JPH11287735A - 光学素子と光ファイバシステムにおける欠陥の局所化のための方法とそのシステム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】光ファイバシステムにおける欠陥の局所化の性
能を向上させる。 【解決手段】本発明は複数の反射事象を含む光ファイバ
を設け、該ファイバに信号を送り、その反射信号を測定
し、そして、欠陥のある光ファイバを示す予め決められ
た予測信号と比較することによって、欠陥の局所化をお
こなう。複数の欠陥が存在するばあい、測定した反射信
号は少なくとも予測信号のものとは振幅が異なり又は消
失する。該予測信号は、前回の測定又は理論的（シミュ
レーション、モデル化）な計算及び／またはファイバの
情報（例、物理的特性）で決定される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ・システム
における欠陥(faults)の局所化(localization)に関する
ものである。

【０００２】

【従来技術】光学時間領域反射率計（ＯＴＤＲ）は、例
えば、１又は２以上の光学素子を接続するための１又は
２以上の光ファイバ・リンクを含む光ファイバ・システ
ムまたはネットワークにおける故障（例えば、破損、湾
曲、機械的応力等）箇所を局所化するための最新式の計
器である。反射率計の原理は、２００ｋｍまでの、及
び、さらにそれ以上の距離範囲の単一ポート測定に適し
ているため、後方散乱信号を捕獲する広く認められた技
術にまで発展してきた。

【０００３】ＯＴＤＲは、例えば、光ファイバ、フィル
タ、カプラ等の１又は２以上の光学素子を含む光ファイ
バ・ネットワークにパルス信号(pulsed signal)を送り
込む。パルス信号は、一般に、所定のレーザ波長のレー
ザ・パルスである。少量のパルス信号は、絶えず、ＯＴ
ＤＲに向かって逆方向に後方散乱するが、これは、被測
定光ネットワークにおける減衰、損失及び反射率を表し
ている。後方散乱量及び／または反射信号対時間を測定
することによって、光ネットワークの損失対距離が測定
される。１または２以上の個別測定結果は、通常、組み
合わせられ、その組み合わせによって、光ネットワーク
のＯＴＤＲトレースが表示される。ＯＴＤＲ測定から得
られる典型的なＯＴＤＲトレースにおいて、ｘ軸は、Ｏ
ＴＤＲと光ネットワーク内における位置との距離に対応
している。ｙ軸は、光ネットワークにおける光リンク損
失に関する詳細を明らかにする、反射信号レベルのパワ
ー・レベルを示している。ＯＴＤＲに関する現在の知識
及びＯＴＤＲトレースの分析に関する詳細な説明は、１
９９８年の「ISBN 0-13-534330-5」のD. Dericson著の
「Fiber Optic Test and Measurement」の４３４ｆｆ頁
に説明されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ＯＴＤＲによれば、欠
陥を特定の不連続と解釈するＯＴＤＲトレースを評価す
ることによって、光ファイバ・システムにおける欠陥
（故障箇所）を局所化することが可能になる。しかし、
この評価では、とりわけ、後方散乱信号が最終的にＯＴ
ＤＲの受信器のノイズ・レベルより低くなる、空間的に
伸長する光ファイバ・システム（例えば、長い光ファイ
バ）に関して、「自然の」限界が見出されることにな
る。

【０００５】エルビウムをドープした増幅器（ＥＤＦ
Ａ）を装備した光ファイバ・リンクを試験する必要のあ
る場合には、光ファイバ・システムにおける欠陥の局所
化に対するＯＴＤＲの適用可能性がさらに制限されるこ
とになる。この環境において、標準的なＯＴＤＲは、い
くつかの障害に直面することになる。第１に、ＥＤＦＡ
によって、かなりの光学ＡＳＥノイズ（増幅される自然
放出）が生じ、このため、予防措置が講じられなけれ
ば、ＯＴＤＲのような高感度の機器を困惑させる(dazzl
es)ことになる。この問題は、例えば、受信器の経路内
に狭帯域の光学フィルタを設けることによって対処する
ことが可能である。第２に、ＥＤＦＡには、一般に、散
乱または反射光が入力ポートに戻るのを阻止する光アイ
ソレータが含まれている。第３に、ＥＤＦＡ伝送リンク
の極めて高い信号レベルは、ＯＴＤＲのプローブ信号に
対する非線形干渉を示している可能性がある。

【０００６】本発明の目的は、光ファイバ・システムに
おける欠陥を局所化する可能性を高めることにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、光ファ
イバ等の空間的に伸びる光学素子に、光学素子に沿って
空間的に割り当てられた複数の反射事象(reflecting ev
ents)が設けられている。

【０００８】光学素子において可能性のある欠陥が、光
学素子に信号を送り込み、反射事象から反射される信号
を測定し、測定した反射信号と欠陥のない光学素子を表
す予測信号の比較を行うことによって局所化することが
できる。光学素子に欠陥がない場合、測定される反射信
号は、予測信号にほぼ一致する。光学素子に１又は２以
上の欠陥が存在する場合、１又は２以上の欠陥のそれぞ
れの後方にある距離内で測定される反射信号は、ある程
度減衰することになる、すなわち、換言すると、予測信
号に対して、少なくとも異なる（例えば、減少した）振
幅を示したり、あるいは、消失することさえある。

【０００９】本発明は、光信号を光学素子に送り込むた
めの手段と、反射信号を測定するための手段を含むシス
テムによって実行可能である。これは、例えば、当該技
術において既知のＯＴＤＲによって実施可能である。シ
ステムには、さらに、測定された反射信号と故障のない
光学素子を表す予測信号の比較を行うための手段も含ま
れている。これは、例えば、ＯＴＤＲの一部とすること
が可能な、あるいは、独立した装置をなすデータ処理装
置によって、実施し、実行することが可能である。

【００１０】予測信号は、例えば、受け入れ測定のよう
な以前の測定から得るか、または、決定することもでき
るし、あるいは、例えば、理論的解析（シミュレーショ
ンまたはモデリング）及び／または光ファイバに関する
情報（物理的特性のような）から計算するか、別様に得
ることも可能である。

【００１１】これによって認められるように、複数の反
射事象の１または２以上で反射した信号を測定すること
によって、光学素子において可能性のある欠陥に関する
情報が得られる。

【００１２】反射事象は、屈折率の変化が生じる位置に
よって表すことができるが、光ファイバ・ブラッグ(Bra
gg)・グレーティングのようなグレーティングが望まし
い。

【００１３】反射事象は、例えば、個別光ファイバ部品
のような光学素子の連続した部分間における個別装置と
して実施することが可能であるが、例えば、光ファイバ
・ブラッグ・グレーティングとして、光学素子内に組み
込むのが望ましい。

【００１４】望ましい実施態様の場合、各反射事象の反
射率値は、反射信号の測定を行う測定点までの距離によ
って決まるように決定される。反射率値は、光学素子の
減衰を補償するため、測定点までの距離が増すにつれて
増増加させるのが望ましい。これによって、反射事象の
距離とは関係なく、振幅がほぼ一定した反射信号の受信
が可能になる。これによって、また、測定に対する、Ｅ
ＤＦＡのような可能性のある広帯域ノイズ源による影響
を低減させることが可能になる。

【００１５】反射事象は、画定された反射特性対波長が
得られるように、選択するのが望ましい。望ましい実施
態様の場合、信号の反射または部分反射を生じさせる特
定の中心波長をもたらすが、他のほとんど全ての波長に
ついては反射を生じさせない、ブラッグ・グレーティン
グのような反射事象が用いられる。

【００１６】好適な一実施例において、反射事象は、異
なる波長に関して異なる反射率特性対波長が得られるよ
うに選択される。これによって、測定波長の異なる測定
を用いて、それぞれの波長に対応する個別反射事象の位
置を局所化することが可能になる。こうして、特定の波
長における反射事象の反射率値を個別に選択することが
可能になり、他の波長における反射事象の反射率及び関
連する挿入損失(insertion loss)に依存する必要がなく
なる。その場合、特定の反射信号を明確に特定の反射事
象のせいにするために、反射信号の時間依存性を求める
測定が不要になる。

【００１７】本発明による欠陥の局所化は、例えば、特
定の光ファイバをモニタするための単一光学素子、及び
／または、光学フィルタ、スイッチ等のような（光学的
に伸長していない）光学素子間に結合することが可能
な、１または２以上の細長い個別光学素子（例えば、光
ファイバ・セグメント）を含む光学ネットワークに対し
て適用することが可能である。測定及びモニタされる光
学システム内における異なる反射事象からの反射信号
が、同じ特性を示す場合、異なる反射事象を見分けるた
めに、付加的情報を収集しなければならない。こうした
情報は、例えば、ＯＴＤＲによって自動的に測定され
る、測定信号の送信と反射信号の受信との間の時間等
の、時間情報とすることが可能である。

【００１８】所定の位置における１つの反射事象の代わ
りに、１対の、または、３つ以上の反射事象を互いにグ
ループ化して、特定のパターンの反射を生じさせること
が可能である。こうしたパターンは、容易に検出するこ
とが可能であり、自動的に特定の位置を指示する。

【００１９】ＥＤＦＡ等の光学増幅器が、連続した光学
素子間、または、その部品間において用いられる場合、
光学素子のそれぞれには、反射率値が距離に依存し、か
つ、異なる波長に関して反射率特性対波長がそれぞれに
異なるか、あるいは、そのいずれかである一連の反射素
子を設けるのが望ましい。これによって、光学素子のそ
れぞれにおける欠陥を局所化することが可能になる。光
アイソレータを用いて、散乱及び／または反射光が入力
測定ポートに戻るのを阻止する場合、反射信号が確実に
測定点に戻ることができるようにするため、ループバッ
クパス（loop back path、逆進行信号のための）または
他の十分な手段を設けなければならない。

【００２０】測定周波数は、例えば、通信を目的として
光学素子に加えられる可能性のある伝送周波数または実
際の伝送周波数とは異なるように選択し、光学素子にお
けるこうした交通状態とは関係なく実行することができ
るようにするのが望ましい。

【００２１】従来のＯＴＤＲ測定に対する他の利点は、
次の通りである： 1)強度のリターン信号。反射信号は、一般に、後方散乱
信号よりはるかに強いため。 2)高速の測定速度。時間に関して過剰な信号平均化を必
要としない、通常、より強い反射信号であるため。 3)ＳＮＲをさらに高めるため、コード相関が可能であ
る。 4)光ファイバの交通状態に関係なく、活動中の光ファイ
バをモニタすることが可能。 5)後方散乱測定の必要がない。

【００２２】本願発明におけるその他の目的及び多くの
利点については次の詳細説明及び添付図面より容易に理
解される。

【００２３】

【実施例】図１には、本発明による光ファイバ１０が示
されている。光ファイバ１０には、「欠陥コーディン
グ」として、位置ｘ１における第１の反射事象ＲＥ１
（光ファイバ１０の第１の端部２０から）、位置ｘ２に
おける第２の反射事象ＲＥ２、及び、位置ｘ３における
第３の反射事象ＲＥ３が含まれている。反射事象ＲＥｉ
は、光ファイバ１０の全長にわたって等間隔に設ける
か、そうでなければ、分布させることが可能である。す
なわち、光ファイバ１０の特定位置における欠陥をモニ
タするため、こうした特定位置内に、所定のパターンを
なすように、１または２以上の反射事象ＲＥｉを設ける
ことが可能である。図１ａの実施態様の場合、反射事象
ＲＥｉは、グレーティング、できれば、ブラッグ・グレ
ーティングによって設けられる。

【００２４】光ファイバ１０における欠陥の位置の探査
／モニタを行うため、ＯＴＤＲ３０は、直接または光フ
ァイバ・ネットワーク４０を介して光ファイバ１０に結
合される。動作において、ＯＴＤＲ３０は、測定信号を
光ファイバ１０に対して送り出し、光ファイバ１０から
反射する信号を測定する。欠陥が光ファイバ１０内に生
じたか否かをアクセスするため、ＯＴＤＲ３０は、測定
された反射信号と欠陥のない光ファイバ１０を表す予測
信号を比較する。予測信号は、前回の測定または光ファ
イバ１０の初期測定による信号であることが望ましい。

【００２５】図１ｂには、欠陥のない状態にある図１ａ
の光ファイバ１０に関して、ＯＴＤＲ３０によって求め
られた光ファイバ１０のＯＴＤＲトレース５０の一例が
示されている。同じ光ファイバ１０の第２のＯＴＤＲト
レース６０は、欠陥が反射事象ＲＥ１とＲＥ２の間の位
置ｆ１に生じた場合を表している。この場合、反射事象
ＲＥ２及びＲＥ３からの反射信号は、例えば、光ファイ
バの破損により、ｆ１において光ファイバ１０が完全に
遮断されるため、完全に消失してしまっている。

【００２６】図１ｂの例では、反射事象には、ほぼ等し
い反射率値が与えられているので、それぞれの反射事象
ＲＥiより前の最後の測定値に対して、それぞれの反射
率のピークの高さＨ１、Ｈ２及びＨ３はほぼ等しくな
る。

【００２７】図１ｃには、もう１つの例のＯＴＤＲトレ
ース７０が示されているが、この場合、反射事象ＲＥi
の反射率値は、規定の絶対レベルに対する絶対振幅Ｈ
が、反射事象ＲＥiについてほぼ等しくなるように選択
される。これは、とりわけ、ＯＴＤＲトレース７０の信
号レベルが（少なくとも部分的に）ノイズ・レベルＮ未
満にまで降下して、測定信号の信号レベル（反射事象Ｒ
Ｅiからの反射率のピークを除く）が、ノイズ・レベル
Ｎより低くなる場合に有利である。これによって、後方
散乱の解析が、ノイズ・レベルＮのためにもはや不可能
という場合でも、長距離にわたって連続した反射事象Ｒ
Ｅi間の欠陥を決定することが可能になる。

【００２８】図１ｃの一実施例の例では、反射事象ＲＥ
iとＲＥi+1の間に介在する光ファイバ・セグメントが減
衰ＡIが示されており、後続の反射事象ＲＥi+1に関する
反射率値ｒi+1は、減衰Ａiの２倍の補償に備えて選択さ
れる。

【００２９】図１ｄには、反射事象ＲＥiの反射率値が
それぞれに異なる波長依存性を示す、もう１つの例が示
されている。図１ｄの場合、ＯＴＤＲ３０からの測定信
号の周波数λiは、周波数λiが反射事象ＲＥiの中心反
射周波数と一致するように選択される。分かりやすくす
るため、図１ｄにおける３つのＯＴＤＲトレースは、互
いに垂直方向に間隔をあけて表わされている。

【００３０】図１ａから図１ｄに示されたたＯＴＤＲト
レースは、位置ｘiにおける光ファイバ１０からの反射
信号の垂直変位によって表示される、各反射事象ＲＥi
に関する一定の挿入損失を示している（例えば、前述の
文献の４５７頁も参照されたい）。しかし、それぞれの
挿入損失値が、反射事象ＲＥiのそれぞれのタイプ及び
実施態様によって決まるのは明らかである。

【００３１】例えば、図１ａに示すように、欠陥コーデ
ィングが同じか、または、異なる１又は２以上の光ファ
イバ１０が、他の光学コンポーネントの接続にも適用可
能であることは明らかである。その場合、ＯＴＤＲトレ
ースはより複雑になるが、本発明の原理は、同じであ
り、それに従って適用することが可能である。

【００３２】次に、ＥＤＦＡリンクにおける光ファイバ
の破損及び損失の箇所を局所化する例に関して、本発明
の説明を行うことにする。ただし、光増幅器を備えてい
ても、あるいは、いなくても、任意の光ファイバ構成に
本発明を用いることができるのは明らかである。さら
に、この例は、異なる波長に関する測定、及び、波長依
存性の異なる反射事象に基づくものである。ただし、本
発明の原理は、異なる波長を必要とするものではなく、
１つの波長に関する測定、及び、波長依存性が同様また
は同一の反射事象を用いることも可能である。その場
合、例えば、反射率が、距離が増すにつれて高くなるこ
とにより、ほぼ一定した振幅の反射信号を受信すること
ができるように、測定点からの距離に従って、反射率値
を選択するのが望ましい。

【００３３】本発明では、高ＡＳＥ信号、測定速度の上
昇、及び、測定範囲の拡大に有利になるように、後方散
乱の測定を回避する。後方散乱の代わりに、本発明で
は、例えば、光ファイバに組み込まれたグレーティング
のような反射事象によって発生した、リンクにおける反
射を評価する。こうしたグレーティング（例えば、光フ
ァイバ・ブラッグ・グレーティング）は、選択された波
長の光にさらされると、部分的阻止フィルタの働きをす
るのが好ましい。

【００３４】図２ａに示す望ましい実施態様の場合、光
ファイバ・リンク１００には、ファイバ・セグメント１
０Ａの異なる位置に異なる阻止波長λiが組み込まれる
ように、グレーティング、できれば、ブラッグ・グレー
ティングが設けられている。グレーティング数、より正
確に云えば、グレーティング間の距離によって、欠陥を
局所化することが可能な空間分解能が決まる。こうした
グレーティングの中心周波数λiに合致する波長の光パ
ルスで、被測定光ファイバ１０Ａを探査すると、パルス
の一部が反射し、逆方向に進行する。連続したグレーテ
ィング間に欠陥がある場合、第１のグレーティング（測
定点の方向から）は、やはり、測定信号を反射するが、
その欠陥は、測定信号が第２のグレーティングまで進行
するのを完全にまたは部分的に阻止するか、あるいは、
少なくとも測定信号を減衰させる。図２ａの構成の場
合、光ファイバ・セグメント１０Ａは、光増幅器１０５
Ａと１０５Ｂの間に結合される。

【００３５】アイソレータが逆方向の光路を遮断する場
合、信号を入力ポートまで伝達するもう１つの光ファイ
バ１０Ｂに反射を送り込む、ループバックパス１１０を
設けることが望ましい。ループバックパス１１０には、
順方向光路及び後方反射光のための光路も組み込むこと
が可能である。ＥＤＦＡリンク（例えば、海底リンク）
の場合、光ファイバは、通常、対をなして延びているの
で、これは、簡単に解決することが可能である。こうし
た双方向リンクは、一般に、信号を逆方向に伝送する２
つの単方向光ファイバによって実現される。両方の単方
向光ファイバを接続する光カプラから構成される構成に
よって、こうしたリターン・パスを設けることが可能に
なる。

【００３６】図２ａに示す光ファイバ・リンク１００を
完全にチェックするため、異なる波長λi（ｉ＝１、
２、３、．．．）のいくつかの光パルスが光ファイバ１
０Ａに向けて送り出される。光ファイバ１０Ａは、各個
別プローブ信号毎に、測定される往復ラウンド・トリッ
プ時間によって特定位置に割り当てることが可能なリタ
ーン・パルスで応答する。光ファイバの破損または追加
リンクによる損失は、個別反射Ｒiの強度と、欠陥のな
い光ファイバに関する予測値を絶えず比較することによ
って発見し、位置を局所化することが可能である。故障
がある場合、欠陥箇所の後の個別反射Ｒiの強度は、予
測値と比べて異なるか（この場合、減少する）、あるい
は、消失する場合さえある。

【００３７】図２ｂには、波長独立部分Ｒ0（これは、
順方向進行信号の一部である）と、光ファイバ・グレー
ティングλ3の位置に対応する位置における波長依存反
射Ｒ3を備えたリターン信号を生じる、λ3における単一
パルス（または、コード）測定が示されている。光ファ
イバの減衰は、Ｒ3の強度の減少を考慮した上の結果で
ある。

【００３８】図２ｃには、波長λ1における図２ｂと同
じ測定が示されている。

【００３９】図２ｄには、反射の強度が等しくなるよう
に反射率を調整した、リンク１００における測定が示さ
れている。位置Ｒ2とＲ3の間に光ファイバの破損が生じ
る場合、もはや反射Ｒ3及びＲ4の検出は不可能である。

【００４０】図２ｂないし図２ｄには、後方散乱信号が
ノイズ・レベルＮ以下である範囲に関するＯＴＤＲトレ
ースが示されている。従って、ノイズ・レベルＮを超え
るのは、リターン・パルスＲiだけということになる。

【００４１】測定波長は、伝送リンク１００があまり減
衰を示さない波長に合わせて選択するのが好ましい。グ
レーティングの中心波長λiは、リンクにおける交通信
号、すなわち、例えば、通信目的に利用される他の信号
に干渉しないように選択すべきである。例えば、λi
は、ＤＷＤＭ（稠密波長分割多重化）システムのための
ＩＴＵ（国際電気通信連合）グリッドに適合するか、あ
るいは、交通帯域外とすることが可能である。

【００４２】光ファイバ・グレーティングの反射率値
は、光ファイバの減衰を補償するように選択することが
可能である。こうして、測定されたリターン信号を用い
て、ほぼ等しい強度を得ることが可能になる。例えば、
リンク損失が、ほぼ１０ｄＢの場合、第１のグレーティ
ングの反射率は、リンクにおける最終反射率より２０ｄ
Ｂ低くすべきである。これには、ＡＳＥパワーの反射量
がはるかに少ないというもう１つの利点がある。

【００４３】反射のピークだけしか測定する必要がない
ので、後方散乱信号に重畳される自動相関副ローブ(sid
elobes)に関する厄介な問題を伴うことなく、コード相
関方式の適用が可能になる。

【００４４】以上、本発明の実施例について詳述した
が、以下、本発明の各実施態様の例を示す。 （実施態様１）空間的に伸長する光学素子であって、前
記光学素子において可能性のある欠陥を局所化するた
め、前記光学素子に沿って空間的に割り当てられた複数
の反射事象を含む光学素子。 （実施態様２）１または２以上の前記反射事象の反射率
値は、反射信号の測定が行われる測定点までの距離に依
存することを特徴とする前項(1)記載の光学素子。 （実施態様３）反射率値は、測定点までの距離が増すに
つれて増加することを特徴とする前項(3)記載の光学素
子。 （実施態様４）反射率値は、反射事象において反射する
信号の振幅がほぼ等しくなるように選択されることを特
徴とする前項(3)記載の光学素子。 （実施態様５）反射事象は、個別装置として実施される
か、または、光学素子内に組み込まれることを特徴とす
る前項(1)から(4)のいずれかの項に記載の光学素子。 （実施態様６）１または２以上の反射事象によって、予
め決められた反射率特性対波長が得られることを特徴と
する前項(1)から(5)のいずれかの項に記載の光学素子。 （実施態様７）１または２以上の反射事象によって、異
なる波長に関する異なる反射率特性対波長が得られるこ
とを特徴とする前項(6)記載の光学素子。 （実施態様８）少なくとも２つの反射事象を互いにグル
ープ化することによって、特定パターンの反射が発生す
ることを特徴とする前項(1)から(7)のいずれかの項に記
載の光学素子。 （実施態様９）以下の(a)から(c)の工程を含む空間的に
伸長する光学素子において可能性のある欠陥を局所化す
るための方法であって、（ａ）信号を光学素子に送り込
み、、（ｂ）反射信号を測定し、（ｃ）測定された反射
信号と故障のない光学素子を表した予測信号を比較する
ことによって、可能性のある欠陥を局所化する。 （実施態様１０）予測信号が、以前の測定または理論的
解析から得られたものであることを特徴とする前項(9)
記載の方法。 （実施態様１１）測定周波数が、光学素子に加えられる
可能性のある伝送周波数または実際の伝送周波数とは異
なるように選択されることを特徴とする前項(9)または
(10)記載の方法。 （実施態様１２）空間的に伸長する光学素子において可
能性のある欠陥を局所化するためのシステムであって、
信号を光学素子に送り出すための手段と、反射信号を測
定するための手段と、測定された反射信号と故障のない
光学素子を表した予測信号を比較するための手段が含ま
れているシステム。

【図面の簡単な説明】

【図１ａ】本発明の一実施例を示す概略図。

【図１ｂ】本発明の一実施例によって得られたＯＴＤＲ
トレースを示す図。

【図１ｃ】本発明の一実施例によって得られたＯＴＤＲ
トレースを示す図。

【図１ｄ】本発明の一実施例によって得られたＯＴＤＲ
トレースを示す図。

【図２ａ】本発明の他の実施例を示す概略図。

【図２ｂ】図２ａの実施例によって得られたＯＴＤＲト
レースの例を示す図。

【図２ｃ】図２ａの実施例によって得られたＯＴＤＲト
レースの例を示す図。

【図２ｄ】図２ａの実施例によって得られたＯＴＤＲト
レースの例を示す図。

【符号の説明】

１０：光ファイバ ３０：光学適時間領域反射率計 ４０：光ファイバネットワーク ５０、６０、７０：ＯＴＤＲトレース １００：光ファイバリンク １０５Ａ、１０５Ｂ：光増幅器 １１０：ループバックパス

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】空間的に伸長する光学素子であって、前記
   光学素子において可能性のある欠陥を局所化するため、
   前記光学素子に沿って空間的に割り当てられた複数の反
   射事象を含む光学素子。
2. 【請求項２】以下の(a)から(c)の工程を含む空間的に伸
   長する光学素子において可能性のある欠陥を局所化する
   ための方法であって、（ａ）信号を光学素子に送り込
   み、、（ｂ）反射信号を測定し、（ｃ）測定された反射
   信号と故障のない光学素子を表した予測信号を比較する
   ことによって、可能性のある欠陥を局所化する。
3. 【請求項３】空間的に伸長する光学素子において可能性
   のある欠陥を局所化するためのシステムであって、信号
   を光学素子に送り出すための手段と、反射信号を測定す
   るための手段と、測定された反射信号と故障のない光学
   素子を表した予測信号を比較するための手段が含まれて
   いるシステム。