JPH11283505A - Electrode panel withstand voltage testing method and device - Google Patents

Electrode panel withstand voltage testing method and device

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JPH11283505A
JPH11283505A JP8569198A JP8569198A JPH11283505A JP H11283505 A JPH11283505 A JP H11283505A JP 8569198 A JP8569198 A JP 8569198A JP 8569198 A JP8569198 A JP 8569198A JP H11283505 A JPH11283505 A JP H11283505A
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Keinosuke Kaneshima
敬之介 金島
Yasuhisa Ishikura
靖久 石倉
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To simply, accurately test an electrode panel by arranging a testing electrode to form a gap between a dielectric layer and the testing electrode through a discharging gas atmosphere formed on the dielectric layer surface of the electrode panel and applying a voltage between a discharge electrode of the electrode panel and the testing electrode. SOLUTION: The tip of a gas passing through-hole 55 along the both sides of a testing electrode 80 from a gas chamber 54 is communicated with a gas- holding space 56. The gas-holding space 56 is wider than the gas passing through-hole 55, discharging gas is filled in the gas holding space 56, then passed through a gap between the lower end of a testing arm 50 and an electrode panel 20, and exhausted from the both sides of the testing arm 50. Since the fixed range of the lower end periphery of the testing electrode 80 is covered with a testing gas atmosphere, the testing electrode 80 and a discharge electrode 24 of the electrode panel 20 are kept in the discharge atmosphere which is similar to that of a cell space at the using of a PDP. Thereby, since withstand voltage test is conducted in the environment similar to the using conditions, quality of the electrode panel 20 is determined accurately and simply.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電極パネルの試験
方法および装置に関し、詳しくは、PDP(プラズマデ
ィスプレイパネル)に利用される電極パネルの耐電圧性
能を試験する方法と、そのような試験方法を実施するた
めの装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for testing an electrode panel, and more particularly, to a method for testing the withstand voltage performance of an electrode panel used in a PDP (plasma display panel), and such a test method. To an apparatus for implementing the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】PDPは、壁掛式TVなどに利用される
画像表示装置である。マトリックス状に配置された小さ
なセル内でプラズマ放電を起こして、セル内に配置され
た蛍光体を発光させ、各セルの光点の集合として画像を
形成する。色の異なる蛍光体を備えたセルを組み合わせ
ることで、カラー画像を構成できる。
2. Description of the Related Art A PDP is an image display device used for a wall-mounted TV or the like. Plasma discharge is generated in small cells arranged in a matrix to cause the phosphors arranged in the cells to emit light, and an image is formed as a set of light spots in each cell. A color image can be formed by combining cells provided with phosphors having different colors.

【0003】各セルにプラズマ放電を起こさせるための
電圧を印加するには、セルの両側に互いに交差する多数
の線状電極を配置しておくことで、両側の線状電極の特
定の交差点に配置されたセルに電圧を印加する。PDP
を製造する方法として、セルおよび一方の電極を備えた
ベースパネルと、他方の電極を備えた透明な前面パネル
とをそれぞれ作製したあと、両方のパネルを一体に接合
する方法がある。この場合、ベースパネルおよび前面パ
ネルが作製された段階で、それぞれの品質性能を検査し
て、良品だけをPDPの組み立てに用いるようにした
り、不良品は補修を行うようにしたりすれば、生産性あ
るいは品質性能の向上が図れ、製品歩留りを高めること
もできる。
In order to apply a voltage for causing a plasma discharge to each cell, a large number of linear electrodes intersecting with each other are arranged on both sides of the cell, so that a specific intersection of the linear electrodes on both sides is provided. A voltage is applied to the arranged cells. PDP
Is a method of manufacturing a cell and a base panel provided with one electrode and a transparent front panel provided with the other electrode, and then joining both panels integrally. In this case, when the base panel and the front panel are manufactured, the quality performance of each is inspected, and only a non-defective product is used for assembling the PDP, and a defective product is repaired, thereby improving productivity. Alternatively, the quality performance can be improved, and the product yield can be increased.

【0004】前面パネルの品質検査試験の一つとして耐
圧試験がある。前面パネルは、表面に形成された電極を
誘電体層で覆っている。誘電体層は、材料液を塗工して
形成される。この誘電体層は、十分な厚みを有し、微細
な孔などの欠陥を有しないものでなければならない。前
記したセルに電圧が印加されたときに上記誘電体層が印
加電圧に耐えることができなければ放電破壊が生じてし
まう。
One of the quality inspection tests for the front panel is a pressure resistance test. The front panel covers electrodes formed on the surface with a dielectric layer. The dielectric layer is formed by applying a material liquid. This dielectric layer must be of sufficient thickness and free of defects such as fine holes. If the dielectric layer cannot withstand the applied voltage when a voltage is applied to the cell, discharge breakdown occurs.

【0005】そこで、前面パネルの誘電体層が、要求さ
れる耐圧特性を有しているか否かを予め検査しておくこ
とが要求される。
Therefore, it is required to check in advance whether the dielectric layer of the front panel has a required withstand voltage characteristic.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記耐圧特性を検査す
るには、誘電体層の厚みや孔の有無、膜特性などを直接
に測定することもできるが、前面パネルの全体にわたっ
て形成された誘電体層に対して上記測定を行うのは大変
に面倒である。また、例えば、誘電体層の厚みとPDP
に使用したときの機能とは直接には関係がないので、上
記試験だけでは、PDPとしての使用に適しているか否
かを正確に判定することは困難である。
In order to inspect the above breakdown voltage characteristics, the thickness of the dielectric layer, the presence or absence of holes, the film characteristics, etc. can be directly measured. Performing the above measurement on the body layer is very troublesome. Also, for example, the thickness of the dielectric layer and the PDP
Since it is not directly related to the function when used as a PDP, it is difficult to accurately determine whether or not it is suitable for use as a PDP using only the above test.

【0007】本発明の課題は、前記したPDPの前面パ
ネルに対する耐圧試験を、簡単かつ正確に行うことであ
る。
An object of the present invention is to easily and accurately perform a pressure test on the front panel of the PDP.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明に係る電極パネル
の試験方法は、基板の表面に多数の放電電極が配置され
放電電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネル
に対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する方法であっ
て、以下の工程を含む。 (a) 電極パネルの誘電体層表面に放電用ガス雰囲気を形
成する工程。
According to the present invention, there is provided a method for testing an electrode panel, comprising the steps of: providing a plurality of discharge electrodes on a surface of a substrate and a dielectric layer covering the discharge electrodes; A method for testing the withstand voltage performance of a dielectric layer, including the following steps. (a) forming a discharge gas atmosphere on the surface of the dielectric layer of the electrode panel;

【0009】(b) 放電用ガス雰囲気を介し誘電体層との
間に間隙をあけて試験電極を配置する工程。 (c) 試験電極と電極パネルの放電電極との間に電圧を印
加する工程。 各構成要件について具体的に説明する。 〔電極パネル〕PDPはプラズマパネルディスプレイの
略称であり、本発明におけるPDPの基本的な構造は通
常のPDPと同様でよい。PDPの構造には、AC型と
DC型とがあるが、本発明はAC型PDPに好ましく適
用される。
(B) a step of disposing a test electrode with a gap between the dielectric layer and the dielectric layer via a discharge gas atmosphere; (c) applying a voltage between the test electrode and the discharge electrode of the electrode panel. Each component requirement will be specifically described. [Electrode Panel] PDP is an abbreviation for plasma panel display, and the basic structure of the PDP in the present invention may be the same as that of a normal PDP. The structure of the PDP includes an AC type and a DC type, and the present invention is preferably applied to an AC type PDP.

【0010】PDPの具体的構造としては、蛍光体が収
容されるセルおよびセルの背面側に互いに平行に配置さ
れた多数の線状をなす電極とを備えたベースパネルと、
前記ベースパネルの電極と交差する方向に多数の線状を
なす電極を互いに平行に備えた前面パネルとで構成され
る。前面パネルは、ガラス等からなる透明な基板と、基
板の表面に配置され、これも透明な放電用の電極と、こ
の放電電極のうち少なくとも前記セルに配置される部分
の全体を覆う透明な誘電体層とを備える。したがって、
前面パネルは、ほぼ全体が実質的に透明であり、前記セ
ルにおける発光が前面パネルを通過し、外部に画像とし
て現出される。
As a specific structure of the PDP, a base panel having a cell for accommodating a phosphor and a plurality of linear electrodes arranged in parallel on the back side of the cell,
A front panel having a plurality of linear electrodes parallel to each other in a direction crossing the electrodes of the base panel. The front panel is a transparent substrate made of glass or the like, and is disposed on the surface of the substrate, which is also a transparent discharge electrode, and a transparent dielectric covering the whole of at least the portion of the discharge electrode disposed in the cell. And a body layer. Therefore,
The front panel is substantially transparent substantially entirely, and the light emission in the cell passes through the front panel and appears as an image to the outside.

【0011】なお、放電電極は、前面パネルの基板の表
面のうち、前記セルに対応する個所に多数の線状あるい
は帯状をなす電極が平行に並んで配置される。この平行
部分の電極は、誘電体層で確実に覆っておく必要があ
る。セルの外側になる個所には、放電電極を外部の電圧
印加回路に接続するための接続部を備え、この接続部は
誘電体層から露出していてもよい。接続部は、セルに対
応する平行な線状部分と電気的に接続されていれば、そ
の配置形状は自由に設定できる。
In the discharge electrode, a large number of linear or band-shaped electrodes are arranged in parallel at positions corresponding to the cells on the surface of the front panel substrate. The electrodes in this parallel portion must be reliably covered with a dielectric layer. A portion outside the cell is provided with a connection portion for connecting the discharge electrode to an external voltage application circuit, and this connection portion may be exposed from the dielectric layer. As long as the connection portion is electrically connected to the parallel linear portion corresponding to the cell, the arrangement shape can be freely set.

【0012】電極パネルの耐圧試験は、放電電極のう
ち、前記セルに対応して誘電体層で覆われた部分に対し
て行い、この領域が試験領域となる。〔放電用ガス〕P
DPとして使用する際にセルに充填される放電用ガスと
同様のガスが用いられる。具体的には、Ne やHe 、N
2 などを単独あるいは混合して用いることができる。
The withstand voltage test of the electrode panel is performed on a portion of the discharge electrode covered with a dielectric layer corresponding to the cell, and this region is a test region. [Discharge gas] P
The same gas as the discharge gas filled in the cell when used as DP is used. Specifically, Ne, He, N
2 or the like can be used alone or as a mixture.

【0013】放電用ガス雰囲気は、電極パネルのうち、
耐圧試験を行う部分、あるいは、耐圧試験で電圧が印加
される部分を含む範囲に形成する必要がある。放電用ガ
ス雰囲気を、電極パネルの全体に一様に形成しておいて
もよいし、試験の進行に伴って必要な個所のみに放電用
ガス雰囲気を形成するようにしてもよい。放電用ガスを
蓄えたガスボンベのガス供給源から配管を経て、所定の
領域に放電用ガスを吹き出せば、その領域に放電用ガス
雰囲気が形成される。 〔試験電極〕試験電極は、放電用ガス雰囲気を介して誘
電体層との間に間隙をあけて放電電極と対向するように
配置される。
The discharge gas atmosphere is one of the electrode panels
It must be formed in a range including a portion where a withstand voltage test is performed or a portion where a voltage is applied in the withstand voltage test. The discharge gas atmosphere may be formed uniformly over the entire electrode panel, or the discharge gas atmosphere may be formed only in necessary places as the test proceeds. When a discharge gas is blown out from a gas supply source of a gas cylinder storing a discharge gas to a predetermined region via a pipe, a discharge gas atmosphere is formed in that region. [Test electrode] The test electrode is arranged so as to face the discharge electrode with a gap between the test electrode and the dielectric layer via the discharge gas atmosphere.

【0014】試験電極の材料は、ステンレス鋼など通常
用いられている放電用の電極材料が使用できる。試験電
極と誘電体層との間隔は、PDPにおけるベースパネル
の電極と前面パネルの誘電体層との間隔と同程度に設定
しておくことができる。 〔電圧印加〕試験電極と放電電極との間に電圧を印加す
るには、それぞれの電極を電源と接続する。
As a material of the test electrode, a commonly used discharge electrode material such as stainless steel can be used. The distance between the test electrode and the dielectric layer can be set to be substantially equal to the distance between the electrode of the base panel and the dielectric layer of the front panel in the PDP. [Application of Voltage] To apply a voltage between the test electrode and the discharge electrode, each electrode is connected to a power supply.

【0015】印加する電圧は、PDPの使用時に加わる
電圧、あるいは、パネルの誘電体層が耐える必要のある
電圧など、試験の目的に合わせて設定される。具体的に
は、数百Vから数千Vの範囲で設定できる。 〔試験腕〕試験腕は、電極パネルとの間に間隙をあけ電
極パネルを横断して配置され、電極パネルの表面に沿っ
て平行移動する。この試験腕の軸方向に沿って試験電極
および放電用ガスの吹き出し手段を備えておく。
The applied voltage is set according to the purpose of the test, such as the voltage applied when the PDP is used or the voltage that the dielectric layer of the panel needs to withstand. Specifically, it can be set within a range of several hundred volts to several thousand volts. [Test Arm] The test arm is arranged across the electrode panel with a gap between the test arm and the electrode panel, and translates along the surface of the electrode panel. A test electrode and discharge gas blowing means are provided along the axial direction of the test arm.

【0016】試験腕の軸方向に沿った帯状の領域に放電
用ガス雰囲気を形成し、この放電用ガス雰囲気中で試験
電極と電極パネルの放電電極との間に電圧を印加して、
その部分の誘電体層の耐圧試験を行うことができる。試
験腕を電極パネルに対して平行移動させれば、電極パネ
ルの全体に順次耐圧試験を行うことができる。ガス吹き
出し手段として、帯状に放電用ガスを吹き出すガス吹出
口を、試験腕の下面などに備えておけば、帯状の領域に
放電用ガス雰囲気を形成することができる。試験腕が平
行移動すれば、帯状の放電用ガス雰囲気が電極パネルの
全体に順次形成される。
A discharge gas atmosphere is formed in a band-shaped region along the axial direction of the test arm, and a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode of the electrode panel in the discharge gas atmosphere,
A withstand voltage test of the dielectric layer at that portion can be performed. If the test arm is moved in parallel with respect to the electrode panel, a pressure resistance test can be sequentially performed on the entire electrode panel. If a gas outlet for blowing discharge gas in a band shape is provided on the lower surface of the test arm or the like as a gas blowing means, a discharge gas atmosphere can be formed in the band region. When the test arm moves in parallel, a band-like discharge gas atmosphere is sequentially formed on the entire electrode panel.

【0017】平行移動する試験腕に対して、電極パネル
はパネル保持手段で定位置に保持しておく。具体的に
は、機械的に挟持機構や真空吸着機構など、通常の試験
装置における板材の保持手段が採用できる。上記のよう
な試験腕を用いれば、電極パネルの全面に放電用ガス雰
囲気を形成せず、比較的に狭い帯状領域だけに放電用ガ
ス雰囲気を形成すればよく、また、線状または帯状の試
験電極だけに電圧を印加すればよい。その結果、放電用
ガスの使用量を削減でき、放電に必要な電力の消費も少
なくて済む。
The electrode panel is held at a fixed position by the panel holding means with respect to the test arm that moves in parallel. Specifically, means for holding a plate material in an ordinary test apparatus, such as a mechanical clamping mechanism or a vacuum suction mechanism, can be employed. If the test arm as described above is used, the discharge gas atmosphere need not be formed on the entire surface of the electrode panel, but the discharge gas atmosphere may be formed only in a relatively narrow band-like region. It is sufficient to apply a voltage only to the electrodes. As a result, the amount of discharge gas used can be reduced, and power consumption required for discharge can be reduced.

【0018】特に、不良個所に過大な電流が流れて放電
破壊を起こす問題が防げる。これは、電極パネルの誘電
体層の不良個所に電圧が印加されると、それまでは試験
電極の全体と電極パネルの放電電極との間を流れていた
電流が、不良個所だけに集中的に流れ、この集中的な電
流で放電破壊を起こす。試験電極と放電電極との対向面
積が広いほど大きな電流を流しておく必要があるから、
不良個所に集中的に流れる電流の値も大きくなり、放電
電極などの電極パネルに放電破壊が生じる可能性が高く
なる。しかし、前記した線状あるいは帯状の試験電極で
あれば、その放電に関与する面積はわずかであるから、
試験時に流す電流が少なくて済み、不良個所において集
中する電流値も小さくなり、過大な電流による放電破壊
が生じ難い。
In particular, it is possible to prevent a problem that an excessive current flows to a defective portion to cause a discharge breakdown. This is because when a voltage is applied to a defective portion of the dielectric layer of the electrode panel, the current flowing between the entire test electrode and the discharge electrode of the electrode panel up to that point concentrates only on the defective portion. Flow, and this concentrated current causes discharge breakdown. The larger the facing area between the test electrode and the discharge electrode, the larger the current needs to flow,
The value of the current intensively flowing to the defective portion also increases, and the possibility that discharge breakdown occurs in an electrode panel such as a discharge electrode increases. However, if the linear or band-like test electrode described above, the area involved in the discharge is small,
A small amount of current is required to flow during the test, and the current value concentrated at the defective portion is also small, so that discharge breakdown due to excessive current is unlikely to occur.

【0019】試験腕で電極パネルの全体を走査すれば、
電極パネルの全面に存在する不良個所が全て発見できる
ので、試験時間は短くて済む。 〔電圧印加手段〕パネル保持手段で保持された電極パネ
ルの放電電極に電圧を印加するには、以下の電圧印加手
段が採用できる。
By scanning the entire electrode panel with the test arm,
The test time can be shortened because all the defective portions existing on the entire surface of the electrode panel can be found. [Voltage Applying Means] The following voltage applying means can be employed to apply a voltage to the discharge electrodes of the electrode panel held by the panel holding means.

【0020】電極パネルの放電電極の接続部に当接され
電圧が印加される接触片と、接触片を支持し、接触片を
電極パネルの外側から接続部の上方位置へと進退させる
進退機構と、接触片を接続部に圧接する圧接機構とを有
する。接触片は、銅やステンレス鋼などの導体材料から
なり、接続部の配置形状に対応する配置形状を有する。
圧接されたときにある程度変形して接続部との電気的接
触を良好にできるものが好ましい。
A contact piece which is in contact with a connection portion of the discharge electrode of the electrode panel and to which a voltage is applied, an advancing / retracting mechanism for supporting the contact piece and moving the contact piece from outside the electrode panel to a position above the connection portion; And a pressure contact mechanism for pressing the contact piece against the connection portion. The contact piece is made of a conductive material such as copper or stainless steel, and has an arrangement shape corresponding to the arrangement shape of the connection portion.
It is preferable that the material can be deformed to some extent when pressed to make good electrical contact with the connecting portion.

【0021】接触片は、多数の放電電極毎に配置された
多数の接続部に対して、個々の接続部に別々の接触片を
当接させてもよいし、複数の接続部に同じ接触片を当接
させて同時に電圧を印加することもできる。電極パネル
に有する全ての接続部に同時に接触片を当接させて電圧
を印加することもできる。進退機構は、電磁シリンダや
カム機構、ラックギア機構など、通常の機械装置におけ
る進退作動手段が適用される。
As for the contact pieces, separate contact pieces may be brought into contact with the individual connection portions with respect to a large number of connection portions arranged for each of a large number of discharge electrodes, or the same contact piece may be contacted with a plurality of connection portions. Can be applied to apply voltage at the same time. A voltage can be applied by simultaneously bringing the contact pieces into contact with all the connection portions of the electrode panel. As the forward / backward mechanism, forward / backward operation means in a normal mechanical device such as an electromagnetic cylinder, a cam mechanism, and a rack gear mechanism is applied.

【0022】圧接機構は、カムやギアなどの各種動作機
構を組み合わせて、接触片を接続部に押し当てることが
できれば、具体的な機構については通常の電気装置にお
ける電極の圧接機構が使用できる。ゴムなどの弾性材料
で接触片を接続部に圧接すれば、適度な圧力で確実に圧
接させることができる。 〔パネル載置台〕電極パネルを面状の試験電極を備えた
パネル載置台に装着して試験を行うことができる。
As for the pressure contact mechanism, if various operation mechanisms such as cams and gears can be combined and the contact piece can be pressed against the connection portion, a specific pressure contact mechanism of an electrode in an ordinary electric device can be used. If the contact piece is pressed against the connecting portion with an elastic material such as rubber, it can be reliably pressed at an appropriate pressure. [Panel mounting table] A test can be performed by mounting the electrode panel on a panel mounting table provided with planar test electrodes.

【0023】パネル載置台には、電極パネルの装着個所
の全面にわたって面状の試験電極が配置される。電極パ
ネルは、その誘電体層を有する面を、面状の試験電極と
の間に間隙をあけて対面させて装着される。電極パネル
と面状の試験電極との間に放電用ガス雰囲気を形成す
る。パネル載置台の表面に放電用ガスの吹出口を設ける
ことができる。
On the panel mounting table, planar test electrodes are arranged over the entire area where the electrode panel is mounted. The electrode panel is mounted so that the surface having the dielectric layer faces the planar test electrode with a gap therebetween. A discharge gas atmosphere is formed between the electrode panel and the planar test electrode. An outlet for discharging gas can be provided on the surface of the panel mounting table.

【0024】電極パネルと試験電極との間の間隙を形成
するために、間隙形成枠が用いられる。間隙形成枠は、
合成樹脂などの絶縁材料からなり、電極パネルの外周辺
に沿って当接する位置に配置され、電極パネルと試験電
極との隙間を埋める。間隙形成枠を絶縁テープで構成す
ることができる。間隙形成枠が存在すれば、電極パネル
と試験電極の間隙を一定に維持できるととせに、間隙形
成枠の内側に放電用ガスを確実に溜めることができる。
A gap forming frame is used to form a gap between the electrode panel and the test electrode. The gap forming frame is
It is made of an insulating material such as a synthetic resin, and is arranged at a position where it contacts along the outer periphery of the electrode panel to fill a gap between the electrode panel and the test electrode. The gap forming frame can be made of an insulating tape. If the gap forming frame exists, the gap between the electrode panel and the test electrode can be maintained constant, and the discharge gas can be reliably stored inside the gap forming frame.

【0025】パネル載置台の試験電極と、パネル載置台
に載せられた電極パネルの放電電極との間で電圧を印加
する電圧印加手段を備えておく。上記のようなパネル載
置台を用いて耐圧試験を行うには、パネル載置台に装着
した電極パネルと試験電極との間に放電用ガスを供給し
たあと、電極パネルの放電電極と試験電極との間に所定
の試験電圧を印加すればよい。
A voltage applying means for applying a voltage between the test electrode of the panel mounting table and the discharge electrode of the electrode panel mounted on the panel mounting table is provided. In order to perform a pressure resistance test using the panel mounting table as described above, a discharge gas is supplied between the electrode panel mounted on the panel mounting table and the test electrode, and then the discharge electrode of the electrode panel and the test electrode are connected. A predetermined test voltage may be applied during that time.

【0026】電極パネルの誘電体層に不良個所があれ
ば、不良個所において集中的な放電が生じて発光するの
で、不良個所の存在が判る。この方法は、比較的構造の
簡単なパネル載置台を使用するだけで、簡単に耐圧試験
が行える。但し、上記方法では、複数個所に不良がある
場合にも、最も放電が生じ易い不良個所だけに集中放電
および発光が生じるので、その他の不良個所が発見し難
い。
If there is a defective portion in the dielectric layer of the electrode panel, intensive discharge occurs at the defective portion to emit light, so that the presence of the defective portion can be recognized. According to this method, a pressure test can be easily performed simply by using a panel mounting table having a relatively simple structure. However, according to the above method, even when there are defects at a plurality of locations, since concentrated discharge and light emission occur only at the defective locations where discharge is most likely to occur, it is difficult to find other defective locations.

【0027】そこで、次に説明する絶縁片を用いる方法
が適用できる。 〔絶縁片〕絶縁片は、合成樹脂フィルムなどの絶縁材料
からなり、電極パネルの誘電体層に生じる1個の欠陥を
覆える程度の面積および形状を有する。通常は、数mm角
程度の大きさでよい。絶縁片の片面に粘着層を形成して
おけば、電極パネルへの貼着作業が行い易い。
Therefore, a method using an insulating piece described below can be applied. [Insulating Piece] The insulating piece is made of an insulating material such as a synthetic resin film and has an area and a shape enough to cover one defect generated in the dielectric layer of the electrode panel. Usually, the size may be about several mm square. If an adhesive layer is formed on one surface of the insulating piece, the work of sticking to the electrode panel can be easily performed.

【0028】前記した電極パネルの全体と対面する面状
の試験電極を用い、電極パネルと試験電極との間に電圧
を印加して耐圧試験を行う際に、誘電体層の不良個所が
発見されると、その不良個所に絶縁片を貼着してから、
再び上記の電圧を印加する工程を繰り返す。不良個所に
絶縁片を貼着すれば、その部分で放電破壊が生じたり集
中放電が起きることは無くなる。この状態で、再び電圧
の印加を行えば、別の位置に存在する不良個所で集中放
電および発光が生じる。発見された不良個所に順次絶縁
片を貼着して、電圧の印加を繰り返せば、電極パネルの
全体に存在する不良個所の位置を検知することができ
る。
When a withstand voltage test is performed by applying a voltage between the electrode panel and the test electrode using a planar test electrode facing the entire electrode panel, a defective portion of the dielectric layer is found. Then, after attaching an insulating piece to the defective part,
The step of applying the voltage again is repeated. If an insulating piece is attached to a defective portion, discharge breakdown or concentrated discharge does not occur at that portion. If a voltage is applied again in this state, concentrated discharge and light emission occur at a defective portion located at another position. If the insulating pieces are sequentially attached to the found defective portions and the application of the voltage is repeated, the positions of the defective portions existing in the entire electrode panel can be detected.

【0029】電極パネルに絶縁片が貼着された個所が不
良個所であり、不良個所の絶縁片を剥がして、補修作業
を行うことができる。
The portion where the insulating piece is adhered to the electrode panel is a defective portion, and the insulating piece at the defective portion can be peeled off to perform repair work.

【0030】[0030]

【発明の実施の形態】〔PDPの構造〕試験に供する電
極パネルを含むPDPの概略構造について説明する。図
6に示すように、PDPは、前面パネル20とベースパ
ネル10とを有する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [Structure of PDP] A schematic structure of a PDP including an electrode panel to be tested will be described. As shown in FIG. 6, the PDP has a front panel 20 and a base panel 10.

【0031】ベースパネル10は、基板12の表面に多
数の線状をなす電極13が間隔をあて平行に並んで配置
されている。図6では、紙面を貫く方向に各電極13が
延びている。電極13は誘電体層14で覆われ、その上
に多数のセル空間17が設けられた隔壁16が配置され
ている。隔壁16で区切られた各セル空間17には蛍光
体層18が形成されている。
The base panel 10 has a large number of linear electrodes 13 arranged on the surface of a substrate 12 in parallel at intervals. In FIG. 6, each electrode 13 extends in a direction penetrating the paper surface. The electrode 13 is covered with a dielectric layer 14, on which a partition 16 provided with a number of cell spaces 17 is arranged. A phosphor layer 18 is formed in each cell space 17 divided by the partition 16.

【0032】前面パネル20は、ベースパネル10の隔
壁16の上に配置される。透明基板22の表面に放電電
極24が形成され、放電電極24を誘電体層26が覆っ
ている。誘電体層26がベースパネル10のセル空間1
7に対面している。図7および図8に示すように、前面
パネル20の放電電極24は、多数の線状をなす放電電
極24が間隔をあけて平行に配置されている。この放電
電極24が延びる方向は、PDPを組み立てたときに、
前記したベースパネル10の電極13が延びる方向とは
交差する方向に設定されている。放電電極24の平行部
分は誘電体層26で完全に覆われている。放電電極24
の端部は誘電体層26の外側まで延びており、基板22
の外周辺に沿って配置された短冊状の接続部25に接続
されている。
The front panel 20 is disposed on the partition 16 of the base panel 10. A discharge electrode 24 is formed on the surface of the transparent substrate 22, and the discharge electrode 24 is covered with a dielectric layer 26. The dielectric layer 26 covers the cell space 1 of the base panel 10.
Faces 7. As shown in FIGS. 7 and 8, the discharge electrodes 24 of the front panel 20 include a large number of linear discharge electrodes 24 arranged in parallel at intervals. The direction in which the discharge electrode 24 extends is as follows when the PDP is assembled.
The direction is set so as to intersect with the direction in which the electrodes 13 of the base panel 10 extend. The parallel portion of the discharge electrode 24 is completely covered with the dielectric layer 26. Discharge electrode 24
Of the substrate 22 extend outside the dielectric layer 26.
Is connected to a strip-shaped connection portion 25 arranged along the outer periphery of the box.

【0033】接続部25は、各放電電極24毎に設けら
れているとともに、平行に並んだ放電電極24…は、交
互に左右の外側に配置された接続部25に接続されてい
る。放電電極24…と接続部25とを接続する配線構造
は平行ではなくそれぞれが異なる角度で傾斜している。
基板22の両側の外周辺に配置された接続部25が、交
互に中央の放電電極24…に接続されていることにな
る。基板22のそれぞれの外周辺で、複数の接続部25
…がひとまとまりになって隣接して配置され、このよう
な接続部25…の集まりすなわちブロックが、一定間隔
毎に配置されている。
The connecting portions 25 are provided for the respective discharge electrodes 24, and the discharge electrodes 24 arranged in parallel are connected to the connecting portions 25 alternately arranged on the left and right outer sides. The wiring structure for connecting the discharge electrodes 24 to the connection portions 25 is not parallel but is inclined at different angles.
The connecting portions 25 arranged on the outer periphery on both sides of the substrate 22 are alternately connected to the central discharge electrodes 24. A plurality of connecting portions 25 are provided around each of the outer periphery of the substrate 22.
Are grouped and arranged adjacently, and a group of such connecting portions 25, that is, blocks are arranged at regular intervals.

【0034】上記した、基板22と放電電極24と誘電
体層26を備えた前面パネルすなわち電極パネル20に
対して耐圧試験を行う。 〔第1の実施形態〕図1〜図3に示す試験装置は、試験
腕を備えている。全体構造 試験機本体30には、画面サイズ40インチ相当の電極
パネル20を載置する矩形状の支持台32を有する。支
持体32の奥側の長手辺に沿って長さ目盛りが表示され
たスケール34が配置されている。支持台32の上方に
試験腕50が配置される。
A withstand voltage test is performed on the front panel, ie, the electrode panel 20 provided with the substrate 22, the discharge electrodes 24, and the dielectric layer 26 described above. [First Embodiment] The test apparatus shown in FIGS. 1 to 3 has a test arm. The whole structural tester main body 30 has a rectangular support base 32 on which the electrode panel 20 having a screen size of 40 inches is mounted. A scale 34 on which a length scale is displayed is arranged along a long side on the back side of the support 32. The test arm 50 is arranged above the support table 32.

【0035】試験腕50の一端は、支持台32の長手辺
の側方で昇降柱62に支持されており、試験腕50を上
下に昇降させる。昇降柱62は、支持台32の側方に沿
って配置された摺動部64に支持され、支持台32の側
方に沿って水平移動する。その結果、試験腕50は、支
持台32に支持された電極パネル20の表面に対して、
面と直交する上下方向に移動してその間隙の大きさを調
整できる。電極パネル20を上方を横断した状態で表面
に沿って平行移動する。なお、電極パネル20に配置さ
れた放電電極24の平行部分に対して、試験腕50は各
放電電極24を横断する方向に配置され、放電電極24
の延びる方向と同じ方向に平行移動することになる。試
験腕50の平行移動速度は、5mm/sec〜50mm/sec程度
の範囲で調整できる。
One end of the test arm 50 is supported by a lifting column 62 on the side of the longitudinal side of the support table 32, and moves the test arm 50 up and down. The elevating column 62 is supported by a sliding portion 64 arranged along the side of the support 32, and moves horizontally along the side of the support 32. As a result, the test arm 50 moves with respect to the surface of the electrode panel 20 supported by the support table 32.
The size of the gap can be adjusted by moving in the vertical direction perpendicular to the plane. The electrode panel 20 is translated along the surface while traversing upward. The test arm 50 is arranged in a direction crossing each discharge electrode 24 with respect to a parallel portion of the discharge electrode 24 arranged on the electrode panel 20.
Will move in the same direction as the direction in which. The translation speed of the test arm 50 can be adjusted in a range of about 5 mm / sec to 50 mm / sec.

【0036】支持台32の短手辺の外側には、電圧印加
部40を備える。電圧印加部40が電極パネル20の放
電電極24につながる接続部25に接触することで、放
電電極24に電圧を印加することができる。試験機本体
30にはモニタ画面を有する制御盤70を備え、試験腕
50や電圧印加部40の作動を含む試験機の動作を制御
したり、動作状況を監視したりする。
A voltage application section 40 is provided outside the short side of the support base 32. The voltage can be applied to the discharge electrode 24 by the voltage application unit 40 contacting the connection unit 25 connected to the discharge electrode 24 of the electrode panel 20. The tester main body 30 includes a control panel 70 having a monitor screen, and controls the operation of the tester including the operation of the test arm 50 and the voltage application unit 40 and monitors the operation status.

【0037】試験腕 図2に詳しく示すように、試験腕50は全体が透明なア
クリル樹脂で構成されている。試験腕50の断面中央に
はステンレス板からなり、厚み1mm程度の試験電極80
が配置されている。
Test Arm As shown in detail in FIG. 2, the test arm 50 is entirely made of a transparent acrylic resin. A test electrode 80 made of a stainless steel plate and having a thickness of about 1 mm
Is arranged.

【0038】試験電極80を挟んで、試験腕50の中央
にはガス室54が配置されている。試験腕50の軸方向
の両端で、ガス室54は試験腕50の外壁によって閉塞
されている。試験腕50の昇降柱62への支持側で試験
腕50の壁面にガス供給孔52が設けられ、図示しない
外部のガスタンクあるいはガス配管からガス室54へと
放電用ガスが供給される。放電用ガスには、HeとNe
の混合ガスが用いられ、ガス供給量は2〜3リットル/
分程度である。ガス室54の中央を横断する試験電極8
0にはガス通過孔82が貫通形成されていて、両側のガ
ス室54を放電用ガスが流通する。
A gas chamber 54 is arranged at the center of the test arm 50 with the test electrode 80 interposed therebetween. At both axial ends of the test arm 50, the gas chamber 54 is closed by the outer wall of the test arm 50. A gas supply hole 52 is provided in the wall surface of the test arm 50 on the support side of the test arm 50 to the lifting column 62, and a discharge gas is supplied to the gas chamber 54 from an external gas tank or gas pipe (not shown). He and Ne are used as the discharge gas.
And a gas supply amount of 2-3 liters /
Minutes. Test electrode 8 traversing the center of gas chamber 54
A gas passage hole 82 is formed through the hole 0 so that the discharge gas flows through the gas chambers 54 on both sides.

【0039】ガス室54から試験電極80の両側に沿っ
て狭いガス通過溝55が設けられ、ガス通過溝55の先
端は、試験腕50の下端に配置されたガス保持空間56
に連通している。ガス保持空間56は、試験電極80の
両側にガス通過溝55よりも広い幅で設けられている。
ガス室54からガス通過溝55を経てガス保持空間56
に供給された放電用ガスは、ガス保持空間56を充満さ
せたあと、試験腕50の下端と電極パネル20の誘電体
層26の表面との間の隙間を通過して、試験腕50の両
側から外部に放出される。
A narrow gas passage groove 55 is provided from the gas chamber 54 along both sides of the test electrode 80, and the tip of the gas passage groove 55 is connected to a gas holding space 56 disposed at the lower end of the test arm 50.
Is in communication with The gas holding space 56 is provided on both sides of the test electrode 80 with a width wider than the gas passage groove 55.
A gas holding space 56 from a gas chamber 54 through a gas passage groove 55
After the gas supplied to the test arm 50 fills the gas holding space 56, the gas passes through a gap between the lower end of the test arm 50 and the surface of the dielectric layer 26 of the electrode panel 20, and is discharged from both sides of the test arm 50. Is released to the outside.

【0040】その結果、試験電極80の下端とその周囲
の一定範囲については、放電用ガス雰囲気で覆われるこ
とになり、試験電極80と電極パネル20の放電電極2
4とを、PDPにおけるセル空間と同様の放電雰囲気に
維持することができる。試験電極80と放電電極24と
は、配線により電源84に連結される。試験電極80
は、試験腕50や昇降柱62を経て試験機本体30に備
える電源84に配線接続されている。電源84は、交流
0〜24kV程度の範囲で電圧を印加する。
As a result, the lower end of the test electrode 80 and a certain range around the lower end of the test electrode 80 are covered with the discharge gas atmosphere, and the test electrode 80 and the discharge electrode 2 of the electrode panel 20 are covered.
4 can be maintained in the same discharge atmosphere as the cell space in the PDP. The test electrode 80 and the discharge electrode 24 are connected to a power supply 84 by wiring. Test electrode 80
Is connected to a power supply 84 provided in the tester main body 30 via a test arm 50 and a lifting column 62 by wiring. The power supply 84 applies a voltage in a range of about 0 to 24 kV AC.

【0041】電圧印加部 図3に示すように、電極パネル20の放電電極24に連
結された接続部25は、支持台32の側方に配置された
電圧印加部40を介して前記電源84に接続される。電
圧印加部40は、接続部25の上面に当接し、概略√形
に屈曲された銅などの導体材料からなる接触片42を有
する。接触片42は図示しない配線を経て前記電源84
に接続されている。
As shown in the voltage applying unit 3, the connecting portion 25 connected to the discharge electrode 24 of the electrode panel 20, the power supply 84 via the voltage applying unit 40 disposed on the side of the support 32 Connected. The voltage applying unit 40 has a contact piece 42 made of a conductive material such as copper, which is in contact with the upper surface of the connection unit 25 and bent in a substantially √ shape. The contact piece 42 is connected to the power source 84 via a wiring (not shown).
It is connected to the.

【0042】接触片42は、断面円形の加圧ゴム41を
介してシーソー板44に支持されている。シーソー板4
4は、中央の支持軸43を中心にして前後の両端が上下
反対方向に旋回運動を行う。シーソー板44の後端下面
には、水平方向に進退するアクチュエータ45の作動部
材49が当接している。作動部材49は自由回転するロ
ーラからなる。作動部材49が前進するとシーソー板4
4を上方に押し上げて旋回させる。シーソー板44が旋
回すると、加圧ゴム41および接触片42が下方に移動
するので、接触片42を電極パネル20の接続部25に
圧接することになる。その結果、接触片42と接続部2
5との良好な電気接続が達成される。
The contact piece 42 is supported by a seesaw plate 44 via a pressure rubber 41 having a circular cross section. Seesaw board 4
Reference numeral 4 indicates that the front and rear ends of the center support shaft 43 rotate in opposite directions. An operating member 49 of an actuator 45 that moves in a horizontal direction is in contact with the lower surface of the rear end of the seesaw plate 44. The operating member 49 includes a freely rotating roller. When the operating member 49 moves forward, the seesaw plate 4
4 is pushed upward and turned. When the seesaw plate 44 turns, the pressure rubber 41 and the contact piece 42 move downward, so that the contact piece 42 is pressed against the connection portion 25 of the electrode panel 20. As a result, the contact piece 42 and the connecting portion 2
Good electrical connection with 5 is achieved.

【0043】アクチュエータ45およびシーソー板44
の全体を支持する摺動台46が、試験機本体30に固定
されたアクチュエータ47に進退自在に取り付けられて
いる。アクチュエータ47を作動させて、摺動台46を
進退させると、接触片42が電極パネル20の接続部2
5の上方に配置したり、接触片42を電極パネル20の
外側へと退かせたりすることができる。電極パネル20
の取り付けおよび取り外しを行う際には、摺動台46は
電極パネル20から離れた後退位置に配置してき、電極
パネル20に電圧印加する際には、摺動台46を電極パ
ネル20に近づける。
Actuator 45 and seesaw plate 44
Is mounted on an actuator 47 fixed to the tester main body 30 so as to be able to advance and retreat. When the actuator 47 is operated to move the slide base 46 forward and backward, the contact piece 42 is connected to the connecting portion 2 of the electrode panel 20.
5 or the contact piece 42 can be retracted to the outside of the electrode panel 20. Electrode panel 20
The slide table 46 is arranged at a retracted position away from the electrode panel 20 when attaching and detaching the. The slide table 46 is brought close to the electrode panel 20 when applying a voltage to the electrode panel 20.

【0044】なお、接触片42は、図7に示す電極パネ
ル20の平面形状において、各接続部25毎に別々の接
触片42が当接するようになっていてもよいし、隣接し
て配置された各群の接続部25…を一括して一つの接触
片42で接触させてもよい。左右の接続部25、25に
は、それぞれの側に配置された電圧印加部40の接触片
42が接触することになる。
In the plan view of the electrode panel 20 shown in FIG. 7, the contact pieces 42 may be configured such that separate contact pieces 42 are in contact with each connection portion 25, or are arranged adjacent to each other. The connecting portions 25 of each group may be brought into contact with one contact piece 42 at a time. The contact pieces 42 of the voltage application unit 40 disposed on the respective sides come into contact with the left and right connection units 25, 25.

【0045】試験動作 まず、電極パネル20を試験機本体30の支持台32に
載せる。試験腕50を電極パネル20の上方に配置し、
電極パネル20の接続部25に電圧印加部40の接触片
42を当接させる。図2に示すように、試験電極80が
電極パネル20の誘電体層26よりも少し上方に配置さ
れた状態で、試験腕50のガス保持空間56に放電用ガ
スを吹き出させる。試験電極80と誘電体層26との間
隙は1mm前後である。この状態で、試験電極80と放電
電極24との間に、所定の試験電圧を印加する。
Test Operation First, the electrode panel 20 is placed on the support 32 of the tester main body 30. Placing the test arm 50 above the electrode panel 20;
The contact piece 42 of the voltage application section 40 is brought into contact with the connection section 25 of the electrode panel 20. As shown in FIG. 2, in a state where the test electrode 80 is disposed slightly above the dielectric layer 26 of the electrode panel 20, the discharge gas is blown into the gas holding space 56 of the test arm 50. The gap between the test electrode 80 and the dielectric layer 26 is about 1 mm. In this state, a predetermined test voltage is applied between the test electrode 80 and the discharge electrode 24.

【0046】試験電極80と放電電極24の間には一定
の弱い放電が生じるが、誘電体層26に孔があいていた
り薄くなっていたりすると、その部分で試験電極80と
基板放電電極24との間に集中放電が起こる。試験電極
80と放電電極24との間に集中放電に伴う局部的な発
光現象も生じる。全体が透明な試験腕50を透して、上
方から発光を目視することが可能である。また、集中放
電が生じると、電源回路における電圧値や電流値に変動
が生じるので、この電圧や電流の変動を検知すること
で、誘電体層26の不良発生を知ることもできる。
Although a certain weak discharge is generated between the test electrode 80 and the discharge electrode 24, if the dielectric layer 26 has a hole or becomes thin, the test electrode 80 and the substrate discharge electrode 24 may be connected at that portion. During this period, concentrated discharge occurs. A local light-emitting phenomenon occurs due to the concentrated discharge between the test electrode 80 and the discharge electrode 24. Light emission can be visually observed from above through the test arm 50, which is entirely transparent. Further, when the concentrated discharge occurs, the voltage value and the current value in the power supply circuit fluctuate. By detecting the fluctuation of the voltage and the current, it is possible to know the occurrence of a defect in the dielectric layer 26.

【0047】試験腕50を、電極パネル20の表面全体
を走査するように平行移動させながら、前記した電圧の
印加を行えば、電極パネル20の全体について誘電体層
26の耐圧試験を行うことができる。放電の発生によっ
て誘電体層26の不良が検知された位置を電子的に記憶
させたり記録させたりしておけば、試験後に、不良位置
に誘電体の補修塗工などの補修作業を行うことができ
る。
If the above-described voltage is applied while the test arm 50 is moved in parallel so as to scan the entire surface of the electrode panel 20, the withstand voltage test of the dielectric layer 26 can be performed on the entire electrode panel 20. it can. If the position where the failure of the dielectric layer 26 is detected due to the occurrence of the discharge is electronically stored or recorded, repair work such as repair coating of the dielectric may be performed on the defective position after the test. it can.

【0048】不良位置の記録は、前記した目視により発
光の生じた位置に手作業でマーキングを施すことでも行
える。このマーキングを機械的あるいは自動的に行わせ
ることもできる。電極パネル20の長手辺に沿って配置
されたスケール34の目盛りを読み取って記録すること
もできる。また、前記した電圧や電流の局部的な変動
と、そのときの試験腕50の移動位置とを、試験機本体
30の制御コンピュータなどに記憶させておけば、電極
パネル20の長手辺に沿った方向における不良位置を電
子データとして取得し、補修工程で利用することができ
る。
The recording of the defective position can also be carried out by manually marking the position where the light emission occurs visually as described above. This marking can be performed mechanically or automatically. The scale of the scale 34 arranged along the longitudinal side of the electrode panel 20 can be read and recorded. If the above-described local fluctuations of the voltage and current and the moving position of the test arm 50 at that time are stored in a control computer of the tester main body 30 or the like, along the longitudinal side of the electrode panel 20. The position of the defect in the direction can be obtained as electronic data and used in the repair process.

【0049】さらに、電極パネル20の短手辺に沿って
平行配置された各放電電極24に対して、一端側から他
端側へと順番に電圧を印加し、前記不良現象が発生した
ときに電圧を印加していた放電電極24の位置データ
と、そのときの試験腕50の位置データとを組み合わせ
れば、電極パネル20の長手辺および短手辺の両方に沿
った座標位置が求められ、不良位置の座標を特定するこ
とも可能である。
Further, a voltage is applied to each of the discharge electrodes 24 arranged in parallel along the short side of the electrode panel 20 from one end side to the other end side. If the position data of the discharge electrode 24 to which the voltage is applied and the position data of the test arm 50 at that time are combined, the coordinate position along both the long side and the short side of the electrode panel 20 is obtained, It is also possible to specify the coordinates of the defective position.

【0050】後述する実施形態で用いる絶縁片120を
不良位置に貼り付けて目印にしておくこともできる。 〔第2の実施形態〕図4および図5には、面状の試験電
極を用いる試験装置を示している。装置構造 全体が矩形をなすパネル載置台100の上面には、全面
にわたってCr金属層からなる試験電極102が配置さ
れている。試験電極102は電源84に接続されてい
る。
An insulating piece 120 used in an embodiment to be described later can be attached to a defective position to make a mark. Second Embodiment FIGS. 4 and 5 show a test apparatus using a planar test electrode. A test electrode 102 made of a Cr metal layer is arranged on the entire surface of the panel mounting table 100 having a rectangular device structure . The test electrode 102 is connected to a power supply 84.

【0051】試験電極102の上には、パネル載置台1
00の外周辺に沿って、ビニールテープなどの絶縁材料
からなる帯状の間隙形成枠116が配置されている。間
隙形成枠116よりも内側のパネル載置台100表面に
は、ガス吹出口115が配置され、ガス吹出口115は
ガス配管114を経て放電用ガス供給源に接続されてい
る。
On the test electrode 102, the panel mounting table 1
Along the outer periphery of 00, a band-shaped gap forming frame 116 made of an insulating material such as a vinyl tape is arranged. A gas outlet 115 is disposed on the surface of the panel mounting table 100 inside the gap forming frame 116, and the gas outlet 115 is connected to a discharge gas supply source via a gas pipe 114.

【0052】パネル載置台100の長手辺の側面には、
上方に突出する位置決め片118、118が立設されて
いる。電極パネル20が、パネル載置台100の上に装
着される。電極パネル20の一側辺を位置決め片11
8、118に当接させた状態で、パネル載置台100の
上に重ね合わせるようにすれば、電極パネル20の外周
辺が丁度、間隙形成枠116の上に載るように位置決め
される。
On the side of the long side of the panel mounting table 100,
Positioning pieces 118, 118 protruding upward are provided upright. The electrode panel 20 is mounted on the panel mounting table 100. Position one side of electrode panel 20 with positioning piece 11
If the electrode panel 20 is superimposed on the panel mounting table 100 in a state where the electrode panel 20 is brought into contact with 8, 118, the outer periphery of the electrode panel 20 is positioned just above the gap forming frame 116.

【0053】図5に示すように、電極パネル20の誘電
体層26とパネル載置台100の試験電極102との間
には、1mm前後の隙間があく。電極パネル20とパネル
載置台100との間には外周を間隙形成枠116で囲ま
れた空間が生じる。この空間にガス吹出口115から放
電用ガスを吹き出して充満させる。電極パネル20と間
隙形成枠116との間の気密性を高めるには、両者を挟
み付けたり互いに押圧したりする機構を備えておくこと
ができる。
As shown in FIG. 5, there is a gap of about 1 mm between the dielectric layer 26 of the electrode panel 20 and the test electrode 102 of the panel mounting table 100. A space is created between the electrode panel 20 and the panel mounting table 100, the outer periphery of which is surrounded by the gap forming frame 116. The discharge gas is blown from the gas outlet 115 into this space to fill it. In order to increase the airtightness between the electrode panel 20 and the gap forming frame 116, a mechanism for sandwiching the two or pressing them together can be provided.

【0054】なお、図5において、図中右側の放電電極
24および誘電体層26が挟まれている個所と、図中左
側の放電電極24および誘電体層26がない個所では、
間隙形成枠116の厚みが大きく違っている。これは、
各部の構造を判りやすく表示するための表現であり、実
際の試験装置では、間隙形成枠116の厚みに比べて放
電電極24および誘電体層26の厚みは極めて薄く、間
隙形成枠116の材料自体は枠全体で同じ厚みのものを
用いても構わない。通常は、間隙形成枠116の材料の
弾性変形によって、放電電極24および誘電体層26の
有無による厚みの違いを吸収することができる。
In FIG. 5, the portion where the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 on the right side in the figure are sandwiched and the portion where the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 on the left side in FIG.
The thickness of the gap forming frame 116 is greatly different. this is,
This is an expression for clearly displaying the structure of each part. In an actual test apparatus, the thickness of the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26 is extremely thin compared to the thickness of the gap forming frame 116, and the material of the gap forming frame 116 is May have the same thickness throughout the frame. Normally, the elastic deformation of the material of the gap forming frame 116 can absorb the difference in thickness due to the presence or absence of the discharge electrode 24 and the dielectric layer 26.

【0055】なお、図5の状態で、電極パネル20と間
隙形成枠116との間の空間に配置される放電電極24
あるいは放電電極24と接続部25とを結ぶ配線路は、
誘電体層26で全てが覆われているようにする。間隙形
成枠116で塞がれた部分や間隙形成枠116の外側に
出る部分においては、電極構造が誘電体層26で覆われ
ていなくても構わない。
In the state shown in FIG. 5, the discharge electrodes 24 arranged in the space between the electrode panel 20 and the gap forming frame 116 are arranged.
Alternatively, the wiring path connecting the discharge electrode 24 and the connection portion 25 is
The entire surface is covered with the dielectric layer 26. The electrode structure does not have to be covered with the dielectric layer 26 at the portion closed by the gap forming frame 116 or at the portion outside the gap forming frame 116.

【0056】電極パネル20の放電電極24に連結され
た接続部25には、着脱自在なクリップ状の接続端子1
08が接続される。この接続端子108は、電極パネル
20に配置された全ての放電電極24に対して同時に接
続される。電極端子108は配線を介して電源84に接
続される。電極パネル20のうち、接続端子108が取
り付けられた側とは反対側の側辺にはアース端子104
が設けられる。アース端子104にはアース線106が
接続され、アース線106は接地される。
The connection portion 25 connected to the discharge electrode 24 of the electrode panel 20 has a detachable clip-shaped connection terminal 1.
08 is connected. The connection terminals 108 are simultaneously connected to all the discharge electrodes 24 arranged on the electrode panel 20. The electrode terminal 108 is connected to the power supply 84 via a wiring. A ground terminal 104 is provided on the side of the electrode panel 20 opposite to the side on which the connection terminal 108 is mounted.
Is provided. A ground wire 106 is connected to the ground terminal 104, and the ground wire 106 is grounded.

【0057】試験動作 パネル載置台100の上に電極パネル20を装着して、
両者の間隙に放電用ガスを充満させた状態で、電源84
から試験電極102と基板放電電極24との間に所定の
試験電圧を印加する。試験電圧は、±1000V程度の
範囲に設定される。
The electrode panel 20 is mounted on the test operation panel mounting table 100,
While the gap between the two is filled with the discharge gas, the power supply 84
Then, a predetermined test voltage is applied between the test electrode 102 and the substrate discharge electrode 24. The test voltage is set in a range of about ± 1000V.

【0058】放電用ガスが充満した空間で、放電電極2
4を覆う誘電体層26に孔xや厚みの薄い個所がある
と、基板放電電極24と試験電極102との間で集中放
電が生じ、その部分が発光する。透明な電極パネル20
の上方から目視すれば、発光位置すなわち不良の発生位
置を特定することができる。不良個所には、電極パネル
20をパネル載置台100から持ち上げて、電極パネル
20の下面になる誘電体層26の表面にポリイミドテー
プなどの絶縁材料からなる約4mm×4mm程度の小さな絶
縁片120を貼着する。
In the space filled with the discharge gas, the discharge electrode 2
If there is a hole x or a thin portion in the dielectric layer 26 covering the layer 4, concentrated discharge occurs between the substrate discharge electrode 24 and the test electrode 102, and the portion emits light. Transparent electrode panel 20
When viewed from above, the light emission position, that is, the position where a defect occurs can be specified. At the defective portion, the electrode panel 20 is lifted from the panel mounting table 100, and a small insulating piece 120 of about 4 mm × 4 mm made of an insulating material such as a polyimide tape is formed on the surface of the dielectric layer 26 serving as the lower surface of the electrode panel 20. Stick it.

【0059】絶縁片120が貼着された電極パネル20
を、前記同様にして再びパネル載置台100に装着し、
放電用ガスを供給したあと、所定の試験電圧を印加す
る。再び不良個所が出れば、前記同様の絶縁片120の
貼着を行う。このような工程を、不良個所が発生しなく
なるまで繰り返す。その結果、電極パネル20に有する
全ての不良個所を発見することができる。これは、最初
の電圧印加で発光する不良個所は、最も耐電圧性の低い
個所であり、この不良個所を絶縁片120で塞げば、次
の電圧印加では、その次に耐電圧性の低い個所が発光す
る。このような動作を繰り返すことで、耐電圧性の低い
不良個所が順番に見つけ出される。
Electrode panel 20 to which insulating piece 120 is adhered
Is mounted on the panel mounting table 100 again in the same manner as described above,
After supplying the discharge gas, a predetermined test voltage is applied. If a defective portion appears again, the same insulating piece 120 as described above is attached. Such a process is repeated until no defective portion is generated. As a result, all defective portions of the electrode panel 20 can be found. This is because the defective portion that emits light when the first voltage is applied is the portion with the lowest withstand voltage. If this defective portion is closed with the insulating piece 120, the next with the next voltage application, the portion with the next lowest withstand voltage is used. Emits light. By repeating such an operation, defective portions having low withstand voltage are sequentially found.

【0060】試験を終えた電極パネル20は、絶縁片1
20が貼着された個所に、絶縁片120を取り除いてか
ら誘電体材料を塗工するなどして補修作業を行えば、全
ての不良個所を補修して、必要な耐圧性能を備えた電極
パネル20を得ることができる。
After the test, the electrode panel 20 is placed on the insulating strip 1.
If the repair work is performed by removing the insulating piece 120 and applying a dielectric material to the place where the 20 is adhered, all the defective places are repaired, and the electrode panel having the required pressure resistance performance is repaired. 20 can be obtained.

【0061】[0061]

【発明の効果】本発明の電極パネルの耐圧試験方法およ
び装置は、電極パネルの放電電極を覆う誘電体層の表面
に放電用ガス雰囲気を形成して、試験電極と放電電極と
の間に電圧を印加するので、PDPを組み立てたときの
実際の使用状態に近い環境で耐圧試験を行うことができ
る。その結果、電極パネルの良否を正確かつ簡単に試験
することが可能になる。
According to the method and apparatus for testing the withstand voltage of an electrode panel of the present invention, a discharge gas atmosphere is formed on the surface of a dielectric layer covering a discharge electrode of the electrode panel, and a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode. Is applied, the withstand voltage test can be performed in an environment close to the actual use state when the PDP is assembled. As a result, the quality of the electrode panel can be accurately and easily tested.

【0062】前記した試験腕などを用い、放電用ガス雰
囲気の帯状領域と試験電極とを、電極パネルの表面に沿
って平行移動させながら、試験電極と放電電極との間に
電圧を印加すれば、電極パネルの全体を能率的にしかも
確実に試験することができる。しかも、電極パネルのう
ち試験電極と対面する一部のみに電流を流せばよいの
で、比較的に小さな電力しか消費されず、不良個所で集
中放電が生じたときに過大な電流が流れることもないの
で、放電電極などの電極パネルに放電破壊が起こり難
い。
When a voltage is applied between the test electrode and the discharge electrode while using the above-described test arm or the like while moving the band-shaped region of the discharge gas atmosphere and the test electrode in parallel along the surface of the electrode panel. In addition, the entire electrode panel can be efficiently and reliably tested. Moreover, since current only needs to flow through a part of the electrode panel facing the test electrode, relatively little power is consumed, and no excessive current flows when concentrated discharge occurs at a defective portion. Therefore, discharge breakdown is unlikely to occur in an electrode panel such as a discharge electrode.

【0063】電極パネルの試験領域の全体に放電用ガス
雰囲気を形成して面状の試験電極で電圧を印加すれば、
最も耐圧性能の弱い不良個所が迅速に発見できる。発見
した不良個所に絶縁片を貼着して、同様の試験を繰り返
せば、耐圧性能の弱い不良個所を順番に見つけることが
できる。試験電極等に複雑な動作を必要としないので、
簡単な装置で容易に試験が行える。
If a discharge gas atmosphere is formed over the entire test area of the electrode panel and a voltage is applied with a planar test electrode,
The defective part with the weakest pressure resistance can be found quickly. If the same test is repeated by attaching an insulating piece to the found defective part, defective parts with weak pressure resistance can be found in order. Since complicated operation is not required for test electrodes, etc.,
Testing can be performed easily with a simple device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態を表す試験装置の全体斜視図FIG. 1 is an overall perspective view of a test apparatus representing an embodiment of the present invention.

【図2】走査バーの詳細構造を示す断面図FIG. 2 is a sectional view showing a detailed structure of a scanning bar.

【図3】基板の電極への電圧印加機構を示す一部断面側
面図
FIG. 3 is a partial cross-sectional side view showing a mechanism for applying a voltage to an electrode of a substrate.

【図4】別の実施形態を表す試験装置の全体斜視図FIG. 4 is an overall perspective view of a test apparatus showing another embodiment.

【図5】要部拡大断面図FIG. 5 is an enlarged sectional view of a main part.

【図6】PDPの構造を説明する断面図FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating the structure of a PDP.

【図7】基板の電極配置を示す平面図FIG. 7 is a plan view showing the arrangement of electrodes on a substrate.

【図8】基板の断面図FIG. 8 is a sectional view of a substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 電極パネル(前面パネル) 22 基板 24 放電電極 25 接続部 26 誘電体層 30 試験機本体 40 電圧印加部 50 試験腕 54 ガス室 55 ガス通過溝 56 ガス保持空間 80 試験電極 84 電源 DESCRIPTION OF SYMBOLS 20 Electrode panel (front panel) 22 Substrate 24 Discharge electrode 25 Connection part 26 Dielectric layer 30 Tester main body 40 Voltage application part 50 Test arm 54 Gas chamber 55 Gas passage groove 56 Gas holding space 80 Test electrode 84 Power supply

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の表面に多数の放電電極が配置され
放電電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネル
に対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する方法であっ
て、 前記電極パネルの誘電体層表面に放電用ガス雰囲気を形
成する工程(a) と、 前記放電用ガス雰囲気を介し前記誘電体層との間に間隙
をあけて試験電極を配置する工程(b) と、 前記試験電極と前記電極パネルの放電電極との間に電圧
を印加する工程(c) とを含む電極パネルの耐圧試験方
法。
1. A method for testing the withstand voltage performance of a dielectric layer on an electrode panel in which a large number of discharge electrodes are arranged on a surface of a substrate and a dielectric layer is arranged so as to cover the discharge electrodes, (A) forming a discharge gas atmosphere on the surface of the dielectric layer of the electrode panel; and (b) arranging a test electrode with a gap between the dielectric layer and the discharge gas atmosphere. And (c) applying a voltage between the test electrode and the discharge electrode of the electrode panel.
【請求項2】 前記放電用ガス雰囲気を形成する工程
(a) が、前記電極パネルを横断する帯状の領域に放電用
ガス雰囲気を形成し、 前記試験電極を配置する工程(b) が、前記放電用ガス雰
囲気の帯状領域に沿って試験電極を配置し、 前記電圧を印加する工程(c) が、前記放電用ガス雰囲気
の帯状領域および前記試験電極を、前記電極パネルの表
面に沿って平行移動させながら、試験電極と前記放電電
極との間に電圧を印加する請求項1に記載の電極パネル
の耐圧試験方法。
2. The step of forming a gas atmosphere for discharge.
(a) forms a discharge gas atmosphere in a band-shaped region crossing the electrode panel, and (b) arranges the test electrode along the band-shaped region of the discharge gas atmosphere. The step (c) of applying the voltage includes moving the band-shaped region of the discharge gas atmosphere and the test electrode in parallel along the surface of the electrode panel, between the test electrode and the discharge electrode. The method for testing a withstand voltage of an electrode panel according to claim 1, wherein a voltage is applied.
【請求項3】 前記放電用ガス雰囲気を形成する工程
(a) が、前記電極パネルの試験領域全面を覆う放電用ガ
ス雰囲気を形成し、 前記試験電極を配置する工程(b) が、前記電極パネルの
試験領域全面と対面する面状の試験電極を配置し, 前記電圧を印加する工程(c) が、前記面状の試験電極と
前記電極パネルの放電電極との間に電圧を印加し、 さらに、前記電圧の印加により前記誘電体層の不良個所
が発見されれば、前記不良個所に絶縁片を貼着してか
ら、前記電圧を印加する工程(c) を繰り返す工程(d) を
備える請求項1に記載の電極パネルの耐圧試験方法。
3. A step of forming a gas atmosphere for discharge.
(a) forms a discharge gas atmosphere covering the entire test area of the electrode panel, and (b) disposes the test electrode.The step (b) includes forming a planar test electrode facing the entire test area of the electrode panel. Arranging and applying the voltage (c) includes applying a voltage between the planar test electrode and the discharge electrode of the electrode panel, and further applying a voltage to the defective portion of the dielectric layer. 2. The method according to claim 1, further comprising the step of: (d) repeating the step (c) of applying the voltage after sticking an insulating piece to the defective portion if found.
【請求項4】 基板の表面に多数の放電電極が配置され
放電電極を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネル
に対して、誘電体層の耐電圧性能を試験する装置であっ
て、 前記電極パネルを保持するパネル保持手段と、 前記電極パネルとの間に間隙をあけ電極パネルを横断し
て配置され、電極パネルの表面に沿って平行移動する試
験腕と、 前記試験腕の軸方向に沿って配置され、前記電極パネル
との間隙に放電用ガスを吹き出すガス吹出手段と、 前記ガス吹出手段による放電用ガスの吹き出し雰囲気中
に前記試験腕の軸方向に沿って配置される試験電極と、 前記電極パネルの放電電極と前記試験電極との間に電圧
を印加する電圧印加手段とを備える電極パネルの耐圧試
験装置。
4. An apparatus for testing the withstand voltage performance of a dielectric layer on an electrode panel in which a large number of discharge electrodes are arranged on a surface of a substrate and a dielectric layer is arranged so as to cover the discharge electrodes, A panel holding means for holding the electrode panel, a test arm disposed transversely to the electrode panel with a gap between the electrode panel and a translation arm parallel to the surface of the electrode panel, and an axial direction of the test arm. Gas blowing means for blowing discharge gas into a gap with the electrode panel, and a test electrode disposed along the axial direction of the test arm in an atmosphere of discharge gas blown by the gas blowing means. And a voltage applying means for applying a voltage between a discharge electrode of the electrode panel and the test electrode.
【請求項5】 前記放電電極が、基板の周辺に沿って前
記誘電体層から露出して配置された接続部を有し、 前記電圧印加手段が、前記電極パネルの電極の接続部に
当接され電圧が印加される接触片と、前記接触片を支持
し、接触片を前記電極パネルの外側から前記接続部の上
方位置へと進退させる進退機構と、前記接触片を前記接
続部に圧接する圧接機構とを有する請求項4に記載の電
極パネルの耐圧試験装置。
5. The discharge electrode has a connection portion exposed along the periphery of the substrate from the dielectric layer, and the voltage applying means contacts the connection portion of the electrode of the electrode panel. A contact piece to which a voltage is applied, an advancing / retracting mechanism for supporting the contact piece, and advancing / retreating the contact piece from the outside of the electrode panel to a position above the connection portion, and pressing the contact piece against the connection portion The pressure test apparatus for an electrode panel according to claim 4, further comprising a pressure contact mechanism.
【請求項6】 基板の表面に多数の電極が配置され電極
を覆って誘電体層が配置されてなる電極パネルに対し
て、誘電体層の耐電圧性能を試験する装置であって、 前記電極パネルが、前記誘電体層を有する面を向けて装
着されるパネル載置台と、 前記パネル載置台に配置され、前記電極パネルの外周辺
に沿って当接して電極パネルの表面とパネル載置台の表
面との間に間隙を維持する間隙形成枠と、 前記間隙形成枠の内側で前記パネル載置台の表面に開口
し、放電用ガスを吹き出すガス吹出口と、 前記電極パネルの表面に対面して前記パネル載置台に配
置される面状の試験電極と、 前記電極パネルの電極と前記試験電極との間に電圧を印
加する電圧印加手段とを備える電極パネルの耐圧試験装
置。
6. An apparatus for testing the withstand voltage performance of a dielectric layer on an electrode panel in which a large number of electrodes are arranged on a surface of a substrate and a dielectric layer is arranged so as to cover the electrodes. The panel is mounted on the panel mounting table with the surface having the dielectric layer facing the surface thereof. The panel mounting table is disposed on the panel mounting table, and is in contact with the outer periphery of the electrode panel along the outer periphery of the electrode panel. A gap forming frame that maintains a gap between the surface and the surface, a gas outlet that opens to the surface of the panel mounting table inside the gap forming frame and blows out a discharge gas, and faces the surface of the electrode panel. A withstand voltage test apparatus for an electrode panel, comprising: a planar test electrode disposed on the panel mounting table; and a voltage applying unit that applies a voltage between the electrode of the electrode panel and the test electrode.
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