JPH11271215A - Surface plasmon resonance angle detector - Google Patents

Surface plasmon resonance angle detector

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Publication number
JPH11271215A
JPH11271215A JP9835798A JP9835798A JPH11271215A JP H11271215 A JPH11271215 A JP H11271215A JP 9835798 A JP9835798 A JP 9835798A JP 9835798 A JP9835798 A JP 9835798A JP H11271215 A JPH11271215 A JP H11271215A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
angle
sensor chip
resonance angle
surface plasmon
Prior art date
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Pending
Application number
JP9835798A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruo Tajima
晴雄 田島
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NIPPON LASER DENSHI KK
Original Assignee
NIPPON LASER DENSHI KK
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Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON LASER DENSHI KK filed Critical NIPPON LASER DENSHI KK
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Publication of JPH11271215A publication Critical patent/JPH11271215A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/552Attenuated total reflection
    • G01N21/553Attenuated total reflection and using surface plasmons

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a SPR(surface plasmon resonance angle) detector capable of detecting a resonance angle caused by at least different two-wavelength lights to specify material at a real time or detecting its film thickness and dielectric constant at a real time and doing efficient detecting work. SOLUTION: A metal thin film 35 of required film thickness and dielectric constant is formed on the surface of a glass substrate 33 by using at least different two-wavelength lights with a required angle difference, and the incident angles of the respective lights onto a sensor chip 5 having a prism 19 adhered to the glass substrate 33 on the opposite side of the metal thin film 35 are varied by a variable light radiation device 3. Components of a sample adsorbed to the metal thin film 35 are specified or the film thickness and dielectric constant of the sample are measured, based on a resonance angle wherein the reflectivity of the lights radiated to the sensor chip 5 is minimized.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、ガラス基板に金
属薄膜が蒸着されたセンサーチップに照射された光の反
射率に基づいてセンサーチップ上の成分を特定する表面
プラズモン共鳴角検出装置(以下、SPR検出装置)に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface plasmon resonance angle detecting device (hereinafter, referred to as a device) for specifying a component on a sensor chip based on the reflectance of light applied to the sensor chip in which a metal thin film is deposited on a glass substrate. SPR detection device).

【0002】[0002]

【発明が解決しようとする課題】物質を特定する検出方
法として、ガラス基板に適宜の膜厚及び誘電率の金属薄
膜が蒸着されたセンサーチップに対し、スポット状に集
光されたレーザ光等の光を照射してガラス基板からの反
射率が最小になる共鳴角を検出して金属薄膜に吸着され
た物質を特定する表面プラズモン共鳴角検出法が一般に
知られている。
As a method of detecting a substance, a laser beam or the like condensed in a spot shape is applied to a sensor chip in which a metal thin film having an appropriate thickness and a dielectric constant is deposited on a glass substrate. A surface plasmon resonance angle detection method of irradiating light to detect a resonance angle at which the reflectance from a glass substrate is minimized and specifying a substance adsorbed on a metal thin film is generally known.

【0003】単一波長の光を使用した表面プラズモン共
鳴角検出法により、例えば多成分の混合系物質を検出し
ようとする場合には、全成分に対応する共鳴角しか検出
できないため、該混合系物質における夫々の共鳴角を検
出して各々の物質を特定できなかった。このような場合
には、異なる波長の光を順に照射して夫々の共鳴角を検
出して共鳴角の違いにより混合系物質中の各成分を特定
することができるが、照射する光を切り換えるのに手間
がかかって検出時間が長くなり、混合系物質における各
成分をリアルタイムに検出できなかった。
When a surface plasmon resonance angle detection method using light of a single wavelength is to be used to detect, for example, a multi-component mixed substance, only the resonance angles corresponding to all the components can be detected. Each substance could not be identified by detecting each resonance angle in the substance. In such a case, it is possible to sequentially irradiate light of different wavelengths to detect the respective resonance angles and to specify each component in the mixed system material by the difference in the resonance angle. And the detection time was prolonged, and each component in the mixed substance could not be detected in real time.

【0004】又、金属薄膜に吸着された物質の膜厚や誘
電率は、表面プラズモン共鳴角検出法により検出される
異なる波長の吸光度(反射率)に基づく連立方程式を演
算処理することにより算出できるが、従来の方法では異
なる波長の光を同一角度で入射させる方式であるため、
同時に異なる波長の光の変化をリアルタイムに検出でき
なかった。
The thickness and dielectric constant of a substance adsorbed on a metal thin film can be calculated by processing simultaneous equations based on absorbance (reflectance) of different wavelengths detected by a surface plasmon resonance angle detection method. However, in the conventional method, light of different wavelengths is incident at the same angle,
At the same time, changes in light of different wavelengths could not be detected in real time.

【0005】本発明は、上記した従来の欠点を解決する
ために発明されたものであり、その課題とする処は、少
なくとも異なる2波長の光による共鳴角を検出して物質
をリアルタイムに特定したり、その膜厚や誘電率をリア
ルタイムに検出することができるSPR検出装置を提供
することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional drawbacks. An object of the present invention is to identify a substance in real time by detecting a resonance angle of at least two different wavelengths of light. Another object of the present invention is to provide an SPR detection device capable of detecting the thickness and dielectric constant of the SPR in real time.

【0006】又、本発明の他の課題は、検出作業を効率
的に行うことができるSPR検出装置を提供することに
ある。
Another object of the present invention is to provide an SPR detection device capable of performing a detection operation efficiently.

【0007】[0007]

【問題点を解決するための手段】このため本発明は、ガ
ラス基板の表面に所要の膜厚及び誘電率の金属薄膜が形
成されると共に該金属薄膜と反対側のガラス基板にプリ
ズムが密着されたセンサーチップに照射される光の反射
率が最小になる共鳴角に基づいて金属薄膜に吸着された
試料成分を特定したり、該試料の膜厚や誘電率を測定す
る表面プラズモン共鳴角検出装置において、少なくとも
異なる2波長の光を所要の角度差を持ってセンサーチッ
プ上に照射すると共にセンサーチップに対する各光の入
射角度を可変させる可変光照射装置を設けたことを特徴
としている。
Therefore, according to the present invention, a metal thin film having a required thickness and a dielectric constant is formed on the surface of a glass substrate, and a prism is adhered to the glass substrate on the opposite side of the metal thin film. Surface plasmon resonance angle detection device that specifies a sample component adsorbed on a metal thin film based on the resonance angle at which the reflectance of light applied to the sensor chip is minimized, or measures the film thickness and dielectric constant of the sample Wherein a variable light irradiation device is provided for irradiating at least two different wavelengths of light on the sensor chip with a required angle difference and varying the incident angle of each light on the sensor chip.

【0008】これによりセンサーチップに角度差を設け
て入射角を可変しながら照射される異なる波長の光によ
り夫々の光の共鳴角をリアルタイムに検出することがで
きる。
Thus, the resonance angle of each light can be detected in real time by the light of different wavelengths emitted while varying the incident angle by providing an angle difference in the sensor chip.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図に従
って説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】図1はSPR検出装置の概略を示す説明図
である。
FIG. 1 is an explanatory view schematically showing an SPR detecting device.

【0011】図2は可変光照射装置の原理構造を示す説
明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing the principle structure of the variable light irradiation device.

【0012】SPR検出装置1は可変光照射装置3と、
センサーチップ5及び受光装置7とから構成され、受光
装置7には受光装置7からの検出信号に基づいて入射角
と反射率との相関関係をCRT等の表示装置に表示する
制御装置(図示せず)が接続されている。
The SPR detection device 1 includes a variable light irradiation device 3,
A control device (shown in FIG. 1) that includes a sensor chip 5 and a light receiving device 7 and displays a correlation between an incident angle and a reflectance on a display device such as a CRT based on a detection signal from the light receiving device 7. Is connected.

【0013】可変光照射装置3の本体13は後述するプ
リズム19の中心を支点として回動するアーム21に取
付けられ、該アーム21の回動基端部には数値制御可能
なサーボモータ、ステップモータ等の電動モータ(図示
せず)が連結されている。そして電動モータ23の駆動
により後述する所要の角度(30〜80±2.5゜)で
円弧運動される。又、本体13には白色レーザ光照射装
置15が光ファイバー17により接続されている。
The main body 13 of the variable light irradiation device 3 is attached to an arm 21 which rotates around a center of a prism 19 described later, and a servomotor and a step motor which can be numerically controlled are provided at the rotation base end of the arm 21. And the like (not shown). By the driving of the electric motor 23, the electric motor 23 makes a circular motion at a required angle (30 to 80 ± 2.5 °) described later. A white laser light irradiation device 15 is connected to the main body 13 by an optical fiber 17.

【0014】本体13内には光ファイバー17からの白
色レーザ光の光路に第1ダイクロイックミラー25が、
光路に対して45゜傾斜して取付けられている。該第1
ダイクロイックミラー25は入射した白色レーザ光の
内、波長534nmの緑色レーザ光のみを透過すると共
に他の波長成分のレーザ光を、光路と直交する方向へ反
射させる。
In the main body 13, a first dichroic mirror 25 is provided on the optical path of white laser light from the optical fiber 17,
It is mounted at an angle of 45 ° to the optical path. The first
The dichroic mirror 25 transmits only the green laser light having a wavelength of 534 nm out of the incident white laser light, and reflects the laser light of other wavelength components in a direction orthogonal to the optical path.

【0015】第1ダイクロイックミラー25からの反射
光路には第2ダイクロイックミラー27が配置され、該
第2ダイクロイックミラー27は入射されたレーザ光の
内、波長441nmの青色レーザ光を透過して外部へ出
射させると共に波長636nmの赤色レーザ光を、緑色
レーザ光と平行に反射させる。
A second dichroic mirror 27 is arranged on the optical path reflected from the first dichroic mirror 25. The second dichroic mirror 27 transmits blue laser light having a wavelength of 441 nm out of the incident laser light to the outside. The laser beam is emitted and the red laser beam having a wavelength of 636 nm is reflected in parallel with the green laser beam.

【0016】緑色レーザ光及び赤色レーザ光の各光路に
はレンズ29が偏光子31を設けて配置され、レンズ2
9は夫々の緑色レーザ光及び赤色レーザ光を、後述する
センサーチップ5におけるガラス基板33と金属薄膜3
5の境界にて収束させる。尚、収束される緑色レーザ光
と赤色レーザ光はプリズム19に対して約5゜の角度差
をもって入射されるようにセットされている。
A lens 29 is provided on each optical path of the green laser light and the red laser light with a polarizer 31 provided.
Reference numeral 9 denotes a glass substrate 33 and a metal thin film 3 in the sensor chip 5 to be described later, respectively.
Convergence at the boundary of 5. The converged green laser light and red laser light are set so as to enter the prism 19 at an angle difference of about 5 °.

【0017】尚、偏光子31とレンズ29間における緑
色レーザ光及び赤色レーザ光の光路にはサンプリングミ
ラー28・30が夫々配置され、夫々のサンプリングミ
ラー28・30は透過する緑色レーザ光及び赤色レーザ
光の一部を反射させて対応するフォトダイオード28a
・30aにより夫々の光強度を検出している。そして検
出された光強度に応じて第1及び第2受光部材37・3
9からの信号増巾率を可変制御して一定レベルの検出信
号を得るように構成される。
Sampling mirrors 28 and 30 are disposed on the optical paths of the green laser light and the red laser light between the polarizer 31 and the lens 29, and the sampling mirrors 28 and 30 transmit the transmitted green laser light and red laser light, respectively. A part of the light is reflected and the corresponding photodiode 28a
-Each light intensity is detected by 30a. Then, according to the detected light intensity, the first and second light receiving members 37.3 and 37.3 are used.
9 to obtain a detection signal of a constant level by variably controlling the signal amplification factor.

【0018】センサーチップ5のガラス基板33には金
属薄膜35が蒸着されている。該金属薄膜35は、例え
ば膜厚が5±0.5nmの金薄膜及び36±3nmの銀
薄膜の2層構造からなる。又、金属薄膜35と反対側の
ガラス基板33には半円弧状のプリズム19が密着して
取付けられている。
On the glass substrate 33 of the sensor chip 5, a metal thin film 35 is deposited. The metal thin film 35 has a two-layer structure of, for example, a gold thin film having a thickness of 5 ± 0.5 nm and a silver thin film having a thickness of 36 ± 3 nm. A semicircular prism 19 is closely attached to the glass substrate 33 on the opposite side of the metal thin film 35.

【0019】プリズム19を中心とする可変光照射装置
3の反対側には受光装置7が配置され、該受光装置7は
緑色レーザ光受光用の第1受光部材37及び赤色レーザ
光受光用の第2受光部材39とから構成されている。こ
れら第1及び第2受光部材37・39は、前述した角度
幅に応じた長手方向幅のフォトダイオードアレイ或いは
CCDアレイからなる。又、各第1及び第2受光部材3
7・39の前面(入射側)には干渉フィルター41・4
3が夫々設けられ、干渉フィルター41は緑色レーザ
光、干渉フィルター43は赤色レーザ光のみを選択透過
させ、外乱光によるS/N比向上を図っている。
The light receiving device 7 is disposed on the opposite side of the variable light irradiation device 3 around the prism 19, and the light receiving device 7 is provided with a first light receiving member 37 for receiving green laser light and a first light receiving member 37 for receiving red laser light. And two light receiving members 39. Each of the first and second light receiving members 37 and 39 is formed of a photodiode array or a CCD array having a longitudinal width corresponding to the angle width described above. Further, each of the first and second light receiving members 3
Interference filters 41.4 on the front (incident side) of 7.39
The interference filter 41 selectively transmits green laser light and the interference filter 43 selectively transmits only red laser light to improve the S / N ratio due to disturbance light.

【0020】次に、SPR検出装置による試料の共鳴角
検出作用を説明する。
Next, the operation of detecting the resonance angle of a sample by the SPR detection device will be described.

【0021】図3はセンサーチップ5に対する各光の入
射角可変状態を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing a variable incident angle state of each light with respect to the sensor chip 5.

【0022】図4は各レーザ光の入射角と反射率の相関
関係を示すダイヤグラムである。
FIG. 4 is a diagram showing the correlation between the incident angle of each laser beam and the reflectance.

【0023】先ず、ガラス基板33の金属薄膜35境界
面に収束される緑色レーザ光のプリズム19入射角を3
0±2.5゜、従って赤色レーザ光のプリズム19入射
角を35±2.5゜にセットした状態で電動モータ23
を駆動してアーム21を約50゜の幅で回動させると、
プリズム19に対し、緑色レーザ光の入射角が30±
2.5゜〜80±2.5゜の範囲で、又赤色レーザ光の
入射角が35±2.5゜〜85±2.5゜の範囲で可変
走査される。そして夫々の入射角に応じてガラス基板3
3と金属薄膜35の境界から反射される緑色レーザ光及
び赤色レーザ光は対応する第1及び第2受光部材37・
39に受光されて夫々の入射角に応じた反射率を検出す
る。
First, the incident angle of the prism 19 of the green laser light converged on the boundary surface of the metal thin film 35 of the glass substrate 33 is set to 3
0 ± 2.5 °, and therefore the electric motor 23 with the prism 19 of the red laser beam set at an incident angle of 35 ± 2.5 °.
Is driven to rotate the arm 21 with a width of about 50 °,
The angle of incidence of the green laser light with respect to the prism 19 is 30 ±
Variable scanning is performed in the range of 2.5 ° to 80 ± 2.5 ° and the incident angle of the red laser light is in the range of 35 ± 2.5 ° to 85 ± 2.5 °. And the glass substrate 3 according to each incident angle
The green laser light and the red laser light reflected from the boundary between the third and metal thin films 35 correspond to the first and second light receiving members 37.
The light is received at 39 and the reflectance according to each incident angle is detected.

【0024】このとき、金属薄膜35試料が吸着されて
いると、照射された緑色レーザ光及び赤色レーザ光の一
部が試料中の各成分に吸光されて入射角度に応じて反射
率が変化する。そしてこの反射率が最小、従って試料の
成分に対する吸光が最大になる共鳴角を検出し、例えば
予め検出された純水の共鳴角との比較に基づいて試料中
の成分を特定する。
At this time, when the metal thin film 35 is adsorbed, a part of the irradiated green laser light and red laser light is absorbed by each component in the sample, and the reflectance changes according to the incident angle. . Then, the resonance angle at which the reflectance is minimum, and therefore the absorption of the component of the sample is maximized, is detected, and the component in the sample is specified based on, for example, comparison with a previously detected resonance angle of pure water.

【0025】本実施形態は、センサーチップ5に対して
異なる波長の光(緑色レーザ光及び赤色レーザ光)を角
度差をもって同時に照射してセンサーチップ5に吸着さ
れた試料中における各成分による吸光度、従って反射率
を検出して該反射率が最小になる共鳴角を検出すること
により試料中の各成分をリアルタイムに検出することが
できる。
In the present embodiment, light having different wavelengths (green laser light and red laser light) is simultaneously irradiated to the sensor chip 5 with an angle difference, and the absorbance of each component in the sample adsorbed on the sensor chip 5 is calculated as follows: Therefore, each component in the sample can be detected in real time by detecting the reflectance and detecting the resonance angle at which the reflectance is minimized.

【0026】上記説明は、光源として白色レーザ光を使
用して緑色レーザ光及び赤色レーザ光に分光したが、図
5に示すように本発明はプリズムの外周に沿って円弧移
動するフレーム50に、例えば赤色光及び赤外光の光源
51a・51bを設け、各光源51a・51bから出射
された各光をスポット状に絞られると共に相互に所要の
角度差を設けてプリズム19に直接照射する構造であっ
てもよい。
In the above description, white laser light was used as the light source to separate the laser light into green laser light and red laser light. As shown in FIG. 5, the present invention is applied to a frame 50 that moves in an arc along the outer periphery of a prism. For example, a structure is provided in which light sources 51a and 51b for red light and infrared light are provided, each light emitted from each of the light sources 51a and 51b is narrowed down into a spot shape, and the prism 19 is directly illuminated with a required angle difference therebetween. There may be.

【0027】又、上記説明は第1及び第2ダイクロイッ
クミラーにより平行光線化された緑色レーザ光及び赤色
レーザ光をレンズにより所要の角度差となるように収束
させる構成としたが、図6に示すように各ダイクロイッ
クミラー61a・61bに角度を設け、夫々のダイクロ
イックミラー61a・61bを透過又は反射した各光
を、センサーチップ5に対して所要の角度差を有するよ
うに直接入射させる構成であってもよい。
In the above description, the green laser beam and the red laser beam collimated by the first and second dichroic mirrors are converged by a lens so as to have a required angle difference, as shown in FIG. The dichroic mirrors 61a and 61b are provided with angles as described above, and the lights transmitted or reflected by the respective dichroic mirrors 61a and 61b are directly incident on the sensor chip 5 so as to have a required angle difference. Is also good.

【0028】更に、図7に示すように異なる波長の光を
夫々照射する各光源51・53を、回転するポリゴンミ
ラー55に対して所要の角度差を設けて照射するように
配置すると共にポリゴンミラー55から角度差を設けて
反射される各光を平行光線化する第1レンズ57及びセ
ンサーチップ59に対して平行光線を所要の入射角度幅
で収束させる第2レンズ61により可変光照射装置を構
成し、少なくとも2種類の波長の光を、角度差を設けて
センサーチップ59に照射して夫々の反射光の共鳴角を
リアルタイムに検出して試料を特定する構成であっても
よい。
Further, as shown in FIG. 7, the respective light sources 51 and 53 for irradiating light of different wavelengths are arranged so as to irradiate the rotating polygon mirror 55 with a required angle difference, and the polygon mirror is illuminated. A variable light irradiating device is constituted by a first lens 57 that converts each light reflected with an angle difference from 55 into parallel rays and a second lens 61 that converges parallel rays at a required incident angle width with respect to the sensor chip 59. Alternatively, the sample may be specified by irradiating the sensor chip 59 with light of at least two types of wavelengths at an angle difference and detecting the resonance angle of each reflected light in real time.

【0029】上記説明は、白色レーザ光から分光された
緑色レーザ光及び赤色レーザ光を使用したが、本発明に
おいては検出しようとする試料、蒸着される金属薄膜の
種類に応じて赤色光及び赤外光等のように異なる波長の
光を選択すればよく、光源や光の波長に限定されるもの
ではない。
In the above description, the green laser light and the red laser light separated from the white laser light are used. However, in the present invention, the red light and the red light depend on the sample to be detected and the type of the metal thin film to be deposited. Light of different wavelengths such as external light may be selected, and is not limited to the light source or the wavelength of light.

【0030】更に上記説明は、異なる波長の2種類の光
を角度差を持ってセンサーチップに照射して試料の成分
を検出したり、試料の膜圧や誘電率を検出するものとし
たが、センサーチップに照射する光としては波長が異な
っていれば3種類以上であってもよいことは勿論であ
る。
Further, in the above description, two types of light having different wavelengths are irradiated on the sensor chip with an angle difference to detect the components of the sample, and to detect the film pressure and the dielectric constant of the sample. It goes without saying that three or more types of light may be applied to the sensor chip as long as they have different wavelengths.

【0031】又、上記説明は、多成分系物質における特
定成分の検出方法を例に説明したが、センサーチップに
吸着された物質の膜厚や誘電率を求めるための方法につ
いても適用可能である。
In the above description, a method for detecting a specific component in a multi-component substance has been described as an example. However, a method for determining the film thickness and dielectric constant of a substance adsorbed on a sensor chip is also applicable. .

【0032】[0032]

【発明の効果】このため本発明は、異なる波長の光によ
る共鳴角を検出して物質をリアルタイムに特定したり、
その膜厚や誘電率をリアルタイムに検出することができ
る。又、本発明は、検出作業を効率的に行うことができ
る。
Thus, the present invention detects a resonance angle due to light of different wavelengths to specify a substance in real time,
Its film thickness and dielectric constant can be detected in real time. Further, according to the present invention, the detection operation can be performed efficiently.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】SPR検出装置の概略を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram schematically showing an SPR detection device.

【図2】可変光照射装置の原理構造を示す説明図であ
る。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a principle structure of a variable light irradiation device.

【図3】センサーチップ5に対する各光の入射角可変状
態を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing a variable incident angle state of each light with respect to a sensor chip 5;

【図4】各レーザ光の入射角と反射率の相関関係を示す
ダイヤグラムである。
FIG. 4 is a diagram showing a correlation between an incident angle of each laser beam and a reflectance.

【図5】可変光照射装置の変更実施形態を示す説明図で
ある。
FIG. 5 is an explanatory view showing a modified embodiment of the variable light irradiation device.

【図6】可変光照射装置の変更実施形態を示す説明図で
ある。
FIG. 6 is an explanatory view showing a modified embodiment of the variable light irradiation device.

【図7】可変光照射装置の変更実施形態を示す説明図で
ある。
FIG. 7 is an explanatory view showing a modified embodiment of the variable light irradiation device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 SPR検出装置、3 可変光照射装置、5 センサ
ーチップ、7 受光装置、19 プリズム、33 ガラ
ス基板、35 金属薄膜
1 SPR detection device, 3 variable light irradiation device, 5 sensor chip, 7 light receiving device, 19 prism, 33 glass substrate, 35 metal thin film

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ガラス基板の表面に所要の膜厚及び誘電率
の金属薄膜が形成されると共に該金属薄膜と反対側のガ
ラス基板にプリズムが密着されたセンサーチップに照射
される光の反射率が最小になる共鳴角に基づいて金属薄
膜に吸着された試料成分を特定したり、該試料の膜厚や
誘電率を測定する表面プラズモン共鳴角検出装置におい
て、少なくとも異なる2波長の光を所要の角度差を持っ
てセンサーチップ上に照射すると共にセンサーチップに
対する各光の入射角度を可変させる可変光照射装置を設
けた表面プラズモン共鳴角検出装置。
1. A reflectance of light radiated to a sensor chip having a metal film having a required thickness and dielectric constant formed on a surface of a glass substrate and having a prism adhered to the glass substrate on the opposite side of the metal thin film. In a surface plasmon resonance angle detection device for identifying a sample component adsorbed on a metal thin film based on a resonance angle at which the minimum value is obtained, or measuring a film thickness or a dielectric constant of the sample, light of at least two different wavelengths is required. A surface plasmon resonance angle detection device provided with a variable light irradiation device that irradiates the sensor chip with an angle difference and changes the incident angle of each light to the sensor chip.
【請求項2】請求項1において、可変光照射装置は単一
の光源から照射された光から所要の波長の光を透過或い
は反射させて平行光線化する光選択部材と、光選択部材
を透過或いは反射した異なる波長の光をセンサーチップ
に対して所要の角度差で入射させて収束させるレンズと
からなる表面プラズモン共鳴角検出装置。
2. The variable light irradiation device according to claim 1, wherein the variable light irradiation device transmits or reflects light of a required wavelength from light emitted from a single light source to convert the light into a parallel light beam, and transmits the light selection member. Alternatively, a surface plasmon resonance angle detection device including a lens that causes reflected light of different wavelengths to enter a sensor chip at a required angle difference and converge.
【請求項3】請求項2において、可変光照射装置には微
小回動装置を連結し、該微小回動装置に駆動に伴って可
変光照射装置を所要の角度にて往復回動させてセンサー
チップに対する光の入射角度を可変する表面プラズモン
共鳴角検出装置。
3. The sensor according to claim 2, further comprising a micro-rotating device connected to the variable light irradiating device, and the variable light irradiating device reciprocatingly rotating at a required angle as the micro-rotating device is driven. A surface plasmon resonance angle detection device that changes the incident angle of light on a chip.
【請求項4】請求項2において、光源は白色レーザ光を
照射するレーザ光照射装置からなると共に光選択部材は
白色レーザ光の三原色光の内、特定波長のレーザ光を透
過させるとともに他の波長のレーザ光を反射する第1ダ
イクロイックミラー及び該第1ダイクロイックミラーか
ら反射されたレーザ光の内、異なる波長のレーザ光を反
射させると共に他の波長のレーザ光を透過して外部へ出
射させる第2ダイクロイックミラーからなる表面プラズ
モン共鳴角検出装置。
4. A light source according to claim 2, wherein the light source comprises a laser light irradiating device for irradiating white laser light, and the light selecting member transmits laser light of a specific wavelength out of the three primary color lights of white laser light and transmits the other light. And a second dichroic mirror that reflects laser light of different wavelengths and reflects laser light of a different wavelength among the laser lights reflected from the first dichroic mirror and transmits laser light of another wavelength and emits the same to the outside. Surface plasmon resonance angle detection device consisting of a dichroic mirror.
【請求項5】請求項4において、光源、第1及び第2ダ
イクロイックミラー及びレンズが取り付けられる本体に
微小回動装置を連結し、該微小回動装置の駆動に伴って
センサーチップに対する光の入射角度を可変する表面プ
ラズモン共鳴角検出装置。
5. The device according to claim 4, wherein the light source, the first and second dichroic mirrors, and a main body on which the lens is mounted are connected to a micro-rotation device, and light is incident on the sensor chip as the micro-rotation device is driven. Surface plasmon resonance angle detector that changes the angle.
【請求項6】請求項4において、第1及び第2ダイクロ
イックミラーに微小駆動装置を連結し、該微小駆動装置
の駆動に伴って振動する第1及び第2ダイクロイックミ
ラーによりセンサーチップに対する光の入射角度を可変
する表面プラズモン共鳴角検出装置。
6. A light emitting device according to claim 4, wherein said first and second dichroic mirrors are connected to a minute driving device, and said first and second dichroic mirrors vibrate in accordance with the driving of said minute driving device to make light incident on the sensor chip. Surface plasmon resonance angle detector that changes the angle.
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