JPH1131730A - Substrate processor - Google Patents

Substrate processor

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JPH1131730A
JPH1131730A JP9188034A JP18803497A JPH1131730A JP H1131730 A JPH1131730 A JP H1131730A JP 9188034 A JP9188034 A JP 9188034A JP 18803497 A JP18803497 A JP 18803497A JP H1131730 A JPH1131730 A JP H1131730A
Authority
JP
Japan
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substrate
cover member
cooling
holding arm
temperature
Prior art date
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Pending
Application number
JP9188034A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Joichi Nishimura
讓一 西村
Masami Otani
正美 大谷
Yasuo Imanishi
保夫 今西
Masao Tsuji
雅夫 辻
Masaki Iwami
優樹 岩見
Akihiko Morita
彰彦 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP9188034A priority Critical patent/JPH1131730A/en
Publication of JPH1131730A publication Critical patent/JPH1131730A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
    • G03F7/70875Temperature, e.g. temperature control of masks or workpieces via control of stage temperature

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate thermal effects from a substrate-holding arm to a substrate, while the substrate is being carried. SOLUTION: This device is provided with substrate-holding arms 29a and 29b for holding substrates, and substrate-carrying device 10 for carrying the substrates held by these substrate holding arms 29a and 29b to plural substrate processing parts, so as to have a series of processing including heating and a cooling operated to the substrates. The substrate-carrying device 10 is provided with a cover member 30 for covering the surrounding of the substrate-holding arms 29a and 29b, and a fan 32 for supplying a gas, adjusted to a prescribed temperature and a temperature and moisture adjusting unit 33, are provided in the inside space of the cover member 30.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板を保持する基
板保持アームを有し、この基板保持アームに保持された
基板を複数の基板処理部に搬送する基板搬送装置を備え
て、加熱処理及び冷却処理を含む一連の処理を基板に施
す基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a heat treatment apparatus having a substrate holding arm for holding a substrate, and a substrate transfer device for transferring the substrate held by the substrate holding arm to a plurality of substrate processing units. The present invention relates to a substrate processing apparatus that performs a series of processes including a cooling process on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のこの種の基板処理装置としては、
基板を加熱する加熱処理部、基板を冷却する冷却処理
部、基板にレジストを塗布するスピンコーター、基板に
現像処理を施すスピンデベロッパーなどの各種の基板処
理部や、各基板処理部間の基板の搬送を行う基板搬送装
置などを備えて、露光処理前後のレジスト処理を行う装
置がある。
2. Description of the Related Art Conventional substrate processing apparatuses of this type include:
Various types of substrate processing units such as a heat processing unit that heats the substrate, a cooling processing unit that cools the substrate, a spin coater that applies a resist to the substrate, and a spin developer that develops the substrate. 2. Description of the Related Art There is a device that includes a substrate transfer device that performs transfer and performs a resist process before and after exposure processing.

【0003】基板搬送装置は、基板を保持する基板保持
アームを備えていて、この基板保持アームに基板を保持
して基板を搬送するとともに、基板保持アームを各基板
処理部に挿入して各基板処理部に対する基板の搬入搬出
を行うように構成されている。
[0003] The substrate transfer device includes a substrate holding arm for holding the substrate. The substrate holding arm holds the substrate and transfers the substrate. It is configured to carry the substrate in and out of the processing unit.

【0004】また、この種の基板搬送装置は、通常、基
板保持アームを2本(あるいはそれ以上)備えていて、
各基板処理部に対する基板の入れ替えが行えるように構
成されている。例えば、加熱処理部に対する基板の入れ
替えは以下のように行われる。第1の基板保持アームは
加熱処理前の基板を保持し、第2の基板保持アームは基
板を保持していない空の状態である。加熱処理部で処理
を終えた基板を空の第2の基板保持アームで搬出し、そ
れに続いて第1の基板保持アームにより加熱処理前の基
板を加熱処理部に搬入することで、基板の入れ替えが行
われる。その他の基板処理部に対する基板の入れ替えも
同様に行われる。
In addition, this type of substrate transfer apparatus usually has two (or more) substrate holding arms,
The configuration is such that the substrates can be exchanged for each substrate processing unit. For example, the replacement of the substrate with respect to the heat treatment unit is performed as follows. The first substrate holding arm holds the substrate before the heat treatment, and the second substrate holding arm is empty and does not hold the substrate. The substrate that has been processed in the heat treatment unit is carried out by the empty second substrate holding arm, and subsequently the substrate before the heat treatment is carried into the heat treatment unit by the first substrate holding arm, thereby replacing the substrate. Is performed. The replacement of the substrate with respect to the other substrate processing units is performed in the same manner.

【0005】このような基板搬送装置により基板が各基
板処理部に所定の順序で搬送され、一連の処理が基板に
施される。
[0005] By such a substrate transfer apparatus, the substrate is transferred to each substrate processing section in a predetermined order, and a series of processing is performed on the substrate.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。この種の基板処理装置の処理手順では、加熱処理
部での加熱処理の後、冷却処理部で冷却処理が施され、
その後、スピンコーターでレジスト塗布処理あるいはス
ピンデベロッパーで現像処理が施される。
However, the prior art having such a structure has the following problems. In the processing procedure of this type of substrate processing apparatus, after the heat treatment in the heat treatment unit, the cooling treatment is performed in the cooling treatment unit,
Thereafter, a resist coating process is performed by a spin coater or a development process is performed by a spin developer.

【0007】すなわち、上述したように加熱処理部での
基板の入れ替えの後、第2の基板保持アームが加熱処理
済(冷却処理前)の基板を保持し、第1の基板保持アー
ムが空となった状態で、基板搬送装置は冷却処理部に移
動し、その冷却処理部で処理を終えた基板を空の第1の
基板保持アームで搬出し、それに続いて第2の基板保持
アームにより加熱処理済の基板を冷却処理部に搬入す
る。その入れ替えが終わると、次に、基板搬送装置は次
工程のスピンコーターあるいはスピンデベロッパーに移
動し、その基板処理部で処理を終えた基板を空の第2の
基板保持アームで搬出し、それに続いて第1の基板保持
アームにより冷却処理済の基板をその基板処理部に搬入
することになる。
That is, as described above, after the replacement of the substrate in the heat treatment section, the second substrate holding arm holds the substrate which has been subjected to the heat treatment (before the cooling process), and the first substrate holding arm becomes empty. In this state, the substrate transfer apparatus moves to the cooling processing unit, and unloads the substrate that has been processed in the cooling processing unit with the empty first substrate holding arm, and subsequently heats the substrate with the second substrate holding arm. The processed substrate is carried into the cooling processing unit. When the replacement is completed, the substrate transfer device then moves to the next step spin coater or spin developer, and unloads the substrate, which has been processed in the substrate processing unit, with an empty second substrate holding arm, and subsequently, Thus, the substrate subjected to the cooling process by the first substrate holding arm is carried into the substrate processing section.

【0008】ここで、加熱処理部での基板の入れ替えに
おいては、第1、第2の基板保持アームがともに加熱処
理部に挿入されることになるので、加熱処理部内の高温
雰囲気や熱輻射などによって第1、第2の基板保持アー
ムは温められることになる。そして、冷却処理部での基
板の入れ替えで、温められた第1の基板保持アームが冷
却処理済の基板を搬出し、保持した状態でその冷却処理
済の基板をスピンコーターあるいはスピンデベロッパー
へと搬送し搬入することになる。
Here, when the substrates are exchanged in the heat treatment section, both the first and second substrate holding arms are inserted into the heat treatment section, so that a high-temperature atmosphere, heat radiation, or the like in the heat treatment section. As a result, the first and second substrate holding arms are warmed. Then, when the substrates are exchanged in the cooling unit, the warmed first substrate holding arm carries out the cooled substrate and transports the cooled substrate to a spin coater or a spin developer while holding the substrate. Will be brought in.

【0009】そのため、冷却処理部からスピンコーター
あるいはスピンデベロッパーへの基板の搬送中に、温め
られた第1の基板保持アームにより冷却処理済の基板が
熱的影響を受けることになり、レジスト塗布処理や現像
処理が均一に行えないという不都合を招来していた。
Therefore, during the transfer of the substrate from the cooling processing section to the spin coater or the spin developer, the cooled substrate is thermally affected by the warmed first substrate holding arm, and the resist coating processing is performed. And the inconvenience that the developing process cannot be performed uniformly.

【0010】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、基板搬送中の基板保持アームからの基
板への熱的影響を無くすことができる基板処理装置を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and has as its object to provide a substrate processing apparatus capable of eliminating a thermal influence on a substrate from a substrate holding arm during the transfer of the substrate. And

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、本発明は、基板を保持する基板保持アームを有し、
この基板保持アームに保持された基板を複数の基板処理
部に搬送する基板搬送装置を備えて、加熱処理及び冷却
処理を含む一連の処理を基板に施す基板処理装置におい
て、前記基板保持アームの周囲を覆うカバー部材を前記
基板搬送装置に設けるとともに、このカバー部材の内側
空間に所定温度に調節された気体を供給する温度調節気
体供給手段を備えたことを特徴とするものである。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object. That is, the present invention has a substrate holding arm for holding a substrate,
A substrate processing apparatus that includes a substrate transfer device that transfers a substrate held by the substrate holding arm to a plurality of substrate processing units and performs a series of processes including a heating process and a cooling process on the substrate. And a temperature control gas supply means for supplying a gas adjusted to a predetermined temperature to a space inside the cover member.

【0012】[0012]

【作用】本発明の作用は次のとおりである。基板の搬送
は、基板保持アームがカバー部材の内側空間に収容され
た状態で行われる。このカバー部材の内側空間には温度
調節気体供給手段によって所定温度に調節された気体が
供給されている。従って、例えば、加熱処理部に対する
基板の搬入搬出の際に基板保持アームが温められても、
次の冷却処理部に移動するまでに基板保持アームは所定
温度に冷却される。
The operation of the present invention is as follows. The transfer of the substrate is performed in a state where the substrate holding arm is accommodated in the space inside the cover member. The gas adjusted to a predetermined temperature by the temperature adjusting gas supply means is supplied to the inner space of the cover member. Therefore, for example, even when the substrate holding arm is warmed at the time of loading and unloading the substrate to and from the heat treatment unit,
The substrate holding arm is cooled to a predetermined temperature before moving to the next cooling processing unit.

【0013】また、加熱処理部から冷却処理部への基板
の搬送中に、温度調節気体供給手段により供給される所
定温度に調節された気体によって、加熱された基板があ
る程度冷却(予備冷却)されるので、冷却処理部での冷
却処理時間を短縮することもできる。
Further, during the transfer of the substrate from the heating processing section to the cooling processing section, the heated substrate is cooled to some extent (preliminary cooling) by the gas adjusted to a predetermined temperature supplied by the temperature adjusting gas supply means. Therefore, the cooling processing time in the cooling processing unit can be shortened.

【0014】さらに、温度調節気体供給手段により供給
される所定温度に調節された気体での加熱基板の冷却
が、冷却処理部での冷却処理と同程度に均一で精度良く
行えれば、加熱処理後の冷却処理を基板の搬送中に行え
ることになるので、冷却処理部を装置から省くことも可
能となる。
Further, if the cooling of the heated substrate with the gas adjusted to a predetermined temperature supplied by the temperature adjusting gas supply means can be performed uniformly and accurately with the same degree as the cooling processing in the cooling processing section, Since the subsequent cooling processing can be performed during the transfer of the substrate, the cooling processing unit can be omitted from the apparatus.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は本発明の一実施形態に係る
基板処理装置の全体構成を示す斜視図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an overall configuration of a substrate processing apparatus according to one embodiment of the present invention.

【0016】この基板処理装置は、基板(半導体ウエ
ハ)Wに対してレジスト塗布処理、現像処理、加熱処理
及び冷却処理を行うための装置であり、大きく分けて、
未処理基板Wを保管したり処理済基板Wを保管する部分
(インデクサモジュール)1と、基板処理に係るプロセ
スモジュール2とから構成されている。
This substrate processing apparatus is an apparatus for performing a resist coating process, a developing process, a heating process, and a cooling process on a substrate (semiconductor wafer) W.
It comprises a part (indexer module) 1 for storing an unprocessed substrate W or a processed substrate W, and a process module 2 for processing a substrate.

【0017】インデクサモジュール1の載置台3は、基
板Wを多段に積層収納したカセットCが複数個(図では
4個)一列状態に載置可能に構成されている。インデク
サモジュール1には、各カセットCに対する基板Wの出
し入れや、プロセスモジュール2内の基板搬送装置10
との間で基板Wの受け渡しを行う基板搬入搬出装置4が
設けられている。
The mounting table 3 of the indexer module 1 is configured such that a plurality (four in the figure) of cassettes C in which substrates W are stacked and stored in multiple stages can be mounted in a line. The indexer module 1 is provided with a substrate W for each cassette C, and a substrate transfer device 10 in the process module 2.
A substrate carry-in / carry-out device 4 is provided for transferring the substrate W between the apparatus and the apparatus.

【0018】プロセスモジュール2には、基板Wを加熱
する加熱処理部5や、基板Wを冷却する冷却処理部6、
基板Wにレジストを塗布するスピンコーター7、基板W
に現像処理を施すスピンデベロッパー8などの各種の基
板処理部と、各基板処理部5〜8へ所定の順序に従って
基板Wを搬送するとともに、各基板処理部5〜8に対し
て基板Wを搬入搬出する基板搬送装置10とが設けられ
ている。
The process module 2 includes a heating section 5 for heating the substrate W, a cooling section 6 for cooling the substrate W,
Spin coater 7 for applying resist to substrate W, substrate W
The substrate W is transported according to a predetermined order to various substrate processing units such as a spin developer 8 for performing a developing process on the substrate processing units 5 to 8, and the substrate W is loaded into each of the substrate processing units 5 to 8. A substrate transfer device 10 for unloading is provided.

【0019】なお、図1では図示を省略しているが、こ
の基板処理装置には、露光装置(ステッパー)などの他
の基板処理装置との間で基板Wを受け渡すためのインタ
ーフェイス部が付設されている。
Although not shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus is provided with an interface section for transferring a substrate W to and from another substrate processing apparatus such as an exposure apparatus (stepper). Have been.

【0020】次に、本発明の要部である基板搬送装置1
0の詳細構成を図2を参照して説明する。なお、図1以
下の各図において、X方向は基板搬送装置10の搬送路
TRの長手方向を示し、Y方向は各基板処理部5〜8に
対する基板Wの搬入搬出の際に、基板保持アーム29
a、29bが進退される方向を示し、Z方向は鉛直方向
を示している。
Next, a substrate transfer apparatus 1 which is a main part of the present invention is described.
0 will be described with reference to FIG. 1 and the following drawings, the X direction indicates the longitudinal direction of the transport path TR of the substrate transport apparatus 10, and the Y direction indicates a substrate holding arm when loading and unloading the substrate W to and from each of the substrate processing units 5 to 8. 29
a, 29b indicate the directions in which they move forward and backward, and the Z direction indicates the vertical direction.

【0021】基板搬送装置10は、基板Wを保持する一
対の基板保持アーム29a、29bをX方向に移動させ
るX方向移動機構17、移動体28に対して個別に進退
させる進退機構(図示せず)、Z方向に移動させるZ方
向移動機構21および軸R周りで旋回させる旋回機構を
備えている。
The substrate transfer device 10 includes an X-direction moving mechanism 17 for moving a pair of substrate holding arms 29a and 29b for holding the substrate W in the X direction, and an advance / retreat mechanism (not shown) for individually moving forward / backward with respect to a moving body 28. ), A Z-direction moving mechanism 21 for moving in the Z-direction, and a turning mechanism for turning around the axis R.

【0022】X方向移動機構17は、X方向に延びる螺
軸14、螺軸14を回転させるためのモーター11、モ
ーター11の回転を螺軸14に伝動するためのプーリ1
3、15およびベルト16を備えている。螺軸14に
は、X方向移動台18のナット19が螺合されている。
また、X方向移動台18には、螺軸14に平行に延びる
ガイド軸20が摺動自在に嵌め込まれている。これによ
り、モーター11が回転すると、螺軸14が回転し、こ
れに伴ってナット19およびX方向移動台18がX方向
に移動する。
The X-direction moving mechanism 17 includes a screw shaft 14 extending in the X direction, a motor 11 for rotating the screw shaft 14, and a pulley 1 for transmitting the rotation of the motor 11 to the screw shaft 14.
3 and 15 and a belt 16. A nut 19 of an X-direction moving base 18 is screwed to the screw shaft 14.
A guide shaft 20 extending parallel to the screw shaft 14 is slidably fitted in the X-direction moving base 18. As a result, when the motor 11 rotates, the screw shaft 14 rotates, and accordingly, the nut 19 and the X-direction moving table 18 move in the X direction.

【0023】Z方向移動機構21は、X方向移動台18
上に取り付けられたモーター22を有する。モーター2
2の回転軸には螺軸23が連結され、この螺軸23にZ
方向移動台26のナット24が螺合されている。Z方向
移動台26は、鉛直方向に延びる部分と水平方向に延び
る部分とを有する鉤型形状に形成され、鉛直方向の一方
側面がガイド部材25に沿って摺動する。これにより、
モーター22が回転すると、螺軸23が回転し、これに
伴ってZ方向移動台26がZ方向に上下移動する。
The Z-direction moving mechanism 21 includes an X-direction moving table 18.
It has a motor 22 mounted thereon. Motor 2
A screw shaft 23 is connected to the rotation shaft 2 and the screw shaft 23
The nut 24 of the direction moving table 26 is screwed. The Z-direction moving base 26 is formed in a hook shape having a portion extending in the vertical direction and a portion extending in the horizontal direction, and one side surface in the vertical direction slides along the guide member 25. This allows
When the motor 22 rotates, the screw shaft 23 rotates, and accordingly, the Z-direction moving table 26 moves up and down in the Z direction.

【0024】Z方向移動台26の水平面上には移動体2
8が配置されている。この移動体28内には、螺軸など
を用いた周知の1方向移動機構で構成された進退機構が
2組設けられ、移動体28に対して各基板保持アーム2
9a、29bを個別に進退移動させるように構成されて
いる。
The moving body 2 is located on the horizontal plane of the Z-direction moving table 26.
8 are arranged. In the moving body 28, two sets of reciprocating mechanisms constituted by a well-known one-way moving mechanism using a screw shaft or the like are provided.
9a and 29b are configured to be individually moved forward and backward.

【0025】さらに、旋回機構は、回転軸が移動体28
に連結されたモーター27を備える。モーター27の回
動により移動体28がR軸周りで旋回される。
Further, in the turning mechanism, the rotation axis is
And a motor 27 connected to the motor. The moving body 28 is turned around the R axis by the rotation of the motor 27.

【0026】上記構成において、基板搬送装置10は、
基板保持アーム29a、29bの周囲を覆うカバー部材
30を備えている。
In the above configuration, the substrate transfer device 10
A cover member 30 that covers the periphery of the substrate holding arms 29a and 29b is provided.

【0027】図3ないし図5はカバー部材30が設けら
れた基板搬送装置10の断面図である。以下、図3ない
し図5に示す各形態のカバー部材30の構造について説
明する。
FIGS. 3 to 5 are sectional views of the substrate transfer apparatus 10 provided with the cover member 30. FIG. Hereinafter, the structure of the cover member 30 of each embodiment shown in FIGS. 3 to 5 will be described.

【0028】図3に示すカバー部材30は、円筒状のケ
ース本体31を備える。ケース本体31は、少なくとも
一対の基板保持アーム29a、29bを保持する移動体
28を収納しうる大きさを有する。ケース本体31の上
端には、上方から順にファン32、温湿度調節ユニット
33、フィルターユニット34が配置されている。
The cover member 30 shown in FIG. 3 has a cylindrical case main body 31. The case body 31 has a size that can accommodate the moving body 28 that holds at least the pair of substrate holding arms 29a and 29b. At the upper end of the case main body 31, a fan 32, a temperature / humidity adjusting unit 33, and a filter unit 34 are arranged in this order from above.

【0029】図6に示すように、温湿度調節ユニット3
3は、上から順に除湿器33a、加熱器(ヒーターな
ど)33b、加湿器33cが配置され、ファン32で吸
引された空気の温湿度が除湿器33aで下げられた後、
加熱器33bで温度が調節され、さらに加湿器33cで
湿度が調節された後、フィルターユニット34で除去成
分が除去されてからカバー部材30の内側空間に供給さ
れる。フィルターユニット34は、粉塵除去用のフィル
ター(例えばULPAフィルター)34aを備えてい
る。また、基板処理装置内で化学増幅型レジストを使用
する場合には、図6(b)に示すように、アルカリ成分
などの化学成分を除去する化学吸着フィルター34bが
粉塵除去用のフィルター34aの後段に設けられる。な
お、フィルターユニット34は必ずしも必要ではなく、
必要に応じて設ければよい。
As shown in FIG. 6, the temperature and humidity control unit 3
3, a dehumidifier 33a, a heater (such as a heater) 33b, and a humidifier 33c are arranged in order from the top, and after the temperature and humidity of the air sucked by the fan 32 are reduced by the dehumidifier 33a,
After the temperature is adjusted by the heater 33b and the humidity is adjusted by the humidifier 33c, the components to be removed are removed by the filter unit 34 and then supplied to the inner space of the cover member 30. The filter unit 34 includes a filter (for example, an ULPA filter) 34a for removing dust. When a chemically amplified resist is used in the substrate processing apparatus, as shown in FIG. 6B, a chemical adsorption filter 34b for removing a chemical component such as an alkali component is provided after the filter 34a for removing dust. Is provided. In addition, the filter unit 34 is not always necessary,
It may be provided as needed.

【0030】図3に戻って、ケース本体31の下端には
ケース本体31をZ方向移動台26に固定する固定部材
36が取り付けられている。この固定部材36は複数の
孔37が形成された多孔面38を有している。
Returning to FIG. 3, a fixing member 36 for fixing the case main body 31 to the Z-direction movable base 26 is attached to the lower end of the case main body 31. The fixing member 36 has a porous surface 38 in which a plurality of holes 37 are formed.

【0031】また、ケース本体31の側面には、一対の
基板保持アーム29a、29bの進退移動を可能とする
複数の開口35が形成されている。基板保持アーム29
a、29bは、この開口35を通り基板Wを保持して各
基板処理部5〜8に対する基板Wの搬入搬出を行う。な
お、開口35は、移動体28の回動位置に応じて複数箇
所設けられている。
A plurality of openings 35 are formed on the side surface of the case body 31 so that the pair of substrate holding arms 29a and 29b can move forward and backward. Substrate holding arm 29
a and 29b carry the substrate W into and out of the substrate processing units 5 to 8 while holding the substrate W through the opening 35. The openings 35 are provided at a plurality of positions in accordance with the turning position of the moving body 28.

【0032】基板保持アーム29a、29bが基板Wを
保持して搬送するときには、基板保持アーム29a、2
9bはカバー部材30の内側空間に収容されるので、基
板保持アーム29a、29bは、ファン32で取り込ま
れ所定の温湿度に調節された清浄な空気流によって所定
の温度(例えば、23℃)に維持される。従って、例え
ば、加熱処理部5に対する基板Wの搬入搬出によって基
板保持アーム29a、29bが温められても、次の冷却
処理部6に移動される間に、基板保持アーム29a、2
9bは所定温度にまで冷却され、冷却処理部6からスピ
ンコーター7あるいはスピンデベロッパー8への基板W
の搬送中に基板Wが基板保持アーム29a、29bから
熱的影響を受けることを防止できる。また、加熱処理部
5から取り出された、加熱された基板Wもカバー部材3
0の内側空間に収容されて、冷却処理部6へ搬送される
ので、この搬送中に基板Wを予備冷却することができ
る。従って、加熱処理部5で加熱されたままの基板Wを
冷却処理部6で所定温度に冷却するのに比べて、冷却処
理部6での冷却処理時間を短縮することができ、装置全
体のスループットを向上させることができる。さらに、
カバー部材30の内側空間での基板Wの冷却が冷却処理
部6での冷却処理と同程度に均一で高精度に行える場合
には、加熱処理部5から直接スピンコーター7あるいは
スピンデベロッパー8へ基板Wを搬送することができる
ので、冷却処理部6を装置から省くことができ、装置の
小型化を図ることもできる。
When the substrate holding arms 29a and 29b hold and transport the substrate W, the substrate holding arms 29a and 29b
Since 9b is accommodated in the space inside the cover member 30, the substrate holding arms 29a and 29b are brought to a predetermined temperature (for example, 23 ° C.) by a clean airflow taken in by the fan 32 and adjusted to a predetermined temperature and humidity. Will be maintained. Therefore, for example, even if the substrate holding arms 29a and 29b are warmed by loading / unloading the substrate W to / from the heat processing unit 5, the substrate holding arms 29a and 29b are moved to the next cooling processing unit 6.
9b is cooled to a predetermined temperature, and the substrate W is transferred from the cooling processing unit 6 to the spin coater 7 or the spin developer 8.
The substrate W can be prevented from being thermally affected by the substrate holding arms 29a and 29b during the transfer. Further, the heated substrate W taken out of the heat treatment section 5 is also covered with the cover member 3.
Since the wafer W is accommodated in the space inside the wafer W and transferred to the cooling processing unit 6, the substrate W can be pre-cooled during the transfer. Therefore, the cooling processing time in the cooling processing unit 6 can be reduced as compared with the case where the substrate W kept heated by the heating processing unit 5 is cooled to a predetermined temperature in the cooling processing unit 6, and the throughput of the entire apparatus can be reduced. Can be improved. further,
If the cooling of the substrate W in the space inside the cover member 30 can be performed with uniformity and high accuracy as well as the cooling process in the cooling processing unit 6, the substrate is directly transferred from the heating processing unit 5 to the spin coater 7 or the spin developer 8. Since W can be transported, the cooling processing unit 6 can be omitted from the device, and the size of the device can be reduced.

【0033】なお、ファン32で供給された所定の温湿
度に調節された清浄な空気流はカバー部材30の下面の
多孔面38から下方へ流出され、カバー部材30の内側
空間には常に新しい空気(所定の温湿度に調節された清
浄な空気)が供給されることになる。また、カバー部材
30の内側空間に供給された空気流の一部は開口35か
らカバー部材30の外部に流れ出るので、外部の空気が
カバー部材30の内側空間に流入することが防止でき、
カバー部材30の内側空間の温湿度を一定に維持するこ
とができる。なお、開口35を開閉するシャッター部材
を設けてもよく、このように構成すれば、カバー部材3
0の内側空間の温湿度の維持を一層完全に行うことがで
きる。
The clean airflow supplied to the fan 32 and adjusted to a predetermined temperature and humidity flows downward from the porous surface 38 on the lower surface of the cover member 30, and fresh air is always supplied to the inner space of the cover member 30. (Clean air adjusted to a predetermined temperature and humidity). Further, a part of the air flow supplied to the inner space of the cover member 30 flows out of the cover member 30 from the opening 35, so that external air can be prevented from flowing into the inner space of the cover member 30,
The temperature and humidity of the space inside the cover member 30 can be kept constant. In addition, a shutter member for opening and closing the opening 35 may be provided.
It is possible to more completely maintain the temperature and humidity of the inner space of zero.

【0034】図4の形態のカバー部材30は、図3の形
態のカバー部材30に対して、ケース本体31が移動体
28に固定されている点が異なる。この構成の場合に
は、移動体28がモーター27によりR軸周りに旋回す
る際に、カバー部材30も同時に旋回する。従って、一
対の基板保持アーム29a、29bと開口35との位置
の変動が生じない。そのため、開口35は一箇所設ける
だけでよくなる。その他の構成および作用効果は図3の
形態と同様であるのでその詳述は省略する。
The cover member 30 shown in FIG. 4 differs from the cover member 30 shown in FIG. 3 in that a case main body 31 is fixed to a movable body 28. In the case of this configuration, when the moving body 28 turns around the R axis by the motor 27, the cover member 30 also turns at the same time. Therefore, the positions of the pair of substrate holding arms 29a and 29b and the opening 35 do not change. Therefore, only one opening 35 is required. The other configuration and operation and effect are the same as those of the embodiment of FIG.

【0035】図5の形態のカバー部材30は、図3の形
態のカバー部材30に対して、ケース本体31がX方向
移動台18に固定部材36を介して固定されている点が
異なる。これにより、基板搬送装置10の略全体をカバ
ー部材30内に収納することができる。なお、この構成
の場合には、各基板処理部5〜8の受け渡し位置に対応
するケース本体31の側面部分に複数の開口35を設け
る必要がある。その他の構成および作用効果は図3の形
態と同様であるのでその詳述は省略する。
The cover member 30 shown in FIG. 5 is different from the cover member 30 shown in FIG. 3 in that the case body 31 is fixed to the X-direction moving table 18 via a fixing member 36. Thereby, substantially the entire substrate transfer device 10 can be stored in the cover member 30. In the case of this configuration, it is necessary to provide a plurality of openings 35 on the side surface of the case body 31 corresponding to the transfer positions of the substrate processing units 5 to 8. The other configuration and operation and effect are the same as those of the embodiment of FIG.

【0036】なお、上記各実施形態では、ファン32、
温湿度調節ユニット33(、フィルターユニット34)
をカバー部材30の上部に取り付けるように構成した
が、ファン32、温湿度調節ユニット33(、フィルタ
ーユニット34)を基板処理装置の適宜の位置に固定設
置し、そこからダクトを介して所定の温湿度に調節され
た(清浄な)空気をカバー部材30の内側空間内に供給
するように構成してもよい。
In each of the above embodiments, the fan 32,
Temperature / humidity control unit 33 (and filter unit 34)
Is mounted on the upper part of the cover member 30, but the fan 32 and the temperature / humidity adjusting unit 33 (and the filter unit 34) are fixedly installed at appropriate positions of the substrate processing apparatus, and a predetermined temperature is set therefrom via a duct. It may be configured to supply (clean) air adjusted to humidity into the space inside the cover member 30.

【0037】また、上記各実施形態では、カバー部材3
0の内側空間に温度と湿度を適宜に調節した空気流を供
給するように構成しているが、少なくとも所定温度に調
節された空気流がカバー部材30の内側空間に供給され
ればよいので、温湿度調節ユニット33から加湿器33
cを省略してもよい。
In each of the above embodiments, the cover member 3
Although the air flow whose temperature and humidity are appropriately adjusted is supplied to the inner space of the cover member 30, at least the air flow adjusted to a predetermined temperature may be supplied to the inner space of the cover member 30, Humidifier 33 from temperature and humidity control unit 33
c may be omitted.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、基板保持アームの周囲を覆うカバー部材を基
板搬送装置に設けるとともに、このカバー部材の内側空
間に所定温度に調節された気体を供給する温度調節気体
供給手段を備えたので、基板搬送中の基板保持アームの
温度を常に一定に維持することができ、基板搬送中の基
板保持アームからの基板への熱的影響を無くすことがで
きる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, a cover member for covering the periphery of the substrate holding arm is provided on the substrate transfer device, and the inside temperature of the cover member is adjusted to a predetermined temperature. Since the temperature control gas supply means for supplying the gas is provided, the temperature of the substrate holding arm during the substrate transfer can be always kept constant, and the thermal influence on the substrate from the substrate holding arm during the substrate transfer is eliminated. be able to.

【0039】また、加熱処理部から冷却処理部への基板
の搬送中に加熱された基板の冷却も行えるので、冷却処
理部での冷却処理時間を短縮することができ、さらに
は、冷却処理部での冷却処理と同程度に均一で精度良く
冷却することができれば冷却処理部を装置から省くこと
も可能となる。
Further, since the heated substrate can be cooled during the transfer of the substrate from the heat processing section to the cooling processing section, the cooling processing time in the cooling processing section can be shortened. If the cooling can be performed with uniformity and accuracy as high as the cooling processing in the above, the cooling processing section can be omitted from the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態に係る基板処理装置の全体
構成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an overall configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の要部である基板搬送装置の一例の構成
を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view illustrating a configuration of an example of a substrate transfer device that is a main part of the present invention.

【図3】第1の形態に係るカバー部材を備えた基板搬送
装置の構成を示す縦断面図である。
FIG. 3 is a vertical cross-sectional view illustrating a configuration of a substrate transfer device provided with a cover member according to the first embodiment.

【図4】第2の形態に係るカバー部材を備えた基板搬送
装置の構成を示す縦断面図である。
FIG. 4 is a vertical cross-sectional view illustrating a configuration of a substrate transfer device including a cover member according to a second embodiment.

【図5】第3の形態に係るカバー部材を備えた基板搬送
装置の構成を示す縦断面図である。
FIG. 5 is a vertical cross-sectional view illustrating a configuration of a substrate transfer device provided with a cover member according to a third embodiment.

【図6】温湿度調節ユニット及びフィルターユニットの
概略構成を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a schematic configuration of a temperature / humidity control unit and a filter unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

5:加熱処理部 6:冷却処理部 7:スピンコーター 8:スピンデベロッパー 10:基板搬送装置 29a、29b:基板保持アーム 30:カバー部材 32:ファン 33:温湿度調節ユニット W:基板 5: Heat treatment unit 6: Cooling treatment unit 7: Spin coater 8: Spin developer 10: Substrate transfer device 29a, 29b: Substrate holding arm 30: Cover member 32: Fan 33: Temperature / humidity adjustment unit W: Substrate

フロントページの続き (72)発明者 今西 保夫 京都府京都市伏見区羽束師古川町322 大 日本スクリーン製造株式会社洛西事業所内 (72)発明者 辻 雅夫 京都府京都市伏見区羽束師古川町322 大 日本スクリーン製造株式会社洛西事業所内 (72)発明者 岩見 優樹 京都府京都市伏見区羽束師古川町322 大 日本スクリーン製造株式会社洛西事業所内 (72)発明者 森田 彰彦 京都府京都市伏見区羽束師古川町322 大 日本スクリーン製造株式会社洛西事業所内Continuing on the front page (72) Inventor Yasuo Imanishi, 322 Hashizushi Furukawacho, Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd. (72) Inventor Masao Tsuji, 322 Hashizushi Furukawacho, Fushimi-ku, Kyoto, Kyoto Japan Inside the Screen Manufacturing Co., Ltd. (72) Inventor Yuki Iwami 322 Hashizushi Furukawacho, Fushimi-ku, Kyoto, Japan Kyoto Screen Manufacturing Co., Ltd. (72) Inventor Akihiko Morita Hashizushi Furukawa, Fushimi-ku, Kyoto, Kyoto Machi 322 Dai Nippon Screen Manufacturing Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を保持する基板保持アームを有し、
この基板保持アームに保持された基板を複数の基板処理
部に搬送する基板搬送装置を備えて、加熱処理及び冷却
処理を含む一連の処理を基板に施す基板処理装置におい
て、 前記基板保持アームの周囲を覆うカバー部材を前記基板
搬送装置に設けるとともに、このカバー部材の内側空間
に所定温度に調節された気体を供給する温度調節気体供
給手段を備えたことを特徴とする基板処理装置。
A substrate holding arm for holding the substrate;
A substrate processing apparatus that includes a substrate transfer device that transfers a substrate held by the substrate holding arm to a plurality of substrate processing units and performs a series of processes including a heating process and a cooling process on the substrate. A substrate member provided on the substrate transfer device, and a temperature adjusting gas supply unit for supplying a gas adjusted to a predetermined temperature to an inner space of the cover member.
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