JPH1172322A - 建築板の厚み測定装置 - Google Patents

建築板の厚み測定装置

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JPH1172322A
JPH1172322A JP23506697A JP23506697A JPH1172322A JP H1172322 A JPH1172322 A JP H1172322A JP 23506697 A JP23506697 A JP 23506697A JP 23506697 A JP23506697 A JP 23506697A JP H1172322 A JPH1172322 A JP H1172322A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 凹凸表面を有する建築板の厚みを測定するこ
とができ、厚み管理をなし得る測定装置の提供。 【解決手段】 表面に凹凸部を有する建築板の厚み測定
装置は、前記建築板2の複数の厚みデータを測定するた
めに該建築板の前記表面にわたって可動であり、前記建
築板の少なくとも一方の側に設けられた厚み測定センサ
10A、10Bと、前記建築板の短手方向に沿って前記
厚み測定センサを搬送する厚みセンサ搬送装置3と、前
記建築板2を長手方向に往復動させる建築板搬送装置1
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、建築板の厚み測定
装置に関し、特に、凹凸の深い表面柄を有する建築板の
厚みを測定することができ、建築板の有効な厚み管理を
なし得る建築板の厚み測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、建築板の厚みを測定するにあたっ
ては、1枚の建築板における任意の数箇所を代表点とし
て、ダイヤルゲージにより測定している。その測定で得
られた結果により、厚み不良の板は、分別除去し、管理
範囲内にある板のみに塗装が施される。また、ロールコ
ータ法により塗装が行われる場合には、このような厚み
データは塗布ロールの高さを調整するための重要な情報
として利用される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
造形性の高い押し出し成形法や、流し込み成形法による
彫りの深い凹凸表面柄を有する建築板の登場に伴い、従
来の厚み測定法をそのまま適用することが困難になっ
た。凹凸表面柄の中に平坦な部分がいくつもある場合に
は、ダイヤルゲージを使用することも可能であるが、こ
のような建築板において、どの部分をその代表厚みとす
るかを決定することは極めて困難である。
【0004】原材料のバラツキや加工条件の変動等に起
因する建築板の厚みのバラツキは現在において避けがた
く、製品の歩留まりを向上させるためには、早期に不良
板を発見して加工に供しないことが重要である。本発明
は、凹凸表面柄を有する建築板に対しても厚み測定が可
能であり、その厚みの管理をなし得、生産性を向上させ
る厚み測定装置を提供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の建築板の厚み測
定装置は、建築板の厚みを測定するものであって、該建
築板を該建築板の面内において特定の方向に往復搬送で
きる搬送手段と、該建築板の少なくとも一方の面側に設
けられ該建築板の厚みを測定する厚み測定センサと、該
厚み測定センサを前記特定の方向と交差する方向に走査
するセンサ走査手段と、を有するものである。
【0006】また、前記センサ走査手段が、該往復搬送
の折り返す時だけに厚み測定センサを走査のために移動
する第1モードと、建築板を一方向に連続搬送している
時に厚み測定センサを走査する第2モードとを有するこ
とが、基準となる建築板の厚みを厳密に測定し、製造過
程において検査する建築板の厚みを迅速に測定すること
ができるので、好ましい。
【0007】さらに、往路における厚み測定開始位置と
復路における厚み測定終了位置とが直線上にそろうよう
に前記搬送手段に同期して厚み測定センサを制御するセ
ンサ制御手段を有することが、補間等によって建築板全
面の厚み分布を求める上で信号処理に有利であるので、
好ましい。
【0008】また、基準の建築板の厚みを複数箇所測定
して得た結果を加工して参照値とし、検査対象建築板の
厚みを複数箇所測定して得た結果を加工して実測値と
し、対応位置にある参照値と実測値とを比較して、建築
板の総合的な厚みを測定する厚み管理手段を有すること
が、建築板の絶対的な厚みではなく基準となる建築板と
の相対的な厚みを測定することで、実用上真に厚みが不
良なものだけを検出することが容易にできるので、好ま
しい。また、前記加工が予め決められた値より小さな値
を、もとの値より大きくするものであることが、建築板
の設計上あえて薄くなっている箇所を不良と誤ることが
なくなるので好ましい。
【0009】また、参照値のための前記加工が測定箇所
の間を補間するものであることが、参照値と実測値とを
簡易に位置対応させることができるので、好ましい。
【0010】本発明は、厚み測定センサを建築板の全面
にわたって走査するものであるので、自動的に建築板の
厚みを測定することができ、従来の厚み測定装置では不
可能であった彫りの深い凹凸表面を有する建築板、また
全く平坦部を有しない凹凸表面や、曲面部等の複雑な表
面形状を有する建築板について厚み測定を行うことがで
きる。またこの測定装置を用いるにより、得られたデー
タの厚み管理を適切に行うことによって厚み不良の建築
板を迅速に除去し、生産性を大きく向上させることがで
きる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態を図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、本発
明による建築板の厚み測定装置の側面図である。図1に
おいて、複数のコンベア1が水平方向に配置され、コン
ベア1の上を厚みを測定すべき建築板2を両方向に移送
するようになっている。コンベア1の中間地点に建築板
2の厚みを測定する厚み測定部3が配置されている。ま
た、厚み測定部3の両側には搬送ローラ8が配置されて
いる。厚み測定部3には、図4に示すように、厚みを測
定する厚み変位センサヘッド10A,10Bが、搬送さ
れる建築板2をその上下方向から非接触で挟むように設
けられている。また、測定の開始と終了時期を規定する
ために第1の光電スイッチ4及び第2の光電スイッチ5
が該変位センサヘッド10A,10Bの両側に設けられ
ている。また、本測定装置において、左右端部に設けら
れたコンベア1には、建築板2の進行方向先端部が当た
ったときにコンベア1の走行を停止するためのリミット
スイッチ6、7がそれぞれ配置されている。
【0012】図2は、本発明の厚み測定装置の平面図で
ある。コンベア1上を水平方向に建築板2を案内するガ
イド9がコンベア1の短手方向の両側に配置されてい
る。建築板2は、コンベア1上で建築板走行範囲W(左
右の建築板停止ラインS−S間)にわたって走行し、図
面中Cの建築板2の走行履歴に示すように、その右端部
が点Aで示す位置からスタートし、点Bで示す位置で方
向転換して逆方向に走行し、点Aで示す位置で再び方向
転換して点Bで示す位置に向かうといったぐあいに往復
運動するようになっている。
【0013】図3及び図4は、建築板の厚み測定装置の
要部正面図及び変位センサヘッド10A,10Bの斜視
図である。図3(a) を参照すると、厚み測定装置は係合
部材11によって上下に保持された上側リニアガイダ1
2A及び下側リニアガイダ12Bを有する。上側リニア
ガイダ12A及び下側リニアガイダ12Bは、上側変位
センサヘッド10A及び下側変位センサヘッド10Bの
変位センサ移動手段として作用する。その上側変位セン
サヘッド10A、及び、これに対向する位置に配され
て、同調移動する下側変位センサヘッド10Bは、スラ
イダ15A及びスライダ15Bにそれぞれ取り付けら
れ、水平方向及び垂直方向に移動可能としている。ま
た、上側リニアガイダ12A及び下側リニアガイダ12
Bには、内蔵されるタイミングベルト(図示せず)の基
準位置を検出するために、図面中S1及びS2で示す位
置に光電スイッチ(図示せず)が内蔵されている。図4
を参照すると、各センサ13A,13Bは、サポート部
14A,14B、スライダ15A,15B及び取付部材
16A,16Bを有し、取付部材16A,16Bはサポ
ート部14A,14Bによってスライダ15A,15B
に取り付けられる。その取付部材16A,16Bには、
変位センサヘッド10A,10Bとアンプユニット17
A,17Bとがあり、変位センサヘッド10A,10B
には、例えば、可視光レーザの照射孔18A,18B及
び受光孔19A,19Bが設けられている。図3(b) に
は、例えば、670nmの半導体レーザで測定位置をφ
0.1mmのスポットで照射して厚みを測定する方法が
示されている。建築板2の裏面2bが、完全に平らであ
る場合には、上側変位センサ10Aのみでも距離測定に
よって厚み測定が可能であるが、表裏面から挟み込む方
法をとることによって表裏の表面形状の如何にかかわら
ず、あらゆる場所の厚みの測定が可能になる。
【0014】図5は、建築板の厚み測定システムの制御
構成を示すブロック図である。このブロック図によれ
ば、メインコントローラ20は、タイマ21と、カウン
タ22が含まれる。またこのメインコントローラ20に
はメモリ23と、キーボード24と、ディスプレイ25
が接続されている。また、上側変位センサヘッド10A
及び下側変位センサヘッド10Bがそれぞれアンプユニ
ット17A,17Bを介して接続されている。またメイ
ンコントローラ20にはコンベア用コントローラ26が
接続されており、このコンベア用コントローラ26に
は、厚み測定データのサンプリングの開始、停止時期を
検出する光電スイッチ4,5と、板の方向転換の時期を
検出するリミットスイッチ6,7がそれぞれ接続されて
いる。また、このコンベア用コントローラ26は、搬送
コンベア駆動用モータ27をドライバ28を介して駆動
するようになっている。また搬送コンベア駆動用モータ
27にはロータリエンコーダ29が接続されている。さ
らに、メインコントローラ20にはリニアガイダ用コン
トローラ30が接続されている。このリニアガイダ用コ
ントローラ30は、上側リニアガイダ駆動用モータ31
及び下側リニアガイダ駆動用モータ32がそれぞれ専用
コントローラ33,34及びドライバ35,36を介し
て接続されており、この専用コントローラ33,34に
はスライダ15A,15Bの基準位置の検出を行う光電
スイッチS1及び光電スイッチS2が接続されている。
また上側及び下側リニアガイダ駆動用モータ31,32
にはロータリエンコーダ37,38がそれぞれ接続され
ている。
【0015】図6及び図7は、メインコントローラ20
での制御フローである。まず、システム電源がオンした
かどうかを判断し(S100)、オンした場合には、シ
ステムの初期設定を行う(S101)。NOであれば電
源がオンするまで待つ。次に、コンベア用コントローラ
26及びリニアガイダ用コントローラ30に測定スタン
バイ制御を指示する(S102)。次に各コントローラ
26及び30からの応答があるかどうかを判断し(S1
03)、応答があった場合には、各コントローラ26及
び30に測定制御の開始を指示する(S104)。NO
の場合には応答を待つ。そして厚み測定装置の右側に待
機させた建築板2を厚み測定部3に送り込む。光電スイ
ッチ4による建築板2の検出時期を基準として(S10
5)、タイマ21をスタートさせ(S106)、タイマ
21により最初のサンプリング点を規定する所定時間t
1が経過したことを判断した後(S107)、建築板2
の長手方向における1つの測定ラインについて厚みデー
タの順次サンプリングを開始する(S108)。このと
き、測定ライン番号iを1とする(S109)。そして
タイマ21をリセットしておき(S110)、その測定
ラインについてデータサンプリングを実行する(S11
1)。その後、光電スイッチ4によって建築板2が通過
したかどうかを判断する(S112)。NOであれば、
データのサンプリングが続行され、YESであれば、サ
ンプリングを中断する(S113)。ここでカウンタ2
2の測定ライン番号をiからi+1に歩進する(S11
4)。次に光電スイッチ5によって右方向に走行する建
築板2を検出したかどうかを判断し(S115)、YE
Sであれば、タイマ21をスタートさせ(S116)、
NOであれば、光電スイッチ5による検出を待つ。次
に、タイマ21が次のサンプリングラインにおける最初
のサンプリング点を規定する所定時間t2 が経過したか
どうかを判断して(S117)、経過した場合、データ
サンプリングを再開する(S118)。NOであれば時
間t2 が経過するまで待つ。次にタイマ21をリセット
しておく(S119)。このように、所定の移動距離W
(図2参照)にわたって左方向に走行した建築板2は、
左側の停止ラインSでリミットスイッチ6に当たって停
止する。続いて建築板2は、同じ速度で、逆方向に走行
し、再び厚み測定部3に送られ、長手方向の次の測定ラ
インについての厚みのデータを光電スイッチ5による建
築板2の検出時期を基準点として再びタイマ21をスタ
ートさせ、タイマ21により所定時間t2が経過したこ
とを判断した後、建築板2の長手方向における次の測定
ラインについて厚みデータを順次サンプリングする(S
120)。次にカウンタ22をi+2に歩進する(S1
21)。次にデータサンプリングが完了したかどうかを
i=p(pはすべてのサンプリング数)であるかどうか
で判断し(S122)、YESであればコントローラ2
6,30に測定制御の終了を指示する(S123)。N
Oであれば、S105に戻る。このような動作を繰り返
して測定すべき全測定ライン上の厚みのデータをすべて
サンプリングする。ここで得られたデータは整理され
(S124)、データ処理される(S125)。これら
のデータサンプリングについては図14を参照して詳し
く説明する。図8及び図9は、コンベア用コントローラ
26の制御フローである。このコンベア用コントローラ
26は、建築板2を走行させるコンベア1を制御する。
まず、システム電源がオンしたかどうかを判断する(S
200)。YESである場合には初期設定され(S20
1)、NOであれば、電源がオンされるまで待機する。
ステップS202では、メインコントローラ20から測
定スタンバイ制御の指示があるかどうかを判断し、指示
があった場合には、搬送コンベア駆動用モータ27の電
源をオンする(S203)。そして次にコンベア1を駆
動して、建築板2をスタンバイ位置まで移動させる測定
スタンバイ制御(V)が行われる(S204)。この測
定スタンバイ制御(V)は次のように行われる。メイン
コントローラ20から測定スタンバイ制御の指示がある
と、建築板2がスタンバイ位置(図2における右側の停
止ラインS)に向かう方向を搬送コンベア駆動用モータ
27に指定し(S205)、所定数のパルスで搬送コン
ベア駆動用モータ27を回転させる(S206)。この
回転はリミットスイッチ7がオンするまで行われ(S2
07)、コンベア1が駆動されスタンバイ位置まで移動
し、リミットスイッチ7がオンするとコンベア1が停止
する(S208)。そして、メインコントローラ20へ
測定スタンバイOKを連絡する(S209)。リミット
スイッチ7がオンでない場合、搬送コンベア駆動用モー
タ27は、建築板2がリミットスイッチ7に当たるまで
回転する。次に、メインコントローラ20からの測定制
御の開始指示かあるかどうかを判断し(S210)、Y
ESであれば、測定制御(VI)を行う(S211)。NO
であれば、測定開始の指示を待つ(S210)。この測
定制御(VI)は次のように行う。建築板2がリミットスイ
ッチ6に向かう方向を搬送コンベア駆動用モータ27に
指定し(S212)、カウンタを1だけ増加させる(S
213)。続いて、建築板2が測定領域に入るまでに等
速度になるように、搬送コンベア駆動用モータ27への
供与パルス数を増加させる(S214)。その後、パル
ス数が一定に達した後に、そのパルス数を維持する(S
215)。建築板2が光電スイッチ4又は5を通過した
かどうかを判断し(S216)、通過した場合には、搬
送コンベア駆動用モータ27への供与パルスを減少させ
てゆく(S217)。建築板2が光電スイッチ4又は5
を通過しない場合には、そのパルス数を維持する。その
後建築板2によってリミットスイッチ6又は7がオンし
た時点(S218)で搬送コンベア駆動用モータ27の
回転を停止させ(S219)、搬送コンベア駆動用モー
タ27に回転方向を逆転するように指示する(S22
0)。リミットスイッチ6又は7がオンしない間は、搬
送コンベア駆動用モータ27への供与パルスを減少させ
てゆく。ステップS221において、カウンタ値を設定
した測定ラインの数mと比較して、mより小さい場合、
すなわちNOの場合は、ステップS213から繰り返
す。YESの場合は、ステップS222において、メイ
ンコントローラ20からの測定制御終了の指示があるか
どうかを判断して指示があれば、搬送コンベア駆動用モ
ータ27の電源をオフする(S223)。指示がなけれ
ば、終了指示を待つ。
【0016】図10及び図11は、リニアガイダ用コン
トローラ30の制御フローである。まず、システム電源
オンかどうかを判断し(S300)、YESであれば、
初期設定を行い(S301)、NOであれば、システム
電源がオンするまで待機する。ステップS302では、
メインコントローラ20から測定スタンバイ制御の指示
があったかどうかを判断し(S302)、YESとして
指示があれば、上側及び下側リニアガイダ駆動用モータ
31及び32の電源をオンし(S303)、次に測定ス
タンバイ制御(VII)を実行する(S304)。すなわ
ち、上側及び下側リニアガイダ駆動用モ−タ31及び3
2を駆動し、上下のリニアガイダ12A,12Bを駆動
して、上下の変位センサヘッドを基準位置、すなわちス
タンバイ位置S1,S2まで移動させる。この測定スタ
ンバイ制御(VII)は、次のように制御される。上側のリ
ニアガイダ12Aに対して基準位置S1へスライダ15
Aを移動するように指示する(S305)。次に下側の
リニアガイダ12Bに対して対向する基準位置S2へス
ライダ15Bを移動するように指示する(S306)。
次に測定スタンバイOKかどうかを判断し(S30
7)、NOであればOKとなるまで待機し、YESであ
れば、メインコントローラ20へ測定スタンバイOKを
連絡する(S308)。次に、ステップS309でメイ
ンコントローラ20から測定開始の指示を待ち、指示が
あったら、測定制御(VIII)を行う(S310)。この測
定制御(VIII)では、光電スイッチ4又は5がオンになっ
たかどうかで建築板2を検出したかどうかを判断し(S
311)、YESなら、すなわち検出したらカウンタを
1だけ増加させる(S312)。NOの場合は建築板2
を検出するまで待つ。建築板2が通過し、光電スイッチ
4又は5がオフになったら、ステップS313の判断で
YESとなり、上下の各リニアガイダ12A,12Bに
対してスライダ15A,15Bを所定距離移動させて次
の測定ラインの測定に備える(S314)。NOであれ
ば、建築板2が通過するまで待機する。ステップS31
5において、カウンタ値を設定した測定ラインの数mと
比較して、mより小さい場合、すなわちNOの場合は、
ステップS311から繰り返す。YESの場合は、モー
タ制御停止を指示する(S316)。次に、ステップS
317において、メインコントローラ20からの測定制
御終了の指示があるかどうかを判断して指示があれば、
モータ31及び32の電源をオフする(S318)。指
示がなければ、測定制御の終了指示を待つ。
【0017】図12は厚み測定データのサンプリング方
法の説明図である。まず建築板2の特に柄部の短辺の長
さをMとすると、Mを所定の約数mで除してaを求め
る。所定の約数mは、柄部39の凹凸の状態によって決
定する。建築板2の特に柄部39の長辺の長さをL、そ
の端数をΔLとすると、厚み測定データのサンプリング
個数は1測定ライン当たり、n=(L−ΔL)/a個と
なり、建築板1枚を走行させるのに要する時間をTとす
ると、建築板2の走行速度Lvは、Lv=L/T[m/
sec]となり、サンプリング時間間隔tsは、ts=
a/(L/T)=aT/L[sec]となる。光電スイ
ッチ4及び光電スイッチ5による建築板2の検出位置
は、図12に示すような柄部39の両端部である。例え
ば、図12のラインl2 において、光電スイッチ5で建
築板2を検出した時点からサンプリング点S21に至るま
での所要時間については、光電スイッチ4により建築板
2を検出する場合よりも、ΔLに相当する時間だけ多く
なるように時間設定する。図12において、Fは、サン
プリング方向、すなわち建築板2の走行方向を表す。ま
た、l1 ,l2 ,l3 ,l4 は、データサンプリングラ
イン、すなわち、変位センサ13A,13Bの建築板走
査ラインである。またS11...S1nは、各建築板走査
ラインにおけるサンプリング点である。
【0018】図13は、厚みデータの測定結果の例と、
測定データについての補正を説明するための図である。
図13(a) は、横軸に時間を縦軸に厚みを示し、下方に
は建築板2の断面図を示す。建築板2の長手方向の厚み
変化の傾向の情報を得るためには、予め所定の形状に形
成された雌実部41と溝部42についての厚み測定デー
タに対しては、例えば次のような補正を行う必要があ
る。まず、溝部の厚み測定データの補正例として、図1
3(b) に示すように、測定データが溝部42の厚みd2
付近の場合、溝深さd1 が1/4あるいは1/5となる
ように補正する。また雌実部41の厚み測定データに対
しては、測定した厚みデータに実部厚み(設計値)d3
の長さを加算する補正を行う。
【0019】図14は、図7に示すサブルーチン(I)(I
I)(III)の制御内容を示す図である。データサンプリン
グ(I) では、Sijのサンプリング列番号jを1つずつ
増加するインクリメント方式でサンプリングNoを付
け、先入れ先だし方式でサンプリングデータをメモリ2
3に転送する(S400)。ステップS401におい
て、測定ラインNoでサンプリングデータを奇数行に保
存する。データサンプリング(II)では、Sijのサンプ
リング列番号jを1つずつ減少させるデクリメント方式
でサンプリングNoを付け、後入れ先だし方式でサンプ
リングデータをメモリ23に転送する(S402)。ス
テップS403において、測定ラインNoでサンプリン
グデータを偶数行に保存する。このようにして収集され
たデータはデータ整理(III) において、一次元配列デー
タを二次元配列データに変換する。この変換は、読み出
したデータSijを、配列要素として列方向に格納する
ことによって行う。すなわち、ステップS404におい
て、iを1、jを1とし、Sijを読み出し(S40
5)、Tijに読み出したSijを配列要素として列方
向に格納する(S406)。ステップS407におい
て、順次iをi+1とし、jをj+1として増加してゆ
く、ステップS408においては、i=m、j=nかど
うかを判断し、YESであれば配列データを保存する
(S409)。NOであれば、Sijの読み出しのステ
ップに戻る。
【0020】図15は、図7に示すサブルーチン(IV)の
制御内容を示す図である。ここでは、単にデータサンプ
リングしたデータを整理保存する。その前に、溝部42
及び雌実部41の補正を行う。ここでは、一例として測
定データが溝部42の厚みd2 付近の場合、配列要素T
ijの中からd2 +α≧Tij≧d2 −αの要素を検索
し、Tij←d2 +3d1 /4に補正し(S500)、
溝深さd1 を1/4に補正する。つぎに、雌実部41の
測定データがd2 付近の場合、配列要素Ti1の中から
2 +α≧Ti1≧d2 −αの要素を検索し、Ti1←
Ti1+d3 に補正し(S501)、測定した厚みデー
タに実部厚み(設計値)d3 の長さを加算する補正を行
う。補正後の配列要素Tijについて各行毎にスプライ
ン補間をを実行する(S502)。ステップS503で
補間データを保存する。その後に、保存データをオンラ
イン厚み測定管理用に更に加工するかどうか判断し(S
504)、YESであればオンライン厚み測定用に保存
データを加工保存する(S505)。NOであればこの
制御を終了する。以上ここまで、建築板2の基準となる
厚みを測定するモードについて説明した。
【0021】図16は、オンラインで検査対象の建築板
の厚みを測定するモードを説明する。オンラインで建築
板2の厚みを測定する場合には、矢印方向に走行する建
築板2に対して、走行方向と直行する走査ライン上を測
定センサが等速で移動するように、ステッピングモータ
の回転数と方向を制御して往復動させると、建築板2が
走行しているので図16に示すように、走査ラインOは
ジグザク状になる。走査ライン上のサンプリング点は、
事前に測定したときのサンプリングラインと交差する点
Pとなるように設定する。すなわち、建築板2がX移動
するのに要する時間でYの移動がaとなる速度で変位セ
ンサヘッド10A,10Bを移動させるように設定す
る。サンプリング点における実測値(溝部42及び雌実
部41の補正済み)と、このサンプリング点に該当する
位置における基準の建築板2に対してスプライン補間さ
れた参照値とを比較することによって、凹凸の激しい表
面柄を有する建築板2に対しても、総合的な厚み管理が
実行される。ここで参照値は、図15に示すオンライン
厚み測定管理用データとして予め求めてテーブルに保存
しておく。また、参照値は、光電スイッチ4によって建
築板2が検出されてから、最初のサンプリング点に至る
までの時間を決定すると、以降は、サンプリング時間を
経過する毎の値となる。なお、図16において、Cは変
位センサヘッド10A,10Bの加速区間、Eは等速区
間、Dは減速区間である。
【0022】図17は、厚み管理の一例を示すメインコ
ントローラ20での制御動作を示す図である。この厚み
管理制御では、各サンプリング点における厚みデータの
実測値Teを前記基準厚みデータと比較してその結果を
ディスプレイに表示する。ここでeは、サンプリングカ
ウンタ変数でe=0〜pの範囲である。fは、厚みの実
測値が大きい点を数えるカウンタ、gは、厚みの実測値
が小さい点を数えるカウンタ、hは測定不良点を数える
カウンタである。さらにcは基準の建築板に対する厚み
測定値から導かれた基準厚みデータ、βは管理範囲を表
す。さらに詳細に説明すると、ステップS600におい
て、e,f,g,hをそれぞれ0とする。ステップS6
01において、c+β≧Te≧c−βかどうか判断し、
YESであれば、ステップS602において、e←e+
1とし、ステップS603において、e≧p(pはすべ
てのサンプリング数)かどうか判断する。ここでYES
であればf,g,hのカウンタ値を元にディスプレイに
異常の状況を表示する(S604)。ステップS603
でNOであれば、に戻る。ステップS601において
NOであった場合には、Te>c+βかどうか判断し
(S605)、YESであれば厚みの実測値が大きいと
してf←f+1とし(S606)、に戻る。ステップ
S605でNOであった場合には、Te<c−βかどう
か判断し(S607)、YESであれば厚みの実測値が
小さいとしてg←g+1とし(S608)、に戻る。
ステップS607でNOであった場合には測定不良とし
て、h←h+1とし(S609)、に戻る。
【0023】
【発明の効果】上記のとおりであり、本発明によれば、
従来の厚み測定装置では不可能であった彫りの深い凹凸
表面を有する建築板、また全く平坦部を有しない凹凸表
面や、曲面部等の複雑な表面形状を有する建築板につい
ても、簡易な装置で自動的に高速で厚み測定を行うこと
ができる。また、オンラインよる厚み測定によって得ら
れたデータの管理を適切に行うことによって厚み不良の
建築板を迅速に除去し、生産性を大きく向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による厚み測定装置の側面図である。
【図2】本発明による厚み測定装置の平面図である。
【図3】(a) は、本発明による厚み測定装置の正面図で
あり、(b) は、本発明による厚み測定装置による測定方
法を説明する図である。
【図4】本発明による厚み変位センサヘッドの斜視図で
ある。
【図5】本発明の厚み測定装置の制御系全体のブロック
図である。
【図6】メインコントローラ20の制御フロー図であ
る。
【図7】メインコントローラ20の制御フロー図であ
る。
【図8】コンベア用コントローラ26の制御フロー図で
ある。
【図9】コンベア用コントローラ26の制御フロー図で
ある。
【図10】リニアガイダ用コントローラ30の制御フロ
ー図である。
【図11】リニアガイダ用コントローラ30の制御フロ
ー図である。
【図12】本発明装置による厚みサンプリング方法を説
明する図である。
【図13】厚みデータの測定結果の例を示す図である。
【図14】図7に示すサブルーチン(I)(II)(III)の制御
フロー図である。
【図15】図7に示すサブルーチン(IV)の制御フロー図
である。
【図16】オンラインでの厚み測定における厚み変位セ
ンサヘッドの走査ラインを説明する図である。
【図17】厚み管理を示すメインコントローラ20の制
御フロー図である。
【符号の説明】
1…コンベア、2…建築板、3…厚み測定部、4,5…
光電スイッチ、6,7…リミットスイッチ、8…搬送ロ
ーラ、9…ガイド、10…厚み変位センサヘッド、11
…係合部材、12…リニアガイダ、13…センサ、14
…サポート部、15…スライダ、16…取付部材、17
…アンプユニット、18…照射孔、19…受光孔、20
…メインコントローラ、21…タイマ、22…カウン
タ、23…メモリ、24…キーボード、25…ディスプ
レイ、26…コンベア用コントローラ、27…コンベア
駆動用モータ、30…リニアガイダ用コントローラ、3
1,32…上下リニアガイド駆動用モータ、33,34
…専用コントローラ、35…ドライバ1、36…ドライ
バ2

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 建築板の厚みを測定する建築板の厚み測
    定装置において、該建築板を該建築板の面内において特
    定の方向に往復搬送できる搬送手段と、該建築板の少な
    くとも一方の面側に設けられ該建築板の厚みを測定する
    厚み測定センサと、該厚み測定センサを前記特定の方向
    と交差する方向に走査するセンサ走査手段と、を有する
    ことを特徴とする建築板の厚み測定装置。
  2. 【請求項2】 前記センサ走査手段が、該往復搬送の折
    り返す時だけに厚み測定センサを走査のために移動する
    第1モードと、建築板を一方向に連続搬送している時に
    厚み測定センサを走査する第2モードとを有することを
    特徴とする請求項1記載の建築板の厚み測定装置。
  3. 【請求項3】 往路における厚み測定開始位置と復路に
    おける厚み測定終了位置とが直線上にそろうように前記
    搬送手段に同期して厚み測定センサを制御するセンサ制
    御手段を有することを特徴とする請求項1記載の建築板
    の厚み測定装置。
  4. 【請求項4】 基準の建築板の厚みを複数箇所測定して
    得た結果を加工して参照値とし、検査対象建築板の厚み
    を複数箇所測定して得た結果を加工して実測値とし、対
    応位置にある参照値と実測値とを比較して、建築板の総
    合的な厚みを測定する厚み管理手段を有することを特徴
    とする請求項1記載の建築板の厚み測定装置。
  5. 【請求項5】 前記加工が予め決められた値より小さな
    値を、もとの値より大きくするものであることを特徴と
    する請求項4記載の建築板の厚み測定装置。
  6. 【請求項6】 参照値のための前記加工が測定箇所の間
    を補間するものであることを特徴とする請求項4記載の
    建築板の厚み測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004114500A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Nichiha Corp 建築板印刷装置
JP2013003117A (ja) * 2011-06-22 2013-01-07 Yokohama Rubber Co Ltd:The シート状材料の厚さ測定方法およびシート状材料の搬送装置
JP2014085326A (ja) * 2012-10-29 2014-05-12 Toyota Motor Corp 超音波計測方法及び超音波計測装置

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