JPH1163951A - External appearance inspection device - Google Patents

External appearance inspection device

Info

Publication number
JPH1163951A
JPH1163951A JP22323097A JP22323097A JPH1163951A JP H1163951 A JPH1163951 A JP H1163951A JP 22323097 A JP22323097 A JP 22323097A JP 22323097 A JP22323097 A JP 22323097A JP H1163951 A JPH1163951 A JP H1163951A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
ball
measurement
inspection
tray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22323097A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ichirou Hashi
威智郎 橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SOUEI TSUSHO KK
Original Assignee
SOUEI TSUSHO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SOUEI TSUSHO KK filed Critical SOUEI TSUSHO KK
Priority to JP22323097A priority Critical patent/JPH1163951A/en
Publication of JPH1163951A publication Critical patent/JPH1163951A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an external appearance inspection device capable of performing ball measurement such as a ball pitch, a ball radius, a ball position degree at a high speed, and performing a mark package void inspection in the same tact. SOLUTION: There are provided a pickup device 1 conveying a package P received in a tray T1 to a measurement position S3 at a position in which a terminal face is directed downward; mark package void inspecting means disposed above the pickup position S1; and measuring means 4, 5 inspecting a terminal side of the package P conveyed to the measuring position S3 by imaging measurement (or laser displacing measurement). With this arrangement, the package void inspecting means inspects a next package P in a process in which the pakage P which is previously finished inspection is conveyed to the measuring position S3, whereby a mark package void inspection is performed in the same tact.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はBGA・CSPパッ
ケージ等の外観検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a visual inspection device for a BGA / CSP package or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】BGA・CSPパッケージの外観検査装
置としては、従来、レーザ変位計測装置がある。
2. Description of the Related Art As a visual inspection apparatus for a BGA / CSP package, there is a laser displacement measuring apparatus.

【0003】このレーザ変位計測装置は、パッケージを
トレーに収納したまま、反転した状態で、パッケージの
裏面(端子側)に対してレーザ光をスキャンすることに
より、パッケージの反りや端子の形状・ピッチ等を非接
触で計測する装置である。
This laser displacement measuring apparatus scans a back surface (terminal side) of a package with a laser beam while the package is stored in a tray in an inverted state, and thereby warps the package and shapes and pitches of the terminals. It is a device for non-contact measurement.

【0004】ボールグリッドアレイタイプのパッケージ
の計測を対象としたレーザ変位計測装置においては、パ
ッケージの端子側から、ボール有無、ボールピッチ、ボ
ール径及びボール位置度の計測に加えて、ボールコプラ
ナリティ(ボール配列の平坦度)を計測する3次元レー
ザ変位計測装置が実用化されている。
In a laser displacement measuring apparatus for measuring a ball grid array type package, in addition to measuring the presence or absence of a ball, a ball pitch, a ball diameter and a ball position, a ball coplanarity (ball) is measured from the terminal side of the package. A three-dimensional laser displacement measuring device for measuring the flatness of an array has been put to practical use.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、BGA・C
SPパッケージは、通常、端子を下にした状態(正方
向)でトレーに収納されている。
However, BGA / C
The SP package is usually stored in a tray with the terminals facing down (positive direction).

【0006】このためレーザ変位計測装置を使用して、
ボールタイプのBGA・CSPパッケージの端子検査を
行う場合、トレーを反転させ、パッケージ姿勢を反転さ
せた状態で、レーザ変位計測装置にてボール計測を行う
必要があり、パッケージ上面のボイド検査や、印字(ま
たはレーザマーカ等)により付けられた社名・製品番号
等のマークの検査は行えないという欠点がある。
Therefore, using a laser displacement measuring device,
When performing a terminal inspection of a ball type BGA / CSP package, it is necessary to perform ball measurement with a laser displacement measuring device in a state where the tray is inverted and the package posture is inverted. There is a drawback that marks such as a company name and a product number attached by (or a laser marker) cannot be inspected.

【0007】しかも、レーザ変位計測装置では、ボール
を上に向けた状態での検査となるので、不良品が出て良
品との詰め替え作業を行う際に、ピックアップ装置等が
ボール側に接触して、ボールを傷つける虞れがある。
In addition, in the laser displacement measuring device, the inspection is performed with the ball facing upward, so that when a defective product comes out and is refilled with a good product, the pickup device or the like comes into contact with the ball side. There is a possibility that the ball may be damaged.

【0008】また、イントレー検査のため、検査完了後
に、製造工程用トレーと出荷トレーが異なる場合、移し
替え作業が一つの工程として余分に必要となる。
In addition, if the tray for the manufacturing process and the shipping tray are different after the completion of the inspection for the in-tray inspection, an extra transfer operation is required as one process.

【0009】さらに、レーザ光のスキャンはボール配列
の列方向または行方向に沿って行われるが、検査ステー
ジに対するパッケージ収納トレーの位置決めの誤差など
の原因により、レーザ光のスキャン位置が、必ずしもボ
ールの頂点に一致しているとは限らず、ボールコプラナ
リティ計測の信頼性に欠けるという問題もある。
Further, the scanning of the laser beam is performed along the column direction or the row direction of the ball array. However, the scanning position of the laser beam is not necessarily adjusted due to the positioning error of the package storage tray with respect to the inspection stage. There is also a problem that the ball coplanarity measurement is not always reliable, because it does not always coincide with the vertex.

【0010】本発明はそのような実情に鑑みてなされた
もので、ボールピッチ、ボール径及びボール位置度等の
ボール計測を、パッケージを反転することなく正方向姿
勢のままで高速に行うことができ、しかもマーク・パッ
ケージボイド検査を同一タクト内で行うことが可能な外
観検査装置の提供を目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and enables ball measurement such as ball pitch, ball diameter, and ball position to be performed at a high speed without reversing the package while maintaining a normal posture. It is an object of the present invention to provide a visual inspection apparatus capable of performing mark and package void inspection within the same tact.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の外観検査装置は、BGA・CSP型IC等
のパッケージで、上面等にマークが付され裏面に電気接
続用の端子が形成されてなるパッケージの外観を検査す
る装置であって、図1及び図2に例示するように、端子
面を下に向けた姿勢でトレーT1 に収納されたパッケー
ジPをピックアップして計測ポジションS3 に搬送する
ピックアップ装置1と、そのトレーT1からのパッケー
ジPのピックアップポジションS1 の上方に配置された
マーク・パッケージボイド検査手段(CCDカメラ3)
と、ピックアップ装置1によって上部が保持された状態
で計測ポジションS3 に搬送されたパッケージP(図3
参照)の端子側を、画像処理計測(またはレーザ変位計
測)で検査する計測手段(CCDカメラ4,5)を備え
ているとともに、パッケージボイド検査手段が、先にマ
ーク・パッケージボイド検査を終えたパッケージPを、
ピックアップ装置1が計測ポジションS3 に搬送してい
る過程で、ピックアップポジションS1 に位置する、次
のパッケージPの検査を行うように構成されていること
によって特徴づけられる。
In order to achieve the above object, an appearance inspection apparatus according to the present invention is a package such as a BGA / CSP type IC, which has a mark on an upper surface or the like and a terminal for electrical connection on a rear surface. A device for inspecting the appearance of a package formed, as shown in FIGS. 1 and 2, picking up a package P stored in a tray T1 with a terminal surface facing down and measuring it at a measurement position S3. And package void inspection means (CCD camera 3) arranged above the pickup position S1 of the package P from the tray T1.
And the package P transported to the measurement position S3 while the upper portion is held by the pickup device 1 (FIG. 3).
(See FIG. 2), the measuring device (CCD cameras 4 and 5) for inspecting the terminal side by image processing measurement (or laser displacement measurement), and the package void inspection device has completed the mark / package void inspection first. Package P
While the pickup device 1 is being transported to the measurement position S3, it is characterized in that the next package P located at the pickup position S1 is inspected.

【0012】以上の構成の本発明の外観検査装置によれ
ば、パッケージPを反転させることなく正方向姿勢のま
まの状態で、パッケージPの端子計測(例えばボールピ
ッチ、ボール径及びボール位置度等のボール計測)と、
パッケージ上面のマーク・パッケージ検査を同一のタク
ト内で行うことができる。
According to the appearance inspection apparatus of the present invention having the above-described structure, the terminal of the package P (for example, ball pitch, ball diameter, ball position, etc. Ball measurement) and
The mark / package inspection of the package upper surface can be performed in the same tact.

【0013】ここで、本発明の外観検査装置において、
ピックアップ装置として、図1に例示するように、パッ
ケージ吸着用のパッド1a・・1dが4箇所に配置された
インデックステーブル1を適用すれば、ローダトレーT
1 のピックアップポジションS1 から計測ポジションS
3 へのパッケージPの搬送、計測ポジションS3 から良
品収納ポジションS5 (または不良品排出ポジションS
7 )へのパッケージPの搬送を同時に行うことができ
る。しかも、ピックアップポジションS1 でのパッケー
ジPのピックアップ動作、計測ポジションS3 での端子
(ボール)計測、良品収納ポジションS5 (または不良
品排出ポジションS7 )でのパッケージPの収納動作
(または排出動作)をほぼ同時に行うことができるの
で、ピックアップ装置の動作に無駄がなくなり、パッケ
ージPのマーク・パッケージボイド検査及び端子計測を
効率良く行うことができる。
Here, in the appearance inspection apparatus of the present invention,
As an example of the pickup device, as shown in FIG. 1, if the index table 1 in which the package suction pads 1a...
1 pickup position S1 to measurement position S
3 from the measurement position S3 to the non-defective product storage position S5 (or the defective product discharge position S).
7) The package P can be transported simultaneously. Moreover, the pickup operation of the package P at the pickup position S1, the terminal (ball) measurement at the measurement position S3, and the storage operation (or discharge operation) of the package P at the non-defective product storage position S5 (or the defective product discharge position S7) are substantially performed. Since the operations can be performed simultaneously, there is no waste in the operation of the pickup device, and the mark / package void inspection and terminal measurement of the package P can be performed efficiently.

【0014】なお、本発明の外観検査装置において、パ
ッケージ上面のマーク・パッケージボイド検査による外
観検査データ及びパッケージの端子側の画像処理計測
(またはレーザ変位計測)による検査データを、CRT
等のビデオモニタ装置あるいはプリンタ等の記録機器に
出力して、表示・記録するように構成してもよい。
In the appearance inspection apparatus of the present invention, the appearance inspection data by the mark / package void inspection on the upper surface of the package and the inspection data by the image processing measurement (or laser displacement measurement) on the terminal side of the package are transferred to the CRT.
It may be configured to output to a video monitor device such as a printer or a recording device such as a printer to display and record.

【0015】また、本発明の外観検査装置において、電
気接続用の端子としてボールが裏面に形成されたパッケ
ージを検査する場合、パッケージのボール像を、図3に
例示するように、パッケージPのボール形成面に対して
直交方向から撮らえる2次元撮像系と、ボール形成面に
対して斜め方向から撮らえる3次元撮像系の2つの撮像
系で撮像し、その2次元撮像系の出力信号からボールピ
ッチ、ボール径及びボール位置度を求めるとともに、3
次元撮像系の出力信号に基づく3次元データと上記2次
元撮像系で得られる2次元データを演算して、ボールコ
プラナリティデータを求めるように構成してもよい。
Further, in the appearance inspection apparatus of the present invention, when inspecting a package having a ball formed on the back surface as a terminal for electrical connection, a ball image of the package is obtained as shown in FIG. An image is taken by two imaging systems, that is, a two-dimensional imaging system that can take an image in a direction orthogonal to the forming surface and a three-dimensional imaging system that can take an image in an oblique direction to the ball forming surface. Determine the pitch, ball diameter and ball position, and
Ball coplanarity data may be obtained by calculating three-dimensional data based on an output signal of a two-dimensional imaging system and two-dimensional data obtained by the two-dimensional imaging system.

【0016】さらに、本発明の外観検査装置において、
マーク・パッケージボイド検査手段及び計測ポジション
に配置された端子計測手段の各出力信号に基づいてパッ
ケージが良品であるか否かを判定し、その判定結果に基
づいて良品/不良品を分類して、トレーに収納するよう
に構成しておいてもよい。
Further, in the appearance inspection apparatus of the present invention,
It is determined whether the package is non-defective based on each output signal of the mark / package void inspection means and the terminal measurement means arranged at the measurement position, and the non-defective / defective product is classified based on the judgment result. You may comprise so that it may be accommodated in a tray.

【0017】ここで、本発明の外観検査装置に用いるマ
ーク・パッケージボイド検査手段及び端子計測手段とし
ては、マーク・パッケージボイド検査及びボール計測等
が可能なものであれば特に限定されないが、分解能など
の点を考慮すると、CCDカメラを用いることが好まし
い。
The mark / package void inspection means and terminal measurement means used in the visual inspection apparatus of the present invention are not particularly limited as long as they can perform mark / package void inspection and ball measurement. In view of the above, it is preferable to use a CCD camera.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、以下、図
面に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】まず、この例の外観検査装置は、図1及び
図2に示すように、インデックステーブル1と、このテ
ーブル1を挟んで互いに対向する位置に配置されたX−
Y駆動機構2a及び2bを備えている。
First, as shown in FIGS. 1 and 2, the appearance inspection apparatus of this embodiment is composed of an index table 1 and X-positioning tables arranged at positions facing each other with the table 1 interposed therebetween.
Y drive mechanisms 2a and 2b are provided.

【0020】インデックステーブル1は、平面形状が略
十字形となっておりその各辺の先端にそれぞれパッケー
ジPの吸着用のパッド1a・・1dが設けられている。
The index table 1 has a substantially cross shape in plan view, and is provided with suction pads 1a... 1d of the package P at the ends of each side thereof.

【0021】インデックステーブル1は、回転機構(図
示せず)により角度90°のピッチ(1ピッチ当たり約
1秒)で間欠的に回転駆動され、各パッド1a,1b,
1c,1dが、後述するピックアップポジションS1 ,
計測ポジションS3 ,良品収納ポジションS5 ,不良品
排出ポジションS7 に順次に位置するように構成されて
いる。さらにインデックステーブル1には昇降機構(図
示せず)が設けられており、各パッド1a・・1dが各ポ
ジションS1,S3,S5,S7 に位置したときに、後述する
動作の昇降運動が与えられる。
The index table 1 is intermittently driven to rotate at a 90 ° pitch (about 1 second per pitch) by a rotating mechanism (not shown), and each of the pads 1a, 1b,
1c, 1d are pickup positions S1,
The measuring position S3, the non-defective product storing position S5, and the defective product discharging position S7 are sequentially arranged. Further, the index table 1 is provided with an elevating mechanism (not shown), and when the pads 1a... 1d are located at the respective positions S1, S3, S5, S7, an elevating movement described later is given. .

【0022】なお、以上の構造のインデックステーブル
1の各パッド1a・・1dは、パッケージPの上部保持
(吸着)とその解除をそれぞれ個別に行うことが可能と
なっている。また、インデックステーブル1の回転・昇
降動作並びに各パッド1a・・1dでのパッケージPの保
持・解除動作は、後述する演算処理装置7(図4参照)
からのコントロール信号によって制御される。
The pads 1a,..., 1d of the index table 1 having the above-described structure can individually hold and release (absorb) the upper portion of the package P. The rotation / elevation operation of the index table 1 and the holding / releasing operation of the package P at each of the pads 1a... 1d are performed by an arithmetic processing unit 7 (see FIG. 4) described later.
Is controlled by a control signal from

【0023】XY移動機構2aは、ローダトレーT1 を
X軸とY軸にそれぞれ個別に移動するテーブルで、演算
処理装置7からのコントロール信号に応じて、ローダト
レーT1 を行方向(X軸方向)と列方向(Y軸方向)
に、パッケージP・・Pの収納ピッチで移動して、検査を
行うパッケージPを順次にピックアップポジションS1
に配置するように構成されている。
The XY moving mechanism 2a is a table for individually moving the loader tray T1 in the X-axis and the Y-axis. The XY moving mechanism 2a moves the loader tray T1 in the row direction (X-axis direction) and the column direction in response to a control signal from the arithmetic processing unit 7. Direction (Y-axis direction)
Then, the packages P to be inspected are moved sequentially at the storage pitch of the packages P,.
It is configured to be arranged in.

【0024】XY移動機構2bは、ローダトレーT1 と
対向する位置(角度180°の位置)に配置される良品
トレーT2 をX軸とY軸にそれぞれ個別に移動する装置
で、このXY移動機構2bも、先と同様に演算処理装置
7からのコントロール信号に応じて、良品トレーT2 を
行方向(X軸方向)と列方向(Y軸方向)に、パッケー
ジP・・Pの収納ピッチで移動して、良品トレーT2 の検
査済みパッケージPの収納部位を、良品収納ポジション
S5 に順次に配置するように構成されている。
The XY moving mechanism 2b is a device for individually moving the non-defective tray T2 disposed at a position (at an angle of 180 °) facing the loader tray T1 in the X-axis and the Y-axis, respectively. Similarly, according to the control signal from the arithmetic processing unit 7, the non-defective tray T2 is moved in the row direction (X-axis direction) and the column direction (Y-axis direction) at the storage pitch of the packages PP. The storage locations of the inspected packages P in the non-defective product tray T2 are sequentially arranged in the non-defective product storage position S5.

【0025】なお、XY移動機構2a及びXY移動機構
2bの下方には、それぞれ、ローダトレーT1 ・・T1 を
収納するストッカー21a及び良品トレーT2 ・・T2 を
収納するストッカー21bが配置されている。
Below the XY moving mechanism 2a and the XY moving mechanism 2b, a stocker 21a for storing the loader trays T1... T1 and a stocker 21b for storing the non-defective trays T2.

【0026】さて、この実施の形態においては、図2に
示すように、ピックアップポジションS1 の真上に、こ
のポジションS1 に配置されたパッケージPの平面像
(2次元像)を撮らえるマーク・パッケージボイド検査
用CCDカメラ3(以下、外観検査用CCDカメラ3と
称する)及びその照明用光源3aが配置されている。
In this embodiment, as shown in FIG. 2, a mark package which can take a plane image (two-dimensional image) of the package P disposed at the pickup position S1 just above the pickup position S1. A void inspection CCD camera 3 (hereinafter referred to as appearance inspection CCD camera 3) and its illumination light source 3a are arranged.

【0027】また、計測ポジションS3 には、図3に示
すように、この計測ポジションS3に搬送され、インデ
ックステーブル1のパッド1a,1b,1cまたは1d
で上部が保持されたパッケージPのボールB・・Bの2次
元像を下方から撮像する2次元計測用CCDカメラ4及
びその照明用光源4aが配置されている。
As shown in FIG. 3, the pad 1a, 1b, 1c or 1d of the index table 1 is transported to the measurement position S3.
A two-dimensional measurement CCD camera 4 for capturing a two-dimensional image of the balls B,... B of the package P, the upper part of which is held, and a light source 4a for illumination thereof.

【0028】さらに、計測ポジションS3 には、同じく
図3に示すように、パッケージPのボール形成面に対し
て斜め30°方向からボールB・・Bの3次元像を撮らえ
る3次元計測用CCDカメラ5とその照明用光源5aが
配置されている。
Further, as shown in FIG. 3, a three-dimensional measuring CCD for taking a three-dimensional image of the balls B,... The camera 5 and its illumination light source 5a are arranged.

【0029】なお、この例では、ピックアップポジショ
ンS1 の真上に配置する外観検査用CCDカメラ3とし
て40万画素のものを用いる。また、計測ポジションS
3 に配置する2台のCCDカメラ(ボール計測用)は高
分解能が要求されるので、2次元計測用CCDカメラ4
として400万画素、3次元計測用CCDカメラ5とし
て100万画素のものを使用する。
In this example, the CCD camera 3 for visual inspection, which is arranged just above the pickup position S1, has 400,000 pixels. Also, the measurement position S
Since the two CCD cameras (for ball measurement) arranged in 3 require high resolution, the two-dimensional measurement CCD camera 4
4 million pixels and a 1 million pixel CCD camera 5 for three-dimensional measurement.

【0030】それら3台のCCDカメラ3,4,5はそ
れぞれ演算処理装置7によって駆動(ON)のタイミン
グが制御され、外観検査用CCDカメラ3は、インデッ
クステーブル1の回転過程において各パッド1a,1
b,1c,1dが、図1に示すポイントS2,S4,S6 ま
たはS8 に達した時点、すなわちパッド1a,1b,1
cまたは1dが、ピックアップポジションS1 から角度
45°だけ移動した時点でONとなる。また、計測用C
CDカメラ4及び5は、各パッド1a,1b,1c,1
dが計測ポジションS3 で一端停止(0.1〜0.2秒
程度)した時に、これに同期してONとなる。なお、各
CCDカメラ3,4,5の照明用光源3a,4a,5a
も上記と同じタイミングで駆動(ON)される。
The timing of the drive (ON) of each of the three CCD cameras 3, 4, and 5 is controlled by the arithmetic processing unit 7, and the appearance inspection CCD camera 3 controls each of the pads 1a, 1
When b, 1c and 1d reach the point S2, S4, S6 or S8 shown in FIG. 1, that is, the pads 1a, 1b, 1
It is turned ON when c or 1d moves by an angle of 45 ° from the pickup position S1. In addition, C for measurement
The CD cameras 4 and 5 have respective pads 1a, 1b, 1c, 1
When d stops at the measurement position S3 once (about 0.1 to 0.2 seconds), it turns on in synchronization with this. The illumination light sources 3a, 4a, 5a of the CCD cameras 3, 4, 5 are used.
Are also driven (ON) at the same timing as above.

【0031】以上のタイミングで駆動された外観検査用
CCDカメラ3と計測用CCDカメラ4及び5の各出力
信号は、図4に示すように、画像処理装置63,64,
65に順次に導かれ、所定の信号処理(2値化処理等)
が施された後、演算処理装置7に採り込まれる。
As shown in FIG. 4, the output signals of the appearance inspection CCD camera 3 and the measurement CCD cameras 4 and 5 driven at the above timings are output from the image processing devices 63, 64,
65 sequentially, predetermined signal processing (binary processing etc.)
Is applied to the arithmetic processing unit 7.

【0032】演算処理装置7は、画像処理装置6によっ
て画像処理が施された画像データのうち、外観検査用C
CDカメラ3からの画像データに基づいて、マーク有無
・文字抜け及びパッケージボイドの有無等を判定する。
The arithmetic processing unit 7 includes, for the image data subjected to image processing by the image processing unit 6,
Based on the image data from the CD camera 3, the presence / absence of a mark, missing characters, presence / absence of a package void, and the like are determined.

【0033】また、2次元計測用CCDカメラ4からの
画像データに基づいて、ボールピッチ、ボール径及びボ
ール位置度を求めるとともに、3次元計測用CCDカメ
ラ5からの画像データと、2次元計測用CCDカメラ4
の出力の基づくボール平面像データに基づいてボールコ
プラナリティデータを求め、それらボールに関する検査
データが予め設定された基準データの許容範囲内に入っ
ているか否かを判定する。
Further, based on the image data from the two-dimensional measurement CCD camera 4, the ball pitch, the ball diameter and the ball position are determined, and the image data from the three-dimensional measurement CCD camera 5 and the two-dimensional measurement CCD camera 4
Then, ball coplanarity data is obtained based on the ball plane image data based on the output of (1), and it is determined whether or not the inspection data on those balls is within an allowable range of preset reference data.

【0034】そして、演算処理装置7は、以上のマーク
・パッケージボイドの判定結果、及び、ボールピッチ・
ボール径・ボール位置度・ボールコプラナリティの判定
結果のいずれか一つでも不可の場合、その不良品パッケ
ージPを、良品収納ポジションS5 では離さずに、不良
品排出ポジションS7 まで搬送してNGトレー(図示せ
ず)に排出する旨のコントロール信号をインデックステ
ーブル1に供給するように構成されている。
Then, the arithmetic processing unit 7 calculates the mark / package void determination result, the ball pitch
If any one of the ball diameter, ball position, and ball coplanarity determination results is unsuccessful, the defective package P is transported to the defective product discharge position S7 without being released at the non-defective product storage position S5, and the NG tray ( (Not shown) is supplied to the index table 1.

【0035】なお、演算処理装置7は、以上の動作に加
えて、パッケージボイドの有無及びマークの良否、ボー
ルピッチ、ボール径、ボール位置度及びボールコプラナ
リティデータをCRT等のビデオモニタ装置8、FFD
(フロッピィディスクドライブ)9及びプリンタ10等
の外部機器に出力するように構成されている。
In addition to the above operations, the arithmetic processing unit 7 also transmits the presence or absence of package voids and the quality of marks, the ball pitch, the ball diameter, the ball position and the ball coplanarity data to a video monitor device 8 such as a CRT,
(Floppy disk drive) 9 and output to external devices such as a printer 10.

【0036】ここで、ボールコプラナリティデータを求
める演算手法については、本明細書では詳細に説明しな
いが、3次元計測用CCDカメラ5からの画像データ
を、ボール平面像データと3次元計測用CCDカメラ5
のボール形成面に対する傾き(30°)を用いて較正す
ることによって容易に求めることができる。
Here, the calculation method for obtaining the ball coplanarity data will not be described in detail in this specification, but the image data from the three-dimensional measurement CCD camera 5 is converted into the ball plane image data and the three-dimensional measurement CCD camera. 5
Can be easily obtained by calibration using the inclination (30 °) with respect to the ball forming surface.

【0037】次に、本実施の形態の検査動作を説明す
る。まず、ローダトレーT1 には、所定数のパッケージ
P・・Pが、ボールBの形成面を下に向けたままの状態で
収納(3行×n列)されており、このローダトレーT1
がXY移動機構2aによってピックアップポジションS
1 に対して位置決めされる。この例では、初期の位置決
めでローダトレーT1 の右上角(図1参照)のパッケー
ジPがピックアップポジションS1 に配置され、これに
対応して良品トレーT2 がXY移動機構2bによって位
置決めされ、その良品トレーT2 の左上角のパッケージ
収納部が良品収納ポジションS5 に配置される。
Next, the inspection operation of this embodiment will be described. First, a predetermined number of packages PP are stored (3 rows.times.n columns) in the loader tray T1 with the ball B forming surface facing downward.
Is moved to the pickup position S by the XY moving mechanism 2a.
Positioned relative to 1. In this example, the package P at the upper right corner (see FIG. 1) of the loader tray T1 is located at the pickup position S1 in the initial positioning, and the non-defective tray T2 is correspondingly positioned by the XY moving mechanism 2b. Is located at the non-defective product storage position S5.

【0038】また、この例では、初期状態のときに、イ
ンデックステーブル1のパッド1aが不良品排出ポジシ
ョンS7 に位置しており、さらに、インデックステーブ
ル1はパッケージPの搬送中には、図1の実線で示すよ
うに昇降ストロークの上昇端に配置される。
In this example, in the initial state, the pad 1a of the index table 1 is located at the defective product discharge position S7, and the index table 1 is in the position shown in FIG. It is arranged at the rising end of the lifting stroke as shown by the solid line.

【0039】さて、検査動作を開始すると、まずはイン
デックステーブル1が回転し、この回転過程において、
インデックステーブル1が角度45°して各パッド1
a,1b,1c,1dがそれぞれポイントS8,S2,S4,
S6 に位置した時点で、ピックアップポジションS1 上
方の外観検査用CCDカメラ3及びその照明用光源3a
が同時に駆動され、その画像データつまりピックアップ
ポジションS1 に位置するパッケージP(第1番目)の
マーク・パッケージボイド検査データが演算処理装置7
内に採り込まれる。
When the inspection operation is started, first, the index table 1 is rotated.
The index table 1 is at an angle of 45 ° and each pad 1
a, 1b, 1c, 1d are points S8, S2, S4,
At the time of being located at S6, the CCD camera 3 for visual inspection above the pickup position S1 and its illumination light source 3a
Are simultaneously driven, and the image data, that is, the mark / package void inspection data of the package P (first) located at the pickup position S1 is processed by the arithmetic processing unit 7.
It is taken in.

【0040】この後、インデックステーブル1のパッド
1a,1b,1c,1dがそれぞれポジションS1,S3,
S5,S7 に位置した時点で、インデックステーブル1の
回転が停止し、次いで、インデックステーブル1が降下
し、その下降端でパッド1aによりローダトレーT1 内
の第1番目のパッケージPが吸着される。この吸着され
たパッケージPは、インデックステーブル1の上昇によ
りローダトレーT1 から取り出される。
Thereafter, the pads 1a, 1b, 1c, 1d of the index table 1 are moved to the positions S1, S3,
At the time when the index table 1 is located at S5 and S7, the rotation of the index table 1 is stopped, and then the index table 1 is lowered. At the lower end of the index table 1, the first package P in the loader tray T1 is sucked by the pad 1a. The sucked package P is taken out of the loader tray T1 by raising the index table 1.

【0041】以上のパッケージPのピックアップ動作が
終了して、インデックステーブル1が上昇端まで上昇し
た時点で、インデックステーブル1が回転を開始する。
なおこのようなピックアップ動作は0.1〜0.2秒程
度で完了する。
When the above-described pickup operation of the package P is completed and the index table 1 has risen to the rising end, the index table 1 starts rotating.
Such a pickup operation is completed in about 0.1 to 0.2 seconds.

【0042】また、パッケージPのピックアップ動作が
終了した時点で(または動作終了後に)、ローダトレー
T1 が、XY駆動機構2aによってX軸方向に1ピッチ
(パッケージ収納のピッチ)分だけ移動されて、次の検
査を行うパッケージP(第2番目)がピックアップポジ
ションS1 に配置される。
When the pick-up operation of the package P is completed (or after the operation is completed), the loader tray T1 is moved by one pitch (package storage pitch) in the X-axis direction by the XY drive mechanism 2a. A package P (second) for inspection is placed at the pickup position S1.

【0043】次に、インデックステーブル1の回転によ
り第1番目のパッケージPが計測ポジションS3 に向け
て搬送される過程において、各パッド1a,1b,1
c,1dがそれぞれポイントS2,S4,S6,S8 に達した
時点で、ピックアップポジションS1 に配置された第2
番目の画像データが外観検査用CCDカメラ3によって
採取され、その画像データが演算処理装置7内に採り込
まれる。
Next, in the process of transporting the first package P toward the measurement position S3 by rotating the index table 1, each of the pads 1a, 1b, 1
When c and 1d reach the points S2, S4, S6, and S8, respectively, the second position arranged at the pickup position S1 is reached.
The second image data is collected by the visual inspection CCD camera 3, and the image data is taken into the arithmetic processing unit 7.

【0044】次いで、インデックステーブル1の回転に
より各パッド1a,1b,1c,1dがそれぞれポジシ
ョンS3,S5,S7,S1 に達した時点で、インデックステ
ーブル1が停止・降下する。このとき、ピックアップポ
ジションS1 では、先と同様な動作で、パッド1bによ
って第2番目のパッケージPが取り出される。また、計
測ポジションS3 においては、インデックステーブル1
が下降端に達した時点で、2台の計測用CCDカメラ4
及び5とその照明用光源4a及び5aが同時に駆動さ
れ、第1番目のパッケージPのボールB・・Bの画像デー
タが採取され、この画像データが演算処理装置7に採り
込まれる。このようなデータ採取を行った時点で、演算
処理装置7は、ボールピッチ・ボール径・ボール位置度
・ボールコプラナリティを求めるとともに、そのボール
検査データと、先の外観検査用CCDカメラ3によるマ
ーク・パッケージボイドの検査データを用いて第1番目
のパッケージPの良否を判定する。
Next, when the pads 1a, 1b, 1c, 1d reach the positions S3, S5, S7, S1 respectively by the rotation of the index table 1, the index table 1 stops and descends. At this time, at the pickup position S1, the second package P is taken out by the pad 1b by the same operation as described above. In the measurement position S3, the index table 1
When the camera reaches the lower end, two measurement CCD cameras 4
, 5 and their illuminating light sources 4a and 5a are simultaneously driven, image data of the balls B,... B of the first package P is collected, and this image data is taken into the arithmetic processing unit 7. At the time when such data is collected, the arithmetic processing unit 7 obtains the ball pitch, the ball diameter, the ball position, and the ball coplanarity, and obtains the ball inspection data and the mark, The quality of the first package P is determined using the package void inspection data.

【0045】以上の第1番目のパッケージPのボール計
測を終了し、インデックステーブル1の上昇により、ピ
ックアップポジションS1 での第2番目のパッケージP
のピックアップ動作を終了した時点(または動作終了
後)で、ローダトレーT1 が、XY駆動機構2aによっ
てX軸方向に1ピッチ(パッケージ収納のピッチ)分だ
け移動されて、次の検査を行うパッケージP(第3番
目)がピックアップポジションS1 に配置される。
After the ball measurement of the first package P is completed, the index table 1 is lifted, and the second package P at the pickup position S1 is picked up.
When the pickup operation is completed (or after the operation is completed), the loader tray T1 is moved by one pitch (package storage pitch) in the X-axis direction by the XY drive mechanism 2a, and the package P ( Third) is located at the pickup position S1.

【0046】また、第2番目のパッケージPのピックア
ップ動作が完了した時点で、インデックステーブル1が
回転し、この回転過程において、各パッド1a,1b,
1c,1dがそれぞれポイントS4,S6,S8,S2 に達し
た時点で、ピックアップポジションS1 に配置された第
3番目の画像データが外観検査用CCDカメラ3によっ
て採取され、次いで、各パッド1a,1b,1c,1d
がそれぞれポジションS5,S7,S1,S3 に達した時点
で、各ポジションS1,S3,S5 で次の動作が行われる。
When the pick-up operation of the second package P is completed, the index table 1 is rotated. In this rotation process, each of the pads 1a, 1b,
When 1c and 1d reach the points S4, S6, S8 and S2, respectively, the third image data arranged at the pickup position S1 is collected by the visual inspection CCD camera 3, and then the respective pads 1a and 1b , 1c, 1d
Reaches the positions S5, S7, S1, S3, respectively, the following operations are performed at the respective positions S1, S3, S5.

【0047】ピックアップポジションS1 では、先と同
様な動作により、パッド1cによるパッケージP(第3
番目)の取り出しが行われる。また、その第3番目のパ
ッケージPのピックアップ動作が完了した時点(または
動作完了後)で、XY駆動機構2aによるローダトレー
T1 のX軸及びY軸移動により、2列の第4番目のパッ
ケージPがピックアップポジションS1 に配置される。
At the pickup position S1, the package P (third) by the pad 1c is operated by the same operation as described above.
) Is taken out. When the pickup operation of the third package P is completed (or after the operation is completed), the fourth package P in two rows is moved by the X-axis and Y-axis movement of the loader tray T1 by the XY drive mechanism 2a. It is located at the pickup position S1.

【0048】計測ポジションS3 では、先と同様な動作
で、2台の計測用CCDカメラ4及び5よる第2番目の
パッケージPのボール計測が行われる。
At the measurement position S3, ball measurement of the second package P by the two measurement CCD cameras 4 and 5 is performed by the same operation as described above.

【0049】良品収納ポジションP5 においては、この
ポジションにパッド1aで搬送された第1番目のパッケ
ージPが良品である場合には、インデックステーブル1
の降下とパッド1aでの吸着解除により、第1番目のパ
ッケージPが良品トレーT2内に収容される。一方、第
1番目のパッケージPが不良品である場合、インデック
ステーブル1が下降端に達してもパッド1aでパッケー
ジPを吸着したままの状態が維持される。
In the non-defective product storage position P5, if the first package P transported to this position by the pad 1a is a non-defective product, the index table 1
And the first package P is accommodated in the non-defective product tray T2. On the other hand, when the first package P is defective, the state where the package P is sucked by the pad 1a is maintained even when the index table 1 reaches the lower end.

【0050】また、良品収納ポジションP5 では、第1
番目のパッケージPが良品で、このパッケージPが良品
トレーT2 に収納されたときには、ローダトレーT2
が、XY駆動機構2bによってX軸方向に1ピッチ(パ
ッケージ収納のピッチ)分だけ移動されて、次のパッケ
ージPを収納する場所が良品収納ポジションS5 に配置
される。
In the non-defective product storage position P5, the first
When the package P is a good product and this package P is stored in the good product tray T2, the loader tray T2
Is moved by one pitch (package storage pitch) in the X-axis direction by the XY drive mechanism 2b, and the place where the next package P is stored is located in the non-defective product storage position S5.

【0051】以上の各ポジションS1,S3,S5 での動作
が完了した時点で、インデックステーブル1が回転し、
この回転の過程において、第4番目のパッケージPの画
像データが採取された後、各パッド1a,1b,1c,
1dが回転初期の位置(図2に示す位置)に戻る。この
状態で、ピックアップポジションS1 において第4のパ
ッケージPのピックアップ(パッド1dによる吸着)が
行われるとともに、計測ポジションP3 での第3番目の
パッケージPのボール計測と、良品収納ポジションP5
での第2番目のパッケージPの良品トレーT2 への収納
(良品の場合)が同時に行われる。なお、検査結果が不
良品で、良品収納ポジションS5 でトレーへの収納が行
われなかったパッケージP(第1番目)は、この時点で
NGトレーに排出される。
When the operation at each of the positions S1, S3, S5 is completed, the index table 1 rotates,
In this rotation process, after the image data of the fourth package P is collected, each of the pads 1a, 1b, 1c,
1d returns to the initial rotation position (the position shown in FIG. 2). In this state, the fourth package P is picked up (adsorbed by the pad 1d) at the pickup position S1, the ball of the third package P is measured at the measurement position P3, and the non-defective product storage position P5 is measured.
Of the second package P in the non-defective product tray T2 at the same time (in the case of a non-defective product). The package P (first) whose inspection result is defective and not stored in the tray at the non-defective product storage position S5 is discharged to the NG tray at this time.

【0052】以上で、インデックステーブル1の1サイ
クル分の動作が完了し、以後、第4番目のパッケージP
のボール計測と、第5番目以降のパッケージPのマーク
・パッケージボイド検査及びボール計測が同様な動作で
順次に実行されてゆく。
Thus, one cycle of the operation of the index table 1 has been completed.
The ball measurement, the mark / package void inspection of the fifth and subsequent packages P, and the ball measurement are sequentially performed by the same operation.

【0053】以上のように本発明の実施の形態において
は、トレーtoトレー(ローダトレーT1 から良品トレ
ーT2 への搬送)の過程において、パッケージPを反転
させる必要がなく、しかもマーク・ボイドパッケージ検
査とボール計測を同時に行うことができる。
As described above, in the embodiment of the present invention, in the process of tray-to-tray (transport from the loader tray T1 to the non-defective tray T2), the package P does not need to be turned over, and the mark void package inspection and Ball measurement can be performed simultaneously.

【0054】ちなみに、従来の外観検査装置において
は、検査タクトの短縮化をはかっても、上面外観検査
(マーク・パッケージボイド検査)も行うと、3秒程度
が限界であったのに対し、図1に示す構成の本発明の外
観検査装置では、タクト時間を1.2秒以下に抑えるこ
とができる。
By the way, in the conventional appearance inspection apparatus, even if the inspection tact is shortened, the upper surface appearance inspection (mark / package void inspection) is limited to about 3 seconds. In the appearance inspection apparatus of the present invention having the configuration shown in FIG. 1, the tact time can be suppressed to 1.2 seconds or less.

【0055】また、本発明の実施の形態では、高画素C
CDカメラを用いているので、ボールピッチ、ボール
径、ボール位置度及びボールコプラナリティを高精度で
計測することができる。
In the embodiment of the present invention, the high pixel C
Since a CD camera is used, ball pitch, ball diameter, ball position, and ball coplanarity can be measured with high accuracy.

【0056】例えば、ボール計測用の2次元計測用CC
Dカメラ4を400万画素、3次元計測用CCDカメラ
5を100万画素のものを使用した場合、繰り返し精度
±5〜10μmという高精度のボール計測を行うことが
できる。
For example, a two-dimensional measurement CC for ball measurement
When the D camera 4 has 4 million pixels and the three-dimensional measurement CCD camera 5 has 1 million pixels, it is possible to perform ball measurement with high repetition accuracy of ± 5 to 10 μm.

【0057】なお、400万画素の超高画素CCDカメ
ラの画像処理には膨大な時間を要するが、大容量同時並
列画像処理ボード群を用いることにより、その処理時間
を上記した検査タクト時間内に納めることは可能であ
る。
It should be noted that an enormous amount of time is required for image processing of a 4 million pixel super high pixel CCD camera, but by using a large-capacity simultaneous parallel image processing board group, the processing time can be kept within the above-mentioned inspection tact time. It is possible to put.

【0058】以上の実施の形態において、パッケージP
のボール像を撮像する3次元計測用CCDカメラ5は、
パッケージPのボール形成面に対して斜めに傾けて配置
しているので、得られる画像にはカメラの傾き方向にお
いて歪み(縮み)が生じ、そのままのデータでは精度
上、問題がある場合には較正を行っておく。
In the above embodiment, the package P
The three-dimensional measurement CCD camera 5 that captures the ball image of
Since the package P is arranged obliquely with respect to the ball forming surface, distortion (shrinkage) occurs in the obtained image in the direction of camera tilt. Keep going.

【0059】その較正法としては、画像処理によるソフ
ト的な手法、また、3次元計測用CCDカメラ5の光学
系に遠近補正用レンズとシリンドリカルレンズ等を組み
合わせて、斜めから撮像しても全視野にピントが合うよ
うにする、といったハード的な較正法を採ることもでき
る。
As the calibration method, a software method using image processing, or a combination of the optical system of the three-dimensional measurement CCD camera 5 with a perspective correction lens and a cylindrical lens, etc., so that the entire field of view can be obtained even when imaged obliquely. It is also possible to adopt a hardware calibration method such as focusing on the subject.

【0060】以上の実施の形態では平面十字形のインデ
ックステーブルを使用しているが、そのテーブルの形状
は、パッケージPの搬送過程においてピックアップポジ
ションS1 でのCCDカメラ2による撮像が可能なもの
であれば任意の形状を採用することができ、例えば図5
に示すように、円盤形の外周4箇所に半円形の切欠きC
・・Cを設けた形状のインデックステーブル101を用い
てもよい。
In the above embodiment, a flat cross index table is used, but the shape of the table is such that it can be picked up by the CCD camera 2 at the pickup position S1 in the process of transporting the package P. Any shape can be adopted as shown in FIG.
As shown in the figure, semicircular notches C
The index table 101 having a shape provided with C may be used.

【0061】以上の実施の形態では、インデックステー
ブルの4箇所にパッケージ吸着用のパッドを設けた例を
示したが、そのパッドの配置数は複数であれば特に限定
されない。さらに、このような回転方式のインデックス
テーブルに替えて、X−Y軸と鉛直方向に移動可能な他
のピックアップ装置を用いても本発明は実施可能であ
る。
In the above embodiment, an example is shown in which pads for adsorbing a package are provided at four locations in the index table. However, the number of pads arranged is not particularly limited as long as it is plural. Further, the present invention can be implemented by using another pickup device that can move in the vertical direction with respect to the XY axis, instead of such a rotation type index table.

【0062】以上の実施の形態では、ボールコプラナリ
ティ計測を行うため、計測ポジションS3 に3次元計測
用CCDカメラ5を配置しているが、ボールコプラナリ
ティが不要の場合は、検査ステージの下方にはボール平
面像を撮像する2次元計測用CCDカメラ4のみを配置
すればよい。
In the above embodiment, the CCD camera 5 for three-dimensional measurement is arranged at the measurement position S3 in order to measure the ball coplanarity. However, when the ball coplanarity is unnecessary, the ball is placed below the inspection stage. It is sufficient to dispose only the two-dimensional measurement CCD camera 4 that captures a plane image.

【0063】以上の実施の形態では、パッケージの端子
側の検査を画像処理計測で行う例を示したが、本発明は
これに限られることなく、パッケージの端子側の検査と
してレーザ変位計測を用いてもよい。
In the above embodiment, an example in which the inspection on the terminal side of the package is performed by image processing measurement has been described. However, the present invention is not limited to this, and the laser displacement measurement is used as the inspection on the terminal side of the package. You may.

【0064】[0064]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の外観検査
装置によれば、ボールピッチ、ボール径及びボール位置
度等の端子計測を高速かつ高精度で行うことができる。
またパッケージの上面マーク・パッケージボイド検査も
同一タクト内で行うことができる。しかも、それらの検
査を、パッケージを反転することなく正方向姿勢のまま
で実行できるので、パッケージのピックアップから出荷
トレーへの収納まで、パッケージのボール部にピックア
ップ装置等が接触せず、ボールが傷つく虞れがなくな
る。
As described above, according to the appearance inspection apparatus of the present invention, terminals such as the ball pitch, the ball diameter, and the ball position can be measured at high speed and with high accuracy.
Also, the inspection of the upper surface mark of the package and the package void can be performed within the same tact. In addition, since these inspections can be performed without reversing the package in the normal orientation, the pickup device does not contact the ball portion of the package from picking up the package to storing it in the shipping tray, and the ball is damaged. There is no fear.

【0065】さらに、トレーtoトレー方式のため、製
造工程用トレーから出荷トレーへの移し替え工程を、本
発明の検査装置が兼用し、削除することができる。
Further, since the tray-to-tray system is used, the inspection apparatus of the present invention can also omit the step of transferring from the manufacturing process tray to the shipping tray, and can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の概略構成を示す平面図FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】同じく実施の形態の概略構成を示す正面図FIG. 2 is a front view showing a schematic configuration of the embodiment.

【図3】本発明の実施の形態における計測ポジションS
3 の構成を示す図
FIG. 3 shows a measurement position S in the embodiment of the present invention.
Diagram showing configuration 3

【図4】本発明の実施の形態の信号処理系の構成を示す
ブロック図
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a signal processing system according to the embodiment of the present invention.

【図5】インデックテーブルの変形例を示す平面図FIG. 5 is a plan view showing a modification of the index table.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 インデックステーブル 1a,1b,1c,1d パッド 2a XY移動機構(ロードトレーT1 用) 2b XY移動機構(良品トレーT2 用) 3 マーク・パッケージボイド検査用CCDカメラ 3a 照明用光源 4 2次元計測用CCDカメラ 4a 照明用光源 5 3次元計測用CCDカメラ 5a 照明用光源 63,64,65 信号処理装置 7 演算処理装置 P パッケージ T1 ロードトレー T2 良品トレー S1 ピックアップポジション S3 計測ポジション S5 良品収納ポジション S7 不良品排出ポジション DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Index table 1a, 1b, 1c, 1d Pad 2a XY moving mechanism (for load tray T1) 2b XY moving mechanism (for good tray T2) 3 CCD camera for mark / package void inspection 3a Light source for illumination 4 CCD for two-dimensional measurement Camera 4a Lighting source for illumination 5 CCD camera for three-dimensional measurement 5a Lighting source for illumination 63, 64, 65 Signal processor 7 Processing unit P Package T1 Load tray T2 Good tray S1 Pickup position S3 Measurement position S5 Good storage position S7 Defective product discharge position

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 BGA・CSP型IC等のパッケージ
で、上面等にマークが付され裏面に電気接続用の端子が
形成されてなるパッケージの外観を検査する装置であっ
て、 端子面を下に向けた姿勢でトレーに収納されたパッケー
ジをピックアップして計測ポジションに搬送するピック
アップ装置と、そのトレーからのパッケージのピックア
ップポジションの上方に配置されたマーク・パッケージ
ボイド検査手段と、ピックアップ装置によって上部が保
持された状態で計測ポジションに搬送されたパッケージ
の端子側を、画像処理計測またはレーザ変位計測で検査
する計測手段を備え、 上記パッケージボイド検査手段は、先にマーク・パッケ
ージボイド検査を終えたパッケージをピックアップ装置
が計測ポジションに搬送している過程で、ピックアップ
ポジションに位置する、次のパッケージの検査を行うよ
うに構成されていることを特徴とする外観検査装置。
1. A device for inspecting the appearance of a package such as a BGA / CSP type IC having a mark on an upper surface or the like and a terminal for electrical connection formed on a rear surface, wherein the terminal surface is directed downward. A pickup device that picks up a package stored in a tray in a facing position and conveys it to a measurement position, a mark / package void inspection unit arranged above a pickup position of a package from the tray, and a pickup device that has an upper portion. Measuring means for inspecting the terminal side of the package conveyed to the measurement position while being held by image processing measurement or laser displacement measurement, wherein the package void inspection means is a package which has completed the mark / package void inspection first. While the pickup device is transporting to the measurement position, Located in-up position, the appearance inspection apparatus characterized by being configured to perform the inspection of the next package.
【請求項2】 当該外観検査装置全体のタイムタクトを
高速化するために、上記ピックアップ装置として、パッ
ケージをトレーのピックアップポジション→計測ポジシ
ョン→別のトレーの順で移動するインデックステーブル
を用いることを特徴とする、請求項1に記載の外観検査
装置。
2. In order to speed up the time tact of the whole appearance inspection apparatus, an index table for moving a package in the order of a pickup position of a tray, a measurement position, and another tray is used as the pickup device. The visual inspection device according to claim 1, wherein
JP22323097A 1997-08-20 1997-08-20 External appearance inspection device Pending JPH1163951A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22323097A JPH1163951A (en) 1997-08-20 1997-08-20 External appearance inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22323097A JPH1163951A (en) 1997-08-20 1997-08-20 External appearance inspection device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1163951A true JPH1163951A (en) 1999-03-05

Family

ID=16794841

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22323097A Pending JPH1163951A (en) 1997-08-20 1997-08-20 External appearance inspection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1163951A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003065754A (en) * 2001-08-24 2003-03-05 Ricoh Co Ltd Method and device for measuring flatness of semiconductor device package
US6741734B2 (en) 2000-04-06 2004-05-25 Nec Corporation Appearance inspection method and appearance inspection apparatus having high inspection processing speed
CN107520141A (en) * 2017-08-18 2017-12-29 广东长盈精密技术有限公司 Housing detection means
CN108955749A (en) * 2017-05-18 2018-12-07 东京威尔斯股份有限公司 Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method
KR102038289B1 (en) * 2018-04-23 2019-10-30 아진산업(주) Apparatus for inspecting welding part based on vision
CN111609933A (en) * 2019-02-25 2020-09-01 精工爱普生株式会社 Spectroscopic inspection method, image processing apparatus, and robot system
CN113231332A (en) * 2021-05-26 2021-08-10 苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司 Three-dimensional detection device for piezoelectric ceramic element

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6741734B2 (en) 2000-04-06 2004-05-25 Nec Corporation Appearance inspection method and appearance inspection apparatus having high inspection processing speed
JP2003065754A (en) * 2001-08-24 2003-03-05 Ricoh Co Ltd Method and device for measuring flatness of semiconductor device package
JP4557471B2 (en) * 2001-08-24 2010-10-06 株式会社リコー Method and apparatus for testing flatness of semiconductor device package
CN108955749A (en) * 2017-05-18 2018-12-07 东京威尔斯股份有限公司 Workpiece appearance inspection device and workpiece appearance inspection method
CN107520141A (en) * 2017-08-18 2017-12-29 广东长盈精密技术有限公司 Housing detection means
KR102038289B1 (en) * 2018-04-23 2019-10-30 아진산업(주) Apparatus for inspecting welding part based on vision
CN111609933A (en) * 2019-02-25 2020-09-01 精工爱普生株式会社 Spectroscopic inspection method, image processing apparatus, and robot system
CN113231332A (en) * 2021-05-26 2021-08-10 苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司 Three-dimensional detection device for piezoelectric ceramic element

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7719670B2 (en) Parts manipulation, inspection, and replacement system and method
US8286780B2 (en) Parts manipulation, inspection, and replacement system and method
US6603103B1 (en) Circuit for machine-vision system
JP2002513137A (en) Apparatus and method for inspecting lead of semiconductor device
JP6329397B2 (en) Image inspection apparatus and image inspection method
TWI477764B (en) Image creation method, substrate inspection method, storage medium storing program for executing image creation method or substrate inspection method, and substrate inspection device
JP2001160135A (en) Method and system for image processing, and method for preparing correction data
JP2009075102A (en) Inspection device and inspection method
JP3019005B2 (en) LSI handler
JPH1163951A (en) External appearance inspection device
JP2000131037A (en) Apparatus for inspecting shape of body
JP2000161916A (en) Inspection device for semiconductor packages
JP2003097931A (en) Method and device for optical inspection
KR102643110B1 (en) Optical inspection system and optical inspection method
JP4557471B2 (en) Method and apparatus for testing flatness of semiconductor device package
JP2001004334A (en) Inspecting device for semiconductor package
KR20130035826A (en) Apparatus for automated optical inspection
JP3340114B2 (en) Inspection equipment for semiconductor devices and component mounting machines
JPH01284744A (en) Inspecting device for electronic component
JPH05249049A (en) Apparatus for inspecting external appearance of component
JPH07193398A (en) Automatic assembly/mounting device and its method
JPH03165536A (en) Coplanarity measuring device
JP2005116874A (en) Component recognition device, component recognition method, surface mounting machine and component testing device
JP2022158945A (en) Information acquisition system for substrate processing apparatus, arithmetic unit, and information acquisition method for substrate processing apparatus
JP2021174904A (en) Inspection equipment