JPH11503865A - 光子パルス検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 検出するための光子パルスを電子流に変換するためのパルス変換器が、ガス状媒体を含むストリークカメラ。遠赤外光領域における光子パルスのためのストリークカメラは、ガス状媒体内の粒子をリュードベリ状態にするためのレーザー光源を備える。Ｘ線パルスのためのストリークカメラにおいて、ガス状媒体はオージェ状態にするための粒子を含むとともに、さらに一次電子流を二次電子流から分離するための偏向プレートを付加的に備える。

Description

【発明の詳細な説明】 光子パルス検出装置 本発明は、たとえばストリークカメラ(streak camera)のような、時間の関数 として光子パルスを検出するための装置に関する。この装置は、検出するための 光子パルスを電子流に変換するためのパルス変換器と、時間の関数として電子流 を偏向するための第１の偏向手段と、電子流の偏向を検出するための位置感知検 出器とを含む。 本発明に関する従来技術は、R．Yen，P.M．Downey，C.V．Shank and D.H．Aus ton "Appl．Phys．Lett." Vol.44，No.8，(1984)，pp．718-720 の論文発表によ って知られている。この論文にはストリークカメラが記述されており、そのスト リークカメラのストリークチューブ（イメージコンバータ管）は、光電陰極と、 マイクロチャネルを備えたコリメータープレートと、偏向プレートと、けい光面 (phosphor screen)とを有する。このストリークチューブの出力イメージを光フ ァイバーの縮小束を介してイメージ増幅器に結合し、イメージ増幅器の出力をフ ァイバ光学素子を使ってシリコンイメージ増幅器に結合する。また、シリコンイ メージ増幅器の出力信号を光学的多チャネル解析器（ＯＭＡ）のスクリーン上に 表示する。 光電陰極に投じる光子パルスは、偏向プレートによって偏向された電子ビーム を生成する。偏向プレートには光子パルスの入射に同期して素早く増大する電圧 を印加する。偏向された光子パルスは蛍光体スクリーンを叩き、その蛍光体スク リーンの上に時間とともに推移する線分を表示する。線分の強度は入射光子パル スの強度に対応する。このイメージはさらに関係するファイバ光学素子、イメー ジ増幅器、そしてＯＭＡによって処理される。その後、入射光子パルスの強度の イメージが時間の関数として最終的に得られる。 公知のストリークカメラには、パルス強度を表示できる光子の波長領域がスペ クトラムの長波側、つまり約１．５μｍの波長（赤外）に制限されるという欠点 が存在する。一方、Ｘ線領域（すなわち非常に短い波長を有するスペクトラム領 域）における光子は非単色的パルスの多くの実例において現れる。こうした例で は上記タイプの装置を使用しても先鋭なイメージを作り出すことができない。 本発明の目的は、可視光より短い波長または赤外光より長い波長を有する光子 パルスを、時間の関数として検出し、こうした光子パルスの先鋭なイメージを作 り出すための装置を提供することにある。 この目的は冒頭に述べたような装置を使えば遂行することができる。ここで本 発明による装置におけるパルス変換器は、検出すべき光子パルスを吸収し、電子 流を放出するためのガス状媒体を含む。 パルス変換器がガス状媒体を含む本発明の装置において、検出すべき光子パル スのスペクトラム領域は可視光および赤外光に限定されず、このスペクトラム領 域は必要に応じて、遠赤外光のスペクトラム領域またはＸ線放射の波長領域にま で拡張することができる。 遠赤外光領域における光子パルスを検出するための本発明による装置の一つの 好ましい実施形態において、この装置は励起された電子状態に粒子を置くための 励起手段を備える。また、ガス状媒体は、この励起状態で光子パルスを吸収し、 電子流を放出させるために、この励起状態にさせるための粒子を含む。 励起された電子状態はたとえばリュードベリ(Rydberg)状態である。 パルス変換器は、たとえば原子などの粒子をたとえばリュードベリ状態などの 励起状態にすることによって、（遠）赤外光、すなわち低エネルギー光子パルス を電子流に変換する。リュードベリ状態にある原子（リュードベリ原子と以下呼 ぶ。）は、高い主量子数ｎ、従って比較的に低い結合エネルギーＥ（Ｅ＝−１３ ． ６／ｎ²ｅＶ）を有する。結果として、遠赤外光子の比較的低いエネルギーは、 リュードベリ状態にある原子を光イオン化し、原子に弱く結合された電子を自由 にするには十分である。さらに、光イオン化に対する活性断面積はリュードベリ 原子を有するガスにとっては高いため、この過程においては比較的ほとんど光子 が必要とされない。 励起状態にされる粒子を含むガス状媒体は、たとえばガス供給ラインを介して 装置に収容される。 ある一つの実施形態において本発明の装置は、励起電子状態にされる粒子をガ ス状態にするための蒸発オーブンを含む。 本発明の装置において使用されるのに適当な、励起電子状態にするための原子 は、たとえばアルカリ原子、特にＲｂ（ルビジウム）またはＣｓ（セシウム）原 子である。 これらの原子は、たとえばレーザー光源を使用して励起させることによって、 励起電子状態にされる。 本発明の装置において使用されるレーザー光源は、たとえば、Ｎｄ：ＹＡＧ（ ネオジウム：イットリウム−アルミニウムガーネット）レーザーによって励起さ れたダイレーザー（色素レーザー）である。Ｎｄ：ＹＡＧレーザーの第二高調波 光は、特にこうした装置におけるダイレーザーを励起させるには適当である。 他の実施形態において、本発明による装置はダイオードレーザーを備える。 本発明はさらに赤外光領域の光子パルスを時間の関数として検出するための装 置を提供する。この装置は、検出するための光子パルスを電子流に変換するため のパルス変換器と、この電子流を検出するための検出器とを含む。またこの装置 は、粒子を励起電子状態にするための励起手段を備える。ここでパルス変換器は 、光子パルスを吸収し、そして電子流を放出するために、この電子励起状態にさ せるための粒子を有するガス状媒体を含む。 こうした装置は、たとえば１ｎｓ（ナノ秒）（＝１ＧＨｚ）の時間解像度によ って、時間的プロフィール、特に赤外光領域（波長λが約１．１μｍより大きい 領域）におけるパルス長（最大値の半分に等しい値における全幅であり、ＦＷＨ Ｍで示す。）を測定するには特に適当である。 Ｘ線領域の光子パルスを検出するための本発明装置のもう一つの実施形態では 、光子パルスを吸収し、所定の一次電子エネルギーで一次電子流を放出し、オー ジェ状態において、その所定の一次電子エネルギーとは異る所定の二次電子エネ ルギーで二次電子流を放出するために、ガス状媒体がオージェ状態にさせるため の粒子を含む。さらに、一次および二次電子流を第一の偏向手段の方向とは異な る方向に偏向させる第二の偏向手段が提供され、一次電子流を二次電子流から分 離し、実質的にただ二次電子流の偏向だけが位置感知検出器によって決定される 。 前記装置内に検出するためのＸ線パルスが入射する際、内殻電子は粒子、特に 原子、から遊離され、一方では所定の一次エネルギーを有する一次電子流が発生 する結果となり、他方ではいまやオージェ状態にある原子の問題となる内部殻に ホールが生成する。このホールは外殻電子が輻射なしに遷移することによって埋 められる。後者の遷移において遊離エネルギーは第二の外殻電子によって吸収さ れる。この第二の電子は遊離され、すでに言及した一次電子流のエネルギーとは 原則的に異る所定の二次エネルギーを有する二次電子流を発生する結果となる。 一次電子のエネルギーが二次電子のエネルギーと原則的に異ることから、一次電 子および二次電子が第二の偏向手段を受ける時間もまた異り、これにより一次電 子が位置感知検出器に到達することがないように一次的電子を偏向し、そして、 二次的電子が該位置感知検出器に到達するように二次電子を偏向することが可能 である。たまたま一次電子のエネルギーが二次電子のエネルギーと一致する場合 にのみ、一次および二次電子が同一の角度で偏向されることがある。しかしなが ら、検出するためのＸ線パルスの波長とオージェ原子のスペクトラムの知識を使 えば、異なる適当なオージェ原子を選ぶという単純な仕方によって、こうした状 況を実際には防ぐことができる。 Ｘ線パルスを検出するための本発明の装置において、第二の偏向手段を、一次 および二次電子流を第１の偏向方向とは実質的に垂直の方向に偏向するように備 えることが好ましい。こうした装置において、入射Ｘ線パルスの強度に対応する 二次電子流は位置感知検出器上に時間の関数として決まった方向に線分として表 示される。二次電子流の強度はＸ線パルスの強度に対する物差しである。一方、 一次電子流は前記線分の方向とは垂直の方向に、かつ、前記位置感知検出器の感 知領域の外側に偏向される。たとえば、一次電子の経路にあるスリットはこれら の電子をほぼ遮蔽する。つまり、一次電子は前記位置感知検出器に到達すること が妨げられる。入射Ｘ線パルスが単色的ではないが多数の波長を持つ（このＸ線 に対しては通常それぞれの波長に対応するエネルギーが与えられる。）とき、原 子から放出された一次電子はＸ線パルスに存在する波長の数と同数の異なるエネ ルギーを有する。一方、二次電子は単一エネルギーを持つ。非単一エネルギー的 である一次電子流は位置感知検出器の外側に偏向させられる。一方、単一エネル ギー的である二次電子流は、位置感知検出器上に入射Ｘ線パルスの強度の先鋭な イメージを時間の関数として生成する。このイメージは、入射Ｘ線パルスのエネ ルギー分布の結果として、拡がったり、さもなければ質的に劣化することもない 。 ガス媒体は、原則的に、たとえばＮｅ（ネオン）のように、適当な光子パルス によってオージェ状態になることができる任意の原子を含む。 本発明の遠赤外光領域ストリークカメラを使って、たとえば、最大約１００μ ｍまでの波長λを有する光子パルスを、非常に高い解像度（約１０^-12秒）での 時間の関数として検出することができる。このため、こうしたストリークカメラ は、たとえば、超高速レーザーのパルス形状およびパルス長、レーザーによって 加熱されたプラズマおよび核分裂燃料タブレットからの光放出を時間の関数とし て測定すること、溶剤における吸収現象、生物学的な標本におけるピコ秒（一兆 分の一秒）的な蛍光発光減衰、時間に依存する医学画像信号および通信ファイバ における光学的パルスの分散の測定にとって特に適当なものである。 本発明の入射光子パルスを検出するためのストリークカメラは、これらのパル スが単色的でないときに特に有用である。 本発明のいくつかの実施形態は以下の図面に基づいて記述される。 図１は本発明による第１の実施形態の概略図である。 図２は本発明による第２の実施形態の概略図である。 図３は本発明による第３の実施形態の概略図である。 図４は本発明による第４の実施形態の概略図である。 図１は、赤外光領域にある光子パルスを検出するためのストリークカメラ１を 示している。ストリークカメラ１はストリークチューブ２を有し、ストリークチ ューブ２は、カソードプレート３（その接続および供給源は図示省略）と、コリ メータープレート４と、コリメータースリット５と、ターミナル７を持つ偏向プ レート６と、チャネルプレート８と、けい光面９と、オーブン１０と、窓１１、 １２とを含む。ストリークカメラ１は、さらに、コンピュータ１３に接続された ＣＣＤカメラ１４と、ダイオードレーザー１５を含む。偏向プレート６を、高電 圧供給源１８によってＧａＡｓ光スイッチを介して帯電できるコンデンサ１６に 並列に接続する。ストリークカメラ１が動作しているとき、矢印１９の方向から 窓１２を経由して入射した光子パルス２０（遠赤外光パルス）はガス２１によっ て吸収される。ガス２１は、ダイオードレーザー１５から発せられた、窓１１を 経由したレーザー光（矢印２２によって表示）によって励起され、リュードベリ 状態にある。リュードベリガス２１は、コリメータープレート４から相対的に− ５ｋＶ（キロボルト）にあるカソードプレート３によって、図示された座標系２ ３のｚ軸方向に加速された光電子を放出する。コリメータースリット５を経由し て加速された光電子は、高電圧供給源１８およびコンデンサ１６を使用して急速 に増大する電圧がターミナル７を介して印加される偏向プレート６の間を移動す る。偏向プレート６上の偏向電圧は、光子パルス２０から得られるとともにそれ と同期して伝搬する光パルス２５によって励起される（矢印２４で表示）ＧａＡ ｓ光スイッチを使用して切り替えられる。電子流（点線２６で表示）はこうして 矢印２７の方向に時間の関数として偏向され、チャネルプレート８によって１０⁷ 倍に増幅され、けい光面９にぶつかる。蛍光体スクリーン９において、電子は １０の増幅因子において光子に変換される。一般的に偏光プレート６上の電圧の 立ち上がり時間は、けい光面９上で単位時間当たりの大きな変位（一般的に０． ２ｍｍ／ｐｓ）を確保するため、約５Ｖ／ｐｓとなることにも注意する。このよ うにして、入射光子パルス２０の強度に対応する強度の線分が（曲線２８で概略 されるように）蛍光体スクリーン９上に表示される。このイメージはＣＣＤカメ ラ１４を使用して読み取られ、コンピュータ１３を使用して処理が行われる。Ｃ ＣＤカメラの感度は、単独の入射光電子に応じた信号を生成することができるほ ど十分に高いものである。図１から明らかなように、リュードベリ原子２１によ って放出された、カソード３の近くに位置する光電子は、カソード３からさらに 隔たったリュードベリ原子２１によって放出された光電子と比べて、偏向プレー ト６までのより長い経路をカバーしなければならない。しかし、カソード３まで の距離が短いためより長い経路をカバーしなければならない電子は、それよりも 短い距離をカバーしなければならない電子と比べて、高いエネルギーを持たなけ ればならないことから、後者の電子は前者の電子に追い越される。それゆえに、 正確に決定されるいわゆる時間焦点と呼ばれる、カバーされる経路に沿った点が 存在する。この時間焦点に、リュードベリガスによってある時点で放出されたす べての電子は同時に到着する。けい光面９上に良質の先鋭なイメージを形成する には、偏向プレート６をたとえばこの時間焦点の位置に配置する。 偏向プレート６はこの時間焦点のちょうど正面に配置されることが好ましい。 偏向プレート６をこの場所に配置すれば、高いエネルギーを持つ電子は低いエネ ルギーを持つ電子よりもやや遅くに偏向レート６の間に到達する。この遅延され た到着時点において、偏向プレート６の電圧は低いエネルギーを持つ電子の到着 時点よりも大きいため、高いエネルギーを持つ電子は低いエネルギーを持つ電子 よりも短い時間、偏向プレート６の間に残るものの、低いエネルギーを持つ電子 よりもより大きな偏向電圧を体験する。偏向プレートの間での滞在時間と偏向プ レート６上の偏向電圧の組み合わせを適当に選択することによって、入射光子パ ルス２０によってパルス変換器の中で同時に生成されたすべての電子は偏向プレ ート６によって同一の角度で偏向される。その結果、けい光面上のイメージの先 鋭さが最適化される。 図２は、Ｘ線領域にある光子パルスを検出するためのストリークカメラ３１を 示している。図１のストリークカメラに対応する部分には同一符号を付し、これ らについては再び説明しない。このストリークカメラ３１は、オージェ原子３５ から放出される一次および二次電子流をＸ軸方向に偏向させるための偏向プレー ト３２が存在する点で、図１のストリークカメラ１とは異る。偏向プレート３２ をターミナル（図示省略）を介して直流電源（図示省略）に接続する。一次およ び二次電子流のエネルギーは異るので、偏向プレート３２間での滞在時間も一次 および二次電子流では異なる。偏向電圧および、ストリークカメラ３１の構成要 素の位置づけおよび配置は、時間の関数としてのｙ軸方向（矢印２７）への偏向 の後、二次電子流がチャネルプレート８によって１０⁷倍に増幅され、けい光面 ９をヒットするように選択される。一方、一次電子流（点線３３で表示）は、そ れがけい光面９をヒットしないように、ｘ軸方向（矢印３４）に偏向される。こ うしてけい光面９上に線分がｙ軸方向に表示され、この線分はまた偏向プレート ３２による電子の偏向の結果、ｘ軸方向にやや拡がりを見せる。しかし、この線 分（曲線２８で表示）の強度は入射光子パルス２０（この場合、Ｘ線）に対応し ている。 図３は波長λが約１．１μｍよりも長い波長領域にある光子パルスを検出する ための光子検出器５１を示している。図１のストリークカメラに対応する部分に は同一符号を付し、これらについては再び説明しない。この光子検出器５１は、 偏向プレートとけい光面が存在しないという点で、図１のストリークカメラ１と は異る。検出器５１において、レーザー１５を使って励起されたリュードベリ原 子２１を光イオン化することによって生成された電子（点線３６で表示）は、コ リメータースリット５を経由して直接、電子検出器に移動する。本例においてこ の電子検出器は一組のマイクロチャネルプレート８を備えるが、いわゆるチャネ ルトロンまたは他の適当な電子検出器を備えることもできる。電子検出器８は、 入射する電子数に比例した電流３７を生成する。この電流３７は、たとえばオシ ロスコープを使って、時間の関数として測定することも可能である。マイクロチ ャネルプレート８上でガスが凝縮することを防ぐには、マイクロチャネルプレー ト８を使用中に加熱することが好ましい。加えて、あるいは代替的な方法として 、コリメータースリット５を、たとえば２ｎｍの厚さを持つＡｌフォイルなどの 薄いフォイルで覆うことも可能である。このフォイルは、一方ではガス粒子２１ がスリット５を通過することを抑制するが、その一方で、電子を通し、または電 子検出器８に順に到達する二次電子を生成する。チャネルプレート８での電子３ ６の到着時間は光子パルス２０の時間依存の様子によって第一次近似で決定され る。チャンネルプレート８からコリメータースリット５までの距離がちょうどコ リメータースリット５からリュードベリガス２１の相互作用中心までの距離の２ 倍になるようにチャネルプレート８の位置が選択されたとき、この到達時間は時 間的に特に先鋭にフォーカスされる。レーザー１５とリュードベリガス２１は、 測定するための光子パルス２０の波長によって選択される。たとえば、波長λ＜ １６ ３５ｎｍにある光子パルス２０は、リュードベリ状態５ｐにあるＮａガスをイオ ン化する。Ｎａガスは、波長２８５ｎｍのレーザーによる励起によってリュード ベリ状態になることができる。波長λ＜３５μｍにある光子パルス２０は、たと えばリュードベリ状態２０ｆにあるＲｂガスをイオン化する。Ｒｂガスは、波長 ７８０ｎｍ、７７６ｎｍ、そして１２９９ｎｍのダイオードレーザーによる逐次 的な励起によって、それぞれ、リュードベリ状態５ｐ、５ｄ、そして２０ｆにな ることができる。 図４は、図３の光子検出器の代替となる形態７１を示している。この光子検出 器７１では、電子流３６を光子流３８に変換するけい光面９を使って、光電子３ ６が検出される。光子流３８は、可視領域のための光子検出器３９を使って、た とえば光子倍率器チューブまたはイメージ増倍装置などを使ってチューブ２の外 側で再び測定され、入射光子パルス２０に応じた信号３７が再び生成される。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ， ＤＫ，ＥＳ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，Ｍ Ｃ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ， ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，Ｕ Ｇ)，ＵＡ(ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＢ，ＢＧ ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ， ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ，ＨＵ，ＩＳ，ＪＰ，Ｋ Ｅ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ， ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，Ｓ Ｇ，ＳＩ，ＳＫ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ (72)発明者 ノールダム，ランベルトゥス・ドミニクス オランダ国、エヌエル−1097 ハーエス アムステルダム、マリーバーン 14 (72)発明者 ランクハイゼン，ヘラルドゥス・マルセリ ス オランダ国、エヌエル−1111 ベーベー ディーメン、ヨー．ファン・スースダイク ストラート 53

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．検出される光子パルスを電子流に変換するパルス変換器と、時間の関数 として上記電子流を偏向するための第一の偏向手段と、上記電子流の偏向を決定 する位置感知検出器とを含む、例えばストリークカメラなどのような光子パルス を時間の関数として検出するための装置であって、上記パルス変換器が、上記検 出するための光パルスを吸収して上記電子流を放出するために、ガス状媒体を含 むことを特徴とする光子パルス検出装置。 ２．上記光子パルスが遠赤外光領域にある光子パルス検出装置であって、該 光子パルス検出装置は粒子を励起電子状態にするための励起手段を備え、上記ガ ス状媒体が、上記光パルスを吸収して上記電子流を放出するために、上記励起電 子状態にするための粒子を含むことを特徴とする請求項１に記載の光子パルス検 出装置。 ３．検出するための光子パルスを電子流に変換するパルス変換器と、該電子 流を検出するための検出器とを含む、赤外光領域にある光子パルスを時間の関数 として検出するための装置であって、該装置が粒子を励起電子状態にするための 励起手段を備え、上記パルス変換器が、上記光パルスを吸収して上記電子流を放 出するために、上記励起電子状態にするための粒子を有するガス状媒体を含むこ とを特徴とする光子パルス検出装置。 ４．上記励起電子状態が、リュードベリ状態であることを特徴とする請求項 ２または３に記載の光子パルス検出装置。 ５．励起電子状態にするための粒子をガス状態にするための蒸発オーブンを 備えたことを特徴とする請求項２〜４のいずれかに記載の光子パルス検出装置。 ６．上記粒子が、アルカリ金属原子であることを特徴とする請求項２〜５の いずれかに記載の光子パルス検出装置。 ７．上記アルカリ金属原子が、Ｒｂ（ルビジウム）またはＣｓ（セシウム） のいずれか一つを含むことを特徴とする請求項６に記載の光子パルス検出装置。 ８．上記励起手段がレーザー光源を含むことを特徴とする請求項２〜７のい ずれかに記載の光子パルス検出装置。 ９．上記レーザー光源は、Ｎｄ：ＹＡＧ（ネオジウム：イットリウム−アル ミニウムガーネット）レーザーによってポンプされたダイレーザー（色素レーザ ー）であることを特徴とする請求項８に記載の光子パルス検出装置。 １０．上記レーザー光源が、ダイオードレーザーであることを特徴とする請求 項８に記載の光子パルス検出装置。 １１．上記光子パルスがＸ線パルスである光子パルス検出装置であって、上記 ガス状媒体が、上記光子パルスを吸収して所定の一次電子エネルギーを有する一 次電子流を放出し、オージェ状態で、該所定の一次電子エネルギーとは異る所定 の二次電子エネルギーを有する二次電子流を放出するために、オージェ状態にす るための粒子を含み、上記一次的電子流が上記二次的電子流から引き離され、実 質的に上記二次電子流の偏向だけが上記位置感知検出器によって決定されるよう に、上記第一の偏向手段による偏向方向とは異なる方向に上記一次および二次電 子流を偏向させるための第二の偏向手段を備えたことを特徴とする請求項１に記 載の光子パルス検出装置。 １２．上記第二の偏向手段が、上記第一の偏向手段による偏向方向とは実質的 に垂直の方向に上記一次および二次電子流を偏向させるように備えられたことを 特徴とする請求項１１に記載の光子パルス検出装置。 １３．オージェ状態で上記二次的電子流を放出するための粒子が、Ｎｅ（ネオ ン）原子であることを特徴とする請求項１１または１２に記載の光子パルス検出 装置。 １４．上記ガス状媒体から一定の時点で放出され、上記偏向手段によって偏向 するための上記電子が同時に到着する場所に、上記第一の偏向手段が存在するこ とを特徴とする請求項１または１１に記載の光子パルス検出装置。 １５．上記パルス変換器と、上記ガス状媒体から一定の時点で放出され、上記 偏向手段によって偏向するための上記電子が同時に到着する場所との間に、上記 第一の偏向手段が存在することを特徴とする請求項１または１１に記載の光子パ ルス検出装置。