JPH1151857A - Surface plasmon sensor - Google Patents
Surface plasmon sensorInfo
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- JPH1151857A JPH1151857A JP26408797A JP26408797A JPH1151857A JP H1151857 A JPH1151857 A JP H1151857A JP 26408797 A JP26408797 A JP 26408797A JP 26408797 A JP26408797 A JP 26408797A JP H1151857 A JPH1151857 A JP H1151857A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、表面プラズモンの
発生を利用して試料中の物質を定量分析する表面プラズ
モンセンサーに関し、特に詳細には、一次元若しくは二
次元的走査による測定を可能とした表面プラズモンセン
サーに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface plasmon sensor for quantitatively analyzing a substance in a sample by utilizing the generation of surface plasmons, and more particularly, to a measurement method using one-dimensional or two-dimensional scanning. It relates to a surface plasmon sensor.
【0002】[0002]
【従来の技術】金属中においては、自由電子が集団的に
振動して、プラズマ波と呼ばれる粗密波が生じる。そし
て、金属表面に生じるこの粗密波を量子化したものは、
表面プラズモンと呼ばれている。2. Description of the Related Art In a metal, free electrons vibrate collectively to generate a compression wave called a plasma wave. And, the quantization of this compression wave generated on the metal surface is
It is called surface plasmon.
【0003】従来より、この表面プラズモンが光波によ
って励起される現象を利用して試料中の物質を定量分析
する表面プラズモンセンサーが種々提案されている。そ
して、それらの中で特に良く知られているものとして、
Kretschmann配置と称される系を用いるものが挙げられ
る(例えば特開平6−167443号参照)。Hitherto, various surface plasmon sensors for quantitatively analyzing a substance in a sample by utilizing the phenomenon that surface plasmons are excited by light waves have been proposed. And among the most well-known of them are:
A system using a system called a Kretschmann configuration is mentioned (for example, see JP-A-6-167443).
【0004】上記の系を用いる表面プラズモンセンサー
は基本的に、プリズムと、このプリズムの一面に形成さ
れて試料に接触せしめられる金属膜と、光ビームを発生
させる光源と、上記光ビームをプリズムに通し、該プリ
ズムと金属膜との界面に対して種々の入射角が得られる
ように入射させる光学系と、上記の界面で全反射した光
ビームの強度を種々の入射角毎に検出可能な光検出手段
とを備えてなるものである。A surface plasmon sensor using the above system basically includes a prism, a metal film formed on one surface of the prism and brought into contact with a sample, a light source for generating a light beam, and a light source for applying the light beam to the prism. An optical system which passes through the interface between the prism and the metal film so as to obtain various angles of incidence, and a light which can detect the intensity of the light beam totally reflected at the interface at various angles of incidence. And a detecting means.
【0005】なお上述のように種々の入射角を得るため
には、光ビームの照射系を回転させるいわゆるゴニオメ
ーター(例えば特開平6−50882号参照)が用いら
れたり、あるいは光ビームに種々の角度で入射する成分
が含まれるように、比較的太い光ビームを上記界面で集
束するように入射させる光学系が用いられる。前者の場
合は、光ビームの偏向にともなって反射角が変化する光
ビームを、光ビームの偏向に同期移動する小さな光検出
器によって検出したり、反射角の変化方向に沿って延び
るエリアセンサーによって検出することができる。一方
後者の場合は、種々の反射角で反射した各光ビームを全
て受光できる方向に延びるエリアセンサーによって検出
することができる。In order to obtain various angles of incidence as described above, a so-called goniometer (see, for example, JP-A-6-50882) for rotating a light beam irradiation system is used, or various types of light beams are used. An optical system is used in which a relatively thick light beam is incident so as to be focused at the interface so that a component incident at an angle is included. In the former case, the light beam whose reflection angle changes with the deflection of the light beam is detected by a small photodetector that moves synchronously with the deflection of the light beam, or by an area sensor that extends along the direction of change in the reflection angle. Can be detected. On the other hand, the latter case can be detected by an area sensor extending in a direction in which all light beams reflected at various reflection angles can be received.
【0006】光ビームを金属膜に対して全反射角以上の
入射角θで入射させると、反射面の金属膜中にエバネッ
セント波といわれる「にじみ波」が生じる。このエバネ
ッセント波は該金属膜に接している試料中に電界分布を
もち、この金属膜と試料との界面に表面プラズモンが発
生する。p偏光された光ビームが金属膜に対して入射さ
れて生じたエバネッセント波の波数ベクトルが上述の表
面プラズモンの波数ベクトルと等しく波数整合が成立す
ると両者は共鳴状態となり、光のエネルギーが表面プラ
ズモンに移行してプラズモンが励起される。この時、光
のエネルギーの移行のために全反射した光の強度は著し
く低下する。When a light beam is incident on a metal film at an incident angle θ equal to or larger than the total reflection angle, a “smear wave” called an evanescent wave is generated in the metal film on the reflection surface. The evanescent wave has an electric field distribution in the sample in contact with the metal film, and surface plasmons are generated at the interface between the metal film and the sample. When the wave vector of the evanescent wave generated by the incidence of the p-polarized light beam on the metal film is equal to the wave vector of the above-described surface plasmon and the wave number matching is established, both are in a resonance state, and the light energy is changed to the surface plasmon. The plasmon is excited by the migration. At this time, the intensity of the totally reflected light is significantly reduced due to the transfer of light energy.
【0007】それ故、上記表面プラズモンセンサーにお
いては、種々の入射角θで前記金属膜に入射させた光ビ
ームについて、該金属膜により全反射された光ビームの
強度の測定を行うことにより、反射強度が著しく低下す
る現象が生じる時の入射角θsp(全反射解消角)が得ら
れ、この全反射解消角θspと入射光の波数ベクトルK1
から共鳴波数Kspが、Ksp=K1sinθspの関係により導
かれる。表面プラズモンの波数Kspが分かると、試料の
誘電率が求められる。すなわち表面プラズモンの角周波
数をω、真空中の光速をc、金属、試料の誘電率をそれ
ぞれεm とεsとすると、以下の関係がある。Therefore, in the above-mentioned surface plasmon sensor, the intensity of the light beam totally reflected by the metal film is measured for the light beam incident on the metal film at various incident angles θ, so that the reflection is performed. An incident angle θ sp (total reflection elimination angle) at which a phenomenon in which the intensity significantly decreases occurs, and the total reflection elimination angle θ sp and the wave number vector K 1 of the incident light are obtained.
, The resonance wave number K sp is derived from the relationship K sp = K 1 sin θ sp . When the wave number K sp of the surface plasmon is known, the dielectric constant of the sample is obtained. That is, assuming that the angular frequency of the surface plasmon is ω, the speed of light in a vacuum is c, and the dielectric constants of a metal and a sample are ε m and ε s , respectively, the following relationship is obtained.
【0008】[0008]
【数1】 (Equation 1)
【0009】試料の誘電率εs が分かれば、所定の較
正曲線等に基づいて試料中の特定物質の濃度が分かるの
で、結局、上記反射光強度が低下する全反射解消角θsp
を知ることにより、試料中の特定物質を定量分析するこ
とができる。[0009] Knowing the dielectric constant epsilon s of the sample, since it is found the concentration of a specific substance in the sample based on a predetermined calibration curve or the like, after all, the total reflection overcome angle the reflected light intensity decreases theta sp
, A specific substance in the sample can be quantitatively analyzed.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】ところで、表面プラズ
モンセンサーによる物性の分析においては、複数の試料
について同一条件で測定したい場合や、試料の二次元的
な物性情報を得たい場合等がある。In the physical property analysis using a surface plasmon sensor, there are cases where it is desired to measure a plurality of samples under the same conditions, or to obtain two-dimensional physical property information of the samples.
【0011】しかしながら、上述の従来の表面プラズモ
ンセンサーにおいては、広範囲にわたってビーム走査す
ることが困難であり、測定は狭い範囲に限られていた。However, in the above-described conventional surface plasmon sensor, it is difficult to perform beam scanning over a wide range, and measurement is limited to a narrow range.
【0012】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あって、簡単な構成で広範囲にわたる一次元若しくは二
次元走査が可能な表面プラズモンセンサーを提供するこ
とを目的とするものである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a surface plasmon sensor capable of performing one-dimensional or two-dimensional scanning over a wide range with a simple configuration.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明の表面プラズモン
センサーは、所定の屈折率を有する透明基板、および、
この透明基板の一表面側に配された金属膜を備えてなる
センサユニットと、前記透明基板の前記一表面とは反対
側の他表面側に、前記所定の屈折率と略同じ屈折率を有
する屈折率マッチング液を挟んで配置されたカップラー
手段であって、一部に形成されている入力部から入射さ
れた光ビームを透過して前記透明基板と前記金属膜との
界面に入射せしめ、該界面で全反射した光ビームを透過
して他の一部に形成されている出力部から出射する、該
光ビームが透過する部分が前記所定の屈折率と略同じ屈
折率を有するカップラー手段とを備え、前記光ビームを
前記入力部から入射せしめ、前記界面で全反射されて前
記出力部から出射された光ビームの強度を検出する表面
プラズモンセンサーにおいて、前記センサユニットを、
前記透明基板と前記カップラー手段との間隔が常に一定
となるように支持するセンサ支持手段を備え、前記間隔
に前記屈折率マッチング液が充填されており、光ビーム
が前記界面の所定の方向の相異なる箇所に同じ入射条件
で順次入射するように該光ビームの入力部における入射
位置を移動させる入射位置移動手段、若しくは、前記間
隔が一定の状態で前記センサユニットを所定の方向に、
前記カップラー手段に対して相対的に移動せしめるセン
サユニット相対移動手段のうち少なくとも一方をさらに
備えたことを特徴とするものである。The surface plasmon sensor of the present invention comprises a transparent substrate having a predetermined refractive index, and
A sensor unit including a metal film disposed on one surface side of the transparent substrate, and having the same refractive index as the predetermined refractive index on another surface side of the transparent substrate opposite to the one surface. Coupling means arranged with a refractive index matching liquid interposed therebetween, transmitting a light beam incident from an input portion formed in a part thereof, and allowing the light beam to enter an interface between the transparent substrate and the metal film, Coupler means that transmits a light beam totally reflected at the interface and exits from an output portion formed in another portion, and a portion through which the light beam is transmitted has substantially the same refractive index as the predetermined refractive index. A surface plasmon sensor for detecting the intensity of the light beam emitted from the output portion, wherein the light beam is incident from the input portion and totally reflected at the interface and emitted from the output portion.
Sensor supporting means for supporting the distance between the transparent substrate and the coupler means so as to be always constant, wherein the distance is filled with the refractive index matching liquid, and a light beam is applied to the interface in a predetermined direction at the interface. Incident position moving means for moving the incident position in the input portion of the light beam so as to be sequentially incident on different locations under the same incident condition, or the sensor unit in a predetermined direction with the interval being constant,
At least one of a sensor unit relative moving means for moving the sensor unit relatively to the coupler means is further provided.
【0014】なお上記において、前記入射位置移動手段
とセンサユニット相対移動手段の双方を備え、前記入射
位置移動手段における所定の方向と前記センサユニット
相対移動手段における所定の方向とが互いに交差する方
向とすることが望ましい。In the above, both the incident position moving means and the sensor unit relative moving means are provided, and a predetermined direction in the incident position moving means and a direction in which the predetermined direction in the sensor unit relative moving means intersect each other. It is desirable to do.
【0015】前記「入射位置移動手段」とは、ガルバノ
ミラー等を備えた光源光学手段により光ビームを偏向せ
しめて入射位置を移動させる、例えばテレセントリック
走査光学系のようなものであってもよいし、光源光学手
段自体を機械的に移動せしめて入射位置を移動させるも
のであってもよい。The "incident position moving means" may be, for example, a telecentric scanning optical system in which an incident position is moved by deflecting a light beam by a light source optical means having a galvanometer mirror or the like. Alternatively, the incident position may be moved by mechanically moving the light source optical means itself.
【0016】また、前記「カップラー手段に対して相対
的に移動せしめるセンサユニット相対移動手段」とは、
センサユニットそのものを移動する移動手段のほか、セ
ンサユニットは固定して、カップラー手段側を移動せし
める手段であってもよい。Further, the "sensor unit relative moving means for relatively moving with respect to the coupler means" includes:
In addition to the moving unit that moves the sensor unit itself, a unit that fixes the sensor unit and moves the coupler unit side may be used.
【0017】前記センサ支持手段は、例えば、前記カッ
プラー手段の一部に固設されていてもよい。また、光ビ
ームを出射して該光ビームを前記入力部へ入射せしめる
光源光学手段、前記出力部から出射された光ビームの強
度を検出する検出手段、および前記カップラー手段が基
台上に固設され、前記センサユニットが前記支持手段に
より前記カップラー手段に対して移動可能に支持され、
前記センサユニット相対移動手段が、前記センサユニッ
トを移動せしめるものであってもよい。あるいは、前記
センサ支持手段が基台上に固設され、前記センサユニッ
トが前記センサ支持手段により固定的に支持され、光ビ
ームを出射して該光ビームを前記入力部へ入射せしめる
光源光学手段、前記出力部から出射された光ビームの強
度を検出する検出手段、および前記カップラー手段を含
む光学系ユニットが前記基台上で前記センサユニットに
対して移動可能に配設され、前記センサユニット相対移
動手段が、前記光学系ユニットを移動せしめるものであ
ってもよい。[0017] The sensor support means may be fixedly provided on a part of the coupler means, for example. Further, light source optical means for emitting a light beam and allowing the light beam to enter the input section, detection means for detecting the intensity of the light beam emitted from the output section, and the coupler means are fixed on a base. The sensor unit is movably supported by the support means with respect to the coupler means,
The sensor unit relative moving means may move the sensor unit. Alternatively, the sensor support means is fixed on a base, the sensor unit is fixedly supported by the sensor support means, and a light source optical means for emitting a light beam and causing the light beam to enter the input unit; An optical system unit including a detecting unit for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit and the coupler unit is movably disposed on the base with respect to the sensor unit, and the relative movement of the sensor unit is provided. The means may move the optical system unit.
【0018】また、前記センサ支持手段が基台上に固設
され、前記センサユニットが前記センサ支持手段により
前記カップラー手段に対して移動可能に支持され、前記
センサユニット相対移動手段が、前記センサユニットを
移動せしめるものであり、光ビームを前記入力部へ入射
せしめる光学用光源手段、前記出力部から出射された光
ビームの強度を検出する検出手段に該光ビームを導く検
出手段用光学手段、および前記カップラー手段を含む光
学ユニットが前記基台上に配置され、もしくは、前記セ
ンサユニットが前記センサ支持手段により固定的に支持
され、前記光学系ユニットが前記基台上で前記センサユ
ニットに対して移動可能に配設され、前記センサユニッ
ト相対移動手段が、前記光学系ユニットを移動せしめる
ものであり、前記光ビームを出射する光源および前記検
出手段が、前記基台上に前記光学系ユニットとは別個に
着脱可能に配されていてもよい。Further, the sensor support means is fixed on a base, the sensor unit is movably supported by the sensor support means with respect to the coupler means, and the sensor unit relative movement means is provided by the sensor unit. Optical light source means for causing a light beam to be incident on the input section, detection means optical means for guiding the light beam to a detection means for detecting the intensity of the light beam emitted from the output section, and An optical unit including the coupler means is disposed on the base, or the sensor unit is fixedly supported by the sensor support means, and the optical system unit moves on the base with respect to the sensor unit. The sensor unit relative moving means is provided so as to move the optical system unit, A light source and the detection means for emitting a beam, may be separately removably disposed in said optical unit on the base.
【0019】また、前記センサ支持手段が基台上に固設
され、前記センサユニットが前記センサ支持手段により
前記カップラー手段に対して移動可能に支持され、前記
センサユニット相対移動手段が、前記センサユニットを
移動せしめるものであり、光ビームを前記入力部へ入射
せしめる光学用光源手段、前記出力部から出射された光
ビームの強度を検出する検出手段、および前記カップラ
ー手段を含む光学ユニットが前記基台上に配置され、も
しくは、センサユニットが前記センサ支持手段により固
定的に支持され、前記光学系ユニットが前記基台上で前
記センサユニットに対して移動可能に配設され、前記セ
ンサユニット相対移動手段が、前記光学系ユニットを移
動せしめるものであり、前記光ビームを出射する光源が
前記基台の外部に独立して配置されていてもよい。な
お、この場合には、前記光源から出射された光ビームを
前記光学用光学手段に導く光ファイバーを備える構成と
することができる。また、光ファイバーは偏波面保存型
であることが望ましい。The sensor support means is fixed on a base, the sensor unit is movably supported by the sensor support means with respect to the coupler means, and the sensor unit relative movement means comprises An optical unit including an optical light source unit for causing a light beam to enter the input unit, a detecting unit for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit, and an optical unit including the coupler unit. Or the sensor unit is fixedly supported by the sensor support means, and the optical system unit is movably disposed on the base with respect to the sensor unit, and the sensor unit relative movement means Is for moving the optical system unit, and a light source for emitting the light beam is provided outside the base. It stands to may be arranged. In this case, an optical fiber for guiding the light beam emitted from the light source to the optical device may be provided. Further, it is desirable that the optical fiber be of a polarization-maintaining type.
【0020】また、前記間隔への前記屈折率マッチング
液の充填については、前記間隔へ前記屈折率マッチング
液を供給するマッチング液供給手段と、前記屈折率マッ
チング液が、前記透明基板の前記他表面よりも高い位置
まで侵入可能な、前記間隔に通じる空間部とを備え、前
記マッチング液供給手段により、前記間隔に前記屈折率
マッチング液を充填するようにしてもよいし、あるい
は、前記カップラー手段の、前記透明基板に対面する側
に、前記屈折率マッチング液をためる液だめ部を形成
し、前記透明基板に前記金属膜を囲むように防水壁を設
け、前記センサユニットを、前記液だめ部に前記透明基
板の前記他表面が前記屈折率マッチング液に浸水する状
態に支持するようにして、前記間隔に前記屈折率マッチ
ング液を充填した状態としてもよい。Further, for filling the gap with the refractive index matching liquid, a matching liquid supply means for supplying the refractive index matching liquid to the gap, and the refractive index matching liquid is provided on the other surface of the transparent substrate. A space portion that can penetrate to a higher position, and communicates with the space, the matching liquid supply means may fill the space with the refractive index matching liquid, or the coupler means On the side facing the transparent substrate, a reservoir for storing the refractive index matching liquid is formed, a waterproof wall is provided on the transparent substrate so as to surround the metal film, and the sensor unit is disposed on the reservoir. A state in which the other surface of the transparent substrate is supported in a state of being immersed in the refractive index matching liquid, and the gap is filled with the refractive index matching liquid. It may be.
【0021】なお、前記カップラー手段の前記入力部お
よび前記出力部としては、カップラー手段にプリズムを
備え、該プリズムに前記入力部および前記出力部を形成
してもよいし、該入力部および該出力部を回折格子で形
成してもよい。あるいは、前記カップラー手段を、該カ
ップラー手段の前記透明基板と対面する側と反対の側に
凸状部を有するものとし、該凸状部の一側面および該一
側面に対向する他側面を透明板により形成し、該凸状部
の内側には前記屈折率マッチング液を満たして、前記一
側面および前記他側面をそれぞれ前記入力部および前記
出力部としてもよい。As the input part and the output part of the coupler means, a prism may be provided in the coupler means, and the input part and the output part may be formed in the prism, or the input part and the output part may be formed. The portion may be formed by a diffraction grating. Alternatively, the coupler means has a convex portion on the side of the coupler means opposite to the side facing the transparent substrate, and one side surface of the convex portion and the other side surface facing the one side are formed of a transparent plate. And the inside of the convex portion may be filled with the refractive index matching liquid, and the one side surface and the other side surface may be the input portion and the output portion, respectively.
【0022】なお、ここで「カップラー手段」とは、前
記界面に入射される光ビームを表面プラズモン共鳴発生
条件に結合せしめるための手段の総称である。Here, "coupler means" is a general term for means for coupling a light beam incident on the interface to conditions for generating surface plasmon resonance.
【0023】なお、前記センサユニットの透明基板は、
主透明基板と保持透明基板とからなり、前記主透明基板
上に前記金属膜が配され、前記保持透明基板が前記屈折
率マッチング液を介して前記カップラー手段に対向する
ように配置されていてもよい。また、前記センサユニッ
トの透明基板を保持基板と該保持基板上に配された複数
の主透明基板とから構成して、各主透明基板上にそれぞ
れ金属膜を形成してもよい。このとき、各主透明基板の
基板サイズはそれぞれ異なるものを使うこともできる。
このように、前記センサユニットの透明基板を、単数ま
たは複数の主透明基板と保持透明基板とから構成する場
合には、主透明基板と保持透明基板とが前記所定の屈折
率と略同じ屈折率を有する屈折率マッチング液を介して
密着せしめられていることが望ましい。さらに、該主透
明基板は保持透明基板に対して容易に着脱可能とされて
いることが望ましい。The transparent substrate of the sensor unit is
Consisting of a main transparent substrate and a holding transparent substrate, the metal film is arranged on the main transparent substrate, and the holding transparent substrate is arranged to face the coupler means via the refractive index matching liquid. Good. Further, the transparent substrate of the sensor unit may be composed of a holding substrate and a plurality of main transparent substrates arranged on the holding substrate, and a metal film may be formed on each main transparent substrate. At this time, the main transparent substrates may have different substrate sizes.
As described above, when the transparent substrate of the sensor unit includes one or more main transparent substrates and the holding transparent substrate, the main transparent substrate and the holding transparent substrate have a refractive index substantially equal to the predetermined refractive index. It is desirable that they are brought into close contact with each other via a refractive index matching liquid having the following formula: Further, it is desirable that the main transparent substrate be easily detachable from the holding transparent substrate.
【0024】なお、前記金属膜上には結合反応膜を設
け、該結合反応膜と結合反応する特定の物質を検出する
ようにしてもよい。ここで、「結合反応膜」および「該
結合反応膜と結合反応する特定物質」とは、例えば、抗
原抗体反応を生じる抗原(抗体)と抗体(抗原)のこと
であるが、その他の化学反応であってもよい。複数の主
透明基板がある場合には、各主透明基板上の各金属膜上
にそれぞれ結合反応膜を形成すればよい。各金属膜上に
は同一種類の結合反応膜、例えば同一の抗体(抗原)か
らなる結合反応膜を形成してもよいし、各金属膜毎に異
なる種類の結合反応膜、例えば異なる抗体(抗原)から
なる結合反応膜を形成してもよい。さらには、単一の金
属膜上の異なる部分に同一の若しくは異なる種類の複数
の結合反応膜を形成してもよい。異なる種類の結合反応
膜(異なる抗原(抗体)からなる結合反応膜)を複数有
するセンサユニットを用いる場合には、単一の試料につ
いて各結合反応膜における互いに異なった現象を順次測
定するようにしてもよい。It should be noted that a binding reaction film may be provided on the metal film, and a specific substance that reacts with the binding reaction film may be detected. Here, the “binding reaction membrane” and the “specific substance that reacts with the binding reaction membrane” are, for example, an antigen (antibody) and an antibody (antigen) that cause an antigen-antibody reaction. It may be. When there are a plurality of main transparent substrates, a bonding reaction film may be formed on each metal film on each main transparent substrate. The same type of binding reaction film, for example, a binding reaction film composed of the same antibody (antigen) may be formed on each metal film, or a different type of binding reaction film, for example, a different antibody (antigen) may be formed for each metal film. ) May be formed. Further, a plurality of the same or different types of bonding reaction films may be formed on different portions on a single metal film. When a sensor unit having a plurality of different types of binding reaction membranes (binding reaction membranes composed of different antigens (antibodies)) is used, different phenomena in each binding reaction membrane are sequentially measured for a single sample. Is also good.
【0025】[0025]
【発明の効果】本発明の表面プラズモンセンサーは、透
明基板およびこの透明基板の一表面側に配され、試料に
接触させられる金属膜を備えてなるセンサユニットを、
透明基板とカップラー手段との間隔が常に一定となるよ
うにセンサ支持手段により支持してこの間隔に屈折率マ
ッチング液を充填するようにし、光ビームが界面の所定
の方向の相異なる箇所に順次入射するように該光ビーム
の入力部における入射位置を移動させる入射位置移動手
段と、前記間隔が一定の状態でセンサユニットを所定の
方向に移動させるセンサユニット相対移動手段とのいず
れか一方、もしくは双方を備えたことにより、一次元若
しくは二次元走査が可能となる。According to the surface plasmon sensor of the present invention, a sensor unit comprising a transparent substrate and a metal film disposed on one surface side of the transparent substrate and brought into contact with a sample is provided.
The distance between the transparent substrate and the coupler means is supported by the sensor supporting means so that the distance between the transparent substrate and the coupler means is always constant, and the gap is filled with a refractive index matching liquid. One or both of an incident position moving means for moving the incident position of the light beam at the input portion, and a sensor unit relative moving means for moving the sensor unit in a predetermined direction with the interval being constant. , One-dimensional or two-dimensional scanning becomes possible.
【0026】特に、透明基板とカップラー手段との間が
屈折率マッチング液層であるため、センサユニットのカ
ップラー手段に対する相対的な移動が容易である。In particular, since the refractive index matching liquid layer is provided between the transparent substrate and the coupler means, relative movement of the sensor unit with respect to the coupler means is easy.
【0027】また、前記入射位置移動手段とセンサユニ
ット相対移動手段の双方を備え、前記入射位置移動手段
における所定の方向とセンサユニット相対移動手段にお
ける所定の方向とを交差する方向とすることにより、広
範囲な二次元走査が可能となる。[0027] Further, both the incident position moving means and the sensor unit relative moving means are provided, and a predetermined direction of the incident position moving means and a predetermined direction of the sensor unit relative moving means intersect with each other. A wide range of two-dimensional scanning becomes possible.
【0028】二次元的な測定が可能となったことから、
試料の二次的物性の測定が可能であり、また、複数の試
料の測定を効率よく行うことも可能である。Since two-dimensional measurement has become possible,
It is possible to measure secondary physical properties of a sample, and it is also possible to efficiently measure a plurality of samples.
【0029】[0029]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の第一の実
施形態である表面プラズモンセンサーの一側面形状を示
すものであり、図2、図3はそれぞれ図1に表されたプ
ラズモンセンサーを矢印A方向から見た形状および矢印
B方向から見た形状である。但し、図3においては一部
断面図としている。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows one side surface shape of the surface plasmon sensor according to the first embodiment of the present invention. FIGS. 2 and 3 show the plasmon sensor shown in FIG. And the shape viewed from the direction of arrow B. However, FIG. 3 is a partial sectional view.
【0030】図示されるように、表面プラズモンセンサ
ーの基本構成は、測定すべき試料Sに接触させられる
金、銀等の金属膜が形成されたセンサユニット1と、こ
のセンサユニット1を支持するセンサ支持手段15を備
え、該センサユニット1に対して屈折率マッチングオイ
ル(マッチング液)9を介して配されているカップラー
手段10と、光ビームを発生し、該光ビームをカップラー
手段10に入射せしめる光源光学手段20と、カップラー手
段10から出射される光ビームの強度を測定する光検出手
段30とからなるものである。As shown in the figure, the basic configuration of the surface plasmon sensor is as follows: a sensor unit 1 having a metal film made of gold, silver, etc., which is brought into contact with a sample S to be measured, and a sensor supporting the sensor unit 1. A coupler means provided with a support means for disposing a refractive index matching oil (matching liquid) with respect to the sensor unit; a light beam is generated; and the light beam is made incident on the coupler means. It comprises a light source optical means 20 and a light detecting means 30 for measuring the intensity of a light beam emitted from the coupler means 10.
【0031】次に、本発明の第一の実施形態における各
部の詳細な構成を説明する。Next, a detailed configuration of each unit in the first embodiment of the present invention will be described.
【0032】センサユニット1は、均一な厚さのガラス
等からなる透明基板であるセンサ基板2上に金、銀等の
金属膜3が形成され、この金属膜3を囲むようにして防
水壁5が設けられたものである。なお、ガラス基板2上
に金等の金属膜3を形成する場合には、ガラス基板2上
に予めクロムを1nmほど配した上で行う。これにより金
属膜3の形成が容易となり、また、剥離が抑えられる。
また、表面プラズモンセンサーによる分析においては、
一般に、金属膜3上に結合反応膜(ここでは抗原(ある
いは抗体))を形成し、特定の物質に選択的に応答する
抗原・抗体反応を利用し、それと特異的に吸着する抗体
(あるいは抗原)量を入射角の変化として測定してい
る。ここでは、金属膜3と該金属膜3上に形成された結
合反応膜とを一体としてセンサ膜という。なお、このよ
うなセンサユニット1を用いることにより、マッチング
液を塗布して基板を直接カップラー手段に密着せしめて
いた場合と比較して、センサ交換時等にもセンサユニッ
トとカップラー手段との間隔を容易に一定とすることが
でき、膜厚等の微妙な調整が不要となるため、センサの
交換が容易にでき、自動化することも可能となる。In the sensor unit 1, a metal film 3 of gold, silver or the like is formed on a sensor substrate 2 which is a transparent substrate made of glass or the like having a uniform thickness, and a waterproof wall 5 is provided so as to surround the metal film 3. It was done. When the metal film 3 such as gold is formed on the glass substrate 2, chromium is previously arranged on the glass substrate 2 by about 1 nm. This facilitates the formation of the metal film 3 and suppresses peeling.
In the analysis using a surface plasmon sensor,
In general, a binding reaction film (here, an antigen (or an antibody)) is formed on the metal film 3, and an antibody (or an antigen) that specifically adsorbs to the specific reaction using an antigen-antibody reaction that selectively responds to a specific substance. ) The amount is measured as a change in the angle of incidence. Here, the metal film 3 and the bonding reaction film formed on the metal film 3 are integrally called a sensor film. In addition, by using such a sensor unit 1, the distance between the sensor unit and the coupler unit can be reduced even when the sensor is replaced, as compared with the case where the matching liquid is applied and the substrate is directly adhered to the coupler unit. Since it can be easily made constant and delicate adjustment of the film thickness and the like is not required, replacement of the sensor can be easily performed and automation can be performed.
【0033】また、カップラー手段10は、前記センサユ
ニット1と対面する側に凹部11が形成されたガラスから
なるセル12と、セル12の他面に形成された三角柱状のプ
リズム13とからなるものである。該カップラー手段10は
その一部に前記センサユニット1を支持するセンサ支持
手段(センサアタッチメント)15を備えており、このセ
ンサアタッチメント15により、センサ基板2とセル12と
の距離が常に一定になるようにセンサユニット1を支持
する。ここでは、センサユニット1の基板2がマッチン
グオイル9中に浸水状態となるように防水壁5の一部で
センサユニット1を支持して該センサユニット1のカッ
プラー手段10に対する位置関係を定めるものである。な
お、センサ基板2とカップラー手段10との間には屈折率
マッチングオイル9が充填される。センサ基板2、カッ
プラー手段10および屈折率マッチングオイル9には、屈
折率が略同じものを用いる。図2に示すようにカップラ
ー手段10は、一方向に延びた構造であり、センサアタッ
チメント15は凹部11に沿って形成されている。なお、セ
ンサアタッチメント15は図示しない搬送レールを備えて
おり、この搬送レールに沿ってセンサユニット1は可動
とされている。センサユニット1には搬送シャフト6が
固設され、該搬送シャフト6はローラ7に挟持されてお
り、センサユニット1はローラ7の回転に伴って矢印X
方向へ移動せしめられる構成である。即ち本実施形態に
おいては、センサアタッチメント15に備えられた搬送レ
ール、搬送シャフト6及びローラ7によりセンサユニッ
ト相対移動手段が構成されている。The coupler means 10 comprises a cell 12 made of glass having a recess 11 formed on the side facing the sensor unit 1, and a triangular prism 13 formed on the other surface of the cell 12. It is. The coupler means 10 includes a sensor support means (sensor attachment) 15 for supporting the sensor unit 1 at a part thereof, so that the distance between the sensor substrate 2 and the cell 12 is always constant by the sensor attachment 15. Support the sensor unit 1. Here, the sensor unit 1 is supported by a part of the waterproof wall 5 so that the substrate 2 of the sensor unit 1 is immersed in the matching oil 9 and the positional relationship of the sensor unit 1 with respect to the coupler means 10 is determined. is there. The space between the sensor substrate 2 and the coupler means 10 is filled with a refractive index matching oil 9. As the sensor substrate 2, the coupler means 10, and the refractive index matching oil 9, those having substantially the same refractive index are used. As shown in FIG. 2, the coupler means 10 has a structure extending in one direction, and the sensor attachment 15 is formed along the recess 11. The sensor attachment 15 has a transport rail (not shown), and the sensor unit 1 is movable along the transport rail. The transport shaft 6 is fixed to the sensor unit 1, and the transport shaft 6 is sandwiched between rollers 7.
This is a configuration that can be moved in the direction. That is, in the present embodiment, the sensor unit relative movement means is configured by the transport rail, the transport shaft 6 and the roller 7 provided in the sensor attachment 15.
【0034】光源光学手段20は、光ビームLを発生させ
る半導体レーザ等からなる光源21と、シリンドリカルレ
ンズ22と、テレセントリック光学系を利用した光偏向手
段であるテレセントリックスキャナ23とからなる。該テ
レセントリックスキャナ23は、シリンドリカルレンズ22
の焦点距離位置に配されたガルバノミラー24と、2つの
シリンドリカルレンズ25, 26とからなるものである。光
源21から発せられた光ビームLは、シリンドリカルレン
ズ22によってガルバノミラー24上で焦点を結び、該ガル
バノミラー24によって反射されてテレセントリックスキ
ャナ23のシリンドリカルレンズ25に入射される。該シリ
ンドリカルレンズ25において光ビームLは平行光とさ
れ、さらにシリンドリカルレンズ26により金属膜3とセ
ンサ基板2の界面でプリズム13の長軸に垂直な面内で集
束せしめられてプリズム13に入射される。この光ビーム
Lのプリズム13への入射位置は、ガルバノミラー24の揺
動に伴ってY方向に平行移動せしめられる。なお、光源
21から発せられた光ビームLは、p偏光としてプリズム
13に入射されるものであり、集束された光ビームLは、
センサ基板2と金属膜3との界面4に対して種々の入射
角θで入射する成分を含むものである。なお、この入射
角θは、全反射臨界角以上の角度に設定し、光ビームL
が界面4で全反射されるようにする。The light source optical means 20 comprises a light source 21 composed of a semiconductor laser or the like for generating a light beam L, a cylindrical lens 22, and a telecentric scanner 23 which is a light deflecting means utilizing a telecentric optical system. The telecentric scanner 23 includes a cylindrical lens 22
Is composed of a galvanomirror 24 disposed at a focal length position of the lens and two cylindrical lenses 25 and 26. The light beam L emitted from the light source 21 is focused on a galvanometer mirror 24 by a cylindrical lens 22, is reflected by the galvanometer mirror 24, and is incident on a cylindrical lens 25 of a telecentric scanner 23. The light beam L is converted into parallel light by the cylindrical lens 25, and is focused by the cylindrical lens 26 at the interface between the metal film 3 and the sensor substrate 2 in a plane perpendicular to the long axis of the prism 13 and is incident on the prism 13. . The incident position of the light beam L on the prism 13 is translated in the Y direction with the swing of the galvanometer mirror 24. The light source
The light beam L emitted from 21 is prism-converted as p-polarized light.
13, the focused light beam L is
It contains components that enter the interface 4 between the sensor substrate 2 and the metal film 3 at various incident angles θ. The incident angle θ is set to an angle equal to or larger than the total reflection critical angle, and the light beam L
Is totally reflected at the interface 4.
【0035】本実施形態においては上述のように、光ビ
ームの入射位置移動手段として光偏向手段であるテレセ
ントリックスキャナを用いているが、たとえば、Y方向
に機械的に移動可能なステージ上に光源を配置して、ス
テージを移動させて光源自体を移動せしめることによっ
て光ビームの入射位置をY方向に平行移動せしめる光源
移動手段を用いてもよい。In this embodiment, as described above, the telecentric scanner which is the light deflecting means is used as the light beam incident position moving means. For example, a light source is placed on a stage which can be mechanically moved in the Y direction. It is also possible to use a light source moving unit that disposes and moves the stage to move the light source itself, thereby moving the incident position of the light beam in parallel in the Y direction.
【0036】光ビームLの界面4への入射角の変化に応
じて該光ビームLが界面4より反射される反射角が変化
するため、光検出手段30としては、この反射角の変化方
向に沿って受光素子が並設されてなる、例えばCCDラ
インセンサー等が用いられている。この他、光検出手段
としてフォトダイオード、特願平8−109366号記載の2
分割フォトダイオード、フォトダイオードアレイ等を用
いてもよい。ただし、光検出手段30は、光ビームのプリ
ズムに対する入射位置の変化に伴って出射位置が変化す
る全反射ビームを常に検出可能となるように配置制御さ
れている。The reflection angle at which the light beam L is reflected from the interface 4 changes in accordance with the change in the angle of incidence of the light beam L on the interface 4. For example, a CCD line sensor or the like having light receiving elements arranged side by side is used. In addition, a photodiode is used as a light detecting means, as described in Japanese Patent Application No. 8-109366.
A divided photodiode, a photodiode array, or the like may be used. However, the arrangement of the light detection means 30 is controlled so that the total reflection beam whose emission position changes with the change of the incident position of the light beam with respect to the prism can always be detected.
【0037】以下、上記構成の表面プラズモンセンサー
による試料分析について説明する。まず、センサ膜上
に、複数のサンプルセル8を配し、各セル8中に異なる
試料Sn(S1, S2, S3, ・・・)を注入し、各試料をそれぞ
れセンサ膜に接触した状態とする(図5参照)。なお、
図5(b)は同図(a)の断面を表したものである。Hereinafter, the analysis of a sample by the surface plasmon sensor having the above configuration will be described. First, a plurality of sample cells 8 are arranged on the sensor film, and different samples Sn (S 1 , S 2 , S 3 ,...) Are injected into each cell 8, and each sample is brought into contact with the sensor film. (See FIG. 5). In addition,
FIG. 5B shows a cross section of FIG.
【0038】次に、複数の試料の各々についての分析が
なされる。試料分析に際しては、試料毎にp偏光に設定
された光ビームLがプリズム13の一面から入射され、該
プリズム13を透過して界面4に対して入射される。前述
の通り、集光されて入射された光ビームLは金属膜3と
センサ基板2との界面4に対して種々の入射角θで入射
される。光ビームLはこの界面4で全反射され、再びプ
リズム13を透過して該プリズム13の他の面から出射され
る。そして、この出射された光ビームLが光検出手段30
によって検出される。このとき、光検出手段30によって
出力される光検出信号は全反射した光ビームLの強度I
を界面4への入射角θ毎に示すものであり、この反射光
強度Iと入射角θとの関係は概ね図4に示すようなもの
となる。Next, each of the plurality of samples is analyzed. At the time of sample analysis, a light beam L set to p-polarized light for each sample is incident on one surface of the prism 13, passes through the prism 13, and is incident on the interface 4. As described above, the condensed and incident light beam L is incident on the interface 4 between the metal film 3 and the sensor substrate 2 at various incident angles θ. The light beam L is totally reflected at the interface 4, passes through the prism 13 again, and is emitted from the other surface of the prism 13. The emitted light beam L is applied to the light detecting means 30.
Is detected by At this time, the light detection signal output by the light detection means 30 is the intensity I of the totally reflected light beam L.
Is shown for each incident angle θ to the interface 4, and the relationship between the reflected light intensity I and the incident angle θ is substantially as shown in FIG.
【0039】ここで、ある特定の入射角(全反射解消
角)θspで入射した光は金属膜3と試料Snとの界面に表
面プラズモンを励起させるので、この光については反射
光強度Iが鋭く低下する。それ故、光検出手段30の各受
光素子毎に出力される光検出信号を用いれば全反射解消
角θspが分かり、この全反射解消角θspの値に基づいて
試料Sn中の特定物質を定量分析することができる。その
理由は、先に詳しく説明した通りである。Here, the light incident at a specific incident angle (total reflection elimination angle) θ sp excites surface plasmons at the interface between the metal film 3 and the sample Sn. Declines sharply. Therefore, the total reflection elimination angle θ sp can be found by using the light detection signal output for each light receiving element of the light detection means 30, and the specific substance in the sample Sn can be determined based on the value of the total reflection elimination angle θ sp. Quantitative analysis can be performed. The reason is as described in detail above.
【0040】本装置では、複数の試料の各々について分
析を行うため、センサユニット1をセンサアタッチメン
ト15の搬送レールに沿ってX方向に間欠搬送させ、テレ
セントリックスキャナ20により光ビームLを平行移動さ
せて各試料Snに対して順次入射させる。このように各試
料に対して同じ条件で光ビームを入射せしめるようにし
て二次元的に走査させることにより、複数の試料につい
ての分析を短時間で効率的に行うことができる。In this apparatus, in order to analyze each of a plurality of samples, the sensor unit 1 is intermittently transported in the X direction along the transport rail of the sensor attachment 15, and the light beam L is translated by the telecentric scanner 20. The light is sequentially incident on each sample Sn. In this way, by performing a two-dimensional scan by causing a light beam to be incident on each sample under the same conditions, it is possible to efficiently analyze a plurality of samples in a short time.
【0041】なお、上述のように光ビームの二次元的な
走査が可能であるため、本装置は、例えば電気泳動に用
いられたゲルシート等の試料を金属膜3の上に載置し
て、二次元走査することにより、試料に分布している分
析対象物質の二次元物性情報を得る場合にも利用可能で
ある。Since the light beam can be scanned two-dimensionally as described above, the present apparatus mounts a sample such as a gel sheet used for electrophoresis on the metal film 3 and The present invention can also be used for obtaining two-dimensional physical property information of a substance to be analyzed distributed in a sample by performing two-dimensional scanning.
【0042】またさらに、図6に示すように、金属膜3
に複数の領域3aを設定して各領域3aに互いに異なる結合
反応膜が形成されたセンサ膜を用い、二次元的な光ビー
ム走査を行うことにより、それぞれの領域で生じる相異
なる免疫反応等を各領域毎に分析を行うこともできる。Further, as shown in FIG.
By setting a plurality of regions 3a and using a sensor film in which a different binding reaction film is formed in each region 3a and performing two-dimensional light beam scanning, different immune reactions and the like generated in each region are performed. Analysis can also be performed for each region.
【0043】次に、本発明の第二の実施形態を図7から
図9に示す。図7は、第二の実施形態に係る表面プラズ
モンセンサーの一側面形状を示すものであり、図8、図
9はそれぞれ図7に表されたプラズモンセンサーを矢印
A方向からみた形状および矢印B方向から見た形状であ
る。上述の第一の実施形態と同様の構成および作用部分
についての詳細な説明は省略する(以下の実施形態にお
いても同様)。Next, a second embodiment of the present invention is shown in FIGS. FIG. 7 shows one side surface shape of the surface plasmon sensor according to the second embodiment. FIGS. 8 and 9 show the shape of the plasmon sensor shown in FIG. This is the shape seen from the side. A detailed description of the same configuration and operation as in the first embodiment described above is omitted (the same applies to the following embodiments).
【0044】この第二の実施形態においては、センサユ
ニット1とカップラー手段10との隙間にマッチングオイ
ル9を出入り可能とするパイプ41, 42をセル12を貫通さ
せて配し、一方のパイプ41の端部は、基板2の底面より
も鉛直方向において高い位置に開口を有してマッチング
オイル9が基板2の底面よりも高い位置まで侵入可能な
空間部を形成し、他方のパイプ42は、マッチングオイル
9をためるマッチング液槽43内に挿入され、その途中に
はポンプ44が配されており、該マッチング液槽43および
ポンプ44と共にマッチング液供給手段を形成している。
センサユニット1は、上述の第一の実施形態の場合のよ
うにマッチングオイル中に浸水されるものではなく、マ
ッチングオイル9の液面にガラス基板2の底面が接触し
た状態とされるものである。In the second embodiment, pipes 41 and 42 for allowing the matching oil 9 to enter and exit are arranged in the gap between the sensor unit 1 and the coupler means 10 through the cell 12. The end has an opening at a position higher in the vertical direction than the bottom surface of the substrate 2 to form a space in which the matching oil 9 can penetrate to a position higher than the bottom surface of the substrate 2. A pump 44 is disposed in the matching liquid tank 43 for storing the oil 9, and a pump 44 is arranged in the middle thereof, and forms a matching liquid supply unit together with the matching liquid tank 43 and the pump 44.
The sensor unit 1 is not soaked in the matching oil as in the case of the first embodiment described above, but is in a state where the bottom surface of the glass substrate 2 is in contact with the liquid surface of the matching oil 9. .
【0045】センサユニット1は両端に搬送シャフト
6’を有し、この搬送シャフト6’はマッチングオイル
9を充填するセル12の凹部11を密閉空間とするために幅
広に形成されている。センサユニット1をセンサアタッ
チメント15に支持させた後、ポンプ44を作動させてマッ
チング液槽43からパイプ42を通じて面間にマッチングオ
イル9を供給する。この時、一方のパイプ41内に侵入す
るマッチングオイル9の液面が基板2の底面よりも高い
位置となるまでマッチングオイル9を供給することによ
り、面間を隙間無くマッチングオイル9で満たすことが
できる。The sensor unit 1 has a transfer shaft 6 ′ at both ends, and the transfer shaft 6 ′ is formed wide so as to make the recess 11 of the cell 12 filled with the matching oil 9 a closed space. After the sensor unit 1 is supported by the sensor attachment 15, the pump 44 is operated to supply the matching oil 9 between the surfaces from the matching liquid tank 43 through the pipe 42. At this time, by supplying the matching oil 9 until the liquid level of the matching oil 9 entering the one pipe 41 is higher than the bottom surface of the substrate 2, the matching oil 9 can be filled with no gap between the surfaces. it can.
【0046】なお、搬送シャフト6’はローラ7a',7b’
に挟持されており、センサユニット1はローラ7a',7b'
の回転に伴って移動せしめられる。The transport shaft 6 'is provided with rollers 7a' and 7b '.
And the sensor unit 1 is provided with rollers 7a 'and 7b'
It is moved with the rotation of.
【0047】以上の実施形態においては、プリズムが形
成されたカップラー手段を用いた場合について説明した
が、カップラー手段にプリズムを用いない構成とするこ
ともできる。In the above embodiment, the case where the coupler means having the prism is used has been described. However, a configuration in which the prism is not used for the coupler means may be adopted.
【0048】例えば、図10に第三の実施形態として示
すように、セル12に回折格子50, 51を形成し、こ
の回折格子50, 51から光ビームLの入出射をする
ようにしてもよい。この場合、光ビームLは、入力用回
折格子50によって回折されて界面4に対して角度θで入
射され、該界面4で全反射され、出力用回折格子51で回
折されて出射される。そして、この出射された光ビーム
Lが光検出手段30よって検出される。For example, as shown in FIG. 10 as a third embodiment, diffraction gratings 50 and 51 may be formed in the cell 12 and light beams L may be input and output from the diffraction gratings 50 and 51. . In this case, the light beam L is diffracted by the input diffraction grating 50, enters the interface 4 at an angle θ, is totally reflected by the interface 4, is diffracted by the output diffraction grating 51, and is emitted. Then, the emitted light beam L is detected by the light detecting means 30.
【0049】また、図11に第四の実施形態として示す
ように、セル12下面に下に凸となる部分を形成し、この
凸状部53の内部には屈折率マッチングオイル9を満た
し、側面にガラス窓54, 55を形成して、このガラス窓5
4, 55から光ビームLの入出射をせしめる構成としても
よい。なお、ガラス窓54, 55には屈折率がセンサ基板2
およびマッチングオイル9の屈折率と略同じものを使用
する。この場合、セル12のガラス窓54, 55以外の部分は
透過性を有する必要はない。Further, as shown in FIG. 11 as a fourth embodiment, a downwardly convex portion is formed on the lower surface of the cell 12, and the inside of the convex portion 53 is filled with a refractive index matching oil 9, and The glass windows 54 and 55 are formed on the glass window 5
A configuration in which the light beam L is input and output from 4, 55 may be adopted. The glass windows 54 and 55 have the refractive index of the sensor substrate 2.
And the one having substantially the same refractive index as the matching oil 9 is used. In this case, the portions other than the glass windows 54 and 55 of the cell 12 do not need to have transparency.
【0050】第五の実施形態を図12から図14に示
す。図12は、第五の実施形態である表面プラズモンセ
ンサーの一側面形状を示すものであり、図13,図14
はぞれぞれ図12に表されたプラズモンセンサーを矢印
A方向から見た形状および矢印B方向から見た形状であ
る。ただし、図13および図14においては装置の一部
が省略されており、一部断面図とされている。A fifth embodiment is shown in FIGS. FIG. 12 shows one side surface shape of the surface plasmon sensor according to the fifth embodiment.
The plasmon sensor shown in FIG. 12 has a shape viewed from the direction of arrow A and a shape viewed from the direction of arrow B, respectively. However, in FIGS. 13 and 14, a part of the device is omitted, and a partial cross-sectional view is shown.
【0051】本実施形態において、センサユニット101
は透明基板102 および該透明基板102 上に配された金属
膜103 とからなるセンサ部104 と、該センサ部104 を保
持するセンサ保持部105 とからなる。センサ保持部105
の下面はセンサ部104 の透明基板102 と同程度の屈折率
を有する透明部材106 からなり、該透明部材106 の上に
センサ部104 の透明基板102 が、マッチングオイルを介
して密着せしめられた状態で測定が行われる。なお、金
属膜103 上には上述の実施形態と同様に結合反応膜が形
成されているものとする。センサの交換のためには、セ
ンサユニット101 ごと交換してもよいし、センサ部104
のみを交換してもよい。センサ部104 は簡単な構成であ
るため安価であり、交換も容易である。また、均一なサ
イズの基板を用いない自由な形態のものをセンサ部104
として用いることができる。なお、センサ保持部105 に
は図15に示すように同一若しくは異なるサイズの複数
のセンサ部104'を配して各センサ部104'上にそれぞれ異
なる試料Sn(S1, S2, S3,・・・)を保持して各試料Sn
について順次測定するようにしてもよい。このとき、各
センサ部104'の金属膜103 上にはそれぞれ結合反応膜a
が形成されており、各結合反応膜a 上にそれぞれ試料が
配置される。また、図16に示すように、各センサ部10
4"の金属膜103 上にそれぞれ異なる抗原(もしくは抗
体)からなる結合反応膜a,b,c,d,・・・を配し、試料S
についての各結合反応膜a,b,c,d,・・・における異なる
現象を順次測定するようにしてもよい。In this embodiment, the sensor unit 101
Comprises a sensor unit 104 including a transparent substrate 102 and a metal film 103 disposed on the transparent substrate 102, and a sensor holding unit 105 that holds the sensor unit 104. Sensor holder 105
Is formed of a transparent member 106 having the same refractive index as that of the transparent substrate 102 of the sensor section 104. The transparent substrate 102 of the sensor section 104 is brought into close contact with the transparent member 106 via a matching oil. Is measured. It is assumed that a bonding reaction film is formed on the metal film 103 as in the above-described embodiment. In order to replace the sensor, the sensor unit 101 may be replaced, or the sensor unit 104 may be replaced.
Only one may be replaced. The sensor unit 104 has a simple configuration, so it is inexpensive and easy to replace. In addition, a sensor of a free form that does not use a substrate of a uniform size
Can be used as As shown in FIG. 15, a plurality of sensor units 104 'of the same or different sizes are arranged in the sensor holding unit 105, and different samples Sn (S1, S2, S3,...) Are provided on each of the sensor units 104'. ) Hold each sample Sn
May be sequentially measured. At this time, the bonding reaction film a is formed on the metal film 103 of each sensor 104 '.
Are formed, and the sample is placed on each of the binding reaction films a. Further, as shown in FIG.
On the 4 ″ metal film 103, binding reaction films a, b, c, d,.
May be measured sequentially in each of the bonding reaction films a, b, c, d,.
【0052】カップラー手段110 には、上記第四の実施
形態と同様に、セル112 の一部に下に凸となる部分を形
成し、この凸上部113 の側面に形成されたガラス窓114,
115から光ビームを入出射せしめる構成のものを用い
る。なお、測定時には、セル112 と後述の光学系用筐体
141 とで囲まれた凹部にマッチングオイル9を満たし、
センサ保持部105 の下面がマッチングオイル9中に浸水
状態となるようにする。In the coupler means 110, similarly to the fourth embodiment, a downwardly convex portion is formed in a part of the cell 112, and glass windows 114, 114 formed on the side surfaces of the convex upper portion 113 are formed.
A component that allows a light beam to enter and exit from 115 is used. At the time of measurement, the cell 112 and a housing for an optical system described later are used.
141 Fill the recess surrounded by and with matching oil 9,
The lower surface of the sensor holding portion 105 is soaked in the matching oil 9.
【0053】光ビームLを出射してカップラー手段110
に入射せしめる光源光学手段120 は、半導体レーザ等の
光源121 とコリメタレンズ122 を備えて平行光を出射す
る光源装置123 と、テレセントリック光学系を利用した
光偏向手段であるテレセントリックスキャナ124 とから
なる。該テレセントリックスキャナ124 は、ガルバノミ
ラー125 と、fθレンズ126 とからなるものである。f
θレンズ126 によって光ビームLはスポット状に集束せ
しめられてカップラー手段110 の窓114 から入射され
る。この光ビームLの窓114 への入射位置は、ガルバノ
ミラー125 の揺動に伴ってY方向に平行移動せしめられ
る。なお、光源装置123 から発せられた光ビームLはp
偏光としてカップラー手段110 に入射されるものであ
り、集束された光ビームLは、透明基板102 と金属膜10
3 との界面107 に対して種々の入射角θで入射する成分
を含むものである。なお、この入射角θは、全反射臨界
角以上の角度に設定し、光ビームLが界面107 で全反射
されるようにする。The light beam L is emitted and the coupler means 110
The light source optical means 120 is provided with a light source 121 such as a semiconductor laser and a collimator lens 122 and emits parallel light, and a telecentric scanner 124 which is a light deflecting means using a telecentric optical system. The telecentric scanner 124 includes a galvanometer mirror 125 and an fθ lens 126. f
The light beam L is focused into a spot by the θ lens 126 and is incident from the window 114 of the coupler means 110. The incident position of the light beam L on the window 114 is translated in the Y direction with the swing of the galvanometer mirror 125. The light beam L emitted from the light source device 123 is p
The light beam L which is incident on the coupler means 110 as polarized light is focused on the transparent substrate 102 and the metal film 10.
3 includes components that enter the interface 107 at various angles of incidence θ. The incident angle θ is set to an angle equal to or greater than the critical angle for total reflection so that the light beam L is totally reflected at the interface 107.
【0054】また、界面107 で反射されてカップラー手
段110 の窓115 から出力された光ビームを検出する検出
手段130 側にもfθレンズ131 が配されており、光ビー
ムが常に検出手段130 によって検出されるように構成さ
れている。An fθ lens 131 is also provided on the detection means 130 side for detecting the light beam reflected from the interface 107 and output from the window 115 of the coupler means 110, and the light beam is always detected by the detection means 130. It is configured to be.
【0055】上述のカップラー手段110 、光源光学手段
120 、検出手段130 は、すべて基台140 上に配置されて
いる。この基台140 上に光源光学手段120 等を取り囲む
ように形成されている光学系用筐体141 にカップラー手
段110 が固設されており、光源光学手段120 のfθレン
ズ126 と検出手段130 側のfθレンズ131 とは該カップ
ラー手段110 の下面から釣支されている。The above-mentioned coupler means 110 and light source optical means
120 and the detection means 130 are all arranged on the base 140. A coupler means 110 is fixed to an optical system casing 141 formed on the base 140 so as to surround the light source optical means 120 and the like, and the fθ lens 126 and the detection means 130 side of the light source optical means 120 are provided. lens 131 is supported by the lower surface of the coupler means 110.
【0056】基台140 上にはさらに、光学系用筐体141
を取り囲むようにして筐体142 が形成されており、この
筐体142 の上面にはセンサユニット101 を搬送する、X
方向に延びた搬送レール143 が備えられている。この筐
体142 と搬送レール143 は、センサユニット101 とカッ
プラー手段110 との間隔が常に一定となるようにセンサ
ユニット101 を支持するセンサアタッチメントでもあ
り、センサユニット101は、搬送レール143 に沿ってカ
ップラー手段110 との間隔を一定に保った状態でX方向
に移動可能とされている。すなわち、本実施形態におい
ては基台上に設けられた搬送レール143 がセンサユニッ
ト相対移動手段に対応するものである。On the base 140, an optical system housing 141 is further provided.
A housing 142 is formed so as to surround the sensor unit 101.
A transport rail 143 extending in the direction is provided. The housing 142 and the transport rail 143 are also sensor attachments that support the sensor unit 101 so that the distance between the sensor unit 101 and the coupler means 110 is always constant. The sensor unit 101 is coupled along the transport rail 143 with the coupler. It is possible to move in the X direction while keeping the distance from the means 110 constant. That is, in the present embodiment, the transport rail 143 provided on the base corresponds to the sensor unit relative moving means.
【0057】上述のようにして、本実施形態の表面プラ
ズモンセンサーは、センサユニット101 のX方向への移
動と、光源光学手段120 のテレセントリックスキャナ12
4 による光ビーム入射位置のY方向への移動とにより二
次元走査を行うことができる。As described above, the surface plasmon sensor according to the present embodiment includes the movement of the sensor unit 101 in the X direction and the movement of the telecentric scanner 12 of the light source optical means 120.
The two-dimensional scanning can be performed by moving the incident position of the light beam in the Y direction by the step (4).
【0058】さらに、本発明の第六の実施形態を図17
に示す。この第六の実施形態においては、上記第五の実
施形態と同様のセンサユニット101 、カップラー手段11
0 および光源光学手段120 、検出手段130 を用いる。光
源光学手段120 、検出手段130 は搬送台145 上に配置さ
れ、該搬送台145 で光源光学手段120 等を取り囲むよう
に形成されている光学系用筐体146 にカップラー手段11
0 が固設されており、光源光学手段120 のfθレンズ12
6 と検出手段130 側にfθレンズ131 とが該カップラー
手段110 の下面から釣支されている。FIG. 17 shows a sixth embodiment of the present invention.
Shown in In the sixth embodiment, the same sensor unit 101 and coupler means 11 as those in the fifth embodiment are used.
0, light source optical means 120 and detection means 130 are used. The light source optical means 120 and the detection means 130 are arranged on a carrier 145, and the coupler means 11 is mounted on an optical system housing 146 formed so as to surround the light source optical means 120 and the like on the carrier 145.
0 is fixed, and the fθ lens 12
The fθ lens 131 is supported by the lower surface of the coupler means 110 on the side of the detecting means 130 and the detecting means 130.
【0059】搬送台145 はさらに基台147 上に配され
た、X方向に延びた搬送レール148 上に載置されてお
り、搬送レール148 に沿ってX方向に可動とされてい
る。搬送台145 がX方向に移動することは、すなわち、
光源光学手段120 がX方向に移動することを意味し、こ
の移動に伴い界面107 上への光ビームLの入射位置がX
方向に移動せしめられることとなる。なお、基台147 上
にはさらに光学系用筐体146を取り囲むようにして筐体1
49 が形成されており、該筐体149 の上面にはセンサユ
ニット101 が固設されている。すなわち、筐体149 はセ
ンサユニット101 を支持するセンサアタッチメントとし
ても機能するものである。なお、センサ部124には被検
出物たる試料Sを供給する試料供給ユニット150 が取り
付けられている。The transfer table 145 is further mounted on a transfer rail 148 extending on the base 147 and extending in the X direction, and is movable along the transfer rail 148 in the X direction. The movement of the carriage 145 in the X direction means that
This means that the light source optical means 120 moves in the X direction. With this movement, the incident position of the light beam L on the interface 107 becomes X
It will be moved in the direction. In addition, the housing 1 is further placed on the base 147 so as to surround the optical system housing 146.
A sensor unit 101 is fixedly provided on the upper surface of the housing 149. That is, the housing 149 also functions as a sensor attachment that supports the sensor unit 101. Note that a sample supply unit 150 for supplying a sample S as an object to be detected is attached to the sensor unit 124.
【0060】以上のようにして本実施形態の表面プラズ
モンセンサーは、搬送台145 のX方向への移動と、光源
光学手段120 のテレセントリックスキャナ124 による光
ビーム入射位置のY方向への移動とにより二次元走査を
行うことができる。As described above, the surface plasmon sensor of the present embodiment has two movements by the movement of the carriage 145 in the X direction and the movement of the light beam incident position in the Y direction by the telecentric scanner 124 of the light source optical means 120. A dimensional scan can be performed.
【0061】さらに、本発明の第七の実施形態を図18
および図19に示す。図19は、第七の実施形態である
表面プラズモンセンサーの一側面形状を示すものであ
り、図19は図18に表されたプラズモンセンサーを矢
印A方向から見た形状である。ただし、図19において
は装置の一部が省略されており、一部断面図とされてい
る。FIG. 18 shows a seventh embodiment of the present invention.
And FIG. FIG. 19 shows a side surface shape of the surface plasmon sensor according to the seventh embodiment, and FIG. 19 shows a shape of the plasmon sensor shown in FIG. However, in FIG. 19, a part of the device is omitted, and a partial cross-sectional view is shown.
【0062】本実施形態は、上述の第六の実施形態と同
様の二次元走査機構を有するものであるが、半導体レー
ザ等の光源121 とコリメタレンズ122 とからなる光源装
置123 および検出手段130 が筐体149 の外部に取り付け
られている点で第六の実施形態と相違する。すなわち、
本実施形態においては、光ビームLをカップラー手段11
0 に入射せしめるために、光源装置123 からの光ビーム
Lを反射偏光するミラー127 およびテレセントリックス
キャナ124 を備えた光源用光学手段128 と、カップラー
手段110 から出力された光ビームを検出手段130 へ導く
レンズ132 およびミラー133,134 を備えた検出手段用光
学手段135 とが光学筐体146 に納められ、光源装置123
および検出手段130 は筐体149 の外部に配設された構成
である。The present embodiment has a two-dimensional scanning mechanism similar to that of the above-described sixth embodiment. However, a light source device 123 comprising a light source 121 such as a semiconductor laser and a collimator lens 122 and a detecting means 130 are provided in a housing. It differs from the sixth embodiment in that it is mounted outside the body 149. That is,
In the present embodiment, the light beam L is transmitted to the coupler means 11.
In order to make the light beam incident on the light source device 123, a light source optical means 128 having a mirror 127 and a telecentric scanner 124 for reflecting and polarizing the light beam L from the light source device 123, and a light beam output from the coupler means 110 are guided to the detecting means 130 A lens 132 and optical means 135 for detecting means having mirrors 133 and 134 are housed in an optical housing 146, and a light source device 123 is provided.
The detecting means 130 is provided outside the housing 149.
【0063】光源121 および検出手段130 は測定対象や
所望の測定精度に応じて交換するため、例えば、ダイナ
ミックレンジを広くとりたい場合には検出手段としてC
CDを用い、より高精度な測定を行いたい場合には検出
手段として2分割フォトダイオードを用いる等のために
着脱可能とされており、筐体149 外部に取り付けられる
構成のため、交換が非常に容易である。The light source 121 and the detecting means 130 are exchanged according to the object to be measured and the desired measurement accuracy.
If a more accurate measurement is to be performed using a CD, it is detachable because a two-segment photodiode is used as the detection means. Easy.
【0064】また、光源および検出手段を光学筐体146
内部に備えるためには、限られたスペース中に配置しな
ければならないためにその形態が制約されるが、外部に
取り付けるために、そのような制約がなく自由な形態を
とることができる。例えば、複数の光源や検出手段を取
り付けることもできる。Further, the light source and the detecting means are connected to the optical housing 146.
In order to be provided inside, the configuration must be limited because the device must be arranged in a limited space. However, since the device can be mounted outside, a free configuration can be adopted without such restrictions. For example, a plurality of light sources and detection means can be attached.
【0065】さらに、半導体レーザ等からなる光源を光
学筐体146 や筐体149 が設置されている基台147 とは独
立して別個に配置し、光源から出射された光ビームを光
ファイバ、特に偏波面保存型の光ファイバを用いて光源
用光学手段に導く構成としてもよい。Further, a light source made of a semiconductor laser or the like is arranged independently of the optical housing 146 and the base 147 on which the housing 149 is installed, and a light beam emitted from the light source is transmitted through an optical fiber, especially A configuration may be adopted in which the polarization-maintaining optical fiber is used to guide light to the light source optical unit.
【0066】なお、図12に示す第四の実施形態に係る
プラズモンセンサーについても、第七の実施形態と同様
にして光源および検出手段を筐体142 の外部に取り付け
る構成や、光源を独立して配置して光源からの光ビーム
を光ファイバにより光源用光学手段に導く構成とするこ
とができる。The plasmon sensor according to the fourth embodiment shown in FIG. 12 also has a configuration in which the light source and the detection means are mounted outside the housing 142 in the same manner as the seventh embodiment, and the light source is independently provided. A light beam from the light source can be arranged to be guided to the light source optical means by an optical fiber.
【0067】なお、その他の実施の形態に係る表面プラ
ズモンセンサーとして、センサユニット相対移動手段、
入射位置移動手段のうちいずれかの手段のみを備え、一
次元方向に並べられた複数の試料についての分析をする
表面プラズモンセンサーとすることもできる。As a surface plasmon sensor according to another embodiment, a sensor unit relative moving means,
A surface plasmon sensor that includes only one of the incident position moving means and analyzes a plurality of samples arranged in a one-dimensional direction may be used.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】本発明の第一の実施形態に係る表面プラズモン
センサーの側面図FIG. 1 is a side view of a surface plasmon sensor according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1に示す表面プラズモンセンサーを矢印A方
向から見た図FIG. 2 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
【図3】図1に示す表面プラズモンセンサーを矢印B方
向から見た図FIG. 3 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
【図4】表面プラズモンセンサーにおける光ビーム入射
角と、光検出手段による検出光強度との概略関係を示す
グラフFIG. 4 is a graph showing a schematic relationship between an incident angle of a light beam in a surface plasmon sensor and a light intensity detected by a light detecting unit.
【図5】マルチチャンネル型のセンサを示す図FIG. 5 is a diagram showing a multi-channel type sensor;
【図6】複数の領域に分割されたセンサ膜を示す図FIG. 6 is a diagram showing a sensor film divided into a plurality of regions.
【図7】本発明の第二の実施形態に係る表面プラズモン
センサーの側面図FIG. 7 is a side view of a surface plasmon sensor according to a second embodiment of the present invention.
【図8】図7に示す表面プラズモンセンサーを矢印A方
向から見た図FIG. 8 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
【図9】図7に示す表面プラズモンセンサーを矢印B方
向から見た図FIG. 9 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
【図10】本発明の第三の実施形態に係る表面プラズモ
ンセンサーの側面図FIG. 10 is a side view of a surface plasmon sensor according to a third embodiment of the present invention.
【図11】本発明の第四の実施形態に係る表面プラズモ
ンセンサーの側面図FIG. 11 is a side view of a surface plasmon sensor according to a fourth embodiment of the present invention.
【図12】本発明の第五の実施形態に係る表面プラズモ
ンセンサーの側面図FIG. 12 is a side view of a surface plasmon sensor according to a fifth embodiment of the present invention.
【図13】図12に示す表面プラズモンセンサーを矢印
A方向から見た図FIG. 13 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
【図14】図12に示す表面プラズモンセンサーを矢印
B方向から見た図FIG. 14 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
【図15】複数のセンサ部を有する表面プラズモンセン
サーを表す図FIG. 15 is a diagram illustrating a surface plasmon sensor having a plurality of sensor units.
【図16】互いに異なる結合反応膜が形成された複数の
センサ部を有する表面プラズモンセンサーを表す図FIG. 16 is a diagram illustrating a surface plasmon sensor having a plurality of sensor units on which different binding reaction films are formed.
【図17】本発明の第六の実施形態に係る表面プラズモ
ンセンサーの側面図FIG. 17 is a side view of a surface plasmon sensor according to a sixth embodiment of the present invention.
【図18】本発明の第七の実施形態に係る表面プラズモ
ンセンサーの側面図FIG. 18 is a side view of a surface plasmon sensor according to a seventh embodiment of the present invention.
【図19】図18に示す表面プラズモンセンサーを矢印
A方向から見た図FIG. 19 is a view of the surface plasmon sensor shown in FIG.
1 センサユニット 2 センサ基板 3 金属膜 4 界面 6 搬送シャフト 9 屈折率マッチングオイル 10 カップラー手段 12 セル 13 プリズム 15 センサアタッチメント 20 光源光学手段 23 テレセントリックスキャナ 30 光検出手段 L 光ビーム DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sensor unit 2 Sensor board 3 Metal film 4 Interface 6 Transport shaft 9 Refractive index matching oil 10 Coupler means 12 Cell 13 Prism 15 Sensor attachment 20 Light source optical means 23 Telecentric scanner 30 Light detecting means L Light beam
Claims (26)
び、この透明基板の一表面側に配された金属膜を備えて
なるセンサユニットと、 前記透明基板の前記一表面とは反対側の他表面側に、前
記所定の屈折率と略同じ屈折率を有する屈折率マッチン
グ液を挟んで配置されたカップラー手段であって、一部
に形成されている入力部から入射された光ビームを透過
して前記透明基板と前記金属膜との界面に入射せしめ、
該界面で全反射した光ビームを透過して他の一部に形成
されている出力部から出射する、該光ビームが透過する
部分が前記所定の屈折率と略同じ屈折率を有するカップ
ラー手段とを備え、 前記光ビームを前記入力部から入射せしめ、前記界面で
全反射されて前記出力部から出射された光ビームの強度
を検出する表面プラズモンセンサーにおいて、 前記センサユニットを、前記透明基板と前記カップラー
手段との間隔が常に一定となるように支持するセンサ支
持手段を備え、 前記間隔に前記屈折率マッチング液が充填されており、 光ビームが前記界面の所定の方向の相異なる箇所に同じ
入射状態で順次入射するように該光ビームの入力部にお
ける入射位置を移動させる入射位置移動手段、若しく
は、前記間隔が一定の状態で前記センサユニットを所定
の方向に、前記カップラー手段に対して相対的に移動せ
しめるセンサユニット相対移動手段のうち少なくとも一
方をさらに備えたことを特徴とする表面プラズモンセン
サー。1. A sensor unit comprising a transparent substrate having a predetermined refractive index, and a metal film disposed on one surface side of the transparent substrate, and a sensor unit provided on the opposite side of the transparent substrate from the one surface. Coupling means disposed on the front side with a refractive index matching liquid having a refractive index substantially the same as the predetermined refractive index interposed therebetween, and transmitting a light beam incident from an input portion formed in a part thereof. Incident on the interface between the transparent substrate and the metal film,
Coupler means that transmits a light beam totally reflected at the interface and exits from an output portion formed in another portion, and a portion through which the light beam transmits has a refractive index substantially equal to the predetermined refractive index; A surface plasmon sensor that causes the light beam to be incident from the input unit and detects the intensity of the light beam totally reflected at the interface and emitted from the output unit, wherein the sensor unit includes the transparent substrate and the transparent substrate. A sensor support means for supporting the gap with the coupler means so as to be always constant, wherein the gap is filled with the refractive index matching liquid, and the same light beam is incident on the interface at different locations in a predetermined direction in the interface. Incident position moving means for moving the incident position of the light beam at the input portion so as to sequentially enter in the state, or the sensor unit in a state where the interval is constant. A surface plasmon sensor further comprising at least one of a sensor unit relative moving means for moving the sensor relative to the coupler means in a predetermined direction.
相対移動手段の双方を備え、前記入射位置移動手段にお
ける所定の方向と前記センサユニット相対移動手段にお
ける所定の方向とが互いに交差する方向であることを特
徴とする請求項1記載の表面プラズモンセンサー。2. The apparatus has both the incident position moving means and the sensor unit relative moving means, and a predetermined direction in the incident position moving means and a predetermined direction in the sensor unit relative moving means intersect each other. The surface plasmon sensor according to claim 1, wherein:
ック走査光学系であることを特徴とする請求項1または
2いずれか記載の表面プラズモンセンサー。3. The surface plasmon sensor according to claim 1, wherein said incident position moving means is a telecentric scanning optical system.
手段の一部に固設されていることを特徴とする請求項1
から3いずれか記載の表面プラズモンセンサー。4. The apparatus according to claim 1, wherein said sensor supporting means is fixed to a part of said coupler means.
3. The surface plasmon sensor according to any one of 3. to 3. above.
力部へ入射せしめる光源光学手段、前記出力部から出射
された光ビームの強度を検出する検出手段、および前記
カップラー手段が基台上に配置され、 前記センサ支持手段が前記基台上に固設され、 前記センサユニットが前記センサ支持手段により前記カ
ップラー手段に対して移動可能に支持され、 前記センサユニット相対移動手段が、前記センサユニッ
トを移動せしめるものであることを特徴とする請求項1
から3いずれか記載の表面プラズモンセンサー。5. A light source optical unit for emitting a light beam and causing the light beam to enter the input unit, a detecting unit for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit, and the coupler unit being on a base. The sensor support means is fixed on the base, the sensor unit is movably supported by the sensor support means with respect to the coupler means, and the sensor unit relative movement means is the sensor unit. 2. The method according to claim 1, wherein
3. The surface plasmon sensor according to any one of 3. to 3. above.
れ、 前記センサユニットが前記センサ支持手段により固定的
に支持され、 光ビームを出射して該光ビームを前記入力部へ入射せし
める光源光学手段、前記出力部から出射された光ビーム
の強度を検出する検出手段、および前記カップラー手段
を含む光学系ユニットが前記基台上で前記センサユニッ
トに対して移動可能に配設され、 前記センサユニット相対移動手段が、前記光学系ユニッ
トを移動せしめるものであることを特徴とする請求項1
から3いずれか記載の表面プラズモンセンサー。6. A light source for fixing said sensor support means on a base, said sensor unit being fixedly supported by said sensor support means, emitting a light beam and causing said light beam to enter said input section. An optical unit including an optical unit, a detecting unit for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit, and an optical system unit including the coupler unit, the movable unit being disposed on the base with respect to the sensor unit; 2. The unit relative moving means for moving the optical system unit.
3. The surface plasmon sensor according to any one of 3. to 3. above.
れ、 前記センサユニットが前記センサ支持手段により前記カ
ップラー手段に対して移動可能に支持され、 前記センサユニット相対移動手段が、前記センサユニッ
トを移動せしめるものであり、 光ビームを前記入力部へ入射せしめる光源用光学手段、
前記出力部から出射された光ビームの強度を検出する検
出手段に該光ビームを導く検出手段用光学手段、および
前記カップラー手段を含む光学ユニットが前記基台上に
配置され、 前記光ビームを出射する光源および前記検出手段が前記
基台上に前記光学系ユニットとは別個に着脱可能に配さ
れていることを特徴とする請求項1から3いずれか記載
の表面プラズモンセンサー。7. The sensor support means is fixed on a base, the sensor unit is movably supported by the sensor support means with respect to the coupler means, and the sensor unit relative movement means is a sensor unit. Optical means for a light source for causing a light beam to enter the input unit;
An optical unit for detecting means for guiding the light beam to a detecting means for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit, and an optical unit including the coupler means are arranged on the base, and emit the light beam. 4. The surface plasmon sensor according to claim 1, wherein the light source and the detecting unit are detachably mounted on the base separately from the optical system unit.
れ、 前記センサユニットが前記センサ支持手段により固定的
に支持され、 光ビームを前記入力部へ入射せしめる光源用光学手段、
前記出力部から出射された光ビームの強度を検出する検
出手段に該光ビームを導く検出用光学手段、および前記
カップラー手段を含む光学系ユニットが前記基台上で前
記センサユニットに対して移動可能に配設され、 前記センサユニット相対移動手段が、前記光学系ユニッ
トを移動せしめるものであり、 前記光ビームを出射する光源および前記検出手段が、前
記基台上に前記光学系ユニットとは別個に着脱可能に配
されていることを特徴とする請求項1から3いずれか記
載の表面プラズモンセンサー。8. The light source optical means for fixing the sensor support on a base, the sensor unit being fixedly supported by the sensor support, and causing a light beam to enter the input unit;
An optical system unit including a detection optical unit that guides the light beam to a detection unit that detects the intensity of the light beam emitted from the output unit, and an optical system unit including the coupler unit can be moved relative to the sensor unit on the base. The sensor unit relative moving means is for moving the optical system unit, and the light source for emitting the light beam and the detecting means are separately provided on the base from the optical system unit. The surface plasmon sensor according to any one of claims 1 to 3, wherein the surface plasmon sensor is detachably arranged.
れ、 前記センサユニットが前記センサ支持手段により前記カ
ップラー手段に対して移動可能に支持され、 前記センサユニット相対移動手段が、前記センサユニッ
トを移動せしめるものであり、 光ビームを前記入力部へ入射せしめる光源用光学手段、
前記出力部から出射された光ビームの強度を検出する検
出手段、および前記カップラー手段を含む光学系ユニッ
トが前記基台上に配置され、 前記光ビームを出射する光源が前記基台の外部に独立し
て配置されていることを特徴とする請求項1から3いず
れか記載の表面プラズモンセンサー。9. The sensor support means is fixed on a base, the sensor unit is movably supported by the sensor support means with respect to the coupler means, and the sensor unit relative movement means is the sensor unit. Optical means for a light source for causing a light beam to enter the input unit;
A detecting unit for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit, and an optical system unit including the coupler unit are arranged on the base; and a light source for emitting the light beam is independent of the outside of the base. The surface plasmon sensor according to any one of claims 1 to 3, wherein the surface plasmon sensor is arranged so as to be arranged.
れ、 前記センサユニットが前記センサ支持手段により固定的
に支持され、 光ビームを前記入力部へ入射せしめる光源用光学手段、
前記出力部から出射された光ビームの強度を検出する検
出手段、および前記カップラー手段を含む光学系ユニッ
トが前記基台上で前記センサユニットに対して移動可能
に配設され、 前記センサユニット相対移動手段が、前記光学系ユニッ
トを移動せしめるものであり、 前記光ビームを出射する光源が前記基台の外部に独立し
て配置されていることを特徴とする請求項1から3いず
れか記載の表面プラズモンセンサー。10. An optical unit for a light source, wherein the sensor support means is fixed on a base, the sensor unit is fixedly supported by the sensor support means, and a light beam is incident on the input unit.
An optical system unit including a detection unit for detecting the intensity of the light beam emitted from the output unit and the coupler unit is movably disposed on the base with respect to the sensor unit; The surface according to any one of claims 1 to 3, wherein the means moves the optical system unit, and a light source for emitting the light beam is independently disposed outside the base. Plasmon sensor.
記光源用光学手段に導く光ファイバーを備えたことを特
徴とする請求項9または10いずれか記載の表面プラズ
モンセンサー。11. The surface plasmon sensor according to claim 9, further comprising an optical fiber for guiding a light beam emitted from said light source to said light source optical means.
ファイバーであることを特徴とする請求項11記載の表
面プラズモンセンサー。12. The surface plasmon sensor according to claim 11, wherein said optical fiber is a polarization-maintaining optical fiber.
供給するマッチング液供給手段と、 前記屈折率マッチング液が、前記透明基板の前記他表面
よりも高い位置まで侵入可能な、前記間隔に通じる空間
部とを備え、 前記マッチング液供給手段により、前記間隔に前記屈折
率マッチング液が充填されることを特徴とする請求項1
から4いずれか記載の表面プラズモンセンサー。13. A matching liquid supply means for supplying the refractive index matching liquid to the space, and a space leading to the space where the refractive index matching liquid can enter a position higher than the other surface of the transparent substrate. And the space is filled with the refractive index matching liquid by the matching liquid supply means.
5. The surface plasmon sensor according to any one of 4. to 4.,
に対面する側に、前記屈折率マッチング液をためる液だ
め部が形成され、 前記透明基板に前記金属膜を囲むように防水壁が設けら
れ、 前記センサユニットが、前記液だめ部に前記透明基板の
前記他表面が前記屈折率マッチング液に浸水する状態に
支持されていることを特徴とする請求項1から12いず
れか記載の表面プラズモンセンサー。14. A reservoir for storing the refractive index matching liquid is formed on a side of the coupler unit facing the transparent substrate, and a waterproof wall is provided on the transparent substrate so as to surround the metal film. The surface plasmon sensor according to any one of claims 1 to 12, wherein the sensor unit is supported by the liquid reservoir so that the other surface of the transparent substrate is immersed in the refractive index matching liquid.
えてなり、 前記入力部および前記出力部が、前記プリズムに形成さ
れていることを特徴とする請求項1から14いずれか記
載の表面プラズモンセンサー。15. The surface plasmon sensor according to claim 1, wherein the coupler unit includes a prism, and the input unit and the output unit are formed on the prism.
び前記出力部が、回折格子からなることを特徴とする請
求項1から14いずれか記載の表面プラズモンセンサ
ー。16. The surface plasmon sensor according to claim 1, wherein said input part and said output part of said coupler means are formed of a diffraction grating.
手段の前記透明基板と対面する側と反対の側に凸状部を
有し、 前記凸状部が、該凸状部の一側面および該一側面に対向
する他側面が透明板により形成され、該凸状部の内側に
は前記屈折率マッチング液が満たされたものであり、 前記一側面および前記他側面がそれぞれ前記入力部およ
び前記出力部であることを特徴とする請求項1から14
いずれか記載の表面プラズモンセンサー。17. The coupler means has a convex part on a side of the coupler means opposite to a side facing the transparent substrate, wherein the convex part is one side of the convex part and the one side. Is formed by a transparent plate, and the inside of the convex portion is filled with the refractive index matching liquid. The one side surface and the other side surface are the input portion and the output portion, respectively. 15. The method according to claim 1, wherein:
The surface plasmon sensor according to any of the above.
持基板と、該保持基板上に配された主透明基板とからな
り、 前記主透明基板上に前記金属膜が配され、 前記保持透明基板が前記屈折率マッチング液を介して前
記カップラー手段に対向するように配置されていること
を特徴とする請求項1から17いずれか記載の表面プラ
ズモンセンサー。18. The transparent substrate of the sensor unit includes a holding substrate and a main transparent substrate disposed on the holding substrate, wherein the metal film is disposed on the main transparent substrate, and wherein the holding transparent substrate is 18. The surface plasmon sensor according to claim 1, wherein the surface plasmon sensor is disposed so as to face the coupler means via the refractive index matching liquid.
であることを特徴とする請求項1から18いずれか記載
の表面プラズモンセンサー。19. The surface plasmon according to claim 1, wherein a binding reaction film is provided on the metal film, and detects a specific substance that binds to and reacts with the binding reaction film. sensor.
種類の複数の結合反応膜が配され、 該結合反応膜と結合反応する特定の物質を検出するもの
であることを特徴とする請求項1から18いずれか記載
の表面プラズモンセンサー。20. A method according to claim 19, wherein a plurality of different types of binding reaction films are arranged on different portions of the metal film, and a specific substance that reacts with the binding reaction film is detected. 19. The surface plasmon sensor according to any one of 1 to 18.
持基板と、該保持基板上の異なる位置に配された複数の
主透明基板とからなり、 前記複数の主透明基板上にそれぞれ前記金属膜が配さ
れ、 前記保持透明基板が前記屈折率マッチング液を介して前
記カップラー手段に対向するように配置されていること
を特徴とする請求項1から17いずれか記載の表面プラ
ズモンセンサー。21. A transparent substrate of the sensor unit, comprising: a holding substrate; and a plurality of main transparent substrates arranged at different positions on the holding substrate, wherein the metal film is formed on each of the plurality of main transparent substrates. The surface plasmon sensor according to any one of claims 1 to 17, wherein the holding transparent substrate is disposed so as to face the coupler means via the refractive index matching liquid.
がそれぞれ異なるものであることを特徴とする請求項2
1記載の表面プラズモンセンサー。22. The method according to claim 2, wherein each of the plurality of main transparent substrates has a different substrate size.
2. The surface plasmon sensor according to 1.
記各金属膜上にそれぞれ結合反応膜が配され、 該各結合反応膜と結合反応する特定の物質を検出するも
のであることを特徴とする請求項21または22いずれ
か記載の表面プラズモンセンサー。23. A bonding reaction film is provided on each of the metal films provided on the plurality of main transparent substrates, and a specific substance that binds to and reacts with each of the bonding reaction films is detected. The surface plasmon sensor according to any one of claims 21 to 22, wherein
の反応膜であることを特徴とする請求項23記載の表面
プラズモンセンサー。24. The surface plasmon sensor according to claim 23, wherein each of the binding reaction films is a reaction film of a different type.
が前記所定の屈折率と略同じ屈折率を有する屈折率マッ
チング液を介して密着せしめられていることを特徴とす
る請求項18から24いずれか記載の表面プラズモンセ
ンサー。25. The holding transparent substrate and the main transparent substrate are brought into close contact with each other via a refractive index matching liquid having a refractive index substantially equal to the predetermined refractive index. The surface plasmon sensor according to any of the above.
透明基板に配されていることを特徴とする請求項18か
ら25いずれか記載の表面プラズモンセンサー。26. The surface plasmon sensor according to claim 18, wherein the main transparent substrate is detachably provided on the holding transparent substrate.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26408797A JP3399804B2 (en) | 1997-02-26 | 1997-09-29 | Surface plasmon sensor |
EP98101847A EP0863395B1 (en) | 1997-02-07 | 1998-02-03 | Surface plasmon sensor |
DE69830529T DE69830529T2 (en) | 1997-02-07 | 1998-02-03 | Surface plasmon sensor |
US09/018,332 US5923031A (en) | 1997-02-07 | 1998-02-04 | Surface plasmon sensor having a coupler with a refractive index matching liquid |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4195297 | 1997-02-26 | ||
JP14944297 | 1997-06-06 | ||
JP9-149442 | 1997-06-06 | ||
JP9-41952 | 1997-06-06 | ||
JP26408797A JP3399804B2 (en) | 1997-02-26 | 1997-09-29 | Surface plasmon sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1151857A true JPH1151857A (en) | 1999-02-26 |
JP3399804B2 JP3399804B2 (en) | 2003-04-21 |
Family
ID=27291011
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26408797A Expired - Fee Related JP3399804B2 (en) | 1997-02-07 | 1997-09-29 | Surface plasmon sensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3399804B2 (en) |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001069207A1 (en) * | 2000-03-16 | 2001-09-20 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Measuring method and instrument utilizing total reflection attenuation |
JP2001330560A (en) * | 2000-03-16 | 2001-11-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring method using total reflection attenuation and its device |
JP2002048707A (en) * | 2000-05-22 | 2002-02-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring method and device using total reflection decay |
JP2002328087A (en) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring device utilizing total reflection attenuation, adjusting method therefor, and adjusting jig |
JP2002357544A (en) * | 2001-03-27 | 2002-12-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring apparatus |
JP2003222589A (en) * | 2002-01-31 | 2003-08-08 | Communication Research Laboratory | Dual-wavelength surface plasmon resonance spectroscopic device |
JP2003254906A (en) * | 2001-12-25 | 2003-09-10 | Fuji Photo Film Co Ltd | Sensor using evanescent wave |
JP2004239664A (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | Electrophoresis apparatus |
JP2005516216A (en) * | 2002-01-28 | 2005-06-02 | エス アール ユー バイオシステムス,エル エル シー | Label-free high-throughput optical technique for detection of biomolecular interactions |
JP2006047000A (en) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring device for sample analysis, and measuring method |
JP2006112808A (en) * | 2004-10-12 | 2006-04-27 | Fujikura Ltd | Surface plasmon sensor |
JP2006317349A (en) * | 2005-05-13 | 2006-11-24 | Fujikura Ltd | Optical sensing system |
JP2007501393A (en) * | 2003-08-01 | 2007-01-25 | ビアコア エービー | Optical resonance analysis unit |
US7187444B2 (en) | 2001-11-12 | 2007-03-06 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Measuring method and apparatus using attenuation in total internal reflection |
WO2011155179A1 (en) * | 2010-06-10 | 2011-12-15 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | Analysis element chip |
JP2013539045A (en) * | 2010-10-07 | 2013-10-17 | アシスタンス パブリック−ホピトー デ パリ | Irradiation chamber for Raman spectroscopy |
JP2014528088A (en) * | 2011-09-28 | 2014-10-23 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・アクチボラグ | Surface plasmon resonance biosensor system |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013211814A1 (en) * | 2013-06-21 | 2014-12-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Attenuated Total Reflection Imaging (ATR) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0217431A (en) * | 1988-05-10 | 1990-01-22 | Amersham Internatl Plc | Surface plasmon resonance sensor |
JPH0244230A (en) * | 1988-06-06 | 1990-02-14 | Amersham Internatl Plc | Biosensor |
JPH0510878A (en) * | 1991-07-03 | 1993-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | Gas detector |
JPH05504626A (en) * | 1990-03-02 | 1993-07-15 | ファイソンズ ピーエルシー | Sample cell used for chemical or biochemical tests |
JPH05288672A (en) * | 1992-04-06 | 1993-11-02 | Nippon Laser Denshi Kk | Differential-motion detecting method of material to be sensed |
JPH06167443A (en) * | 1992-10-23 | 1994-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | Measuring apparatus utilizing surface plasmon resonance |
JPH07209202A (en) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Canon Inc | Surface state inspection equipment, exposure apparatus employing it, and production of device using the exposure apparatus |
-
1997
- 1997-09-29 JP JP26408797A patent/JP3399804B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0217431A (en) * | 1988-05-10 | 1990-01-22 | Amersham Internatl Plc | Surface plasmon resonance sensor |
JPH0244230A (en) * | 1988-06-06 | 1990-02-14 | Amersham Internatl Plc | Biosensor |
JPH05504626A (en) * | 1990-03-02 | 1993-07-15 | ファイソンズ ピーエルシー | Sample cell used for chemical or biochemical tests |
JPH0510878A (en) * | 1991-07-03 | 1993-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | Gas detector |
JPH05288672A (en) * | 1992-04-06 | 1993-11-02 | Nippon Laser Denshi Kk | Differential-motion detecting method of material to be sensed |
JPH06167443A (en) * | 1992-10-23 | 1994-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | Measuring apparatus utilizing surface plasmon resonance |
JPH07209202A (en) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Canon Inc | Surface state inspection equipment, exposure apparatus employing it, and production of device using the exposure apparatus |
Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001069207A1 (en) * | 2000-03-16 | 2001-09-20 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Measuring method and instrument utilizing total reflection attenuation |
US6864984B2 (en) | 2000-03-16 | 2005-03-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Measuring method and apparatus using attenuation in total reflection |
JP2001330560A (en) * | 2000-03-16 | 2001-11-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring method using total reflection attenuation and its device |
JP2002048707A (en) * | 2000-05-22 | 2002-02-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring method and device using total reflection decay |
JP2002357544A (en) * | 2001-03-27 | 2002-12-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring apparatus |
JP2002328087A (en) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring device utilizing total reflection attenuation, adjusting method therefor, and adjusting jig |
US7187444B2 (en) | 2001-11-12 | 2007-03-06 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Measuring method and apparatus using attenuation in total internal reflection |
JP2003254906A (en) * | 2001-12-25 | 2003-09-10 | Fuji Photo Film Co Ltd | Sensor using evanescent wave |
JP2005516216A (en) * | 2002-01-28 | 2005-06-02 | エス アール ユー バイオシステムス,エル エル シー | Label-free high-throughput optical technique for detection of biomolecular interactions |
JP2003222589A (en) * | 2002-01-31 | 2003-08-08 | Communication Research Laboratory | Dual-wavelength surface plasmon resonance spectroscopic device |
JP2004239664A (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | Electrophoresis apparatus |
JP4840593B2 (en) * | 2003-08-01 | 2011-12-21 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・アクチボラグ | Optical resonance analysis unit |
JP2007501393A (en) * | 2003-08-01 | 2007-01-25 | ビアコア エービー | Optical resonance analysis unit |
JP2006047000A (en) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring device for sample analysis, and measuring method |
JP4505279B2 (en) * | 2004-08-02 | 2010-07-21 | 富士フイルム株式会社 | Measuring apparatus and method for sample analysis |
US7812955B2 (en) | 2004-08-02 | 2010-10-12 | Fujifilm Corporation | Sample analysis apparatus and analysis method |
JP2006112808A (en) * | 2004-10-12 | 2006-04-27 | Fujikura Ltd | Surface plasmon sensor |
JP2006317349A (en) * | 2005-05-13 | 2006-11-24 | Fujikura Ltd | Optical sensing system |
JP4679962B2 (en) * | 2005-05-13 | 2011-05-11 | 株式会社フジクラ | Optical sensing system |
WO2011155179A1 (en) * | 2010-06-10 | 2011-12-15 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | Analysis element chip |
JPWO2011155179A1 (en) * | 2010-06-10 | 2013-08-01 | コニカミノルタ株式会社 | Analysis element chip |
JP2013539045A (en) * | 2010-10-07 | 2013-10-17 | アシスタンス パブリック−ホピトー デ パリ | Irradiation chamber for Raman spectroscopy |
JP2014528088A (en) * | 2011-09-28 | 2014-10-23 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・アクチボラグ | Surface plasmon resonance biosensor system |
US10768108B2 (en) | 2011-09-28 | 2020-09-08 | Ge Healthcare Bio-Sciences Ab | Surface plasmon resonance biosensor system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3399804B2 (en) | 2003-04-21 |
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|
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