JPH1137847A - Narrow-field thermistor bolometer - Google Patents

Narrow-field thermistor bolometer

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JPH1137847A
JPH1137847A JP19257897A JP19257897A JPH1137847A JP H1137847 A JPH1137847 A JP H1137847A JP 19257897 A JP19257897 A JP 19257897A JP 19257897 A JP19257897 A JP 19257897A JP H1137847 A JPH1137847 A JP H1137847A
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thermistor
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space
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Hirosuke Murai
裕輔 村井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to make a detection area a narrow field of sight to make the constitution simple and small-sized, and to generate an output canceling the thermal error component of a sensing element. SOLUTION: A sensing space and a reference space are formed in a package 1 independently, and sensing elements Rs and reference elements Rr having the same structure are put in to them. In the sensing space and opening 1b of a specified diameter is formed, and a sensing-side detecting element 2 of a specified diameter corresponding to this opening 1b and a circular correcting element 3 having an inside diameter larger than the diameter of the opening 1b are provided. These detecting and correcting elements 2 and 3 output signals of a photodetection level corresponding to the incidence of infrared rays. An outputting means is composed by bridge-connecting individual sensing and reference elements Rs, Rr, cancels the thermal error component of the sensing element Rs, output the difference between the output of the detecting element 2 of the sensing element and the output of the correcting element 3, and outputs a photodetection level in a narrow field-of-sight range.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、非接触で物体温度
を測定する放射温度計等に用いるサーミスタボロメータ
に係り、特に、検知エリアが狭視野で外乱をキャンセル
することができる狭視野サーミスタボロメータに関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermistor bolometer for use in a radiation thermometer or the like for measuring the temperature of an object in a non-contact manner, and more particularly to a narrow-field thermistor bolometer having a narrow detection field and a disturbance. .

【0002】[0002]

【従来の技術】温度によって電気抵抗が大きく変化する
サーミスタを赤外線を通す窓を設けたパッケージに封止
して構成し、入射した赤外線による温度上昇で抵抗値が
変化することに基づき赤外線量を計測でき、温度に変換
して出力することができるようになる。このようなサー
ミスタボロメータを用いた非接触の温度検出において
は、距離が離れるに従い視野が広くなるが、この温度検
出しようとする検知エリアを限定したい要望がある。こ
のように狭視野とすることでこの限定された検知エリア
内での物体温度の測定精度を向上させることができるよ
うになるとともに、物体周囲からの影響を低減化できる
ようになる。
2. Description of the Related Art A thermistor, whose electric resistance varies greatly with temperature, is sealed in a package provided with a window through which infrared rays pass, and the amount of infrared rays is measured based on a change in resistance due to a rise in temperature due to incident infrared rays. It can be converted to temperature and output. In non-contact temperature detection using such a thermistor bolometer, the field of view becomes wider as the distance increases, but there is a demand to limit the detection area in which the temperature is to be detected. The narrow field of view makes it possible to improve the accuracy of measuring the temperature of the object in the limited detection area and reduce the influence from the surroundings of the object.

【0003】また、サーミスタボロメータは、パッケー
ジ内部に検出用と補正用の同一なサーミスタを設け、検
出用側だけに赤外線が入射する構成として、補正用のサ
ーミスタで熱影響などによる温度ドリフト等の誤差成分
を除去する構成のものが汎用されている。
Further, the thermistor bolometer has a configuration in which the same thermistor for detection and correction is provided inside the package, and infrared rays are incident only on the detection side. Those that remove components are widely used.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来のサーミスタボロ
メータの検知エリアを狭視野とするためには、このセン
サのパッケージ外部にレンズ、ミラー等による集光光学
系や、しぼりが用いられており、全体構成が大型でかつ
高価になる問題があった。
In order to narrow the detection area of the conventional thermistor bolometer to a narrow field of view, a condensing optical system using a lens, a mirror, or the like, or an aperture is used outside the package of the sensor. There was a problem that the configuration was large and expensive.

【0005】また、センサ側からみた場合、レンズ、ミ
ラー、しぼりなどの構造物からの赤外線放射も受け取る
ことになり、誤差要素が多くなる。センサの受光部分と
構造物の温度が等しい場合は問題とならないが、例えば
このサーミスタボロメータを温かい室内から氷点下の冷
凍庫に持ち込んですぐに測定する場合など機器の温度変
化が激しい場合は、センサ受光部分と構造物の温度変化
に過渡的なずれが生じるため、これが誤差として出力に
現れる問題もある。
Also, when viewed from the sensor side, infrared radiation from a structure such as a lens, a mirror, or an aperture is also received, and the error factor increases. This is not a problem if the temperature of the light-receiving part of the sensor is equal to the temperature of the structure. There is also a problem that a transient shift occurs between the change in temperature and the temperature of the structure, and this appears as an error in the output.

【0006】また、この種、熱型センサに分類されるサ
ーミスタボロメータは、物体が放射している赤外線エネ
ルギーの受光量と、センサの受光部自身が放射している
エネルギーの差し引き分の赤外線エネルギーによって受
光部分が温度変化することで、物体と受光部自身の温度
差に基づき赤外線量(温度)を出力する構成となってい
る。このため、例えば室温付近(25℃)で体温などを
測定しようとした場合、これらの温度差が少ないため出
力が小さく、正確な温度出力を得にくくなる(温度出力
の分解能に相当)。したがって、より少ない入射エネル
ギーでも状態変化の大きい材料や受光部分の温度変化が
大きくなるよう小型化を図り十分な分解能が得られる構
成が望まれている。
[0006] Thermistor bolometers of this type, which are classified as thermal sensors, use the amount of infrared energy received by an object and the amount of infrared energy subtracted from the energy emitted by the light receiving section of the sensor itself. When the temperature of the light receiving portion changes, the amount of infrared rays (temperature) is output based on the temperature difference between the object and the light receiving portion itself. Therefore, for example, when an attempt is made to measure body temperature near room temperature (25 ° C.), the output is small due to the small temperature difference, making it difficult to obtain an accurate temperature output (corresponding to the resolution of the temperature output). Therefore, there is a demand for a configuration that can reduce the size so that the temperature change of the material and the light receiving portion that undergo a large change in state even with a smaller incident energy and that provides a sufficient resolution can be obtained.

【0007】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、検知エリアを狭視野にでき、これを簡
単かつ小型に構成できセンシングエレメントの熱的な誤
差成分をキャンセルして出力できる狭視野サーミスタボ
ロメータを提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and can provide a narrow detection field of view, a simple and small-sized detection area, and can cancel and output a thermal error component of a sensing element. It is intended to provide a narrow-field thermistor bolometer.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の狭視野サーミスタボロメータは、請求項1
記載のように、パッケージ内部にセンシングエレメント
と、該センシングエレメントと同一形状のリファレンス
エレメントを設けてセンシングエレメントの熱的な誤差
成分をキャンセルして出力するようにしたサーミスタボ
ロメータにおいて、赤外線を通す所定径の窓が開口形成
されたセンシング用空間と、該センシング用空間と同一
形状でかつ前記窓を有さず全域が密封されたリファレン
ス用空間とがそれぞれ独立して形成されたパッケージ
と、前記パッケージのセンシング用空間内部に設けら
れ、前記窓に対応した形状を有し該窓を介して入射した
赤外線による温度上昇で抵抗値が変化するサーミスタ膜
が形成され、入射角度が平行光のとき(α0)最も大き
な受光レベルを出力し、臨界角(α3)に至るまで入射
角度に対応する受光レベルを出力するセンシング側検出
用エレメント(Rsm)と、前記パッケージのセンシング
用空間内部に設けられ、前記センシング用検出用エレメ
ントと同面積で前記窓の開口径より大径な内径を有する
環状でサーミスタ膜が形成されており、入射角度が所定
角度範囲(α0<α<α3)の赤外線を検出するセンシ
ング側補正用エレメント(Rss)と、前記パッケージの
リファレンス用空間内部に設けられ、前記センシング側
検出用エレメントと同一の形状とされてサーミスタ膜が
形成されたリファレンス側検出用エレメント(Rrm)
と、前記パッケージのリファレンス用空間内部に設けら
れ、前記センシング側補正用エレメントと同一の形状と
されてサーミスタ膜が形成されたリファレンス側補正用
エレメント(Rrs)と、前記センシング側及びリファレ
ンス側の検出用エレメントと、前記センシング側及びリ
ファレンス側の補正用エレメントをブリッジ接続し、セ
ンシング側とリファレンス側で発生する熱的な誤差成分
をキャンセルするとともに、センシング側の検出用エレ
メントと補正用エレメントの出力の差分を出力する出力
手段と、を具備したことを特徴としている。
According to the present invention, there is provided a narrow-field thermistor bolometer according to the present invention.
As described, in a thermistor bolometer in which a sensing element and a reference element having the same shape as the sensing element are provided inside the package to cancel and output a thermal error component of the sensing element, a predetermined diameter through which infrared rays pass is provided. A package in which a sensing space in which a window is formed as an opening, a reference space having the same shape as the sensing space and having no window, and a sealed whole area, are formed independently of each other; A thermistor film which is provided inside the sensing space, has a shape corresponding to the window, and has a resistance value changed by a temperature rise due to infrared rays incident through the window, and the incident angle is parallel light (α0) Outputs the highest light receiving level and the light receiving level corresponding to the incident angle up to the critical angle (α3) A sensing side detecting element (Rsm) for outputting a sensing signal, and an annular thermistor provided inside the sensing space of the package, having the same area as the sensing detecting element and having an inner diameter larger than the opening diameter of the window. A sensing side correction element (Rss) for detecting infrared rays having an incident angle in a predetermined angle range (α0 <α <α3), and a sensing side correction element (Rss) provided inside the reference space of the package; Reference side detection element (Rrm) with the thermistor film formed in the same shape as the reference element
A reference-side correction element (Rrs) provided inside the reference space of the package and having the same shape as the sensing-side correction element and formed with a thermistor film; and detecting the sensing side and the reference side. Element and the correction element on the sensing side and the reference side are bridge-connected to cancel the thermal error component generated on the sensing side and the reference side, and the output of the detection element and the correction element on the sensing side is corrected. Output means for outputting the difference.

【0009】また、請求項2記載のように、前記検出用
エレメントと補正用エレメントのサーミスタ膜は、単一
の基板の表裏にそれぞれ位置合わせして同様のものがそ
れぞれ形成された後に該サーミスタ膜部分の基板をエッ
チング処理で除去されることにより、互いが基板の厚さ
分の間隔で微小な架橋構造としてもよい。
According to a second aspect of the present invention, the thermistor films of the detection element and the correction element are aligned on the front and back of a single substrate, and the same thermistor films are formed after the same ones are formed. By removing a part of the substrate by the etching process, a minute cross-linked structure may be formed at an interval corresponding to the thickness of the substrate.

【0010】センシング側の検出用エレメント2(Rs
m)は,パッケージ1の開口部1bを介して検出対象か
らの赤外光を検出して対応する受光レベルの信号を出力
し、入射光が平行光α0のとき最も高い受光レベルの信
号を出力する。センシング側の補正用エレメント3(R
ss)は、入射光が平行光(α0)以外で臨界角α3に至
るまでの間の赤外光を検出する。パッケージ1内部に
は、上記センシング側の検出用エレメント2と補正用エ
レメント3の他に、同一構成とされたリファレンス側の
検出用エレメント2(Rrm)と補正用エレメント3(R
rs)が設けられ、このリファレンス側の両エレメントに
は開口部が形成されずパッケージ1内部で密封される。
出力手段7は、センシング側とリファレンス側の両エレ
メントをブリッジ接続してセンシング側とリファレンス
側の熱特性による誤差成分がキャンセルでき温度ドリフ
トの特性を良好にできる。そして、センシング側におけ
る検出用エレメント2の出力から補正用エレメント3の
出力の差分を出力するだけで、入射光が狭視野な角度に
対応した出力のみを得ることができる。
The sensing element 2 (Rs
m) detects infrared light from an object to be detected through the opening 1b of the package 1 and outputs a signal of a corresponding light receiving level, and outputs a signal of the highest light receiving level when the incident light is parallel light α0. I do. Correction element 3 (R
ss) detects infrared light while the incident light reaches a critical angle α3 other than the parallel light (α0). Inside the package 1, in addition to the sensing side detection element 2 and the correction element 3 on the sensing side, the reference side detection element 2 (Rrm) and the correction element 3 (R
rs) are provided, and the two elements on the reference side are hermetically sealed inside the package 1 without opening.
The output means 7 bridges both elements on the sensing side and the reference side to cancel an error component due to thermal characteristics on the sensing side and the reference side, thereby improving the temperature drift characteristics. Then, only by outputting the difference between the output of the detection element 2 and the output of the correction element 3 on the sensing side, it is possible to obtain only the output corresponding to the angle at which the incident light has a narrow field of view.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の狭視野サーミス
タボロメータの構成を示す側断面図である。パッケージ
1内部は気密され必要に応じて内部が真空あるいはガス
で封止される。このパッケージ1内部には、同一構成の
センシングエレメントRsと、リファレンスエレメント
Rrが収容されている。これらセンシングエレメントR
sとリファレンスエレメントRrは、それぞれ検出用エ
レメント2(Rsm,Rrm)と、補正用エレメント3(R
ss,Rrs)で構成されている。センシングエレメントR
s側のパッケージ1上面1aには、開口部1bが開口径
L1で円形に開口形成され、この開口部1bには窓4が
設けられている。窓4には、赤外光の表面反射防止処
理、あるいは所定波長(赤外光)のみ透過させるフィル
タ処理が施されたものが用いられる。
FIG. 1 is a side sectional view showing a configuration of a narrow-field thermistor bolometer according to the present invention. The inside of the package 1 is airtight and the inside is sealed with a vacuum or gas as required. Inside the package 1, a sensing element Rs and a reference element Rr having the same configuration are accommodated. These sensing elements R
s and the reference element Rr are the detection element 2 (Rsm, Rrm) and the correction element 3 (R
ss, Rrs). Sensing element R
An opening 1b is formed in a circular shape with an opening diameter L1 on the upper surface 1a of the package 1 on the s side, and a window 4 is provided in the opening 1b. The window 4 used is one that has been subjected to a surface reflection prevention treatment for infrared light or a filter treatment for transmitting only a predetermined wavelength (infrared light).

【0012】センシングエレメントRs側の一方の検出
用エレメント2(Rsm)について説明すると、この検出
用エレメント2は、前記開口部1bの開口径L1程度の
外径L2を有する円形に形成される。この検出用エレメ
ント2は、パッケージ1を構成する単結晶シリコンなど
のウェハーを用いた基板表面に所定のサーミスタ膜2a
が形成されてなる。この検出用エレメント2に入射した
赤外線エネルギー量と自己輻射によって放出された赤外
線エネルギーの差を反映した温度変化により抵抗値が変
化するサーミスタボロメータとなる。
The detection element 2 (Rsm) on the sensing element Rs side will be described. The detection element 2 is formed in a circular shape having an outer diameter L2 about the opening diameter L1 of the opening 1b. The detection element 2 is provided with a predetermined thermistor film 2 a on the surface of a substrate using a wafer such as a single crystal silicon constituting the package 1.
Is formed. The thermistor bolometer changes its resistance value by a temperature change reflecting the difference between the amount of infrared energy incident on the detection element 2 and the infrared energy emitted by self-radiation.

【0013】この検出用エレメント2は、外縁から4方
に十分細い梁部2bによってパッケージ1に支えられて
いる。ここで、検出用エレメント2は、パッケージ1の
開口部1bの同軸位置上で所定距離H1離れて配置され
ている。
The detecting element 2 is supported on the package 1 by a beam 2b which is sufficiently narrow in four directions from the outer edge. Here, the detection element 2 is disposed at a predetermined distance H1 on the coaxial position of the opening 1b of the package 1.

【0014】開口部1bの同軸上で所定距離H2(H1
<H2)離れた箇所には補正用エレメント3(Rss)が
配置されている。ここで、検出用エレメント2と補正用
エレメント3は所定距離H3(H2−H1)だけ離れて
いる。この補正用エレメント3は、検出用エレメント2
と同様の製法により基板上にサーミスタ膜3aを形成し
てなる。補正用エレメント3は、パッケージ1の開口部
1bの開口径L1以上の内径L3で、所定径の外径L4
を有する環状に形成されていて、検出用エレメント2の
面積と等しい面積を有している。
A predetermined distance H2 (H1) is coaxial with the opening 1b.
<H2) A correction element 3 (Rss) is disposed at a distance. Here, the detecting element 2 and the correcting element 3 are separated by a predetermined distance H3 (H2-H1). The correction element 3 is a detection element 2
A thermistor film 3a is formed on a substrate by the same manufacturing method as described above. The correction element 3 has an inner diameter L3 equal to or larger than the opening diameter L1 of the opening 1b of the package 1 and an outer diameter L4 having a predetermined diameter.
And has an area equal to the area of the detection element 2.

【0015】この補正用エレメント3は、外縁から4方
に十分細い梁部3bによってパッケージ1に支えられて
いる。尚、検出用エレメント2,補正用エレメント3
は、3方の梁部2b,3bで支えられる構成とすること
もできる。
The correction element 3 is supported on the package 1 by a beam 3b which is sufficiently narrow in four directions from the outer edge. The detecting element 2 and the correcting element 3
May be supported by three beam portions 2b and 3b.

【0016】ここで、検出用エレメント2と、補正用エ
レメント3の形状の有効範囲を記載しておく。 補正用エレメント3の内径L3>パッケージ1の開口
部1bの開口径L1であること。 入射光が臨界角(後述する図7のα3)のとき、開口
部1bの縁と、検出用エレメント2の外径縁と、補正用
エレメント3の外径縁とが、それぞれ斜めに入射される
入射光線の同一線上に位置すること。 検出用エレメント2と補正用エレメント3の面積が同
一であること。
Here, the effective ranges of the shapes of the detection element 2 and the correction element 3 will be described. The inner diameter L3 of the correction element 3> the opening diameter L1 of the opening 1b of the package 1. When the incident light has a critical angle (α3 in FIG. 7 described later), the edge of the opening 1b, the outer diameter edge of the detection element 2, and the outer diameter edge of the correction element 3 are each obliquely incident. Must be collinear with the incident light. The areas of the detection element 2 and the correction element 3 are the same.

【0017】また、リファレンスエレメントRr側の検
出用エレメント2(Rrm)と、補正用エレメント3(R
rs)は、上記センシングエレメントRs側と同様に構成
されているが、このリファレンスエレメントRr側は、
隔壁1cによりパッケージ1内部に密封された構成であ
り、このリファレンスエレメントRr側には開口部1b
は形成されておらず、外部光は遮断されている。これに
より、センシングエレメントRs及びリファレンスエレ
メントRrを、いずれも同一パッケージ1内に収容する
ことにより、これらセンシングエレメントRsとリファ
レンスエレメントRrでは、いずれも同一構成(同一の
材質、製法、面積で形成されており両エレメントのノイ
ズ成分や温度変化の時間軸成分はほぼ同等と見做すこと
ができる)であるため、同様の熱特性(エレメントから
梁部を経由した熱伝導特性、エレメント内の熱伝導特
性、エレメントから周囲雰囲気への熱伝導特性、エレメ
ントと周囲構造物(パッケージ等)との放射熱収支等の
各熱特性が同一)となり、両者の熱的な誤差成分は同様
に生じる。
The detection element 2 (Rrm) on the reference element Rr side and the correction element 3 (Rrm)
rs) is configured in the same manner as the sensing element Rs, but the reference element Rr is
The package 1 is sealed inside the package 1 by a partition 1c, and an opening 1b is provided on the side of the reference element Rr.
Are not formed, and external light is blocked. As a result, both the sensing element Rs and the reference element Rr are housed in the same package 1 so that the sensing element Rs and the reference element Rr have the same configuration (the same material, manufacturing method, and area). Since the noise component and the time axis component of the temperature change of both elements can be considered to be almost the same, the same thermal characteristics (thermal conduction characteristics via the beam from the element, thermal conduction characteristics in the element) And the thermal characteristics such as heat conduction from the element to the surrounding atmosphere and the radiant heat balance between the element and the surrounding structure (package or the like) are the same.

【0018】図2は、センシングエレメントRs及びリ
ファレンスエレメントRrで用いられる検出用エレメン
ト2、及び補正用エレメント3を示す平面図である。各
エレメント2,3のサーミスタ膜2a,3aは、例えば
図示のようにそれぞれ交差する櫛歯状に形成されてな
る。これらサーミスタ膜2a,3aは、両端にそれぞれ
リードパターン2c,3cが延出形成され、それぞれ梁
部2b,3b上を通過しワイヤボンドを介してパッケー
ジ1外部に導出されている。同図には、補正用エレメン
ト3の内径L3がパッケージ1の開口部1bの開口径L
1及び検出用エレメント2の外径L2より大径に構成し
たものが記載されている。
FIG. 2 is a plan view showing the detecting element 2 and the correcting element 3 used in the sensing element Rs and the reference element Rr. The thermistor films 2a and 3a of the respective elements 2 and 3 are formed in, for example, intersecting comb-teeth shapes as shown in the figure. These thermistor films 2a, 3a have lead patterns 2c, 3c extending at both ends, respectively, and are respectively passed over the beam portions 2b, 3b and led out of the package 1 via wire bonds. In the figure, the inner diameter L3 of the correction element 3 is equal to the opening diameter L of the opening 1b of the package 1.
1 and those having a larger diameter than the outer diameter L2 of the detecting element 2 are described.

【0019】図3は、センシングエレメントRsと、リ
ファレンスエレメントRrの結線状態を示す図である。
同図(a)には各エレメント構造が斜視図で示され、同
図(b)には電気的接続の回路構成が示されている。セ
ンシングエレメントRsの検出用エレメント2(Rsm)
のリードパターン2c一端と、リファレンスエレメント
Rrの検出用エレメント2(Rrm)のリードパターン2
c一端は互いに連結接続され、それぞれの検出用エレメ
ント2(Rsm,Rrm)のリードパターン2c他端は、端
子5a,5bにてパッケージ1外部に導出されるととも
に、それぞれ補正用エレメント3(Rss,Rrs)の一端
に連結接続されている。補正用エレメント3(Rss,R
rs)の他端は互いに連結接続され、パッケージ1にアー
ス接続される。
FIG. 3 is a diagram showing a connection state between the sensing element Rs and the reference element Rr.
FIG. 1A is a perspective view showing the structure of each element, and FIG. 1B is a diagram showing a circuit configuration of electrical connection. Sensing element Rs detection element 2 (Rsm)
One end of the lead pattern 2c and the lead pattern 2 of the detection element 2 (Rrm) of the reference element Rr.
The other end of the lead pattern 2c of each detecting element 2 (Rsm, Rrm) is led out of the package 1 at terminals 5a and 5b, and the correcting element 3 (Rss, Rrs). Correction element 3 (Rss, R
The other ends of rs) are connected to each other and grounded to the package 1.

【0020】同図(b)に示すように、上記結線により
各エレメントはブリッジ回路7aを構成し、パッケージ
1外部の減算手段7bに接続されており、これらによっ
て出力手段7が構成されている。ブリッジ回路7aから
は、検出用エレメント2の受光レベルV1、補正用エレ
メント3の受光レベルV2をそれぞれ出力する。ここ
で、センシングエレメントRsと、リファレンスエレメ
ントRrはブリッジ接続のため、これら両エレメントが
有する熱特性は同一であるので、熱的な誤差成分をキャ
ンセルすることができ、温度ドリフトの特性を良好にで
きる。そして、出力V1,V2はセンシングエレメント
Rsに入射した赤外線に基づく受光レベルだけを示すこ
ととなる。減算手段7bには、これら検出用エレメント
2の受光レベルV1と、補正用エレメント3の受光レベ
ルV2とが入力され、両者の差分(V1−V2)を出力
端子Vout から出力する。この減算手段7bは、コンパ
レータを用いたり、CPUと減算処理ソフトウェアを用
いる等して構成できる。
As shown in FIG. 2B, each element constitutes a bridge circuit 7a by the above-mentioned connection, and is connected to a subtraction means 7b outside the package 1, and these constitute an output means 7. The bridge circuit 7a outputs the light receiving level V1 of the detecting element 2 and the light receiving level V2 of the correcting element 3, respectively. Here, since the sensing element Rs and the reference element Rr are bridge-connected, the thermal characteristics of these two elements are the same, so that a thermal error component can be canceled and the temperature drift characteristic can be improved. . The outputs V1 and V2 indicate only the light receiving levels based on the infrared rays incident on the sensing element Rs. The light receiving level V1 of the detecting element 2 and the light receiving level V2 of the correcting element 3 are input to the subtracting means 7b, and the difference (V1-V2) between the two is output from the output terminal Vout. This subtraction means 7b can be configured by using a comparator or using a CPU and subtraction processing software.

【0021】次に、上記構成による狭視野の作用につい
て説明する。図4乃至図7は、この狭視野サーミスタボ
ロメータの視野角度別の検知状態を示す説明図であり、
センシングエレメントRsが図示されている。図4は入
射光の入射角度がα0のときの受光状態を示す図であ
る。入射される赤外光(入射光)の光軸となる角度を入
射角αとした場合、入射光の入射角度がα0(平行光:
検出用エレメント2の面に対して入射光が直角に入射さ
れる状態)のときには、検出用エレメント2は最大の受
光エネルギーを得ることになる。このとき、補正用エレ
メント3の内径L3は開口部1bの開口径L1以上であ
るため、平行光である入射光は、開口部1bに遮られて
この補正用エレメント3には入射しない。(検出用エレ
メント2の受光レベル=max,補正用エレメント3の
受光レベル=0)
Next, the operation of a narrow visual field according to the above configuration will be described. 4 to 7 are explanatory diagrams showing detection states of the narrow-field thermistor bolometer for different viewing angles.
The sensing element Rs is shown. FIG. 4 is a diagram showing a light receiving state when the incident angle of the incident light is α0. When the angle that is the optical axis of the incident infrared light (incident light) is an incident angle α, the incident angle of the incident light is α0 (parallel light:
When the incident light is incident on the surface of the detecting element 2 at a right angle), the detecting element 2 obtains the maximum light receiving energy. At this time, since the inner diameter L3 of the correcting element 3 is equal to or larger than the opening diameter L1 of the opening 1b, incident light that is parallel light is blocked by the opening 1b and does not enter the correcting element 3. (Light reception level of detection element 2 = max, light reception level of correction element 3 = 0)

【0022】図5は入射光の入射角度がα1(α0<α
1<α2)のときの受光状態を示す図である。検出用エ
レメント2の面に対してやや角度を有した状態のときに
は、開口部1bと検出用エレメント2との間の距離H1
により検出用エレメント2に入射される受光エネルギー
はやや減少する。このとき、補正用エレメント3に対し
入射光は、この補正用エレメント3の一部に入射する。
(検出用エレメント2の受光レベル>補正用エレメント
3の受光レベル)
FIG. 5 shows that the incident angle of the incident light is α1 (α0 <α).
It is a figure which shows the light receiving state at the time of 1 <(alpha) 2). When the device is at a slight angle with respect to the surface of the detection element 2, the distance H1 between the opening 1b and the detection element 2
As a result, the received light energy incident on the detection element 2 is slightly reduced. At this time, the light incident on the correction element 3 is incident on a part of the correction element 3.
(Light reception level of detection element 2> light reception level of correction element 3)

【0023】図6は入射光の入射角度がα2(α1<α
2<α3)のときの受光状態を示す図である。検出用エ
レメント2の面に対して角度を有した状態のときには、
開口部1bによって検出用エレメント2に入射される受
光エネルギーは半減する。このとき、入射光は補正用エ
レメント3に対しても部分的に入射する。(検出用エレ
メント2の受光レベル≧補正用エレメント3の受光レベ
ル)
FIG. 6 shows that the incident angle of the incident light is α2 (α1 <α
It is a figure which shows the light receiving state at the time of 2 <(alpha) 3). When it is at an angle to the surface of the detecting element 2,
The received light energy incident on the detection element 2 by the opening 1b is reduced by half. At this time, the incident light also partially enters the correction element 3. (Light reception level of detection element 2 ≥ light reception level of correction element 3)

【0024】図7は入射光の入射角度がα3(α2<α
3)のときの受光状態を示す図である。検出用エレメン
ト2の面に対して臨界角を有した状態のときには、入射
光は開口部1bによって検出用エレメント2、及び補正
用エレメント3のいずれにも入射されない。(検出用エ
レメント2の受光レベル=0,補正用エレメント3の受
光レベル=0)
FIG. 7 shows that the incident angle of the incident light is α3 (α2 <α
It is a figure which shows the light receiving state at the time of 3). When the optical element has a critical angle with respect to the surface of the detection element 2, the incident light is not incident on either the detection element 2 or the correction element 3 by the opening 1b. (Light receiving level of detection element 2 = 0, light receiving level of correction element 3 = 0)

【0025】上記図4乃至図7に示したように、検出用
エレメント2と補正用エレメント3は、それぞれ入射光
の入射角度α別に異なる受光状態となる構成とされてお
り、特に、図3に示すような入射角度α0のときには検
出用エレメント2のみが受光状態となることに基づき、
この入射角度α0の方向に位置する物体から放射される
赤外線を限定して検出できるようになる。
As shown in FIGS. 4 to 7, the detecting element 2 and the correcting element 3 are configured to receive light differently depending on the incident angle α of the incident light. When the incident angle α0 is as shown, only the detecting element 2 is in the light receiving state,
Infrared rays radiated from an object located in the direction of the incident angle α0 can be limitedly detected.

【0026】図8は、入射光の角度と受光レベルを示す
図である。検出用エレメント2の受光レベルは、同図
(a)中実線で示すように入射光の入射角度αが平行光
の状態α0(図3記載)のとき最も高く、以降角度が大
きくなりα3に至るまで次第に低くなっている。一方、
補正用エレメント3の受光レベルは、(a)中点線で示
すように、入射光が入射角度α0であるとき最も低く、
入射角度が大きくなるにつれ次第に高くなり入射角度α
2のとき最も高く、以降、入射角度α3に至るまで次第
に低くなっている。
FIG. 8 is a diagram showing angles of incident light and light receiving levels. The light receiving level of the detecting element 2 is the highest when the incident angle α of the incident light is in the parallel light state α0 (described in FIG. 3), as shown by the solid line in FIG. It is getting lower until now. on the other hand,
The light receiving level of the correction element 3 is the lowest when the incident light is at the incident angle α0, as shown by the middle dotted line in FIG.
Incidence angle α gradually increases as the incident angle increases
It is the highest at 2 and thereafter gradually lowers up to the incident angle α3.

【0027】したがって、出力手段7は、検出用エレメ
ント2の出力から補正用エレメント3の出力を差し引く
ことにより、入射角度αの大きい部分の受光出力をキャ
ンセルすることとなり、入射角度の小さいα0の方向か
らの入射光のみ限定して検出でき狭視野な検出を行える
ようになる(同図(b)参照)。同時に、検出用エレメ
ント2と補正用エレメント3は、同一の材質、製法、面
積で形成されたものであるため、両エレメント2,3の
ノイズ成分や温度変化の時間軸成分はほぼ同等と見做す
ことができるため、上記差分演算によってこれら誤差成
分を除去することができる。
Therefore, the output means 7 cancels the light receiving output of the portion where the incident angle α is large by subtracting the output of the correcting element 3 from the output of the detecting element 2, and the direction of α 0 where the incident angle is small is obtained. Thus, it is possible to limit the detection to only the incident light from the camera and to perform the narrow field of view detection (see FIG. 3B). At the same time, since the detection element 2 and the correction element 3 are formed of the same material, manufacturing method, and area, the noise components of both elements 2 and 3 and the time axis component of the temperature change are considered to be substantially equal. Therefore, these error components can be removed by the difference operation.

【0028】上記説明では、検出用エレメント2、及び
補正用エレメント3がそれぞれ異なる基板上に設けられ
た構成として説明したが、これに限られることはない。
図9は、上記実施の形態で説明した構成の具体的構造を
示す側断面図である。単結晶シリコンなどのウェハーを
用いた基板10の表面(上面)に検出用エレメント2の
サーミスタ膜2aを形成し、裏面(下面)に補正用エレ
メント3のサーミスタ膜3aを形成する。ここで、基板
の厚さは前記距離H3としておく。サーミスタ膜2a,
3aの製法を説明すると、蒸着、スパッタリング又はC
VD等の薄膜形成法により熱伝導性の低い酸化シリコン
や窒化シリコンなどの絶縁膜を形成し、その上に同じく
薄膜によって抵抗温度係数の大きいサーミスタ膜と電極
金属膜を形成・パターニングして微小なサーミスタ膜2
a,3aを形成する。尚、同図においてサーミスタ膜2
a,3a部分は便宜上、厚くなるよう記載したが、実際
にはこの部分はリードパターン2c,3c同様に一様な
厚さとなっている。
In the above description, the detection element 2 and the correction element 3 are described as being provided on different substrates, but the present invention is not limited to this.
FIG. 9 is a side sectional view showing a specific structure of the configuration described in the above embodiment. The thermistor film 2a of the detecting element 2 is formed on the surface (upper surface) of the substrate 10 using a wafer such as a single crystal silicon, and the thermistor film 3a of the correcting element 3 is formed on the back surface (lower surface). Here, the thickness of the substrate is set to the distance H3. Thermistor film 2a,
Explaining the production method of 3a, vapor deposition, sputtering or C
An insulating film such as silicon oxide or silicon nitride with low thermal conductivity is formed by a thin film forming method such as VD, and a thermistor film and an electrode metal film with a large resistance temperature coefficient are also formed and patterned by a thin film on the insulating film. Thermistor film 2
a and 3a are formed. In addition, in FIG.
Although the portions a and 3a are described as being thicker for convenience, in actuality, the portions have a uniform thickness like the lead patterns 2c and 3c.

【0029】その後、サーミスタ膜2a,3aが設けら
れた部分の基板10を、腐食液によるウェットエッチン
グ法または腐食ガスによる反応性イオンエッチング法な
どにより取り除いて、微小な架橋構造とする。これによ
り、サーミスタ膜2a,3aは互いに距離H3だけ離れ
た状態で配置させることができ、また、両エレメント
2,3は熱容量を十分に小さくでき、また、その周囲構
造との熱的な絶縁を取ることができるようになる。ま
た、両エレメント2,3の上面、下面には、それぞれ同
様な材質からなる基板を用い、サーミスタ膜2a,3a
の対向部分のみ上記同様にエッチング処理等で所定空間
を形成したカバー11,12で密封されたパッケージ1
を構成する。このパッケージ1は、センシング側のサー
ミスタ膜2a,3a(Rsm,Rss)側にのみ前述したよ
うに開口部1bを開口径L1で開口形成し窓4を設け
る。尚、このような構成では、両エレメント2,3に梁
部2b,3bは形成されず、リードパターン2c,3c
の端部が基板10,上下のカバー11,12にサンドイ
ッチ状に支持固定され、サーミスタ膜2a,3aを支持
する。
Thereafter, the portion of the substrate 10 on which the thermistor films 2a and 3a are provided is removed by a wet etching method using a corrosive liquid or a reactive ion etching method using a corrosive gas to form a minute crosslinked structure. Thereby, the thermistor films 2a and 3a can be arranged at a distance H3 from each other, the heat capacity of both elements 2 and 3 can be made sufficiently small, and the thermal insulation from the surrounding structure can be achieved. You can take it. Substrates made of the same material are used for the upper and lower surfaces of both elements 2 and 3, respectively, and thermistor films 2a and 3a are used.
Package 1 sealed with covers 11 and 12 having a predetermined space formed only by etching or the like in the same manner as described above.
Is configured. In this package 1, the window 1 is formed by forming the opening 1b with the opening diameter L1 only on the thermistor films 2a and 3a (Rsm, Rss) on the sensing side as described above. In this configuration, the beam portions 2b and 3b are not formed on both elements 2 and 3, and the lead patterns 2c and 3c are not formed.
Is sandwiched and fixed to the substrate 10 and the upper and lower covers 11 and 12 in a sandwich manner, and supports the thermistor films 2a and 3a.

【0030】また、中央の基板10は、ヒートシンク1
4上に支持固定され放熱されるとともに、各リードパタ
ーン2c,3cは、ワイヤ15を介して基板端子等に接
続される。ところで、上記パッケージ1は、ボロメータ
筐体16内に収容されるもので、この筐体16にはパッ
ケージ1の開口部1bの開口箇所に対応して開口部16
bが開口形成され、窓17が設けられる。
The central substrate 10 is provided with a heat sink 1
The lead patterns 2c and 3c are supported and fixed on the substrate 4, and the lead patterns 2c and 3c are connected to a substrate terminal or the like via a wire 15. Incidentally, the package 1 is housed in a bolometer housing 16, and the housing 16 has openings 16 corresponding to the openings of the openings 1 b of the package 1.
b is opened and a window 17 is provided.

【0031】尚、上述したパッケージ1の開口部1bの
開口径L1を狭めるだけで検知エリアを狭視野にするこ
とができるようになるが、単に開口部1bの開口径L1
を狭めただけでは同時に入射エネルギーも減少し(図8
の波形における幅が細くなるが、同時に高さも低くな
る)感度が低下することになり好ましくない。この点、
本発明の上記構成によれば、感度を低下させることなく
狭視野とすることができるものである。
Although the detection area can be made narrower by merely reducing the opening diameter L1 of the opening 1b of the package 1, the opening diameter L1 of the opening 1b can be reduced.
Simply reducing the incident energy also decreases at the same time (see FIG. 8).
(While the width of the waveform becomes narrower, the height also decreases.) This is not preferable because the sensitivity decreases. In this regard,
According to the above configuration of the present invention, a narrow visual field can be obtained without lowering the sensitivity.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明によれば、簡単な構造で検知エリ
アを狭視野とすることができ、これにより検知対象を絞
った検知を行え、また、検知対象周囲からの影響を除く
ことができる。また、本発明は、検出用エレメントと補
正用エレメントの差分を取るだけで狭視野な検知エリア
の出力が得られる構成であるため、簡単かつ小型に構成
できる。また、ミラーやレンズを用いずとも狭いエリア
の検知を行えるようになる。そして、センシング用とリ
ファレンス用でそれぞれ同一構成のエレメントを設け、
両者を同一パッケージ内に収容してブリッジ接続した構
成であるため、センシング側エレメントで発生した熱的
な誤差成分をキャンセルすることができるようになり、
温度ドリフト特性が良好で検知精度を向上できるように
なる。
According to the present invention, it is possible to narrow the detection area with a simple structure, thereby performing detection with a narrow detection target, and eliminating the influence from the surroundings of the detection target. . Further, the present invention has a configuration in which an output of a narrow-field detection area can be obtained only by taking the difference between the detection element and the correction element, so that the configuration can be made simple and compact. Further, it is possible to detect a small area without using a mirror or a lens. Then, elements of the same configuration are provided for sensing and for reference, respectively,
Since both are housed in the same package and connected in a bridge, it is possible to cancel the thermal error component generated in the sensing element,
The temperature drift characteristics are good and the detection accuracy can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の狭視野サーミスタボロメータを示す
図。
FIG. 1 is a diagram showing a narrow-field thermistor bolometer of the present invention.

【図2】サーミスタ膜を示す図。FIG. 2 is a diagram showing a thermistor film.

【図3】センシング側とリファレンス側の各エレメント
の結線状態を示す図。(a)は、構造を示す斜視図。
(b)は、電気的回路構成を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing a connection state of each element on a sensing side and a reference side. (A) is a perspective view showing a structure.
FIG. 2B is a diagram illustrating an electric circuit configuration.

【図4】入射光の入射角度別の受光状態を示す図(その
1)。
FIG. 4 is a diagram showing a light receiving state for each incident angle of incident light (part 1).

【図5】入射光の入射角度別の受光状態を示す図(その
2)。
FIG. 5 is a diagram (part 2) illustrating a light receiving state for each incident angle of incident light.

【図6】入射光の入射角度別の受光状態を示す図(その
3)。
FIG. 6 is a diagram showing a light receiving state for each incident angle of incident light (part 3).

【図7】入射光の入射角度別の受光状態を示す図(その
4)。
FIG. 7 is a diagram illustrating a light receiving state of incident light by incident angle (part 4).

【図8】入射光の入射角度と受光レベルを示す図。FIG. 8 is a diagram showing an incident angle and a light receiving level of incident light.

【図9】本発明の具体的構成例を示す側断面図。FIG. 9 is a side sectional view showing a specific configuration example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…パッケージ、1b…開口部、2…検出用エレメン
ト、3…補正用エレメント、4…窓、7…出力手段、R
s…センシングエレメント、Rr…リファレンスエレメ
ント。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Package, 1b ... Opening part, 2 ... Detection element, 3 ... Correction element, 4 ... Window, 7 ... Output means, R
s: sensing element, Rr: reference element.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パッケージ内部にセンシングエレメント
と、該センシングエレメントと同一形状のリファレンス
エレメントを設けてセンシングエレメントの熱的な誤差
成分をキャンセルして出力するようにしたサーミスタボ
ロメータにおいて、 赤外線を通す所定径の窓が開口形成されたセンシング用
空間と、該センシング用空間と同一形状でかつ前記窓を
有さず全域が密封されたリファレンス用空間とがそれぞ
れ独立して形成されたパッケージと、 前記パッケージのセンシング用空間内部に設けられ、前
記窓に対応した形状を有し該窓を介して入射した赤外線
による温度上昇で抵抗値が変化するサーミスタ膜が形成
され、入射角度が平行光のとき(α0)最も大きな受光
レベルを出力し、臨界角(α3)に至るまで入射角度に
対応する受光レベルを出力するセンシング側検出用エレ
メント(Rsm)と、 前記パッケージのセンシング用空間内部に設けられ、前
記センシング用検出用エレメントと同面積で前記窓の開
口径より大径な内径を有する環状でサーミスタ膜が形成
されており、入射角度が所定角度範囲(α0<α<α
3)の赤外線を検出するセンシング側補正用エレメント
(Rss)と、 前記パッケージのリファレンス用空間内部に設けられ、
前記センシング側検出用エレメントと同一の形状とされ
てサーミスタ膜が形成されたリファレンス側検出用エレ
メント(Rrm)と、 前記パッケージのリファレンス用空間内部に設けられ、
前記センシング側補正用エレメントと同一の形状とされ
てサーミスタ膜が形成されたリファレンス側補正用エレ
メント(Rrs)と、 前記センシング側及びリファレンス側の検出用エレメン
トと、前記センシング側及びリファレンス側の補正用エ
レメントをブリッジ接続し、センシング側とリファレン
ス側で発生する熱的な誤差成分をキャンセルするととも
に、センシング側の検出用エレメントと補正用エレメン
トの出力の差分を出力する出力手段と、を具備したこと
を特徴とする狭視野サーミスタボロメータ。
1. A thermistor bolometer in which a sensing element and a reference element having the same shape as the sensing element are provided inside a package to cancel and output a thermal error component of the sensing element. A package in which a sensing space in which a window is formed as an opening, a reference space having the same shape as the sensing space and having no window, and a sealed whole area, are formed independently of each other; A thermistor film which is provided inside the sensing space, has a shape corresponding to the window, and has a resistance value changed by a temperature rise due to infrared rays incident through the window, and the incident angle is parallel light (α0) Outputs the highest light receiving level and the light receiving level corresponding to the incident angle up to the critical angle (α3) A sensing side detecting element (Rsm) for outputting a sensor, and an annular thermistor provided inside the sensing space of the package, having the same area as the sensing detecting element and having an inner diameter larger than the opening diameter of the window. A film is formed, and the incident angle is within a predetermined angle range (α0 <α <α).
3) a sensing-side correction element (Rss) for detecting infrared rays, which is provided inside a reference space of the package;
A reference-side detection element (Rrm) having the same shape as the sensing-side detection element and formed with a thermistor film, provided inside the reference space of the package;
A reference-side correction element (Rrs) having the same shape as the sensing-side correction element and a thermistor film formed thereon; a sensing-side and reference-side detection element; and a sensing-side and reference-side correction element Output means for bridge-connecting the elements, canceling a thermal error component generated on the sensing side and the reference side, and outputting a difference between outputs of the detection element and the correction element on the sensing side. Characteristic narrow-field thermistor bolometer.
【請求項2】 前記検出用エレメントと補正用エレメン
トのサーミスタ膜は、単一の基板の表裏にそれぞれ位置
合わせして同様のものがそれぞれ形成された後に該サー
ミスタ膜部分の基板をエッチング処理で除去されること
により、互いが基板の厚さ分の間隔で微小な架橋構造と
された請求項1記載の狭視野サーミスタボロメータ。
2. The thermistor films of the detection element and the correction element are aligned respectively on the front and back of a single substrate, and after the same one is formed, the substrate at the thermistor film portion is removed by etching. 2. The narrow-field thermistor bolometer according to claim 1, wherein each of the narrow-field thermistor bolometers has a minute cross-linking structure at intervals corresponding to the thickness of the substrate.
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