JPH11271376A - Protecting relay control circuit testing device - Google Patents

Protecting relay control circuit testing device

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JPH11271376A
JPH11271376A JP10094087A JP9408798A JPH11271376A JP H11271376 A JPH11271376 A JP H11271376A JP 10094087 A JP10094087 A JP 10094087A JP 9408798 A JP9408798 A JP 9408798A JP H11271376 A JPH11271376 A JP H11271376A
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trip
relay
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学 千葉
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博志 小野寺
Kenichi Fujimaki
建一 藤巻
Hiroyuki Oikawa
裕行 及川
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TOHOKU DENKI HOAN KYOKAI
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To continuously operate plural tests by integrating insulating resistance measurement and circuit measuring function and relay measurement for a switcher and a relay in one testing device, and connecting this through a connector device for testing with a testing device measuring function. SOLUTION: A ZCT(zero current transformer)4, ZPD(zero reference inputting device)5, and trip circuit 6 are arranged in a switcher 3, and this is connected with a DGR(ground directional relay) 7, and a connector device 8 for testing is provided with each exclusive terminal for each outputting means. A voltage outputting part 11, trip circuit resistance measuring part 12, insulating resistance measuring part 13, current outputting part 14, and trip voltage detecting part 15 are arranged in a testing device 10 connected with the connector device for testing, and each means is operated by an operating part 20, and displayed on a display member 21.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、自家用受電設備等
において、高圧受電の責任分界点付近に設置されている
引外し形高圧交流負荷開閉器と地絡継電器または地絡方
向継電器に対して、年次点検を行う際に用いる保護継電
器制御回路試験装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a trip type high voltage AC load switch and a ground fault relay or a ground fault direction relay installed near a demarcation point of high voltage power receiving in a private power receiving facility or the like. The present invention relates to a protective relay control circuit test device used for annual inspection.

【0002】[0002]

【従来の技術】自家用受電設備等においては、高圧電路
に対して変圧器等を介して低圧電路を接続し、各需要部
に給電する低圧給電経路を設けている。前記高圧電路に
おいては、高圧受電の責任分界点近傍に、引外し形高圧
交流負荷開閉器(以下「開閉器」という)と、地絡継電
器または地絡方向継電器(以下「継電器」という)を配
置して構成している。例えば、図1に示されるように構
成している零相変流器4の例において、高圧配電系統1
と負荷2の間に零相変流器4を配置し、設置点高圧電路
の零相電流の情報を得、零相変流器4に接続された地絡
継電器により、高圧電路での漏電や絶縁劣化の状態を検
知し、自動的に主接点3aを動作させて給電を自動的に
停止させ、電気事故を未然に防ぐ等の手段を用いること
ができる。
2. Description of the Related Art In private power receiving equipment and the like, a low-voltage power path is connected to a high-voltage path via a transformer or the like, and a low-voltage power supply path for supplying power to each demand unit is provided. In the high-voltage path, a trip type high-voltage AC load switch (hereinafter referred to as "switch") and a ground fault relay or a ground fault directional relay (hereinafter referred to as "relay") are arranged near a demarcation point for high-voltage power reception. It is composed. For example, in the example of the zero-phase current transformer 4 configured as shown in FIG.
A zero-phase current transformer 4 is arranged between the zero-phase current transformer 4 and the load 2 to obtain information on the zero-phase current of the high-voltage circuit at the installation point. Means for detecting the state of insulation deterioration, automatically operating the main contact 3a, automatically stopping power supply, and preventing an electrical accident from occurring can be used.

【0003】また、零相変流器4においては、試験回路
としてのKt−Lt端子を介して、等価的零相電流を模
擬することにより、地絡継電器の試験を容易に行うこと
ができるように構成されている。さらに、地絡方向継電
器を使用する場合に配置されている零相基準入力装置5
の例においては、前記図1と図3とに示されているよう
に構成されている。つまり、高圧配電系統1と負荷2と
を接続する開閉器3においては、開閉器の近傍に高圧電
路のR、S、Tのそれぞれに対して、対地電圧分圧用の
コンデンサCd1〜Cd3およびCd4を介して接地端
子Eに接続し、変圧器9aを配置し、前記変圧器9aの
二次側に継電器に零相電圧信号を送出する端子Y1、Y
2を設けている。
In the zero-phase current transformer 4, a test of a ground fault relay can be easily performed by simulating an equivalent zero-phase current through a Kt-Lt terminal as a test circuit. Is configured. Furthermore, a zero-phase reference input device 5 arranged when a ground fault directional relay is used.
Is configured as shown in FIG. 1 and FIG. That is, in the switch 3 that connects the high-voltage distribution system 1 and the load 2, the capacitors Cd1 to Cd3 and Cd4 for ground voltage division are provided near the switch for each of the high-voltage paths R, S, and T. Terminals Y1 and Y1 for transmitting a zero-phase voltage signal to a relay on the secondary side of the transformer 9a.
2 are provided.

【0004】そして、前記端子Y1、Y2に地絡方向継
電器のような継電器の入力端子を接続することにより、
高圧電路での零相電圧の大きさおよび位相の信号を得る
ことができるようにしている。また、前記零相基準入力
装置9においては、Vo(零相電圧)試験端子としての
端子T1を介して、試験電圧を前記装置の一次端子に等
価的にVo印加を模擬することにより、継電器試験を容
易に行うことができるように構成している。前記自家用
受電設備に対しては、年次点検を行うことが義務付けら
れているもので、以下に示すような試験項目について行
われる。
[0004] By connecting the input terminals of a relay such as a ground fault directional relay to the terminals Y1 and Y2,
A signal of the magnitude and phase of the zero-sequence voltage in the high piezoelectric path can be obtained. Further, in the zero-phase reference input device 9, the relay voltage is simulated by simulating the application of Vo to the primary terminal of the device via a terminal T1 as a Vo (zero-sequence voltage) test terminal. Is configured to be easily performed. The private power receiving equipment is required to undergo an annual inspection, and the following test items are performed.

【0005】a:開閉器トリップ回路の絶縁抵抗測定 開閉器は屋外に設置されていることが多く、浸水、発錆
等による絶縁劣化を把握するため、開閉器トリップ回路
の絶縁抵抗計により、対地間の絶縁抵抗測定を行う。
A: Measurement of insulation resistance of switch trip circuit Switches are often installed outdoors, and in order to ascertain insulation deterioration due to flooding, rusting, etc., the insulation resistance meter of the switch trip circuit is used to measure ground resistance. The insulation resistance between them is measured.

【0006】b:開閉器のトリップ回路の直流抵抗測定 開閉器には継電器が地絡動作した場合、継電器のトリッ
プ電圧を開閉器のトリップ回路に印加し、自動的に開閉
器を遮断する機能がある。開閉器のトリップ回路が正常
な場合は、数十Ω〜数百Ω程度の直流抵抗があり、トリ
ップ回路の直流抵抗測定をテスターの直流抵抗レンジに
より測定し、トリップ回路の良否を判定する。
B: DC resistance measurement of the trip circuit of the switch The switch has a function of applying a trip voltage of the relay to the trip circuit of the switch and automatically shutting off the switch when a ground fault operation of the relay occurs. is there. If the trip circuit of the switch is normal, there is a DC resistance of about several tens Ω to several hundred Ω, and the DC resistance of the trip circuit is measured by the DC resistance range of the tester to judge the quality of the trip circuit.

【0007】c:継電器のトリップ電圧測定 継電器がテスト釦等により正常に動作すると、開閉器の
主接点を開放動作させるための直流または交流電圧(以
下「トリップ電圧」という)が継電器より出力され、継
電器が不良に場合はトリップ電圧が出力されない。この
トリップ電圧を測定し、継電器の良否を判断するため
に、テスターの電圧レンジを利用して測定する。なお、
無停電における試験時は開閉器の誤開放を避けるため、
継電器のトリップ電圧出力端子と開閉器のトリップ回路
を切り離して行う。
C: Trip voltage measurement of relay When the relay operates normally by a test button or the like, a DC or AC voltage (hereinafter referred to as "trip voltage") for opening the main contact of the switch is output from the relay, If the relay is defective, no trip voltage is output. The trip voltage is measured and measured using the voltage range of the tester in order to determine the quality of the relay. In addition,
To avoid accidental opening of the switch during uninterrupted power testing,
Separate the trip voltage output terminal of the relay and the trip circuit of the switch.

【0008】d:地絡継電器動作時間測定 開閉器の零相変流器(以下「ZCT」という)の試験回
路(Kt−Lt回路)に、整流電流値を超えた商用周波
数と同じ交流試験電流(一般に整定電流値の130〜4
00%)を流し、ZCTに接続された地絡継電器(以下
「GR」という)が、定められた時間内に動作するか否
かを、継電器試験器により実施する。また、地絡方向継
電器(以下「DGR」という)試験の場合は、交流試験
電流を流すと同時に、零相電圧(以下「Vo」という)
整定電圧値を超えた商用周波数電圧(一般に整定電圧値
の150%)を、零相基準入力装置(以下「ZPD」と
いう)のVo試験端子(単体試験の場合はZPD一次端
子)に印加する。
D: Measurement of the operating time of the ground fault relay In the test circuit (Kt-Lt circuit) of the zero-phase current transformer (hereinafter referred to as "ZCT") of the switch, the same AC test current as the commercial frequency exceeding the rectified current value is applied. (Generally 130 to 4 of the settling current value)
00%), and whether or not a ground fault relay (hereinafter, referred to as “GR”) connected to the ZCT operates within a predetermined time is performed by a relay tester. In the case of a ground fault directional relay (hereinafter, referred to as “DGR”) test, an AC test current is applied, and at the same time, a zero-phase voltage (hereinafter, referred to as “Vo”).
A commercial frequency voltage exceeding the settling voltage value (generally 150% of the settling voltage value) is applied to a Vo test terminal (a ZPD primary terminal in the case of a unit test) of a zero-phase reference input device (hereinafter referred to as “ZPD”).

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記a〜d
に記載しているような各々の試験を行う場合には、各試
験項目毎に異なる試験装置を使用する必要があり、それ
等の各試験装置を接続変えながら試験を行うことは、非
常に繁雑な作業を強いられるという問題がある。また、
前記各試験を順次行う場合に、試験の手順を誤ると被試
験物としての給電回路の短絡が生じたり、測定器を焼損
する等の危険があり、安全性、作業性の面において多く
の問題がある。
However, the above a to d
When performing each test as described in, it is necessary to use different test equipment for each test item, and it is very complicated to perform the test while changing the connection of each test equipment. There is a problem that forced work is required. Also,
When performing each of the above tests sequentially, if the test procedure is erroneous, there is a danger that the power supply circuit as a DUT may be short-circuited or the measuring instrument may be burned out. There is.

【0010】つまり、従来の試験方法を採用する場合に
は、多数の測定器を揃える必要があるために、多種の測
定器を準備する作業、試験の確認のための作業、および
試験の後での撤去作業に多くの時間がかかる。また、試
験項目を変更する都度、測定器および結線をやり変える
必要があり、作業が繁雑で時間が多くかかるものであ
り、誤結線等の不都合により、感電したり被試験物の焼
損が発生したりする等の問題がある。さらに、無停電試
験を行う場合に、開閉器トリップ回路の外し忘れ等によ
り、開閉器の誤動作による全停電の危険がある。
In other words, when the conventional test method is employed, it is necessary to prepare a large number of measuring instruments, so that various kinds of measuring instruments are prepared, a task for confirming the test, and after the test. It takes a lot of time for the removal work. In addition, every time a test item is changed, it is necessary to change the measuring instrument and the connection, which is complicated and time-consuming, and inconveniences such as incorrect connection may cause electric shock or burning of the DUT. Or other problems. Furthermore, when performing an uninterruptible power test, there is a danger of a total power failure due to switch malfunction due to, for example, forgetting to remove the switch trip circuit.

【0011】本発明は、前述したような従来の試験方法
を用いる場合の問題を解消するもので、複数の試験機能
を1つの装置にまとめて構成し、試験作業を安全かつ短
時間で行い得る装置を提供することを目的としている。
The present invention solves the above-mentioned problem in the case of using the conventional test method. A plurality of test functions are integrated into one apparatus so that a test operation can be performed safely and in a short time. It is intended to provide a device.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、高圧受電の責
任分界点近くに、継電器を開閉器を配置した電気設備に
関する。本発明の請求項1の発明は、開閉器に主接点と
零相変流器およびトリツプ回路と零相基準入力装置を配
置し、前記開閉器と継電器を接続し、前記零相変流器と
トリップ回路および零相基準入力装置、継電器の回路の
各々を1つの試験用コネクタ装置に設けたコネクタに接
続し、前記試験用コネクタ装置を介して接続する試験装
置には、測定手段と操作部および表示部材を配置し、前
記測定手段と操作部、表示部材を1つのユニットとして
構成したことを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to an electrical installation in which a switch is disposed near a demarcation point for high-voltage power reception. According to a first aspect of the present invention, a main contact and a zero-phase current transformer, and a trip circuit and a zero-phase reference input device are arranged in a switch, the switch is connected to a relay, and the zero-phase current transformer is connected to the switch. Each of the trip circuit, the zero-phase reference input device, and the relay circuit is connected to a connector provided on one test connector device, and the test device connected via the test connector device includes a measuring unit, an operation unit, and A display member is arranged, and the measuring means, the operation unit, and the display member are configured as one unit.

【0013】請求項2の発明は、前記試験装置に設ける
測定手段を、電圧出力部、トリップ回路抵抗測定部、絶
縁抵抗測定部と、電流出力部およびトリップ電圧検出部
とから構成し、前記各測定手段のうちの任意のものを組
み合わせることにより、絶縁抵抗計機能と、回路計機能
および継電器試験機能の3種類の試験機能を発揮可能に
構成することを特徴とする。請求項3の発明は、前記試
験装置に設けた電流出力部により、無停電での開閉器Z
CT機能の試験に対応可能に構成したことを特徴とす
る。請求項4の発明は、前記試験装置に配置するトリッ
プ電圧検出部に対応させて、ピークホールド回路とタイ
ムカウンタ回路およびカウンタ停止回路を配置し、一度
の試験で動作時間とトリップ電圧の測定を可能にしたこ
とを特徴とする。請求項5の発明は、前記開閉器と試験
装置とを接続する試験用コネクタ装置には、前記試験装
置に配置する測定手段に接続する端子に対応させて専用
のコネクタを配置して構成することを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, the measuring means provided in the test apparatus includes a voltage output section, a trip circuit resistance measurement section, an insulation resistance measurement section, a current output section and a trip voltage detection section. By combining any of the measuring means, three types of test functions of an insulation resistance meter function, a circuit meter function, and a relay test function can be exhibited. The invention according to claim 3 is the switch Z in an uninterrupted state by the current output unit provided in the test apparatus.
It is characterized in that it is configured to be compatible with the CT function test. According to a fourth aspect of the present invention, a peak hold circuit, a time counter circuit, and a counter stop circuit are arranged in correspondence with the trip voltage detecting section arranged in the test apparatus, and the operation time and the trip voltage can be measured in one test. It is characterized by the following. According to a fifth aspect of the present invention, in the test connector device for connecting the switch and the test device, a dedicated connector is arranged corresponding to a terminal connected to a measuring means arranged in the test device. It is characterized by.

【0014】前述したように構成したことにより、本発
明の保護継電器制御回路試験装置においては、開閉器に
設けた各測定部に対して、出力端子を試験用コネクタ装
置に一括して配置し、前記試験用コネクタ装置を介して
試験装置の測定用の端子を全て接続し、試験装置に設け
た操作部を用いて測定の作業を行うようにしているの
で、開閉器と継電器に対する各種のデータを容易に得る
ことができる。また、前記試験装置においては、多数の
測定手段を1つの試験装置に対してユニットとして組み
込んでいるものであるから、必要とされるデータを操作
部を用いて容易に得ることができる。そして、ピークホ
ールド付きの電圧測定機能を設け、トリップ電圧を利用
してカウンタのストップ動作を行うことにより、一度の
試験で動作時間とトリップ電圧の測定を行うことができ
るとともに、DGRに対する試験を電圧出力部の機能を
利用して行うことができる。
With the configuration described above, in the protection relay control circuit test apparatus of the present invention, the output terminals are collectively arranged on the test connector device for each of the measuring units provided in the switch. Since all the measurement terminals of the test device are connected via the test connector device and the measurement operation is performed using the operation unit provided in the test device, various data for the switch and the relay are transmitted. Can be easily obtained. Further, in the test apparatus, since a large number of measuring means are incorporated as a unit in one test apparatus, required data can be easily obtained by using the operation unit. By providing a voltage measurement function with peak hold and performing a stop operation of the counter using the trip voltage, the operation time and trip voltage can be measured in a single test, and the test for the DGR can be performed with a voltage. This can be performed using the function of the output unit.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図示される例にしたがって、本発
明の保護継電器制御回路試験装置を説明する。図1に示
す例は、配電系統側の高圧電路1から自家用側の高圧電
路2とを、主接点3aを設けた開閉器3を用いて接続
し、負荷装置に給電する経路を構成する場合の自家用受
電設備に関するものである。前記図1においては、前記
開閉器3内で高圧電路1側にZCT4を配置し、高圧電
路2側にZPD5を配置するとともにトリップ回路6を
設けている。前記ZCT4とZPD5には、DGR7に
接続され、前記DGR7には接地端子Eを介してアース
されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A protection relay control circuit test apparatus according to the present invention will be described with reference to the illustrated example. In the example shown in FIG. 1, a high-voltage path 1 on the power distribution system side is connected to a high-voltage path 2 on the private side by using a switch 3 provided with a main contact 3a to form a path for supplying power to a load device. It is related to private power receiving equipment. In FIG. 1, a ZCT 4 is disposed on the high-voltage path 1 side in the switch 3, a ZPD 5 is disposed on the high-voltage path 2 side, and a trip circuit 6 is provided. The ZCT4 and ZPD5 are connected to a DGR7, and the DGR7 is grounded via a ground terminal E.

【0016】前記各機構の出力回路は、試験用コネクタ
8に設けた端子群8a〜8dのそれぞれを介して、後述
する試験装置の各機構に接続できるようにしている。前
記試験用コネクタ8に設ける端子においては、端子8a
にはZPD5を、端子8bにはトリップ回路6を、ZC
T4の試験回路を端子8cに、DGR7のトリップ電圧
出力端子8dに各々接続している。そして、前記試験用
コネクタ装置に設けた複数の端子を介して接続される試
験装置においては、試験を行う項目に対応させて、試験
用コネクタ8の任意の端子に各測定部を接続して試験を
行い、必要とするデータを収集することができるように
している。
The output circuit of each mechanism can be connected to each mechanism of a test device described later via each of the terminal groups 8a to 8d provided on the test connector 8. In the terminal provided on the test connector 8, a terminal 8a
ZPD5, terminal 8b a trip circuit 6, ZC
The test circuit of T4 is connected to the terminal 8c and the trip voltage output terminal 8d of the DGR 7 respectively. In a test device connected via a plurality of terminals provided in the test connector device, each test section is connected to an arbitrary terminal of the test connector 8 in accordance with an item to be tested. To collect necessary data.

【0017】前記試験用コネクタ装置8に配置する複数
の端子8a〜8dは、専用のコネクタとして構成し、異
なるコネクタを装着不能にすることにより、誤結線が生
じないようにしている。また、ZCT4のKt、Ltお
よびVo試験端子に対するT配線は、試験時以外はDG
R7のスペア端子Kt、Lt、Tにそれぞれ接続され
る。さらに、試験時以外は、開閉器のトリップ回路は、
DGRのトリップ信号出力端子Va、Vcに接続されて
いる。
The plurality of terminals 8a to 8d arranged on the test connector device 8 are configured as dedicated connectors so that different connectors cannot be mounted, thereby preventing erroneous connection. The T wiring for the Kt, Lt and Vo test terminals of ZCT4 is DG
R7 are connected to spare terminals Kt, Lt, and T, respectively. In addition, except during the test, the trip circuit of the switch
It is connected to the trip signal output terminals Va and Vc of the DGR.

【0018】前記開閉器3とDGR7に対して、試験用
コネクタ装置を介して接続される試験装置10において
は、端子8aに接続する電圧出力部11と、端子8bに
接続するトリップ回路抵抗測定部12、絶縁抵抗測定部
13と、端子8cに接続する電流出力部14、および、
端子8dに接続するトリップ電圧検出部15とをそれぞ
れ配置している。前記電圧出力部11とトリップ回路抵
抗測定部12、絶縁抵抗測定部13のそれぞれは、操作
部20を介して操作され、その測定データ表示部21に
表示できるようにする。また、前記電流出力部14にお
いては、開閉器ZCT4の試験端子Kt−Ltに接続し
て、交流試験電流の出力を行うとともに、前記回路14
の出力をスタート信号として、タイムカウンタ回路16
を作動させる。
In a test apparatus 10 connected to the switch 3 and the DGR 7 via a test connector device, a voltage output section 11 connected to a terminal 8a and a trip circuit resistance measuring section connected to a terminal 8b. 12, an insulation resistance measuring unit 13, a current output unit 14 connected to the terminal 8c, and
A trip voltage detector 15 connected to the terminal 8d is arranged. Each of the voltage output unit 11, the trip circuit resistance measurement unit 12, and the insulation resistance measurement unit 13 is operated via the operation unit 20, and can be displayed on the measurement data display unit 21. The current output unit 14 is connected to the test terminal Kt-Lt of the switch ZCT4 to output an AC test current and to output the AC test current.
Is used as a start signal and the time counter circuit 16
Activate

【0019】前記DGR7のトリップ電圧出力端子には
トリップ電圧検出部15を接続し、前記回路15からは
継電器動作信号をカウンタ停止回路17に向けて出力
し、タイムカウンタ回路16に対するストップ信号を出
力する。また、前記回路15からは、トリップ電圧情報
をピークホールド回路18に向けて出力し、前記回路1
7、18のそれぞれの動作は、操作部20に設定した情
報により行い、その測定結果を表示部21に向けて表示
させる。
A trip voltage detector 15 is connected to the trip voltage output terminal of the DGR 7, and a relay operation signal is output from the circuit 15 to a counter stop circuit 17 and a stop signal to a time counter circuit 16 is output. . Further, the circuit 15 outputs trip voltage information to the peak hold circuit 18, and the circuit 1
The operations of 7 and 18 are performed based on the information set in the operation unit 20, and the measurement results are displayed on the display unit 21.

【0020】前記図1に示される実施例において、開閉
器および試験装置に配置する各構成部材は、以下に示す
ような構成を有するもので、次の作用を行うものとして
構成される。ZCT4は、ZCTの設置点におけるZC
T一次電流を測定する装置で、試験用端子Kt−Ltが
設けられている。また、トリップ回路6は開閉器の引き
外し装置で、トリップコイルおよびパレットスイッチ等
により構成され、継電器からのトリップ信号により励磁
されて、主接点3aを自動的に開路する働きをする。
In the embodiment shown in FIG. 1, the respective components arranged in the switch and the test apparatus have the following configuration, and are configured to perform the following operations. ZCT4 is the ZC at the ZCT installation point.
A device for measuring the T primary current, which is provided with a test terminal Kt-Lt. The trip circuit 6 is a trip device for a switch, and is constituted by a trip coil, a pallet switch, and the like. The trip circuit 6 is excited by a trip signal from a relay and functions to automatically open the main contact 3a.

【0021】ZPD5は、ZPD一次端子に接続された
高圧電路の零相電圧を検出するもので、ZPDには前記
図3に示された装置のように、Vo試験端子(T1端
子)を設け、Vo試験端子に試験電圧を印加して、ZP
D一次端子に等価的にVo印加を模擬することにより、
継電器試験を容易に行うことができる。電圧出力部11
は、DGR試験用交流電圧発生回路であり、ZPD一次
端子と対地間に試験電圧を印加する。また、この回路
は、試験電圧切り替え機能を持つ。
The ZPD 5 detects the zero-sequence voltage of the high-voltage path connected to the primary terminal of the ZPD. The ZPD is provided with a Vo test terminal (T1 terminal) as shown in FIG. Apply test voltage to Vo test terminal to
By simulating Vo application equivalently to the D primary terminal,
A relay test can be easily performed. Voltage output unit 11
Is a DGR test AC voltage generation circuit that applies a test voltage between the ZPD primary terminal and the ground. This circuit has a test voltage switching function.

【0022】トリップ回路抵抗測定部12と絶縁抵抗測
定部13は、トリップ回路抵抗測定動作によりトリップ
回路の直流抵抗を測定し、絶縁抵抗測定動作によりトリ
ップ回路の対地間絶縁抵抗を測定する。また、電流出力
部14は、GRまたはDGR7試験用交流電流発生回路
で、継電器動作時間測定操作により、ZCT試験端子
(Kt−Lt間)に試験電流を流すと同時に、タイムカ
ウンタ16に対する始動信号を送出する。試験電流値を
変化させた場合の動作時間特性試験を行うため、電流切
り替え機能を持つ。
The trip circuit resistance measurement section 12 and the insulation resistance measurement section 13 measure the DC resistance of the trip circuit by the trip circuit resistance measurement operation, and measure the insulation resistance between the trip circuit and the ground by the insulation resistance measurement operation. The current output unit 14 is an AC current generation circuit for testing GR or DGR7. The current output unit 14 supplies a test current to a ZCT test terminal (between Kt and Lt) by a relay operation time measuring operation, and simultaneously outputs a start signal to the time counter 16. Send out. It has a current switching function to perform an operation time characteristic test when the test current value is changed.

【0023】トリップ電圧検出、補助接点動作検出部1
5は、継電器動作時のトリップ電圧を検出し、信号をピ
ークホールド回路18に送出する。また、継電器動作時
のトリップ電圧または継電器の補助接点動作を検出し、
カウンタ停止回路に信号を送出する。また、カウンタ停
止回路17は、トリップ電圧検出、補助接点動作検出回
路からの信号により、タイムカウンタ回路16に向けて
停止信号を送出するタイムカウンタ回路16は、試験用
電流が発生した時点から、継電器が動作するまでの継電
器動作時間を測定する。前記ピークホールド回路18
は、継電器動作時のトリップ電圧は徐々に減衰すること
が多いため、トリップ電圧検出回路からの電圧信号の最
大値を保持・表示することにより、継電器動作時のトリ
ップ電圧の最大値を表示させる働きをする。また、リセ
ット回路を含んで構成される。さらに、操作部20、表
示部21は、各種試験時の操作と電圧値、動作時間等の
データまたは本器の動作状態等を表示する。
Trip voltage detection, auxiliary contact operation detection section 1
5 detects the trip voltage during the operation of the relay and sends a signal to the peak hold circuit 18. In addition, the trip voltage at the time of the relay operation or the auxiliary contact operation of the relay is detected,
Sends a signal to the counter stop circuit. The counter stop circuit 17 sends a stop signal to the time counter circuit 16 in response to a signal from the trip voltage detection and auxiliary contact operation detection circuit. Measure the relay operating time until the switch operates. The peak hold circuit 18
Because the trip voltage during relay operation often attenuates gradually, the maximum value of the voltage signal from the trip voltage detection circuit is held and displayed, thereby displaying the maximum value of the trip voltage during relay operation. do. Further, it is configured to include a reset circuit. Further, the operation unit 20 and the display unit 21 display the operation at the time of various tests, data such as a voltage value, an operation time, or the operation state of the apparatus.

【0024】前記各回路を1つの装置としてまとめてい
る試験装置10においては、以下の試験機能を持たせた
装置として構成し、試験作業の効率化と安全性の向上を
図っているのである。 開閉器トリップ回路の絶縁抵抗測定機能: 開閉器
3のトリップ回路6と対地間に直流電圧を印加し、対地
間に流れた電流より対地間絶縁抵抗測定を行う。 開閉器トリップ回路の直流抵抗測定機能: 二重積
分法によるか、または開閉器3のトリップ回路6に定電
流回路から一定電流を流し、トリップ回路端子間の直流
電圧から抵抗値換算をすること等により、トリップ回路
の直流抵抗を測定する。 継電器動作時のトリップ電圧測定機能: 二重積分
法、DC−DCコンバータ等により、継電器動作時のト
リップ電圧を測定するとともに、最大電圧出力電圧を保
持するピークホールド回路を設ける。なお、この回路で
電圧の絶対値を表示する場合は、直流出力に対して自動
反転機能を持つ。
In the test apparatus 10 in which the above circuits are combined as one apparatus, the test apparatus 10 is configured as an apparatus having the following test functions to improve the efficiency of test work and improve safety. Insulation resistance measurement function of switch trip circuit: A DC voltage is applied between the trip circuit 6 of the switch 3 and the ground, and the insulation resistance between the ground is measured from the current flowing between the ground. DC resistance measurement function of switch trip circuit: By using the double integration method or by passing a constant current from the constant current circuit to the trip circuit 6 of the switch 3 and converting the resistance value from the DC voltage between the trip circuit terminals. Measure the DC resistance of the trip circuit. Trip voltage measurement function during relay operation: A peak hold circuit that measures the trip voltage during relay operation and maintains a maximum voltage output voltage is provided by a double integration method, a DC-DC converter, or the like. When the absolute value of the voltage is displayed by this circuit, the circuit has an automatic inversion function for the DC output.

【0025】 継電器動作時間測定機能: この機能
は、試験用交流電流を流す機能と、試験電流が流れ始め
てから、継電器が動作するまでの時間を測定する機能が
あり、次のa、bの機能を持たせている。 a 交流試験電流発生回路および試験用電圧発生回路:
交流定電流発生回路、または単巻電圧調整器(スライ
ダック)と抵抗器等との組み合わせ等により、商用周波
数と同じ試験用交流電流を発生する。また、地絡方向継
電器の簡易試験のために必要な交流電圧発生回路は、定
電圧発生回路または、単巻電圧調整器と抵抗器等との組
み合わせ等により、商用周波数と同じ交流試験電圧を発
生する。出力電圧は、電流出力部の電流位相に対して同
相または逆相等の、一定の位相関係を持つ。 b 動作時間測定: 試験用電流を流した瞬間より、タ
イムカウンタを始動させ、継電器動作時のトリップ電圧
または、継電器の補助接点動作を検知してタイムカウン
タを停止させ、継電器動作時間を測定する。
Relay operation time measurement function: This function has a function of flowing a test AC current and a function of measuring the time from when the test current starts flowing until the relay operates, and the following functions a and b Have. a AC test current generation circuit and test voltage generation circuit:
A test AC current equal to the commercial frequency is generated by an AC constant current generation circuit or a combination of a single-turn voltage regulator (Slidac) and a resistor. The AC voltage generator required for the simple test of the earth fault directional relay generates the same AC test voltage as the commercial frequency by using a constant voltage generator or a combination of a single-turn voltage regulator and a resistor. I do. The output voltage has a certain phase relationship, such as the same phase or the opposite phase, with respect to the current phase of the current output unit. b Measurement of operating time: The moment the test current is applied, the time counter is started, the trip voltage during the operation of the relay or the auxiliary contact operation of the relay is detected, the time counter is stopped, and the operation time of the relay is measured.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明の保護継電器制御回路試験装置
は、前述したように構成しているものであるから、開閉
器に設けた各測定値の出力部に対して、出力端子を試験
用コネクタ装置に一括して配置し、前記試験用コネクタ
装置を介して試験装置の測定用の端子を全て接続し、試
験装置に設けた操作部を用いて測定の作業を行うように
しているので、開閉器と継電器に対する各種のデータを
容易に得ることができる。また、前記試験装置において
は、多数の測定手段を1つの試験装置に対してユニット
として組み込んでいるものであるから、必要とされるデ
ータを操作部を用いて容易に行うことができる。そし
て、ピークホールド付きの電圧測定機能を設け、トリッ
プ電圧を利用してカウンタのストップ動作を行うことに
より、一度の試験で動作時間とトリップ電圧の測定を行
うことができるとともに、DGRに対する試験を電圧出
力部の機能を利用して行うことができる。
Since the protection relay control circuit test apparatus of the present invention is constructed as described above, an output terminal is connected to a test connector for each measurement value output section provided in the switch. It is arranged in the device collectively, all the measurement terminals of the test device are connected via the test connector device, and the measurement work is performed using the operation unit provided in the test device. Various data for the relay and the relay can be easily obtained. Further, in the test apparatus, since a large number of measuring means are incorporated as a unit in one test apparatus, necessary data can be easily performed using the operation unit. By providing a voltage measurement function with peak hold and performing a stop operation of the counter using the trip voltage, the operation time and trip voltage can be measured in a single test, and the test for the DGR can be performed with a voltage. This can be performed using the function of the output unit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の開閉器に配置する情報出力手段の構
成を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of information output means arranged in a switch of the present invention.

【図2】 図1の出力手段に試験用コネクタ装置を用い
て接続する試験装置の回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of a test apparatus connected to the output means of FIG. 1 using a test connector device.

【図3】 一般的な零相基準入力装置の構成例の説明図
である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a configuration example of a general zero-phase reference input device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 高圧電路、 2 負荷側電路、 3 開閉
器、4 ZCT、 5 ZPD、 6 トリップ
回路、 7 DGR、8 試験用コネクタ装置、
10 試験装置、 11 電圧出力部、12 ト
リップ回路抵抗測定部、 13 絶縁抵抗測定部、1
4 電流出力部、 15 トリップ電圧検出部、1
6 タイムカウンタ回路、 17 カウンタ停止回
路、18 ピークホールド回路、 20 操作部、
21 表示部材。
1 High-voltage circuit, 2 Load-side circuit, 3 Switch, 4 ZCT, 5 ZPD, 6 Trip circuit, 7 DGR, 8 Test connector device,
10 Test equipment, 11 Voltage output part, 12 Trip circuit resistance measurement part, 13 Insulation resistance measurement part, 1
4 Current output section, 15 Trip voltage detection section, 1
6 time counter circuit, 17 counter stop circuit, 18 peak hold circuit, 20 operation section,
21 Display member.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 及川 裕行 宮城県仙台市宮城野区扇町1丁目1番48号 財団法人東北電気保安協会内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Hiroyuki Oikawa 1-1-48 Ogimachi, Miyagino-ku, Sendai, Miyagi Prefecture Inside the Tohoku Electric Safety Association

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高圧受電の責任分界点近くに開閉器を配
置した電気設備において、 高圧電路を開閉する主接点と零相変流器およびトリップ
回路、および、地絡方向動作に対応させる零相基準入力
装置とを配置し、 前記開閉器と地絡継電器または、地絡方向継電器に接続
し、 前記零相変流器とトリップ回路および零相基準入力装
置、地絡方向継電器の回路の各々を1つの試験用コネク
タ装置に設けたコネクタに接続し、 前記試験用コネクタ装置を介して接続する試験装置に
は、測定手段と操作部および表示部材を配置し、 前記測定手段と操作部、表示部材を1つのユニットとし
て構成したことを特徴とする保護継電器制御回路試験装
置。
1. An electrical installation having a switch near a demarcation point for high-voltage power reception, comprising: a main contact for opening and closing a high-voltage path, a zero-phase current transformer and a trip circuit; A reference input device is disposed, and the switch and the ground fault relay or a ground fault direction relay are connected to each other, and each of the zero-phase current transformer, the trip circuit, the zero-phase reference input device, and the ground fault direction relay circuit is connected. A test device connected to a connector provided on one test connector device, and a measuring device, an operation unit, and a display member arranged on the test device connected via the test connector device; As a single unit.
【請求項2】 前記試験装置に設ける測定手段を、電圧
出力部、トリップ回路抵抗測定部、絶縁抵抗測定部と、
電流出力部およびトリップ電圧検出部とから構成し、前
記各測定手段のうちの任意のものを組み合わせることに
より、絶縁抵抗計機能と、回路計機能および継電器試験
機能の3種類の試験機能を発揮可能に構成することを特
徴とする請求項1に記載の保護継電器制御回路試験装
置。
2. A measurement device provided in the test apparatus, comprising: a voltage output unit, a trip circuit resistance measurement unit, and an insulation resistance measurement unit;
Composed of a current output section and a trip voltage detection section, and by combining any of the above-mentioned measuring means, it is possible to exhibit three kinds of test functions of an insulation resistance meter function, a circuit meter function and a relay test function. 2. The protection relay control circuit test apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記試験装置に設けた電流出力部によ
り、無停電での開閉器零相変流器機能の試験に対応可能
に構成したことを特徴とする請求項2に記載の保護継電
器制御回路試験装置。
3. The protection relay control according to claim 2, wherein a current output unit provided in said test apparatus is adapted to be able to respond to a test of a switch zero-phase current transformer function without interruption. Circuit test equipment.
【請求項4】 前記試験装置に配置するトリップ電圧検
出部に対応させて、ピークホールド回路とタイムカウン
タ回路およびカウンタ停止回路を配置し、 一度の試験で継電器動作時間の制御とトリップ電圧の測
定を可能にしたことを特徴とする請求項1ないし3のい
ずれかに記載の保護継電器制御回路試験装置。
4. A peak hold circuit, a time counter circuit, and a counter stop circuit are arranged in correspondence with a trip voltage detecting section arranged in the test apparatus, and control of a relay operating time and measurement of a trip voltage are performed in a single test. 4. The protection relay control circuit test apparatus according to claim 1, wherein the protection relay control circuit test apparatus is enabled.
【請求項5】 前記開閉器と試験装置とを接続する試験
用コネクタ装置には、前記試験装置に配置する測定手段
に接続する端子に対応させて専用のコネクタを配置して
構成することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか
に記載の保護継電器制御回路試験装置。
5. A test connector device for connecting the switch and a test device, wherein a dedicated connector is arranged corresponding to a terminal connected to a measuring means arranged in the test device. The protection relay control circuit test apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein
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