGa
As材料でできた半導体基板17が縦方向に所定の間隔
をもって多数固定されている。In FIG. 2A, the shutter 19 is located in the storage room 13, and the substrate holder 1 is located in the shutter 19.
6 has been inserted. For example, Ga
A large number of semiconductor substrates 17 made of As material are fixed at predetermined intervals in the vertical direction.
【0019】基板ホルダー16は格納室13側にあっ
て、壁部16aによって、開口部12aを塞ぐようにセ
ットされている。溶液漕14にはエピタキシャル成長さ
せる溶液の成分であるGa、GaAsの多結晶、ドーパ
ント等の材料18’が入れられている。The substrate holder 16 is located on the storage chamber 13 side, and is set so as to close the opening 12a with the wall 16a. The solution tank 14 is filled with a material 18 'such as Ga, GaAs polycrystal, or dopant, which is a component of a solution to be epitaxially grown.
【0020】この状態で液相エピタキシャル成長装置1
0を水素ガス雰囲気中の成長炉に入れ、図3に示される
ように温度を制御して、800〜1000℃まで昇温す
ることにより、図2(b)に示されるように、材料1
8’を融解させて溶液18にする。続いて、図3に示さ
れるように、所定の時間(1〜3時間程度)この温度を
維持(ホールド)して全体が均一な組成の溶液になるよ
うにする。In this state, the liquid phase epitaxial growth apparatus 1
0 was put into a growth furnace in a hydrogen gas atmosphere, and the temperature was controlled as shown in FIG. 3 to raise the temperature to 800 to 1000 ° C., thereby obtaining the material 1 as shown in FIG.
8 ′ is melted into solution 18. Subsequently, as shown in FIG. 3, the temperature is maintained (held) for a predetermined period of time (about 1 to 3 hours) so that a solution having a uniform composition as a whole is obtained.
【0021】続いて、図2(c)に示されるように、連
接棒15を操作して、基板ホルダー16を半導体基板1
7とともに溶液18の満たされた溶液漕14に引き入
れ、半導体基板17を溶液18に接触させる。このと
き、シャッター19内に溶液18が流れ込むと溶液漕1
4の液面レベルがさがり、半導体基板17の面内に溶液
18が接触しない怖れがある。しかし、シャッター19
内の基板ホルダー16は壁部16bによってシャッター
19と嵌め合わされているので、シャッター19内の空
間に溶液18が流れ込むことを防ぐことができる。Subsequently, as shown in FIG. 2C, the connecting rod 15 is operated to move the substrate holder 16 to the semiconductor substrate 1.
The semiconductor substrate 17 is brought into contact with the solution 18 together with the solution 7 into the solution tank 14 filled with the solution 18. At this time, when the solution 18 flows into the shutter 19, the solution tank 1
There is a fear that the liquid level of 4 drops and the solution 18 does not contact the surface of the semiconductor substrate 17. However, shutter 19
Since the substrate holder 16 inside is fitted to the shutter 19 by the wall portion 16b, it is possible to prevent the solution 18 from flowing into the space inside the shutter 19.
【0022】続いて、図2(d)に示されるように、連
接棒20を操作することにより、シャッター19を溶液
漕14の中に移動させる。シャッター19の周りは溶液
でみたされ、シャッター19の内の溶液18aとシャッ
ター19の外の溶液18bが遮断される。結晶成長に使
用される液体は、シャッター19の内側の溶液18aだ
けであり、結晶成長するのに必要最小限の溶液に限られ
る。また、シャッター19の外側の溶液18bがエピタ
キシャル層の成長に使われることはない。Subsequently, as shown in FIG. 2D, the shutter 19 is moved into the solution tank 14 by operating the connecting rod 20. The solution around the shutter 19 is seen, and the solution 18a inside the shutter 19 and the solution 18b outside the shutter 19 are shut off. The liquid used for crystal growth is only the solution 18a inside the shutter 19, and is limited to a minimum solution necessary for crystal growth. Further, the solution 18b outside the shutter 19 is not used for growing the epitaxial layer.
【0023】続いて、図2(e)に示されるように、連
接棒15および連接棒20を操作して基板ホルダー16
をエピタキシャル成長位置に移動する。Subsequently, as shown in FIG. 2E, the connecting rods 15 and 20 are operated to operate the substrate holder 16.
To the epitaxial growth position.
【0024】図3に示されるように図2(c)、
(d)、(e)の操作完了後に冷却が行われ、0.5℃
/min〜3℃/minの冷却速度で500℃〜700
℃まで降温させることにより結晶成長させ、半導体基板
17上にエピタキシャル層が形成される。このとき、シ
ャッタの外側はその大部分が溶液18bと接触してお
り、冷却過程で熱伝導率の良いグラファイトのシャッタ
ー19が溶液18に比べて急激に温度が低下することは
ない。As shown in FIG. 3, FIG.
After completion of the operations (d) and (e), cooling is performed,
/ Min to 3 ° C / min at a cooling rate of 500 ° C to 700 ° C
The crystal is grown by lowering the temperature to ° C., and an epitaxial layer is formed on the semiconductor substrate 17. At this time, most of the outside of the shutter is in contact with the solution 18b, and the temperature of the graphite shutter 19 having good thermal conductivity does not drop sharply compared with the solution 18 during the cooling process.
【0025】その後、成長炉から液相エピタキシャル成
長装置を取りだし、液相エピタキシャル成長装置を各パ
ーツに分解して半導体基板及び溶液を取り出す。Thereafter, the liquid phase epitaxial growth apparatus is taken out of the growth furnace, and the liquid phase epitaxial growth apparatus is disassembled into parts, and the semiconductor substrate and the solution are taken out.
【0026】従来例に示したエピタキシャル成長法で
は、基板の中央部のエピタキシャル成長層にくらべ、周
辺部のエピタキシャル成長層は平均20%程度厚かった
が、上述の方法によってエピタキシャル成長を行った結
果、5%程度に抑えることができた。In the epitaxial growth method shown in the conventional example, the thickness of the epitaxial growth layer in the peripheral portion is about 20% thicker than the thickness of the epitaxial growth layer in the central portion of the substrate. Could be suppressed.
【0027】シャッター19の周りが溶液18bによっ
て満たされており、冷却過程におけるシャッター19と
溶液との温度差は少なくなるので、シャッター19内の
溶液の温度分布が均一に近付くので、半導体基板上に均
一なエピタキシャル層が形成することができる。The periphery of the shutter 19 is filled with the solution 18b, and the temperature difference between the shutter 19 and the solution in the cooling process is reduced, so that the temperature distribution of the solution in the shutter 19 approaches uniformity. A uniform epitaxial layer can be formed.
【0028】また、エピタキシャル成長に使用される溶
液はシャッター内の溶液に限られ、基板の外周方向から
の溶質の補給がなくなるので、基板の周辺部が中央部よ
りも多く成長することを防止でき、均一なエピタキシャ
ル層を形成することができる。Further, the solution used for epitaxial growth is limited to the solution in the shutter, and solutes are not supplied from the outer peripheral direction of the substrate. Therefore, it is possible to prevent the peripheral portion of the substrate from growing more than the central portion. A uniform epitaxial layer can be formed.
【0029】[0029]
【発明の効果】本発明の請求項1記載の液相エピタキシ
ャル成長装置によれば、半導体材料を溶融した溶液中で
半導体基板上に結晶を成長させる液相エピタキシャル成
長装置であって、半導体基板近傍の溶液を周りの溶液か
ら隔離するための遮蔽部材を有することにより、半導体
基板の周辺部が中央部よりも多く成長することを防止で
き、半導体基板上に均一なエピタキシャル層を形成する
ことができる。According to the liquid phase epitaxial growth apparatus according to the first aspect of the present invention, there is provided a liquid phase epitaxial growth apparatus for growing a crystal on a semiconductor substrate in a solution in which a semiconductor material is melted. Having a shielding member for isolating the semiconductor substrate from the surrounding solution can prevent the peripheral portion of the semiconductor substrate from growing more than the central portion, and can form a uniform epitaxial layer on the semiconductor substrate.
【0030】また、本発明の請求項2記載の液相エピタ
キシャル成長装置によれば、エピタキシャル成長すると
きには前記遮蔽部材の外側が溶液に接していることを特
徴とするものであり、外側の溶液が遮蔽部材からの放熱
を防ぐため、遮蔽部材と半導体基板近傍の溶液との温度
差が少なくなり、半導体基板上に均一なエピタキシャル
層を形成することができる。Further, according to the liquid phase epitaxial growth apparatus of the second aspect of the present invention, the outside of the shielding member is in contact with the solution during epitaxial growth, and the outer solution is the shielding member. In order to prevent heat radiation from the semiconductor substrate, the temperature difference between the shielding member and the solution near the semiconductor substrate is reduced, and a uniform epitaxial layer can be formed on the semiconductor substrate.
【0031】また、本発明の請求項3記載の液相エピタ
キシャル成長方法によれば、半導体材料を溶融した溶液
中で半導体基板上に結晶を成長させる液相エピタキシャ
ル成長方法であって、溶液中に半導体基板を浸した後、
半導体基板近傍の溶液を半導体基板とともに隔離すると
ともに、その他の溶液を遮蔽部材の周りに配置して冷却
を行い、前記半導体基板上に結晶を成長させることによ
り、半導体基板上に均一なエピタキシャル層を形成する
ことができる。According to a third aspect of the present invention, there is provided a liquid phase epitaxial growth method for growing a crystal on a semiconductor substrate in a solution in which a semiconductor material is melted. After soaking,
While isolating the solution near the semiconductor substrate together with the semiconductor substrate, arranging other solutions around the shielding member to perform cooling, and growing crystals on the semiconductor substrate, a uniform epitaxial layer is formed on the semiconductor substrate. Can be formed.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】本発明の一実施の形態である液相エピタキシャ
ル成長装置を示す略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a liquid phase epitaxial growth apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施の形態である液相エピタキシャ
ル成長装置よるエピタキシャル成長の工程を示す略断面
図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a step of epitaxial growth by a liquid phase epitaxial growth apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図3】液相エピタキシャル成長装置の温度制御を示す
グラフである。FIG. 3 is a graph showing temperature control of the liquid phase epitaxial growth apparatus.
【図4】従来例の液相エピタキシャル成長装置および成
長工程を示す略断面図である。FIG. 4 is a schematic sectional view showing a conventional liquid phase epitaxial growth apparatus and a growth process.
10 液相エピタキシャル成長装置 11 筐体 12 仕切板 12a (仕切板の)開口部 13 格納室 14 溶液漕 15 連接棒 16 基板ホルダ 16a、16b (基板ホルダの)壁部 17 半導体基板 18 溶液 18a (シャッターの内側の)溶液 18b (シャッターの外側の)溶液 19 シャッター 20 連接棒 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Liquid-phase epitaxial growth apparatus 11 Housing 12 Partition plate 12a Opening (of partition plate) 13 Storage room 14 Solution tank 15 Connecting rod 16 Substrate holder 16a, 16b Wall of substrate holder 17 Semiconductor substrate 18 Solution 18a (of shutter) Solution 18b (inside) Solution 19 (outside shutter) 19 Shutter 20 Connecting rod
Claims (3)
板上に結晶を成長させる液相エピタキシャル成長装置に
おいて、半導体基板近傍の溶液をその周りの溶液から隔
離するための遮蔽部材を有することを特徴とする液相エ
ピタキシャル成長装置。1. A liquid phase epitaxial growth apparatus for growing a crystal on a semiconductor substrate in a solution in which a semiconductor material is melted, comprising a shielding member for isolating a solution near the semiconductor substrate from a solution around the semiconductor substrate. Liquid phase epitaxial growth equipment.
装置であって、エピタキシャル成長するときには前記遮
蔽部材の外側が溶液に接していることを特徴とする液相
エピタキシャル成長装置。2. The liquid phase epitaxial growth apparatus according to claim 1, wherein the outside of said shielding member is in contact with a solution during epitaxial growth.
板上に結晶を成長させる液相エピタキシャル成長方法で
あって、溶液中に半導体基板を浸した後、半導体基板近
傍の溶液を半導体基板とともに隔離するとともに、その
他の溶液を遮蔽部材の周りに配置して冷却を行い、前記
半導体基板上に結晶を成長させることを特徴とする液相
エピタキシャル成長方法。3. A liquid phase epitaxial growth method for growing a crystal on a semiconductor substrate in a solution in which a semiconductor material is melted, wherein the solution near the semiconductor substrate is isolated together with the semiconductor substrate after the semiconductor substrate is immersed in the solution. And a liquid phase epitaxial growth method comprising arranging another solution around the shielding member and performing cooling to grow a crystal on the semiconductor substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23362397A JPH1179884A (en) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | Liquid phase epitaxial growth apparatus and growing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23362397A JPH1179884A (en) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | Liquid phase epitaxial growth apparatus and growing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1179884A true JPH1179884A (en) | 1999-03-23 |
Family
ID=16957956
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23362397A Pending JPH1179884A (en) | 1997-08-29 | 1997-08-29 | Liquid phase epitaxial growth apparatus and growing method |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH1179884A (en) |
-
1997
- 1997-08-29 JP JP23362397A patent/JPH1179884A/en active Pending
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