JPH11330599A - Semiconductor laser driver - Google Patents

Semiconductor laser driver

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JPH11330599A
JPH11330599A JP13387298A JP13387298A JPH11330599A JP H11330599 A JPH11330599 A JP H11330599A JP 13387298 A JP13387298 A JP 13387298A JP 13387298 A JP13387298 A JP 13387298A JP H11330599 A JPH11330599 A JP H11330599A
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JP
Japan
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semiconductor laser
voltage
laser beam
variable resistor
light
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JP13387298A
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Japanese (ja)
Inventor
Makoto Obayashi
誠 大林
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Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor laser driver allowing the light quantity of a laser beam to be simply adjusted for a set light quantity. SOLUTION: A monitor circuit 30 comprises a photodiode 31 disposed behind a cleavage plane of a semiconductor laser 10 to output a photo current Ipd proportional to the light quantity of a laser beam, variable resistor 32 for adjusting the light quantity of the laser beam of the semiconductor laser 10 and fixed resistor 33. A voltage Vcc is fed to the cathode of the photodiode 31, a voltage V0 (e.g. 5 V) lower than the voltage Vcc and higher than a reference voltage Vref is fed to one end of the variable resistor 32, and the fixed resistor 33 is commonly inserted between the anode of the photodiode 31 and the other end of the variable resistor 33 to feed back the voltage between both ends as a monitor voltage to a semiconductor laser drive circuit 20.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザを駆
動する半導体レーザ駆動装置に関し、特に、半導体レー
ザから出射されたレーザビームの光量を調整する技術に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser driving apparatus for driving a semiconductor laser, and more particularly, to a technique for adjusting a light amount of a laser beam emitted from a semiconductor laser.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、静電写真方式で画像を形成する
レーザプリンタなどの画像形成装置においては、感光体
ドラムの光書き込み用光源として半導体レーザが用いら
れており、当該半導体レーザから出射されたレーザビー
ムで定速で回転駆動される感光体ドラム表面を露光走査
させて静電潜像を形成するようになっている。
2. Description of the Related Art For example, in an image forming apparatus such as a laser printer for forming an image by an electrostatographic system, a semiconductor laser is used as a light source for light writing on a photosensitive drum. The surface of the photosensitive drum, which is driven to rotate at a constant speed by a laser beam, is exposed and scanned to form an electrostatic latent image.

【0003】ところで、半導体レーザは、順方向に流れ
る駆動電流がしきい電流を上回るとレーザ発振を生じ、
駆動電流に応じた光量のレーザビームを劈開面の両側か
ら出射するが、このレーザビームの光量は動作温度に影
響されて変化しやすい。例えば動作温度が20℃から7
0℃に上昇すると、しきい電流が20℃時の数倍に増加
するため、駆動電流を同じ値に維持しても、レーザビー
ムの光量が数分の一に低下する。特に、画像形成装置の
場合には、記録シートにトナーを高温で定着させる関係
上、定着器からの熱で動作温度の変化範囲が大きく、レ
ーザビームの光量変化が顕著となる。このような光量変
化が生じると、感光体を確実に露光させることができ
ず、安定した再現画像を形成することができなくなる。
そこで、動作温度が変化してもレーザビームの光量を一
定にすることができる半導体レーザ駆動装置が従来から
考えられている。
[0003] By the way, a semiconductor laser oscillates when a driving current flowing in a forward direction exceeds a threshold current.
A laser beam having an amount of light corresponding to the drive current is emitted from both sides of the cleavage plane, but the amount of the laser beam is easily affected by the operating temperature and changes. For example, if the operating temperature is between 20 ° C and 7
When the temperature rises to 0 ° C., the threshold current increases several times that at 20 ° C., so that even if the drive current is maintained at the same value, the light amount of the laser beam is reduced by a fraction. In particular, in the case of an image forming apparatus, since the toner is fixed on a recording sheet at a high temperature, the change range of the operating temperature due to the heat from the fixing device is large, and the change in the light amount of the laser beam is remarkable. When such a change in light amount occurs, the photosensitive member cannot be reliably exposed, and a stable reproduced image cannot be formed.
Therefore, a semiconductor laser driving device that can keep the light amount of the laser beam constant even when the operating temperature changes has been conventionally considered.

【0004】図3は、上記従来の半導体レーザ駆動装置
の構成を示す回路図である。同図に示すように、半導体
レーザ駆動装置は、半導体レーザ駆動制御回路200
と、モニタ回路300とを備える。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of the conventional semiconductor laser driving device. As shown in the figure, the semiconductor laser drive device comprises a semiconductor laser drive control circuit 200.
And a monitor circuit 300.

【0005】半導体レーザ駆動制御回路200は、モニ
タ電圧Vm と所定の基準電圧Vrefとが入力され、両電
圧Vm ,Vref の差に応じた信号を出力する増幅器20
1と、増幅器201の出力に基づいて両電圧Vm ,V
ref が一致するように半導体レーザ100に流れる駆動
電流ILDを制御する半導体レーザ駆動回路202とを備
えている。
[0005] The semiconductor laser drive control circuit 200 includes a monitor voltage V m and a predetermined reference voltage V ref is inputted, an amplifier 20 for outputting a signal corresponding to the difference between the voltage V m, V ref
1 and both voltages V m , V based on the output of the amplifier 201.
a semiconductor laser drive circuit 202 for controlling a drive current I LD flowing through the semiconductor laser 100 so that ref coincides with each other.

【0006】モニタ回路300は、半導体レーザ100
から出射されたレーザビームの光量に比例した光電流I
PDを出力するフォトダイオード301と、半導体レーザ
100のレーザビームの光量を調節するための可変抵抗
302とからなる。フォトダイオード301のカソード
には電圧Vcc(たとえば、12V)が供給され、フォト
ダイオード301のアノード−グランド間には可変抵抗
302(例えば、抵抗値=0〜50kΩ)が接続されて
いる。可変抵抗302は、光電流IPDを光電圧VPDに変
換し、この光電圧VPDをモニタ電圧Vm として半導体レ
ーザ駆動制御回路200にフィードバックする。
The monitor circuit 300 includes a semiconductor laser 100
Current I proportional to the amount of laser beam emitted from
It comprises a photodiode 301 for outputting a PD and a variable resistor 302 for adjusting the light amount of the laser beam of the semiconductor laser 100. A voltage V cc (for example, 12 V) is supplied to the cathode of the photodiode 301, and a variable resistor 302 (for example, resistance = 0 to 50 kΩ) is connected between the anode and the ground of the photodiode 301. The variable resistor 302 converts the light current I PD into a light voltage V PD , and feeds back the light voltage V PD to the semiconductor laser drive control circuit 200 as a monitor voltage V m .

【0007】このような半導体レーザ駆動装置によれ
ば、動作温度の変化によりレーザビームの光量が減少し
た場合には、この減少分光電流IPD、すなわちモニタ電
圧Vmが低下し、モニタ電圧Vm と基準電圧とが一致す
るようにモニタ電圧Vm の低下分駆動電流ILDが増加さ
れる。これに対してレーザビームの光量が増加した場合
には、動作温度の変化によりレーザビームの光量が減少
した場合と逆の動作で駆動電流ILDが減少される。した
がって、動作温度の変化に拘わらずモニタ電圧V m が一
定に維持され、レーザビームの光量がほぼ一定に維持さ
れることになる。
According to such a semiconductor laser driving device,
If the operating temperature changes, the amount of laser beam
In this case, the reduced spectral current IPD, That is, monitor
Pressure VmDecreases and the monitor voltage Vm And the reference voltage match
Monitor voltage Vm Drive current ILDIs increased
It is. In contrast, when the amount of laser beam increases
In some cases, the amount of laser beam decreases due to changes in operating temperature
The driving current ILDIs reduced. did
Therefore, regardless of the change in the operating temperature, the monitor voltage V m But one
The laser beam intensity is maintained almost constant.
Will be.

【0008】ところで、感光体を確実に露光するために
は、半導体レーザ100の光量は、最大定格(例えば、
5mW)を超えない範囲でできるだけ大きな値に設定す
るのが好ましい。このため、この半導体レーザ駆動装置
が組み込まれた画像形成装置を出荷する前に、光パワー
メータ400を感光体ドラム表面に設置し、光パワーメ
ータ400のセンサ(不図示)でレーザビームを受光し
て光量を測定し、作業者が最大定格より少し小さい所望
の光量(例えば4.5mW時における光量であり、この
光量を以下、「設定光量」という。)が得られる抵抗値
に可変抵抗302を操作した後、この抵抗値に固定して
いた。
By the way, in order to surely expose the photoreceptor, the light amount of the semiconductor laser 100 must be the maximum rating (for example,
It is preferable to set the value as large as possible within a range not exceeding 5 mW). Therefore, before shipping the image forming apparatus in which the semiconductor laser driving device is incorporated, the optical power meter 400 is installed on the surface of the photosensitive drum, and the laser beam is received by the sensor (not shown) of the optical power meter 400. The light amount is measured by the operator, and the variable resistance 302 is set to a resistance value at which a worker can obtain a desired light amount slightly smaller than the maximum rating (for example, the light amount at 4.5 mW, and this light amount is hereinafter referred to as “set light amount”). After operation, the resistance was fixed at this value.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の半導体レーザ駆動装置では、レーザビームの光
量が可変抵抗302の抵抗値と反比例の関係にあり、設
定光量付近における可変抵抗302の抵抗値の変化に対
する光量の変化率が大きいため、設定光量の調整が困難
であった。
However, in the above-described conventional semiconductor laser driving device, the light amount of the laser beam is in inverse proportion to the resistance value of the variable resistor 302, and the resistance value of the variable resistor 302 near the set light amount is small. Since the rate of change of the light amount with respect to the change is large, it is difficult to adjust the set light amount.

【0010】しかも、この調整時に可変抵抗302の操
作を誤って半導体レーザを最大定格を超えて発光させて
しまい、半導体レーザを破壊してしまうおそれも高かっ
た。
In addition, there is a high possibility that the semiconductor laser may be erroneously operated at the time of this adjustment, causing the semiconductor laser to emit light exceeding the maximum rating, thereby destroying the semiconductor laser.

【0011】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、レーザビームの光量を設定光量に簡単に調
整できる半導体レーザ駆動装置を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and has as its object to provide a semiconductor laser driving device capable of easily adjusting the light amount of a laser beam to a set light amount.

【0012】また、半導体レーザを破壊してしまうおそ
れの少ない半導体レーザ駆動装置を提供することを他の
目的とする。
It is another object of the present invention to provide a semiconductor laser driving device which is less likely to damage a semiconductor laser.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る半導体レーザ駆動装置は、モニタ電圧
と所定の基準電圧とに基づいて、両電圧が一致するよう
に半導体レーザに流れる駆動電流を制御する半導体レー
ザ駆動制御手段と、半導体レーザから出射されたレーザ
ビームの光量に基づいて得られたモニタ電圧を前記半導
体レーザ駆動制御手段にフィードバックする光量モニタ
手段とを備える半導体レーザ駆動装置であって、前記光
量モニタ手段は、一端に第1の電圧が供給され、半導体
レーザの駆動時に出射されたレーザビームの光量に比例
した光電流を出力する光電流出力手段と、一端に第2の
電圧が供給され、抵抗値を変えてレーザビームの光量を
変えるための可変抵抗と、前記光電流出力手段および可
変抵抗の他端とグランドとの間に共通に介在され、両端
間電圧を前記モニタ電圧として出力する抵抗と、を備え
ることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a semiconductor laser driving device according to the present invention, based on a monitor voltage and a predetermined reference voltage, flows through a semiconductor laser such that both voltages coincide. A semiconductor laser drive device comprising: a semiconductor laser drive control means for controlling a drive current; and a light quantity monitor means for feeding back a monitor voltage obtained based on a light quantity of a laser beam emitted from a semiconductor laser to the semiconductor laser drive control means. A light current output means for supplying a first voltage to one end and outputting a photocurrent proportional to the light quantity of the laser beam emitted when the semiconductor laser is driven; And a variable resistor for changing the resistance value to change the light amount of the laser beam, and the other end of the photocurrent output means and the variable resistor. Interposed in common between the command, characterized in that it comprises a resistor for outputting a voltage across as said monitor voltage.

【0014】また、本発明に係る半導体レーザ駆動装置
は、前記第2の電圧が、前記第1の電圧よりも小さく、
前記基準電圧よりも大きな値に設定されることを特徴と
する。
Further, in the semiconductor laser driving device according to the present invention, the second voltage is smaller than the first voltage,
It is set to a value larger than the reference voltage.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る半導体レーザ
駆動装置の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1
は、半導体レーザ駆動装置1の全体の構成を示す回路図
である。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a semiconductor laser driving apparatus according to the present invention. FIG.
1 is a circuit diagram showing the overall configuration of the semiconductor laser driving device 1. FIG.

【0016】同図に示すように、半導体レーザ駆動装置
1は、半導体レーザ駆動制御回路20と、モニタ回路3
0とを備える。
As shown in FIG. 1, a semiconductor laser driving device 1 includes a semiconductor laser driving control circuit 20 and a monitor circuit 3.
0.

【0017】半導体レーザ駆動制御回路20は、モニタ
電圧Vm と所定の基準電圧Vref (例えば、1.5V)
とが入力され、両電圧Vm ,Vref の差に応じた信号を
出力する増幅器21と、増幅器21の出力に基づいて両
電圧Vm ,Vref が一致するように半導体レーザ10に
流れる駆動電流ILDを制御する半導体レーザ駆動回路2
2とを備えている。
The semiconductor laser drive control circuit 20 generates a monitor voltage Vm and a predetermined reference voltage Vref (for example, 1.5 V).
: It is input, both voltages V m, an amplifier 21 for outputting a signal corresponding to the difference between V ref, flowing through the semiconductor laser 10 as both voltages V m, V ref is matched on the basis of the output of the amplifier 21 driving Semiconductor laser drive circuit 2 for controlling current ILD
2 is provided.

【0018】モニタ回路30は、半導体レーザ10の劈
開面の後側に配設され、レーザビームの光量に比例した
光電流IPDを出力するフォトダイオード(光電流出力手
段)31と、半導体レーザ10のレーザビームの光量を
調節するための可変抵抗32(例えば、抵抗値=0〜5
0kΩ)と、固定抵抗33とを備える。フォトダイオー
ド31のカソードには電圧Vcc(例えば、12V)が供
給され、可変抵抗32の一端には上記電圧Vccよりも小
さく、基準電圧Vref よりも高い値の電圧V0(例え
ば、5V)が供給され、固定抵抗33は、フォトダイオ
ード31のアノードおよび可変抵抗33の他端との間に
共通に介在され、両端間の電圧、すなわち光電流IPD
変換して得られた光電圧VPDと、電圧V0 を可変抵抗3
2とで分圧して得られた電圧Vref とをモニタ電圧Vm
として半導体レーザ駆動回路20にフィードバックす
る。
The monitor circuit 30 is disposed behind the cleavage plane of the semiconductor laser 10 and outputs a photocurrent IPD proportional to the light amount of the laser beam. Variable resistance 32 (for example, resistance value = 0 to 5) for adjusting the light quantity of the laser beam
0 kΩ) and a fixed resistor 33. A voltage V cc (for example, 12 V) is supplied to the cathode of the photodiode 31, and a voltage V 0 (for example, 5 V) smaller than the voltage V cc and higher than the reference voltage V ref is supplied to one end of the variable resistor 32. ) Is supplied, and the fixed resistor 33 is commonly interposed between the anode of the photodiode 31 and the other end of the variable resistor 33, and the voltage between both ends, that is, the optical voltage obtained by converting the photocurrent I PD is obtained. V PD and voltage V 0 are adjusted by a variable resistor 3
2 and the voltage V ref obtained by dividing the voltage with the monitor voltage V m
As feedback to the semiconductor laser drive circuit 20.

【0019】フォトダイオード31は、半導体レーザ1
0の劈開面の後側から出射されたレーザビームを受光
し、レーザビームの光量に応じた光電流IPDを出力す
る。この光電流IPDは、固定抵抗33を介してグランド
に流れる。固定抵抗33の抵抗値をRとし、光電流IPD
によって固定抵抗33に生じる電圧をVPDとすると、式
(1)が求められる。
The photodiode 31 is a semiconductor laser 1
It receives the laser beam emitted from the rear side of the cleavage plane of 0, and outputs the photocurrent I PD corresponding to the light amount of the laser beam. The photocurrent I PD flows to the ground via the fixed resistor 33. The resistance value of the fixed resistor 33 is R, and the photocurrent I PD
Assuming that the voltage generated in the fixed resistor 33 is V PD , Equation (1) is obtained.

【0020】 VPD=IPD・R …(1)V PD = I PD · R (1)

【0021】一方、可変抵抗32に流れる電流をI
dev 、この電流Idev によって固定抵抗33に生じる電
圧をVdev とすると、式(2)が求められる。 Vdev =Idev ・R …(2) モニタ電圧Vm は、固定抵抗33の両端間電圧であるか
ら、式(3)によって求められる。
On the other hand, the current flowing through the variable resistor 32 is represented by I
Assuming that V dev is the voltage generated in the fixed resistor 33 by the current I dev , Vdev is given by the following equation (2). V dev = I dev · R (2) Since the monitor voltage V m is a voltage between both ends of the fixed resistor 33, it is obtained by the equation (3).

【0022】 Vm =VPD+Vdev =IPD・R+Idev ・R =R・(IPD+Idev ) …(3)V m = V PD + V dev = I PD · R + I dev · R = R · (I PD + I dev ) (3)

【0023】一方、可変抵抗32に流れる電流Idev
は、式(4)から求められる。 Idev =(V0 −Vm )/RVR …(4) この式(4)に式(3)を代入してIdev について整理
すると、式(5)が求められる。 Idev ={V0 −(IPD・R)}/(RVR+R) …(5) この式(5)を式(3)に代入してIdev を消去する
と、式(6)が求められる。
On the other hand, the current I dev flowing through the variable resistor 32
Is obtained from Expression (4). I dev = (V 0 −V m ) / R VR (4) By substituting equation (3) into equation (4) and rearranging I dev , equation (5) is obtained. I dev = {V 0 − (I PD · R)} / (R VR + R) (5) When this equation (5) is substituted into equation (3) and I dev is eliminated, equation (6) is obtained. Can be

【0024】 Vm ={R・(IPD・RVR+V0 )}/(RVR+R) …(6) 可変抵抗32の抵抗値RVRが固定されている場合、この
式(6)から、モニタ電圧Vm は、電流Idev に無関係
で、光電流IPDと比例関係にあることがわかる。
V m = {R · (I PD · R VR + V 0 )} / (R VR + R) (6) When the resistance value R VR of the variable resistor 32 is fixed, from this equation (6) the monitor voltage V m is independent of the current I dev, a photocurrent I PD it can be seen that a proportional relationship.

【0025】このような半導体レーザ駆動装置によれ
ば、動作温度の変化によりレーザビームの光量が減少し
た場合には、この減少分光電流IPD、すなわちモニタ電
圧Vmが低下し、モニタ電圧Vm と基準電圧とが一致す
るようにモニタ電圧Vm の低下分駆動電流ILDが増加さ
れる。これに対してレーザビームの光量が増加した場合
には、動作温度の変化によりレーザビームの光量が減少
した場合と逆の動作で駆動電流ILDが減少される。した
がって、動作温度の変化に拘わらずモニタ電圧V m が基
準電圧Vref と同じ一定値に維持され、レーザビームの
光量がほぼ一定に維持されることになる。
According to such a semiconductor laser driving device,
If the operating temperature changes, the amount of laser beam
In this case, the reduced spectral current IPD, That is, monitor
Pressure VmDecreases and the monitor voltage Vm And the reference voltage match
Monitor voltage Vm Drive current ILDIs increased
It is. In contrast, when the amount of laser beam increases
In some cases, the amount of laser beam decreases due to changes in operating temperature
The driving current ILDIs reduced. did
Therefore, regardless of the change in the operating temperature, the monitor voltage V m Is based
Reference voltage Vref Is maintained at the same constant value as
The light quantity will be kept almost constant.

【0026】次いで、半導体レーザ10の光量調整につ
いて説明するが、従来との相違を明瞭にするために、ま
ず従来の半導体レーザ駆動装置を考察する。従来の半導
体レーザ駆動装置においては、光電流IPDを可変抵抗3
02に流して、可変抵抗302に生じる光電圧と、基準
電圧VPDをモニタ電圧Vm としており、式(7),式
(8)の関係を有している。
Next, the adjustment of the light quantity of the semiconductor laser 10 will be described. In order to clarify the difference from the conventional one, a conventional semiconductor laser driving device will first be considered. In the conventional semiconductor laser driving device, the photocurrent I PD is
02, the optical voltage generated in the variable resistor 302 and the reference voltage V PD are used as the monitor voltage V m , and have the relationship of Expressions (7) and (8).

【0027】 VPD=IPD・RVR …(7) Vm =VPD =Vref …(8)V PD = I PD · R VR (7) V m = V PD = V ref (8)

【0028】ここで、Vref =1.5(V)とし、式
(7)、式(8)からIPDとRVRとの関係式(9)を求
めると、 IPD=Vref /RVR =1.5/RVR ≧0 …(9)
Here, assuming that V ref = 1.5 (V) and the relational expression (9) between I PD and R VR is obtained from Expressions (7) and (8), I PD = V ref / R VR = 1.5 / R VR ≧ 0 (9)

【0029】一方、光量と駆動電流ILDとは正比例し、
光量と光電流IPDとは正比例する。このため、光量と可
変抵抗302の抵抗RVRとの関係に、式(9)を適用す
ることができ、光量は可変抵抗302の抵抗値RVRに対
して反比例的に変化する(図2のグラフP1参照)。
On the other hand, the light quantity and the drive current I LD are directly proportional,
The amount of light and the photocurrent I PD are directly proportional. Therefore, the relationship between the resistance R VR of light intensity and a variable resistor 302, can be applied to Equation (9), the amount of light is inversely varies with the resistance value R VR of the variable resistor 302 (in FIG. 2 (See graph P1).

【0030】したがって、従来の半導体レーザ駆動装置
によれば、設定光量の付近(図2中のα参照)において
は、可変抵抗302の抵抗値の変化に対する光量の変化
率が大きいため、設定光量の調整が困難であった。ま
た、可変抵抗302の抵抗値を誤って0Ωに操作してし
まうと、光量が無限大となって半導体レーザを破壊して
しまうことになった。
Therefore, according to the conventional semiconductor laser driving device, in the vicinity of the set light amount (see α in FIG. 2), the change rate of the light amount with respect to the change in the resistance value of the variable resistor 302 is large. Adjustment was difficult. Further, if the resistance value of the variable resistor 302 is erroneously adjusted to 0Ω, the light amount becomes infinite and the semiconductor laser is destroyed.

【0031】次いで、本実施の形態に係る半導体レーザ
10の光量調整について説明する。V0 =5(V)、V
ref =1.5(V)、R=4(kΩ)とし、光電流IPD
と可変抵抗32の抵抗値RVRとの関係を式(6)から求
めると、式(10)が求められる。 IPD={Vm (R+RVR)−R・V0 }/(R・RVR) =(Vm /R)+{(Vm −V0 )/RVR} =(Vref /R)+{(Vref −V0 )/RVR} ={1.5/(4・103)}+{(1.5−5)/RVR} =0.375・10-3−(3.5/RVR) ≧0 …(10)
Next, adjustment of the light amount of the semiconductor laser 10 according to the present embodiment will be described. V 0 = 5 (V), V
ref = 1.5 (V), R = 4 (kΩ), and the photocurrent I PD
And when determining the relationship between the resistance value R VR of the variable resistor 32 from equation (6), equation (10) is obtained. I PD = {V m (R + R VR ) −R · V 0 } / (R · R VR ) = (V m / R) + {(V m −V 0 ) / R VR } = (V ref / R) + {(V ref −V 0 ) / R VR {= {1.5 / (4 · 10 3 )} + {(1.5−5) / R VR == 0.375 · 10 −3 − (3 .5 / R VR ) ≧ 0 (10)

【0032】一方、光量と駆動電流ILDとは正比例し、
光量と光電流IPDとは正比例する。このため、光量と可
変抵抗32の抵抗RVRとの関係に、式(10)を適用す
ることができ、この光量は定格光量(5mW)を漸近線
として可変抵抗32の抵抗値RVRに対して負の反比例的
に変化する(図2のグラフP2参照)。
On the other hand, the light quantity and the drive current I LD are directly proportional,
The amount of light and the photocurrent I PD are directly proportional. Therefore, the relationship between the resistance R VR of light intensity and a variable resistor 32, it is possible to apply equation (10), the amount of light to the resistance value R VR of the variable resistor 32 as asymptote rated light amount (5 mW) And negatively proportionally change (see graph P2 in FIG. 2).

【0033】光量調整をする場合、まず可変抵抗32の
値を最小値(0Ω)にしておき半導体レーザ駆動装置1
への電源をオンする。この時、固定抵抗33には一定電
圧V 0 が供給されるため、モニタ電圧Vm は高く、半導
体レーザ10の光量は小さくほぼ「0」である。可変抵
抗32の抵抗値を徐々に大きくしていくと、モニタ電圧
m は徐々に低くなり、モニタ電圧Vm が基準電圧V
ref より低くなると半導体レーザ駆動回路22は駆動電
流ILDの供給を開始し、半導体レーザ10からレーザビ
ームが出射される。レーザビームが出射されると、作業
者は、光パワーメータ40で半導体レーザ10の光量を
モニタしながら設定光量が得られるまで可変抵抗32を
操作して光量調整する。この場合、設定光量の付近(図
2中のβ参照)においては、可変抵抗32の抵抗値の変
化に対する光量の変化率が極めて小さい。したがって、
本実施の形態に係る半導体レーザ駆動装置によれば、設
定光量の調整が極めて容易になる。
When adjusting the light quantity, first of all,
Semiconductor laser driving device 1 with the value set to the minimum value (0Ω)
Turn on the power to. At this time, a fixed voltage is applied to the fixed resistor 33.
Pressure V 0 Is supplied, the monitor voltage Vm Is high and semi-conductive
The light amount of the body laser 10 is small and substantially “0”. Variable resistor
As the resistance value of anti-32 gradually increases, the monitor voltage
Vm Gradually decreases and the monitor voltage Vm Is the reference voltage V
ref When the voltage becomes lower, the semiconductor laser drive circuit 22
Style ILDOf the laser beam from the semiconductor laser 10
Is emitted. When the laser beam is emitted, work
The user measures the light amount of the semiconductor laser 10 with the optical power meter 40.
While monitoring, set the variable resistor 32 until the set light amount is obtained.
Operate to adjust the light intensity. In this case, in the vicinity of the set light amount (Fig.
2), the resistance value of the variable resistor 32 is changed.
The rate of change of the amount of light with respect to conversion is extremely small. Therefore,
According to the semiconductor laser driving device of the present embodiment,
Adjustment of the constant light amount becomes extremely easy.

【0034】また、この設定光量の調整の際に、フォト
ダイオード31はレーザビームの光量に応じたモニタ電
流Im を出力し、半導体レーザ駆動回路7はモニタ電圧
mが基準電圧Vref に一致するように半導体レーザ1
0の駆動電流ILDを制御するが、電圧V0 が、電圧Vcc
よりも小さく、基準電圧Vref よりも大きな値に設定さ
れているので、可変抵抗32をどのように操作しても、
光量を最大定格未満に押さえることができ、半導体レー
ザ10を破壊してしまうことも皆無にすることができ
る。
Further, during the adjustment of the set amount of light, the photodiode 31 outputs a monitor current I m in accordance with the amount of the laser beam, a semiconductor laser driving circuit 7 matches the monitor voltage V m is the reference voltage V ref Semiconductor laser 1
Controlling the 0 of the drive current I LD, but the voltage V 0, the voltage V cc
Smaller than the reference voltage V ref, so that no matter how the variable resistor 32 is operated,
The amount of light can be kept below the maximum rating, and the semiconductor laser 10 can be prevented from being broken.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上のように本発明に係る半導体レーザ
駆動装置によれば、前記光量モニタ手段が、一端に第1
の電圧が供給され、半導体レーザの駆動時に出射された
レーザビームの光量に比例した光電流を出力する光電流
出力手段と、一端に第2の電圧が供給され、抵抗値を変
えてレーザビームの光量を変えるための可変抵抗と、前
記光電流出力手段および可変抵抗の他端とグランドとの
間に共通に介在され、両端間電圧を前記モニタ電圧とし
て出力する抵抗と、を備える構成であるので、従来の半
導体レーザ駆動回路に固定抵抗を一つ増やし、接続パタ
ーンを一部変更しただけの簡単な構成で有りながら、半
導体レーザの光量が大きいほど可変抵抗の抵抗値の変化
に対する光量変化を緩やかにすることができ、設定光量
の調整が極めて容易にすることができる。
As described above, according to the semiconductor laser driving device of the present invention, the light quantity monitoring means has the first end at one end.
And a photocurrent output means for outputting a photocurrent proportional to the amount of the laser beam emitted when the semiconductor laser is driven. A second voltage is supplied to one end, and the resistance is changed to change the resistance value of the laser beam. A variable resistor for changing the amount of light, and a resistor that is interposed in common between the other end of the photocurrent output means and the variable resistor and ground, and outputs a voltage between both ends as the monitor voltage. However, although the conventional semiconductor laser drive circuit has a simple configuration in which the fixed resistance is increased by one and the connection pattern is partially changed, the larger the light amount of the semiconductor laser, the more the change in the light amount with respect to the change in the resistance value of the variable resistor becomes gentler. And the adjustment of the set light quantity can be made extremely easy.

【0036】また、本発明に係る半導体レーザ駆動装置
によれば、前記第2の電圧が、前記第1の電圧よりも小
さく、前記基準電圧よりも大きな値に設定される構成で
あるので、可変抵抗をどのように操作しても、半導体レ
ーザの光量を最大定格未満に抑えることができ、半導体
レーザを破壊してしまうことも皆無にすることができ
る。
According to the semiconductor laser driving device of the present invention, the second voltage is set to a value lower than the first voltage and higher than the reference voltage. Regardless of how the resistor is manipulated, the amount of light of the semiconductor laser can be suppressed below the maximum rating, and the semiconductor laser can be completely destroyed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による半導体レーザ駆動制御回路例を示
す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an example of a semiconductor laser drive control circuit according to the present invention.

【図2】本発明と従来の半導体レーザ駆動制御回路での
可変抵抗値と発光出力の関係を計算したグラフある。
FIG. 2 is a graph showing a relationship between a variable resistance value and a light emission output in the semiconductor laser drive control circuit of the present invention and a conventional semiconductor laser drive control circuit.

【図3】従来の半導体レーザ駆動制御回路例を示す回路
図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a conventional semiconductor laser drive control circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ駆動装置 10 半導体レーザ 20 半導体レーザ駆動制御回路 21 増幅器 22 半導体レーザ駆動回路 30 モニタ回路 31 フォトダイオード 32 可変抵抗 33 固定抵抗 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser drive device 10 Semiconductor laser 20 Semiconductor laser drive control circuit 21 Amplifier 22 Semiconductor laser drive circuit 30 Monitor circuit 31 Photodiode 32 Variable resistance 33 Fixed resistance

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 モニタ電圧と所定の基準電圧とに基づい
て、両電圧が一致するように半導体レーザに流れる駆動
電流を制御する半導体レーザ駆動制御手段と、半導体レ
ーザから出射されたレーザビームの光量に基づいて得ら
れたモニタ電圧を前記半導体レーザ駆動制御手段にフィ
ードバックする光量モニタ手段とを備える半導体レーザ
駆動装置であって、 前記光量モニタ手段は、 一端に第1の電圧が供給され、半導体レーザの駆動時に
出射されたレーザビームの光量に比例した光電流を出力
する光電流出力手段と、 一端に第2の電圧が供給され、抵抗値を変えてレーザビ
ームの光量を変えるための可変抵抗と、 前記光電流出力手段および可変抵抗の他端とグランドと
の間に共通に介在され、両端間電圧を前記モニタ電圧と
して出力する抵抗と、 を備えることを特徴とする半導体レーザ駆動装置。
1. A semiconductor laser drive control means for controlling a drive current flowing through a semiconductor laser based on a monitor voltage and a predetermined reference voltage so that the voltages match each other, and a light amount of a laser beam emitted from the semiconductor laser. A light amount monitoring means for feeding back a monitor voltage obtained based on the above to the semiconductor laser drive control means, wherein the light amount monitoring means has a first voltage supplied to one end thereof, and a semiconductor laser. A photocurrent output means for outputting a photocurrent proportional to the light quantity of the laser beam emitted at the time of driving; a variable resistor for supplying a second voltage to one end and changing the resistance value to change the light quantity of the laser beam; A resistor commonly interposed between the other end of the photocurrent output means and the variable resistor and ground, and outputting a voltage between both ends as the monitor voltage; A semiconductor laser driving apparatus comprising: a.
【請求項2】 前記第2の電圧は、前記第1の電圧より
も小さく、前記基準電圧よりも大きな値に設定されるこ
とを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザ駆動装
置。
2. The semiconductor laser driving device according to claim 1, wherein the second voltage is set to a value lower than the first voltage and higher than the reference voltage.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006066592A (en) * 2004-08-26 2006-03-09 Mitsubishi Electric Corp Optical transmitter
US7508856B2 (en) 2006-08-29 2009-03-24 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Laser light output control apparatus and image forming apparatus

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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