JPH11328665A - Magnetic disk glass substrate and its manufacture - Google Patents

Magnetic disk glass substrate and its manufacture

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Publication number
JPH11328665A
JPH11328665A JP6886399A JP6886399A JPH11328665A JP H11328665 A JPH11328665 A JP H11328665A JP 6886399 A JP6886399 A JP 6886399A JP 6886399 A JP6886399 A JP 6886399A JP H11328665 A JPH11328665 A JP H11328665A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
peripheral end
glass
magnetic disk
face
glass plate
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6886399A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masami Kaneko
正己 金子
Tsutomu Maruyama
勉 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP6886399A priority Critical patent/JPH11328665A/en
Publication of JPH11328665A publication Critical patent/JPH11328665A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a high strength without using a chemical reinforcement method, decreasing the danger that moisture and organic components are left in a protecting film and prevent a magnetic film from being deteriorated in performance at the time of forming a magnetic disk by etching an inner circumferential end face of a doughnut-shaped glass plate and coating the inner circumferential end face with the protecting film having a specific hardness to a pencil scratch. SOLUTION: A protecting film coating an etched inner circumferential end face is set to have a pencil scratch hardness of not smaller than 5H, preferably not smaller than 6H, particularly preferably not smaller than 8H. The etching process can eliminate deep flaws present at inner and outer circumferential end faces which control a bending strength of a doughnut-shaped glass plate, particularly, deep flaws of the inner circumferential end face which more strongly controls the bending strength. A depth of the etching is preferably 15-40 μm. The protecting film preferably uses a silica layer obtained by setting a coat composition including polysilazane.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高強度の磁気ディ
スク用ガラス基板およびその製造方法に関する。
The present invention relates to a high-strength glass substrate for a magnetic disk and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気ディスク記憶装置等に使用される磁
気ディスク用の基板としては、従来、主としてアルミニ
ウム合金基板が使用されてきたが、高密度記録化の要請
に伴い、アルミニウム合金基板に比較して素材そのもの
が硬く、かつ平坦性、平滑性に優れたガラス基板が使用
され始めている。しかし、脆性材料であるガラスからな
る磁気ディスク用ガラス基板は、取扱い時または使用時
に破損する場合があり、問題の一つとされている。
2. Description of the Related Art Conventionally, aluminum alloy substrates have been mainly used as substrates for magnetic disks used in magnetic disk storage devices and the like. As a result, glass substrates having a hard material itself and excellent flatness and smoothness have begun to be used. However, a glass substrate for a magnetic disk made of glass, which is a brittle material, may be broken during handling or use, which is one of the problems.

【0003】ドーナツ状の磁気ディスク用ガラス基板の
機械的強度を支配する因子の一つは、磁気ディスク使用
中に最大引張応力が発生するガラス基板内周端面に存在
する傷である。しかし、磁気ディスク用ガラス基板にお
いては、内周端面および外周端面(以下、これらを合せ
て内外周端面という。)の面粗さは、きわめて高い平坦
度および平滑度が要求される主表面(内外周端面を除く
面)と比べて、粗いのが一般的である。その理由は、内
外周端面は、そもそもガラス板から円形に切り出し中央
部を穿孔した切断面であること、磁気記録に関与しない
こと、および曲面であり仕上げ加工コストがきわめて高
くなるため仕上げ加工を充分に行いえないこと、等であ
る。
One of the factors that govern the mechanical strength of a doughnut-shaped glass substrate for a magnetic disk is a flaw existing on the inner peripheral end surface of the glass substrate where a maximum tensile stress occurs during use of the magnetic disk. However, in a glass substrate for a magnetic disk, the inner and outer peripheral end surfaces (hereinafter, collectively referred to as inner and outer peripheral end surfaces) have surface roughnesses of the main surfaces (inner and outer surfaces) which require extremely high flatness and smoothness. The surface is generally rougher than the surface except for the peripheral end surface). The reason for this is that the inner and outer peripheral end faces are cut out from the glass plate in the first place in a circular shape, and the center part is perforated.They are not involved in magnetic recording. And what cannot be done.

【0004】内外周端面の傷の深さを低減し機械的強度
をより大きくするために、#500メッシュよりも細か
い砥粒による内外周端面の仕上げ加工も行われている
が、それでも内外周端面にかなり深い傷が残存してい
る。内外周端面の仕上げをより向上させるためには、す
なわち粗さをより低減するためには、段階的に粒度の細
かい砥粒を用いた多段階加工が必要となる。しかしこの
多段階加工には、さらに大幅に生産性およびコストを著
しく悪化させる問題がある。
In order to reduce the depth of the scratches on the inner and outer peripheral surfaces and increase the mechanical strength, finishing of the inner and outer peripheral surfaces with abrasive grains finer than # 500 mesh is also performed. There are still quite deep scratches on the surface. In order to further improve the finish of the inner and outer peripheral end faces, that is, to further reduce the roughness, multi-stage processing using finely-grained abrasive grains is required. However, this multi-step processing has the problem that productivity and cost are significantly worsened.

【0005】従来、磁気ディスク用ガラス基板の機械的
強度をより大きくするためには、内外周端面の仕上げを
向上させるよりも、イオン交換法と呼ばれる化学強化法
を用いるのが一般的である。前記イオン交換法とは、ガ
ラスをKを含む溶融塩、たとえば溶融硝酸カリウム塩に
浸漬し、ガラス表面のNaイオンと溶融硝酸カリウム塩
のKイオンとをイオン交換してガラス表面に圧縮層を形
成しガラスの強度を高める方法である。しかし、化学強
化法による強度向上の効果があるのは、所定割合のNa
またはLiを含有するガラスに対する場合だけである。
Conventionally, in order to further increase the mechanical strength of a glass substrate for a magnetic disk, a chemical strengthening method called an ion exchange method is generally used rather than improving the finish of the inner and outer peripheral end faces. The ion exchange method refers to a method in which a glass is immersed in a molten salt containing K, for example, a molten potassium nitrate, and a Na ion on the glass surface and a K ion of the molten potassium nitrate are ion-exchanged to form a compression layer on the glass surface to form a glass. This is a method of increasing the strength of the hologram. However, the effect of improving the strength by the chemical strengthening method is that a predetermined ratio of Na
Or only for glasses containing Li.

【0006】こうした化学強化法によりガラス表面に導
入される表面圧縮応力層の深さおよび圧縮応力値の大き
さは溶融塩の温度および浸漬時間等の条件によってある
程度変化し、溶融塩の温度を高め、浸漬時間を長くする
ことにより、より高強度化を図れる。しかし、実際には
それよりもむしろガラス自身の組成に大きく依存する。
すなわち、一般に深い圧縮応力層を得、高強度化を得る
には、ガラス組成の中でNaまたはLiの含有量を増や
す必要がある。
The depth and the magnitude of the compressive stress value of the surface compressive stress layer introduced on the glass surface by such a chemical strengthening method vary to some extent depending on conditions such as the temperature of the molten salt and the immersion time. By increasing the immersion time, higher strength can be achieved. However, in practice, it depends more heavily on the composition of the glass itself.
That is, generally, in order to obtain a deep compressive stress layer and obtain high strength, it is necessary to increase the content of Na or Li in the glass composition.

【0007】一方、磁気ディスクでは、そのガラス基板
表面にきわめて薄い金属または合金の磁性膜が形成され
るが、ガラス中のNa等のアルカリ金属成分が増加する
と、このアルカリ金属成分が前記磁性膜を腐食させる問
題がある。
On the other hand, in a magnetic disk, a very thin metal or alloy magnetic film is formed on the surface of a glass substrate. When an alkali metal component such as Na in glass increases, the alkali metal component causes the magnetic film to be damaged. There is a problem of corrosion.

【0008】この問題に対する対策として、アルカリ金
属成分の磁性膜への侵入を防止する下地層を磁性膜の下
に形成することが考えられる。しかし、この場合下地層
を充分厚くすることが必要であり、特に、アルカリ金属
成分を多く含むガラスの場合には、下地層の厚さをかな
り厚くしなければならない。また、この下地層をスパッ
タ法、真空蒸着法等によりドーナツ状のガラス基板表面
に形成する場合、内外周端面に充分な厚さの下地層を形
成するのは難しく、そのため内外周端面近傍の磁性膜は
腐食しやすくなる。
As a countermeasure against this problem, it is conceivable to form an underlayer under the magnetic film to prevent an alkali metal component from entering the magnetic film. However, in this case, it is necessary to make the underlayer sufficiently thick. In particular, in the case of glass containing a large amount of an alkali metal component, the thickness of the underlayer must be considerably increased. Also, when this underlayer is formed on the surface of a doughnut-shaped glass substrate by a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like, it is difficult to form an underlayer having a sufficient thickness on the inner and outer peripheral end faces. The membrane becomes more susceptible to corrosion.

【0009】このようなアルカリ金属成分による磁性膜
の腐食を防止するためには、アルカリ金属含有量が少な
いガラスを用いることが好ましい。一方、ガラス中のL
iまたはNaの量が少なくすると、イオン交換により発
生するガラス表面の圧縮応力層の深さが小さくなり、ガ
ラス表面に存在する傷の深さよりも小さくなる。そのた
め化学強化の効果は小さく、充分な強度が得られなくな
る問題があった。
In order to prevent such a corrosion of the magnetic film by the alkali metal component, it is preferable to use glass having a low alkali metal content. On the other hand, L in glass
When the amount of i or Na is small, the depth of the compressive stress layer on the glass surface generated by ion exchange becomes small, and becomes smaller than the depth of the flaw existing on the glass surface. Therefore, there is a problem that the effect of the chemical strengthening is small and sufficient strength cannot be obtained.

【0010】さらに、磁気ディスク用ガラス基板は、ガ
ラス基板の剛性が高くその板厚を薄くできる点でも優れ
ている。しかしガラス基板の板厚が薄い場合、化学強化
法によって形成された表面圧縮応力層の深さが過度に大
きくなると、ガラス基板の板厚方向の中心部に大きな引
張応力が発生し、かえって強度の低下を招くおそれがあ
る。
Further, the glass substrate for a magnetic disk is also excellent in that the rigidity of the glass substrate is high and the thickness thereof can be reduced. However, when the thickness of the glass substrate is small, if the depth of the surface compressive stress layer formed by the chemical strengthening method becomes excessively large, a large tensile stress is generated at the center in the thickness direction of the glass substrate, and the strength is rather reduced. There is a risk of lowering.

【0011】また、化学強化法ではガラスを450℃以
上の溶融塩中に浸漬するため、ガラス表面が溶融塩によ
って汚染され、この溶融塩を除去するために化学強化実
施後に研磨を行わなければならなかった。加えて、45
0℃以上という高温のためにガラス基板の平坦度が悪化
するおそれがあった。
Further, in the chemical strengthening method, glass is immersed in a molten salt at 450 ° C. or higher, so that the glass surface is contaminated with the molten salt, and polishing must be performed after chemical strengthening to remove the molten salt. Did not. In addition, 45
Due to the high temperature of 0 ° C. or more, the flatness of the glass substrate might be deteriorated.

【0012】一方、一般のガラス製品の表面処理方法と
してフッ酸エッチング処理が広く知られているが、磁気
ディスク用ガラス基板に対しては、従来、フッ酸エッチ
ング処理は好ましくないとされている。その理由は、過
度のエッチング処理はガラス基板の表面に高い突起を形
成するからである。すなわち、磁気ディスク記憶装置で
は、高速回転する磁気ディスク面から10〜50nm離
れた高さを磁気ヘッドが飛行するため、過度のエッチン
グにより生じた高い突起は、ヘッドクラッシュを引き起
こし、磁気ディスクの記録面全体の破壊をもたらすから
である。
On the other hand, hydrofluoric acid etching is widely known as a surface treatment method for general glass products. However, hydrofluoric acid etching is conventionally not preferable for glass substrates for magnetic disks. The reason is that an excessive etching process forms high protrusions on the surface of the glass substrate. That is, in the magnetic disk storage device, since the magnetic head flies at a height of 10 to 50 nm away from the surface of the magnetic disk rotating at high speed, a high protrusion caused by excessive etching causes a head crash, and the recording surface of the magnetic disk It causes total destruction.

【0013】以上のような問題を解決するガラス基板と
して、特開平2−301017には、内周側面または内
周側面および内周に沿った表面部に厚さ0.2〜50μ
mの酸化物の連続膜または酸化物を主成分とする連続膜
が形成されている情報記録ディスク用ガラス基板が開示
されている。
As a glass substrate for solving the above-mentioned problems, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-301017 discloses a glass substrate having a thickness of 0.2 to 50 .mu.
A glass substrate for an information recording disk in which a continuous film of an oxide of m or a continuous film containing an oxide as a main component is formed is disclosed.

【0014】前記した、酸化物の連続膜または酸化物を
主成分とする連続膜は、Si、Ti、Al、およびZr
のうちの少なくとも1種を含むことが好ましい、とされ
ている。また、円形加工されたガラスディスクをフッ酸
またはバッファードフッ酸によってエッチングしたり、
硫酸、硝酸等でリーチングした後に前記連続膜を設ける
ことは、傷自体の除去の点でいっそう有効である、と記
載されている。
The above-described continuous film of oxide or a continuous film containing oxide as a main component is made of Si, Ti, Al, and Zr.
It is preferable to include at least one of the above. In addition, the circular processed glass disk is etched with hydrofluoric acid or buffered hydrofluoric acid,
It is described that providing the continuous film after leaching with sulfuric acid, nitric acid or the like is more effective in removing the scratch itself.

【0015】さらに、前記連続膜の形成にあたっては、
溶液またはスラリー状態で塗布し、その後乾燥、熱処理
して固化膜とする、いわゆるウエットプロセスを用いる
必要がある、と記載されている。また、エタノールに分
散させたコロイド状シリカと、ケイ酸エチルを硝酸水溶
液で加水分解したゾル液とを用いて厚さ2μmのSiO
2連続膜をガラスディスク表面に形成した実施例、モノ
メチルトリメトキシシランと水ガラス系コロイダルシリ
カと酢酸とを用いて厚さ5μmの有機基を一部含有した
SiO2連続膜をガラスディスク表面に形成した実施
例、が記載されている。
Further, in forming the continuous film,
It is described that it is necessary to use a so-called wet process in which a solidified film is formed by applying a solution or slurry, followed by drying and heat treatment. Also, a 2 μm thick SiO 2 is prepared by using colloidal silica dispersed in ethanol and a sol solution obtained by hydrolyzing ethyl silicate with an aqueous nitric acid solution.
Forming embodiment two continuous film was formed on a glass disk surface, the SiO 2 continuous film containing some organic groups having a thickness of 5μm using a monomethyl trimethoxysilane and water glass-based colloidal silica and acid to the glass disc surface Examples have been described.

【0016】しかし、特開平2−301017に開示さ
れた連続膜には水分や有機物が残りやすい。このような
連続膜が表面に形成されているガラス基板を磁気ディス
ク製造工程の真空プロセスに投入すると、連続膜に残存
している水分や有機物に起因するガス発生が起こり、磁
性膜の性能を低下させるおそれがある。また、前記連続
膜を形成するためには、塗布液のpHおよび粘度の高精
度の調整が必要であり、作業性の点で問題があった。
However, the continuous film disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-301017 tends to remain with water and organic substances. When a glass substrate having such a continuous film formed on its surface is put into a vacuum process in the magnetic disk manufacturing process, gas generation occurs due to moisture and organic substances remaining in the continuous film, which degrades the performance of the magnetic film. May be caused. Further, in order to form the continuous film, it is necessary to adjust the pH and viscosity of the coating solution with high accuracy, and there is a problem in workability.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上で述べた
ような問題を解決する高強度の磁気ディスク用ガラス基
板およびその製造方法の提供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a high-strength glass substrate for a magnetic disk and a method for manufacturing the same, which solve the above-mentioned problems.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明は、ドーナツ状ガ
ラス板であって、その内周端面がエッチング処理されて
おり、かつ、エッチング処理された内周端面が、鉛筆引
っかき値5H以上である硬さを有する保護膜により被覆
されている磁気ディスク用ガラス基板、および、ドーナ
ツ状ガラス板をエッチング処理し、次いで該ドーナツ状
ガラス板の内周端面を鉛筆引っかき値5H以上である硬
さを有する保護膜で被覆する磁気ディスク用ガラス基板
の製造方法、を提供する。
According to the present invention, there is provided a donut-shaped glass plate, the inner peripheral end surface of which is etched, and the etched inner peripheral end surface has a pencil scratch value of 5H or more. A glass substrate for a magnetic disk covered with a protective film having hardness and a donut-shaped glass plate are subjected to an etching treatment, and then the inner peripheral end surface of the donut-shaped glass plate has a hardness of a pencil scratch value of 5H or more. A method for producing a glass substrate for a magnetic disk covered with a protective film.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の磁気ディスク用ガラス基
板の形状はドーナツ状、すなわち中心部が穿孔された円
盤状であり、その寸法はmm表示で、a)内径20、外
径65、板厚0.635、b)内径25、外径84、板
厚0.635、c)内径25、外径95、板厚0.8、
d)内径25、外径84、板厚1.0、またはe)内径
25、外径95、板厚1.0、等種々のものがあり、特
に限定されない。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The glass substrate for a magnetic disk according to the present invention has a donut shape, that is, a disk shape with a perforated center, and its dimensions are shown in mm. A) Inner diameter 20, outer diameter 65, plate Thickness 0.635, b) inner diameter 25, outer diameter 84, plate thickness 0.635, c) inner diameter 25, outer diameter 95, plate thickness 0.8,
There are various types such as d) inner diameter 25, outer diameter 84, plate thickness 1.0, or e) inner diameter 25, outer diameter 95, plate thickness 1.0, and there is no particular limitation.

【0020】発明におけるドーナツ状ガラス板は、所定
の半径の円盤の形状を有するガラス板であり、該円盤の
中心と同じ中心を有する円が穿孔された形状を有するガ
ラス板である。
The donut-shaped glass plate in the present invention is a glass plate having a shape of a disk having a predetermined radius, and a shape having a shape in which a circle having the same center as the center of the disk is perforated.

【0021】本発明の磁気ディスク用ガラス基板におい
ては、ドーナツ状ガラス板の内周端面がエッチング処理
されており、該内周端面が鉛筆引っかき値5H以上であ
る硬さを有する保護膜により被覆されている。これによ
り内周端面に傷がつきにくくなる。
In the glass substrate for a magnetic disk of the present invention, the inner peripheral end surface of the donut-shaped glass plate is etched, and the inner peripheral end surface is covered with a protective film having a hardness of not less than a pencil scratch value of 5H. ing. This makes it difficult for the inner peripheral end surface to be damaged.

【0022】前記エッチング処理には、一般的なガラス
のエッチング方法であるエッチング液を用いたウェット
エッチング方法、エッチングガスを用いたドライエッチ
ング方法、等が使用できる。なかでも、フッ酸液、フツ
硫酸液、ケイフッ化水素酸などのエッチング液を用いた
ウェットエッチング方法が好適に使用できるが、フツ硫
酸液を用いた方法が特に好適に使用できる。なお、この
エッチング処理は、ガラス基板表面に高い突起を形成し
ない範囲で行う。
For the etching treatment, a general glass etching method such as a wet etching method using an etching solution, a dry etching method using an etching gas, or the like can be used. Among them, a wet etching method using an etching solution such as a hydrofluoric acid solution, a fluorosulfuric acid solution, or hydrofluoric acid can be preferably used, and a method using a fluorosulfuric acid solution can be particularly preferably used. Note that this etching treatment is performed in a range where a high protrusion is not formed on the surface of the glass substrate.

【0023】また、エッチング処理に先立って、ドーナ
ツ状ガラス板の内外周端面、特に内周端面を#200〜
#1000メッシュ程度の砥粒により仕上げ加工を行う
ことが好ましい。
Prior to the etching process, the inner and outer peripheral end faces, particularly the inner peripheral end face of the donut-shaped glass plate are # 200 to # 200.
It is preferable to perform the finishing process using abrasive grains of about # 1000 mesh.

【0024】エッチング処理により、ドーナツ状ガラス
板の曲げ強度を支配する内外周端面に存在する深い傷、
特に曲げ強度をより強く支配する内周端面の深い傷を除
去できる。エッチング処理のエッチング深さは、好まし
くは15〜40μmである。15μm未満では、特に内
周端面に存在する深い傷の除去が不充分となり、機械的
強度が低下するおそれがある。40μm超では、ガラス
基板表面に高い突起を形成するおそれがある。
By the etching treatment, deep scratches existing on the inner and outer peripheral end faces that govern the bending strength of the donut-shaped glass plate,
In particular, deep flaws on the inner peripheral end face that more strongly governs bending strength can be removed. The etching depth of the etching treatment is preferably 15 to 40 μm. If it is less than 15 μm, the removal of deep flaws, especially on the inner peripheral end face, becomes insufficient, and the mechanical strength may be reduced. If it exceeds 40 μm, high projections may be formed on the surface of the glass substrate.

【0025】内周端面を被覆する保護膜の硬さは、鉛筆
引っかき値5H以上である。4H以下であると、保護膜
被覆後の磁気ディスク用ガラス基板の取り扱い等にとも
なって発生する傷が保護膜を貫通して内周端面に達し、
機械的強度が低下するおそれがある。好ましくは6H以
上、より好ましくは7H以上、特に好ましくは8H以上
である。なお、前記鉛筆引っかき値は、JIS K54
00の8.4.2(手かき法)に準じて鉛筆のしんで保
護膜を引っかいて調べ、鉛筆の濃度記号で表わしたもの
である。
The hardness of the protective film covering the inner peripheral end face is a pencil scratch value of 5H or more. If it is 4H or less, scratches generated due to handling of the glass substrate for a magnetic disk after coating with the protective film penetrate the protective film and reach the inner peripheral end face,
Mechanical strength may be reduced. It is preferably at least 6H, more preferably at least 7H, particularly preferably at least 8H. In addition, the pencil scratch value is JIS K54.
According to 8.4.2 (hand-drawing method) of No. 00, the protective film was scratched with a pencil and examined.

【0026】前記保護膜としては、ポリシラザンを含む
被覆組成物(以下、硬化性被覆組成物という。)を硬化
させたシリカ層を使用することが好ましい。ポリシラザ
ンは有機溶剤に可溶な無機ポリマーであり、そのため前
記シリカ層に有機基が残存するおそれが少なく、その結
果磁気ディスク製造工程の真空プロセスにおいてガスが
発生するおそれが少ない。また、水分が前記シリカ層に
残存するおそれも少ない。以上のことから、前記真空プ
ロセスにおけるガス発生に起因する磁性膜の性能劣化が
起こりにくい。
As the protective film, it is preferable to use a silica layer obtained by curing a coating composition containing polysilazane (hereinafter referred to as a curable coating composition). Polysilazane is an inorganic polymer that is soluble in an organic solvent. Therefore, organic groups are less likely to remain in the silica layer, and as a result, gas is less likely to be generated in a vacuum process in a magnetic disk manufacturing process. In addition, there is little possibility that moisture will remain in the silica layer. From the above, performance degradation of the magnetic film due to gas generation in the vacuum process is unlikely to occur.

【0027】前記硬化性被覆組成物は、ポリシラザン以
外に通常は溶剤を含む。また、溶剤以外に触媒やその他
の添加剤を含んでもよい。ポリシラザンは、(−Si−
N−)の単位を2以上有する重合体であり、この化学式
においてSi原子(4価)の残りの2つの結合手、N原
子(3価)の残りの1つの結合手には、それぞれH原子
や有機基(アルキル基など)が結合している。また、前
記繰り返し単位のみからなる線状構造の重合体ばかりで
なく、前記Si原子の残りの2つの結合手の一方または
両方と前記窒素原子の結合手とが結合して環状構造が形
成されていてもよい。重合体は環状構造のみの繰り返し
からなっていてもよく、一部に環状構造を有する線状の
重合体であってもよい。
The curable coating composition usually contains a solvent in addition to polysilazane. Further, a catalyst and other additives may be contained in addition to the solvent. Polysilazane is (-Si-
A polymer having two or more units of N-), and in this chemical formula, the remaining two bonds of Si atoms (tetravalent) and the remaining one bond of N atoms (trivalent) are H atoms, respectively. Or an organic group (such as an alkyl group). In addition, not only a polymer having a linear structure consisting of the repeating unit alone, but also one or both of the remaining two bonds of the Si atom and the bond of the nitrogen atom are bonded to form a cyclic structure. You may. The polymer may be composed of a repeating cyclic structure alone, or may be a linear polymer partially having a cyclic structure.

【0028】これらポリシラザンについては、たとえば
特開平9−31333やそこで引用されている文献に記
載されているようなポリシラザンがあり、そのようなポ
リシラザンを本発明におけるポリシラザンとして使用で
きる。また、特開平9−31333やそこで引用されて
いる文献に記載されているような変性ポリシラザンもま
た本発明におけるポリシラザンとして使用できる。
These polysilazanes include, for example, polysilazanes described in JP-A-9-31333 and the documents cited therein, and such polysilazanes can be used as polysilazanes in the present invention. Modified polysilazane described in JP-A-9-31333 and the literature cited therein can also be used as the polysilazane in the present invention.

【0029】ポリシラザンは酸素存在下で分解しN原子
がO原子に置換してシリカが形成される。ポリシラザン
から形成されるシリカは加水分解性シラン化合物から形
成されるシリカと比較してより緻密である。たとえば、
ペルヒドロポリシラザンから形成されたシリカは、4官
能性の加水分解性シラン化合物(たとえばテトラアルコ
キシシラン)から形成されたシリカに比較してより緻密
であり耐摩耗性等の表面特性が優れている。
Polysilazane is decomposed in the presence of oxygen, and N atoms are replaced by O atoms to form silica. Silica formed from polysilazane is more dense than silica formed from hydrolyzable silane compounds. For example,
Silica formed from perhydropolysilazane is denser and has better surface properties such as abrasion resistance than silica formed from a tetrafunctional hydrolyzable silane compound (eg, tetraalkoxysilane).

【0030】ポリシラザンとしては実質的に有機基を含
まないポリシラザン(ペルヒドロポリシラザン)、アル
コキシ基などの加水分解性基がSi原子に結合したポリ
シラザン、Si原子やN原子にアルキル基などの有機基
が結合しているポリシラザン(以下、後2者を有機タイ
プポリシラザンという。)などがある。
Examples of the polysilazane include polysilazane (perhydropolysilazane) substantially free of an organic group, polysilazane in which a hydrolyzable group such as an alkoxy group is bonded to a Si atom, and an organic group such as an alkyl group in a Si atom or an N atom. And polysilazane bonded thereto (hereinafter, the latter two are referred to as organic type polysilazane).

【0031】ポリシラザンは、鎖状、環状もしくは架橋
構造を有する重合体、または分子内にこれらの複数の構
造を有する重合体の混合物からなる。ポリシラザンの分
子量は数平均分子量で200〜50000であることが
好ましい。数平均分子量が200未満では硬化しても均
一なシリカ層となりにくい。また、数平均分子量が50
000超では溶剤に溶解しにくくなり、また前記硬化性
被覆組成物が粘稠になるおそれがある。
The polysilazane is composed of a polymer having a chain, cyclic or crosslinked structure, or a mixture of polymers having a plurality of these structures in the molecule. The polysilazane preferably has a number average molecular weight of 200 to 50,000. When the number average molecular weight is less than 200, it is difficult to form a uniform silica layer even when cured. In addition, the number average molecular weight is 50
If it exceeds 000, it becomes difficult to dissolve in a solvent, and the curable coating composition may become viscous.

【0032】ポリシラザンを溶解する溶剤としては、脂
肪族炭化水素、脂環式炭化水素、芳香族炭化水素等の炭
化水素溶媒、ハロゲン化炭化水素溶媒、脂肪族エーテ
ル、脂環式エーテル等のエーテル類が使用できる。具体
的には、ペンタン、ヘキサン、イソヘキサン、メチルペ
ンタン、ヘプタン、イソヘプタン、オクタン、イソオク
タン、シクロペンタン、メチルシクロペンタン、シクロ
ヘキサン、メチルシクロヘキサン、ベンゼン、トルエ
ン、キシレン、エチルベンゼン等の炭化水素、塩化メチ
レン、クロロホルム、四塩化炭素、ブロモホルム、塩化
エチレン、塩化エチリデン、トリクロロエタン、テトラ
クロロエタン等のハロゲン化炭化水素、エチルエーテ
ル、イソプロピルエーテル、エチルブチルエーテル、ブ
チルエーテル、ジオキサン、ジメチルジオキサン、テト
ラヒドロフラン、テトラヒドロピラン等のエーテル類な
どがある。
Examples of the solvent for dissolving polysilazane include hydrocarbon solvents such as aliphatic hydrocarbons, alicyclic hydrocarbons and aromatic hydrocarbons, halogenated hydrocarbon solvents, ethers such as aliphatic ethers and alicyclic ethers. Can be used. Specifically, pentane, hexane, isohexane, methylpentane, heptane, isoheptane, octane, isooctane, cyclopentane, methylcyclopentane, cyclohexane, methylcyclohexane, benzene, toluene, xylene, hydrocarbons such as ethylbenzene, methylene chloride, chloroform Halogenated hydrocarbons such as carbon tetrachloride, bromoform, ethylene chloride, ethylidene chloride, trichloroethane, and tetrachloroethane; and ethers such as ethyl ether, isopropyl ether, ethyl butyl ether, butyl ether, dioxane, dimethyl dioxane, tetrahydrofuran, and tetrahydropyran. is there.

【0033】これらの溶剤を使用する場合、ポリシラザ
ンの溶解度や溶剤の蒸発速度を調節するために複数の種
類の溶剤を混合して使用してもよい。
When these solvents are used, a plurality of types of solvents may be mixed and used for adjusting the solubility of polysilazane and the evaporation rate of the solvent.

【0034】溶剤の使用量は、前記硬化性被覆組成物の
塗布方法およびポリシラザンの構造や平均分子量などに
よって異なるが、固形分濃度が0. 5〜80重量%とな
るようにすることが好ましい。
The amount of the solvent used varies depending on the method of applying the curable coating composition, the structure of polysilazane, the average molecular weight, and the like, but it is preferable that the solid content be 0.5 to 80% by weight.

【0035】ポリシラザンの硬化温度を低下させるため
に通常は触媒が使用される。触媒の種類や量を選ぶこと
により、より低温で硬化でき、場合によっては室温で硬
化できる。また、硬化を行う雰囲気としては、空気など
の酸素の存在する雰囲気であることが好ましい。
A catalyst is usually used to lower the curing temperature of the polysilazane. By selecting the type and amount of the catalyst, curing can be performed at a lower temperature, and in some cases, at room temperature. In addition, the atmosphere in which the curing is performed is preferably an atmosphere in which oxygen such as air is present.

【0036】ポリシラザンの硬化によりそのN原子がO
原子に置換しシリカが生成する。充分な酸素の存在する
雰囲気中で硬化させることにより、緻密なシリカ層が形
成される。また、水や水蒸気による処理も低温での硬化
に有効である(特開平7−223867参照)。
When the polysilazane is cured, its N atom becomes O
Substitution into atoms produces silica. By curing in an atmosphere in which sufficient oxygen exists, a dense silica layer is formed. Further, treatment with water or steam is also effective for curing at a low temperature (see JP-A-7-223867).

【0037】触媒としては、より低温でポリシラザンを
硬化できる触媒を用いることが好ましい。そのような触
媒としては、たとえば、金、銀、パラジウム、白金、ニ
ッケルなどの金属の微粒子からなる金属触媒(特開平7
−196986参照)、アミン類や酸類(特開平9−3
1333参照)、がある。アミン類としては、たとえ
ば、アルキルアミン、ジアルキルアミン、トリアルキル
アミン、アリールアミン、ジアリールアミン、環状アミ
ンなどがある。酸類としては、たとえば酢酸などの有機
酸や塩酸などの無機酸がある。
As the catalyst, it is preferable to use a catalyst capable of curing polysilazane at a lower temperature. As such a catalyst, for example, a metal catalyst composed of fine particles of a metal such as gold, silver, palladium, platinum and nickel (Japanese Patent Laid-Open No.
-19686), amines and acids (JP-A-9-3)
1333). Examples of the amines include an alkylamine, a dialkylamine, a trialkylamine, an arylamine, a diarylamine, and a cyclic amine. Examples of the acids include organic acids such as acetic acid and inorganic acids such as hydrochloric acid.

【0038】金属触媒の微粒子の粒径は0.1μmより
小さいことが好ましく、さらに硬化物の透明性を確保す
るためには0.05μmよりも小さいことが好ましい。
加えて、粒径が小さくなるに従い比表面積が増大し触媒
能が増大することより、触媒性能向上の面でもより小さ
い粒径の触媒を使用することが好ましい。アミン類や酸
類はポリシラザン溶液に配合することができ、またアミ
ン類や酸類の溶液(水溶液を含む)やそれらの蒸気(水
溶液からの蒸気を含む)をポリシラザンに接触させるこ
とで硬化を促進させることができる。
The particle diameter of the fine particles of the metal catalyst is preferably smaller than 0.1 μm, and more preferably smaller than 0.05 μm in order to ensure the transparency of the cured product.
In addition, since the specific surface area increases as the particle size decreases and the catalytic ability increases, it is preferable to use a catalyst having a smaller particle size in terms of improving the catalytic performance. Amines and acids can be blended with the polysilazane solution, and the curing of amines and acids (including aqueous solutions) and their vapors (including vapors from aqueous solutions) can be accelerated by contact with the polysilazane. Can be.

【0039】ポリシラザンに触媒を配合して使用する場
合、触媒の配合量としてはポリシラザン100重量部に
対して0.01〜10重量部、より好ましくは0.05
〜5重量部である。配合量が0.01重量部未満では充
分な触媒効果が期待できず、10重量部超では触媒同士
の凝集が起こりやすくなり、透明性を損なうおそれがあ
る。
When a catalyst is used in combination with polysilazane, the amount of the catalyst is preferably 0.01 to 10 parts by weight, more preferably 0.05 to 10 parts by weight, per 100 parts by weight of polysilazane.
-5 parts by weight. If the amount is less than 0.01 part by weight, a sufficient catalytic effect cannot be expected. If the amount is more than 10 parts by weight, aggregation of the catalysts tends to occur, which may impair transparency.

【0040】また、前記硬化性被覆組成物には必要に応
じて紫外線吸収剤、光安定剤、酸化防止剤などの安定
剤、レベリング剤、消泡剤、増粘剤、沈降防止剤、分散
剤、帯電防止剤などの界面活性剤を適宜配合してもよ
い。
The curable coating composition may further contain, if necessary, stabilizers such as an ultraviolet absorber, a light stabilizer, an antioxidant, a leveling agent, an antifoaming agent, a thickener, an antisettling agent, and a dispersant. A surfactant such as an antistatic agent may be appropriately blended.

【0041】前記硬化性被覆組成物を硬化させて得られ
るシリカ層の厚さは0.05〜10μmであることが好
ましい。10μm超では、耐擦傷性のそれ以上の向上が
期待できないうえ、シリカ層が脆くなり磁気ディスク用
ガラス基板のわずかな変形によってもこのシリカ層にク
ラックなどが生じやすくなる。また、0.05μm未満
では、耐擦傷性向上効果が不充分となるおそれがある。
前記硬化性被覆組成物を硬化させて得られるシリカ層の
より好ましい厚さは0.1〜6μm、特に好ましくは
0.1〜4μmである。
The thickness of the silica layer obtained by curing the curable coating composition is preferably 0.05 to 10 μm. If it exceeds 10 μm, no further improvement in scratch resistance can be expected, and the silica layer becomes brittle, so that even a slight deformation of the glass substrate for a magnetic disk tends to cause cracks or the like in this silica layer. If the thickness is less than 0.05 μm, the effect of improving the scratch resistance may be insufficient.
The more preferable thickness of the silica layer obtained by curing the curable coating composition is 0.1 to 6 μm, particularly preferably 0.1 to 4 μm.

【0042】本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造
方法は、ドーナツ状ガラス板に前記エッチング処理を行
い、次いで内周端面を鉛筆引っかき値5H以上である硬
さを有する保護膜で被覆することを特徴とするものであ
る。なお、本発明でいうエッチング処理は、少なくとも
内周端面についてはエッチング処理されることをいう。
The method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the present invention comprises performing the above-mentioned etching treatment on a donut-shaped glass plate, and then coating the inner peripheral end surface with a protective film having a hardness of 5H or more. It is a feature. In addition, the etching process referred to in the present invention means that at least the inner peripheral end face is etched.

【0043】保護膜の被覆は、塗布法を用いて塗布液を
塗布し、焼成等により硬化させて行うのが好ましい。塗
布法を使用する場合、内周端面に塗布液を塗布すること
が必須である。外周端面にも塗布することがより好まし
い。この場合、塗布液が内周端面または内外周端面から
はみだして主表面に存在する場合も含む。
The coating of the protective film is preferably performed by applying a coating solution using a coating method and curing the coating solution by baking or the like. When using a coating method, it is essential to apply a coating liquid to the inner peripheral end face. It is more preferable to apply to the outer peripheral end face. In this case, the case where the coating liquid protrudes from the inner peripheral end face or the inner peripheral end face and exists on the main surface is also included.

【0044】塗布法としては、たとえば次のようなもの
が挙げられる。 (1)刷毛を用いて塗布する刷毛塗り法。 (2)発泡プラスチック等からなるローラブラシの多孔
質表面に塗布液を供給し、該ローラブラシのロールを1
0〜60rpmで回転させながら、ドーナツ状ガラス板
の内周端面または外周端面に接触させて塗布液を転写・
塗布するローラ塗り法。この場合、ドーナツ状ガラス板
も真空吸着して30〜50rpmで回転させることが好
ましい。 (3)ドーナツ状ガラス板を真空吸着して10〜200
rpmで回転させながらその内周端面または外周端面
に、ディスペンサにより所定量の塗布液を供給・塗布す
る直接塗り法。
Examples of the coating method include the following. (1) A brush application method using a brush. (2) Supply the coating liquid to the porous surface of the roller brush made of foamed plastic or the like,
While rotating at 0 to 60 rpm, the coating liquid is transferred and brought into contact with the inner peripheral end surface or the outer peripheral end surface of the donut-shaped glass plate.
Roller coating method to apply. In this case, it is preferable that the donut-shaped glass plate is also vacuum-adsorbed and rotated at 30 to 50 rpm. (3) Donut-shaped glass plate is vacuum-adsorbed to 10 to 200
A direct coating method in which a predetermined amount of a coating liquid is supplied and applied by a dispenser to an inner peripheral end surface or an outer peripheral end surface thereof while rotating at rpm.

【0045】本発明の磁気ディスク用ガラス基板に用い
ることができるガラスは特に限定されないが、耐候性向
上のためには以下のような特性を有するガラスが好まし
い。耐水性:80℃の水にガラスを24時間浸漬したと
きの、ガラスからの成分溶出にともなうガラスの減量
(溶出量)が0.02mg/cm2以下。
The glass that can be used for the glass substrate for a magnetic disk of the present invention is not particularly limited, but glass having the following characteristics is preferable for improving the weather resistance. Water resistance: When the glass is immersed in water at 80 ° C. for 24 hours, the weight loss (elution amount) of the glass due to elution of components from the glass is 0.02 mg / cm 2 or less.

【0046】耐酸性:80℃の0.1規定塩酸水溶液に
ガラスを24時間浸漬したときの、ガラスからの成分溶
出にともなうガラスの減量(溶出量)が0.06mg/
cm 2以下。
Acid resistance: In 0.1 N hydrochloric acid aqueous solution at 80 ° C.
Dissolution of components from glass when glass is immersed for 24 hours
0.06mg /
cm TwoLess than.

【0047】耐アルカリ性:80℃の0.1規定水酸化
ナトリウム水溶液にガラスを24時間浸漬したときの、
ガラスからの成分溶出にともなうガラスの減量(溶出
量)が1mg/cm2以下、より好ましくは0.18m
g/cm2以下。
Alkali resistance: When glass was immersed in a 0.1 N sodium hydroxide aqueous solution at 80 ° C. for 24 hours,
Loss of glass (elution amount) due to elution of components from glass is 1 mg / cm 2 or less, more preferably 0.18 m
g / cm 2 or less.

【0048】また、本発明においては化学強化法の使用
は必須ではないので、化学強化を可能にするという観点
からのNaやLi等のアルカリ金属の含有量下限値は存
在しない。本発明の磁気ディスク用ガラス基板に用いる
ことができるガラスとして、無アルカリガラス、アルカ
リ金属酸化物含有量が1〜20重量%のガラス、たとえ
ばソーダライムシリカガラス、結晶化ガラス、等が例示
される。
In the present invention, since the use of the chemical strengthening method is not essential, there is no lower limit of the content of alkali metals such as Na and Li from the viewpoint of enabling chemical strengthening. Examples of the glass that can be used for the glass substrate for a magnetic disk of the present invention include alkali-free glass, glass having an alkali metal oxide content of 1 to 20% by weight, such as soda lime silica glass and crystallized glass. .

【0049】[0049]

【実施例】(例1)重量%で表示した組成がSiO2
56%、B23:6%、Al23:11%、Fe23
0.05%、Na2O:0.1%、MgO:2%、Ca
O:3%、BaO:15%、SrO:6.5%であるガ
ラスAからなる、外径95mm、内径25mm、厚さ
1.1mmのドーナツ状ガラス板を用意した。このガラ
スの耐水性、耐酸性、耐アルカリ性の各試験における溶
出量(単位:mg/cm2)はそれぞれ、0.01、
0.03、0.67であった。
EXAMPLES (Example 1) The composition expressed in% by weight is SiO 2 :
56%, B 2 O 3: 6%, Al 2 O 3: 11%, Fe 2 O 3:
0.05%, Na 2 O: 0.1%, MgO: 2%, Ca
A donut-shaped glass plate having an outer diameter of 95 mm, an inner diameter of 25 mm, and a thickness of 1.1 mm made of glass A having O: 3%, BaO: 15%, and SrO: 6.5% was prepared. The elution amount (unit: mg / cm 2 ) in each test of water resistance, acid resistance, and alkali resistance of the glass was 0.01,
0.03 and 0.67.

【0050】前記ドーナツ状ガラス板の内外周端面を#
500メッシュアンダーのダイヤモンド砥粒を用いて仕
上げ研磨を行い、内外周の同心度(内周円と外周円の中
心間の距離)が25μm以下、真円度がそれぞれ25μ
m以下となるようにした。次いで、平均粒径9μmのア
ルミナ砥粒を用いてラップ研磨を行い、厚さが約0.9
mmになるまで研削した。このガラス板をさらに、フッ
酸と硫酸をそれぞれ5%含むフツ硫酸液中に15分間浸
漬し、エッチング深さ約20μmのエッチング処理を行
った。
The inner and outer peripheral end faces of the donut-shaped glass plate are #
Finish polishing is performed using diamond abrasive grains of 500 mesh under. The concentricity of the inner and outer circumferences (distance between the center of the inner circumferential circle and the center of the outer circumferential circle) is 25 μm or less and the roundness is 25 μm each
m or less. Next, lap polishing was performed using alumina abrasive grains having an average particle diameter of 9 μm, and the thickness was about 0.9 μm.
mm. This glass plate was further immersed in a hydrofluoric acid solution containing 5% each of hydrofluoric acid and sulfuric acid for 15 minutes to perform an etching treatment with an etching depth of about 20 μm.

【0051】次に、このエッチング処理を行ったガラス
板の主として内外周端面に、数平均分子量が1000で
あり触媒を含有する有機タイプポリシラザン(東燃
(株)製商品名「L710」)のキシレン溶液(固形分
濃度20重量%)を刷毛塗りした。この後、50〜60
℃で10〜20分間、恒温槽で乾燥させた後、400℃
で1時間電気炉にて硬化させた。これによって形成され
た被膜の厚さは、場所によってばらつきがあるが2〜3
μmであった。
Next, a xylene solution of an organic type polysilazane having a number average molecular weight of 1000 and containing a catalyst (trade name “L710” manufactured by Tonen Co., Ltd.) is mainly placed on the inner and outer peripheral end faces of the etched glass plate. (Solid content 20% by weight) was applied by brush. After this, 50-60
After drying in a thermostat at 10 ° C. for 10-20 minutes, 400 ° C.
For 1 hour in an electric furnace. The thickness of the coating thus formed varies depending on the location,
μm.

【0052】この後、この被膜付ガラス板を平均粒径
2.5μmの酸化セリウムを用いてポリッシュ研磨を行
い厚さを約0.81mmとした。この際、内外周端面か
らはみ出した被膜も同時に除去された。以上のようにし
て得られた、内外周端面のみが被膜で被覆されたガラス
基板の内周端面の鉛筆引っかき値を調べた結果、8Hで
あった。
Thereafter, the glass plate with the coating was polished with cerium oxide having an average particle size of 2.5 μm to a thickness of about 0.81 mm. At this time, the coating protruding from the inner and outer peripheral end faces was also removed at the same time. As a result of examining the pencil scratch value of the inner peripheral end face of the glass substrate obtained by coating only the inner and outer peripheral end faces with the coating film obtained as described above, it was 8H.

【0053】(例2)ガラスAからなり、外径が95m
m、内径が25.015〜25.035mm、厚さ0.
85mmのドーナツ状ガラス板を用意した。このドーナ
ツ状ガラス板について、例1と同様にして、仕上げ研
磨、ラップ研磨、エッチング処理、を行った。
(Example 2) It is made of glass A and has an outer diameter of 95 m.
m, inner diameter 25.015 to 25.035 mm, thickness 0.
An 85 mm donut-shaped glass plate was prepared. This donut-shaped glass plate was subjected to finish polishing, lap polishing, and etching treatment in the same manner as in Example 1.

【0054】エッチング処理を行ったドーナツ状ガラス
板の内周端面に、例1と同じ塗布液を直接塗り法により
塗布し、例1と同様にして焼成した。内周端面が被膜で
被覆されたこのドーナツ状ガラス板の内周端面の鉛筆引
っかき値を調べた結果、8Hであった。
The same coating liquid as in Example 1 was applied to the inner peripheral end face of the etched donut-shaped glass plate by a direct coating method, and fired in the same manner as in Example 1. As a result of examining the pencil scratch value of the inner peripheral end face of the donut-shaped glass plate having the inner peripheral end face covered with the coating film, the value was 8H.

【0055】このドーナツ状ガラス板(コート品)につ
いて、磁気ディスクドライブでの使用を模擬した下記加
傷テストを行った。サンプル数は5である。比較のため
に、エッチング処理まで行ったが塗布は行わなかったド
ーナツ状ガラス板(未コート品)についても加傷テスト
を行った。未コート品のサンプル数も5である。結果、
すなわち破壊応力(単位:kgf/mm2)を表1に示
す。
This donut-shaped glass plate (coated product) was subjected to the following damage test simulating use in a magnetic disk drive. The number of samples is 5. For comparison, a scratch test was also performed on a donut-shaped glass plate (uncoated product) that had been subjected to etching but not applied. The number of uncoated samples is also 5. result,
That is, Table 1 shows the breaking stress (unit: kgf / mm 2 ).

【0056】本発明の実施例であるコート品の破壊応力
の最小値は16.1kgf/mm2であるのに対し、比
較例である未コート品は13.4であり、明らかにコー
ト品の強度の方が高い。
The minimum value of the breaking stress of the coated product according to the embodiment of the present invention is 16.1 kgf / mm 2 , whereas the uncoated product as the comparative example is 13.4, which is clearly the value of the coated product. The strength is higher.

【0057】加傷テスト:ステンレス鋼製の円盤上に固
定したステンレス鋼製の円柱(直径:24.96mm、
高さ:8mm)に加傷テストサンプルをはめこみ、前記
円盤表面から7mm離れた高さ(初期位置)からサンプ
ルを落下させた。これを50回繰り返した後、サンプル
を反転し、さらに50回繰り返し落下させた。
Scratch test: a stainless steel cylinder (diameter: 24.96 mm, fixed on a stainless steel disk)
The test sample was inserted into the disk at a height of 8 mm, and the sample was dropped from a height (initial position) 7 mm away from the disk surface. After repeating this 50 times, the sample was inverted and dropped 50 times more.

【0058】以上のようにして加傷したサンプルの破壊
応力を、(株)島津製作所製の強度試験機(商品名:A
UTOGRAPH)を用いて測定した。すなわち、サン
プルの内周上に直径36mmのステンレス鋼製の球をセ
ットし、該球を介して30mm/分の押し込み速度で加
圧してサンプルを破壊し、ロードセルで検出したサンプ
ル破壊時の荷重から破壊応力を算出した。
The fracture stress of the sample thus injured was measured using a strength tester (trade name: A, manufactured by Shimadzu Corporation).
(UTOGRAPH). That is, a stainless steel ball having a diameter of 36 mm is set on the inner periphery of the sample, and the sample is broken by applying a pressure of 30 mm / min through the ball to break the sample. The breaking stress was calculated.

【0059】[0059]

【表1】 [Table 1]

【0060】(例3)重量%で表示した組成がSi
2:61.2%、Al23:11.5%、Na2O:1
6%、K2O:2.1%、Li2O:2.9%、MgO:
0.8%、CaO:2.9%、TiO2:0.5%、Z
rO2:1.9%、SO3:0.2%、であるガラスBか
らなり、外径が95mm、内径が25.015〜25.
035mm、厚さ0.85mmのドーナツ状ガラス板を
用意した。
(Example 3) The composition expressed by weight% is Si
O 2 : 61.2%, Al 2 O 3 : 11.5%, Na 2 O: 1
6%, K 2 O: 2.1 %, Li 2 O: 2.9%, MgO:
0.8%, CaO: 2.9%, TiO 2: 0.5%, Z
rO 2: 1.9%, SO 3 : made of 0.2%, a glass B, an outer diameter of 95 mm, an inner diameter of 25.015 to 25.
A donut-shaped glass plate having a thickness of 035 mm and a thickness of 0.85 mm was prepared.

【0061】ドーナツ状ガラス板のガラスがガラスAで
はなくガラスBである点を除いて例2と同じようにし
て、サンプル(コート品および未コート品)を作製し、
加傷テストを行った。破壊応力(単位:kgf/m
2)の測定結果を表2に示す。なお、本発明の実施例
であるコート品の内周端面の鉛筆引っかき値は8Hであ
った。
Samples (coated and uncoated) were prepared in the same manner as in Example 2 except that the glass of the donut-shaped glass plate was glass B instead of glass A.
A wound test was performed. Breaking stress (unit: kgf / m
Table 2 shows the measurement results of m 2 ). In addition, the pencil scratch value of the inner peripheral end face of the coated product according to the example of the present invention was 8H.

【0062】本発明の実施例であるコート品の破壊応力
の最小値は18.2kgf/mm2であるのに対し、比
較例である未コート品は13.1であり、明らかに本発
明の実施例であるコート品の強度の方が高い。
The minimum value of the breaking stress of the coated product according to the example of the present invention was 18.2 kgf / mm 2 , whereas the uncoated product as the comparative example was 13.1. The strength of the coated product of the embodiment is higher.

【0063】[0063]

【表2】 [Table 2]

【0064】[0064]

【発明の効果】本発明によれば、化学強化を必要とはし
ない高強度の磁気ディスク用ガラス基板およびその製造
方法を提供できる。特に本発明においては保護膜に水分
や有機分が残るおそれは少なく、磁気ディスク製造時に
磁性膜の性能が劣化するおそれはない。
According to the present invention, it is possible to provide a high-strength glass substrate for a magnetic disk which does not require chemical strengthening and a method for manufacturing the same. In particular, in the present invention, there is little possibility that moisture or organic components remain in the protective film, and there is no possibility that the performance of the magnetic film is deteriorated at the time of manufacturing the magnetic disk.

【0065】また、本発明の塗布液、すなわちポリシラ
ザンを含む被覆組成物の粘度は小さく作業性に優れる。
さらに、本発明においては塗布液の温度、pH、等の塗
布条件に関する制限は少なく、この点でも作業性に優れ
る。このように作業性の点での制約が少ないことから保
護膜形成装置に対する制約も少なく、該装置選択の幅が
広い。
The coating solution of the present invention, that is, the coating composition containing polysilazane has a low viscosity and is excellent in workability.
Furthermore, in the present invention, there are few restrictions on the coating conditions such as the temperature and pH of the coating liquid, and the workability is also excellent in this respect. As described above, since there are few restrictions on workability, there are few restrictions on the protective film forming apparatus, and the apparatus can be selected widely.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ドーナツ状ガラス板であって、その内周端
面がエッチング処理されており、かつ、エッチング処理
された内周端面が、鉛筆引っかき値5H以上である硬さ
を有する保護膜により被覆されている磁気ディスク用ガ
ラス基板。
1. A donut-shaped glass plate whose inner peripheral end face is etched and the etched inner peripheral end face is covered with a protective film having a hardness of not less than a pencil scratch value of 5H. Glass substrates for magnetic disks.
【請求項2】前記保護膜が、ポリシラザンを含む被覆組
成物を硬化させたシリカ層である請求項1に記載の磁気
ディスク用ガラス基板。
2. The glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein the protective film is a silica layer obtained by curing a coating composition containing polysilazane.
【請求項3】ドーナツ状ガラス板をエッチング処理し、
次いで該ドーナツ状ガラス板の内周端面を鉛筆引っかき
値5H以上である硬さを有する保護膜で被覆する磁気デ
ィスク用ガラス基板の製造方法。
3. A donut-shaped glass plate is etched,
Then, a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, wherein the inner peripheral end surface of the donut-shaped glass plate is covered with a protective film having a hardness of 5H or more in pencil scratching value.
【請求項4】エッチング処理されたドーナツ状ガラス板
の内周端面にポリシラザンを含む被覆組成物を塗布し、
硬化させて、鉛筆引っかき値5H以上である硬さを有す
る保護膜を形成し、次にドーナツ状ガラス板の主表面を
研磨する、請求項3に記載の磁気ディスク用ガラス基板
の製造方法。
4. A coating composition containing polysilazane is applied to the inner peripheral end face of the doughnut-shaped glass plate subjected to the etching treatment,
The method for producing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 3, wherein the protective film is cured to form a protective film having a pencil scratch value of 5H or more, and then the main surface of the donut-shaped glass plate is polished.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005203080A (en) * 2003-12-19 2005-07-28 Asahi Glass Co Ltd Magnetic disk glass board and its manufacturing method
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