JPH11274933A - Integrated circuit for supplying multiple output current - Google Patents

Integrated circuit for supplying multiple output current

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JPH11274933A
JPH11274933A JP10363449A JP36344998A JPH11274933A JP H11274933 A JPH11274933 A JP H11274933A JP 10363449 A JP10363449 A JP 10363449A JP 36344998 A JP36344998 A JP 36344998A JP H11274933 A JPH11274933 A JP H11274933A
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signal
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To control the current value to be supplied to each driven element by increasing or reducing it and to simplify the constitution or control of a microprocessor, etc., by making every switching means, corresponding one-on-one to every driven element into a current synthesizing circuit, i.e., a connection body, where N pieces of unit switching parts having almost equal current capacitance are connected in parallel to each other. SOLUTION: A data shift register part 14 consists of (m) pieces of D flip-flops 14-1 to 14-m. The binary serial data which are fetched via a data terminal 14b, every time a single pulse of a 1st clock signal is added to a 1st clock terminal 14a, are shifted, and the area equivalent to one printed line are converted into a parallel form from 9 serial form. A latch circuit array part 15 consists of latching circuits(LAT) 15-1 to 15-m of flip-flops and primarily holds the contents of each digit of the part 14 by the latch synchronizing signal that is inputted to a latch terminal 15a. Then the correction data shift register parts 16 are shifted one by one.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LEDプリンタヘ
ッド,サーマルヘッド等の各種プリンタやプラズマディ
スプレイ等の表示装置に適用される多出力電流供給用集
積回路に関し、詳しくは、ドット毎の濃度又は光量の補
正を可能とする多階調電流出力を多数ビット備えた多出
力電流供給用集積回路及びこれを使用可能とする駆動制
御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit for supplying multiple output currents applied to various printers such as LED printer heads and thermal heads, and display devices such as plasma displays. The present invention relates to a multi-output current supply integrated circuit having a number of bits of a multi-gradation current output that enables correction of the gray scale current, and a drive control device that can use the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のLEDプリンタ駆動回路は、図1
7に示すように、データ信号等を生成するコンピュータ
等のメインフレーム1と、そのデータ信号等に基づいて
LEDプリンタヘッド駆動用集積回路3及び補正コード
格納ROM4に対し各種信号の送受及び制御を実行する
マイクロプロセッサ5と、LEDプリンタヘッド駆動用
集積回路3の出力トランジスタアレイ部6の各電界効果
型トランジスタ(FET)に一対一に接続されたLED
(発光ダイオード)を多数ビット有するLEDアレイ集
積回路7とを有しており、LED毎の発光量のバラツキ
を補正する機能を持っている。
2. Description of the Related Art A conventional LED printer driving circuit is shown in FIG.
As shown in FIG. 7, transmission and reception of various signals to and from the main frame 1 such as a computer that generates data signals and the like, and the LED printer head driving integrated circuit 3 and the correction code storage ROM 4 are executed based on the data signals and the like. Connected to the microprocessor 5 and the field effect transistors (FETs) of the output transistor array unit 6 of the LED printer head driving integrated circuit 3 in a one-to-one correspondence.
(Light emitting diode) and a LED array integrated circuit 7 having a large number of bits, and has a function of correcting variations in the amount of light emission of each LED.

【0003】メインフレーム1からマイクロプロセッサ
5へ1ライン印字分のデータ信号が送出されると、マイ
クロプロセッサ5は補正コード格納ROM4に対し制御
信号を送出し、ROM4内の参照データたる補正コード
データを取り込み、上記1ライン印字分のデータに対し
各ビット毎に補正処理を施した補正データ信号をLED
プリンタヘッド駆動用集積回路3のシフトレジスタ部8
の最下位桁フリップ・フロップ(F/F)に対し供給す
る。ここで、その補正制御はある1つのLED(1ドッ
トに対応する)についての印字を時分割の3ビットでシ
ーケンシャルに完了するように、1ライン印字分のデー
タを3ラッチサイクルに亘る補正データ信号に順次変換
するものである。
When a data signal for one line printing is transmitted from the main frame 1 to the microprocessor 5, the microprocessor 5 transmits a control signal to the correction code storage ROM 4 and transmits the correction code data as reference data in the ROM 4. The correction data signal obtained by taking in and correcting the data for the one-line printing for each bit is indicated by an LED.
Shift register section 8 of integrated circuit 3 for driving printer head
For the least significant digit flip-flop (F / F). Here, the correction control is performed by correcting data for one line printing over three latch cycles so that printing on one LED (corresponding to one dot) is sequentially completed in three bits in a time-division manner. Are sequentially converted to.

【0004】例えば、今、図17示のLEDアレイ集積
回路7の中で左端のLEDの発光強度が他のLEDに比
して最低値であるとすると、その発光時間の補正制御は
次のようにして行われる。補正コード格納ROM4の中
の左端LEDに対応するアドレスには例えば値7に相当
する補正コードが予め記憶されている。メインフレーム
1から左端LEDに対しオンすべきデータを含む1ライ
ンデータがマイクロプロセッサ5に入力されると、マイ
クロプロセッサ5は制御信号を補正コード格納ROM4
に対し発し、左端LEDの補正コードを値7として含む
1ライン分の補正コードデータ信号を取り込み、補正デ
ータ信号として直列3ビットのディジタル信号をラッチ
信号に呼応してシフトレジスタ8へ送出する。ここで
今、l行目の印字過程について図18に基づき説明する
と、l行目のデータ信号は第1〜第3番目の補正データ
信号l1〜l3にブロック的に変換される。まずクロック
信号に同期して第1番目の補正データ信号l1がシフトレ
ジスタ部8にすべて記憶されると、マイクロプロセッサ
5からのラッチ信号L1に同期して第1番目の補正デー
タ信号l1がラッチアレイ部9に取り込まれる。ここ
で、第1番目の補正データ信号l1のうち左端LEDに
対応するビットがHレベル(能動制御レベル)にあるか
ら、そのラッチ信号Llによって左端のラッチ回路(L
AT)がHレベルに維持される。この最初のラッチ信号
lの送出と共に、マイクロプロセッサ5は出力制御回
路部10に対してパルス幅4tのイネーブル信号を送出
する。出力制御回路部10はANDゲート及び電圧レベ
ルシフト回路(図17中では単にANDとして示す)の
アレイで構成されておりパルス幅4tのイネーブル信号
の送出期間における左端ANDゲートはトランジスタア
レイ部6の左端電界効果型トランジスタ(FET)に対
しオン制御信号を送出し続ける。このオン制御信号によ
って左端FETが閉成し、電源VSSから左端LEDに対
し駆動電流が供給される。これにより左端LEDが時間
4tに亘り発光する。このパルス幅4tのイネーブル信
号の送出期間においては、第2番目の補正データ信号l
2がシフトレジスタ部8へ既に送出されており、そして
次のラッチ信号L2に同期して補正データ信号l2がラッ
チ回路(LAT)に取り込まれる。この際、左端ラッチ
回路(LAT)は、補正データ信号l2のうち左端LE
Dに対応するビットがHレベルにあるため、やはりHレ
ベル状態に維持される。ラッチ信号L2の送出と共に、
パルス幅2tのイネーブル信号が出力制御回路部10に
送出される。このイネーブル信号によって左端FETが
オンとなり、左端LEDが時間2tに亘り発光する。更
にまたパルス幅2tのイネーブル信号の送出期間におい
ては、第3番目の補正データ信号l3がシフトレジスタ
部8へ既に送出されており、ラッチ信号L3によって補
正データ信号l3がラッチ回路に取り込まれる。この
際、左端ラッチ回路(LAT)はやはりHレベル状態の
ままとされる。次に第3のラッチ信号L3の送出と共
に、パルス幅tのイネーブル信号が出力制御回路10に
送出される。これにより左端FETがオンとなり、そし
て左端LEDが時間tに亘り発光する。
For example, assuming that the light emission intensity of the leftmost LED in the LED array integrated circuit 7 shown in FIG. 17 is the lowest value as compared with the other LEDs, the correction control of the light emission time is as follows. It is done. At the address corresponding to the leftmost LED in the correction code storage ROM 4, for example, a correction code corresponding to the value 7 is stored in advance. When one-line data including data to be turned on from the main frame 1 to the left end LED is input to the microprocessor 5, the microprocessor 5 stores the control signal in the correction code storage ROM 4.
And a correction code data signal for one line including the correction code of the left end LED as a value 7 is taken in, and a serial 3-bit digital signal is sent to the shift register 8 as a correction data signal in response to the latch signal. Here, the printing process of the first line will be described with reference to FIG. 18. The data signal of the first line is converted into first to third correction data signals l 1 to l 3 in a block manner. First, when the first correction data signals l 1 in synchronization with the clock signal are all stored in the shift register unit 8, of the first synchronization with the latch signal L 1 from the microprocessor 5 correction data signals l 1 Is taken into the latch array unit 9. Here, since bits corresponding to the first left LED of the correction data signals l 1 is at the H level (active control level), the left end of the latch circuits by the latch signal L l (L
AT) is maintained at the H level. With delivery of the first latch signal L l, the microprocessor 5 sends an enable signal having a pulse width 4t to the output control circuit section 10. The output control circuit section 10 is composed of an array of an AND gate and a voltage level shift circuit (shown simply as AND in FIG. 17). The left end AND gate in the transmission period of the enable signal having a pulse width of 4t is the left end of the transistor array section 6. The ON control signal is continuously transmitted to the field effect transistor (FET). The left FET by the ON control signal is closed, the driving current is supplied from the power supply V SS to the left end LED. Thereby, the left end LED emits light for a time 4t. During the transmission period of the enable signal having the pulse width of 4t, the second correction data signal l
2 has already been sent to the shift register unit 8, and the correction data signal l 2 in synchronization with the next latch signal L 2 is taken into the latch circuit (LAT). At this time, the left end latch circuit (LAT) is the left end LE of the correction data signal l 2
Since the bit corresponding to D is at the H level, the bit is also maintained at the H level. With delivery of the latch signal L 2,
An enable signal having a pulse width of 2t is sent to the output control circuit unit 10. This enable signal turns on the left end FET, and the left end LED emits light for a time 2t. In yet also sending period of the enable signal having a pulse width 2t, third correction data signals l 3 has already been sent to the shift register unit 8, the latch signal L 3 is corrected data signal l 3 taken into the latch circuit It is. At this time, the left end latch circuit (LAT) is also kept at the H level. Next, along with the transmission of the third latch signal L 3 , an enable signal having a pulse width t is transmitted to the output control circuit 10. This turns on the leftmost FET and causes the leftmost LED to emit light for a time t.

【0005】このように、イネーブル信号はパルス幅4
t,2t及びtの3連パルスで形成されており、夫々の
パルスがラッチ信号に同期して出力制御回路部10へ送
出される。また、データ信号は上記3連続のパルスに合
致すべく3連続の補正データ信号ll,l2,l3に内部
的に変換される。上記の例では、左端LEDは間欠的に
総発光時間7t(=4t+2t+t)にあずかるが、補
正コード格納ROM4内に格納された補正コードデータ
によって生成される補正データ信号l1,l2,l3の如
何により、1ライン印字においては各LEDの総発光時
間が7段階となる。
As described above, the enable signal has a pulse width of 4
The pulse is formed of triple pulses of t, 2t, and t, and each pulse is transmitted to the output control circuit unit 10 in synchronization with the latch signal. The data signal is internally converted into three consecutive correction data signals l l , l 2 and l 3 so as to match the three consecutive pulses. In the above example, the left end LED intermittently participates in the total light emission time 7t (= 4t + 2t + t), but the correction data signals l 1 , l 2 , l 3 generated by the correction code data stored in the correction code storage ROM 4. Therefore, in one-line printing, the total light emission time of each LED becomes seven stages.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記のLEDプリンタ
ヘッド駆動用集積回路はLED毎の発光強度のバラツキ
や出カトランジスタアレイ部自体のFET毎の電流容量
(オン抵抗)のバラツキにより発生する印字むら(光量
むら又は濃度むら)を解消するため、LED毎の発光時
間を長短制御することにより総発光量を標準量へ補正す
るものである。即ち、3ラッチ・サイクルを以ってFE
Tのオン時間が7段階に調整されるが、1ライン印字に
おいては3ラッチ・サイクルの印字期間を必要とする。
ラッチ・サイクルを短くすると、クロックサイクルの短
縮化を余儀なくされるが、これには限界がある。1ライ
ン印字のビット数を多くし、しかも短時間印字を図るた
めには、上記パルス幅制御の時間補正によっては対応が
はなはだ困難となる。また、イネーブル信号の異なるパ
ルス幅毎に対応するように、1ライン印字においてその
都度3つの連続した補正データ信号を内部的に作成する
必要があり、マイクロプロセッサ5のプログラム又は制
御には複雑さが伴っていた。
The above-described integrated circuit for driving a LED printer head has uneven printing caused by variations in light emission intensity of each LED and variations in current capacity (ON resistance) of each FET in the output transistor array unit itself. In order to eliminate (light amount unevenness or density unevenness), the total light emission amount is corrected to a standard amount by controlling the light emission time of each LED for a longer or shorter time. That is, FE takes three latch cycles.
The ON time of T is adjusted in seven steps, but one-line printing requires a printing period of three latch cycles.
Shorter latch cycles require shorter clock cycles, but have limitations. In order to increase the number of bits for one-line printing and to print in a short time, it is extremely difficult to cope with the above-described pulse width control time correction. Further, it is necessary to internally generate three consecutive correction data signals each time one line is printed so as to correspond to different pulse widths of the enable signal. Was accompanied.

【0007】そこで、本発明は上記問題点を解決するも
のであり、その課題は、LED等の被駆動素子の出力強
度のバラツキを出力時間の長短調整で均等化するのでは
なく、各被駆動素子の出力時間をすべて一定としながら
も、直接的に各被駆動素子の出力強度自体を調整すべく
各素子毎に供給すべき電流値を増減的に可変制御するこ
とにより、1ライン印字又は表示の短時間化と共に、併
せてマイクロプロセッサ等の構成又は制御の簡単化を実
現する新規な多出力電流供給用集積回路及びそれを用い
た多数の素子の駆動制御装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and an object of the present invention is not to equalize variations in the output intensity of a driven element such as an LED by adjusting the length of output time, but to make each driven One-line printing or display by controlling the current value to be supplied to each element to increase or decrease the output intensity of each driven element directly, while keeping the output time of each element constant Another object of the present invention is to provide a novel multi-output current supply integrated circuit that realizes a simplified configuration or control of a microprocessor or the like in addition to a reduction in the time required for the operation, and a drive control device for a large number of elements using the same.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、LED等の各被駆動素子に対し電源からの電流供給
を継断すべきスイッチング手段を多数備えたLEDプリ
ンタヘッド駆動用集積回路等の多出力電流供給用集積回
路において、本発明の講じた手段は、被駆動素子に一対
一に対応したるスイッチング手段を、互いにほぼ同等の
電流容量を有するN個の単位スイッチング部の並列接続
体としての電流合成回路とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problem, an integrated circuit for driving an LED printer head having a large number of switching means for interrupting current supply from a power supply to each driven element such as an LED. In the multi-output current supply integrated circuit according to the present invention, the means taken by the present invention is a switching means corresponding to the driven element in a one-to-one correspondence, wherein a parallel connection of N unit switching parts having substantially the same current capacity as each other. As a current synthesis circuit.

【0009】そして、N個の単位スイッチング部をn個
の群に分け、第i群に属する単位スイッチング部の個数
を2i-1個とし、第i群に属するすべての単位スイッチ
ング部のスイッチング制御入力を共通としてこれをnビ
ット・ディジタル制御信号の第i桁目に対応接続させた
ものである。ここで、nはN以下の正数で、
The N unit switching units are divided into n groups, the number of unit switching units belonging to the i-th group is set to 2 i−1 , and the switching control of all the unit switching units belonging to the i-th group is performed. The common input is connected to the i-th digit of the n-bit digital control signal. Here, n is a positive number equal to or less than N,

【0010】[0010]

【数2】 (Equation 2)

【0011】の関係式が成立している。The following relational expression holds.

【0012】上記単位スイッチング部の構成例として
は、単一の電界効果型トランジスタ(FET)であって
も良く、また互いに隣接した複数個の電界効果型トラン
ジスタの並列接続体であっても良い。半導体集積回路と
して作り込まれるN個の単位スイッチング部のレイアウ
トは、単位スイッチング部が互いに同一形状で同一ピッ
チの平行移動配列構造とすることが望ましい。この平行
移動方向は電界効果型トランジスタのチャネル長方向又
はチャネル幅方向とすることができる。
The configuration example of the unit switching section may be a single field-effect transistor (FET) or a parallel connection of a plurality of adjacent field-effect transistors. It is desirable that the layout of the N unit switching units formed as the semiconductor integrated circuit has a parallel displacement array structure in which the unit switching units have the same shape and the same pitch. This parallel movement direction can be the channel length direction or channel width direction of the field effect transistor.

【0013】上記多数のトランジスタの平行移動配列構
造ではウェハプロセスに起因したトランジスタ電流容量
(オン抵抗)のバラツキが不可避的に顕在するが、単位
スイッチング部とその群分類との対応関係を最適化する
ことにより、出力電流のいわゆるレベル落ちを防止する
ことが可能となる。その1つの方策としては、第1群に
属する単位トランジスタ部を平行移動配列構造の中心部
に位置させると共に、この第1群の単位スイッチング部
を対称軸とし、その対称軸から配列構造の両端側へ1つ
ずつ遠ざかる位置の単位スイッチング部が、 n→n−1→n→n−2→n→・・・→n→2→n→・
・・→n→n−2→n→n−1→n の如き順で左右対称の群パターンをとるように、nビッ
ト・ディジタル制御信号の各桁とを対応付ける。
In the above-mentioned parallel-translation array structure of a large number of transistors, variations in transistor current capacity (ON resistance) due to the wafer process are inevitably manifested, but the correspondence between unit switching units and their group classification is optimized. This makes it possible to prevent a so-called level drop of the output current. As one of the measures, the unit transistor units belonging to the first group are positioned at the center of the parallel displacement array structure, and the unit switching units of the first group are set as the axis of symmetry. The unit switching units at positions away from each other by n → n−1 → n → n−2 → n → ... → n → 2 → n →.
... → n → n−2 → n → n−1 → n Correspond with each digit of the n-bit digital control signal so as to take a symmetrical group pattern in the following order.

【0014】一方、単位スイッチング部の別の構成例と
しては、左右対称に位置する2個以上の電界効果型トラ
ンジスタの並列接続回路とし、異なる群に属する単位ト
ランジスタ部の電界効果型トランジスタ同士を相隣接し
た分散的配列形式が採用される。
On the other hand, another example of the configuration of the unit switching section is a parallel connection circuit of two or more field-effect transistors positioned symmetrically, and the field-effect transistors of the unit transistor sections belonging to different groups are connected to each other. A contiguous distributed array format is employed.

【0015】かかる配列形式は各群がツリー状に枝分れ
した複数の電界効果型トランジスタを階層的に下位に有
しているとみることができるが、この配列形式において
も、すべての電界効果型トランジスタを互いに同一形状
で一方向同一ピッチの平行移動配列構造として作り込ま
れる。勿論、その平行移動配列方向はチャネル長方向又
はチャネル幅方向に設定することができる。
In this arrangement type, it can be considered that each group has a plurality of field-effect transistors branching in a tree shape at a hierarchical lower level. The type transistors are formed in a parallel-moving array structure having the same shape and the same pitch in one direction. Of course, the parallel movement arrangement direction can be set in the channel length direction or the channel width direction.

【0016】このように、群レベルでみると、即ちディ
ジタル入力側からみると、ツリー構造のトランジスタア
レイにおいては、上記の場合と異なる出力電流のレベル
落ち防止を保証する対策が講じられる。即ち、第1群に
属する2個以上の電界効果型トランジスタの重心(単位
スイッチング部の平均位置)を平行移動配列の中心に置
き、この重心を対称軸とし、その対称軸から配列の両端
側へ1つずつ遠ざかる方向に、同一の群に属する単位ト
ランジスタ部の2個以上の電界効果型トランジスタの重
心(平均位置)が、 n→n−1→n→n−2→n→・・・→n→2→n→・
・・→n→n−2→n→n−1→n の如き順で左右対称の群パターンをとるように、nビッ
ト・ディジタル制御信号の各桁に対応付ける。
As described above, when viewed at the group level, that is, when viewed from the digital input side, in the transistor array having the tree structure, different measures are taken to prevent the level drop of the output current different from the above case. That is, the center of gravity (the average position of the unit switching unit) of two or more field-effect transistors belonging to the first group is placed at the center of the parallel displacement array, and the center of gravity is set as the axis of symmetry, and from the axis of symmetry to both ends of the array. In the direction away from each other, the center of gravity (average position) of two or more field-effect transistors in the unit transistor section belonging to the same group is n → n−1 → n → n−2 → n →. n → 2 → n → ・
... → n → n−2 → n → n−1 → n Correspond to each digit of the n-bit digital control signal so as to take a symmetrical group pattern in the following order.

【0017】上記各スイッチング手段は複数のほぼ同等
の電流容量を持つ単位スイッチング部を備えているが、
これに加えて、それらの並列接続体に対して並列接続さ
れたオフセット用電界効果型トランジスタ部が1又は2
以上設けられる。
Each of the switching means has a plurality of unit switching units having substantially the same current capacity.
In addition, one or two offset field-effect transistor units connected in parallel to these parallel connection units are provided.
The above is provided.

【0018】また、供電される電流値に応じて出力強度
が単調変化する複数の被駆動素子の駆動制御装置であっ
て、上記構成に係る多出力電流供給用集積回路を備える
駆動制御装置を実現する付加手段としては、複数の被駆
動素子を駆動するためのデータ信号を受け取り、当該信
号をラッチするデータラッチ手段と、当該データラッチ
手段によってラッチされた前記データ信号及び当該デー
タ信号を補正するために使用する補正データ信号を受け
取り、これらのデータ信号に基づいて、補正済みのデー
タ信号を生成する補正済みデータ発生手段と、が設けら
れており、そして当該補正済みデータ信号が上記電流供
給用集積回路に制御信号として用いられる。勿論、この
構成に係る駆動制御装置自体を半導体集積回路として実
現することができる。また更に、上記駆動制御装置の構
成に加えて、その外部信号発生手段としては、前記複数
の被駆動素子を駆動するためのデータ信号を発生するデ
ータ信号発生手段と、前記データ信号を補正するために
使用される補正データ信号を発生する補正データ信号発
生手段と、が設けられている。
Further, a drive control device for a plurality of driven elements whose output intensity monotonously changes in accordance with the supplied current value, the drive control device including the multi-output current supply integrated circuit according to the above configuration is realized. The additional means includes a data latch means for receiving a data signal for driving a plurality of driven elements and latching the data signal, and a correction means for correcting the data signal and the data signal latched by the data latch means. And a corrected data generating means for generating a corrected data signal based on these data signals, and the corrected data signal is supplied to the current supply integrated circuit. Used as a control signal in the circuit. Of course, the drive control device according to this configuration can be realized as a semiconductor integrated circuit. Still further, in addition to the configuration of the drive control device, the external signal generation unit includes a data signal generation unit that generates a data signal for driving the plurality of driven elements, and an external signal generation unit that corrects the data signal. And a correction data signal generating means for generating a correction data signal used for

【0019】[0019]

【作用】かかる構成の多出力電流供給用集積回路によれ
ば、各被駆動素子にはN個の単位スイッチング部を並列
接続した電流合成器が夫々接続されたものであるから、
出力される電流合成値は一定ではなく、N個の単位スイ
ッチング部を夫々同時的にオン・オフ制御することによ
り、離散的にN段階の出力電流値が得られる。それ故、
ある1つのLED等の被駆動素子への電流供給値をN段
階(電流供給値が零のときも入れるとN+1段階)で増
減的に可変できるので、すべての被駆動素子の能動期間
を一定としながら、各被駆動素子への電流供給値を当該
素子の出力能力が標準値へ合致するよう個々的に付与す
ることができ、被駆動素子間の能力バラツキやスイッチ
ング手段間の電流容量のバラツキに基づく被駆動素子間
の出カバラッキを補正することができる。逆に、1ライ
ン印字又は1ライン表示において特定のドットの濃淡を
他のドットのそれと異ならしめることができ、ドット毎
の階調印字又は表示の独立制御が可能となる。
According to the multi-output current supply integrated circuit having such a configuration, each driven element is connected to a current combiner in which N unit switching units are connected in parallel.
The output current composite value is not constant, and the N unit switching units are simultaneously turned on / off simultaneously, so that N output current values can be discretely obtained. Therefore,
Since the current supply value to a driven element such as one LED can be increased or decreased in N steps (N + 1 steps when the current supply value is zero), the active periods of all the driven elements are fixed. Meanwhile, the current supply value to each driven element can be individually given so that the output capability of the element matches the standard value, and the variation in the capacity between the driven elements and the variation in the current capacity between the switching means can be reduced. The output variation between driven elements based on the above can be corrected. Conversely, in one-line printing or one-line display, the density of a specific dot can be made different from that of other dots, and independent control of gradation printing or display for each dot becomes possible.

【0020】勿論、N個の単位スイッチング部の夫々に
対してスイッチング制御入力を接続して各単位スイッチ
ング部を独立的に制御するとも可能であるが、かかる場
合は1スイッチング手段の制御信号線がN本となり、回
路構成上及び半導体レイアウト上においてもスペースの
余裕がなくなる。そこで制御信号線の本数を最小限に抑
えるためには、N個の単位スイッチング部をN個の群に
分け、第i群に属する単位スイッチング部の個数を2
i-1とし、同一の群に属する単位スイッチング部のスイ
ッチング制御入力を共通化すると共に、その入力をnビ
ット・ディジタル制御信号のi桁目に接続する。かかる
場合、2n−1=Nの関係式が成立しているが、Nは奇
数となり、制御信号緑の数はn(<<N)本である。こ
の多階調出力を持ちながら制御信号線の本数を最小限と
したことにより、実用的な集積回路化が実現される。
Of course, it is also possible to connect a switching control input to each of the N unit switching units to independently control each unit switching unit. In such a case, however, the control signal line of one switching means is connected Since there are N lines, there is no room for space in the circuit configuration and the semiconductor layout. Therefore, in order to minimize the number of control signal lines, the N unit switching units are divided into N groups, and the number of unit switching units belonging to the i-th group is reduced to 2 units.
a i-1, with a common switching control input of the unit switching unit belonging to the same group, to connect its input to the i-th digit of the n-bit digital control signal. In such a case, the relational expression of 2 n -1 = N holds, but N is an odd number, and the number of control signal greens is n (<< N). A practical integrated circuit can be realized by minimizing the number of control signal lines while having the multi-tone output.

【0021】単位スイッチング部は出力電流の量子化単
位としての電流容量を持つものであるが、それ自体の構
成は単一の電界効果型トランジスタであっても良いし、
互いに隣接した複数の電界効果型トランジスタの並列接
続回路であっても良い。通常、単位スイッチング部は単
一の電界効果型トランジスタを以て構成されるであろう
が、半導体レイアウト上、出力電流の量子化単位(分解
能に相当する)が1つの電界効果型トランジスタでは得
られない場合も生じ得る。かかる場合は、素子占有面積
が微小の電界効果型トランジスタを複数個並列接続する
ことにより、総電流容量が出力電流の量子化単位に達す
る。
The unit switching section has a current capacity as a quantization unit of the output current. The configuration of the unit switching section may be a single field-effect transistor.
A parallel connection circuit of a plurality of field effect transistors adjacent to each other may be used. Normally, the unit switching section will be constituted by a single field-effect transistor. However, when a quantization unit (corresponding to resolution) of an output current cannot be obtained by one field-effect transistor due to a semiconductor layout. Can also occur. In such a case, the total current capacity reaches the quantization unit of the output current by connecting a plurality of field effect transistors having a small element occupying area in parallel.

【0022】各スイッチング手段に一対一に対応する出
カパッドは通常一列配置構造とされるが、その出力パッ
ドピッチ内に各スイッチング手段を作り込む必要があ
る。かかる場合には、N個の単位スイッチング部を互い
に同一形状で一方向同一ピッチの平行移動配列構造とす
ることにより、各単位スイッチング部の電流容量を互い
にほぼ同等としながら、出力パッドピッチ内にスイッチ
ング手段を首尾よく収めることができる。
The output pads corresponding to each switching means on a one-to-one basis are usually arranged in a row, but it is necessary to incorporate each switching means within the output pad pitch. In such a case, the N unit switching units have the same shape and a parallel movement arrangement structure with the same pitch in one direction, so that the current capacities of the unit switching units are substantially equal to each other, and the switching is performed within the output pad pitch. The means can be accommodated successfully.

【0023】ここで、単位スイッチング部の電流容量が
互いにほぼ同等であれば、nビット・ディジタル制御信
号のディジタル値に対して出力電流値が単調増加する。
単位スイッチング部の電流容量の同等性を保証するもの
は作り込みの形状寸法を同一とすることであろうが、単
位スイッチング部のN個のアレイ構造においても、製造
プロセス上のバラツキが不可避的に発生する。例えばフ
ォトリソグラフイーによるゲート電極形成等では、各ト
ランジスタ毎のゲート電極形状にバラツキが生じる。ゲ
ート電極形状のバラツキは単位スイッチング部毎の電流
容量(又はオン抵抗)のバラツキを必然的に派生させ
る。N個の単位スイッチング部が互いにアレイ構造上で
同一形状であっても、これは電流容量の同等性を完全に
は保証し得ない。そこで単位スイッチング部間の電流容
量のバラツキを考慮する必要性が生じる。ここで起こり
得るバラツキ特性は配列内において一般的に単調性を呈
すことが経験上見い出されている。配列内において単位
スイッチング部の電流容量がその一端から他端にかけて
単調増加する場合、N個の単位スイッチング部をその一
端から他端にかけて第1群から第n群に順次振り分けた
ときには、nビット・ディジタル制御信号の連続桁上げ
(相隣るビットが同時に桁上げされること)の際、出力
電流値が単調増加せず、逆に降下するといういわゆるレ
ベル落ち(レベル欠け)が発生するおそれがあり、N個
の単位スイッチング部の並列接続回路が電流合成回路な
いしいわば電流出力型ディジタル・アナログ変換器(D
AC)として正常に機能しないことが起こり得る。そこ
で、第1群に属する単一の単位スイッチング部を平行移
動配列の中心に位置させると、その配列の両端に亘るN
個の単位スイッチング部の中で、第1群の単位スイッチ
ング部の電流容量は平均電流値(中央値)を持つ。ま
た、中心の単位スイッチング部以外の単位スイッチング
部については、第1群の単位スイッチング部を対称軸と
し、その対称軸から配列の両端側へ1つずつ遠ざかる位
置の単位スイッチング部の属する群を、n→n−1→n
→n−2→n→・・・→n→2→n→・・・→n→n−
2→n→n−1→n、とした場合、各群毎の単位スイッ
チング部の電流容量は上記の平均電流値に等しい。この
ため、nビット・ディジタル制御信号のディジタル値と
出力電流値との線形性が保証される。配列方向に電流容
量のバラツキの線形的勾配があっても、ディジタル値に
対する出力電流の線形性が確保されている。かかる単位
スイッチング部とその群との対応付けによれば、配列方
向に電流容量の線形的勾配ではないがこれに近い単調的
勾配がある場合でも、少なくとも入力ディジタル値と出
力電流値の単調性は保証され、レベル落ちのないいわば
DACとしての電流合成回路が実現され、それ故、歩留
りの向上が図れる。
Here, if the current capacities of the unit switching units are substantially equal to each other, the output current value monotonically increases with respect to the digital value of the n-bit digital control signal.
What guarantees the equality of the current capacity of the unit switching unit will be to make the built-in shape and size the same. However, even in the N array structure of the unit switching unit, variations in the manufacturing process are inevitable. Occur. For example, when a gate electrode is formed by photolithography, the shape of the gate electrode of each transistor varies. Variations in the shape of the gate electrode inevitably lead to variations in the current capacity (or on-resistance) of each switching unit. Even if the N unit switching units have the same shape in the array structure, this cannot completely guarantee the equality of the current capacity. Therefore, it is necessary to consider the variation of the current capacity between the unit switching units. Experience has shown that the variability characteristics that can occur here generally exhibit monotonicity in the array. In a case where the current capacity of the unit switching section monotonically increases from one end to the other end in the array, when the N unit switching sections are sequentially distributed from the first group to the n-th group from the one end to the other end, n bits. When the digital control signal is continuously carried (when adjacent bits are carried at the same time), there is a possibility that the output current value does not monotonously increase but drops instead (so-called level drop). , N unit switching units are connected in parallel by a current combining circuit, that is, a current output type digital / analog converter (D
AC) may not function properly. Therefore, when a single unit switching unit belonging to the first group is positioned at the center of the parallel movement array, N
Among the unit switching units, the current capacity of the first group of unit switching units has an average current value (median value). For the unit switching units other than the central unit switching unit, the group to which the unit switching units located at positions away from the symmetric axis by one by one toward both ends of the array is defined as a unit switching unit of the first group. n → n-1 → n
→ n-2 → n → ・ ・ ・ → n → 2 → n → ・ ・ ・ → n → n-
In the case of 2 → n → n−1 → n, the current capacity of the unit switching unit for each group is equal to the above average current value. Therefore, the linearity between the digital value of the n-bit digital control signal and the output current value is guaranteed. Even if there is a linear gradient of the variation of the current capacity in the arrangement direction, the linearity of the output current with respect to the digital value is ensured. According to the correspondence between the unit switching units and the groups, even if there is not a linear gradient of the current capacity in the array direction but a monotonic gradient close thereto, at least the monotonicity of the input digital value and the output current value is A current synthesizing circuit as a DAC that is guaranteed and does not have a level drop can be realized, so that the yield can be improved.

【0024】前述の各単位スイッチング部の構成は、単
一の電界効果型トランジスタだけであるか、又は互いに
隣接した複数個の電界効果型トランジスタの並列接続回
路としたが、各単位スイッチング部が互いに隣接しない
複数個の電界効果型トランジスタの並列接続回路であっ
てもかまわない。即ち、同一の群に属する単位スイッチ
ング部が左右対称配置の2個以上の電界効果型トランジ
スタで構成される並列接続回路で、異なる群に属する単
位スイッチング部の電界効果型トランジスタ同士が相隣
接している形式でもかまわない。
The configuration of each unit switching unit described above is either a single field-effect transistor or a parallel connection circuit of a plurality of field-effect transistors adjacent to each other. A parallel connection circuit of a plurality of non-adjacent field effect transistors may be used. That is, the unit switching units belonging to the same group are a parallel connection circuit composed of two or more field-effect transistors arranged symmetrically, and the field-effect transistors of the unit switching units belonging to different groups are adjacent to each other. Format is acceptable.

【0025】単位スイッチング部の構成要素たる電界効
果型トランジスタの相互配置が実質上問題とされる事態
は、前述のトランジスタの製造プロセスに起因する電流
容量のバラツキに関してである。同一の群に属する単位
スイッチング部のトランジスタを他の群に属するトラン
ジスタが隣接する形で互いに分散的に配置する利益は、
具体的には次の群パターンを採用する場合であろう。こ
こで、単位スイッチング部が複数のトランジスクを以っ
て構成される場合、複数のトランジスタのレイアウト上
の重心(平均位置ないし等価位置)の概念を導入する
と、電流容量のバラツキの問題を論じ易い。即ち、平行
移動配列の中心に第1群に属する2個以上の電界効果型
トランジスタの重心(平均位置ないし等価位置)を定
め、この重心を対称軸としその対称軸から配列の両端側
へ1つずつ遠ざかる方向に、同一の群に属する単位トラ
ンジスタ部の2個以上の電界効果型トランジスタの重心
が、 n→n−1→n→n−2→n→・・・→n→2→n→・
・・→n→n−2→n→n−1→n の如き順で群パターンをとるように配列すると、各単位
スイッチング部のトランジスタ相互には電流容量のバラ
ツキがあるものの、配列方向に分散的に位置されている
ので、複数のトランジスタを隣接させる場合に比して、
単位スイッチング部相互のバラツキを抑制することがで
きる。特に、トランジスタ配列の中心点近傍に極植をと
る電流容量のバラツキ分布に対しても、単位スイッチン
グ部のバラツキ自体を低減できるから、ディジタル入力
と出力電流との線形性がすこぶる改善される。
The fact that the mutual arrangement of the field-effect transistors, which are constituent elements of the unit switching section, is substantially problematic is related to the variation in the current capacity caused by the above-described transistor manufacturing process. The advantage of disposing the transistors of the unit switching unit belonging to the same group in a distributed manner with the transistors belonging to the other group adjacent to each other is as follows.
Specifically, the following group pattern may be adopted. Here, in the case where the unit switching section includes a plurality of transistors, the problem of the variation in the current capacity can be easily discussed by introducing the concept of the center of gravity (average position or equivalent position) on the layout of the plurality of transistors. That is, the center of gravity (average position or equivalent position) of two or more field-effect transistors belonging to the first group is determined at the center of the parallel displacement array, and the center of gravity is set as the axis of symmetry, and one is located from the axis of symmetry to both ends of the array. In the direction away from each other, the center of gravity of two or more field-effect transistors in the unit transistor unit belonging to the same group is n → n−1 → n → n−2 → n →... → n → 2 → n →・
··· → n → n−2 → n → n−1 → n When arranged so as to form a group pattern, the transistors in each unit switching unit have a variation in current capacity, but are dispersed in the arrangement direction. Position, so that compared to the case where a plurality of transistors are adjacent to each other,
Variations between the unit switching units can be suppressed. In particular, the variation in the unit switching unit itself can be reduced even with respect to the variation distribution of the current capacity that is poled near the center point of the transistor array, so that the linearity between the digital input and the output current is greatly improved.

【0026】上記N個の単位スイッチング部の並列接続
体たるスイッチング手段では、N段階の出力電流が得ら
れるが、出力電流の更なる微小補正を可能とするために
は、単位スイッチング部の個数を増加させるのではな
く、比較的大なる電流容量を持つオフセット用電界効果
型トランジスタを1又は2以上付設する。つまり、オフ
セット用電界効果型トランジスタを設けた場合には、す
べての被駆動素子についてこれを使用することを前提と
し、その上で、各出力毎に補正すべく作動させる単位ス
イッチング部の個数が設定される。
The switching means, which is a parallel connection of the N unit switching units, can provide an output current in N stages. However, in order to enable further fine correction of the output current, the number of unit switching units must be reduced. Instead of increasing the number, one or more offset field-effect transistors having a relatively large current capacity are provided. In other words, when an offset field-effect transistor is provided, it is assumed that it is used for all driven elements, and the number of unit switching units to be operated to correct each output is set based on the assumption. Is done.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】次に、本発明に係る多出力電流供
給用集積回路をLEDプリンタ駆動回路に適用した実施
例を添付図面に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment in which a multi-output current supply integrated circuit according to the present invention is applied to an LED printer driving circuit will be described with reference to the accompanying drawings.

【0028】図1はLEDプリンタ駆動回路の実施例を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an LED printer driving circuit.

【0029】メインフレーム1はデータ信号等をマイク
ロプロセッサ11に送出するコンピュータ等で構成され
ている。マイクロプロセッサ11は補正コード格納RO
M(読出し専用メモリ)12に対し制御信号を送り、こ
れから補正コードデータを取り入れ、後述する態様で、
データ信号,ラッチ信号,補正データ信号及びイネーブ
ル信号をLEDプリンタヘッド駆動用集積回路13へ送
出する。LEDプリンタヘッド駆動用集積回路13は、
マイクロプロセッサ11から供給される第1クロック信
号に同期してメインフレーム1から供給される1ライン
印字分のデータ信号をマイクロプロセッサ11を介して
そのまま入力されるデータ用シフトレジスタ部14と、
ラッチ信号に同期してデータ用シフトレジスタ部14の
各フリップ・フロップ(F/F)の内容を取り込み一時
保持するラッチ回路アレイ部15と、第2クロック信号
に同期して補正データ信号を直−並列変換する補正デー
タ用シフトレジスタ部16と、このレジスタ部16にて
作成された4ビット・ディジタル信号とイネーブル信号
とに基づいてゲート信号を出力する出力トランジスタ制
御回路部17と、各ゲート信号によりスイッチング制御
されるスイッチング回路18−1〜18−mを有する出
カトランジスタ部18と、から大略構成されている。
The main frame 1 is composed of a computer for sending data signals and the like to the microprocessor 11. The microprocessor 11 stores the correction code RO
A control signal is sent to an M (read only memory) 12, and correction code data is taken in from the control signal.
The data signal, the latch signal, the correction data signal, and the enable signal are sent to the LED printer head driving integrated circuit 13. The LED printer head driving integrated circuit 13 includes:
A data shift register unit 14 for directly inputting a one-line print data signal supplied from the main frame 1 via the microprocessor 11 in synchronization with a first clock signal supplied from the microprocessor 11,
A latch circuit array section 15 which fetches and temporarily holds the contents of each flip-flop (F / F) of the data shift register section 14 in synchronization with the latch signal, and directly outputs the correction data signal in synchronization with the second clock signal. A shift register unit 16 for correction data for parallel conversion, an output transistor control circuit unit 17 for outputting a gate signal based on the 4-bit digital signal and the enable signal generated by the register unit 16, and each gate signal And an output transistor section 18 having switching circuits 18-1 to 18-m that are switching-controlled.

【0030】このLEDプリンタヘッド駆動用集積回路
13における出力トランジスタ部18の各スイッチング
回路18−1〜18−mとLEDアレイ集積回路19の
各LED19−1〜19−mとが一対一で接続されてお
り、各LEDは各スイッチング回路の継断動作により電
源VSSからの電流供給・遮断で発光・消光する。なお、
20はLEDアレイ集積回路19に近接対向する感光ド
ラムで、2は主電源である。
The switching circuits 18-1 to 18-m of the output transistor section 18 in the LED printer head driving integrated circuit 13 and the LEDs 19-1 to 19-m of the LED array integrated circuit 19 are connected one to one. and which, each LED emits light, extinction in the current supply and interruption of the power supply V SS by Tsugidan operation of the switching circuit. In addition,
Reference numeral 20 denotes a photosensitive drum which is closely opposed to the LED array integrated circuit 19, and reference numeral 2 denotes a main power supply.

【0031】図2は図1中のLEDプリンタヘッド駆動
用集積回路13の構成を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the LED printer head driving integrated circuit 13 in FIG.

【0032】データ用シフトレジスタ部14はm個のD
フリップ・フロップ14−1〜14−mで構成され、第
1クロック端子14aに第1クロック信号のパルスが1
つずつ加わるたびにデータ端子14bを介して取り込ま
れる2進直列のデータをシフトするもので、1ライン印
字分のデータが直列−並列変換される。ラッチ回路アレ
イ部15はDフリップ・フロップのラッチ回路(LA
T)15−1〜15−mで構成され、ラッチ端子15a
に入るラッチ同期信号によってシフトレジスタ部14の
各桁の内容を一時保持する。補正データ用シフトレジス
タ部16は4m個のDフリップ・フロップで構成され、
補正データ端子16bに入力される2進4m桁の直列信
号の補正データを第2クロック端子16aに入力される
第2クロックによって1つずつシフトするものである。
補正データ用シフトレジスタ部16は4段のDフリップ
・フロップを1単位とするm個の部分シフトレジスタ
(SR)を有しており、各部分シフトレジスタは対応す
るLEDの発光強度を補正するための4ビット並列信号
(例えばB14,B13,B12,B11)を出力する。出カト
ランジスタ制御回路部17は制御及びレベルシフト回路
とを1回路単位としてこれをm個有しており、各制御及
びレベルシフト回路はラッチ回路アレイ部15の各ラッ
チ回路の出力たるデータ(例えばDil)と補正データ用
シフトレジスタ部16の部分シフトレジスタの出力たる
4ビット並列補正データ(例えばB14,B13,B12,B
ll)とを受け、イネーブル端子17aに入力されるイネ
ーブル信号に同期して対応する後述の電流合成回路に4
ビット並列ゲート制御信号を送出する。
The data shift register section 14 includes m D shift registers.
Flip-flops 14-1 to 14-m, and the first clock signal 14a
Each time it is added, it shifts the binary serial data taken in via the data terminal 14b, and the data for one line printing is converted from serial to parallel. The latch circuit array unit 15 includes a D flip-flop latch circuit (LA).
T) 15-1 to 15-m, and the latch terminal 15a
The contents of each digit of the shift register unit 14 are temporarily held by the latch synchronizing signal. The correction data shift register section 16 is composed of 4m D flip-flops,
The correction data of the serial signal of 4 m digits in binary inputted to the correction data terminal 16b is shifted one by one by the second clock inputted to the second clock terminal 16a.
The correction data shift register section 16 has m partial shift registers (SR) each of which has four stages of D flip-flops as one unit. Each partial shift register corrects the emission intensity of the corresponding LED. (For example, B 14 , B 13 , B 12 , B 11 ). The output transistor control circuit unit 17 has m control and level shift circuits as one circuit unit, and each control and level shift circuit outputs data (for example, data (e.g., data) output from each latch circuit of the latch circuit array unit 15. D il ) and 4-bit parallel correction data (for example, B 14 , B 13 , B 12 , B) output from the partial shift register of the correction data shift register unit 16.
ll ), and the corresponding current synthesizing circuit described later is synchronized with the enable signal input to the enable terminal 17a.
Transmits a bit parallel gate control signal.

【0033】図3は図2における出カトランジスタ制御
回路部17の制御及びレベルシフト回路17−1を示す
回路図である。なお、他の制御及びレベルシフト回路1
7−2〜17−mの回路構成もこれと同様である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing the control of the output transistor control circuit 17 and the level shift circuit 17-1 in FIG. Note that other control and level shift circuits 1
The circuit configurations of 7-2 to 17-m are the same.

【0034】制御及びレベルシフト回路17−1は論理
制御回路部21−1とレベルシフト回路22−1とから
構成されている。この実施例におけるデータ信号DはH
レベルのときが印字指令で、Lレベルのとき無印字指令
とされており、またイネーブル信号はHレベルのとき印
字期間で、Lレベルのとき無印字期間とされている。こ
の制御及びレベルシフト回路17−1に対応するLED
19−1をオン状態又はオフ状態のいずれかに設定する
ために、論理制御回路部21−1には、イネーブル信号
及びデータ信号Dilを入力されるNANDゲート21−
1aとインバータ21−1bとで構成される印字モード
決定回路21−1cが設けられている。また補正データ
の4ビット並列信号B14,B13,B12,B11及び上記印
字モード決定回路21−1cの出力たる印字モード信号
とを受け後述する電流合成回路のいわばディジタル・ア
ナログ変換器(DAC)の4ビット出力信号を論理的に
作成するNANDゲート21−1dと、印字モード信号
を反転するインバータ21−1eとが設けられている。
制御及びレベルシフト回路部17−1はオフセット用ゲ
ート制御電圧OSl及びDAC用ゲート制御電圧S14
13,S12,S11を得るために、同一構成の5個のレベ
ルシフト回路から構成されている。この各レベルシフト
回路は、インバータ21−1e又はNANDゲート21
−1dの出力信号を反転させるインバータ22−1a
と、その出力信号とインバータ22−1bの反転出力を
制御入力とし外札部ゲートバイアス電圧VGGを伝達する
トランスミッションゲートTMと、このトランスミッシ
ョンゲートTMのオフ時における出力を外部ソース電圧
SSに強制確定するためのPチャネルMOSFET22
−1cとを備えている。
The control and level shift circuit 17-1 comprises a logic control circuit section 21-1 and a level shift circuit 22-1. The data signal D in this embodiment is H
The level is a print command, the L level is a non-print command, and the enable signal is a H level for a print period, and the L level is a non-print period. LED corresponding to this control and level shift circuit 17-1
To set 19-1 to either an on-state or an off state, the logic control circuit unit 21-1, NAND gates inputting an enable signal and a data signal D il 21-
There is provided a print mode determination circuit 21-1c composed of 1a and an inverter 21-1b. Further, it receives the 4-bit parallel signals B 14 , B 13 , B 12 , and B 11 of the correction data and the print mode signal output from the print mode determination circuit 21-1c, so-called a digital-to-analog converter of a current synthesis circuit described later. A NAND gate 21-1d for logically creating a 4-bit output signal of the DAC (DAC) and an inverter 21-1e for inverting the print mode signal are provided.
Control and the level shift circuit 17-1 offset gate control voltage OS l and DAC gate control voltage S 14,
In order to obtain S 13 , S 12 , and S 11 , five level shift circuits having the same configuration are used. Each of the level shift circuits includes an inverter 21-1e or a NAND gate 21.
Inverter 22-1a for inverting the output signal of -1d
When the transmission gate T M and, the transmission gate T external source voltage output during off M V SS to transmit the external tag section gate bias voltage V GG as a control input the inverted output of the output signal and the inverter 22-1b P-channel MOSFET 22 for forced determination
-1c.

【0035】印字モード決定回路21−1cの出力たる
論理電圧レベルの印字モード信号は外部ゲートバイアス
電圧VGGと外部ソース電圧VSSとの間で変化するオフセ
ット用制御信号OSlに変換される。またNANDゲー
ト21−1dの出力も同様の電圧レベルのDAC用制御
信号S14,S13,S12,Sllに変換される。
The print mode signal output serving as the logic voltage level of the printing mode decision circuit 21-1c is converted into the external gate bias voltage V GG and the offset control signal OS l varying between the external source voltage V SS. The NAND gate 21-1D DAC control signal output is also the same voltage level of the S 14, S 13, S 12 , is converted to S ll.

【0036】図4は図2における電流合成回路の構成を
示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of the current combining circuit in FIG.

【0037】本実施例における各スイッチング手段とし
ての電流合成回路はディジタル・アナログ変換回路とオ
フセット用電界効果型トランジスタで構成されている。
図4の電流合成回路18−1はほぼ同等の電流容量を持
つ15個のPチャネル電界効果型トランジスタFTl〜F
T15の並列接続体としての電流出力型ディジタル・アナ
ログ変換回路18−1aと、これに並列接続した全電流
容量のほぼ1/3を占める単一のオフセット用Pチャネ
ル電界効果型トランジスタFOS1とからなる。この電流
合成回路18−1の半導体構造は後述するが、制御信号
llをゲート信号とするトランジスタ(FT8)の個数は
1個、制御信号S12をゲート信号とするトランジスタ
(FT4,FT12)の個数は2個、制御信号S13をゲート
信号とするトランジスタ(FT2,FT6,FTl0,FT14
の個数は4個、及び制御信号S14をゲート信号とするト
ランジスタ(FT1,FT3,FT5,FT7,FT9T11,F
T13,FT15)の個数は8個とされている。即ち、制御信
号SllがLレベルのときトランジスタFT8がオン状態
で、制御信号S12がLレベルのときトランジスタFT4
びFT12がオン状態であり、また制御信号S13がLレベ
ルのときトランジスタFT2,FT6,FT10及びFT14がオ
ン状態であり、更に制御信号S14がLレベルのとき、ト
ランジスタFTl,FT3,FT5,FT7,FT9,FT11,F
T13及びFT15がオン状態になる。
The current synthesizing circuit as each switching means in this embodiment is composed of a digital / analog conversion circuit and an offset field effect transistor.
The current synthesizing circuit 18-1 shown in FIG. 4 has fifteen P-channel field effect transistors F T1 to F T1 having substantially the same current capacity.
A current output type digital / analog conversion circuit 18-1a as a parallel connection of T15 and a single offset P-channel field effect transistor F OS1 occupying almost one third of the total current capacity connected in parallel with this. Become. This semiconductor structure of the current combining circuit 18-1 will be described later, the control signals S 1 one number is of ll transistor having a gate signal (F T8), a control signal S 12 transistor having a gate signal (F T4, F the number of T12) is two, the control signal S 13 a transistor having a gate signal (F T2, F T6, F Tl0, F T14)
The number four, and the control signal S 14 a transistor having a gate signal (F T1, F T3, F T5, F T7, F T9 F T11, F
T13 , F T15 ) is eight. That is, the control signal S ll is a transistor F T8 is turned on when the L-level, the control signal S 12 is a transistor F T4 and F T12 is turned on when the L-level, and when the control signal S 13 is at the L level transistors F T2, F T6, F T10 and F T14 are oN state, further when the control signal S 14 is L level, the transistors F Tl, F T3, F T5 , F T7, F T9, F T11, F
T13 and F T15 are turned on.

【0038】次に上記実施例の動作につき図5を参照し
つつ説明する。
Next, the operation of the above embodiment will be described with reference to FIG.

【0039】印字動作に先立ち、LEDプリンタの電源
2を投入すると、まず、マイクロプロセッサ11が制御
信号を補正データ格納ROM12に送出し、これにより
補正データ格納ROM12からマイクロプロセッサ11
に対し補正コードデータ信号が送られる。そしてマイク
ロプロセッサ11は第2クロック信号と共に補正コード
データ信号を補正データ用シフトレジスタ部16に送出
する。ここで補正コードデータ信号は、1ライン印字が
mドットとすると、4mビットの直列ディジタル信号
で、そのうち直列4ビットが1ドット印字の補正データ
に対応している。補正データ信号及び第2クロック信号
の送出期間は電源2の投入後の一定期間だけであり、そ
れらが一度送出されると、電源を切るまで補正データは
再び送出されることがない。この4mビットの直列ディ
ジタル信号は第2クロック毎に順次補正データ用シフト
レジスタ部16の最下位Dフリップ・フロップ(F/
F)に入力される。4m個の第2クロックパルスによっ
て4mビットの直列ディジタル信号が補正データ用シフ
トレジスタ部16に全部記憶される。この後において
は、マイクロプロセッサ11が第2クロックパルスを送
出しないため、補正データ用シフトレジスタ16自身は
シフト動作せず、4mビッドの直列ディジタル信号たる
補正データがそのまま補正データ用シフトレジスタ部1
6に保持される。ここで、補正データ用シフトレジスタ
16の部分シフトレジスタ16−1の出力は、第1桁目
ll,第2桁目B12,第3桁目B13,第4桁目B14の4
ビット信号(1ドット補正データ信号に相当する)を維
持する。
When the power supply 2 of the LED printer is turned on prior to the printing operation, first, the microprocessor 11 sends a control signal to the correction data storage ROM 12, whereby the correction data storage ROM 12 transfers the control signal to the microprocessor 11.
, A correction code data signal is sent. Then, the microprocessor 11 sends the correction code data signal to the correction data shift register 16 together with the second clock signal. Here, the correction code data signal is a serial digital signal of 4 m bits, where one line printing is m dots, of which four serial bits correspond to correction data of one dot printing. The transmission period of the correction data signal and the second clock signal is only a fixed period after the power supply 2 is turned on, and once they are transmitted, the correction data will not be transmitted again until the power supply is turned off. The serial digital signal of 4 m bits is sequentially supplied to the lowermost D flip-flop (F / F) of the shift register 16 for correction data every second clock.
F). The 4 m-bit serial digital signals are all stored in the correction data shift register 16 by the 4 m second clock pulses. Thereafter, since the microprocessor 11 does not transmit the second clock pulse, the shift register 16 for correction data itself does not perform the shift operation, and the correction data, which is a serial digital signal of 4 m bits, is directly stored in the shift register unit 1 for correction data.
6 is held. Here, the output of the partial shift register 16-1 of the correction data shift register 16 is the first digit B ll , the second digit B 12 , the third digit B 13 , and the fourth digit B 14 .
The bit signal (corresponding to one dot correction data signal) is maintained.

【0040】補正データ信号の補正データ用シフトレジ
スタ16への設定動作が完了すると、第1クロック信号
の発生と共に、データ信号がマイクロプロセッサ11を
介してデータ用シフトレジスタ14に供給される。ここ
で1ライン印字データが第i行目のデータDiとする
と、m個の第1クロックによってデータDiがデータ用
シフトレジスタ部14部に記憶される。そしてラッチ信
号Liがマイクロプロセッサ11から送出され、これが
ラッチ回路アレイ部15に供給されると、ラッチ回路ア
レイ部15のラッチ回路15−1〜15−mがデータ用
シフトレジスタ部14の対応するDフリップ・フロップ
14−1〜14−mの出力(データDi)を取り込みこ
れを一時保持する。即ち、ラッチ回路15−1〜15−
mの出力がデータDi1〜Dimに設定される。
When the operation of setting the correction data signal in the correction data shift register 16 is completed, the data signal is supplied to the data shift register 14 via the microprocessor 11 together with the generation of the first clock signal. Now one line printing data to the i-th row of the data D i, the data D i is stored in the shift register portion 14 parts data by m first clock. When the latch signal Li is sent from the microprocessor 11 and supplied to the latch circuit array unit 15, the latch circuits 15-1 to 15-m of the latch circuit array unit 15 correspond to the data shift register unit 14. captures the D output of the flip-flop 14-1 to 14-m (data D i) holds it time. That is, the latch circuits 15-1 to 15-
The output of m is set to data D i1 to D im .

【0041】ここでLED19−1の印字動作に注目し
て本実施例の動作を説明する。次にイネーブル信号がH
レベルになると、データ信号DilのレベルによってLE
D19−1の印字の有無が決定される。つまり、データ
信号DilがHレベルのときは、印字モード決定回路21
−1cの出力がHレベルとなり、データ信号DilがLレ
ベルのときはその出力がLレベルとなる。回路21−1
cの出力がHレベルの場合は、印字モード期間を意味し
ており、オフセット用トランジスタのトランスミッショ
ンTMが閉成されてゲートバイアス電圧VGGが信号OSl
としてオフセット用Pチャネル電界効果型トランジスタ
OSlに供給され、電界効果型トランジスタFOSlが閉成
する。また補正データ信号がB14,B13,B12,Bll
して制御及びレベルシフト回路17−1に供給される。
例えば、ここでデータ信号B14がHレベルで、データ信
号B13,B12,BllがLレベルの場合には、信号S14
ゲートバイアス電圧VGGとなり、信号S13,S12,Sll
がソース電圧VSSとなる。これにより、DAC18−1
aのトランジスタのうち、トランジスタFTl,FT3,F
T5,FT7,FT9,FTll,FT13,FT15がオフ状態であ
る。ここでオフセット用Pチャネル電界効果型トランジ
スタFOS1の電流容量をiOSとし、DAC18−1aの
各トランジスタの電流容量をiOとすると、信号S14
みがゲートバイアス電圧VGGに設定された場合、出力端
子Olを介してLED19−1に供給される電流値はi
OS+8iOとなる。即ち4ビット信号S14,S13,S12
llの如何により、LED19−1に対する供給電流値
をIとすると、
Here, the operation of this embodiment will be described focusing on the printing operation of the LED 19-1. Next, when the enable signal is H
Level, the level of the data signal Dil changes to LE.
The presence or absence of printing of D19-1 is determined. That is, when the data signal Dil is at the H level, the print mode determination circuit 21
The output of -1c becomes H level, when the data signal D il is at L level becomes the output thereof to L level. Circuit 21-1
When the output of c is at the H level, it means the print mode period, the transmission T M of the offset transistor is closed, and the gate bias voltage V GG is changed to the signal OS l.
Is supplied to the offset P-channel field-effect transistor F OSl to close the field-effect transistor F OSl . The correction data signal is supplied to the control and level shifting circuit 17-1 as B 14, B 13, B 12 , B ll.
For example, in the at H-level data signal B 14 Here, when the data signal B 13, B 12, B ll is at L level, the signal S 14 is the gate bias voltage V GG, and the signal S 13, S 12, S ll
Becomes the source voltage V SS . Thereby, the DAC 18-1
out of the transistors a, the transistors F Tl , F T3 , F
T5 , F T7 , F T9 , F Tll , F T13 , and F T15 are off. Here the current capacity of the offset P-channel field effect transistor F OS1 and i OS, when the current capacity of each transistor of DAC18-1a and i O, if only the signal S 14 is set in the gate bias voltage V GG , the current value supplied to LED19-1 via the output terminal O l is i
OS + 8 iO . That is, the 4-bit signals S 14 , S 13 , S 12 ,
Assuming that the supply current value to the LED 19-1 is I depending on S ll ,

【0042】[0042]

【数3】 iOS≦i≦iOS+15iO ・・・(1) の式が成立する。## EQU3 ## The following equation holds: i OS ≤i≤i OS + 15i O (1)

【0043】このように、1ドット(1LED)に供給
できる電流値iを増減的に可変できるため、供給すベき
LEDの発光の強弱に応じてそれを是正するように供給
電流値に相当する補正コードデータを予め補正データ格
納ROM12に記憶させておくことにより、すべてのL
EDの発光強度が標準値に補正されるので、これにより
印字むらが防止される。
As described above, since the current value i that can be supplied to one dot (one LED) can be changed in an increasing or decreasing manner, the current value i corresponds to the supply current value so as to correct the light emission intensity of the LED to be supplied. By storing the correction code data in the correction data storage ROM 12 in advance, all L
Since the emission intensity of the ED is corrected to a standard value, this prevents printing unevenness.

【0044】この印字むら補正は各LEDに対して供給
電流を増減的に可変するものであるから、1ラッチサイ
クル毎の1ライン印字が実現される。それ故、印字スピ
ードの高速化を図ることができる。即ち、従来プリンタ
ヘッドに比して3倍のスピードアップが実現される。ま
た、内部的にデータ信号を生成し直さずに、データ信号
をそのまま転送しながら、補正データ信号を補正データ
用シフトレジスタ部16が一度記憶するだけでその後の
各LEDに対する供給電流値が設定されるので、マイク
ロプロセッサ11のプログラムの単純化及び制御の簡素
化が達成される。また1ライン印字のうち各ドット毎の
独立的な濃淡制御が可能である。
Since this uneven printing correction changes the supply current to each LED in an increasing or decreasing manner, one line printing is performed for each latch cycle. Therefore, the printing speed can be increased. That is, speedup three times as much as that of the conventional printer head is realized. In addition, the correction data signal is stored once in the correction data shift register unit 16 once without directly regenerating the data signal internally, and the supply current value for each LED is set thereafter. Therefore, simplification of the program of the microprocessor 11 and simplification of control are achieved. Further, independent gray-scale control for each dot in one-line printing is possible.

【0045】オフセット用Pチャネル電界効果型トラン
ジスタを付設した意義は、LEDの発光強度のバラツキ
は一般的に±20%程度と見込まれている。勿論、LE
D毎にバラツキがあっても、各LEDの発光強度自体は
供給電流にほぼ正比例する。このため、各LEDに最低
限必要とされる電流を供給するオフセット用トランジス
タFOSlを設けておけば、発光強度の約20%程度だけ
がDAC18−1aによって加算的に補正される。DA
Cの16階調の電流供給により、本実施例ではLEDの
発光強度のバラツキが約±1%程度まで圧縮された。
The significance of the addition of the offset P-channel field effect transistor is that the variation in the light emission intensity of the LED is generally expected to be about ± 20%. Of course, LE
Even if there is variation for each D, the emission intensity itself of each LED is almost directly proportional to the supply current. Therefore, if an offset transistor F OSl that supplies a minimum required current is provided for each LED, only about 20% of the emission intensity is additively corrected by the DAC 18-1a. DA
In this embodiment, the variation in the light emission intensity of the LED was reduced to about ± 1% by supplying the current of 16 gradations of C.

【0046】図6は図1図示のLEDプリンタヘッド駆
動用集積回路の半導体チップ内回路レイアウトを示す摸
式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a circuit layout in a semiconductor chip of the integrated circuit for driving the LED printer head shown in FIG.

【0047】この集積回路チップは、所要の入力論理部
50と、m個のDフリップ・フロップ14−1〜14−
m及びラッチ回路15−1〜15−mを配列したデータ
用シフトレジスタ部14及びラッチ回路アレイ部15
と、m個の部分シフトレジスタ16−1〜16−m並び
にm個の制御及びレベルシフト回路17−1〜17−m
を配列した補正データ用シフトレジスタ部16及び出カ
トランジスタ制御回路部17と、m個の電流合成回路1
8−1〜18−mを配列した出力トランジスタ部18
と、電流合成回路18−1〜18−mに対応する出力端
子O1〜Omを配列したパット領域34pと、に大略区分
けされる。
This integrated circuit chip has a required input logic section 50 and m D flip-flops 14-1 to 14-.
shift register unit 14 and latch circuit array unit 15 in which m and latch circuits 15-1 to 15-m are arranged
And m partial shift registers 16-1 to 16-m and m control and level shift circuits 17-1 to 17-m
Data shift register section 16 and output transistor control circuit section 17 in which m are arranged, and m current combining circuits 1
Output transistor section 18 in which 8-1 to 18-m are arranged
When the output terminal O 1 ~ O m pad region 34 having an array of p corresponding to the current combining circuit 18-1 to 18-m, are divided generally into.

【0048】図7は図4に示す電流合成回路の半導体構
造を示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a semiconductor structure of the current combining circuit shown in FIG.

【0049】電流合成回路18−1のDAC18−1a
を構成する15個の電界効果型トランジスタFTl〜F
T15は一方向に同一ピッチで同一形状に作り込まれてい
る。即ち、各トランジスタの細幅状のポリシリコンゲー
トG1〜G15は等間隔に列設されている。ポリシリコン
ゲートGl〜G15の直下を除き、それらの配列方向にア
クティブ領域30が延在している。このアクティブ領域
30の形成はポリシリコンゲートGl〜G15をマスクと
してイオン打込みによるセルフアラインで実現される。
各トランジスタのチャネル長はポリシリコンゲートGl
〜G15の幅寸法で、チャネル幅はアクティブ領域30の
幅寸法で与えられる。一方、オフセット用Pチャネル電
界効果型トランジスタFOS1を構成するポリシリコンゲ
ートGOS1はトランジスタFTl〜FT15の配列方向に沿っ
て帯状に形成されている。またトランジスタFOS1のア
クティブ領域31はポリシリコンゲートGOS1に沿って
トランジスタFTl〜FT15の配列方向に延在している。
ソースバイアス電圧VSSが印加されるソース電極配線3
2は、オフセット用アクティブ領域31のP型ソース領
域に同一ピッチの多数のコンタクトホールhを介して導
電接触する共通電極配線部32aと、これからくし歯状
に分岐した同一ピッチの8本のソース電極部32bとか
ら構成されている。一方、ドレイン電極配線33は、出
力端子Olとしての矩形状ボンティングパッド34p1
接続しオフセット用アクティブ領域31のP型ドレイン
領域に同一ピッチの多数のコンタクトホールhを介して
導電接触する共通電極配線部33aと、これからくし歯
状に分岐した同一ピッチの8本のドレイン電極部33b
とから構成されている。オフセット用ポリシリコンゲー
トGOS1の一端部はオフセット用ゲート信号OSlが入来
すべきオフセット用ゲート配線34にコンタクトホール
hを介して導電接触している。また中央のトランジスタ
T8のポリシリコンゲートG8はゲート信号S11を受け
るべき第1ゲート配線35に、トランジスタFT4,F
T12のポリシリコンゲートG4,G12はゲート信号S12
受けるべき第2ゲート配線36に、トランジスタFT2
T6,FT10,FT14のポリシリコンゲートG2,G6,G
10,G14はゲート信号S13を受けるべき第3ゲート配線
37に、更にトランジスタFT1,FT3,FT5,FT7,F
T9,FTll,FT13,FT15のポリシリコンゲートGl,G
3,G5,G7,G9,Gll,G13,G15はゲート信号S14
を入力すべき第4ゲート配線38に、夫々接続されてい
る。
DAC 18-1a of current synthesis circuit 18-1
Of the field-effect transistors F Tl to F
T15 is formed in the same shape at the same pitch in one direction. That is, slender polysilicon gate G 1 ~G 15 of each transistor are arrayed at equal intervals. Except immediately below the polysilicon gates G 1 to G 15 , the active regions 30 extend in the arrangement direction thereof. The formation of the active region 30 is realized by self-alignment by ion implantation using the polysilicon gates G 1 to G 15 as a mask.
The channel length of each transistor is the polysilicon gate G l
The width dimension of ~G 15, the channel width is given by the width of the active region 30. On the other hand, the polysilicon gate G OS1 forming the offset P-channel field effect transistor F OS1 is formed in a strip shape along the arrangement direction of the transistors F T1 to F T15 . The active region 31 of the transistor F OS1 extends along the polysilicon gate G OS1 in the direction in which the transistors F T1 to F T15 are arranged.
Source electrode wiring 3 to which source bias voltage V SS is applied
Reference numeral 2 denotes a common electrode wiring portion 32a which makes conductive contact with the P-type source region of the offset active region 31 through a large number of contact holes h having the same pitch, and eight source electrodes of the same pitch branched from the common electrode wiring portion. And a portion 32b. The drain electrode wiring 33, common to contact the conductive via multiple contact hole h of the same pitch in a rectangular shape and connected to the Bonding pads 34 p1 P-type drain region of the offset for the active region 31 as the output terminal O l An electrode wiring portion 33a and eight drain electrode portions 33b of the same pitch branched in a comb-like shape from the electrode wiring portion 33a
It is composed of One end of the offset polysilicon gate G OS1 is in conductive contact with the offset gate wiring 34 to which the offset gate signal OSl is to enter via a contact hole h. The polysilicon gate G 8 of the central transistor F T8 is connected to the first gate line 35 to receive the gate signal S 11 by transistors F T4 and F T4 .
T12 polysilicon gate G 4 of, G 12 to the second gate line 36 to receive a gate signal S 12, the transistors F T2,
The polysilicon gates G 2 , G 6 , G of F T6 , F T10 , F T14
10, G 14 the third gate line 37 to receive a gate signal S 13, further transistors F T1, F T3, F T5 , F T7, F
T9, F Tll, F T13, F T15 of the polysilicon gate G l, G
3, G 5, G 7, G 9, G ll, G 13, G 15 is the gate signal S 14
Are respectively connected to the fourth gate wirings 38 to be input.

【0050】具体的に、第1〜第4ゲート配線35〜3
8と各トランジスタとの接続構造を述べると、中央のト
ランジスタFT8と第1ゲート配線35の接続構造は図8
(a)に示す構造である。即ち、トランジスタFT8は、
N型半導体基板に拡散形成されたP型のソース領域及び
ドレイン領域に挟まれたチャネル領域chと、基板表面
にゲート酸化膜39を介して形成されたポリシリコンゲ
ートG8とを有しており、ポリシリコンゲートG8の上に
は層間絶縁膜40を介して第1層配線g8が形成され、
これにはコンタクトホールhを介してポリシリコンゲー
トG8が導電接触すると共に他のコンタクトホールhを
介して層間絶縁膜41上の第2層配線としての第1ゲー
ト配線35に導電接触している。トランジスタFT8の図
7示の右に隣接するトランジスタFT7のポリシリコンゲ
ートG7は、図8(b)に示すように、層間絶縁膜40
上の第1層配線g7にコンタクトホールhを介して導電
接触しており、第1層配線g7はコンタクトホールhを
介して第2層配線としての第4ゲート配線38に導電接
続している。また、トランジスタFT6のポリシリコンゲ
ートG6も図8(c)に示すようにコンタクトホール
h,第1層配線g6及びコンタクトホールhを介して第
2層配線の第3ゲート配線37に接続されており、更に
トランジスタFT4のポリシリコンゲートG4も図8
(d)に示すようにコンタクトホールh,第1層配線g
4及びコンタクトホールhを介して第2層配線の第2ゲ
ート配線36に接続されている。なお、42は保護膜で
ある。
More specifically, the first to fourth gate wirings 35 to 3
8 and the connection structure of each transistor will be described. The connection structure of the central transistor F T8 and the first gate wiring 35 is shown in FIG.
This is the structure shown in FIG. That is, the transistor F T8 is
It has a channel region ch sandwiched between a P-type source region and a drain region diffusedly formed in an N-type semiconductor substrate, and a polysilicon gate G 8 formed on the substrate surface via a gate oxide film 39. the first layer wiring g 8 via the interlayer insulating film 40 is formed on the polysilicon gate G 8 is formed,
In this case, the polysilicon gate G 8 is in conductive contact via the contact hole h, and is in conductive contact with the first gate wire 35 as a second layer wire on the interlayer insulating film 41 via another contact hole h. . Polysilicon gate G 7 of the transistor F T7 adjacent to FIG. 7 shows the right transistor F T8, as shown in FIG. 8 (b), an interlayer insulating film 40
The first layer wiring g 7 above in contact conductive through the contact hole h, first layer wiring g 7 is conductively connected to the fourth gate line 38 as a second layer wiring through a contact hole h I have. Also, the polysilicon gate G 6 of the transistor FT 6 is connected to the third gate wiring 37 of the second layer wiring via the contact hole h, the first layer wiring g 6 and the contact hole h as shown in FIG. 8C. are further also the polysilicon gate G 4 of transistors F T4 8
As shown in (d), the contact hole h and the first layer wiring g
4 and the contact hole h are connected to the second gate wiring 36 of the second layer wiring. In addition, 42 is a protective film.

【0051】ここで、第1〜第4ゲート配線35〜38
(信号Sll〜S14)とトランジスタFTl〜FT15との接
続関係は以下に掲げる表1の通りである。
Here, the first to fourth gate wirings 35 to 38
Connection relationship (signal S ll to S 14) and transistor F Tl to F T15 are shown in Table 1 listed below.

【0052】[0052]

【表1】 [Table 1]

【0053】即ち、4ビット並列信号の第1桁目の信号
llを受けるべき第1ゲート配線35に接続されたトラ
ンジスタはトランジタFT8で、それはトランジスタ配列
構造の中心に位置している。また4ビット並列信号の第
2桁目の信号S12を受けるべき第2ゲート配線36に接
続されたトランジスタはトランジスタFT4とFT12で、
この2つのトランジスタFT4,FT12は中心のトランジ
スタFT8に対して左右対称配置にある。更に4ビット並
列信号の第3桁目の信号S13を受けるべき第3ゲート配
線に接続されたトランジスタはトランジスタFT2
T6,FT10,FT14で、このうちトランジスFT6,F
T10は中心のトランジスタFT8に対して左右対称配置に
あり、トランジスタFT2,FT14も中心のトランジスタ
T8に対して左右対称配置にある。更にまた4ビット並
列信号の4桁目の信号S14を受けるべき第4ゲート配線
に接続されたトランジスタはトランジタFTl,FT3,F
T5,FT7,FT9,FTll,FT13,FT15であり、トラン
ジスタFTlとFT15,トランジスタFT3とFT13,トラン
ジスタFT5とFTll,及びトランジスタFT7とFT9は夫
々中心のトランジスタFT8に対して左右対称配置の関孫
にある。このような第1ゲート信号S11受けるトランジ
スタを配列中心としながら、他のトランジスタを左右対
称に配置した意義は次の通りである。
[0053] That is, the transistor connected to the first gate line 35 to receive the first digit of the signal S ll of 4-bit parallel signals in Toranjita F T8, it is located in the center of the transistor array structure. Also connected transistor to the second gate line 36 to receive the second digit of the signal S 12 of 4-bit parallel signals by the transistors F T4 and F T12,
The two transistors F T4 and F T12 are arranged symmetrically with respect to the center transistor F T8 . Further 4 third digit transistors connected to the third gate line to receive a signal S 13 of the bit parallel signal transistors F T2,
F T6 , F T10 and F T14 , of which the transistors F T6 and F T6
T10 is symmetrically arranged with respect to the center transistor FT8 , and transistors FT2 and FT14 are also symmetrically arranged with respect to the center transistor FT8 . Furthermore the transistors connected to the fourth gate wiring to receive the signal S 14 of the fourth digit of the 4-bit parallel signals Toranjita F Tl, F T3, F
T5 , F T7 , F T9 , F Tll , F T13 , and F T15 , where the transistors F Tl and F T15 , the transistors F T3 and F T13 , the transistors F T5 and F Tll , and the transistors F T7 and F T9 are respectively central. in Sekimago symmetrical arrangement with respect to the transistor F T8. While such a first gate signal S 11 receives transistor array center, meaning placing the other transistors symmetrically is as follows.

【0054】トランジスタFTl〜FT15が同一形状で同
一ピッチの配列で形成されると、各トランジスタの電流
容量はほぼ同一と期待される。しかしながら、半導体製
造プロセスの実際においては、例えば各ポリシリコンゲ
ートGl〜G15のプラズマエッチングでは、完全に同一
形状とはならず、マスクずれなどのアライメント精度に
より電流容量のバラツキが不可避的に発生する。電流容
量のバラツキ分布はトランジスタ配列方向についてほぼ
単調性があると経験上見い出されており、ここでは直線
的な勾配があると仮定して考察を進める。図9に示すよ
うに、トランジスタFTl〜FT15の電流容量が配列の一
端から他端にかけて直線的に減少しているとする。そし
てトランジスタFTlが第1ゲート信号Sllに、トランジ
スタFT2〜FT3が第2ゲート信号S12に、トランジスタ
T4〜FT7が第3ゲート信号S13に、及びトランジスタ
T9〜FT15が第4ゲート信号S14によりオン/オフ制
御されるとする。即ち、4ビット並列信号の各桁信号に
接続するトランジスタが相隣接しているとする。かかる
接続関係において、4ビット並列信号(S14,S13,S
12,S11)が単調増加する場合の出力電流値の推移を考
察すると、トランジスタがPチャネルであるから、ゲー
ト信号がLレベルのときを2進で1とし、Hレベルのと
きを2進で0とすれば、4ビット並列信号は0001か
ら1111まで変化する.0001から0111までの
間は、図9に示すように出力電流値が単調増加する。し
かし、1000のときの出力電流値は0111のときの
それより低い値をとり、ここで単調増加性が崩れる。即
ち、3連続の桁上げの起こる時点で出力電流値の最大の
レベル落ちが発生する。図9に示す例は、トランジスタ
の電流容量の勾配が比較的大きいときを示しており、1
001,1010のときの出力電流値も0111のとき
のそれ以下となっている。
When the transistors F Tl to F T15 are formed in the same shape and at the same pitch, the current capacity of each transistor is expected to be substantially the same. However, in the actual semiconductor manufacturing process, for example, the plasma etching of each of the polysilicon gates G 1 to G 15 does not completely have the same shape, and variations in current capacity inevitably occur due to alignment accuracy such as mask shift. I do. It has been empirically found that the variation distribution of the current capacity has a substantially monotonic property in the transistor array direction. Here, the discussion will proceed assuming that there is a linear gradient. As shown in FIG. 9, it is assumed that the current capacity of the transistors F T1 to F T15 decreases linearly from one end to the other end of the array. And the transistor F Tl is the first gate signal S ll, the transistors F T2 to F T3 second gate signal S 12, the transistors F T4 to F T7 third gate signal S 13, and transistor F T9 to F T15 There is to be turned on / off controlled by the fourth gate signal S 14. That is, it is assumed that transistors connected to each digit signal of the 4-bit parallel signal are adjacent to each other. In such a connection relationship, the 4-bit parallel signals (S 14 , S 13 , S
12 , S 11 ) when the output current value changes monotonically, considering that the transistor is a P-channel transistor, the gate signal is binary 1 when the gate signal is low and binary when the gate signal is high. If it is set to 0, the 4-bit parallel signal changes from 0001 to 1111. During the period from 0001 to 0111, the output current value monotonically increases as shown in FIG. However, the output current value at the time of 1000 takes a lower value than that at the time of 0111, and here the monotonic increase property is broken. In other words, the maximum level drop of the output current value occurs at the time when three consecutive carry occurs. The example shown in FIG. 9 shows a case where the gradient of the current capacity of the transistor is relatively large.
The output current value at 001 and 1010 is also lower than that at 0111.

【0055】このように、トランジスタの電流容量のバ
ラツキはDACの出力電流値のレベル落ちを誘発し、単
調性が局部的に損なわれる。ここで、出力電流のレベル
落ちを抑えるトランジスタの電流容量のバラツキの許容
度を定量的に考察する。図9に示す電流容量のバラツキ
特性直線を、
As described above, the variation in the current capacity of the transistor causes a drop in the level of the output current value of the DAC, and the monotonicity is locally impaired. Here, the tolerance of the variation in the current capacity of the transistor that suppresses the level drop of the output current will be quantitatively considered. The current characteristic variation characteristic line shown in FIG.

【0056】[0056]

【数4】 IN=IO−△I・N ・・・(2) とおく。但しIOは定数、Nはトランジスタの配列左端
からの順番、△Iは隣接するピッチ間の電流容量の変化
値を現わす。例えば、トランジスタFTlの電流容量は、
[Number 4] I N = I O - △ I · N put the ... (2). Where I O is a constant, N is an order from the left end of the transistor array, and ΔI is a change in current capacity between adjacent pitches. For example, the current capacity of the transistor F Tl is

【0057】[0057]

【数5】 Il=IO−△I ・・・(3) で、トランジスタFT15の電流容量は、[Equation 5] I l = I O − △ I (3) where the current capacity of the transistor F T15 is

【0058】[0058]

【数6】 I15=IO−15△I ・・・(4) で与えられる。4ビット並列人力のDACにおいて、最
もレベル落ちの危険性のあるところは、0111−10
00の推移時点である。そこで、そのレベル落ちの発生
しない条件は次式で与えられる。
[6] I 15 = I O -15 △ is given by I ··· (4). In a 4-bit parallel human-powered DAC, the most danger of level drop is 0111-10.
00 is the transition point. Therefore, a condition under which the level drop does not occur is given by the following equation.

【0059】[0059]

【数7】 (Equation 7)

【0060】即ちThat is,

【0061】[0061]

【数8】 △I<IO/64 ・・
・(6)つまり、隣接するトランジスタ相互の電流容量
の変化値△Iは隣接するトランジスタの電流容量に対し
て的1.5%(≒1/64×100)未満でなければ、
出力電流のレベル落ちを起こす。勿論、4ビットでな
く、それ以上の多ビットのDACを誤動作なく正規に機
能させるためには、上記%よりも更に微小の変化値でな
ければならない。ところが、この変化値は製造プロセス
上不可避的に発生するものであり、プロセス制御を厳格
にしても、ウェア単位又はチップ単位で必然的に生じて
しまう。
[Expression 8] ΔI <I O / 64 ···
(6) That is, unless the change value ΔI of the current capacity between adjacent transistors is less than 1.5% (≒ 1/64 × 100) of the current capacity of the adjacent transistor,
The output current level drops. Needless to say, in order to allow a multi-bit DAC having four bits or more and functioning properly without malfunction, the change value must be smaller than the above-mentioned%. However, such a change value is inevitably generated in the manufacturing process. Even if the process control is strict, it is inevitably generated in a wear unit or a chip unit.

【0062】そこで、本実施例では前述のように、4ビ
ットの第1桁目をゲート入力SllとするトランジスタF
T8を配列中心に置き、第2桁目以上の同一桁をゲート入
力とするトランジスタを左右対称に配置した接続構造が
採用されている。この接続構造においては、勿論、製造
プロセス上でトランジスタ相互の電流容量のバラツキは
不可避的に発生するものの、図10に示すように、中心
のトランジスタFT8の電流容量をiとすれば、ゲート入
力信号の単調増加に対して出力電流が電流値iの単位で
単調増加する。即ち、第2ゲート信号S12に対してオン
するトランジスタはFT4とFT12で、それらから出力さ
れる総電流値は2iである。また第3ゲート信号S13
よりオンするトランジスタはFTlとFT15,FT3
T13,FT5とFT11,及びFT7とFT9であり、それら
から出力される総電流値は8iである。各ゲート信号に
よりオンする左右対称位置にある一対のトランジスタの
電流容量は配列中心のトランジスタFT8の電流容量iに
対して±△iの変化値をとるが、それらの加算値は、±
△iの変化値が好都合にも相殺されるため電流容量iの
2倍である2iと必ずなる。即ち、上記の如き接続構造
によれば、トランジスタ相互の電流容量の製造プロセス
依存によるバラツキを解消ないし綾和することができ、
出力電流の入力信号に射する線形性ないし単調性が保証
されることになる。
Therefore, in this embodiment, as described above, the transistor F having the first digit of 4 bits as the gate input Sll is used.
A connection structure is adopted in which T8 is placed at the center of the array and transistors having the same digit as the second digit or more as gate inputs are symmetrically arranged. In this connection structure, of course, variations in the current capacity of the transistors inevitably occur in the manufacturing process. However, as shown in FIG. 10, if the current capacity of the central transistor F T8 is i, the gate input As the signal increases monotonically, the output current monotonically increases in units of the current value i. That is, the transistor is turned on with respect to the second gate signal S 12 is F T4 and F T12, the total current value that is output from them is 2i. The transistor which is turned on by the third gate signal S 13 is F Tl and F T15, F T3 and F T13, FT 5 and F T11, and an F T7 and F T9, the total current value that is output from them with 8i is there. The current capacity of the pair of transistors at the left-right symmetrical position turned on by each gate signal takes a change value of ± △ i with respect to the current capacity i of the transistor FT8 at the center of the array.
Since the change value of Δi is canceled out conveniently, it always becomes 2i which is twice the current capacity i. That is, according to the connection structure as described above, the variation due to the manufacturing process of the current capacity between the transistors can be eliminated or reduced.
The linearity or monotonicity of the output current applied to the input signal is guaranteed.

【0063】ところで、上記電流容量のバラツキ特性は
いままで直線性がある仮定して考察して来た。これは多
くの場合に適用し得る妥当性のあるものであるが、更に
一般化されたバラツキ特性としてはトランジスタ配列方
向の両端間において極値をとらない2次曲線の単調曲線
の場合と考えられる。かかる場合、図11に示す如く、
出力電流の線形性は若干損なわれるが、少なくとも単調
性は保証される。この特性を有するDACを使用して
も、補正データ信号即ちゲート信号を可変することで、
LEDの発光強度の補正が容易に実現されることは云う
迄もない。
The variation characteristics of the current capacity have been considered on the assumption that there is linearity. Although this is valid in many cases, a more generalized variation characteristic is considered to be a monotone curve of a quadratic curve having no extreme value between both ends in the transistor arrangement direction. . In such a case, as shown in FIG.
Although the linearity of the output current is slightly impaired, at least monotonicity is guaranteed. Even if a DAC having this characteristic is used, by changing the correction data signal, that is, the gate signal,
It goes without saying that correction of the light emission intensity of the LED is easily realized.

【0064】図12は別の電界効果トランジスタ配列と
ゲート信号との接続関係を示す回路図である。
FIG. 12 is a circuit diagram showing a connection relationship between another field effect transistor array and a gate signal.

【0065】DACを構成する電界効果トランジスタ配
列は30個のトランジスタFTl〜FT30を同一形状で一
方向同一ピッチの平行移動配列として作り込まれてい
る。この配列において隣接する一対のトランジスタ同士
のゲートが接続されている。即ち、この配列において、
(FTl,FT2)、(FT3,FT4)、(FT5,FT6)、
(FT7,FT8)、(FT9,FT10)、(FTll
T12)、(FTl3,FTl4)、(FT15,FTl6)、(F
T17,FT18)、(FT19,FT20)、(FT21,FT22)、
(FT23,FT24)、(FT25,FT26)、(FT27
T28)、(FT29,FT30)の組がトランジスタの電流
容量の2倍の電流容量を待つ単位スイッチング部として
夫々作用する。中心に位置する組(FT15,FT16)はゲ
ート信号Sllを入力とする。この中心の組(FT15,F
T16)を対称軸としてこれに左右対称に各組がゲート信
号S12,S13,S14を入力としている。即ち、組(F
T13,FT14)、(FT17,FT18)はゲート信号S14に、
組(FTll,FT12)、(FT19,FT20)はゲート信号S
13に、組(FT9,FT10)、(FT21,FT22)はゲート
信号S14に、組(FT7,FT8)、(FT23,FT24)はゲ
ート信号S12に、組(FT5,FT6)、(FT25,FT26
はゲート信号S14に、組(FT3,FT4)、(FT27,F
T28)はゲート信号S13に、組(FT1,FT2)、
(FT29,FT30)はゲート信号S14、夫々接続されてい
る。単一のトランジスタでなく、隣接する複数のトラン
ジスタを1単位とする単位トランジスタ部であっても、
DAC機能は図4に示す回路構成と実質上同一である。
ただ、トランジスタ配列構成上、チャネル幅を短くする
代わりにトランジスタの個数を増加させることにより、
出力パッド・ピッチ間が狭い場合でもDACを限られた
スペース内に作り込む自由度が増す。なお、図12に示
すDACの出力電流は図13に示すように線形特性を有
する。なお、3個以上のトランジスタを一組としても良
い。
In the field effect transistor array constituting the DAC, 30 transistors FT1 to FT30 are formed as a parallel displacement array having the same shape and the same pitch in one direction. In this arrangement, the gates of a pair of adjacent transistors are connected. That is, in this sequence:
(F Tl , F T2 ), (F T3 , F T4 ), (F T5 , F T6 ),
(F T7 , F T8 ), (F T9 , F T10 ), (F Tll ,
F T12 ), (F Tl3 , F Tl4 ), (F T15 , F Tl6 ), (F
T17 , FT18 ), ( FT19 , FT20 ), ( FT21 , FT22 ),
(F T23 , F T24 ), (F T25 , F T26 ), (F T27 ,
The set of F T28 ) and (F T29 , F T30 ) respectively functions as a unit switching unit that waits for a current capacity twice the current capacity of the transistor. The set (F T15 , F T16 ) located at the center receives the gate signal Sll . This center set ( FT15 , F
Each set T16) symmetrically thereto as a symmetrical axis is the input gate signal S 12, S 13, S 14 . That is, the set (F
T13 , F T14 ) and (F T17 , F T18 ) are added to the gate signal S 14 ,
The pairs (F Tll , F T12 ) and (F T19 , F T20 ) are gate signals S
13, the set (F T9, F T10), the (F T21, F T22) is the gate signal S 14, the set (F T7, F T8), (F T23, F T24) to the gate signal S 12, the set ( FT5 , FT6 ), ( FT25 , FT26 )
The gate signal S 14, the set (F T3, F T4), (F T27, F
T28) to the gate signal S 13, the set (F T1, F T2),
(F T29 , F T30 ) are connected to the gate signal S 14 , respectively. Even if it is not a single transistor but a unit transistor unit having a plurality of adjacent transistors as one unit,
The DAC function is substantially the same as the circuit configuration shown in FIG.
However, by increasing the number of transistors instead of shortening the channel width due to the transistor array configuration,
Even when the distance between the output pad and the pitch is narrow, the degree of freedom to form the DAC in a limited space increases. The output current of the DAC shown in FIG. 12 has a linear characteristic as shown in FIG. Note that three or more transistors may be set as one set.

【0066】図14はまた別の電界効果トランジスタ配
列とゲート信号との接続関係を示す回路図である。
FIG. 14 is a circuit diagram showing a connection relationship between another field effect transistor array and a gate signal.

【0067】このDACにおいても、30個のトランジ
スタFT1〜FT30が同一形状で一方向同一ピッチの平行
移動配列として作り込まれている。またこの配列におい
ても、一対のトランジスタが単位スイッチング部として
作用するが、図12に示すトランジスタ配列とゲート信
号の接続関係とは異なり、配列の中心部におけるトラン
ジスタFT15,FT16を除き、隣接するトランジスタ同士
は組としての単位スイッチング部を構成せず、隣接する
トランジスタが異なる桁のゲート信号を入力する。図1
4中のカツコ内に示す数字はゲート信号の桁番を現わす
が、配列中心部に位置するトランジスタFT15,FT16
ゲート信号S14を、トランジスタFT14,FT17はゲート
信号S13を、トランジスタFT13,FT18はゲート信号S
14を、トランジスタFT12,FT19はゲート信号S12を、
トランジスタFT11,FT20はゲート信号S14を、トラン
ジスタFT10,FT21はゲート信号S13を、トランジスタ
T9,FT22はゲート信号S14を、トランジスタFT8
T23はゲート信号Sllを、トランジスタFT7,FT24
ゲート信号S14を、トランジスタFT6,FT25はゲート
信号S13を、トランジスタFT5,FT26はゲート信号S
14を、トランジスタFT4,FT27はゲート信号S12を、
トランジスタFT3,FT28はゲート信号S14を、トラン
ジスタFT2,FT29はゲート信号S13を、トランジスタ
Tl,FT30はゲート信号S14を、夫々入力する。上記
の各対は中心部のトランジスタFT15,FT16の重心位置
(平均位置)に対して左右対称に配置されている。この
トランジスタ配列とゲート信号との接続関係を明白にす
るため、上記の重心の概念を敷衍する。図15に示すよ
うに、トランジスタ配列(FTl〜FT30)は同一ピッチ
Pで一方向に列設されており、各トランジスタの位置は
それが入力とするゲート信号の桁番(1〜4)で現わし
てある。第1桁目を入力とする一対のトランジスタ(F
T8,FT23)の重心(平行位置)はトランジスタ配列長
さの中心にある。そして、トランジスタFT8とFT23
の距離は15Pを1つずつずらしながら一対のトランジ
スタの重心を求めると、重心の数は15で、各重心が属
する桁番の順序は、4→3→4→2→4→3→4→1→
4→3→4→2→4→3→4,である。この順序パター
ンは図4に示す実施例と同一である。かかる接続関係の
意義は、トランジスタ電流容量のバラツキ特性がトラン
ジスタ配列長さに亘りほぼ一様な勾配をもたず、その途
中で極値を取る場合に対しても出力電流の単調性を保証
するためである。例えば、図16に示すように、トラン
ジスタ電流容量のバラツキ特性がトランジスタ配列長さ
のほぼ中央で最小値をもつ場合を考察すると、第1桁目
を入力するトランジスタFT8,FT23同士が距離15P
だけ相離間して形成されているのでその電流容量の総和
はバラツキ特性平均値の総和に一層近い。なぜなら、バ
ラツキ特性のサンプリングにおいては、隔たりがなく、
より広範なサンプリング間隔でバラツキ特性値を総和す
る傾向をもつからである。勿論、第1桁目を入力とする
トランジスタがFT8,FT23の2個だけでなく、更に多
数個であれば、多様なバラツキ特性に対しても精度良く
単調性のある出力電流特性が得られ、DACの歩留りの
向上が一層期待される。
Also in this DAC, 30 transistors F T1 to F T30 are formed in a parallel movement array having the same shape and the same pitch in one direction. Also in this arrangement, a pair of transistors functions as a unit switching unit, but is different from the connection relation between the transistor arrangement and the gate signal shown in FIG. 12, except for the transistors F T15 and F T16 at the center of the arrangement. Transistors do not form a unit switching unit as a set, and adjacent transistors input gate signals of different digits. FIG.
The numbers shown in Katsuko in 4 reveal digit number of the gate signal, but the transistor F T15, F T16 located in SEQ center gate signals S 14, the transistors F T14, F T17 gate signal S 13 , The transistors F T13 and F T18 receive the gate signal S
14 , the transistors F T12 and F T19 output the gate signal S 12 ,
The transistors F T11, F T20 gate signals S 14, the transistors F T10, F T21 gate signals S 13, the transistors F T9, F T22 is a gate signal S 14, the transistor F T8,
F T23 is a gate signal S ll, the transistors F T7, F T24 gate signals S 14, the transistors F T6, F T25 is a gate signal S 13, the transistors F T5, F T26 gate signals S
14, transistors F T4, F T27 is a gate signal S 12,
The transistors F T3, F T28 gate signals S 14, the transistors F T2, F T29 is a gate signal S 13, the transistors F Tl, F T30 is a gate signal S 14, respectively input. The above pairs are arranged symmetrically with respect to the center of gravity (average position) of the central transistors F T15 and F T16 . In order to clarify the connection relationship between the transistor arrangement and the gate signal, the concept of the center of gravity will be extended. As shown in FIG. 15, the transistor arrangements (F Tl to F T30 ) are arranged in one direction at the same pitch P, and the position of each transistor is determined by the digit number (1 to 4) of the gate signal input thereto. It is shown in. A pair of transistors (F
The center of gravity (parallel position) of ( T8 , F T23 ) is at the center of the transistor array length. When the distance between the transistors F T8 and F T23 is calculated by shifting the center of gravity of a pair of transistors while shifting 15P one by one, the number of centers of gravity is 15, and the order of the digit number to which each center of gravity belongs is 4 → 3 → 4. → 2 → 4 → 3 → 4 → 1 →
4 → 3 → 4 → 2 → 4 → 3 → 4. This order pattern is the same as the embodiment shown in FIG. The significance of such a connection relationship is that the variation characteristics of the transistor current capacity do not have a substantially uniform gradient over the length of the transistor array, and monotonicity of the output current is guaranteed even when an extreme value is obtained in the middle. That's why. For example, as shown in FIG. 16, when considering the case where the variation characteristic of the transistor current capacity has a minimum value substantially at the center of the transistor array length, the transistors FT8 and FT23 inputting the first digit have a distance of 15P.
, The sum of the current capacities is closer to the sum of the variation characteristic average values. Because there is no gap in the sampling of variation characteristics,
This is because the dispersion characteristic values tend to be summed over a wider sampling interval. Of course, if the number of transistors having the first digit as an input is not only two, ie, F T8 and F T23 , but also a large number of transistors, a monotonous output current characteristic can be obtained with high accuracy even for various variations. Therefore, improvement in the yield of DAC is further expected.

【0068】[0068]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、被駆動
素子に一対一に対応するスイッチング手段として、互い
にほぼ同等の電流容量を持つN個の単位スイッチング部
を並列接続した電流合成回路を設けたものであるから、
次の効果を奏する。
As described above, the present invention provides a current combining circuit in which N unit switching units having substantially the same current capacity are connected in parallel as switching means corresponding to driven elements on a one-to-one basis. Because it is provided
The following effects are obtained.

【0069】 N個の単位スイッチング部を夫々同時
的にオン・オフ制御できるので、被駆動素子に供給され
る電流は一定値でなく、離散的にN段階の値を持つ。し
たがって、各被駆動素子間に出力値のバラツキがあって
も、供給電流を増減調節できるのですべての被駆動素子
の出力値のバラツキを一定時間のうちに高精度の補正を
することが可能となった。これにより、短時間印字又は
表示が達成されると共に、補正データ信号の生成し直し
等がなくなり、回路構成の簡略化も実現される。また逆
に、1ライン印字又は表示のうちで各ドット単位の階調
制御を独立的に実現できる。
Since the N unit switching units can be simultaneously turned on / off simultaneously, the current supplied to the driven element is not a constant value but has discrete N-stage values. Therefore, even if there is a variation in the output value between the driven elements, the supply current can be increased or decreased, so that the variation in the output value of all the driven elements can be corrected with high accuracy within a fixed time. became. As a result, printing or display in a short time is achieved, re-generation of the correction data signal is eliminated, and simplification of the circuit configuration is also realized. Conversely, tone control for each dot in one-line printing or display can be realized independently.

【0070】 更に、それらN個の単位スイッチング
部をn個の群に区分けして第i群に属する単位スイッチ
ング部の個数を2i-1個としながら、第i群に属するす
べての単位スイッチング部をnビット・ディジタル制御
信号の第1桁目に対応接続させた場合には、制御信号線
の本数を最小限に抑えることができ、回路構成上及び半
導体レイアウト上においてもスペースの節約が図れる。
それ故、チップサイズの縮小化により実用的な集積回路
化が達成される。
Further, while dividing the N unit switching units into n groups and setting the number of unit switching units belonging to the ith group to 2 i−1 , all unit switching units belonging to the ith group Is connected to the first digit of the n-bit digital control signal, the number of control signal lines can be minimized, and space can be saved in circuit configuration and semiconductor layout.
Therefore, a practical integrated circuit can be achieved by reducing the chip size.

【0071】 また、第1群に属する単位スイッチン
グ部をトランジスタ平行移動配列の中心におき、これを
対称軸としてその対称軸から配列の両端側へ1つずつ遠
ざかる位置に、n→n−1→n→n−2→n→・・・→
n→2→n→・・・→n→n−2→n→n−1→n,の
如き順の群パターンで単位スイッチング部を配列した場
合には、配列方向に各電流容量のバラツキが線形的勾配
を呈するときであっても、各群の単位スイッチング部の
総電流容量は中心部の単位スイッチング部の電流容量
(平均的電流値)と単位スイッチング部の個数の積に等
しいので、nビット・ディジタル制御信号のディジタル
値に対して出力電流値が高精度の線形性を示す。このた
め、ディジタル値の連続桁上げの際に生じる出力電流値
のレベル落ちが有効的に防止される。それ故、集積回路
の歩留りの向上が達成される。
Further, the unit switching units belonging to the first group are placed at the center of the transistor translation array, and this is set as a symmetry axis, and at a position away from the symmetry axis to both ends of the array one by one, n → n−1 → n → n-2 → n → ... →
When the unit switching units are arranged in a group pattern in the order of n → 2 → n →... n → n−2 → n → n−1 → n, the variation of each current capacity in the arrangement direction is reduced. Even when exhibiting a linear gradient, the total current capacity of the unit switching units in each group is equal to the product of the current capacity (average current value) of the central unit switching unit and the number of unit switching units. The output current value shows highly accurate linearity with respect to the digital value of the bit digital control signal. For this reason, a drop in the level of the output current value that occurs at the time of successive carry of digital values is effectively prevented. Therefore, an improvement in the yield of the integrated circuit is achieved.

【0072】 単位スイッチング部を2個以上のトラ
ンジスタで構成し、異なる群に属するトランジスタ同士
を相隣接して同一の群に属するトランジスタ同士を相離
間させたトランジスタ配列形式を採用する場合におい
て、配列の中心に第1群に属する2個以上のトランジス
タの重心、(平均位置)を置き、この重心を対称軸とし
てその軸から配列の両端側へ1つずつ遠ざかる方向に、
同一の群に属するトランジスタの2個以上のトランジス
タ重心が、n→n−1→n→n−2→n→・・・→n→
2→n→・・・→n→n−2→n→n−1の如き順で群
パターンをとるように配列されているときには、各単位
スイッチング部の電流容量が配列範囲内に分離的に配置
された複数のトランジスタの電流容量の総和となり、ト
ランジスタ電流容量のバラツキ分布の中からより広範に
電流容量をサンプリングする形であるから、バラツキ分
布が線形的勾配をもつ場合に限らず、例えば配列中心点
近傍に極値をもつバラツキ分布に対しても、ディジタル
入力と出力電流との線形性を確実に示す。
In a case where the unit switching section is configured by two or more transistors, and transistors belonging to different groups are adjacent to each other and transistors belonging to the same group are separated from each other, a transistor arrangement form is adopted. The center of gravity (average position) of two or more transistors belonging to the first group is placed at the center, and the center of gravity is set as a symmetry axis in a direction away from the axis to both ends of the array one by one,
The center of gravity of two or more transistors belonging to the same group is n → n−1 → n → n−2 → n →.
.., N → n−2 → n → n−1, the current capacity of each unit switching unit is separated within the array range. It becomes the sum of the current capacities of the arranged transistors, and the current capacity is sampled more widely from the variation distribution of the transistor current capacity.Therefore, the arrangement is not limited to the case where the variation distribution has a linear gradient, for example, an array. The linearity between the digital input and the output current is reliably shown even for a variation distribution having an extreme value near the center point.

【0073】 オフセット用トランジスタが付設され
ている場合には、被駆動素子に対する出力電流の更なる
微小補正が可能となる。
In the case where the offset transistor is provided, further fine correction of the output current to the driven element can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る多出力電流供給用集積回路をLE
Dプリンタ駆動回路に適用した実施例を示すブロック図
である。
FIG. 1 shows an integrated circuit for supplying multiple outputs according to the present invention.
FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment applied to a D printer driving circuit.

【図2】同実施例におけるLEDプリンタヘッド駆動用
集積回路を詳細に示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing in detail an integrated circuit for driving an LED printer head in the embodiment.

【図3】同実施例における制御及びレベルシフト回路を
詳細に示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a control and level shift circuit in the embodiment in detail;

【図4】同実施例における電流合成回路を示す回路図で
ある。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a current combining circuit in the embodiment.

【図5】同実施例の動作を説明するための各信号のタイ
ミングチャート図である。
FIG. 5 is a timing chart of each signal for explaining the operation of the embodiment.

【図6】同実施例におけるLEDプリンタヘッド駆動用
集積回路のチップレイアウトを示す概略平面図である。
FIG. 6 is a schematic plan view showing a chip layout of the LED printer head driving integrated circuit in the embodiment.

【図7】同実施例における電流合成回路の半導体構造を
示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a semiconductor structure of the current combining circuit in the embodiment.

【図8】(a),(b),(c),(d)は夫々図7中
のVIIIa−VIII′ a線,VIIIb−VIII′ b線,VIII
c−VIII′ c線及びVIIId−VIII′ d線に沿って切
断した切断図である。
8 (a), (b), (c) and (d) are VIIIa-VIII'a line, VIIIb-VIII'b line and VIII line in FIG. 7, respectively.
It is the cutting figure cut | disconnected along c-VIII 'c line and VIIId-VIII' d line.

【図9】ディジタル・アナログ変換回路(DAC)につ
いて、配列されたトランジスタの電流容量の線形的バラ
ツキ特性と、ゲート信号入力線に対するトランジスタの
一般的接続関係の下でのディジタル入力信号に対する出
力電流の特性を示すグラフ図である。
FIG. 9 shows the linear variation characteristics of the current capacity of the arranged transistors and the output current with respect to the digital input signal under the general connection relation of the transistor to the gate signal input line for the digital-to-analog converter (DAC). It is a graph which shows a characteristic.

【図10】同実施例におけるDACについて、配列され
たトランジスタの電流容量の線形的バラツキ特性と、デ
ィジタル入力信号に対する出力電流の線形特性を示すグ
ラフ図である。
FIG. 10 is a graph showing a linear variation characteristic of a current capacity of arranged transistors and a linear characteristic of an output current with respect to a digital input signal in the DAC according to the embodiment.

【図11】同実施例におけるDACについて、配列され
たトランジスタの電流容量の単調的バラツキ特性と、デ
ィジタル入力信号に対する出力電流の単調的特性を示す
グラフ図である。
FIG. 11 is a graph showing a monotonic variation characteristic of a current capacity of arranged transistors and a monotonic characteristic of an output current with respect to a digital input signal in the DAC according to the embodiment.

【図12】同実施例における別のDACの構成例を示す
回路図である。
FIG. 12 is a circuit diagram showing a configuration example of another DAC in the embodiment.

【図13】同構成例について、配列されたトランジスタ
の電流容量の線形的バラツキ特性と、ディジタル入力信
号に対する出力電流の線形特性を示すグラフ図である。
FIG. 13 is a graph showing a linear variation characteristic of a current capacity of arranged transistors and a linear characteristic of an output current with respect to a digital input signal in the same configuration example.

【図14】同実施例におけるまた別のDACの構成例を
示す回路図である。
FIG. 14 is a circuit diagram showing a configuration example of another DAC in the embodiment.

【図15】同構成例においてトランジスタ配列のパター
ンを説明するための模式図である。
FIG. 15 is a schematic diagram for explaining a transistor arrangement pattern in the same configuration example.

【図16】同構成例について配列されたトランジスタの
中心点近傍において極値をもつ電流容量バラツキ特性
と、ディジタル入力信号に対する出力電流の単調特性を
示すグラフ図である。
FIG. 16 is a graph showing a current capacity variation characteristic having an extreme value near a center point of transistors arranged in the same configuration example, and a monotonic characteristic of an output current with respect to a digital input signal.

【図17】従来のLEDプリンタ駆動回路を示すブロッ
ク図である。
FIG. 17 is a block diagram showing a conventional LED printer driving circuit.

【図18】同従来例の動作を説明するため各信号のタイ
ミングチャート図である。
FIG. 18 is a timing chart of each signal for explaining the operation of the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…メインフレーム 2…主電源 11…マイクロプロセッサ 12…補正コード格納ROM 13…LEDプリンタヘッド駆動用集積回路 14…データ用シフトレジスタ部 14a…第1クロック端子 14b…データ端子 14−1〜14−m…Dフリップ・フロップ 15…ラッチ回路アレイ部 15−1〜15−m…ラッチ回路 15a…ラッチ端子 16…補正データ用シフトレジスタ部 16a…第2クロック端子 16b…補正データ端子 17…出力トランジスタ制御回路部 17−1〜17−m…制御及びレベルシフト回路 17a…イネーブル端子 18…出力トランジスタ部 18−1〜18−m…スイッチング回路(電流合成回
路) 18−1a…電流出力ディジタル・アナログ変換回路
(DAC) 19…LEDアレイ集積回路 19−1〜19−m…LED 20…感光ドラム 21−1〜21−m…論理制御回路部 22−1〜22−m…レベルシフト回路部 FOS1…オフセット用Pチャネル電界効果型トランジス
タ FT1〜FT30…Pチャネル電界効果トランジスタ Gl〜G15,GOS1…ポリシリコンゲート 30,31…アクティブ領域 32…ソース電極配線 33…ドレイン電極配線 34pl…パッド 34…オフセット用ゲート配線 35…第1ゲート配線 36…第2ゲート配線 37…第3ゲート配線 38…第4ゲート配線 39…ゲート酸化膜 40,41…層間絶縁膜 42…保護膜 50…入力論理部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Main frame 2 ... Main power supply 11 ... Microprocessor 12 ... Correction code storage ROM 13 ... LED printer head drive integrated circuit 14 ... Data shift register part 14a ... 1st clock terminal 14b ... Data terminal 14-1 to 14- m: D flip-flop 15: Latch circuit array unit 15-1 to 15-m: Latch circuit 15a: Latch terminal 16: Shift register unit for correction data 16a: Second clock terminal 16b: Correction data terminal 17: Output transistor control Circuit section 17-1 to 17-m Control and level shift circuit 17a Enable terminal 18 Output transistor section 18-1 to 18-m Switching circuit (current synthesis circuit) 18-1a Current output digital / analog conversion circuit (DAC) 19: LED array integrated circuit 19-1 to 1 9-m LED 20 Photosensitive drum 21-1 to 21-m Logical control circuit unit 22-1 to 22-m Level shift circuit unit F OS1 Offset P-channel field effect transistor F T1 to F T30 P-channel field-effect transistors G 1 to G 15 , G OS1 ... Polysilicon gates 30, 31... Active area 32... Source electrode wiring 33... Drain electrode wiring 34 pl . ... second gate wiring 37 ... third gate wiring 38 ... fourth gate wiring 39 ... gate oxide films 40 and 41 ... interlayer insulating film 42 ... protective film 50 ... input logic unit

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成11年1月19日[Submission date] January 19, 1999

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】発明の名称[Correction target item name] Name of invention

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【発明の名称】多出力電流供給用集積回路Patent application title: Integrated circuit for supplying multiple output currents

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【特許請求の範囲】[Claims]

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】各被駆動素子に対し電源からの電流供給を
継続制御すべきスイッチング手段を多数備えた多出力電
流供給用集積回路において、 各スイッチング手段が互いにはぼ同等の電流容量を持つ
N個の単位スイッチング部を並列接続した電流合成回路
であることを特徴とする多出力電流供給用集積回路。
1. A multi-output current supply integrated circuit comprising a plurality of switching means for continuously controlling the current supply from a power supply to each driven element, wherein each switching means has a current capacity almost equal to each other. An integrated circuit for supplying multiple output currents, wherein the integrated circuit is a current combining circuit in which a plurality of unit switching units are connected in parallel.
【請求項2】請求項第1項において、N個の前記単位ス
イッチング部のうちnビット・ディジタル制御信号の第
i桁目をスイッチング制御入力とする第i群に属するも
のの個数が、2i-1個, 【数1】 であることを特徴とする多出力電流供給用集積回路。
2. The method according to claim 1, wherein, among the N unit switching units, the number of units belonging to the i-th group having the i-th digit of the n-bit digital control signal as a switching control input is 2 i− One , [Equation 1] An integrated circuit for supplying multi-output current, characterized in that:
【請求項3】請求項第2項において、前記各単位スイッ
チング部が単一の電界効果型トランジスタ又は互いに隣
接した複数の電界効果型トランジスタの並列接続回路で
あることを特徴とする多出力電流供給用集積回路。
3. The multi-output current supply according to claim 2, wherein each unit switching unit is a single field-effect transistor or a parallel connection circuit of a plurality of field-effect transistors adjacent to each other. For integrated circuits.
【請求項4】請求項第3項において、N個の前記単位ス
イッチング部が互いに同一形状で一方向同一ピッチの平
行移動配列として作り込まれていることを特徴とする多
出力電流供給用集積回路。
4. The integrated circuit for supplying multiple output currents according to claim 3, wherein the N unit switching units are formed in a parallel movement array having the same shape and the same pitch in one direction. .
【請求項5】請求項第4項において、前記平行移動配列
の中心に、第1群に属する単位スイッチング部が位置し
ており、この第1群の単位スイッチング部を対称軸と
し、その対称軸から配列の両端側へ1つずつ遠ざかる位
置の単位スイッチング部が、n→n−1→n→n−2→
n→・・・→n→2→n→・・・→n→n−2→n→n
−1→nの如き順で左右対称の群パターンを形成するこ
とを特徴とする多出力電流供給用集積回路。
5. The unit switching unit according to claim 4, wherein a unit switching unit belonging to a first group is located at the center of the translation array, and the unit switching unit of the first group is set as a symmetric axis, and the symmetric axis is set. , The unit switching section at a position away from the array by one end at a time is n → n−1 → n → n−2 →
n → ・ ・ ・ → n → 2 → n → ・ ・ ・ → n → n-2 → n → n
1. A multi-output current supply integrated circuit, wherein a left-right symmetric group pattern is formed in the order of -1 → n.
【請求項6】請求項第2項において、前記各単位スイッ
チング部が左右対称に位置する2個以上の電界効果型ト
ランジスタの並列接続回路であり、異なる群に属する単
位スイッチング部の電界効果型トランジスタ同士が相隣
接していることを特徴とする多出力電流供給用集積回
路。
6. The field effect transistor according to claim 2, wherein each of said unit switching sections is a parallel connection circuit of two or more field effect transistors located symmetrically to each other, wherein said field switching transistors belong to different groups. An integrated circuit for supplying multiple output currents, wherein the integrated circuits are adjacent to each other.
【請求項7】請求項第6項において、すべての電界効果
型トランジスタが互いに同一形状で一方向同一ピッチの
平行移動配列として作り込まれていることを特徴とする
多出力電流供給用集積回路。
7. A multi-output current supply integrated circuit according to claim 6, wherein all the field effect transistors are formed in a parallel movement array having the same shape and the same pitch in one direction.
【請求項8】請求項第7項において、前記平行移動配列
の中心に、第1群に属する単位トランジスタ部の2個以
上の電界効果型トランジスタの重心(平均位置)があ
り、この重心を対称軸とし、その対称軸から配列の両端
側へ1つずつ遠ざかる方向に、同一の群に属する単位ト
ランジスタ部の2個以上の電界効果型トランジスタの重
心が、 n→n−1→n→n−2→n→・・・→n→2→n→・
・・→n→n−2→n→n−1→n の如き順で左右対称の群パターンを形成することを特徴
とする多出力電流供給用集積回路。
8. The method according to claim 7, wherein a center of gravity (average position) of two or more field-effect transistors of the unit transistor unit belonging to the first group is located at the center of the translation array. The center of gravity of two or more field-effect transistors of the unit transistor section belonging to the same group is defined as n → n−1 → n → n− in a direction away from the symmetry axis by one to each end of the array. 2 → n → ・ ・ ・ → n → 2 → n → ・
A multi-output current supply integrated circuit characterized in that a symmetrical group pattern is formed in the order of → n → n−2 → n → n−1 → n.
【請求項9】請求項第1項乃至第8項のいずれか1項に
おいて、前記の各スイッチング手段が前記電流合成回路
に並列接続したオフセット用電界効果型トランジスタ部
を少なくとも1つ備えていることを特徴とする多出力電
流供給用集積回路。
9. The switching device according to claim 1, wherein each of said switching means has at least one offset field-effect transistor section connected in parallel to said current synthesis circuit. An integrated circuit for supplying multiple output currents.
【請求項10】供電される電流値に応じて出力強度が単
調変化する複数の被駆動素子の駆動制御装置であって、 前記複数の被駆動素子を駆動するためのデータ信号を受
け取り、当該信号をラッチするデータラッチ手段と、 当該データラッチ手段によってラッチされた前記データ
信号及び当該データ信号を補正するために使用する補正
データ信号を受け取り、これらのデータ信号に基づい
て、補正済みのデータ信号を生成する補正済みデータ発
生手段と、 前記補正済みデータ信号によって制御されて、前記被駆
動素子を駆動するための多重レベルの電流を発生する電
流供給手段とを有し、 前記電流供給手段は、前記多重レベルの電流を前記被駆
動素子に供給するための複数のスイッチング手段を有
し、これらの各スイッチング手段は、ほぼ同等の電流容
量を有するN個の単位スイッチング部を並列接続して構
成された電流合成回路であることを特徴とする多数の素
子の駆動制御装置。
10. A drive control device for a plurality of driven elements whose output intensity monotonically changes according to a supplied current value, the data control apparatus receiving a data signal for driving the plurality of driven elements, and receiving the data signal. A data latch unit that latches the data signal, receives the data signal latched by the data latch unit and a correction data signal used to correct the data signal, and based on these data signals, generates a corrected data signal. And a current supply unit that generates a multi-level current for driving the driven element, the current supply unit being controlled by the corrected data signal. A plurality of switching means for supplying a multi-level current to the driven element, wherein each of these switching means is substantially the same. A drive control device for a large number of elements, wherein the drive control device is a current combining circuit configured by connecting N unit switching units having the same current capacity in parallel.
【請求項11】供電される電流値に応じて出力強度が単
調変化する複数の被駆動素子の駆動制御装置であって、 前記複数の被駆動素子を駆動するためのデータ信号を発
生するデータ信号発生手段と、 前記データ信号を補正するために使用される補正データ
信号を発生する補正データ信号発生手段と、 前記データ信号を受け取り、これを一時記憶するデータ
ラッチ手段と、 当該データラッチ手段によってラッチされた前記データ
信号及び前記補正データ信号を受け取り、これらのデー
タ信号に基づいて、補正済みのデータ信号を生成する補
正済みデータ発生手段と、 前記補正済みデータ信号によって制御されて、前記被駆
動素子を駆動するための多重レベルの電流を発生する電
流供給手段とを有し、 前記電流供給手段は、前記多重レベルの電流を前記被駆
動素子に供給するための複数のスイッチング手段を有
し、これらの各スイッチング手段は、ほぼ同等の電流容
量を有するN個の単位スイッチング部を並列接続して構
成された電流合成回路であることを特徴とする多数の素
子の駆動制御装置。
11. A drive control device for a plurality of driven elements whose output intensity monotonically changes according to a supplied current value, wherein the data signal generates a data signal for driving the plurality of driven elements. Generating means; correction data signal generating means for generating a correction data signal used to correct the data signal; data latch means for receiving and temporarily storing the data signal; latched by the data latch means Receiving the corrected data signal and the corrected data signal, and generating a corrected data signal based on these data signals; and a controlled element controlled by the corrected data signal, the driven element And current supply means for generating a multi-level current for driving the multi-level current. Current combining circuit comprising a plurality of switching means for supplying a current to the driven element, each of these switching means being connected in parallel with N unit switching units having substantially the same current capacity. A drive control device for a large number of elements, characterized in that:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN100365688C (en) * 2001-08-29 2008-01-30 日本电气株式会社 Semiconductor device for driving a current load device and a current load device provided therewith

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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