JPH1154363A - Laminated chip parts and their manufacture - Google Patents

Laminated chip parts and their manufacture

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JPH1154363A
JPH1154363A JP22002697A JP22002697A JPH1154363A JP H1154363 A JPH1154363 A JP H1154363A JP 22002697 A JP22002697 A JP 22002697A JP 22002697 A JP22002697 A JP 22002697A JP H1154363 A JPH1154363 A JP H1154363A
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JP
Japan
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capacitor
divided
capacitance value
conductor
conductors
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JP22002697A
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Masanori Tomaru
昌典 渡丸
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide laminated chip parts the capacitance value, of which can be adjusted finely by a simple method. SOLUTION: A conductor for capacitor D4 is divided into two patterns (conductors for capacitor) D4A and D4B. Since each pair of conductors for capacitors D1 and D4A, conductors D1 and D4B for capacitor, conductors for capacitor D4A and D5, conductors for capacitor D4B and D5, and conductors for capacitor D5 and D2 yields a capacitance value C0/2, a capacitance value C0 is obtained as a whole. Consequently, a capacitor having the capacitance value of 3C0 is obtained. The capacitance value of the capacitor can be adjusted, by changing the connection between the divided conductor patterns D4A and D4B and the conductor pattern D2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、積層チップコン
デンサ, 積層チップEMI除去フィルタなどの積層チッ
プ部品及びその製造方法にかかり、更に具体的には、そ
の取得容量値の変更に対する改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer chip component such as a multilayer chip capacitor and a multilayer chip EMI removal filter, and a method of manufacturing the same, and more specifically to an improvement with respect to a change in an obtained capacitance value. .

【0002】[0002]

【背景技術】積層チップ部品,例えば積層型LC複合部
品の一例を示すと、図5(A)に示すような積層構造とな
っている。この背景技術は、図5(D)に等価回路を示す
ように、いわゆるT型フィルタを構成するLC複合部品
の積層構造の例である。同図に示すように、上部の各層
によってコンデンサ(キャパシタ)部10が構成されて
おり、下部の各層によってインダクタ(コイル)部12
が構成されている。コンデンサ部10を構成するシート
A1〜A6は例えば誘電体材料によって形成されてお
り、シートA2〜A5にはコンデンサ用導体が形成され
ている。一方、インダクタ部12を構成するシートB1
〜B8は例えば磁性体材料(磁性フェライトなど)によ
って形成されており、シートB2〜B7にはインダクタ
用導体が形成されている。コンデンサ部10とインダク
タ部12の間には、異種接合材料としてシート14が設
けられている。以上の各シートを積層して成形,圧着,
焼成し、この積層体に外部引出用の端子電極を形成する
ことで積層型LC複合部品が得られる。
2. Description of the Related Art An example of a laminated chip component, for example, a laminated LC composite component, has a laminated structure as shown in FIG. This background art is an example of a laminated structure of LC composite parts constituting a so-called T-type filter as shown in an equivalent circuit in FIG. As shown in the figure, a capacitor (capacitor) unit 10 is constituted by upper layers, and an inductor (coil) unit 12 is constituted by lower layers.
Is configured. The sheets A1 to A6 forming the capacitor section 10 are formed of, for example, a dielectric material, and the sheets A2 to A5 are formed with capacitor conductors. On the other hand, sheet B1 forming inductor section 12
To B8 are formed of, for example, a magnetic material (magnetic ferrite or the like), and conductors for inductors are formed on the sheets B2 to B7. A sheet 14 is provided between the capacitor section 10 and the inductor section 12 as a dissimilar joining material. Each of the above sheets is laminated, formed, crimped,
By firing and forming a terminal electrode for external extraction on the laminate, a laminated LC composite component is obtained.

【0003】コンデンサ部10について説明すると、シ
ートA1は保護層である。シートA2,A4には、一方
のコンデンサ用導体D1がそれぞれ形成されている。こ
れらのコンデンサ用導体D1は積層シートの前後辺側に
露出しており、図5(B)又は(C)に示すGND電極(側面
端子)16に接続される。シートA3,A5には、他方
のコンデンサ用導体D2がそれぞれ形成されている。こ
れらのコンデンサ用導体D2は、略中央付近でバイアホ
ールD3(接続線で表示)によって接続されている。す
なわち、上述したコンデンサ用導体D1の中央部分に窓
が設けられており、この部分を通過するバイアホールD
3によってコンデンサ用導体D2の上下が接続されてい
る。これらコンデンサ用導体D1,D2は、必要があれ
ば更に多数積層される。シートA6も保護層である。以
上のコンデンサ用導体D1,D2によって、図5(D)の
等価回路に示すコンデンサCが構成されている。
[0003] Describing the capacitor section 10, the sheet A1 is a protective layer. One of the capacitor conductors D1 is formed on each of the sheets A2 and A4. These capacitor conductors D1 are exposed on the front and rear sides of the laminated sheet, and are connected to the GND electrodes (side terminals) 16 shown in FIG. 5B or 5C. The other capacitor conductor D2 is formed on each of the sheets A3 and A5. These capacitor conductors D2 are connected by via holes D3 (indicated by connection lines) near the center. That is, a window is provided in the central portion of the above-described capacitor conductor D1, and the via hole D passing through this portion is provided.
3 connects the upper and lower sides of the capacitor conductor D2. These capacitor conductors D1 and D2 are further laminated if necessary. Sheet A6 is also a protective layer. The capacitor C shown in the equivalent circuit of FIG. 5D is constituted by the capacitor conductors D1 and D2.

【0004】次に、インダクタ部12を説明すると、シ
ートB1は保護層である。シートB2〜B7には、コイ
ル用導体が形成されている。シートB2には、略コ字状
のコイル用導体E1,F1が形成されている。これらの
コイル用導体E1,F1は略逆S字状に連続しており、
その接続部分が、シートA6,14,B1を貫通するバ
イアホールD3によってコンデンサ部10側に接続され
る。
Next, the inductor portion 12 will be described. The sheet B1 is a protective layer. On the sheets B2 to B7, coil conductors are formed. A substantially U-shaped coil conductor E1, F1 is formed on the sheet B2. These coil conductors E1 and F1 are continuous in a substantially inverted S-shape.
The connection portion is connected to the capacitor section 10 via hole D3 penetrating through the sheets A6, 14, B1.

【0005】シートB3には、略コ字状のコイル用導体
E2,F2が、反対側に開口が向くように形成されてい
る。そして、それらの一端は、バイアホールG1,H1
によってそれぞれコイル用導体E1,F1に接続されて
いる。同様に、次のシートB4には、略コ字状のコイル
用導体E3,F3が、開口が向くように形成されてい
る。そして、それらの一端は、バイアホールG2,H2
によってそれぞれコイル用導体E2,F2に接続されて
いる。以下のシートB5には、シートB3と同様のコイ
ル用導体E2,F2がそれぞれ形成されている。また、
シートB6には、シートB4と同様のコイル用導体E
3,F3が形成されている。これらインダクタ用導体E
2,F2及びE3,F3は、必要があれば更に多層され
る。シートB7には、略コ字状のパターンを左右辺側に
それぞれ延長露出したコイル用導体E4,F4がそれぞ
れ形成されている。ホール接続も、前記シートと同様で
ある。最下層のシートB8は保護層である。
[0005] A substantially U-shaped coil conductor E2, F2 is formed on the sheet B3 so that the opening faces the opposite side. One end of each of the via holes G1, H1
Are connected to the coil conductors E1 and F1, respectively. Similarly, a substantially U-shaped coil conductor E3, F3 is formed on the next sheet B4 so that the opening faces. One end of each of the via holes G2, H2
Are connected to the coil conductors E2 and F2, respectively. The following sheet B5 is provided with coil conductors E2 and F2 similar to the sheet B3. Also,
Sheet B6 has the same coil conductor E as sheet B4.
3, F3 are formed. These inductor conductors E
2, F2 and E3, F3 are further multilayered if necessary. On the sheet B7, coil conductors E4 and F4, each of which has a substantially U-shaped pattern extended and exposed to the left and right sides, respectively, are formed. The hole connection is the same as that of the sheet. The lowermost sheet B8 is a protective layer.

【0006】以上の各部のうち、スパイラル状に連続す
るコイル用導体E1,E2,E3,E4及びバイアホー
ルG1,G2によって、図5(D)に示す等価回路のコイ
ルLAが構成されている。また、スパイラル状に連続す
るコイル用導体F1,F2,F3,F4及びバイアホー
ルH1,H2によって、図5(D)に示す等価回路のコイ
ルLBが構成されている。そして、シートB7のコイル
用導体E4,F4が積層シートから左右に露出してお
り、図5(B),(C)の入出力電極18,20にそれぞれ接
続される。
[0006] Of the above-mentioned components, the coil conductors E1, E2, E3, E4 and the via holes G1, G2 which are continuous in a spiral form constitute a coil LA of an equivalent circuit shown in FIG. 5 (D). In addition, the coil conductors F1, F2, F3, F4 and the via holes H1, H2 that continue in a spiral form constitute the coil LB of the equivalent circuit shown in FIG. 5D. Then, the coil conductors E4 and F4 of the sheet B7 are left and right exposed from the laminated sheet, and are connected to the input / output electrodes 18 and 20 of FIGS. 5B and 5C, respectively.

【0007】以上のようにしてコンデンサ用導体,イン
ダクタ用導体,バイアホールがそれぞれ形成されたシー
トは、図5(A)に示す順に積み重ねられる。そして、そ
の後成形,圧着,焼成されて積層体となる。そして、こ
の積層体の前後及び左右に電極16,18,20を形成
して、図5(B),(C)に外観を示す直方体形状の積層LC
複合部品を得る。なお、図5(B),(C)の外観構造は、G
ND電極16が積層チップの側面前後にあるか、あるい
は側面全周にあるかの点で異なる。図6(A)には、図5
(B),(C)の入出力電極方向に沿った断面が示されてい
る。この断面図のように、部品のほぼ中央にバイアホー
ルD3の柱が横断し、これによって部品内部でインダク
タ素子とコンデンサ素子が接続されている。
The sheets on which the conductors for capacitors, conductors for inductors, and via holes are formed as described above are stacked in the order shown in FIG. Then, it is molded, pressed and fired to form a laminate. Then, electrodes 16, 18, and 20 are formed on the front, rear, left and right sides of the laminated body, and the rectangular parallelepiped laminated LC shown in FIGS.
Obtain composite parts. The external structure shown in FIGS. 5B and 5C is G
The difference is that the ND electrode 16 is located before and after the side surface of the laminated chip or on the entire periphery of the side surface. FIG. 6A shows FIG.
(B) and (C) show cross sections along the input / output electrode direction. As shown in the cross-sectional view, the pillar of the via hole D3 traverses substantially the center of the component, thereby connecting the inductor element and the capacitor element inside the component.

【0008】ここで、コンデンサ部10に着目すると、
GND電極16と接続する導体パターンD1と、インダ
クタ部12に接続される導体パターンD2が交互に重ね
られている。ここで、最も外側(図6(A)の上側)にG
ND電極16と接続する導体パターンD1が配置されて
おり、反対側(図6(A)の下側)にインダクタ部12と
接続する導体パターンD2が配置された構造とするのが
一般的である。
Here, focusing on the capacitor section 10,
The conductor pattern D1 connected to the GND electrode 16 and the conductor pattern D2 connected to the inductor portion 12 are alternately stacked. Here, the outermost (upper side in FIG. 6A) G
In general, a conductor pattern D1 connected to the ND electrode 16 is arranged, and a conductor pattern D2 connected to the inductor portion 12 is arranged on the opposite side (the lower side in FIG. 6A). .

【0009】これは、次のような理由による。仮にチッ
プ素体表面にクラックが生じ、このクラックが内部に向
かって成長すると、この部分から水分などが部品内部に
入り込み、耐湿性や耐圧性(絶縁性)が低下する。しか
し、外側に導体パターンD1を配置すると、そのような
クラックから湿気が侵入しても、導体パターンD1がG
NDと接続されてGND電位となっているため、耐湿性
や耐圧性の劣化が低減されるようになる。一方、反対の
インダクタ側については、コンデンサ部10の最もイン
ダクタ部12に近接する位置にインダクタ用導体と異な
る電位の導体パターンを配置すると、それらの間におけ
る電位差が大きくなる。このため、それらの間の耐圧性
を保証するために相当の注意を払わなければならない。
しかし、インダクタ用導体と同電位のコンデンサ用導体
D2を配置すれば、そのような耐圧性を考慮しなくても
よい。以上のような理由から、外側にはGNDに接続す
る導体パターンD1を配置し、インダクタ側には同電位
の導体パターンD2を配置する。
This is for the following reason. If cracks are formed on the surface of the chip body and these cracks grow toward the inside, moisture and the like enter the inside of the component from this portion, and the moisture resistance and the pressure resistance (insulation) decrease. However, if the conductor pattern D1 is arranged outside, even if moisture enters from such a crack, the conductor pattern D1 will be G
Since it is connected to ND and has the GND potential, deterioration of moisture resistance and pressure resistance is reduced. On the other hand, on the opposite inductor side, when a conductor pattern having a potential different from that of the inductor conductor is arranged at a position closest to the inductor section 12 of the capacitor section 10, a potential difference between them becomes large. For this reason, considerable care must be taken to ensure the pressure resistance between them.
However, if the capacitor conductor D2 having the same potential as the inductor conductor is arranged, it is not necessary to consider such a pressure resistance. For the above reasons, the conductor pattern D1 connected to GND is arranged on the outside, and the conductor pattern D2 having the same potential is arranged on the inductor side.

【0010】特に、部品形状の小型化が進むに従って、
部品全体の体積に対する内部電極の占める割合が増大す
るため、部品全体の信頼性レベルも悪化する。しかし、
コンデンサ部を上述した導体配置とすることで、そのよ
うな信頼性の低下を防止することができる。
In particular, as the miniaturization of component shapes progresses,
Since the ratio of the internal electrodes to the volume of the entire component increases, the reliability level of the entire component also deteriorates. But,
By using the above-described conductor arrangement for the capacitor portion, such a decrease in reliability can be prevented.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上の
ような背景技術には、次のような不都合がある。 (1)導体パターンの積層構造で必要な静電容量を取得す
るための方法としては、導体パターンD1,D2の積層
数を調整する方法がある。ところが、上述したように、
信頼性の観点から外側及びインダクタ側の導体パターン
が制限される。このため、積層数を調整するとしても、
2種類の導体パターンの積層数の組み合わせは、2層→
4層→6層→……と偶数枚数に制限されてしまう。図6
(B)〜(D)にはその様子が示されている。まず、図6(B)
は2層構造の例で、導体パターンD1,D2によって容
量C0のコンデンサが構成されている。図6(C)は4層構
造の例で、全体で3C0の容量が得られる。図6(D)は6
層構造の例で、全体で5C0の容量が得られる。このよ
うに、積層数の調整のみによっては、1C0,3C0,5
C0,……と段階的な静電容量値しか得られず、微少な
容量値調整は困難である。
However, the above background art has the following disadvantages. (1) As a method for obtaining the capacitance required for the laminated structure of the conductor patterns, there is a method of adjusting the number of layers of the conductor patterns D1 and D2. However, as mentioned above,
From the viewpoint of reliability, the conductor patterns on the outer side and the inductor side are limited. Therefore, even if the number of layers is adjusted,
The combination of the number of layers of two types of conductor patterns is 2 layers →
The number is limited to an even number such as 4 layers → 6 layers →. FIG.
(B) to (D) show the situation. First, FIG. 6 (B)
Is an example of a two-layer structure, and a capacitor having a capacitance C0 is constituted by the conductor patterns D1 and D2. FIG. 6C shows an example of a four-layer structure, in which a capacity of 3C0 is obtained as a whole. Fig. 6 (D) shows 6
In the example of the layer structure, a total capacity of 5C0 is obtained. Thus, only by adjusting the number of layers, 1C0, 3C0, 5
.., And only a stepwise capacitance value is obtained, and it is difficult to finely adjust the capacitance value.

【0012】(2)他の容量値調整の方法として、シート
厚みで調整する方法がある。しかし、この場合には、何
種類もの厚みのシートを用意しなければならない。 (3)また、更に他の調整方法として、導体パターンの面
積で調整する方法がある。しかし、この場合には、導体
パターン印刷用として何種類ものスクリーンを用意しな
ければならず、生産性などの観点から得策とはいえな
い。
(2) As another method of adjusting the capacitance value, there is a method of adjusting the sheet thickness. However, in this case, sheets having various thicknesses must be prepared. (3) As still another adjustment method, there is a method of adjusting with the area of the conductor pattern. However, in this case, several types of screens must be prepared for printing the conductor pattern, which is not a good idea from the viewpoint of productivity and the like.

【0013】この発明は、以上の点に着目したもので、
簡便な手法で微少な容量値調整を行うことによって所望
の容量値を取得することができる積層チップ部品及びそ
の製造方法を提供することを、その目的とするものであ
る。
The present invention focuses on the above points,
It is an object of the present invention to provide a multilayer chip component capable of obtaining a desired capacitance value by performing a minute capacitance value adjustment by a simple method and a method of manufacturing the same.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、この発明の積層チップ部品は、コンデンサ用導体の
うちの少なくとも一つをシート内で複数に分割形成する
とともに、分割導体パターンのうちの取得容量値に対応
するものを接続したことを特徴とする。主要な形態の一
つは、コンデンサ部及びインダクタ部を備えており、こ
のインダクタ部と同電位のコンデンサ用導体の少なくと
も一つを分割するとともに、対応する分割導体パターン
をホール接続したことを特徴とする。他の形態は、GN
Dに接続されるコンデンサ用導体の少なくとも一つを分
割するとともに、対応する分割導体パターンを外部電極
接続したことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a laminated chip component according to the present invention is characterized in that at least one of the capacitor conductors is divided into a plurality of pieces in a sheet, and at least one of the divided conductor patterns is formed. The one corresponding to the acquired capacity value is connected. One of the main modes includes a capacitor portion and an inductor portion, and at least one of the capacitor conductors having the same potential as the inductor portion is divided, and the corresponding divided conductor patterns are connected by holes. I do. Another form is GN
At least one of the capacitor conductors connected to D is divided, and the corresponding divided conductor patterns are connected to external electrodes.

【0015】本発明のチップ部品製造方法は、コンデン
サ用導体のうちの少なくとも一つをシート内で複数に分
割形成するステップ;分割した導体パターンのうちの取
得容量値に対応するものを接続するホールパターンを形
成するステップ;を備えたことを特徴とする。他の製造
方法は、分割した導体パターンのうちの取得容量値に対
応するものを接続する外部電極を形成するステップ;を
備えたことを特徴とする。
In the method of manufacturing a chip component according to the present invention, at least one of the capacitor conductors is divided into a plurality of portions in a sheet; a hole for connecting one of the divided conductor patterns corresponding to the obtained capacitance value. Forming a pattern. Another manufacturing method includes a step of forming an external electrode for connecting one of the divided conductor patterns corresponding to the obtained capacitance value.

【0016】本発明によれば、コンデンサ用の導体パタ
ーンがシート内で分割形成される。そして、これらのう
ちの取得容量値に該当するものが選択されてホールや外
部電極で接続される。これにより、接続の有無によっ
て、積層数の増減のみでは得られない容量値も取得でき
るようになり、取得容量値の細かい調整が可能となり、
設計の自由度が向上する。この発明の前記及び他の目
的,特徴,利点は、以下の詳細な説明及び添付図面から
明瞭になろう。
According to the present invention, the conductor pattern for the capacitor is divided and formed in the sheet. Then, the one corresponding to the obtained capacitance value is selected and connected by a hole or an external electrode. Thereby, depending on the presence or absence of connection, it is possible to acquire a capacitance value that cannot be obtained only by increasing or decreasing the number of stacked layers, and it is possible to finely adjust the acquired capacitance value,
The degree of freedom in design is improved. The above and other objects, features, and advantages of the present invention will be apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。なお、上述した背景技術と対応する
構成要素には、同一の符号を用いることとする。
Embodiments of the present invention will be described below in detail. Note that the same reference numerals are used for components corresponding to the above-described background art.

【0018】(1)実施形態1 最初に、図1(A),図2(A),図3を参照しながら実施形
態1について説明する。図2(A)には本形態の積層構造
が示されており、図1(A)には入出力電極方向の断面が
示されている。この形態も、図5(D)に示したように、
いわゆるT型フィルタを構成するLC複合部品の例であ
る。基本的な積層構造は、前記背景技術と同様である。
すなわち、上部層によってコンデンサ部30が構成され
ており、下部層によってインダクタ部32が構成されて
いる。コンデンサ部30とインダクタ部32の間には、
異種接合材料としてシート14が設けられている。
(1) First Embodiment First, a first embodiment will be described with reference to FIGS. 1A, 2A, and 3. FIG. FIG. 2A shows a laminated structure of this embodiment, and FIG. 1A shows a cross section in the direction of input / output electrodes. This form also, as shown in FIG.
This is an example of an LC composite component constituting a so-called T-type filter. The basic laminated structure is the same as the background art.
That is, the capacitor section 30 is constituted by the upper layer, and the inductor section 32 is constituted by the lower layer. Between the capacitor part 30 and the inductor part 32,
A sheet 14 is provided as a dissimilar joining material.

【0019】次に、各部について順に説明する。まず、
コンデンサ部30から説明すると、シートA1は保護層
である。シートA2,A4には、一方のコンデンサ用導
体D1,D5がそれぞれ形成されている。これらのコン
デンサ用導体D1,D5は積層シートの前後辺側に露出
しており、図5(B),(C)に示したGND電極16に接続
されている。シートA3,A5には、他方のコンデンサ
用導体D4,D2がそれぞれ形成されている。これらの
コンデンサ用導体D2,D4は、バイアホールによって
インダクタ側に接続される導体である。
Next, each part will be described in order. First,
Explaining from the capacitor section 30, the sheet A1 is a protective layer. One of the capacitor conductors D1 and D5 is formed on each of the sheets A2 and A4. These capacitor conductors D1 and D5 are exposed on the front and rear sides of the laminated sheet, and are connected to the GND electrodes 16 shown in FIGS. 5B and 5C. The other conductors D4 and D2 for capacitors are formed on the sheets A3 and A5, respectively. These capacitor conductors D2 and D4 are conductors connected to the inductor side by via holes.

【0020】本形態では、コンデンサ用導体D4が、2
つのパターンD4A,D4Bに分割されており、それぞ
れバイアホールD3A,D3Bによってコンデンサ用導
体D2に接続されている。すなわち、上述したコンデン
サ用導体D5の左右端部が空いており、この部分を通過
するバイアホールD3A,D3Bによってコンデンサ用
導体D2,D4の上下が接続されている。これらコンデ
ンサ用導体D4,D5は、必要があれば更に多数積層さ
れる。シートA6は保護層である。以上の各部によっ
て、図5(D)に示したコンデンサCが構成されている。
In the present embodiment, the capacitor conductor D4 is 2
Are divided into two patterns D4A and D4B, and are connected to the capacitor conductor D2 by via holes D3A and D3B, respectively. That is, the left and right ends of the above-described capacitor conductor D5 are free, and the upper and lower portions of the capacitor conductors D2 and D4 are connected by via holes D3A and D3B passing through this portion. These capacitor conductors D4 and D5 are stacked in a larger number if necessary. Sheet A6 is a protective layer. The above components constitute the capacitor C shown in FIG.

【0021】次に、インダクタ部32を説明すると、基
本的構成は上述した背景技術と同様である。ただし、シ
ートB5,B6と同様の導体パターンが形成されたシー
トB9,B10が積層されている点で異なる。
Next, the inductor section 32 will be described. The basic configuration is the same as that of the background art described above. However, the difference is that sheets B9 and B10 on which conductive patterns similar to those of sheets B5 and B6 are formed are stacked.

【0022】次に、図1(A)の断面を参照して、本形態
で取得可能な容量値について説明する。本形態によれ
ば、まず、最も外側(図の上側)のコンデンサ用導体D
1とその次の導体D4Aとによって、容量値C0/2の
コンデンサが形成される。同様に、コンデンサ用導体D
1とその次の導体D4Bとによって、容量値C0/2の
コンデンサが形成される。次に、コンデンサ用導体D4
Aと導体D5とによって容量値C0/2のコンデンサが
形成され、導体D4Bと導体D5とによって容量値C0
/2のコンデンサが形成される。更に、導体D5とD2
とによって、容量値C0のコンデンサが形成される。従
って、全体としては、3C0の容量値のコンデンサが取
得できる。すなわち、本形態では、2番目の導体パター
ンD4がD4A,D4Bに分割されているものの、いず
れもバイアホールD3A,D3Bで導体パターンD2に
接続されているため、結果的に図6(C)と同様となる。
Next, with reference to the cross section of FIG. 1A, the capacitance value obtainable in this embodiment will be described. According to this embodiment, first, the outermost (upper side in the figure) capacitor conductor D
1 and the next conductor D4A form a capacitor having a capacitance value C0 / 2. Similarly, the capacitor conductor D
1 and the next conductor D4B form a capacitor having a capacitance value C0 / 2. Next, the capacitor conductor D4
A and the conductor D5 form a capacitor having a capacitance value of C0 / 2, and the conductor D4B and the conductor D5 form a capacitance value of C0.
/ 2 capacitors are formed. Further, conductors D5 and D2
Thus, a capacitor having a capacitance value C0 is formed. Therefore, a capacitor having a capacitance value of 3C0 can be obtained as a whole. That is, in the present embodiment, although the second conductor pattern D4 is divided into D4A and D4B, both are connected to the conductor pattern D2 through via holes D3A and D3B, and as a result, FIG. It becomes the same.

【0023】ところで、本形態において、バイアホール
D3A,D3Bのうちのいずれか一方、例えばバイアホ
ールD3Aを形成せず、バイアホールD3Bのみを接続
したとする。すると、分割された導体パターンD4A
と、その上下の導体D1,D5との間にはコンデンサが
形成されなくなる。従って、コンデンサ全体の容量値は
2C0となる。このように、導体パターンの一部を分割
し、バイアホール接続を調整することで、容量値も調整
することが可能となる。
In this embodiment, it is assumed that one of the via holes D3A and D3B, for example, the via hole D3A is not formed and only the via hole D3B is connected. Then, the divided conductor pattern D4A
And no capacitor is formed between the upper and lower conductors D1 and D5. Therefore, the capacitance value of the entire capacitor is 2C0. As described above, by dividing a part of the conductor pattern and adjusting the via hole connection, the capacitance value can be adjusted.

【0024】次に、図3を参照しながら、各種容量値の
例を示す。まず、図3(A)は2層構造で容量値C0を得る
場合で、これは上述した背景技術と同様である。次に、
図3(B)は容量値2C0を得る場合である。この容量値
は、背景技術では得られない。しかし、本形態によれ
ば、4層構造とするとともに、分割導体パターンD4
A,D4Bのうちのいずれか一方のみを導体パターンD
2とホール接続とすることで容量値2C0を得ることが
できる。次に、図3(C)は容量値3C0を得る場合であ
る。これは、分割導体パターンD4A,D4Bをいずれ
も導体パターンD2とホール接続とすることで得ること
ができる。図6(C)と実質的に等価である。
Next, examples of various capacitance values will be described with reference to FIG. First, FIG. 3A shows a case where a capacitance value C0 is obtained with a two-layer structure, which is the same as in the background art described above. next,
FIG. 3B shows a case where a capacitance value of 2C0 is obtained. This capacitance value cannot be obtained by the background art. However, according to the present embodiment, the four-layer structure and the divided conductor pattern D4
A, D4B, only one of the conductive patterns D
A capacitance value of 2C0 can be obtained by making a hole connection with 2. Next, FIG. 3C shows a case where a capacitance value 3C0 is obtained. This can be obtained by making the divided conductor patterns D4A and D4B both hole-connected to the conductor pattern D2. This is substantially equivalent to FIG.

【0025】次に、図3(D)は容量値4C0を得る場合で
ある。この容量値は、背景技術では得られない。しか
し、本形態によれば、6層構造とするとともに、分割導
体パターンD4A,D4B,D6A,D6Bのうち、い
ずれか一つ,例えばD4Aを導体パターンD2とホール
接続しないことで容量値4C0を得ることができる。次
に、図3(E)は容量値5C0を得る場合である。これは、
分割導体パターンD4A,D4B,D6A,D6Bをい
ずれも導体パターンD2とホール接続とすることで得る
ことができる。図6(D)と実質的に等価である。
Next, FIG. 3D shows a case where a capacitance value of 4C0 is obtained. This capacitance value cannot be obtained by the background art. However, according to the present embodiment, a capacitance value of 4C0 is obtained by forming a six-layer structure and not connecting any one of the divided conductor patterns D4A, D4B, D6A, and D6B, for example, D4A, to the conductor pattern D2 by hole. be able to. Next, FIG. 3E shows a case where a capacitance value of 5C0 is obtained. this is,
Each of the divided conductor patterns D4A, D4B, D6A, D6B can be obtained by making a hole connection with the conductor pattern D2. This is substantially equivalent to FIG.

【0026】以上のように、本形態によれば、コンデン
サの容量値として1C0,2C0,3C0,4C0,5C
0,……が得られる。すなわち、背景技術では得られな
かった2C0,4C0,……などの偶数倍の容量値が得ら
れるようになる。しかも、このような容量値を、シート
厚みや電極面積などを調整することなく、ホール接続の
有無のみによって簡便に得ることができる。
As described above, according to the present embodiment, 1C0, 2C0, 3C0, 4C0, 5C
0, ... are obtained. That is, an even-numbered capacitance value such as 2C0, 4C0,... That cannot be obtained by the background art can be obtained. Moreover, such a capacitance value can be easily obtained only by the presence or absence of the hole connection without adjusting the sheet thickness and the electrode area.

【0027】(2)実施形態2 次に、図1(B),図2(B),図4を参照しながら実施形態
2について説明する。図2(B)には本形態の積層構造が
示されており、図1(B)には入出力電極方向の断面が示
されている。この形態も、図5(D)に示したように、い
わゆるT型フィルタを構成するLC複合部品の例であ
る。基本的な積層構造も、前記背景技術と同様である。
すなわち、上部層によってコンデンサ部40が構成され
ており、下部層によってインダクタ部32が構成されて
いる。コンデンサ部40とインダクタ部32の間には、
異種接合材料としてシート14が設けられている。
(2) Second Embodiment Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 1 (B), 2 (B), and 4. FIG. 2B shows a laminated structure of this embodiment, and FIG. 1B shows a cross section in the direction of input / output electrodes. This form is also an example of an LC composite component constituting a so-called T-type filter as shown in FIG. The basic laminated structure is the same as in the background art.
That is, the capacitor section 40 is constituted by the upper layer, and the inductor section 32 is constituted by the lower layer. Between the capacitor section 40 and the inductor section 32,
A sheet 14 is provided as a dissimilar joining material.

【0028】本形態では、コンデンサ用導体D4が3分
割されており、導体パターンD4C,D4D,D4Eに
よって構成されている。これらの分割導体パターンD4
C,D4D,D4Eは、いずれもコンデンサ用導体D5
を通過するバイアホールD3C,D3D,D3Eによっ
てコンデンサ用導体D2に接続されている。他の構成部
分は、上述した形態1と同様である。
In this embodiment, the capacitor conductor D4 is divided into three, and is constituted by conductor patterns D4C, D4D and D4E. These divided conductor patterns D4
C, D4D and D4E are all conductors D5 for capacitors.
Are connected to the capacitor conductor D2 by via holes D3C, D3D, and D3E passing through. Other components are the same as in the first embodiment.

【0029】次に、図1(B)の断面を参照して、本形態
で取得可能な容量値について説明する。本形態によれ
ば、まず、最も外側のコンデンサ用導体D1とその次の
導体D4Cとによって、容量値C0/3のコンデンサが
形成される。同様に、コンデンサ用導体D1とその次の
導体D4Dとによって、容量値C0/3のコンデンサが
形成される。更に、コンデンサ用導体D1とその次の導
体D4Eとによって、容量値C0/3のコンデンサが形
成される。すなわち、導体D1と3分割導体D4C,D
4D,D4Eとの間でそれぞれ容量値C0/3のコンデ
ンサが形成される。
Next, referring to the cross section of FIG. 1B, the capacitance value that can be obtained in this embodiment will be described. According to this embodiment, first, a capacitor having a capacitance value C0 / 3 is formed by the outermost capacitor conductor D1 and the next conductor D4C. Similarly, a capacitor having a capacitance value C0 / 3 is formed by the capacitor conductor D1 and the next conductor D4D. Further, a capacitor having a capacitance value C0 / 3 is formed by the capacitor conductor D1 and the next conductor D4E. That is, the conductor D1 and the three-segmented conductors D4C, D4
Capacitors each having a capacitance value C0 / 3 are formed between the capacitors 4D and 4E.

【0030】次に、コンデンサ用導体D4C,D4D,
D4Eと導体D5とによって容量値C0/3のコンデン
サがそれぞれ形成される。更に、導体D5とD2とによ
って、容量値C0のコンデンサが形成される。従って、
全体としては、3C0の容量値のコンデンサが取得でき
る。すなわち、本形態では、2番目の導体パターンD4
がD4C,D4D,D4Eに3分割されているものの、
いずれもバイアホールD3C,D3D,D3Eで導体パ
ターンD2に接続されているため、結果的に図6(C)と
同様となる。
Next, capacitor conductors D4C, D4D,
D4E and the conductor D5 form capacitors having a capacitance value C0 / 3, respectively. Further, a capacitor having a capacitance value C0 is formed by the conductors D5 and D2. Therefore,
As a whole, a capacitor having a capacitance value of 3C0 can be obtained. That is, in this embodiment, the second conductor pattern D4
Is divided into D4C, D4D, and D4E,
Since all of them are connected to the conductor pattern D2 through via holes D3C, D3D, and D3E, the result is the same as FIG. 6C.

【0031】ところで、本形態において、バイアホール
D3C,D3D,D3Eのうちのいずれか、例えばバイ
アホールD3C,D3Dを形成せず、バイアホールD3
Eのみを接続したとする。すると、分割された導体パタ
ーンD4C,D4Dと、その上下の導体D1,D5との
間にはコンデンサが形成されなくなる。従って、コンデ
ンサ全体の容量値は(1+2/3)C0となる。このよ
うに、導体パターンを更に分割し、バイアホール接続を
調整することで、容量値の微調整が可能となる。
By the way, in this embodiment, any one of the via holes D3C, D3D, and D3E, for example, the via holes D3C and D3D is not formed, and the via hole D3 is not formed.
Assume that only E is connected. Then, no capacitor is formed between the divided conductor patterns D4C and D4D and the upper and lower conductors D1 and D5. Therefore, the capacitance value of the entire capacitor is (1 + 2/3) C0. As described above, the capacitance value can be finely adjusted by further dividing the conductor pattern and adjusting the via hole connection.

【0032】次に、図4を参照しながら、各種容量値の
例を示す。まず、図4(A)は2層構造で容量値C0を得る
場合で、上述した背景技術と同様である。次に、図4
(B)は容量値(1+2/3)C0を得る場合である。本形
態によれば、4層構造とするとともに、分割導体パター
ンD4C,D4D,D4Eのうちのいずれか1つのみを
導体パターンD2とホール接続とすることで容量値(1
+2/3)C0を得ることができる。次に、図4(C)は容
量値(2+1/3)C0を得る場合である。これは、分
割導体パターンD4C,D4D,D4Eのいずれか2つ
を導体パターンD2とホール接続することで得ることが
できる。図4(D)は、分割導体パターンD4C,D4
D,D4Eをいずれも導体パターンD2と接続したもの
で、3C0の容量値を得ることができる。図6(C)と実質
的に等価である。
Next, examples of various capacitance values will be described with reference to FIG. First, FIG. 4A shows a case where a capacitance value C0 is obtained with a two-layer structure, which is the same as in the background art described above. Next, FIG.
(B) is a case where a capacitance value (1 + 2/3) C0 is obtained. According to the present embodiment, the capacitance value (1) is obtained by forming a four-layer structure and connecting only one of the divided conductor patterns D4C, D4D, and D4E to the conductor pattern D2 through a hole.
+2/3) C0 can be obtained. Next, FIG. 4C shows a case where a capacitance value (2 + /) C0 is obtained. This can be obtained by connecting any two of the divided conductor patterns D4C, D4D, D4E to the conductor pattern D2 by holes. FIG. 4D shows divided conductor patterns D4C and D4.
D and D4E are both connected to the conductor pattern D2, so that a capacitance value of 3C0 can be obtained. This is substantially equivalent to FIG.

【0033】次に、図4(E)は容量値(3+2/3)C0
を得る場合である。本形態によれば、6層構造とすると
ともに、分割導体パターンD4C,D4D,D4Eのう
ち、いずれか1つのみ,例えばD4Eを導体パターンD
2とホール接続するとともに、他の分割導体パターンD
7C,D7D,D7Eをいずれも導体パターンD2に接
続することで、容量値(3+2/3)C0を得ることが
できる。次に、図4(F)は容量値(4+1/3)C0を得
る場合である。これは、図4(E)と比較して、分割導体
パターンD4Dを更に導体パターンD2とホール接続と
することで得ることができる。これに加えて、更に分割
導体パターンD4Cを導体パターンD2にホール接続す
ると、図4(G)に示すように容量値5C0を得ることがで
きる。これは、図6(D)と実質的に等価である。
Next, FIG. 4E shows the capacitance value (3 + 2/3) C0.
Is the case. According to the present embodiment, a six-layer structure is used, and only one of the divided conductor patterns D4C, D4D, and D4E, for example, D4E is connected to the conductor pattern D.
2 and the other divided conductor pattern D
By connecting all of 7C, D7D, and D7E to the conductor pattern D2, a capacitance value (3 + 2/3) C0 can be obtained. Next, FIG. 4F shows a case where a capacitance value (4 + /) C0 is obtained. This can be obtained by making the divided conductor pattern D4D into a hole connection with the conductor pattern D2 as compared with FIG. 4E. In addition, when the divided conductor pattern D4C is further connected to the conductor pattern D2 by a hole, a capacitance value 5C0 can be obtained as shown in FIG. This is substantially equivalent to FIG.

【0034】以上のように、本形態によれば、導体パタ
ーンを3分割したので、1分割導体パターンのホール接
続の有無によって、2C0/3の単位で容量値を調整す
ることが可能となる。すなわち、1C0,(1+2/
3)C0,(2+1/3)C0,3C0,(3+2/3)
C0,(4+1/3)C0,5C0,……という具合に細
かく段階的に容量値を変化させることができ、設計的に
自由度が増大する。
As described above, according to the present embodiment, since the conductor pattern is divided into three, it is possible to adjust the capacitance value in units of 2C0 / 3 depending on the presence or absence of the hole connection of the one-divided conductor pattern. That is, 1C0, (1 + 2 /
3) C0, (2 + /) C0, 3C0, (3 + 2)
The capacitance value can be finely changed step by step as C0, (4 + /) C0, 5C0,..., And the degree of freedom in design increases.

【0035】(3)実施形態3 次に、図7を参照しながら実施形態3について説明す
る。上述した形態は、いずれもホール接続されるコンデ
ンサ用導体を分割したが、本形態では、外部接続される
コンデンサ用導体が分割される。図7(A)に本形態の積
層構造を示すように、コンデンサ部50のシートA2,
A4のコンデンサ用導体D1は、いずれもD1A,D1
Bに分割されている。ホール接続されるコンデンサ用導
体D2やインダクタ部は、前記背景技術と同様である。
図7(B)には、積層状態が示されている。同図に示すよ
うに、例えば分割導体パターンD1BのみをGND電極
16Bで接続したとすると、分割導体パターンD1Bと
隣接する導体パターンD2との間でそれぞれC0/2が
形成されるため、全体で3C0/2の容量値を得ること
ができる。この形態によれば、外部電極の接続の有無に
よって容量値を調整することができるので、チップ形成
後に調整作業を行うことができるという利点がある。
(3) Third Embodiment Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. In each of the embodiments described above, the conductor for the capacitor to be connected in the hole is divided, but in this embodiment, the conductor for the capacitor to be externally connected is divided. As shown in FIG. 7 (A), the sheet A2 of the capacitor section 50 has a laminated structure.
The capacitor conductor D1 of A4 is D1A, D1
B. The conductor D2 for the capacitor and the inductor portion to be connected in the hall are the same as in the background art.
FIG. 7B shows a stacked state. As shown in the figure, for example, when only the divided conductor pattern D1B is connected by the GND electrode 16B, C0 / 2 is formed between the divided conductor pattern D1B and the adjacent conductor pattern D2, and thus 3C0 is formed as a whole. / 2 can be obtained. According to this embodiment, since the capacitance value can be adjusted depending on whether or not the external electrode is connected, there is an advantage that the adjustment operation can be performed after the chip is formed.

【0036】この発明には数多くの実施形態があり、以
上の開示に基づいて多様に改変することが可能である。
例えば、次のようなものも含まれる。 (1)コンデンサ部やインダクタ部における導体のパター
ン形状や積層数は、必要に応じて適宜変更してよい。例
えば、前記形態では、インダクタ部に最も近いコンデン
サ用導体パターンD2は分割しなかったが、もちろんこ
れも分割してよい。導体パターンD2を分割すると、イ
ンダクタ部との接続が複数のホールによる接続となる。
また、導体パターンの分割数も、必要に応じて適宜設定
してよい。分割面積も、等分である必要はなく、調整し
たい容量値に応じて適宜設定してよい。
The present invention has many embodiments and can be variously modified based on the above disclosure.
For example, the following is also included. (1) The pattern shape and the number of layers of the conductors in the capacitor portion and the inductor portion may be appropriately changed as necessary. For example, in the above-described embodiment, the capacitor conductor pattern D2 closest to the inductor portion is not divided, but may be divided. When the conductor pattern D2 is divided, the connection with the inductor portion is made by a plurality of holes.
Also, the number of divisions of the conductor pattern may be appropriately set as needed. The division area does not need to be equally divided, and may be appropriately set according to the capacitance value to be adjusted.

【0037】(2)前記形態は、積層チップEMI除去フ
ィルタに本発明を適用したものであるが、各種の積層チ
ップ部品に適用可能である。また、フィルタの構成も、
T型フィルタの他,π型やダブルπ型などの各種のもの
に対して本発明は適用可能である。
(2) In the above embodiment, the present invention is applied to a multilayer chip EMI removal filter, but can be applied to various multilayer chip components. Also, the configuration of the filter
The present invention is applicable to various types such as a π-type filter and a double π-type filter other than the T-type filter.

【0038】(3)前記形態1,2を形態3と組み合わせ
てもよい。この場合に、対向する2つのコンデンサ用導
体を同一方向に分割してもよいし、直行する方向に分割
してもよい。このようにすると、より多様な容量値を得
ることができる。
(3) The first and second embodiments may be combined with the third embodiment. In this case, the two opposing capacitor conductors may be divided in the same direction or in orthogonal directions. In this case, more various capacitance values can be obtained.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次のような効果がある。 (1)コンデンサ用導体を分割形成することとしたので、
ホール接続や外部電極の有無のみによって簡便に細かく
取得容量値を調整することができる。 (2)インダクタを含む複合部品においても、信頼性の低
下を招くことなく、良好に容量値を調整することができ
る。
As described above, according to the present invention,
The following effects are obtained. (1) Since the capacitor conductor was divided and formed,
The obtained capacitance value can be easily and finely adjusted only by the presence or absence of the hole connection and the external electrode. (2) Even in a composite component including an inductor, the capacitance value can be satisfactorily adjusted without lowering the reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施形態の断面構成を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】実施形態の積層構造を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a laminated structure of the embodiment.

【図3】実施形態1による各種容量値の実施例を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of various capacitance values according to the first embodiment.

【図4】実施形態2による各種容量値の実施例を示す図
である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of various capacitance values according to the second embodiment.

【図5】背景技術の積層チップ部品の一例を示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a laminated chip component of the background art.

【図6】前記背景技術の断面構成と積層数による容量値
の変化を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a change in capacitance value according to the cross-sectional configuration and the number of layers of the background art.

【図7】実施形態3を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,30,40,50…コンデンサ部 12,32…インダクタ部 14…異種接合シート 16…GND電極 18,20…入出力電極 A1〜A6,B1〜B10…シート D1,D2,D4,D5…コンデンサ用導体 D3,D3A〜D3E,G1,G2,H1,H2…バイ
アホール E1〜E4,F1〜F4…インダクタ用導体 D1A,D1B,D4A〜D4E,D6A,D6B,D
7C〜D7E…分割導体パターン
10, 30, 40, 50: Capacitor section 12, 32: Inductor section 14: Dissimilar bonding sheet 16: GND electrode 18, 20: Input / output electrode A1 to A6, B1 to B10: Sheet D1, D2, D4, D5: Capacitor Conductors D3, D3A to D3E, G1, G2, H1, H2: Via holes E1 to E4, F1 to F4: Conductors for inductors D1A, D1B, D4A to D4E, D6A, D6B, D
7C-D7E: divided conductor pattern

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 コンデンサ用導体が形成されたシートを
積層した積層チップ部品において、 前記コンデンサ用導体のうちの少なくとも一つをシート
内で複数に分割形成するとともに、分割導体パターンの
うちの取得容量値に対応するものを接続したことを特徴
とする積層チップ部品。
1. A laminated chip component in which sheets having capacitor conductors formed thereon are laminated, wherein at least one of the capacitor conductors is divided into a plurality of pieces in the sheet, and the obtained capacitance of the divided conductor pattern is obtained. A multilayer chip component characterized by connecting components corresponding to values.
【請求項2】 コンデンサ部及びインダクタ部を備えて
おり、このインダクタ部と同電位のコンデンサ用導体の
少なくとも一つを分割するとともに、対応する分割導体
パターンをホール接続したことを特徴とする請求項1記
載の積層チップ部品。
2. A semiconductor device according to claim 1, further comprising a capacitor portion and an inductor portion, wherein at least one of the capacitor conductors having the same potential as the inductor portion is divided, and the corresponding divided conductor patterns are connected by holes. 2. The laminated chip component according to 1.
【請求項3】 GNDに接続されるコンデンサ用導体の
少なくとも一つを分割するとともに、対応する分割導体
パターンを外部電極接続したことを特徴とする請求項1
又は2記載の積層チップ部品。
3. The method according to claim 1, wherein at least one of the capacitor conductors connected to GND is divided and the corresponding divided conductor patterns are connected to external electrodes.
Or the laminated chip component according to 2.
【請求項4】 導体を形成したシートを積層してコンデ
ンサ部及びインダクタ部を形成した積層チップ部品の製
造方法において、 コンデンサ用導体のうちの少なくとも一つをシート内で
複数に分割形成するステップ;分割した導体パターンの
うちの取得容量値に対応するものを接続するホールパタ
ーンを形成するステップ;を備えたことを特徴とする積
層チップ部品の製造方法。
4. A method of manufacturing a laminated chip component in which a sheet on which a conductor is formed is laminated to form a capacitor portion and an inductor portion, wherein at least one of the capacitor conductors is divided into a plurality of pieces in the sheet; Forming a hole pattern that connects the divided conductor patterns corresponding to the obtained capacitance value.
【請求項5】 導体を形成したシートを積層してコンデ
ンサ部を形成した積層チップ部品の製造方法において、 コンデンサ用導体のうちの少なくとも一つをシート内で
複数に分割形成するステップ;分割した導体パターンの
うちの取得容量値に対応するものを接続する外部電極を
形成するステップ;を備えたことを特徴とする積層チッ
プ部品の製造方法。
5. A method of manufacturing a laminated chip component in which a capacitor portion is formed by laminating sheets formed with conductors, wherein at least one of the capacitor conductors is divided into a plurality of portions in the sheet; Forming an external electrode for connecting a pattern corresponding to the obtained capacitance value of the patterns.
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