JPH1131956A - Reset signal generating circuit - Google Patents

Reset signal generating circuit

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JPH1131956A
JPH1131956A JP18511797A JP18511797A JPH1131956A JP H1131956 A JPH1131956 A JP H1131956A JP 18511797 A JP18511797 A JP 18511797A JP 18511797 A JP18511797 A JP 18511797A JP H1131956 A JPH1131956 A JP H1131956A
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JP
Japan
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detection
level
circuit
voltage
signal
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JP18511797A
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Japanese (ja)
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Toru Okawa
徹 大川
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To securely prevent a power-on reset circuit from being initialized undesirably. SOLUTION: For example, two voltage level detecting circuits 11 and 12 having different voltage detection levels are prepared; and the detection signal OUT 11 of the voltage level detecting circuit 11 having a higher voltage detection level is connected to the reset input of a latch circuit 21 and the detection signal OUT 12 of the voltage level detecting circuit 12 having a lower voltage detection level is inputted to the set input. The output OUT 21 of the latch circuit 21 is used as a power-on reset signal PONRST. Consequently, the circuit can be reset continuously until the high voltage is reached when the power source is turned on, and is not reset until a voltage which is low to a no- operation-hindrance extent is reached when the source voltage drops.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、リセット信号発
生回路に関するもので、特に、半導体集積回路装置のパ
ワー・オン・リセット回路に用いられるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a reset signal generating circuit, and more particularly to a reset signal generating circuit for use in a power-on reset circuit of a semiconductor integrated circuit device.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体集積回路装置(以下、単
にLSI(Large Scale Integrated circuit)と略記す
る)を動作させる場合、まず最初に、LSI内のラッチ
やレジスタなどの内部回路の出力を論理レベルの“1”
または“0”のいずれかにセットする初期化(リセッ
ト)動作が行われる。
2. Description of the Related Art Generally, when operating a semiconductor integrated circuit device (hereinafter simply referred to as an LSI (Large Scale Integrated circuit)), first, the output of an internal circuit such as a latch or a register in the LSI is set to a logical level. "1" for
Alternatively, an initialization (reset) operation of setting to either “0” is performed.

【0003】通常は、初期化動作のための専用の端子を
用意して、これにLSIの外部のデバイスまたは装置な
どより初期化信号(たとえば、リセット信号)を与える
ことによって内部回路の初期化動作を行う方法か、もし
くは、LSIに対して電源電圧が供給されたことを検出
し、その電源の投入に同期して、LSIの内部で初期化
信号を生成し、これにより内部回路の初期化動作を行う
方法(いわゆる、パワー・オン・リセット)のいずれか
が用いられている。
Usually, a dedicated terminal for an initialization operation is prepared, and an initialization signal (for example, a reset signal) is supplied to the terminal from an external device or device of the LSI to thereby initialize the internal circuit. Alternatively, it is detected that the power supply voltage is supplied to the LSI, and an initialization signal is generated inside the LSI in synchronization with the power-on, thereby performing the initialization operation of the internal circuit. (So-called power-on-reset).

【0004】従来、後者のパワー・オン・リセットによ
る初期化動作を実現するための回路としては、電圧レベ
ル検出回路を用いたパワー・オン・リセット回路が主流
であった。
Conventionally, a power-on reset circuit using a voltage level detection circuit has been mainly used as a circuit for realizing an initialization operation by the latter power-on reset.

【0005】これは、電源投入時の電源電圧の立ち上が
り時間がLSIを使用する環境、つまり、ボードやセッ
トなどの電源ラインの容量と、その電源電圧を供給する
電源あるいは電源用IC(Integrated Circuit)/LS
Iの特性(電流供給能力など)とにより、μsecのオ
ーダーから数百msecという広範囲な時間域にわたる
ために、電源電圧の立ち上がり時間によらず、電源電圧
が設定された電圧検出レベルに達するまでの間は確実に
パワー・オン・リセット信号を出す必要があるためであ
る。
[0005] This is an environment in which the rise time of the power supply voltage at power-on uses an LSI, that is, the capacity of a power supply line such as a board or a set, a power supply for supplying the power supply voltage or a power supply IC (Integrated Circuit). / LS
Due to the characteristics of I (current supply capability, etc.), the power supply voltage extends over a wide time range from the order of μsec to several hundred msec, so that the power supply voltage does not reach the set voltage detection level regardless of the rise time of the power supply voltage. This is because it is necessary to reliably output a power-on reset signal during the period.

【0006】また、このパワー・オン・リセット回路の
場合、電源投入時の電圧上昇の途上の低めの電圧によっ
ても初期化動作が確実に行われるようにするために、高
めの電圧となるまでのしばらくの間はパワー・オン・リ
セット信号が出力されるようにする必要があった。
In addition, in the case of this power-on reset circuit, in order to ensure that the initializing operation is performed even at a low voltage in the course of a voltage rise at the time of turning on the power, a voltage until the voltage is increased to a higher voltage is required. For a while, it was necessary to output the power-on reset signal.

【0007】図11は、上記した電圧レベル検出回路を
用いてパワー・オン・リセット回路を構成した場合の、
電源電圧とパワー・オン・リセット信号との関係を示す
ものである。
FIG. 11 shows a case where a power-on reset circuit is constructed using the above-described voltage level detection circuit.
It shows a relationship between a power supply voltage and a power-on reset signal.

【0008】この場合のパワー・オン・リセット回路で
は、同図(a),(b)にそれぞれ示すように、電源電
圧VDDの立ち上がりが遅いほど、長い時間にわたっ
て、パワー・オン・リセット信号が出力されることにな
る。
In the power-on reset circuit in this case, as shown in FIGS. 1A and 1B, the power-on reset signal is output for a longer time as the rise of the power supply voltage VDD is slower. Will be done.

【0009】しかしながら、上記した従来のパワー・オ
ン・リセット回路は、その電圧検出レベルがある値(一
点)に固定されるものであり、電源投入時に確実に初期
化動作が行われるようにするために、電圧検出レベルを
高めに設定すると、たとえば図12に示すように、デー
タ信号出力回路などの動作時に一時的に低下する電源電
圧VDDの、上記電圧検出レベル以下の電源電圧VDD
´によってパワー・オン・リセット信号が誤出力されて
しまい、不本意な初期化動作が行われるという問題があ
った。
However, the above-described conventional power-on reset circuit has a voltage detection level fixed at a certain value (one point), and is intended to ensure that the initialization operation is performed when the power is turned on. When the voltage detection level is set higher, for example, as shown in FIG. 12, the power supply voltage VDD temporarily lowering during operation of the data signal output circuit or the like, and the power supply voltage VDD lower than the above voltage detection level
'Causes a power-on-reset signal to be erroneously output, causing an unintended initialization operation.

【0010】また、上記したようなパワー・オン・リセ
ット回路のパワー・オン・リセット信号の誤出力を避け
るために、逆に、電圧検出レベルを低めに設定すると、
たとえば、電源電圧VDDの立ち上がりが早くて、すべ
ての内部回路の初期化動作が不十分なうちにパワー・オ
ン・リセット信号の出力が断たれてしまうような場合に
は、電源投入時の初期化動作が確実に実行されなくなる
という問題が発生する。
On the other hand, if the voltage detection level is set lower to avoid erroneous output of the power-on reset signal of the power-on reset circuit as described above,
For example, in the case where the power-on voltage VDD rises quickly and the output of the power-on reset signal is cut off before the initialization operation of all the internal circuits is insufficient, the initialization at power-on is performed. There is a problem that the operation is not executed reliably.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
においては、電圧検出レベルを高めに設定すると、不本
意な初期化動作が行われる場合があり、逆に、電圧検出
レベルを低めに設定すると、電源投入時の初期化動作が
確実に実行されなくなるという問題があった。
As described above, in the prior art, if the voltage detection level is set to a high level, an undesired initialization operation may be performed, and conversely, the voltage detection level is set to a low level. Then, there is a problem that the initialization operation at the time of turning on the power is not performed reliably.

【0012】そこで、この発明は、不本意な初期化動作
が行われるのを確実に防止でき、かつ、電源投入時には
初期化動作が確実に実行されるようにすることが可能な
リセット信号発生回路を提供することを目的としてい
る。
Therefore, the present invention provides a reset signal generating circuit which can reliably prevent an unintended initialization operation from being performed and can surely execute the initialization operation when power is turned on. It is intended to provide.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明のリセット信号発生回路にあっては、半
導体集積回路装置における電源電圧が第1の検出レベル
に達するまでの間、前記半導体集積回路装置の内部回路
を初期化動作させるためのリセット信号を出力する第1
の出力手段と、前記電源電圧が、前記第1の検出レベル
とは異なる第2の検出レベルに達した後に、前記リセッ
ト信号を出力する第2の出力手段とから構成されてい
る。
In order to achieve the above object, in a reset signal generating circuit according to the present invention, the reset signal generating circuit is provided until a power supply voltage in a semiconductor integrated circuit device reaches a first detection level. First output of reset signal for initializing internal circuit of semiconductor integrated circuit device
And second output means for outputting the reset signal after the power supply voltage reaches a second detection level different from the first detection level.

【0014】また、この発明のリセット信号発生回路に
あっては、半導体集積回路装置における電源電圧の上昇
が第1の検出レベル以下のときに、それを検出して第1
の検出信号を出力する第1の電圧レベル検出回路と、前
記電源電圧の下降が、前記第1の検出レベルとは異なる
第2の検出レベル以下のときに、それを検出して第2の
検出信号を出力する第2の電圧レベル検出回路と、前記
第1の検出信号をリセット入力信号、前記第2の検出信
号をセット入力信号とし、前記半導体集積回路装置の内
部回路を初期化動作させるためのリセット信号を出力す
る、フリップフロップからなるラッチ回路とから構成さ
れている。
Further, in the reset signal generating circuit of the present invention, when the rise of the power supply voltage in the semiconductor integrated circuit device is equal to or lower than the first detection level, the reset is detected and the first signal is detected.
A first voltage level detection circuit that outputs a detection signal of the first detection level and a second detection level when the fall of the power supply voltage is equal to or lower than a second detection level different from the first detection level. A second voltage level detection circuit for outputting a signal, a reset input signal using the first detection signal as a set input signal, and an initialization operation of an internal circuit of the semiconductor integrated circuit device using the second detection signal as a set input signal. And a latch circuit composed of a flip-flop that outputs a reset signal.

【0015】さらに、この発明のリセット信号発生回路
にあっては、半導体集積回路装置における電源電圧の上
昇が第1の検出レベル以下のときに、それを検出して第
1の検出信号を出力し、前記電源電圧の下降が、前記第
1の検出レベルとは異なる第2の検出レベル以下のとき
に、それを検出して第2の検出信号を出力する電圧レベ
ル検出回路と、前記第1の検出信号をリセット入力信
号、前記第2の検出信号をセット入力信号とし、前記半
導体集積回路装置の内部回路を初期化動作させるための
リセット信号を出力する、フリップフロップからなるラ
ッチ回路とから構成されている。
Further, in the reset signal generating circuit according to the present invention, when the rise of the power supply voltage in the semiconductor integrated circuit device is equal to or lower than the first detection level, it is detected and the first detection signal is output. A voltage level detection circuit for detecting when the power supply voltage falls below a second detection level different from the first detection level and outputting a second detection signal; A latch circuit composed of a flip-flop for outputting a reset signal for initializing an internal circuit of the semiconductor integrated circuit device using the detection signal as a reset input signal and the second detection signal as a set input signal. ing.

【0016】この発明のリセット信号発生回路によれ
ば、電源電圧の上昇時と下降時とでパワー・オン・リセ
ット信号が発生する電圧に差(いわゆる、ヒステリシス
特性)を持たせることが可能となる。これにより、電源
投入時にはより高い電圧となるまでリセットをかけ続け
ることが可能となり、また、電源電圧の下降時には動作
に支障が出ない程度の低い電圧となるまで、リセットが
かからないようにすることが可能となるものである。
According to the reset signal generation circuit of the present invention, it is possible to provide a difference (so-called hysteresis characteristic) to the voltage at which the power-on reset signal is generated when the power supply voltage rises and falls. . This makes it possible to continue resetting when the power is turned on until a higher voltage is reached, and to prevent the reset from being applied when the power supply voltage falls to a low voltage that does not hinder operation. It is possible.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施の
第一の形態にかかる、パワー・オン・リセット回路の概
略構成を示すものである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a schematic configuration of a power-on reset circuit according to a first embodiment of the present invention.

【0018】このリセット回路は、たとえば、第1の電
圧レベル検出回路11、第2の電圧レベル検出回路1
2、および、フリップフロップからなるラッチ回路21
により構成されている。
The reset circuit includes, for example, a first voltage level detection circuit 11 and a second voltage level detection circuit 1
2, and a latch circuit 21 composed of a flip-flop
It consists of.

【0019】第1の電圧レベル検出回路11は、たとえ
ば図2に示すように、第1の電圧検出レベルVH を有
し、半導体集積回路装置(LSI)における電源電圧V
DDが第1の電圧検出レベルVH 以下のときに、それを
検出して第1の検出信号OUT 11を出力するようになって
いる。
The first voltage level detection circuit 11 has a first voltage detection level V H , for example, as shown in FIG. 2, and has a power supply voltage V H in a semiconductor integrated circuit device (LSI).
DD is so when: the first voltage detection level V H, and outputs a first detection signal OUT 11 detects it.

【0020】第2の電圧レベル検出回路12は、たとえ
ば図3に示すように、上記第1の電圧検出レベルVH
りも低い第2の電圧検出レベルVL を有し、上記LSI
における電源電圧VDDが第2の電圧検出レベルVL
下のときに、それを検出して第2の検出信号OUT 12を出
力するようになっている。
The second voltage level detecting circuit 12, for example, as shown in FIG. 3, a second voltage detection level V L lower than the first voltage detection level V H, the LSI
When the power supply voltage VDD is equal to or lower than the second voltage detection level VL , it is detected and a second detection signal OUT12 is output.

【0021】ラッチ回路21は、たとえば図4に示すよ
うに、上記第1の電圧レベル検出回路11の出力である
第1の検出信号OUT 11をリセット入力信号、上記第2の
電圧レベル検出回路12の出力である第2の検出信号OU
T 12をセット入力信号とし、その出力(OUT 21)とし
て、上記LSIの内部回路を初期化動作させるための信
号(パワー・オン・リセット信号PONRST)を発生するも
のである。
As shown in FIG. 4, for example, the latch circuit 21 receives the first detection signal OUT11, which is the output of the first voltage level detection circuit 11, as a reset input signal, and outputs the second voltage level detection circuit 12 Output signal of the second detection signal OU
T12 is a set input signal, and a signal (power-on reset signal PONRST) for initializing the internal circuit of the LSI is generated as an output (OUT21).

【0022】すなわち、第1,第2の電圧レベル検出回
路11,12は、ともに、電源電圧VDDが第1,第2
の電圧検出レベルVH ,VL 以下では電源電圧VDDレ
ベルの信号を、また、第1,第2の電圧検出レベルV
H ,VL 以上になると接地によるGNDレベルの信号
を、それぞれ第1,第2の検出信号OUT 11,OUT 12とし
て出力するようになっている。
That is, the first and second voltage level detection circuits 11 and 12 both supply the power supply voltage VDD of the first and second voltage levels.
Below the voltage detection levels V H and V L , a signal of the power supply voltage VDD level and the first and second voltage detection levels V
When the voltage becomes higher than H and VL , signals of GND level due to ground are output as first and second detection signals OUT11 and OUT12, respectively.

【0023】これに対し、ラッチ回路21は、電源電圧
VDDの投入にともなって、第2の電圧レベル検出回路
12の出力である第2の検出信号OUT 12によってセット
されるため、電源電圧VDDレベルの信号をパワー・オ
ン・リセット信号PONRSTとして出力する。
On the other hand, the latch circuit 21 is set by the second detection signal OUT12, which is the output of the second voltage level detection circuit 12, when the power supply voltage VDD is turned on. Is output as the power-on reset signal PONRST.

【0024】また、電源電圧VDDが第2の電圧検出レ
ベルVL を越えると、第2の電圧レベル検出回路12の
出力である第2の検出信号OUT 12は電源電圧VDDのレ
ベルから接地電位GNDレベルの信号に切り替わるが、
ラッチ回路21は、パワー・オン・リセット信号PONRST
の状態を電源電圧VDDレベルのまま維持する。
When the power supply voltage VDD exceeds the second voltage detection level V L , the second detection signal OUT12 output from the second voltage level detection circuit 12 changes from the level of the power supply voltage VDD to the ground potential GND. It switches to the level signal,
The latch circuit 21 receives the power-on reset signal PONRST
Is maintained at the power supply voltage VDD level.

【0025】さらに、電源電圧VDDが時間の経過とと
もに上昇し、第1の電圧検出レベルVH を越えると、第
1の電圧レベル検出回路11の出力である第1の検出信
号OUT 11が電源電圧VDDのレベルから接地電位GND
レベルの信号に切り替わることによってラッチ回路21
はリセットされ、パワー・オン・リセット信号PONRSTと
して接地電位GNDレベルの信号を出力する。
Furthermore, the power supply voltage VDD rises over time, exceeds a first voltage detection level V H, the first detection signal OUT 11 is the power supply voltage is the output of the first voltage level detecting circuit 11 From the level of VDD to the ground potential GND
By switching to the level signal, the latch circuit 21
Is reset, and outputs a signal at the ground potential GND level as the power-on reset signal PONRST.

【0026】なお、電源電圧VDDが第1の電圧検出レ
ベルVH よりも高い場合には、ラッチ回路21は前の状
態を保持するため、パワー・オン・リセット信号PONRST
を接地電位GNDレベルに保つ。
When the power supply voltage VDD is higher than the first voltage detection level V H , the latch circuit 21 retains the previous state, so that the power-on reset signal PONRST
At the ground potential GND level.

【0027】一方、第1の電圧検出レベルVH を越えた
後の、電源電圧VDDの下降時においては、電源電圧V
DDが低下して第1の電圧検出レベルVH よりも低くな
ると、第1の電圧レベル検出回路11の出力である第1
の検出信号OUT 11が接地電位GNDレベルの信号から電
源電圧VDDのレベルの信号に切り替わる。
On the other hand, when the power supply voltage VDD falls after exceeding the first voltage detection level V H , the power supply voltage V
When the DD decreases and becomes lower than the first voltage detection level V H , the first voltage level output from the first voltage level detection circuit 11
Is switched from the signal at the ground potential GND level to the signal at the power supply voltage VDD level.

【0028】しかしながら、この場合、第1の検出信号
OUT 11が電源電圧VDDのレベルの信号に切り替わった
としても、ラッチ回路21は何の影響も受けない。ただ
し、電源電圧VDDがさらに低下し、第2の電圧検出レ
ベルVL よりも低くなると、第2の電圧レベル検出回路
12の出力である第2の検出信号OUT 12が接地電位GN
Dレベルの信号から電源電圧VDDのレベルの信号に切
り替わる。
However, in this case, the first detection signal
Even if OUT 11 is switched to a signal at the level of the power supply voltage VDD, the latch circuit 21 is not affected at all. However, when the power supply voltage VDD further decreases and becomes lower than the second voltage detection level VL , the second detection signal OUT12 output from the second voltage level detection circuit 12 becomes the ground potential GN.
The signal switches from the D level signal to the power supply voltage VDD level signal.

【0029】これにより、ラッチ回路21はセットさ
れ、パワー・オン・リセット信号PONRSTを接地電位GN
Dレベルから電源電圧VDDレベルの信号に切り替え
て、LSIの内部回路の初期化動作を可能にする。
As a result, the latch circuit 21 is set, and the power-on reset signal PONRST is supplied to the ground potential GN.
Switching from the D level to the signal of the power supply voltage VDD level enables the initialization operation of the internal circuit of the LSI.

【0030】このように、電源電圧VDDの上昇時と下
降時とでリセット信号が出力される電圧が異なる、いわ
ゆるヒステリシス特性を有するパワー・オン・リセット
信号PONRSTを出力することが可能なパワー・オン・リセ
ット回路を、簡単な回路構成により実現できる。
As described above, the power-on reset signal PONRST having a so-called hysteresis characteristic is different in the voltage at which the reset signal is output when the power supply voltage VDD increases and when the power supply voltage VDD decreases. -The reset circuit can be realized with a simple circuit configuration.

【0031】この結果、パワー・オン・リセット信号PO
NRSTにヒステリシス特性を持たせることにより、たとえ
ば、LSIの動作中に瞬時的な電源電圧VDDの低下
(第1の電圧検出レベルVH を下回るような電源電圧V
DD´)が発生した場合であっても、誤ってパワー・オ
ン・リセット信号PONRSTが出力されて、望まない初期化
動作が実行されるのを回避することが可能となる。
As a result, the power-on reset signal PO
By giving the NRST a hysteresis characteristic, for example, the power supply voltage VDD may be instantaneously reduced during the operation of the LSI (the power supply voltage VH may be lower than the first voltage detection level VH).
Even when DD ′) occurs, it is possible to prevent the power-on reset signal PONRST from being output erroneously and performing an undesired initialization operation.

【0032】すなわち、電源投入後に電源電圧VDDが
一度は規定の電源電圧にまで上昇してしまえば、電源電
圧VDDが第2の電圧検出レベルVL 以下にまで下がら
ない限り、パワー・オン・リセット信号PONRSTは出力さ
れない。このため、第2の電圧検出レベルVL としては
LSIの動作が可能な電源電圧VDDの下限のぎりぎり
に設定し、かつ、第1の電圧検出レベルVH としては動
作を保証する電圧範囲の下限よりも少しだけ低い電圧に
設定するようにするのが望ましい。
That is, once the power supply voltage VDD rises to the specified power supply voltage once after the power is turned on, the power-on reset is performed as long as the power supply voltage VDD does not drop below the second voltage detection level VL. The signal PONRST is not output. For this reason, the second voltage detection level V L is set at the very lower limit of the power supply voltage VDD at which the LSI can operate, and the first voltage detection level V H is the lower limit of the voltage range that guarantees the operation. It is desirable to set the voltage slightly lower than that.

【0033】これにより、電源投入時には、より高い電
圧までリセットをかけ続けることが可能となり、LSI
の内部回路の初期化動作を確実に実行できるようにな
る。逆に、電圧下降時には、電源電圧VDDのゆれによ
るパワー・オン・リセット信号PONRSTの誤出力を防止で
き、パワー・オン・リセット信号PONRSTが出力されるの
は、LSIの動作に支障をきたすほどに電源電圧VDD
が低下した場合、つまり、本当にリセットをかける必要
があるときだけに限定することが可能となり、回路動作
的にも信頼性の高いLSIを実現できるようになる。
This makes it possible to continue resetting to a higher voltage when the power is turned on.
Can be reliably executed. Conversely, when the voltage drops, erroneous output of the power-on-reset signal PONRST due to fluctuations in the power supply voltage VDD can be prevented, and the output of the power-on-reset signal PONRST is sufficient to hinder the operation of the LSI. Power supply voltage VDD
Is reduced, that is, only when it is really necessary to reset, it is possible to realize an LSI with high circuit operation reliability.

【0034】図5は、上記したパワー・オン・リセット
回路の構成例を具体的に示すものである。第1の電圧レ
ベル検出回路11は、電源電圧VDDと接地電位GND
との間に、抵抗11aを介して、2つのNチャネル型M
OS(Metal Oxide Semiconductor )トランジスタ11
b,11cが直列に接続されている。上記トランジスタ
11b,11cの各ゲートは、それぞれのドレインに接
続されている。
FIG. 5 shows a specific example of the configuration of the above-mentioned power-on reset circuit. The first voltage level detection circuit 11 includes a power supply voltage VDD and a ground potential GND.
Between the two N-channel type M via a resistor 11a.
OS (Metal Oxide Semiconductor) transistor 11
b and 11c are connected in series. The gates of the transistors 11b and 11c are connected to the respective drains.

【0035】また、上記トランジスタ11bと上記抵抗
11aとの接続点(ノード)11dには、Pチャネル型
MOSトランジスタ11eのゲートが接続され、このト
ランジスタ11eのソースは電源電圧VDDに接続され
ている。
The connection point (node) 11d between the transistor 11b and the resistor 11a is connected to the gate of a P-channel MOS transistor 11e, and the source of the transistor 11e is connected to the power supply voltage VDD.

【0036】そして、上記トランジスタ11eのドレイ
ンは、抵抗11fを介して、接地電位GNDに接続され
ている。さらに、上記トランジスタ11eと上記抵抗1
1fとの接続点(ノード)11gには、波形成形回路1
1hを介して、上記したラッチ回路21のリセット入力
端子が接続されるようになっている。
The drain of the transistor 11e is connected to the ground potential GND via the resistor 11f. Further, the transistor 11e and the resistor 1
The waveform shaping circuit 1 is connected to a connection point (node) 11g with 1f.
The reset input terminal of the latch circuit 21 is connected via 1h.

【0037】第2の電圧レベル検出回路12は、電源電
圧VDDと接地電位GNDとの間に、抵抗12aを介し
て、Nチャネル型MOSトランジスタ12bが接続され
ている。上記トランジスタ12bのゲートはドレインに
接続されている。
The second voltage level detection circuit 12 has an N-channel MOS transistor 12b connected between the power supply voltage VDD and the ground potential GND via a resistor 12a. The gate of the transistor 12b is connected to the drain.

【0038】また、上記トランジスタ12bと上記抵抗
12aとの接続点(ノード)12cには、Pチャネル型
MOSトランジスタ12dのゲートが接続され、このト
ランジスタ12dのソースは電源電圧VDDに接続され
ている。
The connection point (node) 12c between the transistor 12b and the resistor 12a is connected to the gate of a P-channel MOS transistor 12d, and the source of the transistor 12d is connected to the power supply voltage VDD.

【0039】そして、上記トランジスタ12dのドレイ
ンは、抵抗12eを介して、接地電位GNDに接続され
ている。さらに、上記トランジスタ12dと上記抵抗1
2eとの接続点(ノード)12fには、波形成形回路1
2gを介して、上記したラッチ回路21のセット入力端
子が接続されるようになっている。
The drain of the transistor 12d is connected to the ground potential GND via the resistor 12e. Further, the transistor 12d and the resistor 1
The waveform shaping circuit 1 is connected to a connection point (node) 12f with 2e.
The set input terminal of the latch circuit 21 is connected via 2g.

【0040】上記第1の電圧レベル検出回路11の波形
成形回路11h、および、上記第2の電圧レベル検出回
路12の波形成形回路12gは、いずれも、電源投入時
の電源電圧VDDの立ち上がりが早すぎるような場合
に、第1,第2の検出信号OUT11,OUT 12として適当な
長さの信号が得られるようにするためのものであって、
たとえば、インバータINV とコンデンサCとからなる遅
延回路を、第1,第2の検出信号OUT 11,OUT 12の極性
に応じた段数分だけ用意した構成となっている。
The waveform shaping circuit 11h of the first voltage level detecting circuit 11 and the waveform shaping circuit 12g of the second voltage level detecting circuit 12 both have a rapid rise of the power supply voltage VDD when the power is turned on. In such a case, signals of appropriate lengths are obtained as the first and second detection signals OUT11 and OUT12.
For example, the configuration is such that delay circuits composed of the inverter INV and the capacitor C are prepared for the number of stages corresponding to the polarities of the first and second detection signals OUT11 and OUT12.

【0041】ラッチ回路21は、たとえば、上記第1の
電圧レベル検出回路11の出力である第1の検出信号OU
T 11が供給されるリセット入力としてのインバータ21
a、このインバータ21aの出力が一方の入力に供給さ
れるオア回路21b、上記第2の電圧レベル検出回路1
2の出力である第2の検出信号OUT 12が一方の入力(セ
ット入力)に供給されるオア回路21c、および、この
オア回路21cの出力が供給されるインバータ21dに
より構成される、フリップフロップ型となっている。
The latch circuit 21 outputs, for example, a first detection signal OU output from the first voltage level detection circuit 11.
Inverter 21 as reset input to which T11 is supplied
a, an OR circuit 21b to which the output of the inverter 21a is supplied to one input, the second voltage level detecting circuit 1
The second detection signal OUT12 which is the output of the OR circuit 21c is supplied to one input (set input), and an inverter 21d to which the output of the OR circuit 21c is supplied is a flip-flop type. It has become.

【0042】なお、上記オア回路21bの他方の入力に
は上記オア回路21cの出力が、また、上記オア回路2
1cの他方の入力には上記オア回路21bの出力が、そ
れぞれ供給されるようになっている。
The output of the OR circuit 21c is input to the other input of the OR circuit 21b.
The output of the OR circuit 21b is supplied to the other input of 1c.

【0043】さて、上記した構成における各回路の出力
特性および動作のタイミングについて、図6を参照しな
がら説明する。第1の電圧レベル検出回路11では、ト
ランジスタ11b,11cは、接続点11dの電位V 1
1d,接続点11jの電位V 11jがトランジスタ11b,
11cのしきい値Vth 11b,Vth 11cと同じかそれより
も大きいとき(V 11d≧Vth 11b、V 11j≧Vth 11c)
に、それぞれオンする。
The output characteristics and operation timing of each circuit in the above configuration will be described with reference to FIG. In the first voltage level detection circuit 11, the transistors 11b and 11c are connected to the potential V 1 of the connection point 11d.
1d, the potential V 11j of the connection point 11j is the transistor 11b,
When the threshold values Vth 11b and Vth 11c are equal to or larger than Vth 11b (V11d ≧ Vth11b, V11j ≧ Vth11c)
And turn them on.

【0044】また、トランジスタ11eは、トランジス
タ11eのゲート入力である接続点11dの電位V 11d
が、トランジスタ11eのしきい値Vth 11eと同じかそ
れよりも小さいとき(|Vth 11e|≧V 11d)に、オン
する。
The transistor 11e has a potential V 11d at a connection point 11d which is a gate input of the transistor 11e.
Is smaller than or equal to the threshold Vth 11e of the transistor 11e (| Vth 11e | ≧ V 11d).

【0045】トランジスタ11b,11cと電源電圧V
DDとの間には抵抗11aが存在するため、その抵抗値
により若干のズレが生じるものの、結果として、トラン
ジスタ11eは電源電圧VDDが第1の電圧検出レベル
H 以上になる(Vth 11b+Vth 11c+Vth 11e≧V
H )とオンして、接続点11gの電位V 11gを電源電圧
VDDから接地電位GNDに近いレベルへと変化させ
る。
The transistors 11b and 11c and the power supply voltage V
Since there is a resistor 11a between the DD, although a slight deviation due to the resistance value occurs, as a result, the transistor 11e is the power supply voltage VDD becomes equal to or higher than the first voltage detection level V H (Vth 11b + Vth 11c + Vth 11e ≧ V
H ) to turn on, and change the potential V 11g of the connection point 11g from the power supply voltage VDD to a level close to the ground potential GND.

【0046】これにより、第1の電圧レベル検出回路1
1は、電源電圧VDDが第1の電圧検出レベルVH 以下
のときには第1の検出信号OUT 11として電源電圧VDD
レベルの信号を、また、第1の電圧検出レベルVH 以上
になると接地電位GNDレベルの信号を出力することに
なる。
As a result, the first voltage level detection circuit 1
1, the power supply voltage VDD is when the following first voltage detection level V H supply voltage VDD as a first detection signal OUT 11
When the signal reaches the first voltage detection level VH or higher, a signal at the ground potential GND level is output.

【0047】一方、第2の電圧レベル検出回路12で
は、トランジスタ12bは、接続点12cの電位V 12c
がトランジスタ12bのしきい値Vth 12bと同じかそれ
よりも大きいとき(V 12c≧Vth 12b)に、オンする。
On the other hand, in the second voltage level detection circuit 12, the transistor 12b is connected to the potential V 12c of the connection point 12c.
Is higher than or equal to the threshold value Vth 12b of the transistor 12b (V 12c ≧ Vth 12b).

【0048】また、トランジスタ12dは、トランジス
タ12dのゲート入力である接続点12cの電位V 12c
が、トランジスタ12dのしきい値Vth 12dと同じかそ
れよりも小さいとき(|Vth 12d|≧V 12c)に、オン
する。
The transistor 12d has a potential V 12c at a connection point 12c which is a gate input of the transistor 12d.
Is equal to or smaller than the threshold value Vth 12d of the transistor 12d (| Vth 12d | ≧ V 12c).

【0049】トランジスタ12bと電源電圧VDDとの
間には抵抗12aが存在するため、その抵抗値により若
干のズレが生じるものの、結果として、トランジスタ1
2dは電源電圧VDDが第2の電圧検出レベルVL 以上
になる(Vth 12b+Vth 12d≧VL )とオンして、接続
点12fの電位V 12fを電源電圧VDDから接地電位G
NDに近いレベルへと変化させる。
Since the resistor 12a exists between the transistor 12b and the power supply voltage VDD, a slight shift occurs due to the resistance value.
2d turns on when the power supply voltage VDD becomes equal to or higher than the second voltage detection level VL (Vth12b + Vth12d ≧ VL ), and changes the potential V12f of the connection point 12f from the power supply voltage VDD to the ground potential G.
Change to a level close to ND.

【0050】これにより、第2の電圧レベル検出回路1
2は、電源電圧VDDが第2の電圧検出レベルVL 以下
のときには第2の検出信号OUT 12として電源電圧VDD
レベルの信号を、また、第2の電圧検出レベルVL 以上
になると接地電位GNDレベルの信号を出力することに
なる。
Thus, the second voltage level detection circuit 1
2 is the power supply voltage VDD as the second detection signal OUT12 when the power supply voltage VDD is equal to or lower than the second voltage detection level VL.
When the level signal becomes equal to or higher than the second voltage detection level VL , a signal at the ground potential GND level is output.

【0051】ラッチ回路21は、電源投入時のような電
圧上昇時には、第2の電圧レベル検出回路12の出力で
ある第2の検出信号OUT 12の立ち上がりによりセットさ
れ、第1の電圧レベル検出回路11の出力である第1の
検出信号OUT 11の立ち下がりをトリガーとする信号によ
りリセットされる。
The latch circuit 21 is set by the rising of the second detection signal OUT12, which is the output of the second voltage level detection circuit 12, when the voltage rises, such as when the power is turned on, and the first voltage level detection circuit The signal is reset by a signal triggered by the fall of the first detection signal OUT11, which is the output of the first detection signal OUT11.

【0052】また、電圧下降時には、第1の電圧レベル
検出回路11からの第1の検出信号OUT 11の立ち上がり
によらず、第2の電圧レベル検出回路12からの第2の
検出信号OUT 12の立ち上がりにより再セットされる。
Also, when the voltage drops, the second detection signal OUT12 from the second voltage level detection circuit 12 does not depend on the rising of the first detection signal OUT11 from the first voltage level detection circuit 11. Reset by rising.

【0053】これにより、ラッチ回路21は、その出力
(OUT 21)として、ヒステリシス特性を有するパワー・
オン・リセット信号PONRSTを発生することが可能となっ
ている。
As a result, the latch circuit 21 outputs, as its output (OUT 21), a power circuit having a hysteresis characteristic.
An on-reset signal PONRST can be generated.

【0054】なお、このパワー・オン・リセット回路の
場合、第1,第2の電圧レベル検出回路11,12は基
本的に同一の構成とし、第1の電圧レベル検出回路11
にのみトランジスタ11cを追加して、高い方の電圧検
出レベルVH を設定することで、低い方の電圧検出レベ
ルVL との電圧検出レベルの差を作り出すようになって
いる。
In this power-on reset circuit, the first and second voltage level detection circuits 11 and 12 have basically the same configuration, and the first voltage level detection circuit 11
Only by adding the transistors 11c, by setting the voltage detection level V H of the higher, so as produce a difference voltage detection level of the lower voltage detecting level V L of the.

【0055】これにより、回路の構成を異ならせること
によって電圧検出レベルの差を得るようにした場合に比
べ、ヒステリシス幅を安定させて持たせることができる
とともに、製造プロセスの変動に対する設計の変更が容
易で、かつ、確実な動作を保証できるパワー・オン・リ
セット回路の実現が可能となっている。
As a result, the hysteresis width can be made more stable as compared with the case where the difference in voltage detection level is obtained by making the circuit configuration different, and the design change due to the fluctuation of the manufacturing process can be prevented. It is possible to realize a power-on reset circuit that can easily and reliably operate.

【0056】上記した構成によれば、電圧検出レベルの
異なる2つの電圧レベル検出回路11,12の検出信号
OUT 11,OUT 12のうち、電圧検出レベルが低い方の検出
信号OUT 12をセット信号とし、高い方の検出信号OUT 11
をリセット信号とするラッチ回路21の出力を、パワー
・オン・リセット信号PONRSTとして使用するようにして
いる。
According to the above configuration, the detection signals of the two voltage level detection circuits 11 and 12 having different voltage detection levels are provided.
Of the output signals OUT11 and OUT12, the detection signal OUT12 having the lower voltage detection level is set as the set signal, and the detection signal OUT11 having the higher voltage detection level
Is used as a power-on reset signal PONRST.

【0057】このため、電源電圧VDDの上昇時と下降
時とでリセット信号が出力される電圧が異なる、いわゆ
るヒステリシス特性を有するパワー・オン・リセット信
号PONRSTを出力することが可能なパワー・オン・リセッ
ト回路を、簡単な回路構成により実現できる。
For this reason, the voltage at which the reset signal is output differs between when the power supply voltage VDD rises and when the power supply voltage VDD falls, that is, when the power-on reset signal PONRST having a so-called hysteresis characteristic can be output. The reset circuit can be realized with a simple circuit configuration.

【0058】これにより、電源投入時には、より高い電
圧までリセットをかけ続けることが可能となる結果、よ
り確実な初期化動作を実現できるようになる。また、電
源下降時のリセット信号を発生させるための電圧検出レ
ベルVL を、LSIの動作に支障がない程度の、電源電
圧VDDの下限の近くまで下げることが可能となる結
果、たとえば図7に示すように、LSIの動作中におけ
るデータ出力のスイッチングなどの影響で発生する瞬時
的な電源電圧VDDの低下(第1の電圧検出レベルVH
を下回るような電源電圧VDD´)による、パワー・オ
ン・リセット信号PONRSTの誤出力を防止することが可能
となる。
As a result, when the power is turned on, it is possible to continue resetting to a higher voltage, so that a more reliable initialization operation can be realized. Further, as a result that the voltage detection level V L for generating the reset signal at the time of power supply falling can be reduced to near the lower limit of the power supply voltage VDD so as not to hinder the operation of the LSI, for example, FIG. As shown, the instantaneous decrease in the power supply voltage VDD (the first voltage detection level V H) caused by the influence of switching of the data output during the operation of the LSI, etc.
Erroneous output of the power-on reset signal PONRST due to the power supply voltage VDD ′) lower than the power supply voltage VDD ′) can be prevented.

【0059】同様に、電源投入時においては、電源電圧
VDDが波打ちながら上昇して、第1の電圧検出レベル
H の上下を往復するような場合であっても、パワー・
オン・リセット信号PONRSTが何度も出力されるといった
不具合を解消できる。
[0059] Similarly, at the time of power-on, rises while waving with a power supply voltage VDD, a even when the back and forth up and down of the first voltage detection level V H, the power
The disadvantage that the ON / reset signal PONRST is output many times can be solved.

【0060】上記したように、電源電圧の上昇時と下降
時とでパワー・オン・リセット信号が発生する電圧に差
を持たせることができるようにしている。すなわち、電
圧検出レベルの異なる2つの電圧レベル検出回路を用意
し、電圧検出レベルが低い方の電圧レベル検出回路の検
出信号をセット信号、電圧検出レベルが高い方の電圧レ
ベル検出回路の検出信号をリセット信号とするラッチ回
路の出力を、パワー・オン・リセット信号として使用す
るようにしている。
As described above, the voltage at which the power-on reset signal is generated can be made different when the power supply voltage rises and falls. That is, two voltage level detection circuits having different voltage detection levels are prepared, and a detection signal of a voltage level detection circuit having a lower voltage detection level is set as a set signal, and a detection signal of a voltage level detection circuit having a higher voltage detection level is generated as a signal. The output of the latch circuit as a reset signal is used as a power-on reset signal.

【0061】これにより、低い方の電圧検出レベルをL
SIの動作が可能な電源電圧の下限のぎりぎりに設定
し、かつ、高い方の電圧検出レベルを動作を保証する電
圧範囲の下限よりも少しだけ低い電圧に設定するように
することで、電源投入時にはより高い電圧となるまでリ
セットをかけ続けることが可能となり、また、電源電圧
の下降時には動作に支障が出ない程度の低い電圧となる
まで、リセットがかからないようにすることが可能とな
る。
As a result, the lower voltage detection level becomes L
The power is turned on by setting the power supply voltage close to the lower limit of the power supply voltage at which SI operation is possible, and setting the higher voltage detection level to a voltage slightly lower than the lower limit of the voltage range that guarantees operation. In some cases, resetting can be continued until the voltage becomes higher, and when the power supply voltage falls, resetting can be prevented until the voltage becomes low enough to not hinder the operation.

【0062】したがって、電源投入時には、初期化動作
が実行されるまでリセットをかけ続けることが可能とな
り、電圧下降時には、初期化動作が必要なときだけにリ
セットをかけることが可能となって、LSIの内部回路
の初期化動作を確実に実行できるようになるとともに、
LSIの動作中に瞬時的な電源電圧の低下などが発生し
た場合であっても、誤ってパワー・オン・リセット信号
が出力されて、望まない初期化動作が実行されるのを回
避することが可能となるものである。
Therefore, when the power is turned on, the reset can be continuously performed until the initialization operation is performed. When the voltage drops, the reset can be performed only when the initialization operation is required, and the LSI can be reset. The initialization operation of the internal circuit of the
Even when a momentary drop in the power supply voltage occurs during the operation of the LSI, it is possible to prevent a power-on-reset signal from being output by mistake and performing an undesired initialization operation. It is possible.

【0063】しかも、電圧検出レベルの異なる電圧レベ
ル検出回路としては、同一構成の回路のトランジスタの
個数を変え、その差分のトランジスタのしきい値を利用
して電圧検出レベルの差を得るようにしている。このた
め、電圧検出レベルの差を、常に所定の値(トランジス
タの個数×しきい値)により設定することが可能とな
る。
Further, as the voltage level detection circuits having different voltage detection levels, the number of transistors of the circuit having the same configuration is changed, and the difference between the voltage detection levels is obtained by using the threshold value of the difference transistor. I have. Therefore, the difference between the voltage detection levels can always be set to a predetermined value (the number of transistors × the threshold).

【0064】したがって、回路の構成を異ならせること
によって電圧検出レベルの差を得るようにした場合に比
べ、ヒステリシス幅を安定させて持たせることができる
とともに、製造プロセスの変動によらず、設計が容易
で、かつ、確実な動作を保証できるパワー・オン・リセ
ット回路の実現が可能となる。
Therefore, the hysteresis width can be made more stable as compared with the case where the difference in voltage detection level is obtained by making the circuit configuration different, and the design can be made irrespective of the variation of the manufacturing process. It is possible to realize a power-on-reset circuit that can easily and reliably operate.

【0065】なお、上記した本発明の実施の第一の形態
においては、電圧レベル検出回路をトランジスタと抵抗
とを用いて構成するようにした場合を例に説明したが、
これに限らず、たとえば図8に示すように、トランジス
タのみで構成することも可能である。
In the above-described first embodiment of the present invention, the case where the voltage level detecting circuit is constituted by using a transistor and a resistor has been described as an example.
However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG.

【0066】すなわち、本発明の実施の第二の形態にか
かるパワー・オン・リセット回路は、たとえば、前述の
図5に示したパワー・オン・リセット回路の、第1の電
圧レベル検出回路11の抵抗11aをPチャネル型MO
Sトランジスタ11a´に、また、抵抗11fをNチャ
ネル型MOSトランジスタ11f´に、それぞれ置き換
えて第1の電圧レベル検出回路11´を構成するととも
に、同様に、第2の電圧レベル検出回路12の抵抗12
aをPチャネル型MOSトランジスタ12a´に、ま
た、抵抗12eをNチャネル型MOSトランジスタ12
e´に、それぞれ置き換えて第2の電圧レベル検出回路
12´を構成することにより、第1,第2の電圧レベル
検出回路11´,12´が、抵抗を用いることなしに、
トランジスタのみからなる構成とされている。
That is, the power-on-reset circuit according to the second embodiment of the present invention is, for example, the power-on-reset circuit shown in FIG. Resistor 11a is a P-channel type MO
The S transistor 11a 'and the resistor 11f are replaced with an N-channel MOS transistor 11f' to form a first voltage level detection circuit 11 '. Similarly, the resistance of the second voltage level detection circuit 12 is changed. 12
a is a P-channel MOS transistor 12a ', and a resistor 12e is an N-channel MOS transistor 12a'.
e 'is replaced with the second voltage level detection circuit 12', so that the first and second voltage level detection circuits 11 'and 12' can be used without using a resistor.
It is configured to include only transistors.

【0067】また、パワー・オン・リセット回路として
は、必ずしも、電圧検出レベルの異なる電圧レベル検出
回路を個々に用意する場合に限らず、たとえば、1つの
電圧レベル検出回路とラッチ回路とでパワー・オン・リ
セット回路を構成することも可能である。
The power-on reset circuit is not limited to the case where voltage level detection circuits having different voltage detection levels are individually prepared. For example, the power-on reset circuit includes one voltage level detection circuit and one latch circuit. It is also possible to configure an on-reset circuit.

【0068】図9は、本発明の実施の第三の形態にかか
る、パワー・オン・リセット回路の概略構成を示すもの
である。すなわち、このリセット回路は、たとえば、上
述の図8に示したパワー・オン・リセット回路における
第2の電圧レベル検出回路12´と、その電圧レベル検
出回路12´の出力(第1の検出信号OUT12')がリセッ
ト入力としてオア回路21bの一方の入力に供給され、
かつ、上記電圧レベル検出回路12´の、Pチャネル型
MOSトランジスタ12a´およびNチャネル型MOS
トランジスタ12bの接続点(ノード)12cとPチャ
ネル型MOSトランジスタ12dとの接続点(ノード)
12hの電位(第2の検出信号OUT 12'')がセット入力
としてオア回路21cの一方の入力に供給される、ラッ
チ回路21´とから構成されている。
FIG. 9 shows a schematic configuration of a power-on reset circuit according to a third embodiment of the present invention. That is, the reset circuit includes, for example, the second voltage level detection circuit 12 'in the power-on reset circuit shown in FIG. 8 and the output (first detection signal OUT12) of the voltage level detection circuit 12'. ') Is supplied as a reset input to one input of the OR circuit 21b,
The P-channel MOS transistor 12a 'and the N-channel MOS transistor of the voltage level detection circuit 12'
Connection point (node) between transistor 12b (node) 12c and P-channel MOS transistor 12d
And a latch circuit 21 'in which a potential of 12h (second detection signal OUT 12'') is supplied as a set input to one input of an OR circuit 21c.

【0069】このリセット回路の場合、上記トランジス
タ12bは接続点12hの電位V 12hがトランジスタ1
2bのしきい値Vth 12b(第2の検出レベル)以上にな
るとオンし、接続点12hの電位V 12hを”L”レベル
にする。
In the case of this reset circuit, the transistor 12b is connected to the potential V 12h of the connection point 12h by the transistor 1
When the voltage becomes equal to or higher than the threshold value Vth 12b (second detection level) of 2b, it turns on, and the potential V 12h of the connection point 12h is set to the “L” level.

【0070】また、上記トランジスタ12dは、接続点
12hの電位V 12hがトランジスタ12b,12dのし
きい値Vth 12b,Vth 12dの和(第1の検出レベル)以
上になるとオンし、接続点12fの電位V 12fを”H”
レベルにする。
The transistor 12d is turned on when the potential V 12h at the connection point 12h becomes equal to or higher than the sum (first detection level) of the threshold values Vth 12b and Vth 12d of the transistors 12b and 12d. The potential V 12f is set to “H”
To level.

【0071】この結果、たとえば図10に示すように、
電源投入時のような電圧上昇時には、ラッチ回路21´
が、第2の検出信号OUT 12''の立ち上がりによりセット
され、第1の検出信号OUT12'の立ち下がりをトリガーと
する信号によりリセットされる。
As a result, for example, as shown in FIG.
When the voltage rises, such as when the power is turned on, the latch circuit 21 '
Is set by the rising edge of the second detection signal OUT12 ″, and is reset by the signal triggered by the falling edge of the first detection signal OUT12 ′.

【0072】また、電圧下降時には、第1の検出信号OU
T12'の立ち上がりによらず、第2の検出信号OUT 12''の
立ち上がりにより再セットされることにより、出力(OU
T21')として、ヒステリシス特性を有するパワー・オン
・リセット信号PONRSTを発生することができる。
When the voltage drops, the first detection signal OU
Regardless of the rise of T12 ', the output (OU) is reset by being reset by the rise of the second detection signal OUT12''.
As T21 ′), a power-on reset signal PONRST having hysteresis characteristics can be generated.

【0073】この第三の形態にかかる構成のパワー・オ
ン・リセット回路の場合、電圧レベル検出回路が1つで
良いため、第一,第二の形態にかかる構成のリセット回
路に比べて、動作時のたれ流し電流が少なくてすみ、低
消費電流を指向するLSIに適用した場合において、特
に好適である。その他、この発明の要旨を変えない範囲
において、種々変形実施可能なことは勿論である。
In the case of the power-on reset circuit having the configuration according to the third embodiment, only one voltage level detection circuit is required, so that the operation is smaller than that of the reset circuit having the configuration according to the first or second embodiment. This method is particularly suitable when applied to an LSI that requires a small current flow and consumes low current. Of course, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

【0074】[0074]

【発明の効果】以上、詳述したようにこの発明によれ
ば、不本意な初期化動作が行われるのを確実に防止で
き、かつ、電源投入時には初期化動作が確実に実行され
るようにすることが可能なリセット信号発生回路を提供
できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to reliably prevent an unintended initialization operation from being performed, and to ensure that the initialization operation is performed when the power is turned on. And a reset signal generation circuit capable of performing the operation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施の第一の形態にかかる、パワー
・オン・リセット回路の概略構成を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a power-on reset circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同じく、かかる第1の電圧レベル検出回路の動
作を説明するために示す出力特性図。
FIG. 2 is an output characteristic diagram for explaining the operation of the first voltage level detection circuit.

【図3】同じく、かかる第2の電圧レベル検出回路の動
作を説明するために示す出力特性図。
FIG. 3 is an output characteristic diagram for explaining the operation of the second voltage level detection circuit.

【図4】同じく、かかるラッチ回路の動作を説明するた
めに示す出力特性図。
FIG. 4 is an output characteristic diagram for explaining the operation of the latch circuit.

【図5】パワー・オン・リセット回路の構成を具体化し
て示す概略図。
FIG. 5 is a schematic diagram specifically illustrating a configuration of a power-on reset circuit.

【図6】同じく、かかる動作のタイミングについて説明
するために示す概略図。
FIG. 6 is a schematic diagram similarly illustrating the timing of such an operation.

【図7】同じく、かかる動作について説明するために示
す概略図。
FIG. 7 is a schematic view similarly illustrating the operation.

【図8】この発明の実施の第二の形態にかかる、パワー
・オン・リセット回路の他の構成例を示す概略図。
FIG. 8 is a schematic diagram showing another configuration example of the power-on reset circuit according to the second embodiment of the present invention.

【図9】この発明の実施の第三の形態にかかる、パワー
・オン・リセット回路の他の構成例を示す概略図。
FIG. 9 is a schematic diagram showing another configuration example of the power-on reset circuit according to the third embodiment of the present invention.

【図10】同じく、かかる動作を説明するために示す概
略図。
FIG. 10 is a schematic view similarly illustrating the operation.

【図11】従来技術とその問題点を説明するために、電
圧レベル検出回路の動作を説明するために示す出力特性
図。
FIG. 11 is an output characteristic diagram shown to explain the operation of the voltage level detection circuit to explain the related art and its problems.

【図12】同じく、従来のパワー・オン・リセット回路
の動作を説明するために示す出力特性図。
FIG. 12 is an output characteristic diagram for explaining the operation of the conventional power-on reset circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11,11´…第1の電圧レベル検出回路 11a,11f…抵抗 11b,11c,11f´…Nチャネル型MOSトラン
ジスタ 11d,11g,11j…接続点 11a´,11e…Pチャネル型MOSトランジスタ 11h…波形成形回路 INV …インバータ C…コンデンサ 12,12´…第2の電圧レベル検出回路 12a,12e…抵抗 12b,12e´…Nチャネル型MOSトランジスタ 12c,12f,12h…接続点 12a´,12d…Pチャネル型MOSトランジスタ 12g…波形成形回路 21,21´…ラッチ回路 21a,21d…インバータ 21b,21c…オア回路 VH …第1の電圧検出レベル VL …第2の電圧検出レベル VDD,VDD´…電源電圧 GND…接地電位 OUT 11…第1の検出信号 OUT 12…第2の検出信号 PONRST…パワー・オン・リセット信号
11, 11 '... first voltage level detection circuit 11a, 11f ... resistors 11b, 11c, 11f' ... N-channel MOS transistors 11d, 11g, 11j ... connection points 11a ', 11e ... P-channel MOS transistors 11h ... waveform Molding circuit INV Inverter C Capacitor 12, 12 'Second voltage level detection circuit 12a, 12e Resistor 12b, 12e' N-channel MOS transistor 12c, 12f, 12h Connection point 12a ', 12d P channel Type MOS transistor 12g Waveform shaping circuit 21, 21 'Latch circuit 21a, 21d Inverter 21b, 21c OR circuit VH ... First voltage detection level VL ... Second voltage detection level VDD, VDD' ... Power supply Voltage GND: Ground potential OUT11: First detection signal OUT12: Second detection signal PONRST … Power-on reset signal

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体集積回路装置における電源電圧が
第1の検出レベルに達するまでの間、前記半導体集積回
路装置の内部回路を初期化動作させるためのリセット信
号を出力する第1の出力手段と、 前記電源電圧が、前記第1の検出レベルとは異なる第2
の検出レベルに達した後に、前記リセット信号を出力す
る第2の出力手段とを具備したことを特徴とするリセッ
ト信号発生回路。
A first output means for outputting a reset signal for initializing an internal circuit of the semiconductor integrated circuit device until a power supply voltage of the semiconductor integrated circuit device reaches a first detection level; A second power supply voltage different from the first detection level;
And a second output means for outputting the reset signal after reaching the detection level.
【請求項2】 前記第1の出力手段は、前記電源電圧の
上昇が第1の検出レベル以下のときに、それを検出して
第1の検出信号を出力する第1の電圧レベル検出回路
と、 前記第1の検出信号をリセット入力信号として取り込む
ラッチ回路とから構成されることを特徴とする請求項1
に記載のリセット信号発生回路。
A first voltage level detecting circuit for detecting a rise in the power supply voltage and outputting a first detection signal when the rise in the power supply voltage is equal to or lower than a first detection level; A latch circuit for taking in the first detection signal as a reset input signal.
2. The reset signal generation circuit according to 1.
【請求項3】 前記第2の出力手段は、前記電源電圧の
下降が第2の検出レベル以下のときに、それを検出して
第2の検出信号を出力する第2の電圧レベル検出回路
と、 前記第2の検出信号をセット入力信号として取り込むラ
ッチ回路とから構成されることを特徴とする請求項1に
記載のリセット信号発生回路。
A second voltage level detecting circuit for detecting when the power supply voltage falls below a second detection level, and outputting a second detection signal; 2. The reset signal generation circuit according to claim 1, further comprising: a latch circuit that receives the second detection signal as a set input signal.
【請求項4】 前記第1の電圧レベル検出回路の第1の
検出レベルは、前記第2の電圧レベル検出回路の第2の
検出レベルよりも、少なくとも1つのトランジスタの閾
値分以上高く設定されることを特徴とする請求項2また
は請求項3のいずれかに記載のリセット信号発生回路。
4. A first detection level of the first voltage level detection circuit is set higher than a second detection level of the second voltage level detection circuit by a threshold value of at least one transistor. 4. The reset signal generation circuit according to claim 2, wherein
【請求項5】 前記第1の電圧レベル検出回路の第1の
検出レベルは、動作を保証する電源電圧範囲の下限より
も低い電圧値に設定され、前記第2の電圧レベル検出回
路の第2の検出レベルは、半導体集積回路装置の動作が
可能な電源電圧の下限に設定されることを特徴とする請
求項2または請求項3のいずれかに記載のリセット信号
発生回路。
5. A first detection level of the first voltage level detection circuit is set to a voltage value lower than a lower limit of a power supply voltage range that guarantees an operation, and a second detection level of the second voltage level detection circuit is set to a second voltage level. 4. The reset signal generation circuit according to claim 2, wherein the detection level is set to a lower limit of a power supply voltage at which the semiconductor integrated circuit device can operate.
【請求項6】 前記第1,第2の出力手段は、前記電源
電圧の上昇が第1の検出レベル以下のときに、それを検
出して第1の検出信号を出力するとともに、前記電源電
圧の下降が第2の検出レベル以下のときに、それを検出
して第2の検出信号を出力する電圧レベル検出回路と、 前記第1の検出信号をリセット入力信号、前記第2の検
出信号をセット入力信号として取り込むラッチ回路とか
ら構成されることを特徴とする請求項1に記載のリセッ
ト信号発生回路。
6. The first and second output means detects when the rise of the power supply voltage is equal to or lower than a first detection level, outputs a first detection signal, and outputs the power supply voltage. A voltage level detection circuit for detecting when the falling of the first detection signal is lower than or equal to a second detection level and outputting a second detection signal; a reset input signal for the first detection signal; 2. The reset signal generating circuit according to claim 1, further comprising: a latch circuit for taking in as a set input signal.
【請求項7】 半導体集積回路装置における電源電圧の
上昇が第1の検出レベル以下のときに、それを検出して
第1の検出信号を出力する第1の電圧レベル検出回路
と、 前記電源電圧の下降が、前記第1の検出レベルとは異な
る第2の検出レベル以下のときに、それを検出して第2
の検出信号を出力する第2の電圧レベル検出回路と、 前記第1の検出信号をリセット入力信号、前記第2の検
出信号をセット入力信号とし、前記半導体集積回路装置
の内部回路を初期化動作させるためのリセット信号を出
力する、フリップフロップからなるラッチ回路とを具備
したことを特徴とするリセット信号発生回路。
7. A first voltage level detection circuit for detecting a rise of a power supply voltage in a semiconductor integrated circuit device when the rise in power supply voltage is equal to or lower than a first detection level and outputting a first detection signal; Is lower than or equal to a second detection level different from the first detection level, the second detection level is detected and the second detection level is detected.
A second voltage level detection circuit that outputs a detection signal of the following: an operation of initializing an internal circuit of the semiconductor integrated circuit device by using the first detection signal as a reset input signal and the second detection signal as a set input signal And a latch circuit comprising a flip-flop for outputting a reset signal for causing the reset signal to be generated.
【請求項8】 半導体集積回路装置における電源電圧の
上昇が第1の検出レベル以下のときに、それを検出して
第1の検出信号を出力し、前記電源電圧の下降が、前記
第1の検出レベルとは異なる第2の検出レベル以下のと
きに、それを検出して第2の検出信号を出力する電圧レ
ベル検出回路と、 前記第1の検出信号をリセット入力信号、前記第2の検
出信号をセット入力信号とし、前記半導体集積回路装置
の内部回路を初期化動作させるためのリセット信号を出
力する、フリップフロップからなるラッチ回路とを具備
したことを特徴とするリセット信号発生回路。
8. When the rise of the power supply voltage in the semiconductor integrated circuit device is equal to or lower than a first detection level, it detects the rise and outputs a first detection signal. A voltage level detection circuit for detecting a second detection signal when the detection level is equal to or lower than a second detection level different from the detection level, and outputting a second detection signal; a reset input signal for the first detection signal; A reset signal generation circuit, comprising: a latch circuit composed of a flip-flop that outputs a reset signal for performing an initialization operation of an internal circuit of the semiconductor integrated circuit device using the signal as a set input signal.
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