JPH11288431A - Substrate designing device - Google Patents

Substrate designing device

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Publication number
JPH11288431A
JPH11288431A JP10337644A JP33764498A JPH11288431A JP H11288431 A JPH11288431 A JP H11288431A JP 10337644 A JP10337644 A JP 10337644A JP 33764498 A JP33764498 A JP 33764498A JP H11288431 A JPH11288431 A JP H11288431A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
wiring
information
reference signal
storage unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10337644A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Miura
昭浩 三浦
Tadataka Asakawa
忠隆 浅川
Keitaro Yamagishi
圭太郎 山岸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP10337644A priority Critical patent/JPH11288431A/en
Publication of JPH11288431A publication Critical patent/JPH11288431A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a substrate designing system by a timing verifying/graphical displaying function. SOLUTION: Each reference signal/electronic part inside connection/timing information to be defined is designated by an inputting part 1, and the arrangement and wiring of electronic parts of prepared circuit diagram data is separately operated by a substrate arrangement and wiring designing part 2. Then, substrate connection data are extracted from substrate layout design data stored in a substrate layout design data storing part 3 by a substrate connection data extracting part 4, and stored in a substrate connection data storing part 5. The stored substrate connection data and each reference signal/electronic part inside connection/timing information stored in a reference signal information storing part 6 and an electronic part timing information storing part 7 from the inputting part 1 are inputted to a timing analyzing part 8 so that inter- electronic part timing having a timing constraint condition can be analyzed, and the analyzed result is stored in an analyzed result storing part 9, and displayed at an analyzed result displaying part 10.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はプリント配線板等
基板の機能/論理/レイアウト設計で基準信号周期や基
準信号間スキュー等情報を容易に定義でき、基板上配線
遅延時間を考慮した回路動作タイミング検証機能とグラ
フィカル表示機能をもつ基板設計装置等に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention can easily define information such as a reference signal cycle and a skew between reference signals in a function / logic / layout design of a board such as a printed wiring board, and a circuit operation timing in consideration of a wiring delay time on the board. The present invention relates to a board design device having a verification function and a graphical display function.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば特開平5−89198号公報に
示す従来の基板設計装置は図27のように、電子部品カ
タログや回路図を見ながら人手で作成するプリント配線
板実装回路の基準信号情報を用い設計する方式(人手に
よる基準信号情報を用いる基板設計方式)を採る。まず
論理回路入力部で論理シミュレーションを実行する論理
回路を入力し、判別部で信号伝達遅延要因となる情報
(論理回路レイアウト後の配線容量値や配線抵抗値等)を
格納する遅延情報ファイルの有無を判別し、有れば配線
遅延計算部で当該遅延情報ファイルに基づき実際の配線
遅延値を計算する(以上手順S1〜S3)。つぎに自動ノ
ード生成部で当該計算結果に基づき異なる配線ごとの遅
延値をもつノード情報テーブルを自動的に作成し、素子
遅延計算部で論理シミュレーション対象素子の遅延計算
をし個別の遅延値を求める(以上手順S4とS5)。さら
に論理シミュレーション実行部で当該ノード情報テーブ
ルと遅延値とに基づき論理回路の検証を実施する(手順
S6)。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 27, for example, a conventional board design apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. HEI 5-89198 requires reference signal information of a printed wiring board mounted circuit manually created while viewing an electronic component catalog or a circuit diagram. And a design method (a board design method using reference signal information by hand). First, the logic circuit input section inputs a logic circuit for executing a logic simulation, and the discrimination section inputs information that causes a signal transmission delay.
Determine whether there is a delay information file that stores (wiring capacitance value, wiring resistance value, etc. after the logic circuit layout), and if there is, calculate the actual wiring delay value based on the delay information file in the wiring delay calculation unit ( The above procedures S1 to S3). Next, the automatic node generation unit automatically creates a node information table having delay values for different wirings based on the calculation result, and the element delay calculation unit calculates the delay of the element to be subjected to the logic simulation to obtain individual delay values. (The above procedures S4 and S5). Further, the logic simulation execution unit verifies the logic circuit based on the node information table and the delay value (step S6).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の基
板設計装置では、人手による基準信号情報を用いる基板
設計方式を採るから、基板実装回路の動作クロック等基
準信号の定義、特に基準信号間のスキュー情報を人手で
算出するため時間が掛かる。また電気的特性(プリント
配線板等上で伝送する信号の反射やクロストークなど)
を考慮した配線遅延データによる所要のタイミング検証
ができない。また抵抗(R)/容量(C)置換による当該配
線遅延時間と基板上実配線遅延時間との差が大きい問題
点があった。
The above-described conventional board design apparatus employs a board design method using manual reference signal information. Therefore, the definition of a reference signal such as an operation clock of a board-mounted circuit, especially the It takes time to calculate the skew information manually. Electrical characteristics (reflection of signals transmitted on printed wiring boards, crosstalk, etc.)
The required timing cannot be verified using the wiring delay data in consideration of the above. There is also a problem that the difference between the wiring delay time due to the resistance (R) / capacitance (C) replacement and the actual wiring delay time on the substrate is large.

【0004】また、従来の基板設計装置では、RCで見
積った配線遅延を用いて回路動作を確認するためにタイ
ミング検証を実施する方式(回路動作確認にタイミング
検証機能を用いる基板設計方式)を採っていため、回路
動作確認にタイミング検証機能を用いる基板設計方式を
採るから、タイミング検証結果がレイアウト設計へ反映
されておらずタイミング・エラーとなった場合の設計出
戻りに時間が掛かるという問題点があった。
Further, the conventional board design apparatus employs a method of performing timing verification to confirm circuit operation using the wiring delay estimated by RC (a board design method using a timing verification function for circuit operation verification). Therefore, since the board design method that uses the timing verification function to check the circuit operation is adopted, the timing verification result is not reflected in the layout design, and it takes time to return to the design when a timing error occurs, resulting in a problem. Was.

【0005】この発明が解決しようとする課題は、基板
設計装置で上記問題点を解消するように、基板上の配線
遅延時間を考慮した回路動作タイミングを検証する方式
および基準信号情報の定義を容易にするようにグラフィ
カル表示をする方式(タイミング検証/グラフィカル表
示機能による基板設計方式)を提供することにある。
The problem to be solved by the present invention is to simplify the method of verifying the circuit operation timing in consideration of the wiring delay time on the substrate and the definition of the reference signal information so as to solve the above-mentioned problems in the substrate design apparatus. It is an object of the present invention to provide a method of performing a graphical display (a board design method using a timing verification / graphical display function).

【0006】またこの発明が解決しようとする課題のも
う1つは、タイミング検証にて算出した各配線に対する
配線許容遅延をもとにレイアウト設計を行う方式(タイ
ミング検証における配線許容遅延算出/比較機能による
基板設計方式)を提供することにある。
Another problem to be solved by the present invention is a method of performing a layout design based on a wiring allowable delay for each wiring calculated by timing verification (a wiring allowable delay calculation / comparison function in timing verification). To provide a circuit board design method).

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明の基板設計装置
は、上記課題を解決するためつぎの手段を設け、タイミ
ング検証/グラフィカル表示機能による基板設計方式を
採ることを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a board designing apparatus provided with the following means for solving the above-mentioned problems, and adopting a board designing method using a timing verification / graphical display function.

【0008】入力部は、基準信号情報と電子部品内部接
続情報とタイミング情報とに対し、定義をし指定をす
る。
The input section defines and specifies the reference signal information, the electronic component internal connection information, and the timing information.

【0009】基板配置配線部/基板レイアウト設計デー
タ記憶部は、別途作成をする回路図データに対し、電子
部品の配置配線をし、基板レイアウト設計データを生成
し格納する。
The board layout / wiring section / board layout design data storage section performs layout and wiring of electronic components on circuit diagram data which is separately created, and generates and stores board layout design data.

【0010】基板接続データ抽出/記憶部は、基板レイ
アウト設計データ記憶部による格納基板レイアウト設計
データに対し、基板接続データを抽出し格納する。
The board connection data extraction / storage unit extracts and stores board connection data from the stored board layout design data stored in the board layout design data storage unit.

【0011】基準信号情報/電子部品タイミング情報記
憶部は、入力部による指定基準信号情報/電子部品内部
接続情報とタイミング情報を格納する。
The reference signal information / electronic component timing information storage unit stores designated reference signal information / electronic component internal connection information and timing information by the input unit.

【0012】タイミング解析部は、基準信号情報/電子
部品タイミング情報記憶部による格納基準信号情報/電
子部品内部接続情報とタイミング情報および基板接続デ
ータ記憶部による格納基板接続データに対し、タイミン
グ制約条件をもつ電子部品間のタイミングを解析する。
[0012] The timing analysis unit sets a timing constraint condition on the storage reference signal information / electronic component internal connection information and timing information by the reference signal information / electronic component timing information storage unit and the storage board connection data by the board connection data storage unit. Analyze the timing between electronic components.

【0013】解析結果記憶/表示部は、タイミング解析
部による解析結果を格納し表示する。
The analysis result storage / display unit stores and displays the analysis result by the timing analysis unit.

【0014】ネット名検索部は、別途設ける。基板接続
データ記憶部による格納基板接続データに対し、入力部
による指定基準信号情報のネット名を検索し、当該ネッ
ト名等に対応する接続情報を仮基準信号情報として生成
する。
The net name search section is provided separately. The input unit searches the storage board connection data of the board connection data storage unit for the net name of the designated reference signal information, and generates connection information corresponding to the net name or the like as temporary reference signal information.

【0015】仮基準信号情報記憶/表示部は、別途設け
る。ネット名検索部による生成仮基準信号情報に対し、
格納をし、当該ネット名等に対応する接続情報をグラフ
ィカル表示する。
The provisional reference signal information storage / display unit is provided separately. For the generated temporary reference signal information by the net name search unit,
The information is stored, and the connection information corresponding to the net name or the like is graphically displayed.

【0016】基準信号情報定義部は、別途設ける。仮基
準信号情報表示部による表示仮基準信号情報に対し、入
力部による指定基準信号情報を用い、周期やスキュー情
報を付加して正式認定をし、基準信号情報として、入力
部による指定基準信号情報に代えて基準信号情報記憶部
に出力する。
The reference signal information defining section is provided separately. Display temporary reference signal information displayed by the temporary reference signal information display unit, use the specified reference signal information by the input unit, add the period and skew information, formally certify, and specify the reference signal information by the input unit as the reference signal information Is output to the reference signal information storage unit.

【0017】基準信号パス検索部は、ネット名検索部に
代えて設ける。電子部品タイミング情報記憶部による格
納電子部品内部接続情報とタイミング情報および基板接
続データ記憶部による格納基板接続データに対し、当該
基準信号になりうるパスを検索し生成する当該ネット名
等に対応する電子部品や接続情報を仮基準信号情報とし
て、仮基準信号情報記憶部に出力する。
The reference signal path search section is provided instead of the net name search section. With respect to the stored electronic component internal connection information and the timing information stored in the electronic component timing information storage unit and the stored board connection data stored in the board connection data storage unit, a path corresponding to the reference signal is searched and generated. The parts and connection information are output to the temporary reference signal information storage unit as temporary reference signal information.

【0018】プロパティ情報検索部は、ネット名検索部
に代えて設ける。基板接続データ記憶部による格納基板
接続データに対し、基準信号指定プロパティを付加した
信号のネット名を検索し生成する当該ネット名等に対応
する電子部品や接続情報を仮基準信号として、仮基準信
号情報記憶部に出力する。
The property information search section is provided instead of the net name search section. The storage board connection data stored in the board connection data storage unit is searched for a net name of a signal to which a reference signal designation property is added. Output to the information storage unit.

【0019】データ判別処理部は、別途設ける。いずれ
も備える上記ネット名検索部と基準信号パス検索部とプ
ロパティ情報検索部とによる各生成仮基準信号情報に対
し、当該各検索方法を判別し、タイミング検証実施者が
指定するネット名と基準信号になりうるパスと基準信号
指定プロパティを付加した信号のネット名のいずれかの
組合せまたはすべてを検索し生成する当該パス等に対応
する電子部品や接続情報を仮基準信号情報として、ネッ
ト各検索部による生成仮基準信号情報に代えて仮基準信
号情報記憶部に出力する。
The data discriminating unit is provided separately. For each generated temporary reference signal information by the net name search unit, the reference signal path search unit, and the property information search unit, the search method is determined, and the net name and the reference signal specified by the timing verification implementer are determined. The electronic component and connection information corresponding to the path or the like to be searched and generated for any combination or all of the path and the net name of the signal to which the reference signal designation property is added as the provisional reference signal information, and each net search unit Is output to the temporary reference signal information storage unit in place of the temporary reference signal information generated by.

【0020】仮想配線遅延データ算出部は、別途設け
る。基板レイアウト設計データ記憶部による格納基板レ
イアウト設計データと入力部による指定タイミング情報
に対し、推測する接続ピン間配線長から仮想遅延データ
を算出する。
The virtual wiring delay data calculator is provided separately. Based on the storage board layout design data stored in the board layout design data storage unit and the designated timing information specified by the input unit, virtual delay data is calculated from the estimated wiring length between connection pins.

【0021】配線遅延データ記憶部は、別途設ける。仮
想配線遅延データ算出部による算出仮想配線遅延データ
に対し格納をしタイミング解析部に出力する。
The wiring delay data storage section is provided separately. The virtual wiring delay data calculated by the virtual wiring delay data calculation unit is stored and output to the timing analysis unit.

【0022】波形解析部は、仮想配線遅延データ算出部
に代えて設ける。別途設ける波形解析準備データ記憶部
による格納波形解析準備データを読込んで波形解析シミ
ュレーションを実施し、算出する各配線ごとの配線遅延
データを配線遅延データ記憶部に出力する。
The waveform analyzer is provided in place of the virtual wiring delay data calculator. The waveform analysis preparation data stored in the separately provided waveform analysis preparation data storage unit is read, a waveform analysis simulation is performed, and the calculated wiring delay data for each wiring is output to the wiring delay data storage unit.

【0023】この発明の別の発明の基板設計装置は、上
記課題を解決するためつぎの手段を設け、タイミング検
証における配線許容遅延算出/比較機能による基板設計
方式を採ることを特徴とする。
A board designing apparatus according to another aspect of the present invention is provided with the following means in order to solve the above-mentioned problems, and adopts a board designing method using a wiring allowable delay calculation / comparison function in timing verification.

【0024】入力部は、基準信号情報と電子部品内部接
続情報とタイミング情報と基板設計情報と波形解析準備
データとに対し、定義をし指定をする。
The input section defines and designates the reference signal information, the electronic component internal connection information, the timing information, the board design information, and the waveform analysis preparation data.

【0025】回路図データ記憶部は、回路設計した回路
図データを格納する。
The circuit diagram data storage section stores circuit diagram data for which a circuit has been designed.

【0026】基準信号情報記憶部/電子部品タイミング
情報記憶部は、入力部による指定基準信号情報/電子部
品内部接続情報とタイミング情報を格納する。
The reference signal information storage unit / electronic component timing information storage unit stores designated reference signal information / electronic component internal connection information and timing information by the input unit.

【0027】タイミング解析部/タイミング解析結果記
憶部は、基準信号情報/電子部品タイミング情報記憶部
による格納基準信号情報/電子部品内部接続情報とタイ
ミング情報および回路図データ記憶部による格納回路図
データに対し、タイミング制約条件をもつ電子部品間の
タイミングを解析し、その解析結果を格納する。
The timing analysis unit / timing analysis result storage unit stores reference signal information / electronic component timing information storage unit stored reference signal information / electronic component internal connection information and timing information, and circuit diagram data storage unit stored circuit diagram data. On the other hand, the timing between electronic components having the timing constraint condition is analyzed, and the analysis result is stored.

【0028】配線許容遅延算出部/記憶部は、タイミン
グ解析結果記憶部による格納解析結果に対し、タイミン
グ・マージン(タイミング制約条件に対する余裕)から配
線ごとに配線遅延として許容できる遅延時間を算出し、
格納する。
The wiring allowable delay calculation unit / storage unit calculates a delay time allowable as a wiring delay for each wiring from a timing margin (a margin for timing constraint conditions) with respect to the storage analysis result by the timing analysis result storage unit.
Store.

【0029】基板設計情報記憶部は、入力部にて定義し
た基板仕様(層構成,導電体の幅/間隙値など)や基板の
電気的な特性値(特性インピーダンス,単位線長当たり
の遅延時間,比誘電率など)を格納する。
The board design information storage unit stores the board specifications (layer configuration, conductor width / gap value, etc.) defined by the input unit and the electrical characteristic values of the board (characteristic impedance, delay time per unit line length). , Relative permittivity, etc.).

【0030】基板配置配線設計部は、回路図データ記憶
部と配線許容遅延記憶部と基板設計情報記憶部による格
納回路図データと配線許容遅延と基板設計情報に対し、
電子部品の配置や信号の配線を実施する。
The board placement / wiring design unit stores the circuit diagram data, the wiring allowable delay, and the board design information by the circuit diagram data storage unit, the wiring allowable delay storage unit, and the board design information storage unit.
Implement the layout of electronic components and signal wiring.

【0031】仮想配線遅延算出部/配線遅延記憶部は、
基板配置配線設計部による基板配置配線情報と基板設計
情報記憶部による基板設計情報に対し、基板配置配線情
報の部品のXY座標からマンハッタン長を算出して基板
設計情報の格納単位線長当たりの遅延時間と乗算して仮
想配線遅延を算出し、格納する。
The virtual wiring delay calculation unit / wiring delay storage unit
The Manhattan length is calculated from the XY coordinates of the components of the board placement and wiring information with respect to the board placement and wiring information by the board placement and wiring design unit and the board design information by the board design information storage unit, and the delay per unit line length of storage of the board design information The virtual wiring delay is calculated by multiplying by the time and stored.

【0032】配線遅延比較部は、配線許容遅延記憶部に
よる格納配線許容遅延と配線遅延記憶部による格納配線
遅延情報に対し、配線遅延情報が配線許容遅延を満足し
ているかを確認するために配線遅延情報と配線許容遅延
を比較する。
The wiring delay comparing section checks whether the wiring delay information satisfies the wiring allowable delay with respect to the storage wiring allowable delay stored in the wiring allowable delay storage section and the storage wiring delay information stored in the wiring delay storing section. Compare the delay information with the allowable wiring delay.

【0033】配線遅延比較結果記憶部/表示部は、配線
遅延比較部による配線遅延比較結果を格納し表示する。
The wiring delay comparison result storage / display unit stores and displays the result of the wiring delay comparison by the wiring delay comparing unit.

【0034】基準値記憶部は、別途設ける。配線許容遅
延記憶部による配線許容遅延が実際に電子部品の配置や
電子部品間の配線が可能な範囲であるかをチェックする
ための基準とする、入力部を用いて定義した基準値を格
納する。
The reference value storage section is provided separately. Stores a reference value defined using the input unit, which is used as a reference for checking whether the wiring allowable delay by the wiring allowable delay storage unit is actually in a range where the electronic components can be arranged and the wiring between the electronic components is possible. .

【0035】配線許容遅延チェック部は、別途設ける。
配線許容遅延記憶部による配線許容遅延と基準値記憶部
による基準値を比較する。
The wiring allowable delay check section is provided separately.
The allowable wiring delay by the allowable wiring delay storage unit is compared with the reference value by the reference value storage unit.

【0036】回路図データ判別処理部は、別途設ける。
回路図データ記憶部による回路図データに対し、タイミ
ングとは無関係な部品(例えば、抵抗やコンデンサなど)
の情報を回路図データから削除する。このタイミングと
は無関係な部品かどうかの判断は、予め回路図データの
電子部品情報に対して付けられた付加情報を読み取り判
断する。
The circuit diagram data discriminating unit is provided separately.
Parts that are not related to timing (for example, resistors and capacitors) for the circuit diagram data stored in the circuit diagram data storage unit
Is deleted from the circuit diagram data. The determination as to whether the component is irrelevant to the timing is made by reading additional information attached to the electronic component information of the circuit diagram data in advance.

【0037】電子部品情報判別処理部は、回路図データ
判別処理部に代えて設ける。回路図データ記憶部による
回路図データに対し、タイミングとは無関係な部品(例
えば、抵抗やコンデンサなど)の情報を回路図データか
ら削除する。このタイミングとは無関係な部品かどうか
の判断は、電子部品タイミング情報記憶部による電子部
品内部接続情報/タイミング情報と回路図データ記憶部
による回路図データの各配線に付けられたネット名から
判断する。
The electronic component information discrimination processing section is provided instead of the circuit diagram data discrimination processing section. From the circuit diagram data stored in the circuit diagram data storage unit, information on components (for example, resistors and capacitors) that are not related to timing is deleted from the circuit diagram data. The determination as to whether or not the component is irrelevant to the timing is made from the electronic component internal connection information / timing information in the electronic component timing information storage unit and the net name given to each wiring of the circuit diagram data in the circuit diagram data storage unit. .

【0038】遅延データ変換部は、別途設ける。基板配
置配線設計部による配線許容遅延と単位線長当たりの遅
延時間に対し、配置検討するために選択した部品とその
部品に接続される部品との配線許容遅延を単位線長当た
りの遅延時間で除算して線長データへ変換する。
The delay data converter is provided separately. For the allowable wiring delay and the delay time per unit line length by the board placement and wiring design unit, the allowable wiring delay between the component selected for placement study and the component connected to the component is expressed as the delay time per unit line length. Divide and convert to line length data.

【0039】線長データ記憶部は、別途設ける。遅延デ
ータ変換部による線長データに対し、格納する。
The line length data storage section is provided separately. The line length data by the delay data conversion unit is stored.

【0040】部品配置可能エリア指示部は、別途設け
る。線長データ記憶部による線長データに対し、この線
長データをもとに配置検討する部品の配置可能エリアを
基板配置配線設計部へ指示する。
The component allocable area indicating section is provided separately. In response to the line length data stored in the line length data storage unit, an area where components to be arranged can be arranged is designated to the board arrangement and wiring design unit based on the line length data.

【0041】概略配線遅延算出部は、仮想配線遅延算出
部に代えて設ける。基板配置配線設計部による配線した
信号の線長データと単位線長当たりの遅延時間に対し
て、線長データと単位線長当たりの遅延時間とで乗算
し、算出する配線遅延を配線遅延記憶部に出力する。
The general wiring delay calculator is provided in place of the virtual wiring delay calculator. The line delay data and the delay time per unit line length are multiplied by the line length data and the delay time per unit line length by the board placement and wiring design unit, and the calculated wiring delay is calculated by the wiring delay storage unit. Output to

【0042】波形解析準備データ記憶部は、別途設け
る。入力部を用いて定義した波形解析に必要な情報(例
えば、部品の出力ピンのV−I特性や出力信号の立ち上
がり/立ち下がり時間など)やクロストークを考慮した
波形解析が必要かどうかをチェックするパラメータ(平
行配線数/配線間隔/平行配線長)を格納する。
The waveform analysis preparation data storage section is provided separately. Checks the information required for waveform analysis defined using the input section (for example, VI characteristics of output pins of components, rise / fall time of output signal, etc.) and whether waveform analysis considering crosstalk is necessary (Parallel wiring number / wiring interval / parallel wiring length) to be stored.

【0043】波形解析部は、仮想配線遅延算出部に代え
て設ける。別途設ける波形解析準備データ記憶部による
格納波形解析準備データと基板配置配線設計部(また
は、自動配線設計部)による配線した信号の配線情報(配
線層や配線長,基板仕様など)を読み込んで波形解析シ
ミュレーションを実施し、算出する各配線ごとの配線遅
延データを配線遅延記憶部に出力する。
The waveform analyzer is provided in place of the virtual wiring delay calculator. Read the waveform analysis preparation data stored by the separately provided waveform analysis preparation data storage unit and the wiring information (wiring layer, wiring length, board specification, etc.) of the wired signal by the board layout and wiring design unit (or automatic wiring design unit) and read the waveform. An analysis simulation is performed, and the calculated wiring delay data for each wiring is output to the wiring delay storage unit.

【0044】自動配線設計部は、別途設ける。線長デー
タ記憶部による線長データに対し、その線長データを満
足するように自動で配線設計を実施する。
The automatic wiring design unit is provided separately. Wiring design is automatically performed on the line length data stored in the line length data storage unit so as to satisfy the line length data.

【0045】平行配線数チェック部は、別途設ける。基
板配置配線設計部による配線した信号の配線情報(上記
の配線情報以外に隣接する配線の数や間隙値なども含
む)に対し、波形解析準備データ記憶部に予め入力部を
用いて定義した波形解析が必要な平行配線数と比較し
て、その配線がクロストークを考慮した波形解析が必要
かをチェックする。
The parallel wiring number check section is provided separately. For the wiring information (including the number of adjacent wiring and gap value other than the above wiring information) of the signal wired by the board layout wiring design unit, the waveform defined in the waveform analysis preparation data storage unit using the input unit in advance Compare with the number of parallel wirings that need to be analyzed, and check whether the wiring needs waveform analysis taking into account crosstalk.

【0046】波形解析結果記憶部は、別途設ける。波形
解析部によるクロストークを考慮した波形解析結果の波
形情報を格納する。
The waveform analysis result storage section is provided separately. The waveform information of the result of the waveform analysis in consideration of the crosstalk by the waveform analysis unit is stored.

【0047】タイミング解析結果表示部は、別途設け
る。波形解析結果記憶部による波形情報を用いて再度タ
イミング解析を実施して格納されたタイミング解析結果
を表示する。
The timing analysis result display section is provided separately. The timing analysis is performed again using the waveform information from the waveform analysis result storage unit, and the stored timing analysis result is displayed.

【0048】ハイライト表示指示部は、配線遅延比較結
果記憶部に代えて設ける。配線遅延比較結果記憶部によ
る配線遅延比較結果をもとにタイミング・エラーとなっ
た信号に対して基板配置配線設計部でハイライト表示さ
せ指示をする。
The highlight display instruction section is provided instead of the wiring delay comparison result storage section. Based on the wiring delay comparison result stored in the wiring delay comparison result storage unit, the board placement and wiring design unit highlights and instructs the signal that caused the timing error.

【0049】[0049]

【発明の実施の形態】実施の形態1.この発明の実施の
一形態を示す基板設計装置は図1のように、入力部1
は、基準信号情報(回路の動作クロック周期やスキュー
などの情報)と電子部品内部接続情報とタイミング情報
(内部遅延時間やセットアップ/ホールドタイムなどの
タイミング制約条件の定義情報)とに対し定義をし、キ
ーボード/マウス等で指定をする。基板配置配線設計部
2は、別途作成をする回路図データに対し電子部品の配
置や電子部品間の配線をし、基板レイアウト設計データ
(たとえば図2に示す基板回路図)を生成する。基板レイ
アウト設計データ記憶部3は、基板配置配線設計部2に
よる生成基板レイアウト設計データを格納する。基板接
続データ抽出/記憶部4/5は、基板レイアウト設計デ
ータ記憶部3による格納基板レイアウト設計データに対
したとえば図3の(a)に示す基板接続データ(タイミン
グ検証に必要なネット名や電子部品のロケーション番号
/ピン番号/型名などのデータ)を抽出し、格納する。
基準信号情報記憶部6は、入力部1による指定基準信号
情報を格納する。電子部品タイミング情報記憶部7は、
入力部1による指定電子部品内部接続情報とタイミング
情報を格納する。タイミング解析部8は、基板接続デー
タ記憶部5による格納基板接続データと基準信号情報記
憶部6による格納基準信号情報と電子部品タイミング情
報記憶部7による格納電子部品内部接続情報とタイミン
グ情報とに対しタイミング制約条件をもつ電子部品間の
タイミングを解析する。解析結果記憶/表示部9/10
は、タイミング解析部8によるたとえば図3の(b)に示
す解析結果を格納し、表示する。基板上の配線遅延時間
を考慮した回路動作タイミングを検証できる。基板接続
データ抽出部4は、基板レイアウト設計データ以外に一
般的に図面入力論理CAD(computer−aid
ed design)アプリケーションを用い回路設計
者が作成する回路図データから基板接続データを抽出し
てもよい。解析結果表示部10は、たとえば図3の(b)
に示すように回路中のどのパスでタイミング・エラーが
発生したのかや各パスでどの程度のマージン(タイミン
グ余裕)があるのかなどの情報に対し、タイミング・エ
ラーとなるネット名とセットアップ/ホールドタイムを
表示する中で、定義したタイミング制約条件に対する不
足分(タイミング・エラーを意味する)と余裕分をそれぞ
れマイナスとプラスの値で示している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 A board design apparatus according to an embodiment of the present invention has an input unit 1 as shown in FIG.
Is the reference signal information (information such as the operation clock cycle and skew of the circuit), the internal connection information of electronic components, and the timing information.
(Definition information of timing constraint conditions such as internal delay time and setup / hold time) and specify using keyboard / mouse etc. The board layout and wiring design unit 2 performs layout of electronic components and wiring between the electronic components with respect to circuit diagram data to be separately created, and generates board layout design data.
(For example, a circuit diagram shown in FIG. 2). The board layout design data storage unit 3 stores the board layout design data generated by the board layout and wiring design unit 2. The board connection data extraction / storage section 4/5 stores the board connection data (for example, net names and electronic components necessary for timing verification) shown in FIG. Data such as location number / pin number / model name) is extracted and stored.
The reference signal information storage section 6 stores reference signal information specified by the input section 1. The electronic component timing information storage unit 7
The electronic component internal connection information and timing information designated by the input unit 1 are stored. The timing analysis unit 8 compares the stored board connection data from the board connection data storage unit 5, the stored reference signal information from the reference signal information storage unit 6, and the stored electronic component internal connection information and timing information from the electronic component timing information storage unit 7. Analyze the timing between electronic components with timing constraints. Analysis result storage / display section 9/10
Stores and displays, for example, the analysis result shown in FIG. 3B by the timing analysis unit 8. The circuit operation timing can be verified in consideration of the wiring delay time on the substrate. The board connection data extraction unit 4 generally includes a drawing input logic CAD (computer-aid) in addition to the board layout design data.
The board connection data may be extracted from the circuit diagram data created by the circuit designer using an ed design) application. The analysis result display unit 10 is, for example, as shown in FIG.
As shown in the figure below, the information on which path in the circuit caused the timing error and how much margin (timing margin) exists in each path, etc. , The deficiency (meaning a timing error) and the margin for the defined timing constraint are indicated by minus and plus values, respectively.

【0050】実施の形態2.なお上記図1に示す発明の
実施の形態で図4のように、基板接続データ記憶部5に
よるたとえば図3の(a)に示す格納基板接続データに対
し入力部1によるたとえば「CLK」を指定する基準信
号情報のタイミング検証実施者が指定する「CLK」文
字を含むネット名を検索し、当該ネット名とそのネット
名に接続される電子部品のロケーション番号やピン番号
などに対応する接続情報を仮基準信号情報として生成す
る。ネット名検索部11と、ネット名検索部11による
生成仮基準信号情報に対し格納をし、当該ネット名等に
対応する接続情報をたとえば図5に示すようにグラフィ
カル表示する仮基準信号情報記憶/表示部12/13
と、仮基準信号情報表示部13による表示仮基準信号情
報に対し入力部1による指定基準信号情報を用い周期や
スキューなどの情報を付加して正式認定をし、基準信号
情報として当該入力部1による指定基準信号情報に代え
て基準信号情報記憶部6に出力する基準信号情報定義部
14とを別途設けてもよい。タイミング検証実施者が指
定するネット名を検索し、その検索されたネット名等に
対応する電子部品や接続情報のグラフィカル表示をする
ことにより、基準信号に対し周期やスキューを簡単に設
定できる。なお基準信号検索の指定は、タイミング検証
実施者が自由に決めてよく、必ずしも「CLK」と指定
する必要はない。また図5に示すグラフィカル表示例に
代えて、回路設計者/基板レイアウト設計者が使用する
回路設計/基板レイアウト設計CAD上で基準信号配線
のハイライト表示をしてもよい。
Embodiment 2 In the embodiment of the invention shown in FIG. 1, as shown in FIG. 4, for example, "CLK" is designated by the input unit 1 for the storage board connection data shown in FIG. Search for a net name that includes the “CLK” character specified by the timing verification practitioner of the reference signal information to be connected. The connection information corresponding to the net name and the location number and pin number of the electronic component connected to the net name is searched. Generated as provisional reference signal information. A net name search unit 11 and a temporary reference signal information storage / storage unit that stores the temporary reference signal information generated by the net name search unit 11 and graphically displays connection information corresponding to the net name and the like as shown in FIG. Display unit 12/13
With the provisional reference signal information displayed by the provisional reference signal information display unit 13, information such as the cycle and skew is added using the designated reference signal information by the input unit 1 to formally certify, and the input unit 1 May be provided separately from the reference signal information defining unit 14 that outputs the reference signal information to the reference signal information storage unit 6 instead of the designated reference signal information. By searching for a net name specified by the timing verification implementer and displaying a graphical display of electronic components and connection information corresponding to the searched net name, the cycle and skew can be easily set for the reference signal. The designation of the reference signal search may be freely determined by the timing verification implementer, and need not always be designated as “CLK”. Instead of the graphical display example shown in FIG. 5, a highlight display of the reference signal wiring may be displayed on a circuit design / board layout design CAD used by a circuit designer / board layout designer.

【0051】実施の形態3.また上記図4に示す発明の
実施の形態でネット名検索部11に代えて、図6のよう
に基板接続データ記憶部5による格納基板接続データと
電子部品タイミング情報記憶部7による格納電子部品内
部接続情報とタイミング情報とに対し、セットアップ/
ホールドタイムなどのタイミング制約条件をもつ電子部
品間のタイミングにクロックなどの基準信号が入力され
る指定ピンにつながるまでの当該基準信号になりうるパ
スを検索し生成する当該ネット名等に対応する電子部品
や接続情報を、仮基準信号情報として仮基準信号情報記
憶部12に出力する基準信号パス検索部15を設けても
よい。基準信号になりうるパスを自動的に検査し、その
検索されたネット名等に対応する電子部品や接続情報の
グラフィカル表示をすることにより、基準信号に対し周
期やスキューを簡単に設定できる。
Embodiment 3 FIG. Further, in the embodiment of the invention shown in FIG. 4, instead of the net name search unit 11, as shown in FIG. 6, the storage board connection data by the board connection data storage unit 5 and the storage electronic component inside the electronic component timing information storage unit 7 are stored. For connection information and timing information, setup /
An electronic device corresponding to the net name, etc., which searches for and generates a path that can be the reference signal until a reference signal such as a clock is input to a designated pin at a timing between electronic components having timing constraint conditions such as a hold time, is generated. A reference signal path search unit 15 that outputs parts and connection information to the provisional reference signal information storage unit 12 as provisional reference signal information may be provided. By automatically inspecting a path that can be a reference signal and displaying a graphical display of electronic components and connection information corresponding to the searched net name and the like, the cycle and skew of the reference signal can be easily set.

【0052】実施の形態4.また上記図4に示す発明の
実施の形態でネット名検索部11に代えて、図7のよう
に基板接続データ記憶部5による格納基板接続データに
対し、基板レイアウト設計CAD上で基準信号指定プロ
パティ(接続順番や動作周波数など)を付加した信号のネ
ット名を検索し生成する当該ネット名等に対応する電子
部品や接続情報を仮基準信号情報として仮基準信号情報
記憶部12に出力するプロパティ情報検索部16を設け
てもよい。基板接続データに対し基準信号指定プロパテ
ィを付加した信号のネット名を検索し、その検索された
ネット名に対応する電子部品や接続情報のグラフィカル
表示をすることにより、基準信号に対し周期やスキュー
を簡単に設定できる。基準信号指定プロパティはたとえ
ば図9のように、基板レイアウト設計データとしてたと
えば図8に示す基板回路図についての基板接続データで
ネット名等の後の( )で括った部分のように定義する。
Embodiment 4 FIG. Further, in the embodiment of the invention shown in FIG. 4, instead of the net name search unit 11, the reference signal designation property on the board layout design CAD is stored on the board connection data stored in the board connection data storage unit 5 as shown in FIG. Property information for outputting electronic components and connection information corresponding to the net name and the like to be searched and generated to the temporary reference signal information storage unit 12 as temporary reference signal information, by searching for and generating the net name of the signal to which the connection order and the operating frequency are added. A search unit 16 may be provided. By searching the board connection data for the net name of the signal to which the reference signal designation property has been added, and graphically displaying the electronic components and connection information corresponding to the searched net name, the cycle and skew of the reference signal can be determined. Easy to set up. For example, as shown in FIG. 9, the reference signal designation property is defined as board layout design data such as a part enclosed in parentheses () after a net name in the board connection data of the board circuit diagram shown in FIG.

【0053】実施の形態5.また上記図4に示す発明の
実施の形態で図10のように、上記図4に示すネット名
検索部11と別途設ける上記図6と図7に示す基準信号
パス検索部15とプロパティ情報検索部16による各生
成仮基準信号情報に対し、当該各種検索方法を判別し、
使用者が指定するネット名と基準信号になりうるパスと
基準信号指定プロパティを付加した信号のネット名のい
ずれかの組合せまたはすべてを検索し生成する当該パス
等に対応する電子部品や接続情報を仮基準信号情報とし
て当該ネット名検索部11による生成仮基準信号情報に
代えて仮基準信号情報記憶部12に出力するデータ判別
処理部17を別途設けてもよい。使用者が指定するネッ
ト名と基準信号になりうるパスと基準信号指定プロパテ
ィを付加した信号のネット名のいずれかの組合せまたは
すべてを検索し、その検索されたネット名等に対応する
電子部品や接続情報のグラフィカル表示をすることによ
り、基準信号に対し周期やスキューを簡単に設定でき
る。
Embodiment 5 In the embodiment of the invention shown in FIG. 4, as shown in FIG. 10, the reference signal path search unit 15 and the property information search unit shown in FIGS. 6 and 7, which are provided separately from the net name search unit 11 shown in FIG. 16 for each generated temporary reference signal information,
Searches for any combination or all of the net name specified by the user, the path that can be the reference signal and the net name of the signal with the reference signal specification property added, and generates the electronic components and connection information corresponding to the path etc. As the temporary reference signal information, a data determination processing unit 17 that outputs the temporary reference signal information generated by the net name search unit 11 to the temporary reference signal information storage unit 12 may be separately provided. Searches for any combination or all of the net name specified by the user, the path that can be the reference signal, and the net name of the signal to which the reference signal specification property is added, and searches for electronic components or the like corresponding to the searched net name, etc. By displaying the connection information graphically, the period and skew can be easily set for the reference signal.

【0054】実施の形態6.また上記図10に示す発明
の実施の形態で図11のように、仮想配線遅延データ算
出部18で基板レイアウト設計データ記憶部3による格
納基板レイアウト設計データと入力部1による指定タイ
ミング情報とに対し推測をする接続ピン間の配線長から
仮想配線遅延データを算出し、配線遅延データ記憶部1
9で格納をする当該仮想配線遅延データをタイミング解
析部に出力してもよい。電子部品間の配線長を推測し算
出する仮想配線遅延データを用い、実動作状態に近い回
路動作タイミングを検証できる。仮想配線遅延データ算
出部18は、まず基板レイアウト設計データ記憶部3は
記憶されている基板上搭載電子部品のレイアウト情報か
ら、たとえば図12に示す電子部品IC1とIC2の各
接続ピン4と11間を直線で結ぶ最短距離の配線Aに対
し当該接続ピンXY座標から推測をするXとY軸方向の
配線AaとAbを加算してマンハッタン長とする仮想配
線を算出する。つぎに当該仮想配線と入力部1で指定さ
れる単位線長当りの遅延時間とを乗算して仮想配線遅延
データとする。
Embodiment 6 FIG. Also, in the embodiment of the invention shown in FIG. 10, as shown in FIG. 11, the virtual wiring delay data calculating section 18 stores the stored board layout design data by the board layout design data storage section 3 and the designated timing information by the input section 1. Virtual wiring delay data is calculated from the wiring length between the connection pins to be estimated, and the wiring delay data storage unit 1 is calculated.
The virtual wiring delay data stored in step 9 may be output to the timing analysis unit. Using virtual wiring delay data that is calculated by estimating the wiring length between electronic components, it is possible to verify the circuit operation timing close to the actual operation state. First, the virtual wiring delay data calculating unit 18 calculates the connection between the connection pins 4 and 11 of the electronic components IC1 and IC2 shown in FIG. 12 based on the layout information of the electronic components mounted on the substrate stored in the board layout design data storage unit 3. Is calculated by adding the X- and Y-axis direction wirings Aa and Ab estimated from the connection pin XY coordinates to the shortest distance wiring A connecting. Next, the virtual wiring is multiplied by the delay time per unit line length specified by the input unit 1 to obtain virtual wiring delay data.

【0055】実施の形態7.また上記図11に示す発明
の実施の形態で仮想配線遅延データ算出部18に代え
て、図13のように別途設ける波形解析準備データ記憶
部20による格納波形解析準備データ(波形解析シミュ
レーションによる基板の電気的特性(反射やクロストー
クなど)を考慮した配線遅延データを算出するために必
要なデータ)を読込んで波形解析シミュレーションを実
施し算出する各配線ごとの配線遅延データ、配線遅延デ
ータ記憶部19に出力する波形解析部21を設けてもよ
い。波形解析シミュレーションで基板の電気的特性を考
慮し、算出する各配線ごとの配線遅延データを用い、実
動作状態に近い回路動作タイミングを検証できる。
Embodiment 7 FIG. In addition, in the embodiment of the invention shown in FIG. 11, instead of the virtual wiring delay data calculation unit 18, the waveform analysis preparation data storage unit 20 separately provided as shown in FIG. A wiring delay data and wiring delay data storage unit 19 for each wiring which is read by reading wiring characteristics data in consideration of electrical characteristics (reflection, crosstalk, etc.) and performs a waveform analysis simulation to calculate. May be provided. The circuit operation timing close to the actual operation state can be verified by using the wiring delay data for each wiring calculated in consideration of the electrical characteristics of the substrate in the waveform analysis simulation.

【0056】上記図1と図11と図13および図4と図
6と図7と図10に示す実施の形態の基板設計装置は、
基板上の配線遅延時間を考慮した回路動作タイミングを
検証する方式および基準信号情報の定義を容易にするよ
うにグラフィカル表示をする方式(タイミング検証/グ
ラフィカル表示機能による基板設計方式)を採る。
The board designing apparatus according to the embodiment shown in FIGS. 1, 11 and 13, and FIGS. 4, 6, 7 and 10,
A method of verifying the circuit operation timing in consideration of the wiring delay time on the substrate and a method of performing a graphical display so as to facilitate the definition of the reference signal information (a board design method using a timing verification / graphical display function) are employed.

【0057】実施の形態8.またこの発明の別の発明の
一実施の形態を示す基板設計装置は図14のように、入
力部1は、基準信号情報(回路の動作クロック周期やス
キューなどの情報)と電子部品内部接続情報とタイミン
グ情報(内部遅延時間やセットアップ/ホールドタイム
などのタイミング制約条件の定義情報)と基板設計情報
(基板仕様としての層構成や導電体幅や間隙値および特
性インピーダンスや単位線長当たりの遅延時間や比誘電
率などの情報)と基準値(配線許容遅延が実際に電子部品
の配置や電子部品間の配線が可能な範囲であるかをチェ
ックするため設定値)と波形解析準備データ(部品の出力
ピンのV−I特性や出力信号の立ち上がり/立ち下がり
時間およびクロストーク解析が必要な平行配線数などの
情報)とに対し定義し、キーボード/マウス等で指定す
る。回路図データ記憶部51は、別途作成した回路図デ
ータを格納する。基準信号情報記憶部6は、入力部1に
よる指定基準信号情報を格納する。電子部品タイミング
情報記憶部7は、入力部1による指定電子部品内部接続
情報とタイミング情報を格納する。タイミング解析部8
は、回路図データ記憶部51によるたとえば図15の
(a)に示す格納回路図データと基準信号情報記憶部6に
よる格納基準信号情報と電子部品タイミング情報記憶部
7による格納電子部品内部接続情報とタイミング情報と
に対しタイミング制約条件をもつ電子部品間のタイミン
グを解析する。タイミング解析結果記憶部9は、タイミ
ング解析部8による解析結果を格納する。配線許容遅延
算出/記憶部52/53は、タイミング解析結果記憶部
9による格納タイミング解析結果からたとえば図15の
(b)に示す各配線に対する許容遅延時間を算出し、格納
する。基板設計情報記憶部54は、入力部1による基板
仕様(層構成や導電体の幅や間隙値など)や基板の電気的
な特性値(特性インピーダンス、単位線長当たりの遅延
時間、比誘電率など)の情報を格納する。
Embodiment 8 FIG. As shown in FIG. 14, in a board design apparatus according to another embodiment of the present invention, an input unit 1 includes reference signal information (information such as a circuit operation clock cycle and skew) and electronic component internal connection information. And timing information (definition information of timing constraints such as internal delay time and setup / hold time) and board design information
(Information such as layer configuration, conductor width, gap value, characteristic impedance, delay time per unit line length and relative permittivity as board specifications) and reference value (wiring allowable delay is Set value to check if the wiring between them is within the allowable range) and waveform analysis preparation data (VI characteristics of output pins of components, rise / fall time of output signal, and parallel wiring requiring crosstalk analysis) Information such as numbers), and specify with keyboard / mouse etc. The circuit diagram data storage unit 51 stores separately created circuit diagram data. The reference signal information storage section 6 stores reference signal information specified by the input section 1. The electronic component timing information storage unit 7 stores the electronic component internal connection information designated by the input unit 1 and the timing information. Timing analysis unit 8
The circuit diagram data storage 51 shown in FIG.
The storage circuit diagram data shown in (a), the stored reference signal information stored in the reference signal information storage unit 6, and the stored electronic component internal connection information and the timing information stored in the electronic component timing information storage unit 7 between the electronic components having a timing constraint condition Analyze the timing of The timing analysis result storage unit 9 stores an analysis result by the timing analysis unit 8. The wiring allowable delay calculation / storage unit 52/53 obtains, for example, the storage timing analysis result of FIG.
The allowable delay time for each wiring shown in FIG. The board design information storage unit 54 stores the board specifications (layer configuration, conductor width and gap value, etc.) and the board's electrical characteristic values (characteristic impedance, delay time per unit line length, relative dielectric constant) by the input unit 1. Etc.) is stored.

【0058】基板配置配線設計部55は、回路図データ
記憶部による格納回路図データと配線許容遅延記憶部5
3による配線許容遅延と基板設計情報記憶部54による
基板設計情報とに対し電子部品の配置や電子部品間の配
線をする。仮想配線遅延算出部56は、基板配置配線設
計部55による電子部品の各接続ピンのXY座標情報か
ら仮想配線としてマンハッタン長を算出し、その仮想配
線と基板設計情報記憶部54による単位線長当たりの遅
延時間とを乗算して仮想配線遅延とする。配線遅延記憶
部57は、仮想配線遅延算出部56による配線遅延を格
納する。配線遅延比較部58は、配線許容遅延記憶部5
3による配線許容遅延と配線遅延記憶部57による配線
遅延とに対し比較し、基板配置配線設計部55での部品
配置がタイミングを満足するかどうかを確認する。配線
遅延比較結果記憶/表示部59/60は、配線遅延比較
部58による比較結果を格納し、テキストベースで表示
する(ファイルへ出力する)。
The board layout and wiring design unit 55 stores the circuit diagram data stored in the circuit diagram data storage unit and the wiring allowable delay storage unit 5.
3 and the wiring between the electronic components is performed based on the wiring allowable delay caused by the step 3 and the substrate design information stored in the substrate design information storage unit 54. The virtual wiring delay calculation unit 56 calculates a Manhattan length as a virtual wiring from the XY coordinate information of each connection pin of the electronic component by the board placement and wiring design unit 55, and calculates a per-unit line length by the virtual wiring and the board design information storage unit 54. Is multiplied by the delay time of the virtual wiring to obtain a virtual wiring delay. The wiring delay storage unit 57 stores the wiring delay by the virtual wiring delay calculating unit 56. The wiring delay comparing unit 58 includes a wiring allowable delay storage unit 5
3 is compared with the wiring delay by the wiring delay storage unit 57, and it is confirmed whether the component placement in the board placement and wiring design unit 55 satisfies the timing. The wiring delay comparison result storage / display unit 59/60 stores the comparison result by the wiring delay comparison unit 58 and displays it on a text basis (outputs it to a file).

【0059】これによりタイミング解析結果を基板のレ
イアウト設計(電子部品の配置検討)に利用することがで
き、設計出戻りが少なくなるため基板の設計期間を短縮
することができる。
As a result, the result of the timing analysis can be used for the layout design of the board (disposition of electronic components), and the number of design repetitions is reduced, so that the board design period can be shortened.

【0060】なお配線遅延比較部58では、接続される
電子部品を配置する度に配線遅延を比較しても、全ての
電子部品を配置してから一括して配線遅延を比較しても
よい。
The wiring delay comparing section 58 may compare the wiring delay every time the connected electronic components are arranged, or may compare the wiring delays after all the electronic components are arranged.

【0061】実施の形態9.なお上記図14に示す発明
の実施の形態で図16のように、配線許容遅延記憶部5
3による配線許容遅延が実際に電子部品の配置や電子部
品間の配線が可能な範囲であるかをチェックする(たと
えば配線許容遅延が0(ゼロ)に近い値では電子部品の配
置や電子部品間の配線を実現できない)ための入力部1
による指定基準値を基準値記憶部61に格納する。配線
許容遅延チェック部62は、配線許容遅延記憶部53に
よる配線許容遅延に対して基準値記憶部61による基準
値と比較し、基板配置配線設計部55で実作業する前に
配線許容遅延が電子部品の配置や電子部品間の配線が可
能な範囲であることを確認できる。
Embodiment 9 FIG. In the embodiment of the invention shown in FIG. 14, as shown in FIG.
Check whether the allowable wiring delay due to 3 is within the range in which the arrangement of the electronic components and the wiring between the electronic components are actually possible (for example, if the allowable wiring delay is close to 0 (zero), the arrangement of the electronic components and the distance between the electronic components are checked). Input unit 1)
Is stored in the reference value storage unit 61. The wiring allowable delay check unit 62 compares the wiring allowable delay stored in the wiring allowable delay storage unit 53 with the reference value stored in the reference value storage unit 61, and compares the wiring allowable delay before the actual operation by the board placement and wiring design unit 55. It is possible to confirm that the arrangement of the components and the wiring between the electronic components are within a possible range.

【0062】実施の形態10.また、上記図14に示す
発明の実施の形態で図17のように、回路図データ記憶
部51による回路図データからタイミングとは無関係な
電子部品を削除するために、回路図データ判別処理部6
3は、予め回路図データのタイミングとは無関係な電子
部品(例えば、抵抗やコンデンサなど)に対して付けられ
た付加情報(たとえば、図18に示す基板回路図中の終
端抵抗やコンデンサに付けられた付加情報)を読み取っ
てその電子部品の情報を回路図データから削除し、タイ
ミング解析部8へ出力する(たとえば、図19に示す回
路図データで(a)は削除前、(b)は削除後)。タイミン
グとは無関係な電子部品の情報を削除することにより、
タイミング解析部8での解析時間を短縮できる。
Embodiment 10 FIG. Also, in the embodiment of the invention shown in FIG. 14, as shown in FIG. 17, in order to delete electronic components unrelated to timing from the circuit diagram data stored in the circuit diagram data storage unit 51, the circuit diagram data determination processing unit 6
Reference numeral 3 denotes additional information (for example, attached to a terminating resistor or a capacitor in the circuit diagram of the substrate shown in FIG. 18) which is previously attached to an electronic component (for example, a resistor or a capacitor) unrelated to the timing of the circuit diagram data. The information of the electronic component is read from the circuit diagram data and output to the timing analysis unit 8 (for example, in the circuit diagram data shown in FIG. 19, (a) is before deletion, and (b) is deleted). rear). By deleting information on electronic components that are not related to timing,
The analysis time in the timing analysis unit 8 can be reduced.

【0063】実施の形態11.また、上記図17に示す
発明の実施の形態で図20のように、回路図データの付
加情報からタイミングとは無関係な電子部品を判断する
のではなく、電子部品タイミング情報記憶部7による電
子部品内部接続情報/タイミング情報と回路図データ記
憶部51による回路図データのネット名から判断する電
子部品情報判別処理部75を設けてもよい。
Embodiment 11 FIG. Also, in the embodiment of the invention shown in FIG. 17, as shown in FIG. 20, an electronic component irrelevant to the timing is not determined from the additional information of the circuit diagram data. An electronic component information discrimination processing unit 75 for judging from the internal connection information / timing information and the net name of the circuit diagram data by the circuit diagram data storage unit 51 may be provided.

【0064】具体的には、電子部品タイミング情報記憶
部7のタイミング情報において内部遅延時間が0(ゼロ)
で、入出力ピンの関係が1対1あり、かつ、そのどちら
か一方のピンが電源もしくはGNDに接続されているか
どうかを回路図データから確認し、その条件に合えばタ
イミングとは無関係な電子部品と判断して回路図データ
からその情報を削除する。
Specifically, the internal delay time is 0 (zero) in the timing information of the electronic component timing information storage unit 7.
It is checked from the circuit diagram data whether there is a one-to-one relationship between the input and output pins and one of the pins is connected to the power supply or GND. Judge as a part and delete its information from the circuit diagram data.

【0065】実施の形態12.また、上記図14に示す
発明の実施の形態で図21のように、遅延データ変換部
64は、基板配置配線設計部55にて配置検討するため
に選択した電子部品とそれに接続される電子部品との配
線許容遅延を単位線長当たりの遅延時間で除算して線長
データへ変換する。線長データ記憶部56は、遅延デー
タ変換部64にて算出された線長データを記憶する。部
品配置可能エリア指示部66は、線長データ記憶部65
による格納線長データをもとに選択した電子部品の配置
が可能なエリアを算出して、そのエリアを基板配置配線
設計部55上で表示させる指示をする。
Embodiment 12 FIG. Further, as shown in FIG. 21 in the embodiment of the invention shown in FIG. 14, the delay data conversion unit 64 includes an electronic component selected for board placement and wiring design by the board layout and wiring design unit 55 and an electronic component connected thereto. Is divided by the delay time per unit line length to convert to line length data. The line length data storage unit 56 stores the line length data calculated by the delay data conversion unit 64. The component allocable area indicating unit 66 includes a line length data storage unit 65.
Is calculated on the basis of the storage line length data according to (1), and an instruction to display the area on the board layout and wiring design unit 55 is issued.

【0066】部品配置が可能なエリアを基板配置配線設
計部55上に表示させることにより、電子部品の配置の
検討がしやすくなる。
By displaying an area where components can be placed on the board placement / wiring design unit 55, it is easy to study the placement of electronic components.

【0067】実施の形態13.また、上記図14に示す
発明の実施の形態で仮想配線遅延算出部56に代えて、
図22のように基板配置配線設計部55にて配線したそ
の配線長に単位線長当たりの遅延時間を乗算して配線遅
延を算出する概略配線遅延算出部67を設けてもよい。
実際に配線した配線長をもとに算出した配線遅延と配線
許容遅延と比較することで、タイミングを考慮した電子
部品の配置の検討以外に電子部品間を接続する配線の引
き回しが可能かどうかの検討もすることができる。
Embodiment 13 FIG. Further, instead of the virtual wiring delay calculating unit 56 in the embodiment of the invention shown in FIG.
As shown in FIG. 22, a general wiring delay calculating unit 67 may be provided which calculates a wiring delay by multiplying the wiring length wired by the board arrangement wiring design unit 55 by a delay time per unit line length.
By comparing the wiring delay calculated based on the actual wiring length with the allowable wiring delay, it is possible to determine whether it is possible to route the wiring connecting the electronic components in addition to examining the placement of the electronic components in consideration of the timing. You can also consider.

【0068】実施の形態14.また、上記図14に示す
発明の実施の形態で仮想配線遅延算出部11に代えて、
図23のように入力部1を用いて波形解析に必要な情報
(例えば、電子部品の出力ピンのV−I特性や出力信号
の立ち上がり/立ち下がり時間など)を定義し格納した
波形解析準備データ記憶部68と、基板配置配線設計部
55にて配線した信号の配線情報(配線層や配線長,基
板仕様など)と波形解析準備データ記憶部68による波
形解析準備データとに対して波形解析シミュレーション
を実施し配線遅延を算出する波形解析部69を設けても
よい。波形解析部69にて算出した配線遅延と配線許容
遅延と比較することにより、反射といった基板の電気的
な特性を考慮した配線遅延にて実動作に近い条件で、電
子部品の配置や電子部品間の配線の検討ができる。
Embodiment 14 FIG. Further, instead of the virtual wiring delay calculation unit 11 in the embodiment of the invention shown in FIG.
Information necessary for waveform analysis using input unit 1 as shown in FIG.
(E.g., a waveform analysis preparation data storage unit 68 that defines and stores (e.g., VI characteristics of output pins of electronic components and rise / fall times of output signals) and a signal that is wired by the board placement / wiring design unit 55. A waveform analysis unit 69 that performs a waveform analysis simulation on the wiring information (wiring layer, wiring length, board specification, etc.) and the waveform analysis preparation data stored in the waveform analysis preparation data storage unit 68 to calculate a wiring delay may be provided. . By comparing the wiring delay calculated by the waveform analysis unit 69 with the wiring allowable delay, the wiring delay taking into account the electrical characteristics of the substrate such as reflection, and the arrangement of the electronic components and the distance between the electronic components under conditions close to actual operation. Can be considered.

【0069】実施の形態15.また、上記図14に示す
発明の形態で図24のように、まずは図14で示す手段
にて電子部品の配置を検討して確定し、遅延データ変換
部64にて配線許容遅延と単位線長当たりの遅延時間か
ら変換した線長データを線長データ記憶部65に格納
し、その線長データを基に自動配線設計部70にて自動
配線を行う。自動配線設計部70にて自動配線した信号
の配線情報と波形解析準備データ記憶部による波形解析
準備データとに対して波形解析シミュレーションを実施
して配線遅延を算出し、その配線遅延と配線許容遅延を
比較してタイミング的に問題無いことを確認する。配線
許容遅延を基に電子部品の配置を検討して自動配線を行
い波形解析にて算出した配線遅延をチェックするため、
設計の出戻りを少なくし設計期間の短縮化が図れる。
Embodiment 15 FIG. In the embodiment of the invention shown in FIG. 14, as shown in FIG. 24, first, the arrangement of the electronic components is examined and determined by the means shown in FIG. The line length data converted from the hit delay time is stored in the line length data storage unit 65, and the automatic wiring design unit 70 performs automatic wiring based on the line length data. A waveform analysis simulation is performed on the wiring information of the signal automatically wired by the automatic wiring design unit 70 and the waveform analysis preparation data by the waveform analysis preparation data storage unit to calculate a wiring delay, and the wiring delay and the allowable wiring delay And confirm that there is no problem in timing. In order to check the wiring delay calculated by waveform analysis by examining the arrangement of electronic components based on the allowable wiring delay and performing automatic wiring,
It is possible to reduce the number of design iterations and shorten the design period.

【0070】なお、自動配線設計部70にて自動配線し
た信号に対して実施する波形解析は、各信号ごとに配線
した後でも、全ての信号を配線した後のどちらでもよ
い。
The waveform analysis performed on the signals automatically routed by the automatic route design unit 70 may be performed after each signal has been routed or after all the signals have been routed.

【0071】実施の形態16.また、上記図14に示す
発明の形態で図25のように、まずは図14で示す手段
にて電子部品の配置を検討して確定し、予め入力部1を
用いて波形解析準備データ記憶部68に定義したクロス
トークを考慮した波形解析(例えば、バス信号などのよ
うに32/64ビットと複数本の平行配線をする場合で
はクロストークを考慮した波形解析が必要)が必要かど
うかチェックするパラメータ(平行配線数/配線間隔/
平行配線長)と基板配置配線設計部55にて配線された
信号に隣接する信号の配線数をチェックする平行配線数
チェック部71を別途設け、定義した平行配線数を超え
る場合にはクロストークを考慮した波形解析を波形解析
部69で行いその結果(波形データ)を波形解析結果記憶
部72に格納する。波形解析結果記憶部72による波形
解析結果を用いてタイミング解析部8にて再度タイミン
グ解析を実施し、解析結果をタイミング解析結果記憶部
9に格納しタイミング解析結果表示部73にてグラフィ
カル表示する。
Embodiment 16 FIG. In the embodiment of the invention shown in FIG. 14, as shown in FIG. 25, first, the arrangement of the electronic components is examined and determined by the means shown in FIG. Parameter to check whether the waveform analysis considering the crosstalk defined in (1) is necessary (for example, when 32/64 bits and a plurality of parallel wirings are used like a bus signal, the waveform analysis considering the crosstalk is necessary) (Number of parallel wires / interval /
(Parallel wiring length) and a parallel wiring number checking unit 71 for checking the number of wirings of signals adjacent to the signal wired by the board placement and wiring design unit 55 are separately provided. If the number of parallel wirings exceeds the defined number of parallel wirings, crosstalk is generated. The waveform analysis taking into account the waveform analysis unit 69 and the result (waveform data) is stored in the waveform analysis result storage unit 72. The timing analysis is performed again by the timing analysis unit 8 using the waveform analysis result from the waveform analysis result storage unit 72, and the analysis result is stored in the timing analysis result storage unit 9 and graphically displayed on the timing analysis result display unit 73.

【0072】実施の形態17.また、上記図14に示す
発明の形態で配線遅延比較結果表示部60に代えて、図
26のように配線遅延比較結果記憶部59の比較結果を
もとにタイミング・エラーとなった配線を基板配置配線
設計部55上にてハイライト表示させるためにハイライ
ト表示指示部74を設けてもよい。
Embodiment 17 FIG. Also, instead of the wiring delay comparison result display section 60 in the embodiment of the invention shown in FIG. 14, the wiring having a timing error based on the comparison result of the wiring delay comparison result storage section 59 as shown in FIG. A highlight display instructing unit 74 may be provided for performing a highlight display on the placement and wiring design unit 55.

【0073】上記図14と図16と図17と図20と図
21と図22と図23と図24と図25と図26に示す
実施の形態の基板設計装置は、回路設計段階でタイミン
グ検証を実施して配線に対する許容遅延を算出し、その
配線許容遅延を用いて電子部品の配置や電子部品間の配
線の検討し、決定する方式(タイミング検証における配
線許容遅延算出/比較機能による基板設計方式)を採
る。
The board design apparatus of the embodiment shown in FIGS. 14, 16, 17, 20, 21, 22, 23, 24, 25, and 26 has a timing verification at the circuit design stage. To calculate the permissible delay for wiring, and use the permissible wiring delay to examine and determine the layout of electronic components and wiring between electronic components. Method).

【0074】[0074]

【発明の効果】上記のようなこの発明の基板設計装置で
は、タイミング検証/グラフィカル表示機能による基板
設計方式を採るから、従来のように人手による基準信号
情報を用いる方式に比べ基板上の配線遅延時間を考慮し
た回路動作タイミングを検証できるほか発明ごとにつぎ
の効果がある。 (1)使用者が指定するネット名、基準信号になりうるパ
スもしくは基準信号指定プロパティを付加した信号のネ
ット名または前記のいずれかの組合せもしくはすべてを
検索し、その検索されたネット名等に対応する電子部品
や接続情報のグラフィカル表示をすることにより、基準
信号に対し周期やスキューを簡単に設定できる。 (2)電子部品間の配線長を推測し算出する仮想配線遅延
データまたは波形解析シミュレーションで基板の電気的
特性を考慮し算出する各配線ごとの配線遅延データを用
い、実動作状態に近い回路動作タイミングで検証でき
る。
As described above, the board design apparatus of the present invention employs a board design method based on a timing verification / graphical display function, so that the wiring delay on the board is smaller than that of a conventional method using reference signal information manually. In addition to being able to verify the circuit operation timing in consideration of time, the following effects are obtained for each invention. (1) Search for the net name specified by the user, the net name of the path that can be a reference signal or the signal added with the reference signal specification property, or any combination or all of the above, and enter the searched net name, etc. By graphically displaying the corresponding electronic components and connection information, the period and skew can be easily set for the reference signal. (2) Circuit operation that is close to the actual operation state using virtual wiring delay data that estimates and calculates the wiring length between electronic components or wiring delay data for each wiring that is calculated by considering the electrical characteristics of the board in a waveform analysis simulation It can be verified at the timing.

【0075】またこの発明の別の発明の基板設計装置で
は、タイミング検証/配線許容遅延算出機能による基板
設計方式を採るから、従来のように基板配置配線設計終
了後に回路動作タイミングを検証する方式に比べ、設計
の出戻りを少なくでき設計期間の短縮化が図れる効果が
ある。また、電子部品の配置や電子部品間の配線を検討
し決定する際、タイミング解析/波形解析を実施するた
め設計品質の向上化が図れる。また、タイミングとは無
関係な電子部品の情報を回路図データから削除すること
でタイミング解析時間を短縮できる。また、タイミング
解析後に配線許容遅延を算出し、その配線許容遅延をも
とに部品配置可能エリアを基板設計CAD上に表示する
ため電子部品の配置検討がしやすい。また、タイミング
解析後に配線許容遅延を算出し、その配線許容遅延をも
とに電子部品間の配線を自動配線させることにより基板
設計期間を短縮できる。また、タイミング・エラーとな
る配線を基板設計CAD上にハイライト表示させること
で、部品配置/配線の変更がしやすい。
Further, in the board design apparatus according to another aspect of the present invention, a board design method based on a timing verification / wiring allowable delay calculation function is employed. In comparison, there is an effect that the number of design iterations can be reduced and the design period can be shortened. In addition, when examining and deciding the arrangement of electronic components and wiring between electronic components, timing analysis / waveform analysis is performed, so that design quality can be improved. Also, the timing analysis time can be shortened by deleting the information of the electronic component unrelated to the timing from the circuit diagram data. Further, the wiring allowable delay is calculated after the timing analysis, and the component allocable area is displayed on the board design CAD based on the wiring allowable delay, so that the layout of electronic components can be easily studied. Further, the wiring allowable delay is calculated after the timing analysis, and the wiring between the electronic components is automatically routed based on the wiring allowable delay, thereby shortening the board design period. Further, by highlighting the wiring that causes a timing error on the board design CAD, it is easy to change the component arrangement / wiring.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の一実施の形態を示す基板設計装置
の機能ブロック図である。
FIG. 1 is a functional block diagram of a board design apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示す基板配置配線設計部で生成する基
板レイアウト設計データを説明する基板回路図である。
FIG. 2 is a board circuit diagram for explaining board layout design data generated by a board placement and wiring design unit shown in FIG. 1;

【図3】 図1に示す基板接続データ抽出部で抽出する
基板接続データとタイミング解析部で解析する結果を説
明する図である。
3 is a diagram illustrating board connection data extracted by a board connection data extraction unit illustrated in FIG. 1 and a result analyzed by a timing analysis unit.

【図4】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計装
置の機能ブロック図である。
FIG. 4 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図5】 図4に示す仮基準信号情報表示部でグラフィ
カル表示をする当該ネット名に対応する接続情報を説明
する図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining connection information corresponding to the net name to be graphically displayed on the provisional reference signal information display unit shown in FIG. 4;

【図6】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計装
置の機能ブロック図である。
FIG. 6 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図7】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計装
置の機能ブロック図である。
FIG. 7 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図8】 図7に示すプロパティ情報検索部で用いる基
準信号指定プロパティを説明するための基板レイアウト
設計データとして示す基板回路図である。
FIG. 8 is a board circuit diagram shown as board layout design data for describing a reference signal designation property used in the property information search unit shown in FIG. 7;

【図9】 図7に示すプロパティ情報検索部で用いる基
準信号指定プロパティを説明するための図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining a reference signal designation property used in the property information search unit shown in FIG. 7;

【図10】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 10 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図11】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 11 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図12】 図11に示す仮想配線遅延データ算出部の
機能を説明するための図である。
FIG. 12 is a diagram for explaining a function of a virtual wiring delay data calculation unit shown in FIG. 11;

【図13】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 13 is a functional block diagram of a board design apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図14】 この発明の別の発明の実施の形態を示す基
板設計装置の機能ブロック図である。
FIG. 14 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図15】 図14に示す配線許容遅延記憶部に格納さ
れる配線許容遅延を説明するための図である。
15 is a diagram for explaining a wiring allowable delay stored in a wiring allowable delay storage unit shown in FIG. 14;

【図16】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 16 is a functional block diagram of a board design apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図17】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 17 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図18】 図17に示す回路図データ判別処理部で用
いる回路図データの付加情報を説明するための基板レイ
アウト設計データとして示す基板回路図である。
18 is a board circuit diagram shown as board layout design data for describing additional information of circuit diagram data used in the circuit diagram data determination processing unit shown in FIG.

【図19】 図17に示す回路図データ判別処理部にて
処理する前と後の回路図データを示す図である。
19 is a diagram showing circuit diagram data before and after processing by the circuit diagram data determination processing unit shown in FIG. 17;

【図20】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 20 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図21】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 21 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図22】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 22 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図23】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 23 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図24】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 24 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図25】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 25 is a functional block diagram of a board designing apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図26】 この発明の他の実施の形態を示す基板設計
装置の機能ブロック図である。
FIG. 26 is a functional block diagram of a board design apparatus showing another embodiment of the present invention.

【図27】 従来の技術を示す基板設計装置の動作を説
明するフローチャート図である。
And FIG. 27 is a flowchart illustrating the operation of the board design apparatus according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 入力部、2 基板配置配線設計部、3 基板レイア
ウト設計データ記憶部、4 基板接続データ抽出部、5
基板接続データ記憶部、6 基準信号情報記憶部、7
電子部品タイミング情報記憶部、8 タイミング解析
部、9 (タイミング)解析結果記憶部、10 解析結果
表示部、11 ネット名検索部、12仮基準信号情報記
憶部、13 仮基準信号情報表示部、14 基準信号情
報定義部、15 基準信号パス検索部、16 プロパテ
ィ情報検索部、17 データ判別処理部、18 仮想配
線遅延データ算出部、19 配線遅延データ記憶部、2
0 波形解析準備データ記憶部、21 波形解析部、5
1 回路図データ記憶部、52 配線許容遅延算出部、
53 配線許容遅延記憶部、54 基板設計情報記憶
部、55 基板配置配線設計部、56 仮想配線遅延算
出部、57 配線遅延記憶部、58 配線遅延比較部、
59 配線遅延比較結果記憶部、60 配線遅延比較結
果表示部、61 基準値記憶部、62 配線許容遅延チ
ェック部、63 回路図データ判別処理部、64 遅延
データ変換部、65 線長データ変換部、66 部品配
置可能エリア指示部、67 概略配線遅延算出部、68
波形解析準備データ記憶部、69 波形解析部、70
自動配線設計部、71 平行配線数チェック部、72
波形解析結果記憶部、73 タイミング解析結果表示
部、74 ハイライト表示指示部、75 電子部品情報
判別処理部。
1 input section, 2 board layout and wiring design section, 3 board layout design data storage section, 4 board connection data extraction section, 5
Board connection data storage unit, 6 reference signal information storage unit, 7
Electronic component timing information storage unit, 8 timing analysis unit, 9 (timing) analysis result storage unit, 10 analysis result display unit, 11 net name search unit, 12 temporary reference signal information storage unit, 13 temporary reference signal information display unit, 14 Reference signal information definition unit, 15 reference signal path search unit, 16 property information search unit, 17 data discrimination processing unit, 18 virtual wiring delay data calculation unit, 19 wiring delay data storage unit, 2
0 waveform analysis preparation data storage unit, 21 waveform analysis unit, 5
1 circuit diagram data storage unit, 52 wiring allowable delay calculation unit,
53 wiring allowable delay storage unit, 54 board design information storage unit, 55 board arrangement wiring design unit, 56 virtual wiring delay calculation unit, 57 wiring delay storage unit, 58 wiring delay comparison unit,
59 wiring delay comparison result storage unit, 60 wiring delay comparison result display unit, 61 reference value storage unit, 62 wiring allowable delay check unit, 63 circuit diagram data discrimination processing unit, 64 delay data conversion unit, 65 line length data conversion unit, 66 Component allocable area indicating section, 67 Schematic wiring delay calculating section, 68
Waveform analysis preparation data storage unit, 69 Waveform analysis unit, 70
Automatic wiring design section, 71 Parallel wiring number check section, 72
Waveform analysis result storage unit, 73 Timing analysis result display unit, 74 Highlight display instruction unit, 75 Electronic component information discrimination processing unit.

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基準信号情報と電子部品内部接続情報と
タイミング情報とに対し定義をし指定をする入力部と、 別途作成をする回路図データに対し電子部品の配置配線
をし基板レイアウト設計データを生成する基板配置配線
設計部と、 生成された基板レイアウト設計データを格納する基板レ
イアウト設計データ記憶部と、 この基板レイアウト設計データ記憶部による格納基板レ
イアウト設計データに対し基板接続データを抽出する基
板接続データ抽出部と、 抽出された基板接続データを格納する基板接続データ記
憶部と、 前記入力部により指定された基準信号情報を格納する基
準信号情報記憶部と、 前記入力部により指定された電子部品内部接続情報とタ
イミング情報を格納する電子部品タイミング情報記憶部
と、 該基準信号情報記憶部、電子部品タイミング情報記憶部
に格納された基準信号情報、電子部品内部接続情報およ
びタイミング情報、並びに前記基板接続データ記憶部に
格納された基板接続データに対しタイミング制約条件を
もつ電子部品間のタイミングを解析するタイミング解析
部と、 該タイミング解析部による解析結果を格納する解析結果
記憶部と、 格納された解析結果を表示する解析結果表示部と、 を備えることを特徴とする基板設計装置。
An input section for defining and designating reference signal information, electronic component internal connection information, and timing information, and a board layout design data for arranging and wiring electronic components for separately created circuit diagram data. And a board layout design data storage unit for storing the generated board layout design data, and a board for extracting board connection data from the stored board layout design data by the board layout design data storage unit. A connection data extraction unit; a board connection data storage unit that stores the extracted board connection data; a reference signal information storage unit that stores reference signal information specified by the input unit; and an electronic device specified by the input unit. An electronic component timing information storage unit for storing component internal connection information and timing information; and a reference signal information storage unit The reference signal information stored in the electronic component timing information storage unit, the electronic component internal connection information and the timing information, and the timing between the electronic components having the timing constraint conditions with respect to the board connection data stored in the board connection data storage unit. A board design apparatus, comprising: a timing analysis unit for analyzing; an analysis result storage unit for storing an analysis result by the timing analysis unit; and an analysis result display unit for displaying the stored analysis result.
【請求項2】 基板接続データ記憶部に格納された基板
接続データに対し入力部により指定された基準信号情報
のネット名を検索し当該ネット名等に対応する接続情報
を仮基準信号情報として生成するネット名検索部と、 該ネット名検索部により生成された仮基準信号情報を格
納する仮基準信号情報記憶部と、 当該ネット名等に対応する接続情報をグラフィカル表示
する仮基準信号情報表示部と、 該仮基準信号情報表示部により表示された仮基準信号情
報に対し前記入力部により指定された基準信号情報を用
い周期やスキュー情報を付加して正式認定をし、基準信
号情報として前記入力部指定の基準信号情報に代えて基
準信号情報記憶部に出力する基準信号情報定義部と、 をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板
設計装置。
2. Searching the board connection data stored in the board connection data storage unit for a net name of reference signal information specified by an input unit, and generating connection information corresponding to the net name or the like as temporary reference signal information. Net name search unit, a temporary reference signal information storage unit for storing temporary reference signal information generated by the net name search unit, and a temporary reference signal information display unit for graphically displaying connection information corresponding to the net name and the like With the provisional reference signal information displayed by the provisional reference signal information display unit, the period and skew information are added using the reference signal information designated by the input unit to formally certify, and the input as reference signal information is performed. The board design apparatus according to claim 1, further comprising: a reference signal information definition unit that outputs the reference signal information to the reference signal information storage unit instead of the reference signal information specified by the unit.
【請求項3】 ネット名検索部に代えて、電子部品がタ
イミング情報記憶部に格納された電子部品内部接続情報
とタイミング情報および基板接続データ記憶部に格納さ
れた基板接続データに対し当該基準信号になりうるパス
を検索し生成する当該ネット名等に対応する電子部品や
接続情報を仮基準信号情報として仮基準信号情報記憶部
に出力する基準信号パス検索部を設けることを特徴とす
る請求項2に記載の基板設計装置。
3. A reference signal for electronic component internal connection information and timing information stored in a timing information storage unit and board connection data stored in a board connection data storage unit instead of a net name search unit. A reference signal path search unit for outputting electronic components and connection information corresponding to the net name or the like for searching and generating a path that can be used as temporary reference signal information to a temporary reference signal information storage unit. 3. The substrate designing apparatus according to 2.
【請求項4】 ネット名検索部に代えて、基板接続デー
タ記憶部に格納された基板接続データに対し基準信号指
定プロパティを付加した信号のネット名を検索し生成す
る当該ネット名等に対応する電子部品や接続情報を仮基
準信号として仮基準信号情報記憶部に出力するプロパテ
ィ情報検索部を設けることを特徴とする請求項2に記載
の基板設計装置。
4. A method for searching for and generating a net name of a signal obtained by adding a reference signal designation property to board connection data stored in a board connection data storage unit, instead of the net name search unit, and corresponding to the net name or the like. 3. The board designing apparatus according to claim 2, further comprising a property information search unit that outputs electronic components and connection information as a temporary reference signal to a temporary reference signal information storage unit.
【請求項5】 基板接続データ記憶部に格納された基板
接続データに対し入力部により指定された基準信号情報
のネット名を検索し当該ネット名等に対応する接続情報
を仮基準信号情報として生成するネット名検索部と、 電子部品がタイミング情報記憶部に格納された電子部品
内部接続情報とタイミング情報および基板接続データ記
憶部に格納された基板接続データに対し当該基準信号に
なりうるパスを検索し生成する当該ネット名等に対応す
る電子部品や接続情報を仮基準信号情報として仮基準信
号情報記憶部に出力する基準信号パス検索部と、 基板接続データ記憶部に格納された基板接続データに対
し基準信号指定プロパティを付加した信号のネット名を
検索し生成する当該ネット名等に対応する電子部品や接
続情報を仮基準信号として仮基準信号情報記憶部に出力
するプロパティ情報検索部と、 ネット名検索部、基準信号パス検索部、プロパティ情報
検索部によりそれぞれ生成された仮基準信号情報に対し
当該各検索方法を判別し、タイミング検証実施者が指定
するネット名と基準信号になりうるパスと基準信号指定
プロパティを付加した信号のネット名のいずれかの組合
せまたはすべてを検索し生成する当該パス等に対応する
電子部品や接続情報を仮基準信号情報として出力するデ
ータ判別処理部と、 該データ判別処理部により生成された仮基準信号情報を
格納する仮基準信号情報記憶部と、 当該ネット名等に対応する接続情報をグラフィカル表示
する仮基準信号情報表示部と、 該仮基準信号情報表示部により表示された仮基準信号情
報に対し前記入力部により指定された基準信号情報を用
い周期やスキュー情報を付加して正式認定をし、基準信
号情報として前記入力部指定の基準信号情報に代えて基
準信号情報記憶部に出力する基準信号情報定義部と、 をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板
設計装置。
5. Searching the board connection data stored in the board connection data storage unit for a net name of the reference signal information specified by the input unit, and generating connection information corresponding to the net name or the like as temporary reference signal information. And a path that can be a reference signal for the electronic component internal connection information and timing information stored in the timing information storage unit and the board connection data stored in the board connection data storage unit. A reference signal path search unit that outputs electronic components and connection information corresponding to the generated net name and the like to the provisional reference signal information storage unit as provisional reference signal information, and a board connection data stored in the board connection data storage unit. On the other hand, search for the net name of the signal to which the reference signal designation property is added and generate the electronic component and connection information corresponding to the net name etc. as the temporary reference signal. The property information search unit to be output to the reference signal information storage unit, the temporary name signal information generated by the net name search unit, the reference signal path search unit, and the property information search unit, and the respective search methods are determined and the timing verification is performed. Searches for any combination or all of the net name specified by the implementer, the path that can be the reference signal, and the net name of the signal with the reference signal specification property added, and generates the electronic components and connection information corresponding to the path etc. A data discrimination processing section that outputs as provisional reference signal information, a provisional reference signal information storage section that stores the provisional reference signal information generated by the data discrimination processing section, and graphical display of connection information corresponding to the net name and the like A temporary reference signal information display unit, and a temporary reference signal information specified by the input unit with respect to the temporary reference signal information displayed by the temporary reference signal information display unit. A reference signal information defining unit that performs formal recognition by adding a cycle and skew information using the reference signal information, and outputs the reference signal information to the reference signal information storage unit instead of the reference signal information specified by the input unit; The substrate designing apparatus according to claim 1, further comprising:
【請求項6】 基板レイアウト設計データ記憶部に格納
された基板レイアウト設計データと入力部により指定さ
れたタイミング情報に対し推測をする接続ピン間配線長
から仮想配線遅延データを算出する仮想配線遅延データ
算出部と、該仮想配線遅延データ算出部で算出された仮
想配線遅延データに対し格納をし、タイミング解析部に
出力する配線遅延データ記憶部と、をさらに備えること
を特徴とする請求項5記載の基板設計装置。
6. Virtual wiring delay data for calculating virtual wiring delay data from the board layout design data stored in the board layout design data storage unit and the wiring length between connection pins for estimating the timing information specified by the input unit. 6. The circuit according to claim 5, further comprising: a calculation unit; and a wiring delay data storage unit that stores the virtual wiring delay data calculated by the virtual wiring delay data calculation unit and outputs the data to the timing analysis unit. Board design equipment.
【請求項7】 波形解析準備データを格納する波形解析
準備データ記憶部と、波形解析準備データ記憶部に格納
された波形解析準備データを読込んで波形解析シミュレ
ーションを実施し各配線ごとの配線遅延データを算出す
る波形解析部と、波形解析部で算出された配線遅延デー
タを格納し、タイミング解析部に出力する配線遅延デー
タ記憶部と、をさらに備えたことを特徴とする請求項5
に記載の基板設計装置。
7. A waveform analysis preparation data storage unit for storing waveform analysis preparation data, and reading the waveform analysis preparation data stored in the waveform analysis preparation data storage unit, performing a waveform analysis simulation, and executing wiring analysis data for each wiring. 6. A waveform analysis unit that calculates the delay time, and a wiring delay data storage unit that stores the wiring delay data calculated by the waveform analysis unit and outputs the wiring delay data to the timing analysis unit.
A substrate designing apparatus according to item 1.
【請求項8】 基準信号情報と電子部品の内部接続情報
とタイミング情報と基板設計情報の設定に用いる入力部
と、 回路図データを格納する回路図データ記憶部と、 基準信号の周期やパルス幅などの情報を格納した基準信
号情報記憶部と、 電子部品の内部接続情報とタイミング情報を格納した電
子部品タイミング情報記憶部と、 これら回路図データ記憶部、基準信号情報記憶部および
電子部品タイミング情報記憶部の情報からタイミング制
約条件をもつ電子部品間のタイミングを解析するタイミ
ング解析部と、 タイミング解析部での解析結果を格納するタイミング解
析結果記憶部と、 タイミング解析結果記憶部に格納された情報から配線遅
延として許容できる範囲を算出する配線許容遅延算出部
と、 配線許容遅延算出部で算出された値を格納する配線許容
遅延記憶部と、 基板仕様や基板の電気的な特性値の情報を格納した基板
設計情報記憶部と、 配線許容遅延記憶部、基板設計情報記憶部および回路図
データ記憶部からの情報をもとに部品の配置や配線を行
う基板配置配線設計部と、 基板配置配線設計部にて部品配置情報から算出した電子
部品の接続ピン間のマンハッタン長と基板設計情報記憶
部に記憶される単位線長当たりの遅延時間を乗算して配
線遅延を算出する仮想配線遅延算出部と、 仮想配線遅延算出部で算出された配線遅延を格納する配
線遅延記憶部と、 配線許容遅延記憶部と配線遅延記憶部の遅延値を比較す
る配線遅延比較部と、 配線遅延比較部での比較結果を格納する配線遅延比較結
果記憶部と、 配線遅延比較結果を表示する配線遅延比較結果表示部
と、 を備えたことを特徴とする基板設計装置。
8. An input unit used for setting reference signal information, internal connection information of electronic components, timing information, and board design information; a circuit diagram data storage unit for storing circuit diagram data; a period and a pulse width of the reference signal; A reference signal information storage unit that stores information such as internal connection information and timing information of electronic components; a circuit diagram data storage unit, a reference signal information storage unit, and electronic component timing information. A timing analysis section for analyzing timing between electronic components having timing constraints from information in the storage section, a timing analysis result storage section for storing analysis results of the timing analysis section, and information stored in the timing analysis result storage section A wiring allowable delay calculating unit for calculating an allowable range as a wiring delay from the following: a value calculated by the wiring allowable delay calculating unit A wiring allowable delay storage unit, a board design information storage unit storing information on board specifications and electrical characteristics of the board, and a wiring allowable delay storage unit, a board design information storage unit, and a circuit diagram data storage unit. The board placement and wiring design unit that places and routes components based on the information, the Manhattan length between the connection pins of electronic components calculated from the component placement information by the board placement and wiring design unit, and the board design information storage unit A virtual wiring delay calculation unit that calculates a wiring delay by multiplying a delay time per unit line length, a wiring delay storage unit that stores the wiring delay calculated by the virtual wiring delay calculation unit, and a wiring allowable delay storage unit. A wiring delay comparison unit that compares the delay values of the wiring delay storage unit, a wiring delay comparison result storage unit that stores the comparison result of the wiring delay comparison unit, a wiring delay comparison result display unit that displays the wiring delay comparison result, To Board design and wherein the was e.
【請求項9】 配線許容遅延記憶部の配線許容遅延時間
に対してその値が実際に電子部品の配置や電子部品間の
配線が可能な範囲であるかをチェックするために入力部
を用いて設定した基準値を記憶する基準値記憶部と、基
準値記憶部と配線許容遅延記憶部に記憶される基準値と
配線許容遅延とを比較する配線許容遅延チェック部と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項8に記載の基板
設計装置。
9. An input unit is used to check whether the value of the allowable wiring delay time of the allowable wiring delay storage unit is within a range in which electronic components can be actually arranged and wiring between electronic components is possible. A reference value storage unit that stores the set reference value, a wiring allowable delay check unit that compares the reference value and the wiring allowable delay stored in the reference value storage unit and the wiring allowable delay storage unit,
The substrate designing apparatus according to claim 8, further comprising:
【請求項10】 回路図データ記憶部の回路図データに
対してタイミングとは無関係な電子部品を回路図作成時
に設定する回路図データ記憶部に記憶された回路図デー
タの電子部品の付加情報から判断し、その付加情報をも
つ電子部品の情報を回路図データから削除する回路図デ
ータ判別処理部をさらに備えたことを特徴とする請求項
8または9に記載の基板設計装置。
10. An electronic component that is independent of timing with respect to circuit diagram data in a circuit diagram data storage unit is set at the time of circuit diagram creation. From the additional information of the electronic component of the circuit diagram data stored in the circuit diagram data storage unit. The board design apparatus according to claim 8, further comprising a circuit diagram data determination processing unit that determines and deletes information of the electronic component having the additional information from the circuit diagram data.
【請求項11】 回路図データ記憶部の回路図データに
対してタイミングとは無関係な電子部品を電子部品タイ
ミング情報記憶部に記憶された電子部品の内部接続情報
およびタイミング情報並びに回路図データ記憶部に記憶
された回路図データの各配線に付けられたネット名から
判断し、その電子部品の情報を回路図データから削除す
る電子部品情報判別処理部をさらに備えたことを特徴と
する請求項8または9に記載の基板設計装置。
11. An electronic component having no relation to timing with respect to circuit diagram data in a circuit diagram data storage unit. The internal connection information and timing information of the electronic component stored in the electronic component timing information storage unit, and the circuit diagram data storage unit. 9. An electronic component information discriminating unit for judging from a net name given to each wiring of the circuit diagram data stored in the electronic device and deleting information of the electronic component from the circuit diagram data. Or the substrate designing apparatus according to 9.
【請求項12】 基板配置配線設計部にて配置検討する
ために選択した電子部品とそれに接続される電子部品と
の配線許容遅延時間を単位線長当たりの遅延時間で除算
して線長データへ変換する遅延データ変換部と、 遅延時間から変換された線長データを格納する線長デー
タ記憶部と、 線長データ記憶部の線長データをもとに部品配置が可能
なエリアを基板配置配線設計部へ表示させるための部品
配置可能エリア指示部と、 をさらに備えたことを特徴とする請求項8ないし11の
いずれかに記載の基板設計装置。
12. The wiring allowable delay time between an electronic component selected for layout examination by a board layout and wiring design part and an electronic component connected thereto is divided by a delay time per unit line length into line length data. A delay data conversion unit for conversion, a line length data storage unit for storing the line length data converted from the delay time, and an area where parts can be arranged based on the line length data in the line length data storage unit. The board designing apparatus according to any one of claims 8 to 11, further comprising: a component allocable area indicating section for displaying on a design section.
【請求項13】 基板配置配線設計部にて部品配置およ
び配線を実施し、その配線長に基板設計情報記憶部に格
納された単位線長当たりの遅延時間を乗算して配線遅延
を算出する概略配線遅延算出部を仮想配線遅延算出部の
代わりに設けたことを特徴とする請求項8ないし12の
いずれかに記載の基板設計装置。
13. An outline of calculating a wiring delay by arranging and wiring components in a board layout and wiring design unit and multiplying the wiring length by a delay time per unit line length stored in a board design information storage unit. 13. The board designing apparatus according to claim 8, wherein the wiring delay calculating unit is provided in place of the virtual wiring delay calculating unit.
【請求項14】 入力部を用いて波形解析を実施するた
めに必要なデータを格納した波形解析準備データ記憶部
と、その波形解析準備データ記憶部のデータと基板配置
配線設計部にて部品配置および配線までを実施した後の
信号に対する配線長や配線層などの情報をもとに波形解
析を実施する波形解析部と、を仮想配線遅延算出部の代
わりに設けたことを特徴とする請求項8ないし12のい
ずれかに記載の基板設計装置。
14. A waveform analysis preparation data storage section storing data necessary for performing a waveform analysis using an input section, and data of the waveform analysis preparation data storage section and a component placement by a board placement and wiring design section. And a waveform analysis unit for performing a waveform analysis based on information such as a wiring length and a wiring layer for a signal after the wiring is performed, and a virtual wiring delay calculation unit are provided. 13. The substrate designing apparatus according to any one of 8 to 12.
【請求項15】 部品配置の検討が済んだ基板配置配線
設計部のデータに対し、配線許容遅延時間を線長データ
へ変換する遅延データ変換部と、 遅延時間から変換された線長データを格納する線長デー
タ記憶部と、 その線長データをもとに自動配線を実施する自動配線設
計部と、 自動配線設計部にて配線された信号の波形解析を実施す
る波形解析部と、 を備え、配線遅延記憶部が波形解析部にて算出された配
線遅延データを格納することを特徴とする請求項8ない
し11のいずれか記載の基板設計装置。
15. A delay data conversion unit for converting allowable wiring delay time into line length data for data of a board placement and wiring design unit for which component placement has been considered, and storing line length data converted from the delay time. A line length data storage unit, an automatic wiring design unit that performs automatic wiring based on the line length data, and a waveform analysis unit that performs waveform analysis of signals routed by the automatic wiring design unit. 12. The board designing apparatus according to claim 8, wherein the wiring delay storage unit stores the wiring delay data calculated by the waveform analysis unit.
【請求項16】 部品の配置や配線を行う基板配置配線
設計部のデータに対し、配線を行った際に平行配線数を
チェックする平行配線数チェック部と、 入力部を用いて波形解析に必要な情報とクロストークを
考慮した波形解析が必要かどうかをチェックするパラメ
ータを格納した波形解析準備データ記憶部と、 その平行配線のクロストークを考慮した波形解析を実施
する波形解析部と、 波形解析結果の情報を格納する波形解析結果記憶部と、 この波形解析結果をもとにタイミング検証を実施してそ
の結果を表示するタイミング解析結果表示部と、 を備えたことを特徴とする請求項8ないし11のいずれ
かに記載の基板設計装置。
16. A parallel wiring number checking unit for checking the number of parallel wirings when wiring is performed on data of a board layout and wiring design unit for arranging and wiring components, and necessary for waveform analysis using an input unit. A waveform analysis preparation data storage section that stores parameters that check whether or not waveform analysis taking into account important information and crosstalk is necessary, a waveform analysis section that performs waveform analysis that takes into account crosstalk of parallel wiring, and a waveform analysis section 9. A waveform analysis result storage unit for storing result information, and a timing analysis result display unit for performing timing verification based on the waveform analysis result and displaying the result. 12. The substrate designing apparatus according to any one of claims 11 to 11.
【請求項17】 配線遅延比較結果記憶部のデータに対
し、この比較結果からエラーとなるパスを基板配置配線
設計部上にてハイライト表示させるための処理を行うハ
イライト表示指示部を備えたことを特徴とする請求項8
ないし16のいずれかに記載の基板設計装置。
17. A highlight display instructing unit for performing processing for highlighting a path on which an error has occurred based on the comparison result on the data in the wiring delay comparison result storage unit on a board placement and wiring design unit. 9. The method according to claim 8, wherein
17. The substrate designing apparatus according to any one of claims 16 to 16.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007003997A (en) * 2005-06-27 2007-01-11 Toshiba Corp Method for producing pattern, method for processing data, method for manufacturing semiconductor device, and data processing program

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