JPH1177323A - 抵抗溶接の品質監視装置 - Google Patents

抵抗溶接の品質監視装置

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JPH1177323A
JPH1177323A JP24650097A JP24650097A JPH1177323A JP H1177323 A JPH1177323 A JP H1177323A JP 24650097 A JP24650097 A JP 24650097A JP 24650097 A JP24650097 A JP 24650097A JP H1177323 A JPH1177323 A JP H1177323A
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welding
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welded
welding tip
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Toji Kin
東治 金
Fumihiko Abe
文彦 安倍
Kengo Tanaka
賢吾 田中
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】導電率の高い被溶接材に対する抵抗溶接の品質
を監視するとともに、溶接チップの消耗状態や被溶接材
との接触状態を監視する抵抗溶接の品質監視装置。 【解決手段】被溶接材W1、W2を一対の溶接チップ
A,Bで挟み、溶接チップ間に溶接電流を流し、被溶接
材を接合する抵抗溶接の品質を監視するのに、被溶接材
の電位を測定する検出電極1、2と、これで測定された
被溶接材の電位に基づいて、被溶接物の電圧を検出する
被溶接材間電圧検出部3と、検出された電圧に基づい
て、溶接の良否を判定する溶接良否判定部4と、溶接チ
ップと検出電極で検出された被溶接物の電位に基づい
て、溶接チップと被溶接材間の電圧を検出する溶接チッ
プ−被溶接材間電圧検出部5、7と、これで検出された
電圧に基づいて、溶接チップの消耗状態及び被溶接との
接触状態を監視する溶接チップ監視部6、8とを有す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、抵抗溶接の品質監
視装置に関し、特に、導電率の高い被溶接材に対する抵
抗溶接の品質を監視するのに適合した抵抗溶接の品質監
視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、抵抗溶接は作業速度が速く、大
量生産に適するので、自動車工業、電池工業等に幅広く
使用されている。抵抗溶接では、溶接部を直接監視でき
ないため、溶接の品質を監視するために、非破壊検査法
による品質監視装置が用いられる。
【0003】抵抗溶接の品質監視装置は、従来から種々
開発されており、例えば特開平6ー170552号公
報、特開平8ー122286号公報に開示されている。
図6(a)は、従来の抵抗溶接の品質監視装置を概略的
に示す構成図である。
【0004】図6(a)に示すように、複数の被溶接材
W(図面では2個)は、溶接機の上側溶接チップA及び
下側溶接チップBの間に挟まれ、電源10から上側溶接
チップA及び下側溶接チップB間に溶接電流が流れるこ
とにより、溶融し接合される。
【0005】従来の品質監視装置は、溶接チップA,B
間の電圧を検出する溶接チップ間電圧検出部11と、そ
の溶接チップ間電圧検出部11で検出された溶接チップ
間電圧に基づいて溶接の良否を判定する溶接良否判定部
12とを有する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】溶接チップA,B間
(電圧検出点Sと電圧検出点T間)に存在する抵抗は、
図6(b)に示すように、検出点Sと上側溶接チップA
間の導体抵抗RA、上側溶接チップAと被溶接材W間の
接触抵抗RS1、被溶接材Wの導体抵抗RW1、被溶接
材W間の接触抵抗RS2、被溶接材Wの導体抵抗RW
2、下側溶接チップBと被溶接材W間の接触抵抗RS
3、検出点Tと下側溶接チップB間の導体抵抗RBの7
つの抵抗からなる。従って、溶接チップA,B間の全抵
抗RTは、 RT=RA+RS1+RW1+RS2+RW2+RS3
+RB である。
【0007】今、上側溶接チップA側の検出点Sと被溶
接材W間の電圧をΔVAW、被溶接材W間の電圧をΔV
W、下側溶接チップB側の検出点Tと被溶接材W間の電
圧をΔVBWとする。ここで、ΔVW=(RW1+RS
2+RW2)×I(Iは溶接電流)である。
【0008】溶接品質を正確に監視するためには、溶接
熱の測定が非常に重要である。この溶接熱は、溶接電流
値、通電時間、ΔVWにより大きな影響を受ける。
【0009】従来の品質監視装置は、溶接熱の測定を、
(ΔVAW+ΔVW+ΔVBW)に基づいて行ってい
た。自動車のボディ等の製造で鉄板等を抵抗溶接する場
合、被溶接材Wの導電率が溶接チップA,Bの導電率よ
りも数倍低く、(RW1+RS2+RW2)/RT≒1
が成立するので、ΔVAWとΔVBWを無視して品質の
良品判定を行っても大きな問題はない。
【0010】しかし、リードフレーム、自動車の電装
品、電池等の製造で銅等の非鉄金属を抵抗溶接する場
合、被溶接材Wの導電率が高いため、(RW1+RS2
+RW2)/RTが1よりかなり小さくなり、溶接チッ
プの導体抵抗RA、RB及び接触抵抗RS1、RS3を
無視できなくなる。従って、従来の品質監視装置では検
出点の位置変動、溶接チップの消耗、溶接チップの材質
の変動等の影響により品質判断に大きな誤差が生じるお
それがあり、特に、銅や銅合金等の導電率の高い部材を
抵抗溶接により高密度に実装する際の品質の監視には限
界がある。
【0011】また、従来の品質監視装置は、溶接チップ
の消耗状態や被溶接材との接触状態を監視することがで
きなかった。
【0012】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、被溶接材間の電圧を直接的に測定する
ことにより、導電率の高い被溶接材に対する抵抗溶接の
品質を確実に監視するとともに、溶接チップの消耗状態
や被溶接材との接触状態を監視する抵抗溶接の品質監視
装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の被溶接
材を一対の溶接チップで挟み、溶接チップ間に溶接電流
を流すことにより、各被溶接材間を接合する抵抗溶接の
品質を監視する装置において、各被溶接材の電位を測定
するために各被溶接材と電気的に接続される検出電極
と、その検出電極によって測定された各被溶接材の電位
に基づいて、被溶接材間の電圧を検出する被溶接材間電
圧検出手段と、その被溶接材間電圧検出手段によって検
出された被溶接材間の電圧に基づいて、溶接の良否を判
定する溶接良否判定手段と、溶接チップと検出電極で検
出された被溶接材の電位に基づいて、溶接チップと被溶
接材間の電圧を検出する溶接チップー被溶接材間電圧検
出手段と、その溶接チップー被溶接材間電圧検出手段に
よって検出された溶接チップー被溶接材間電圧に基づい
て、溶接チップの消耗状態及び被溶接材との接触状態を
監視する手段と、を有することを特徴とするものであ
る。
【0014】本発明によれば、検出電極を各被溶接材に
電気的に接続し、各被溶接材の電位を測定することによ
って、被溶接材間の電圧を直接的に検出するので、被溶
接材の導電率が高くても、検出点の位置変動、溶接チッ
プの消耗、溶接チップの材質の変動等の影響を受けるこ
となく、抵抗溶接の品質を確実に監視できる。
【0015】また、溶接ピッチと被溶接材間の電圧を検
出するので、溶接チップの消耗状態や被溶接材との接触
状態を監視することができる。
【0016】本発明は又、溶接良否判定手段による判定
に基づいて溶接電流を制御する制御手段を有するのが好
ましい。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。図1は、本発明に係る第1の
実施の形態に係る抵抗溶接の品質監視装置を概略的に示
す構成図である。
【0018】図1に示すように、本発明に係る抵抗溶接
の品質監視装置は、上側溶接チップAから所定間隔を隔
てた位置で被溶接材W1の電位を測定するために被溶接
材W1と電気的に接続される上側検出電極1と、下側溶
接チップBから所定間隔を隔てた位置で被溶接材W2の
電位を測定するために被溶接材W2と電気的に接続され
る下側検出電極2と、上側検出電極1と下側検出電極2
によって測定された各被溶接材W1、W2の電位に基づ
いて、被溶接材間の電圧ΔVWを検出する被溶接材間電
圧検出部3と、被溶接材間電圧検出部3によって検出さ
れた被溶接材間の電圧ΔVWに基づいて、溶接の良否を
判定する溶接良否判定部4と、を有する。
【0019】本発明に係る抵抗溶接の品質監視装置は
又、上側溶接チップAと上側検出電極1で検出された被
溶接材W1の電位に基づいて上側溶接チップAと被溶接
材W1間の電圧ΔVAWを検出する上側溶接チップー被
溶接材間電圧検出部5と、上側溶接チップー被溶接材間
電圧検出部5によって検出された電圧ΔVAWに基づい
て上側溶接チップAの消耗状態や被溶接材W1との接触
状態を監視する上側溶接チップ監視部6と、下側溶接チ
ップBと下側検出電極2で検出された被溶接材W2の電
位に基づいて、下側溶接チップBと被溶接材W2間の電
圧ΔVBWを検出する下側溶接チップー被溶接材間電圧
検出部7と、下側溶接チップー被溶接材間電圧検出部7
によって検出された電圧ΔVBWに基づいて下側溶接チ
ップBの消耗状態や被溶接材W2との接触状態を監視す
る下側溶接チップ監視部8と、を有する。
【0020】上側検出電極1及び下側検出電極2は、先
端部が針状に形成されており、スライド機構(図示せ
ず)により上下動することができ、バネ(図示せず)に
よってそれぞれ被溶接材W1、W2側に付勢された状態
で被溶接材W1、W2と接触している。
【0021】また、上側検出電極1から出力される検出
信号は、差動アンプ(図示せず)によって増幅され、被
溶接材間電圧検出部3及び上側溶接チップー被溶接材間
電圧検出部5に入力され、下側検出電極2から出力され
る検出信号は、差動アンプ(図示せず)によって増幅さ
れ、被溶接材間電圧検出部3及び下側溶接チップー被溶
接材間電圧検出部7に入力される。
【0022】被溶接材間電圧検出部3、上側溶接チップ
ー被溶接材間電圧検出部5、下側溶接チップー被溶接材
間電圧検出部7は、高い入力インピーダンス(約1M
Ω)を有する信号処理回路からなるので、検出電極1、
2と被溶接材W1、W2間の接触抵抗(約数十μΩ乃至
mΩのオーダ)による電圧は、極めて小さく、無視でき
る。また、上記の実施の形態では、検出電極1、2の測
定点は、溶接電流のルートから所定間隔を隔てている
が、上側検出電極1と被溶接材W1間及び下側検出電極
2と被溶接材W2間に流れる電流は、通常1μA以下の
オーダであり、溶接電流に比べ極小(数十億分の1)の
電流であるので、溶接チップA,B及び被溶接材W1、
W2の接触点と検出電極1、2及び被溶接材W1、W2
の接触点の間の電圧も無視できるほど小さい。そのた
め、上側検出電極1が測定する電位は、被溶接材W1の
上側溶接チップAとの接触点の電位であり、下側検出電
極2が測定する電位は、被溶接材W2の下側溶接チップ
Bとの接触点の電位であるとすることができる。
【0023】溶接良否判定部4は、被溶接材W1、W2
間の電圧ΔVWの最大値、電圧値の時間軸の積分値、最
大ピック値のタイミング等を判断基準にして、溶接の良
否を判定する。ここで、被溶接材W1、W2間の電圧Δ
VWの最大値は、溶接チップA,B間の加圧力、被溶接
材W1、W2の材質、厚さ、表面状況等によって変動す
る。電圧値の時間軸の積分値は、ほぼ溶接熱に比例する
パラメータであり、積分値が小さすぎる場合には、被溶
接材W1、W2のナゲットが小さすぎることを示し、積
分値が大きすぎる場合には、溶接電流が過大で、逆に強
度が低下していることを示す。最大ピック値のタイミン
グは、被溶接材W1、W2が溶融点に達したタイミング
を示す。
【0024】上側溶接チップ監視部6及び下側溶接チッ
プ監視部8は、ΔVAW及びΔVBWの最大値を基準に
して、最大値が所定設定値を超える場合には、上側溶接
チップA及び下側溶接チップBの先端部分が磨耗してい
るか、被溶接材W1、W2の表面に汚れが付いているも
のと判断する。
【0025】なお、溶接良否判定部4と電源10との間
には、溶接良否判定部4による結果に基づいて溶接電流
値や通電時間等を制御するための制御部9が設けられ
る。
【0026】図3は、被溶接材間電圧の経時的変化を示
すグラフである。図3に示すように、溶接が正常な状態
の時と異常な状態の時とでは、被溶接材間電圧の経時的
変化が明らかに異なる(溶接不良の場合の電圧ピーク値
は、溶接正常の場合の電圧ピーク値に比べ低い)ので、
溶接の良否を確実に判定することが可能である。
【0027】本発明によれば、検出電極1、2を被溶接
材W1、W2に電気的に接続し、各被溶接材W1、W2
の電位を測定することによって、被溶接材W1、W2間
の電圧を直接的に検出するので、被溶接材W1、W2の
導電率が高くても、検出点の位置変動、溶接チップの消
耗、溶接チップの材質の変動等の影響を受けることな
く、抵抗溶接の品質を確実に監視できる。
【0028】また、抵抗溶接の良否に基づいて、溶接電
流値や通電時間等を制御することにより、良好の抵抗溶
接を行うことができ、溶接機の信頼性を向上させること
ができる。
【0029】さらに、上側溶接チップAと被溶接材W1
間の電圧ΔVAWと下側溶接チップBと被溶接材W2間
の電圧ΔVBWを検出するので、上側溶接チップA及び
下側溶接チップBの消耗状態や被溶接材W1、W2との
接触状態を監視でき、適切な時期に交換することが可能
である。
【0030】図2は、本発明の第2の実施の形態に係る
抵抗溶接の品質監視装置を示す側面図である。図2に示
すように、被溶接材W1、W2に複数の溶接点がある場
合、検出電極1、2を、被溶接材W1、W2を固定する
ための固定治具20の近くに取り付ける。これによっ
て、検出電極1、2を移動させることなく固定した状態
で、溶接チップA,Bだけを各溶接点の位置に移動させ
ることができる。
【0031】図4は、本発明の第3の実施の形態に係る
抵抗溶接の品質監視装置を示す側面図である。第1及び
第2の実施の形態では、1つの被溶接材に対して1つの
検出電極を用いているが、これに限らず、1つの被溶接
材に対して複数の検出電極を用いて、より正確な電位を
測定するようにしてもよい。また、検出電極は、チップ
状の電極に限らず、バネ状の電極を用いてもよい。さら
に、検出電極は、必ずしも被溶接材を挟んで対向する位
置に設置する必要はなく、任意な箇所に設置することが
できる。例えば、図4に示すように、チップ状の検出電
極30とバネ状の検出電極31を被溶接材W1に電気的
に接続して、被溶接材W1の電位を測定し、チップ状の
検出電極32とバネ状の検出電極33を被溶接材W2に
電気的に接続して、被溶接材W2の電位を測定してもよ
い。
【0032】図5は、本発明の第4の実施の形態に係る
抵抗溶接の品質監視装置を示す側面図である。第1、第
2及び第3の実施の形態では、2つの被溶接材を接合す
る場合に本発明の装置を適用しているが、これに限ら
ず、3以上の被溶接材を接合する場合に本発明の装置を
適用してもよい。例えば、図5に示すように、被溶接材
W1、W2及びW3を接合する場合、被溶接材W1の上
面に検出電極40を、被溶接材W2の上面に検出電極4
1を、被溶接材W2の下面に検出電極42を、被溶接材
W3の下面に検出電極43を、それぞれ電気的に接続
し、各地点の電位を測定してもよい。
【0033】本発明は、上記実施の形態に限定されるこ
とはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範
囲内において、種々の変更が可能である。
【0034】
【発明の効果】本発明によれば、検出電極を各被溶接材
に電気的に接続し、各被溶接材の電位を測定することに
よって、被溶接材間の電圧を直接的に検出するので、被
溶接材の導電率が高くても、検出点の位置変動、溶接チ
ップの消耗、溶接チップの材質の変動等の影響を受ける
ことなく、抵抗溶接の良否を確実に判定することができ
る。
【0035】また、抵抗溶接の良否に基づいて、溶接電
流値や通電時間等を制御することにより、良好の抵抗溶
接を行うことができ、溶接機の信頼性を向上させること
ができる。
【0036】さらに、溶接ピッチと被溶接材間の電圧を
検出するので、溶接チップの消耗状態や被溶接材との接
触状態を監視でき、適切な時期に交換することが可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る抵抗溶接の品
質監視装置を概略的に示す構成図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係る抵抗溶接の品
質監視装置を示す側面図である。
【図3】被溶接材間電圧の経時的変化を示すグラフであ
る。
【図4】本発明の第3の実施の形態に係る抵抗溶接の品
質監視装置を示す側面図である。
【図5】本発明の第4の実施の形態に係る抵抗溶接の品
質監視装置を示す側面図である。
【図6】(a)は、従来の抵抗溶接の品質監視装置を概
略的に示す構成図であり、(b)は、溶接チップ間に存
在する抵抗を示す説明図である。
【符号の説明】
A:上側溶接チップ B:下側溶接チップ W1、W2:被溶接材 1:上側検出電極 2:下側検出電極 3:被溶接材間電圧検出部 4:溶接良否判定部 5:上側溶接チップー被溶接材間電圧検出部 6:上側溶接チップ監視部 7:下側溶接チップー被溶接材間電圧検出部 8:下側溶接チップ監視部 9:制御部 10:電源

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の被溶接材を一対の溶接チップで挟
    み、溶接チップ間に溶接電流を流すことにより、各被溶
    接材間を接合する抵抗溶接の品質を監視する装置におい
    て、 各被溶接材の電位を測定するために各被溶接材と電気的
    に接続される検出電極と、 その検出電極によって測定された各被溶接材の電位に基
    づいて、被溶接材間の電圧を検出する被溶接材間電圧検
    出手段と、 その被溶接材間電圧検出手段によって検出された被溶接
    材間の電圧に基づいて、溶接の良否を判定する溶接良否
    判定手段と、 前記溶接チップと検出電極で検出された被溶接材の電位
    に基づいて、溶接チップと被溶接材間の電圧を検出する
    溶接チップー被溶接材間電圧検出手段と、 その溶接チップー被溶接材間電圧検出手段によって検出
    された溶接チップー被溶接材間電圧に基づいて、前記溶
    接チップの消耗状態及び被溶接材との接触状態を監視す
    る手段と、 を有することを特徴とする抵抗溶接の品質監視装置。
  2. 【請求項2】前記溶接良否判定手段による判定に基づい
    て溶接電流を制御する制御手段を有することを特徴とす
    る請求項1に記載の抵抗溶接の品質監視装置。
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